Object 1

Feb 21

laporan praktikum sinar x

KATA PENGANTAR Puji syukur saya panjatkan kepada Tuhan Yang Maha Esa karena berkat rahmat dan karunia-nya saya dapat menyelesaikan laporan praktikum fisika modern dengan judul penyerapan sinar x. Laporan ini merupakan hasil percobaan yang dilakukan oleh mahasiswa jurusan fisika. Saya mengucapkan terimakasih kepada asisten praktikum fisika modern yang rela membimbing selama praktikum berlangsung . Tidak lupa saya ucapkan terimakasih kepada Bapak Fauzi Bakri selaku dosen mata kuliah praktikum fisika modern Semoga laporan ini bisa bermanfaat bagi kita semua

Jakarta. 11 Desember 2010 Aru Anggar S.

DAFTAR ISI KATA PENGANTAR DAFTAR ISI 1 2 3

BAB I. PENDAHULUAN

A. Latar Belakang B. Tujuan Percobaan C. Identifikasi Masalah D. Pembatasan Masalah E. Perumusan Masalah

3 4 5 5 5 6 7 21 24 27 29 19

F. Manfaat Hasil Penelitian BAB II. LANDASAN TEORI BAB III. METODOLOGI EKSPERIMEN BAB IV. TABEL DATA DAN PENGOLAHAN BAB V. ANALISIS DATA BAB VI. PENUTUP DAFTAR PUSTAKA

BAB I PENDAHULUAN A. LATAR BELAKANG Percobaan yang dilakukan Lenard menghasilkan sinar katoda di dalam udara bebas dan hydrogen, dari hasil tersebut Rontgen mengembangkan untuk penemuan sinar-X, pengamatan yang dilakukan pertama kali oleh Rontgen mengenai sinar-X saat mengamati nyala hijau pada tabung Crookes di Laboratorium Universitas Wurzburg, selanjutanya rontgen mencoba menutup tabung dengan kertas hitam agar tidak ada cahaya yang dapat lewat. Namun , masih ada sesutau yang lewat, ia menyimpulkan bahwa peristiwa tersebut merupakan sinar-sinar yang tidak tampak. Saat sumber listrik dinyalakan untuk penelitian sinar katoda, didapatkan sejenis cahaya berpendar pada layar yang terbuat dari barium platinocyanida. Jika sumber listrik dipadamkan, cahaya pendar menghilang. Cahaya yang berpendar itulah yang dinamakan sinar-X atau sinar rontgen. Nyala hijau yang terlihat pada tabung Crookes adalah gelombang cahaya yang dipancarkan oleh dinding kaca tabung ketika elektron menabrak dinding itu, akibat terjadinya pelucutan listrik melalui gas masih tersisa di dalam tabung. Pada saat bersamaan elektron itu merangsang atom pada kaca untuk

mengeluarkan gelombang elektromagnetik yang sangat pendek yaitu ~1 dan kecepatan yang sangat tinggi. Jadi sinar X dapat dihasilkan apabila elektron menumbuk atom dengan kecepatan tinggi. Dari penemuannya Rontgen lebih memusatkan perhatinnya pada penyelidikan sinar X,Rontgen mendapatkan bahwa jika bahan yang tidak tembus oleh cahaya, ditempatkan di antara tabung dan layar pendar maka intensitas perpendaran layar itu berkurang tapi tidak hilang sama sekali. Kemudian Rontgen membuat kesimpulan sifat-sifat dari sinar X yaitu : 1. 2. Sinar-X dipancarkan dari tempat yang paling kuat tersinari oleh sinar katoda Intensitas cahaya yang dihasilkan pelat fotoluminesensi, berbanding terbalik dengn kuadrat jarak antara titik terjadinya sinar-X dengan pelat fotoluminesensi meskipun dijauhkan sekitar 2 m, cahaya masih terdeteksi 3. 4. 5. Sinar-X dapat menembus buku 1000 halaman tetapi hamper seluruhnya terserap oleh timbale setebal 1,5 mm Pelat fotografi sensitive terhadap sinar-X Lintasan sinar-X tidak dapat dibelokkan oleh medan magnet, membuktikan sinar-X berbeda dengan sinar katoda. Sinar X merupakan radiasi pengion,artinya, sinar ini mengionisasi udara atau gas yang dilewatinya. Detektor sinar X yang paling sederhana terdiri atas ruang ionisasi yang berisi suatu gas. Apabila atom-atom gas ini terionisasi oleh sinar X yang menembus dinding ruang ionisasi ini, maka dua elektroda dalam ruang ini akan mengumpulkan ion-ion tersebut dari dalam ruang. Perangkat ruang ionisasi dan elektrometer dipergunakan untuk menentukan intensitas sinar X.Untuk menentukan panjang gelombang sinar X maka dibahas difraksi sinar X oleh kisi suatu kristal. Kristal dibentuk oleh ion-ion, atom-atom dan molekul-molekul yang kemudian tersusun menjadi pola tiga dimensional yang teratur dan terulang. Jenis kristal mempunyai keteraturan dengan jangkauan yang panjang dalam susunan partikel pembangunnya. Sedangkan amorf strukturnya memiliki keteraturan dengan jangkauan yang pendek. Salah satu cara yang digunakan untuk mengetahui keteraturan atom atau molekul adalah dengan menggunakan difraksi sinar-x. Sinar-x merupakan gelombang elektromagnetik dengan panjang gelombang yang pendek. Akibat adanya radiasi elektromagnet yang diarahkan pada kristal akan memberikan efek interferensi. Interferensi pada kondisi tertentu yaitu jika arah bidang kristal terhadap berkas sinar-x () memenuhi persamaan Bargg, akan mengalami penguatan. Prinsip ini digunakan untuk mengetahui struktur dari kristal Ditemukannya sinar-X memberikan kemudahan untuk radiodiagnosa, sinar-X mampu

