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3.2 ADQUISICIN SSMICA

Para elaborar un diseo o patrn de adquisicin ssmica que nos permita tener una imagen con la correcta geometra y disposicin de los estratos en el subsuelo, se debe tener en cuenta cierta cantidad de parmetros y variables las cuales se detallan a continuacin. En principio es importante definir el tipo de diseo que se desea establecer en la zona de estudio. Segn Cordsen et al, existen varios tipos de arreglos que se ajustan a las necesidades y caractersticas del rea de estudio, entre ellos tenemos el diagonal, radial, pared de bloques, hexagonal, zigzag, ortogonal. No obstante en el Proyecto Caria Oeste 06G3D se utiliz una geometra ortogonal (donde las lneas receptoras son perpendiculares a las lneas de tiro), por lo tanto las definiciones que seguidamente se muestran fueron redactadas para este tipo de diseo, y no senombrarn ecuaciones relacionadas a otro tipo de diseo ni a un levantamiento 2D, debido a que estos no son necesarios para entender el presente informe.

3.2.1 Conceptos bsicos

Box (Caja) o Celda Unitaria: en un diseo ortogonal 3D, este trmino este trmino se refiere al rea que se encuentra delimitada por dos lneas receptoras adyacentes y dos lneas de disparo adyacentes. La Caja o Box usualmente representa el rea ms pequea de todo el levantamiento que representan las estadsticas completas del levantamiento (dentro de un rea de mxima cobertura). En la siguiente figura se ejemplifica un diseo ssmico 3D ortogonal, en el cual se ilustra una Celda Unitaria. 8

CORDSEN, A., GALBRAITH, M. Y PEIRSE, J., 2000. Planning Land 3-D Seismic Surveys. Geophysical Developments Series No. 9. Society of Exploration Geophysicists.

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Fig. 3.3 Ilustracin de la Celda Unitaria.

CMP Bin o Bin: se refiere a una pequea rea rectangular que usualmente tiene dimensiones , donde SI es la distancia entre dos puntos de disparo consecutivos, y RI es la distancia entre dos puntos receptores consecutivos (Ve Figura 3.4). Se asume que todos los puntos medios que caen dentro de esta rea, o bin, corresponden al mismo punto medio comn (Common MidPoint, CMP). En otras palabras, todas las trazas que estn dentro un mismo bin sern apiladas en un CMP, y contribuirn a la cobertura o fold de ese bin.8

Fig. 3.4 Esquema de un Bin. El cuadro gris esquematiza un solo Bin, cada recuadro negro representa diferentes bins, y un Super Bin est representado por el cuadro verde.

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Direccin Cross-Line: es la direccin perpendicular a la direccin de las lneas receptoras (Ver Figura 3.5).8 Direccin In-Line: es la direccin paralela a las lneas receptoras, (Ver Figura 3.5).8

Lneas Receptoras (Receiver Line): es una lnea o quizs un camino, a lo largo del cual son plantados los receptores, distanciados regularmente. Generalmente se denomina a la distancia entre lneas receptoras sucesivas con las siglas RLI (Receiver Line Interval), (Ver Figura 3.5).8

Lneas de Tiro: es una lnea o quizs un camino a lo largo de la cual se colocan los putnos de tiros (Ej., dinamita) a intervalos regulares (Ver Figura 3.5). La distancia entre disparos (Source Interval, SI) es usualmente el doble de la distancia de la dimensin del bin en la direccin crossline. La distancia entre lneas de disparo sucesivas es comnmente llamada SLI (Source Line Interval). El SLI junto con el SI, determinan la densidad de puntos de tiros (Source Point Densty o Shot Density, SD), la cual se define como el nmero de puntos de tir/km 2.8

Un diseo de adquisicin ssmica 3D est compuesto por numerosas lneas de tiro y lneas receptoras, cada una de ellas est enumerada de diferente manera. Estas numeraciones aumentan para cada caso (lneas de tiro y lneas receptoras) en una direccin especfica que no es

necesariamente la misma. Si sobre el proyecto te desplaza en direccin paralela a la direccin en la que aumenta las lneas se dice ests iendo hacia mayores, si al contrario te desplazas en paralelo a la direccin en la que la numeracin disminuye, se dice ests iendo hacia menores.

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Fig. 3.5 Esquema de lneas de tiro y receptoras para un diseo 3D ortogonal. Ntese que el ngulo entre receptoras y lneas de tiros es de 90o y se mantiene a lo largo de todo el diseo.

Cobertura o Fold: corresponde al nmero de trazas que son apilados dentro de un CMP bin. Aunque normalmente se habla de un nmero promedio de fold, ste vara de bin a bin y para diferentes offsets (Cordsen et. al., 2000).8 La cobertura nominal (o full cobertura full fold), es la cobertura para el mximo offset, y la mayora de los bines tienen cobertura nominal. 9 La cobertura nominal viene representada por una ecuacin la cual puede ser escrita utilizando diversos parmetros de los cuales depende directamente, tales como densidad de puntos de tiro, nmero de canales tamao del bin. Sin embargo la representacin ms sencilla de la misma para un diseo ortogonal 3D es la siguiente:

Ec. 3

Donde la cobertura en direccin in-line viene expresada as:

Ec. 4
9

Chaouch, A., y MARI J.L., 2006.3-D Land Seismic Surveys :Definition of Geophysical Parameters. Oil and Gas Science and Technology. Vol 61, No 5. P 611630.

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Y la cobertura en direccin cross-line es la siguiente:

Ec. 5

Fold Taper: en un diseo de adquisicin se va perdiendo cobertura a medida que se acerca hacia los bordes del diseo. El Fold Taper es precisamente, el rea alrededor de un estudio 3D que se debe ser adicionada para poder construir un rea de full cobertura. Esta zona no es necesariamente la misma en direccin inline y en direccin cross-line, por lo cual debe ser calculada separadament.8

Fig. 3.6 Diagrama de full fold y fold taper en un diseo de adquisicin.9

Debido a que el fold taper no es necesariamente la misma en direccin in-line que en direccin cross-line, ambas deben ser calculadas por separado, mediante las siguientes ecuaciones:8

Ec. 6

Ec. 7

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Punto Medio (Midpoint): es el punto localizado exactamente en la mitad de la distancia entre una fuente y un receptor. Si se tiene un diseo, en el cual el patch posee 480 canales receptores, cada punto de tiro generar 480 puntos medio.8

Fig. 3.7 Esquema del Punto Medio. Vase que en la interfaz entre dos capas con diferentes propiedades fisicas, sean Capa 1 y Capa 2, la onda se refleja y lleva a los gefonos informacin de esa interfaz. Esa informacin es discreta, y esos puntos corresponden a los puntos medios en profundidad entre la fuente y el receptor.

Patch: Se refiere a las estaciones vivas para cualquier punto de disparo en un levantamiento 3D. Usualmente lo conforma un rectngulo con varias lneas paralelas de receptores. El patch se mueve dentro del levantamiento y ocupa diferentes posiciones. 8

Salvo: es el nmero de puntos de tiros disparados antes de que el template se desplace a lo largo del levantamiento.8

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Template: se puede expresar a travs de una ecuacin muy simple: 8

Ec.8

En la siguiente figura se esquematiza dicha ecuacin

PATCH

Fig. 3.8 Diagrama de un Template. El template es la combinacin del salvo y el patch.

Existen dos tipos de movimientos del template que deben ser considerados en un levantamiento ssmico 3D: desplazamiento in-line y desplazamiento cross-line, tal como se muestra en la siguiente ilustracin.9

hh

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Fig. 3.9 Tipos de movimiento para el Template. Los tringulos representan los puntos de tiro y los crculos las receptoras. Las fuentes que se encuentran rodeadas por un circulo representan el salvo correspondiente al patch que se esquematiza con un cuadrado del mismo color.(Modificado de Chaouch et. al 2006)

Offests: considerando la geometra de un diseo 3D, es posible definir diferentes offsets dentro de un template: 9

Offset mnimo mximo (Xmin) = es la distancia de la diagonal de la caja o box, tal como se observa en la siguiente figura.

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Fig.3.10 Diagrama representativo del Offset mnimo mximo. (Modificado de Cordsen et. al, 2000)

Por tanto viene representada por una relacin trigonomtrica:

Ec. 9

Offset mximo (Xmax) = es la distancia que corresponde a la mitad de la diagonal del template. Esta distancia depende de la profundidad a la cual se encuentra el horizonte objetivo, el horizonte que se quiere iluminar.9

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Fig. 3.11 Diagrama del offset mximo (Xmax).Ntese que los receptores son los crculos rojos y las fuentes los tringulos (Modificado del Chaouch et. al, 2006).

Distribucin de Offset: cuando se tiene un diseo 3D la distribucin para cada clase de offset (offset cercano, lejano, medio) es irregular: contiene un alto porcentaje de offsets lejanos, aprox. 57%, un pequeo porcentaje de offset medio, aprox 33%, y un muy pequeo porcentaje de offset cercano, aprox. 10%. La alta contribucin de offset lejano mejorara la eliminacin de mltiples, mientras que la pequea cantidad de offset cercano reducir el ruido asociado a esta clase de offset, como el ground roll, ruido generado por la fuente, etc. Esto mejorar la relacin S/N. 9

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Fig. 3.12 Distribucin de offset (Modificado de Chaouch et. al, 2006).