membedakan kerapatan dari berbagai jaringan dalam tubuh manusia.proses pembuatan gambar anatomi tubuh manusia dengan sinar-X dilakukan pada permukaan film fotografi. Gambar terbentuk karena adanya perbedaan intesitas sinar-X yang mengenai permukaan film setelah terjadinya penyerapan sebagian sinar-X terhadap tubuh manusia.daya serap tubuh manusia bergantung pada kandungan unsur yang ada di dalam organ. Unsure Ca yang berada di dalam tubuh manusia adalah salah satu yang memiliki kemampuan menyerap paling tinggi terhadap sinar-X. oleh karena itu hasil bayangan gambar sinar-X di permukaan film terhadap tulang lebih jelas daripada hasil penyerapan sinar-X terhadap paru-paru atau jaringan lunak pada umumnya. B. Tujuan Percobaan 1. Menentukan karakteristik dari sinar x 2. Menentukan intesitas radiasi sinar x 3. Menentukan nilai rata-rata parameter kisi (a) dari kristal KBr 4. Menentukan jarak rata-rata antar atom (dhkl) dari kristal KBr 5. Menentukan bentuk dari kristal KBr 6. Mengetahui fungsi dari difraksi sinar x 7. Menggunakan rumus Bragg dalam menentukan parameter kisi C. Identifikasi Masalah 1. Bagaimanakah karakteristik sinar x ? 2. Bagaimana menentukan nilai rata-rata parameter kisi (a) dari kristal KBr ? 3. Bagaimana menentukan jarak rata-rata antar atom (dhkl) dari kristal KBr ? 4. Bentuk apa yang dihasilkan dari kristal KBr? 5. Apakah fungsi dari difraksi sinar x ? D. Pembatasan Masalah Pembatasan masalah yang dikaji pada laporan ini hanya menentukan parameter kisi, jarak antar atom dan bentuk yang dihasilkan dari kristal KBr. E. Perumusan Masalah 1. Bagaimana menentukan nilai rata-rata parameter kisi (a) dari kristal KBr ? 2. Bagaimana menentukan jarak rata-rata antar atom (dhkl) dari kristal KBr ? 3. Bentuk apa yang dihasilkan dari kristal KBr ? F. Manfaat Hasil Penelitian Dapat memberi pengetahuan tentang bagaimana menentukan parameter kisi, jarak antar atom

dan bentuk yang dihasilkan dari kristal KBr.

BAB II LANDASAN TEORI Sinar-X adalah gelombang elektromagnetik dengan panjang gelombang sekitar 0.2 sampai 2.5 ( pannjang gelombang cahaya tampak adalah sekitar 6000 ). Sinar ini dihasilkan dari penembakan logam dengan elektron berenergi tinggi. Elektron itu mengalami perlambatan saat masuk ke dalam logam dan menyebabkan elektron pada kulit atom logam tersebut terpental membentuk kekosongan. Elektron dengan energy yang lebih tinggi masuk ke tempat kosong dengan memancarkan kelebihan energinya sebagai foton sinar-X. Teori tentang difraksi sinar-X dikemukakan pertama kali oleh Von Laue dan dikembangkan lebih lanjut oleh W. H. Bragg. Sifat-sifat sinar-X yang dihasilkan sangat tergantung dari tegangan dan arus dari tabung, makin tinggi tegangannya makin besar daya tembus yang dihasilkan dari sinar-X yang dihasilkan. Spectrum sinar-X yang dihasilkan mampu mempunyai intensitas, dimana spectra dengan intensitas melonjak yang diberi tanda K dan K dinamakan radiasi monokromatik atau radiasi karakteristik. Sinar-X yang dihasilkan dengan tegangan rendah biasanya tidak mempunya radiasi karakteristik dan disebut radiasi putih. Jika suatu kristal terdiri dari atom-atom yang tersusun secara teratur dan periodik dalam ruang dan jarak antar atom hampir sama dengan panjang gelombang sinar-X, maka kristal tersebut dapat

berfungsi sebagai kisi-kisi yang menghamburkan cahaya. Dengan konsep ini dan mengingat bahwa sinar-X mempunyai panjangn gelombang yang mendekati jarak antar atom, maka difraksi dapat terjadi kalau kristal dikenai oleh sinar-X. berkas sinar-X yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasenya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasenya sama. Berkas sinar-X yang saling menguatkan inilah yang disebut sebagai berkas difraksi. Difraksi Sinar-X merupakan teknik yang digunakan dalam karakteristik material untuk mendapatkan informasi tentang ukuran atom dari material kristal maupun nonkristal. Difraksi tergantung pada struktur kristal dan panjang gelombangnya. Jika panjang gelombang jauh lebih besar dari pada ukuran atom atau konstanta kisi kristal maka tidak akan terjadi peristiwa difraksi karena sinar akan dipantulkan sedangkan jika panjang gelombangnya mendekati atau lebih kecil dari ukuran atom atau kristal maka akan terjadi peristiwa difraksi. Ukuran atom dalam orde adalah angstrom () maka supaya terjadi peristiwa difraksi maka panjang gelombang dari sinar yang melalui kristal harus dalam orde angstrom ().Difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalamsebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan interferensi yang konstruktif. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasar persamaan Bragg n = 2d sin dimana n = 1,2,3 (1)