3.2 DISEO DE ADQUISICIN.

Hay muchos parmetros que son importantes considerar al momento de elaborar un diseo de adquisicin ssmica, pero la definicin de un objetivo profundo debe ser la de mayor influencia, y directamente a este estn relacionados los parmetros mas significantes del levantamiento como: rango de off-sets (distancias fuente-receptor), tamao de la carga explosiva, intervalo de muestreo (sample rate), filtros, gefonos y cobertura de rea de estudio. Los parmetros de resolucin para obtener la imagen del objetivo, estn tambin dentro de los factores a considerar al inicio de un proyecto ssmico.

3.2.1 Teora del Muestreo y Frecuencia de Nyquist.

Una seal ssmica es una funcin continua en tiempo. Cuando sta es grabada digitalmente la seal continua se convierte en una secuencia de nmeros que normalmente estn uniformemente

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espaciados en el tiempo (intervalo de muestreo). Generalmente el intervalo de muestreo utilizado en ssmica es de 1 a 4 ms, el cual depende de la resolucin vertical que se desee obtener del subsuelo. La seal digitalizada, es una muestra discreta de la seal continua a la cual le faltan detalles correspondientes a componentes de altas frecuencias que se perdieron durante el muestreo (Yilmaz, 1987).

El Teorema del muestreo permite asegurar que no se pierde ninguna informacin al momento de digitalizar la seal analgica si la frecuencia de muestreo es mayor que el doble del componente de frecuencia ms alto de la onda que est siendo muestreada. Esto es equivalente a decir que debe haber por lo menos dos muestras por ciclo. El teorema de muestreo tambin determina el mnimo intervalo de muestreo que se debe utilizar. 5

La mitad de la frecuencia de muestreo es llamada frecuencia de Nyquist y esta es la mayor frecuencia que se puede obtener. Para un perodo de muestreo de 2ms la frecuencia de Nyquist es igual a 250 Hz. A medida que ese intervalo aumenta la frecuencia disminuye y por ende tambin el ancho de banda de la seal. Si el intervalo de discretizacin es demasiado corto, la superposicin de seales en el espacio de la frecuencia corrompe la forma de la seal original (Fig 3.13). Si el muestreo se efecta exactamente con el intervalo de Nyquist (1=2fN ), basta para que no haya ningn tipo de superposicin entre las copias de la seal analgica original. Al fenmeno de solapamiento de la seal original durante su discretizacin se conoce como aliasing.10

Fig. 3.13 Fenmeno del Aliassing visto en frecuencia. Vase como si la onda no est correctamente muestreada se superpone y por tanto se corrompe la forma original de la misma
10

10

CAICEDO, M, Y ALDANA, M., 2002. Aplicaciones Geofsicas de los Filtros Digitales.Universidad Simn Bolvar. Versin 1.1

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Cuando el muestreo es incorrecto, las componentes de alta frecuencia (mayores que la de Nyquist) de la seal original son trasladadas a la zona de bajas frecuencias; en consecuencia, una seal en alias muestra componentes de baja frecuencia que estn ausentes de la seal original. Por tanto el aliasing es un inevitable, la nica solucin a esto consiste en filtrar fsicamente la seal (con un filtro pasa-bajo) antes de discretizarla, de tal forma que las componentes de alta frecuencia que no sean de interese queden eliminadas desde el principio.10

3.2.1.1 Muestreo Espacial.

El muestreo espacial tambin cae dentro del mbito del teorema de muestreo,

pues los

gefonos conforman un arreglo y los intervalos de grupo dentro de una lnea estn tan regularmente espaciados. Un arreglo, en el sentido ssmico, es un grupo de gefonos cuya salida es sumada en la sarta o posteriormente en procesamiento. El propsito de los arreglos es la atenuacin de ruidos, en particular, el ruido generado por la fuente.

Siendo V la velocidad para la capa cercana a la superficie (near surface layer or weathered layer). El teorema de muestreo es modificado en trminos de distancia o porcin de longitud de la onda.

, donde

por lo que:

Ec. 10

Donde Smin es la separacin mnima entre gefonos. Disminuyendo la velocidad de la onda, tiene el mismo efecto que incrementar la frecuencia. Incrementando la velocidad, la distancia entre gefonos crecer. Para velocidades bajas, disminuir la distancia mnima de separacin entre gefonos. Los elementos del arreglo, sin embargo, son sumados en la sarta de gefonos, lo cual hace del arreglo por s mismo un filtro convencional, ms que precisamente un filtro de muestreo.