Dengan adalah anjang gelombang sinar x yang digunakan d adalah jarak antara dua bidang kisi adalah sudut antara sinar dating dengan bidang normal n adalah bilanganbulat atau orde pembiasan Ketika sinar X monokromatik datang pada permukaan kristal, sinar tersebut akan dipantulkan. Akan tetapi pemantulan terjadi hanya ketika sudut datang mempunyai harga tertentu. Besarnya sudut datang tersebut tergantung dari panjang gelombang dan konstanta kisi kristal. Sehingga peristiwa tersebut dapat digunakan sebagi salah satu model untuk menjelaskan pemantulan dan interferensi. Model tersebut ditunjukkan dalam gambar difraksi, ketika kristal digambarkan sebagai bidang parallel sesuai dengan bidang orientasi atomnya . Sinar datang dipantulkan sebagian pada masing-masing bidangnya, dimana bidang tersebut berfungsi seolah-olah sebagai cermin, dan pantulan sinar-sinar kemudian terkumpul pada detector.Karena kumpulan pantulan sinar-sinar tersebut merupakan sinarsinar yang koherendan ada selisih lintasan dari masing-masing pantulan bidang kristal makan akan terjadi peristiwa interferensi ketika diterima oleh detector. Interferensi konstruktif terjadi jika selisih lintasan antara dua sinar berturutan merupakan

kelipatan dari panjang gelombangnya (). Berdasarkan gambar tersebut jarak selisih lintasan sinar pantul 1 dan 2 adalah Gambar 1

Dengan d merupakan jarak antara 2 bidang pantul yang berdekatan dan sudut antara sinar dating dan bidang pantul. Subtitusi persamaan 2.2 dalam persamaan 2.1 didapatkan

Sehingga interferensi konstruktif terjadi jika Dengan n= 1,2,3,. Berturut-turut menunjukkan orde pertama, ke dua, ke tiga dan seterusnya. Persamaan (2.4) pada umumnya disebut sebagai hukum bragg untuk memepelajari struktur kristal Jika panjang gelombang sinar x () dapat ditentukan dari macam target tabung generator sinar-x dan dapat diukur dari persobaan (sudut merupakan setengah sudut antara sinar dating dan sinar difraksi). Menurut persamaan 2.4 peristiwa difraksi terjasi apabila >2d, sehingga untuk gelombang optic tidak dapat digunakan. Produksi dan absorpsi sinar-X Pemanfaatan metode difraksi memegang peran yang sangat penting untuk analisis padatan kristalin. Selain untuk meneliti ciri utama struktur, seperti parameter kisi dan tipe struktur, juga dimanfaatkan untuk mengetahui rincian lain seperti susunan berbagai jenis atom dalam kristal, kehadiran cacat, orientasi, ukuran subbutir dan butir dan kerapatan presipitat.

Sinar-X adalah suatu radiasi elektromagnetik dengan panjang gelombang 0,1 nm yang lebih pendek dibandingkan dengan gelombang cahaya 400-800 nm. Apabila logam ditembak dengan elektron cepat dalam tabung vakum maka dihasilkan sinar-X. radiasi yang dipancarkan, seperti gambar berikut

Dapat dipisahkan menjadi dua komponen spektrum kontinu dengan rentang panjang gelombang yang lebar dan spectrum garis superimpose sesuai karakteristik logam yang ditembak. Energy radiasi putih yaitu sebutan untuk spectrum kontinu, meningkat dengan bertambahnya nomor atomic target sebanding dengan kuadrat tegangan, sedangkan radiasi karakteristik hanya terjadi apabila tegangan kritis dilampaui. Radiasi karakteristik terjadi apabila elektron yang terakselarasi mempunyai cukup energy untuk mengeluarkan satu elektron dari dalam kulitnya (seperti level 1s). Level 1s yang kosong kemudian diisi oleh oleh elektron lain yang berasal dari level energy yang lebih tinggi, dan sewaktu transisi terjadi emisi radiasi sinar-X. apabila eektron berasal dari kulit berdekatan, radiasi emisi disebut radiasi k karena kekosongan pada kulit k pertama n = 1 diisi oleh elektron yang berasal dari kulit L kedua dan panjang gelombangnya dapat diketahui dari persamaan h = EL EK Akan tetapi, apabila kekosongan kulit K diisi elktron yang berasal dari kulit M maka terjadi emisi radiasi K. Gambar diatas memperlihatkan bahwa sesungguhnya, eksitasi yang satu tidak dapat terjadi tanpa eksitasi lainnya dan karakteristik radiasi K yang berasal dari target tembaga secara rinci terdiri dari double K yang kuat dan garis K yang lebih lemah. Ketika mengenai specimen, berkas sinar-X kehilangan intensitas sesuai persamaan I = Io exp (-x) Dengan Io dan I masing-masing adalah nilai intensitas awal dan akhir, adalah konstanta yang disebut koefisien absorpsi linear yuang bergantung pada panjang gelombang sinar-X dan jenis material pengabsorbsi dan x adalah tebal specimen. Persamaan absorbsi ini merupakan dasar dari radiografi,

karena rongga retak atau cacat sejenisnya mempunyai nilai - yang jauh lebih rendah dibandingkan dengan logam sempurna. Cacat seperti ini dapat di deteksi karena terekamnya perbedaan intensitas pada film fotografi yang diletakkan di belakang objek yang terkena radiasi sinar-X. Variasi koefesien absorpsi masssa yaitu koefisien absorpsi linear dibagi kerapatan, / dengan panjang gelombang yang digunakan. Difraksi sinar-X oleh kristal Gejala interferensi dan difraksi merupakan hal umum di bidang cahaya. Percobaan fisika dasar standar untuk menentukan jarak antar kisi, dilakukan dengan menggunakan sudut berkas difraksi dari cahaya yang diketahui panjang gelombangnya. Persyaratan yang harus dipenuhi adalah 1. 2. Kisi-kisi bersifat periodic Panjang gelombang cahaya mempunyai orde yang sama dengan jarak kisi-kisi yang akan ditentukan. Percobaan ini secara langsung dapat dikaitkan dengan penerapan sinar-X untuk menentukan jarak kisi dan jarak antar atom kristal, karena keduanya berdimensi sekitar 0,1 0,4 nm. Pembahasan difraksi kristal dengan difraksi kisi-kisi tiga dimensional cukup rumit, tetapi Bragg menyederhanakannya dengan menunjukkan bahwa difraksi ekivalen dengan pemantulan simetris oleh berbagai bidang kristal. Gambar 1 memperlihatkan berkas sinar-X dengan panjang gelombang yang jatuh dengan sudut pada set bidang kristal dengan jarak d. Berkas yang dipantulkan dengan sudut bersifat rill, apabila berkas dari bidang berikutnya saling memperkuat. Agar dipenuhi, jarak tambahan yang harus ditempuh oleh berkas yang dipantulkan oleh tiap bidang berikutnya harus sama dengan bilangan bulat dikalikan dengan panjang gelombang. Arah berkas yang dipantulkan semata-mata ditentukan oleh geometri kisi yang bergantung paada orientasi dan jarak bidang kristal. Apabila kristal memiliki simetri kubik dengan ukuran struktur sel a maka sudut difraksi berkas dari bidang kristal (hkl) dapat dihitung dengan mudah dari hubungan jarak interplanar

Dimana N adalah bilangan refleksi atau bilangan garis Sudut pantul bidang dalam kristal yang memantulkan berkas sinar-X dengan panjang

gelombang dapat dihitung dengan memasukkan nilai d terkait dalam persamaan Bragg. Untuk memastikan hokum Bragg terpenuhi dan dipantulkan dari berbagai bidang kristal dapat terjadi perlu ditetapkan rentang unutk nilai atau . Beragamnya cara untuk melaksanakan standar difraksi sinar-X yaitu metode Laue dan metode serbuk Metode Laue Pada metode Laue, kristal tunggal stasioner disinari berkas radiasi putih. Karena specimen merupakan kristal runggal dengan posisi tetap dan agar semua bidang kristal memenuhi hokum Bragg maka variable yang berubahdisini adalah panjang gelombang dari berkas yang memiliki rentang gelombang tertentu. Jadi setiap bidang kristal bersesuaian dengan tertentu yang berasal dari spectrum putih sehingga menghasilkan refleksi Bragg. Radiasi berasal dari logam yang mempunyai nomor atomik tinggi (tungsten), tetapi hamper semua bentuk radiasi putih dapat dipakai. Gambar dibawah baik fotografi transmisi atau fotografi refleksi balik dapat diterapkan. Pada transmisi fotografi, pola titik yang diperoleh berbentuk ellips atau hiperbola semua titik pada ellips atau hiperbola merupakan refleksi dari satu zona, sehingga pada pola Laue daapt dijadikan simetri kristal

Masalah utama dalam metoda difraksi sinar X ini adalah bagaimana menghubungkan pola spot yang diperoleh dengan posisi ion atau atom dalam unit sel. Memang dari jarak antar spot, kita dapat mengetahui dimensi unit sel, tetapi letak atom atau ion dalan unit sel sangat sulit ditentukan . Salah satu cara untuk mengatasi hal diatas adalah dengan jalan mula-mula kita menduga struktur molekul dan kemudian memperkirakan difraksi sinar X yang mungkin diperoleh Difraksi sinar X yang kita perkirakan kemudian kita bandingkan dengan hasil percobaan. Adanya perbedaan antara pola difraksi hasil perkiraan dan hasil percobaan menunjukkan struktur molekul yang kita perkirakan masih salah dengan membandingkan kedua pola difraksi, kita dapat membuat perbaikan-perbaikan sehingga hasilnya diperoleh struktur molekul yang tepat, tetapi dalam beberapa kasus, misalnya apabila jumlah atom dalam unit sel sangat banyak, metode diatas menjadi

tidak parktis lagi. Dalam kasus seperti ini biasanya posisi atom atau ion ditentukan berdasarkan intensitas relatif dari spot yang dihasilkan. Metode Serbuk Metode serbuk yang dikembangkan secara terpisah oleh Debye dan Scherrer, mungkin merupakan teknik sinar-X yang paling bermanfaat. Pada metode ini digunakan radiasi monokromatik dan specimen serbuk halus atau kawat polikristalin berbutir halus. Sudut merupakan variable dan kumpulan kristal dengan orientasi acak mengandung cukup banyak partikel dengan orientasi bidang sedemikian rupa sehingga terjadi refleksi dan terbentuklah pola serbuk hasil superimpose pola kristal yang berputar. Sudut antara berkas sinar-X langsung dan berkas refleksi adalah 2 , sehingga setiap set bidang kristal menghasilkan kerucut berkas refleksi dengan setengah sudut 2, dengan adalah sudut Bragg untuk set bidang refleksi yang menghasilkan kerucut. Jadi apabila film dipasang diseputar specimen seperti pada gambar terbentuk kerucut terdifraksi berurutan terdiri dari berkas yang berasal dari ratusan butir. Kerucut tersebut memotong film dan membentuk kurva konsentris di seputar lubang masuk dan keluar. Beberapa contoh pola material bcc dan fcc, untuk berbagai tujuan tertentu,pola garis difraksi hasil metode serbuk harus diukur dengan teliti tetapi dengan inspeksi saja dapat diperoleh informasi yang memadai.

Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal, maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel, makin kuat

intensitas pembiasan yang dihasilkannya. Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis material. Standar ini disebut JCPDS. Ada dua faktor yang perlu di ingat 1. 2. Sinar datang, bidang normal terhadap bidang difraksi dan berkas difraksi selalu sebidang Sudut antara berkas sinar difraksi dan berkas sinar transmisi adalah 2 . Sudut 2 inilah yan diukur pada percobaan difraksi, bukan Metode difraksi sinar X digunakan untuk mengetahui struktur dari lapisan tipis yang terbentuk. Sampel diletakkan pada sampel holder difraktometer sinar X. Proses difraksi sinar X dimulai dengan menyalakan difraktometer sehingga diperoleh hasil difraksi berupa difraktogram yang menyatakan hubungan antara sudut difraksi 2 dengan intensitas sinar X yang dipantulkan. Untuk difraktometer sinar X, sinar X terpancar dari tabung sinar X. Sinar X didifraksikan dari sampel yang konvergen yang diterima slit dalam posisi simetris dengan respon ke fokussinar X. Sinar X ini ditangkap oleh detektor sintilator dan diubah menjadi sinyallistrik. Sinyal tersebut, setelah dieliminasi komponen noisenya, dihitung sebagaianalisa pulsa tinggi. Teknik difraksi sinar x juga digunakan untuk menentukan ukuran kristal, regangan kisi, komposisi kimia dan keadaan lain yang memiliki orde yang sama. Skema Tabung Sinar X Sinar X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan tinggi dengan logam target. Dari prinsip dasar ini, maka alat untuk menghasilkan sinar X harus terdiri dari beberapa komponen utama, yaitu : a. Sumber elektron (katoda) b. Tegangan tinggi untuk mempercepat elektron c. Logam target (anoda) Ketiga komponen tersebut merupakan komponen utama suatu tabung sinar X. Skema tabung sinar X dapat dilihat pada Gambar

KOMPONEN DALAM XRD Komponen XRD ada 2 macam

yaitu: 1. Slit dan film 2. Monokromator Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan kawat pijar untuk menghasilkan elektron-elektron, kemudian electron-elektron tersebut dipercepat terhadap suatu target dengan memberikan suatu voltase, dan menembak target dengan elektron. Ketika elektron-elektron mempunyai energi yang cukup untuk mengeluarkan elektron-elektron dalam target, karakteristik spektrum sinar-X dihasilkan. Spektrum ini terdiri atas beberapa komponen-komponen, yang paling umum adalah K dan K. Ka berisi, pada sebagian, dari K1 dan K2. K1 mempunyai panjang gelombang sedikit lebih pendek dan dua kali lebih intensitas dari K2. Panjang gelombang yang spesifik merupakan karakteristik dari bahan target (Cu, Fe, Mo, Cr). Disaring, oleh kertas perak atau kristal monochrometers, yang akan menghasilkan sinar-X monokromatik yang diperlukan untuk difraksi. Tembaga adalah bahan sasaran yang paling umum untuk diffraction kristal tunggal, dengan radiasi Cu K =1.54. Sinar-X ini bersifat collimated dan mengarahkan ke sampel. Saat sampel dan detektor diputar, intensitas Sinar X pantul itu direkam. Ketika geometri dari peristiwa sinar-X tersebut memenuhi persamaan Bragg, interferens konstruktif terjadi dan suatu puncak di dalam intensitas terjadi. Detektor akan merekam dan memproses isyarat penyinaran ini dan mengkonversi isyarat itu menjadi suatu arus yang akan dikeluarkan pada printer atau layar komputer. PROSEDUR DIFRAKSI SINAR X Percobaan dengan menggunakan difraksi sinar X kebanyakan terbatas pada zat padat saja. Hasil yang paling baik akan diperoleh apabila digunakan satu kristal tunggal. Tetapi, percobaan difraksi sinar ini dapat pula dilakukan dengan menggunakan padatan dalam bentuk serbuk yang sebenarnya terdiri dari kristal- kristal yang sangat kecil. Atau dapat juga menggunakan padatan dalam bentuk kumparan yang biasa digunakan untuk menentukan struktur molekul yang mempunyai ukuran yang sangat besar, seperti DNA, protein, dan sebagainya. Bahan yang berbentuk kristal terdiri atas atom yang tersusun secara periodik. Susunan periodik selanjutnya dikenal sebagai struktur kristal. Sistem kristal dikelompokkan dalam 7 sistem (Krane, tersebut 1992). Sistem kristal triklinik, adalah

monoclinik, ortorombik, tetragonal, heksagonal, rombohendral dan kubik. Sistem kubik jarak antara atom penyusun dalam unit sel sama panjangnya. Bentuk unit sel kristal kubus diperlihatkan pada gambar

(a) Unit sistem kubus a = b = c (b) Unit sel lain lain yang sama dan berdekatan Sistem Pola rasio (s) Simple 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, ... BCC 2, 4, 8, 11, 12, 16, ... FCC 3, 4, 8, 11, 12, 16, ... Intan 3, 8, 11, 16, ... Ketika sinar X menumbuk kristal, sebenarnya elektron yang terdapat di sekeliling atom atau ionlah yang menyebabkan terjadinya pemantulan. Makin banyak jumlah elektron yang terdapat disekeliling atom pada suatu bidang, makin besar intensitas pemantuklan yang disebabkan oleh bidang tersebut dan akan mengakibatkan makin jelasnya spot yang terekam dalam film. Dengan menggunakan metode sintesis fourier, kita dapat menghubungkan intensitas spot dengan kepekatan distribusi elektron dalam unit sel. Dengan mengamati kepekatan dalam unit sel, kita dapat menduga letak atom dalam unit sel tersebut. Atom akan terletak pada daerah-daerah yang mempunyai kepekatan distribusi elektron maksimum. Dengan menggunakan metode difraksi sinar X, struktur molekul yang sangat kompleks dapat ditentukan. Misalnya struktur DNA yang sangat kompleks dapat ditentukan dengan metode sinar X seperti yang telah dilakukan oleh Crick, Wilkins dan Watson