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El punto es que el teorema de muestreo es la base para ese primer muestreo de la tierra en un reconocimiento ssmico (survey) en la forma de un arreglo regularmente espaciado de gefonos. Para ruidos coherentes el tamao, espaciamiento y orientacin del arreglo deben ser seleccionados sobre la base de las propiedades del ruido a ser cancelado.

3.2.1.2 Intervalo de Grupo.

El intervalo de grupo es la distancia en superficie entre estaciones receptoras, los parmetros del horizonte objetivo son usados para calcular el intervalo de grupo. La seal ssmica reflejada en una capa del subsuelo, produce puntos de reflexin o muestreo en subsuelo separados una distancia que es la mitad del intervalo de grupo. Estructuras ms pequeas que la del intervalo de grupo (intervalo de estaciones receptoras) no pueden ser distinguidas individualmente sobre el sismograma. Para capas planas, no hay problemas de aliassing. Cuando el horizonte es buzante, la data debe ser migrada, desde la aparente ubicacin hasta la verdadera ubicacin en subsuelo.

La ecuacin utilizada en un diseo 2D (Ec. 11) para determinar este parmetro de adquisicin tiene como variables la velocidad, frecuencia y ngulo de buzamiento de dicha capa y el resultado obtenido con esta ecuacin da la distancia ms grandes entre estaciones receptoras que se podr usar sin que ocurra aliassing durante la migracin. Es importante destacar ciertas conclusiones que permite hacer la ecuacin mencionada anteriormente: conforme el ngulo de buzamiento se incrementa, el intervalo de grupo se hace ms pequeo; a mayor velocidad, mayor la distancia del intervalo de grupo; a mayor frecuencia disminuye la distancia del intervalo.
5

Gmax =

Ec. 11 reflector respecto a la horizontal.

Donde

ngulo de inclinacin del

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Gmax = intervalo de estacas o intervalo de grupo.

V= fm = Velocidad mnima de la capa objetivo (target layer). Frecuencia mxima esperada.

3.2.2. Arreglo de Gefonos.

Un arreglo es un patrn de sensores (gefonos) que reciben una seal. Para aplicaciones ssmicas, el arreglo suma las seales desde un patrn de gefonos. El propsito del muestreo y de la suma de las seales captadas por el grupo de gefonos es la atenuacin del ruido generado por la fuente y provenientes de fuera de la lnea mientras se preserva, tanto como sea posible, la seal de inters ssmico.

El diseo de los arreglos es un delicado balance entre la relacin seal/ruido (S/N) y la resolucin. El compromiso entre resolucin de la data ssmica es una tarea constante en un diseo ssmico. Desde que el arreglo es sumado en el campo, es muy difcil modificar la respuesta del arreglo sobre la data grabada.5

Los arreglos, adems de atenuar los ruidos coherentes, tales como ground roll, tambin modifican el ruido aleatorio (random noise). El ruido aleatorio es atenuado por la raz cuadrada del nmero de gefonos que estn siendo sumadas en el arreglo. Experimentos muestran que la relacin seal/ruido (S/N) mejoran suavemente con el nmero de gefonos, pero tambin est influenciado por la longitud de onda del ruido y el espaciamiento de los gefonos.5

Existen algoritmos que permiten estimar el factor S/N, pero pruebas de campo son la mejor manera para determinar este importante parmetro de diseo. Cuando la data ya est sumada por el arreglo, es muy difcil recuperar la prdida de la resolucin. Por esto, sera mejor visto errar por el lado de arreglos cortos que por el lado de los arreglos que son ms grandes que los necesarios.5

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Relacin Seal / Ruido (S/N). Para evaluar cuantitativamente el ruido lo que normalmente se hace es medir su intensidad respecto de la seal que interfiere. En otras palabras, lo que en la prctica importa es la relacin entre la intensidad de la seal, S, y la intensidad del ruido interferente, R, factor comnmente conocido como relacin seal-ruido, S/N, expresada en decibeles, S/N = 20 log (S/N).5

El lmite inferior de S/N para identificacin de la seal es cero decibeles o relacin 1/1 (Intensidad de la seal igual a intensidad del ruido). Para valores de S/N negativos (menores que 1/1 o menores que cero db) la seal no es identificable por el ojo humano. La calidad de la reflexin vista por el ojo humano se incrementa con el valor de S/N hasta alcanzar un umbral (S/N = 10 db o relacin 3/1). Por arriba de este umbral un aumento en la relacin S/N no produce efectos visibles en la mejora de la calidad de un evento reflejado. 5

Durante el procesado de los datos ssmicos se logra un aumento sustancial de la relacin senalruido. El principal contribuyente para el aumento de la relacin S/N es la suma de trazas de punto profundo comn o stacking.