BAB III METODOLOGI EKSPERIMEN A. Alat dan Bahan

1. Unit sinar x, dengan perekam keluaran 2. Tabung penghitung, tipe a 3. Penghitung Geiger-Muller 4. Perlengkapan penyerapan sinar x 5. Kabel penyaring 300 nm B. Cara Kerja

1. Menghubungkan unit sinar X ke sumber tegangan 2. Mengatur tegangan sebesar 15 kv 3. Mengukur intensitas yang didapat dari hasil percobaan dimulai dari 0o sampai 90o 4. Cara menentukan intensitasnya adalah setiap perubahan sudut, penghitung intensitas harus direset

terlebih dahulu 4. Menentukan sudut-sudut yang mana saja yang mengalami kenaikan secara drastis 5. Sudut-sudut yang mengalami kenaikan secara drastis di ukur lagi intensitasnya dengan tegangan 20 kv dan 25 kv C. Metode Penelitian Metode yang digunakan adalah metode eksperimen. Metode eksperimen adalah metode yang digunakan oleh penyelidik terhadap objeknya dengan cara melakukan eksperimen. Metode eksperimen digunakan untuk menemukan kebenaran atas pendapat orang lain atau teori yang sudah terbukti sebelumnya. Dalam praktikum ini praktikan mencari intensitas dari sinar x yang dengan sudut sebagai ketentuannya. D. Tujuan Operasional Penelitian 1. Menentukan intesitas radiasi sinar x 2. Menentukan nilai rata-rata parameter kisi (a) dari kristal KBr 3. Menentukan jarak rata-rata antar atom (dhkl) dari kristal KBr 4. Menentukan bentuk dari kristal KBr F. Tempat dan Waktu Penelitian Hari/tanggal Waktu Tempat : Kamis, 11 November 2010 : 10.00 - selesai : Laboratorium Fisika, FMIPA Universitas Negeri Jakarta perhitungan yang digunakan sinar x adalah rumus hukum Bragg yang akan menghasilkan nilai parameter kisi dan jarak antar atom. Untuk kesalahan relatifnya digunakan metode sesatan, setelah itu melukan analisis yang dibantu dari landasan teori serta hasil dari perhitungan. Kemudian membuat kesimpulan dan analisis kesalahan BAB IV TABEL DATA DAN PENGOLAHAN A. Tabel Data Untuk V=15 kv

H. Teknik Analisa Data

2 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9

intensitas

2 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45

intensitas

2 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68

intensitas

2 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90

intensitas

Untuk kv Untuk kv 2 25 25 28 51 57 90

20 25

4876 4151 3866 9999 602 336 222 67 46 33

303 416 676 389 482 739 286 67 64 48 61 67 46 58 79 50 82 49 55 53 59 51 51

39 54 62 58 68 118 67 74 103 94 208 256 95 38 29 31 39 35 34 43 27 36 28

28 40 21 20 29 29 19 26 48 13 32 26 26 24 25 19 14 27 24 28 43 85

V=

intensitas 2708 1636 3029 1784 548 307 1330 803 606 308

10 34 11 31 12 38 13 40 14 78 15 88 16 139 17 233 18 251 19 249 20 261 21 273 22 293

B. Data

Pengolahan 1.

Mencari rumus S aprox =

nilai

aproximasi dengan

p2 Si S S u n c a k n2 (in a de p ks r mil o ler x ) 12 1 0. 1 1

5 2 3 4 5 28 51 57 90

2.5 14 25.5 28.5 45

04684 0.05852 0.18533 0.22768 0.5 1.249 3.95 4.86 10.67 1 4 5 11

2. Mencari nilai parameter kisi (a) dengan rumus

Dimana : a

= nilai parameter kisi kristal (m) = panjang gelombang sinar-X CuK (1.54 x 10-10 m)

h, k, l = indeks miller untuk kesalahan relatif digunakan metode sesatan seperti

2 25 28 51 57 90 jumlah

a (m) 3.55 x 10-10 3.18 x 10-10 3.57 x 10-10 3.608 x 10-10 3.611 x 10-10 17.519 x 10-10

a2 (10-20 m) 12.6025 10.1124 12.7449 13.01766 13.03932 61.516785

Ksr = a a

x 100 %

rata-rata

= 0.07568 x 100% 3,5038 = 2,27 % 3. Mencari jarak antar atom dalam kristal dengan rumus

Rata-rata 3.5038 x 10-10

Dimana : d a

= jarak antar bidang = parameter kisi

h,k,l = indeks miller untuk kesalahan relatif digunakan metode sesatan seperti

2 25 28 51 57 90 jumlah Rata-rata

d hkl (10-10 m) 3.55 3.18 1.785 1.613 1.088 11.216 2.2432

d2hkl (10-20 m) 12.6025 10.1124 3.186225 2.601769 1.183744 29.68664 5.937328

Ksr = dhkl d
rata-rata

x 100 %

=0.4757 x 100% 2.2432 =21.2%

BAB V

ANALISA DATA Tujuan dari percobaan difraksi sinar x adalah 1. Menentukan nilai rata-rata parameter kisi (a) dari kristal KBr