Los parmetros de los arreglos son: el espaciamiento de los elementos (gefonos), la longitud total del arreglo. El diseo de arreglos requiere el conocimiento de la longitud de onda de la seal y el ruido. Para encontrar la longitud de onda se requiere de la velocidad de la capa cercana a la superficie y las frecuencias esperadas.

Para definir un arreglo y su tamao, son necesarias algunas pruebas de campo. Si no se realizan pruebas de ruido en campo antes de la grabacin puede ocasionar grandes problemas durante el procesamiento de datos, debido al uso de un arreglo impropio o inefectivo. El ruido que se necesita suprimir en el campo puede provenir de un nmero diferente de fuentes, incluyendo ondas directas, ondas de aire, ground roll, ondas de cizalla, ondas refractadas, mltiples, ruidos aleatorios.

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Una simple prueba de campo puede determinar las longitudes de ondas o tipos de seales no deseadas. La tcnica es llamada noise spread o walkaway survey y consiste en fijar el arreglo de gefonos en posicin y realizar varios disparos (patrones de carga y profundidad) a diversas distancias del arreglo. El producto final es un registro ssmico en la que se puede evaluar las ondas de interferencias que arriban desde fuera de la lnea. El resto del tren de ondas puede ser atacado con patrones de fuentes o arreglo de receptores. Otro mtodo conocido como expanding profile produce tambin como resultado un registro similar al noise spread y sirve tambin para analizar ruidos, en este caso, la fuente de disparos es fija y los gefonos se mueven sucesivamente a distancias mayores. 5

Ambos tipos de registro suministran la informacin necesaria para disear el arreglo. Para ondas lineales la velocidad se obtiene aplicando la frmula tiempo-distancia de los datos que se obtienen del registro. La frecuencia usualmente es estimada midiendo el tiempo pico-a-pico de las ondas y el nmero de ondas involucradas en esta medicin. Luego de conocidos la frecuencia y velocidad, aplicando frmulas, obtendremos la longitud de onda y la frecuencia espacial.

Las frecuencias bajas pueden ser suprimidas simplemente con filtros pasa banda en el dominio del tiempo o con filtros de corte bajo que se aplican durante el procesamiento de la data. La desventaja con los filtros de corte bajo es que las bajas frecuencias son tiles si la inversin es parte de la interpretacin.5

3.2.3 Definicin de Horizontes.

Tres son los horizontes sismogrficos a considerarse cuando se inicia el diseo para un proyecto de reconocimiento ssmico: una capa poco profunda o shallow layer, la capa objetivo o target layer, y una capa profunda o deep layer. Cada uno es importante de una manera diferente.

La capa superficial o meteorizada es un parmetro que se usa en diversos clculos y puede influir en el diseo. La velocidad de la capa superficial es utilizada como un factor en el cmputo

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de off-sets y para determinar el efecto del ground roll. Generalmente esta capa es de muy baja velocidad a causa de su exposicin y erosin.5

Por otro lado, una capa poco profunda (shallow layer) es necesaria para procesamiento o interpretacin y es esencial para poder usar el anlisis de velocidad con confianza. La profundidad de esta capa determina la distancia offset al receptor ms cercano medido desde la fuente, este offset debe ser menor que la profundidad de la capa, para as poder obtener una buena imagen del horizonte.5

Fig. 3.14 Esquema de distribucin de horizontes (Modificado de Gua de Adquisicin Ssmica de PDVSA).

La capa objetivo es el horizonte de inters primario en un reconocimiento ssmico. Cuando surgen conflictos paramtricos durante el diseo, los requerimientos para la capa objetivo prevaleceran. Los parmetros inmediatos a calcular son el tiempo aproximado de viaje y velocidad promedio correspondiente a la profundidad esperada, as como tambin es importante estimar el mximo buzamiento de la capa objetivo para su empleo en otros elementos del diseo.

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Para obtener la mxima o ms grande distancia offset (mxima distancia fuente-receptor) se hace esta distancia un poco mayor que la profundidad de la capa objetivo.