2. Menentukan jarak rata-rata antar atom yang berdekatan (dhkl) dari kristal KBr 3. Menentukan bentuk dari kristal KBr Terjadinya difraksi tergantung pada struktur kristal dan panjang gelombangnya. Jika panjang gelombang jauh lebih besar dari pada ukuran atom atau konstanta kisi kristal maka tidak akan terjadi peristiwa difraksi karena sinar akan dipantulkan sedangkan jika panjang gelombangnya mendekati atau lebih kecil dari ukuran atom atau kristal maka akan terjadi peristiwa difraksi. Hal pertama yang dilakukan dari percobaan penyerapan sinar x adalah menentukan intensitas dimulai dari sudut 0o sampai 90o dengan menggunakan tegangan 15 kv dan radiasi CuK yang memiliki panjang gelombang 1.54 , dimana panjang gelombang CuK memiliki orde yang sama dengan jarak antar atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal, setelah itu diperoleh sudut-sudut puncak dengan intensitas yang mengalami kenaikan secara drastis. Pada percobaan pertama sudut-sudut puncak yang diperoleh yaitu 25o, 28o, 51o, 57o, 90o. Puncak-puncak tersebut dinamakan sinar-X karakteristik yang terbentuk melalui proses perpindahan elektron atom dari energy yang lebih tinggi menuju energy yang lebih rendah. Sinar-X yang terbentuk melalui proses ini memliki energy yang sama dengan selisih antara kedua tingkat energy elektron tersebut. Dari kelima titik pucak, intensitas yang paling tinggi berada pada sudut 28 o untuk 2. Kenapa sudut yang dipakai adalah 2 karena yang digunakan adalah sudut antara berkas sinar difraksi dan berkas sinar transmisi, percobaan ini menggunakan hukum bragg dalam menentukan sudutnya. Pada percobaan kedua sudut-sudut puncak yang diperoleh dihitung lagi intensitasnya dengan tegangan 25 kv dan 20 kv.

2 25 28 51 57 90

intensitas V = 15 kv 676 739 118 256 85 V = 20 kv 1636 1784 307 803 308 V = 25 kv 2708 3029 548 1330 606

Ternyata semakain bertambahnya tegangan, intensitas yang dihasilkan semakin besar. Hal ini disebabkan elektron yang bertumbukkan yang sangat sering dengan target, meningkatkan intensita.

Sifat-sifat sinar-X yang dihasilkan sangat tergantung dari tegangan dan arus dari tabung, semakin tinggi tegangannya makin besar daya tembus yang dihasilkan dari sinar-X dan spectrum sinar-X yang dihasilkan akan memiliki intensitas. Sinar-X yang dihasilkan dengan tegangan rendah biasanya tidak mempunya intensitas hal ini biasa disebut radiasi putih. Dari data yang didapat yaitu 2 dan intensitas kita dapat mencari s aproximasi atau indeks miller (s), parameter kisi dan jarak antar atom pada kristal KBr dengan menggunakan rumus S aprox =

Dari pengolahan data perbandingan indeks miller (s) yang didapat adalah 1:1:4:5:11 berarti sistem pola rasio dari KBr menurut hasil percobaan berbentuk simple kubik sama seperti teori karena kristal KBr mirip dengan NaCl Niai parameter kisi KBr menurut percobaan adalah 350 pm sedangkan menurut teori nilai parameter kisi KBr adalah 329 pm Percobaan 350 pm Teori 329 pm

Jarak rata-rata antar atom dalam kristal dari hasil percobaan adalah 2.2432 menurut literatur 3 . Berdasarkan referensi dapat diketahui bahwa penyerapan sinar-X oleh suatu bahan tergantung pada 3 faktor : 1. Panjang gelombang sinar Jika kv rendah, maka akan dihasilkan panjang gelombang sinar-X yang semakin panjang dan sebaliknya jika kv tinggi maka panjang gelombang sinar akan semakin pendek 2. Susuna objek yang terdapat pada alur berkas sinar-X Penyerapan sinar-X tergantung oleh suatu susunan objek yang dilaluinya, sedangkan susunan objek tergantung pada nomor atom unsure, misalnya nomor atom aluminium lebih rendah dari tembaga. Ternyata penyerapan sinar-X aluminium lebih rendah dari penyerapan sinar-X tembaga. 3. Ketebalan dan kerapatan objek, semakin tebal bahan yang digunakan maka semakin banyak pula penyerapan sinar-X Dari tabel diatas dapat dilihat bahwa hasil eksperimen kurang sesuai dengan teori yang ada. Adanya

perbedaan hasil praktikum dengan teori disebabkan oleh beberapa kesalahn saaat mengambil data, yaitu 1. 2. Kurang cermat dalam mengaplikasikan alat Kurang teliti dalam menentukan sudu BAB VI PENUTUP A. Kesimpulan 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. 9. Intensitas yang paling tinggi pada percobaan ada pada sudut 28o untuk 2 Sudut-sudut puncak yang diperoleh pada percobaan yaitu 25o, 28o, 51o, 57o, 90o Semakin besar tegangan yang digunakan maka intensitas yang dihasilkan juga semakin besar Indeks miller yang didapat pada percobaan adalah 1:1:4:5:11 Nilai parameter kisi KBr pada percobaan adalah 350 pm sedangkan pada teori 329 pm Jarak rata-rata antar atom dalam kristal pada percobaan adalah 2,2432 Struktur KBr pada percobaan adalah simple cubic cara untuk melaksanakan standar difraksi sinar-X yaitu metode Laue dan metode serbuk Difraksi Sinar-X merupakan teknik yang digunakan dalam karakteristik material untuk mendapatkan informasi tentang ukuran atom dari material kristal maupun nonkristal 10. penyerapan sinar-X oleh suatu bahan tergantung pada 3 faktor : a. b. c. Panjang gelombang sinar Susuna objek yang terdapat pada alur berkas sinar-X Ketebalan dan kerapatan objek

11. Semakin sering elektron menumbuk target, maka intensitas yang dihasilkan bertambah

B. Manfaat Sinar X 1. Untuk mengetahui instrument pesawat yang mengalami kerusakan 2. Sinar-X lembut digunakan untuk mengambil gambar foto yang dikenal sebagai radiograf 3. Sinar-X keras digunakan untuk memusnahkan sel-sel kanser. Kaedah ini dikenal sebagai radioterapi 4. Menyiasati rekahan dalam pipa logam, dinding konkrit dan dandang tekanan tinggi 5. Memeriksa retakan dalam struktur plastik dan getah 6. Sinar-X digunakan untuk menyelidik struktur hablur dan jarak pemisahan antara atom-atom dalam suatu bahan hablur

7. Di lapangan kapal terbang, sinar-X lembut digunakan untuk memeriksa barang-barang dan beg penumpang C. Saran Sebelum melakukan praktikum, praktikan seharusnya membaca literatur untuk menambah pengetahuan dan mempermudah dalam melakukan praktikum serta menganalisis data.