Puede existir un horizonte ms profundo que la capa objetivo, el cual es importante para interpretacin, tanto como los horizontes poco profundos, adems sta capa influir en la longitud del registro, potencia de las fuentes, filtros instrumentales y el mximo offset. 5

3.2.4 Offset mximo y Apertura de Migracin.

Con el offset ms cercano y el intervalo de grupo definidos, resta establecer el offset mximo para las estaciones receptoras. El offset lejano que se requiere podra ser calculado primero para el horizonte objetivo (target layer) y luego por el horizonte profundo (deep horizon). La velocidad de la capa superficial o capa meteorizada (weathered layer) est involucrada debido a la inicial influencia angular sobre la trayectoria de la onda a travs de la tierra y la profundidad del horizonte que est siendo evaluado5.

Ec. 12

Donde

Xmax = Offset mximo para las estaciones receptoras que asegura la obtencin de una imagen del horizonte de inters. Z Vs V = Profundidad del horizonte. = Velocidad superficial (de la capa superficial o meteorizada). = Velocidad promedio de la capa objetivo (target layer).

Observe que a mayor velocidad promedio de la capa objetivo y a mayor profundidad, se incrementa el offset mximo requerido para obtener una imagen del horizonte de inters. Si el horizonte tiene un ngulo de buzamiento con respecto a la horizontal igual a , entonces la

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distancia, Xmax, podra extenderse como una funcin del buzamiento mediante la siguiente frmula:

Ec. 13

El

Apertura de Migracin asegura que los eventos migrados de importantes reflectores

permanezcan sobre el sismograma. La longitud del spread necesita ser un poco mayor que la profundidad del reflector que se quiere quede reflejado en la seccin ssmica. 5

El objetivo de la migracin es desplazar los puntos de reflexin a la verdadera posicin espacial, Como resultado de este proceso los buzamientos de los horizontes se incrementan, ciertas figuras estructurales se definen apropiadamente (caso de los sinclinales, las difracciones se colapsan, etc.). 9

En conclusin para determinar los lmites de un levantamiento ssmico es necesario tener en cuenta 3 reas muy importantes para poder obtener una imagen de excelente calidad de la estructura deseada. La primera rea (cuadro color azul en la Figura 3.15) es definida durante la interpretacin y corresponde al rea de inters, que se desea iluminar y que debe ser migrada, llamada o la llamada subsurface fully-migrated area. 9

La segunda rea es la zona de apertura de migracin (cuadro color rojo en la Figura 3.15), la apertura de migracin est calculada como una extensin a la superficie de cobertura para tener fuentes y/o receptores a suficientes distancias offset para tomar en cuenta las trayectorias de los rayos de las estructuras con fuertes buzamientos. Toda esta rea al igual que la anterior son zonas que tienen un completa cobertura nominal.9

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La tercera rea est definida en funcin de los objetivos operacionales, y es el rea de fold taper, la que va a permitir satisfacer las necesidades de cobertura de las dos reas anteriores (cuadro color verde en la Figura 3.15).8

Fig. 3.15 reas de un levantamiento ssmico 3D. (Modificado de Chaouch et. al , 2006)

3.2.5 Atributos de un diseo ssmico.

Un diseo ssmico no est completo mientras no se haya realizado un anlisis de los atributos. Los atributos nicamente pueden ser analizados al detalle con los softwares de las computadoras. El efecto de los obstculos sobre el diseo no puede ser valorado a mano o por observacin. Los obstculos deberan ser definidos antes que se realice el anlisis para incluir los efectos de

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estaciones fuentes o receptoras que se van a perder u omitir. Los atributos estndares analizados para cada bin son: Bin display. Muestra los bines que contienen al menos un punto medio geomtrico. Algunos de estos puntos pueden caer cerca al centro y otros prximos a los bordes del bin. 5

Anlisis de Cobertura. El rea de inters (zona en el subsuelo que se desea muestrear) debe tener una buena relacin S/N de forma que al procesar los datos se obtengan buenas secciones ssmicas para la interpretacin. La cobertura debe ser entonces mxima con el fin de que el anlisis de velocidad sea consistente en la precisin de estimacin de velocidades en todo el rea.9 Por lo tanto la mxima cobertura de fold estar cerca del centro del proyecto, cayendo a valores unitarios en las esquinas, mientras que a lo largo de los bordes del proyecto tendr valores de 2 o 3.

Distribucin de offsets. Cada CMP bin contiene diversas trazas provenientes de diferentes pares de fuente-receptor, donde cada par posee una distancia fuente- receptor (offset) y un azimuth (ngulo entre una lnea imaginaria paralela al norte franco y un lnea imaginaria que va desde la fuente al receptor, este ngulo se mide desde el centro del bin) que lo caracteriza e identifica. En diseo ssmico 3D es muy importante tener en cuenta tanto el azimuth como el offset. La distribucin de offset est directamente relacionada con la cobertura; bajos valores de cobertura generan una pobre distribucin de offset, mientras que altos valores de cobertura aumenta la distribucin de los mismos. La distribucin de offset ms efectiva debe contener trazas provenientes de offsets tanto cercanos como lejanos, lo cual facilitar los clculos de velocidad para las correcciones NMO, as como tambin permitir obtener el mejor resultado del apilado. Una distribucin poco equilibrada de offsets (desproporcin en la cantidad de offsets lejanos con respecto a los cercanos, o viceversa) puede causar aliassing de los elementos buzantes, puede ser fuente generadora de ruido e incluso puede originar reflexiones primarias inexistentes (ver Figura 3.16).8

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Fig. 3.16 Distribucin de offset y azimuth para un CMP bin. Las lneas negras con distribucin radial implican una distribucin de offset efectiva, ya que contiene trazas provenientes de offsets tanto cercanos como lejanos.8

Existen diferentes diagramas que permiten analizar la distribucin de offset dentro un bin, sin embargo es ms importante analizar la distribucin de offset dentro de un conjunto de bines o superbin, ya que los procesos de migracin y NMO se realizan sobre un grupo de bines. Entre los diagramas que permiten realizar estos anlisis se encuentra el diagrama de palitos o stick diagram. La Figura 3.17 ilustra este tipo de representacin, en la cual cada cuadro representa un CMP bin y el nmero de palitos dentro del mismo es igual al nmero de trazas a ser apiladas. La escala vertical de cada cuadro indica la cantidad de offset, y el eje horizontal la posicin de la traza dentro de una escala de offset. Una distribucin perfectamente triangular indicar la presencia de todos los offsets posibles. Si dos o ms trazas tienes el mismo offset, el palito ser dibujado con un color diferente para indicar redundancia.8

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Fig. 3.17 Diagrama de Palitos. Mientras la distribucin de los palitos, los cuales son equivalentes al nmero de trazas a ser apiladas dentro del bin, sea perfectamente triangular, como lo muestra la figura, se garantizar la presencia de todos los offsets posibles. 8

Los anlisis AVO (Amplitude Variation with Offset) requieren de un buen muestreo de rango de offsets para la inversin de la curva de ajuste o curve-fitting. La tcnica AVO es un anlisis del comportamiento de las amplitudes como una funcin de las distancias offsets (fuentereceptor). Los bins con poco o ningn offset lejano o irregularmente muestreados, no son convenientes para un anlisis AVO. La cobertura puede ser la apropiada, pero a los bins les pueden estar faltando contribucin de offset lejanos o pueden tener muchas trazas con el mismo offset. Una zona de bins con rango de offsets perdidos podra ser un candidato pobre para las correcciones por NMO (Normal Move Out).5

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Las trazas cercanas representan la mejor aproximacin al offset cero para la conversin a profundidad. Las trazas del medio o centrales conectan las trazas cercanas y lejanas definiendo la hiprbola del moveout. Distribucin azimuthal. Cuando existen estructuras buzantes en el subsuelo la velocidad se hace dependiente de la direccin de propagacin. En este caso el anlisis de velocidades de hacerse de forma azimuthal. El anlisis azimuthal se hace de acuerdo al valor que se obtiene de la tasa de aspecto, la cual se define como el cociente entre la direccin cross-line y la direccin in-line del patch. Si la relacin de aspecto se encuentra en 0.6 y1.0 se obtiene una buena distribucin de azimuth, lo que garantiza que la informacin de todos los ngulos que rodean el bin son incluidos en el apilado. Una manera de representar la distribucin de azimutal es a travs de los llamados diagramas de araa (Figura 3.18), el cual permite visualizar el azimuth de cada traza perteneciente a un CMP bin. Cada pata de la araa (tanto el tamao como el color) indica la distancia de offsets y apunta en direccin de la fuente al receptor. La pata de la araa siempre comienza en el centro del bin y no necesariamente en el punto medio entre la fuente y el receptor al cual pertenece. La longitud de las patas de la araa se escala de forma que el offset mximo del diseo sea igual a la mitad de la altura del bin.8

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Fig. 3.18 Diagrama araa de un conjunto de bines.8

Levantamientos ssmicos de azimuth amplio (wide azimuth) y de azimtuh estrecho (narrow azimuth). La diferencia entre ambos tipos de distribucin de azimuth se hace en base al valor de la tasa de aspecto del patch. Patchs con una tasa de aspecto menor a 0.5 son poseen un

distribucin de azimuth estrecha (narrow azimuth). Este tipo de levantamientos tiene una distribucin lineal con respecto al offset. Sin embargo cuando se grafican contra el cuadrado del offset, la distribucin muestra la tendencia de agruparse hacia los offsets cercanos (ver Figura 3.19). Los patch de azimuth narrow son ideales para los clculos de AVO, DMO y para cuando se presentan variaciones laterales significativas de velocidad.8

Cuando la relacin de aspecto del patch posee valores superiores a 0.5, el patch posee una distribucin de azimuth amplia (wide azimuth). Este tipo de distribucin cuando se grafica contra el cuadrado del offset, muestra una tendencia lineal (ver Figura 3.18), lo cual hace a este tipo de levantamientos ideal para el anlisis de velocidades, atenuacin de mltiples y para una mejor uniformidad en el muestreo del subsuelo.8

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Fig. 3.19 Distribucin azimuthal en un patch. Obsrvese en las imgenes a y b la distribucin angosta y en las imgenes c y d la distribucin ancha de azimuth.8

3.2.6 Velocidades Ssmicas.

La velocidad ssmica se refiere a la rapidez de propagacin de una onda ssmica. Se sabe que las ondas P y las ondas S, se propagan con velocidades y : 7

Ec. 14

Donde

es el mdulo de incompresibilidad,

es el modulo de rigidez y

la densidad.

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Pero estas velocidades requieren de materiales puros, por tanto se tiene que los minerales puros como el cuarzo, calcita, entre otros poseen velocidades de propagacin nicas, lo cual no ocurre as en los estratos que se encuentran dispuestos en el subsuelo, debido a que estas rocas son producto de la combinacin de diversos minerales.7

Por tanto en adquisicin ssmica cuando se habla de velocidad se asocia dicha palabra a cantidades, cuyas unidades son distancia/tiempo, y que correspondes a algn tipo de velocidad promedio-aparente. De esta forma es usual encontrarse con los siguientes tipos de velocidades:

.- Velocidad Intrnseca (V): es una propiedad fsica de materiales puros, como lo son la densidad, la permeabilidad y la porosidad.8

.- Velocidad Intervlica (Vint): se refiere a la velocidad de propagacin promedio dentro de un medio o formacin dada, y es la que muchos intrpretes asocian con la litologa. Su medicin se realiza utilizando el registro snico.7 Una aproximacin de la velocidad intervlica viene dada por la ecuacin de Dix (Ec. 15), la cual asume la presencia de reflectores horizontales paralelos. 5

Ec. 15

Donde el subndice n-1 corresponde al reflector superior del intervalo y n al reflector inferior; la variable V corresponde a la velocidad cuadrtica media y t es el tiempo de arribo a incidencia normal.5

.- Velocidad Promedio (Vpr): se refiere a la velocidad asociada a ms de una formacin o litologa, generalmente est definida por el promedio de las velocidades intervlicas medido desde la superficie. Esta velocidad se obtiene directamente de los tiros de verificacin check shots, y es la velocidad que se utiliza para llevar los tiempos de reflexin a profundidad. Se puede representar a travs de la siguiente ecuacin: 7

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Ec. 16

.- Velocidad de Apilamiento (Vnmo): velocidad que se obtiene durante el proceso de correccin por sobre corrimiento hiperblico (NMO) en las trazas de reflexin. 7

.- Velocidad RMS (Vrms): es una velocidad puramente matemtica, la cual es obtenida a partir de un promedio pesado de los cuadrados de las velocidades intervlicas, y tiene aplicacin cuando se de estimar velocidades promedio a partir de las velocidades del procesamiento (Vnmo). Esta velocidad se puede expresar de la siguiente manera: 6

Ec.17

3.2.7 Trazado de Rayos.

La tcnica de trazado de rayos es muy til para definir un diseo de adquisicin a fin de iluminar los estratos y sobre todo cuando las capas en el subsuelo tienen a un modelo tectonoestratigrfico complicado, por ejemplo domos de sal, fallas, discontinuidades laterales de velocidad, entre otros. Esta tcnica es aplicada a diseos de adquisicin 3D y 2D a fin de incrementar o reducir el espaciamiento entre receptores y fuentes en ciertas reas del

levantamiento de manera de asegurar total cobertura en zonas estructuralmente complejas, adems que permite evaluar el impacto de la variacin de cobertura y distribucin de offset y azimuth sobre el horizonte de inters8. Sofisticados programas de computadora, como por ejemplo el software MESA, permiten llevar a cabo esta til herramienta.