DAFTAR PUSTAKA Akhadi,Muklis. TEKNOLOGI PEMBANGKIT SINAR-X :DARI TABUNG SINAR KATODA KE SPRING-8 DAN APS. Pusat Teknologi Keselamatan dan Metrologi Radiasi:BATAN Akuan,Abrianto. ANALISIS KRISTAL DAN MINERAL DENGAN DIFRAKSI SINAR X. Teknik Metalurgi : UNJANI Beiser, A. 1987. Konsep Fisika Modern. Jakarta: Erlangga. http://hadirwong.blogspot.com/2009/12/manfaat-sinar-x http://tk.uns.ac.id/file/Kuliah/Kimia%20Fisika/Tugas%20I/XRD%20V.pdf Krane, K. 1992. Fisika Modern . Jakarta : UI Riyanto. 2007. ANALISIS STRUKTUR KRISTAL MENGGUNAKAN DIFRAKSI SINAR X. Purwokerto : Universitas Jendral Sudirman Smallman.R.E. 2000. Metalurgi Fisik Modern dan Rekayasa Material. Jakarta: Erlangga

Tim Eksperimen Fisika Modern. 2010. Penuntun Eksperimen Fisika Modern Program S1. Jakarta : Laboratorium Fisika Modern FMIPA UNJ

Posted 21st February 2011 by song of life Labels: tugas kuliah

Object 2

Object 3

Object 4

Add a comment

Object 5

me and my story
just ordinary blog !
Classic Flipcard Magazine Mosaic Sidebar Snapshot Timeslide

Feb 26

ucapan ulang tahun ^^

waktu gue ulang tahun yang ke-21 jarang yang sms ucapin selamat ulang tahun .. hehehe, sedih banget kali ya nasib gueee.. T.T makanya, gue mau abadiin beberapa ucapan dari temen... MUTO assalamualaikum happy birthday to you happy birthday to you selamat ulang tahun eneng sayank... semoga sukses semoga keinginanna tercapai amin IRMA Asslm aliin met milad y.. Tua aja nii neng hhe3 barakallah y smoga ip smt ini bagus dn apapun yg aliin hrpkn t'capai Amiin DEWI (temen smp) Met milad yak, lin! Semoga panjang umur, makin cantik dan baek aja, wish u all the best...

NETA Alinn, happy bday, slamat ultah ya, happy milad.. Semoga kamu tmbh dwasa, tambh cntik, dmudahkan rezeki n jodoh'a.. Amien SOSOL Memet,, "Happy Birthday" Yg ke-21,. Feb 21

laporan praktikum sinar x

KATA PENGANTAR Puji syukur saya panjatkan kepada Tuhan Yang Maha Esa karena berkat rahmat dan karunia-nya saya dapat menyelesaikan laporan praktikum fisika modern dengan judul penyerapan sinar x. Laporan ini merupakan hasil percobaan yang dilakukan oleh mahasiswa jurusan fisika. Saya mengucapkan terimakasih kepada asisten praktikum fisika modern yang rela membimbing selama praktikum berlangsung . Feb 21

lirik TUHAN TOLONG AKU ..

Tuhan tolong hambaMu ... agar aku bisa jalani hidupku sampai nanti aku mati * Tuhan bantu hambaMu.. agar aku mampu menjadi manusia yang beriman kepadaMu # Reff :

buat aku slalu mengingatMu, mencintaiMu.. seperti Kau mencintaiku.. buat aku slalu memujaMu, menyayangiMu seperti Kau selama ini tlah menyayangiku.. Feb 17

TOUR BAHARI PULAU SERIBU

Bingung liburan mau kemana ?? Pengen cari sensasi liburan yang berbeda ?? Bosen weekend ke tempat yang biasa ?? Nah gue punya solusi buat liburan lo semua, dijamin enak dan gak mahal ... mungkin ada beberapa orang yang udah tau pulau seribu tapi belum pernah pergi kesana, nah gue pengen tunjukkin beberapa keindahan pulau seribu... Di bawah ini beberapa gambar keindahan di dalam laut pulau seribu.. Feb 16

when you feel alone

Pernah gak kamu ngrasa lagi banyak banget masalah dalam hidup kamu atau kamu punya masalah yang buat kamu terasa beraaattt banget buat dilalui ? Dan di saat seperti itu, gak ada satu pun orang yang ada di samping kamu, bantu kamu, men-support kamu, atau sekedar ngertiin keadaan kamu ? Pasti rasanya berat banget ya ?? Ini juga yang gue alami saat ini. Dec 19

saat bete di kampus

bete banget nunggu dosen yang kadang gak jelas kedatangannya.. alhasil ada netbook and kamera mending foto-foto gajeb aja dah.. hehehe, kali aja ada produser liat gaya narsis manis kitaa ^^ ngareeepp..ngareeeppp..

ini foto kenangan bersama sahabat "genk motor" di kampus, kurang satu sih.. yang paling pojok kiri, yang paling cantik, namanya alinnavia (hahaha :p), yang tengah tuan putrinya pangeran kodok (pisss...) and yang pojok kanan itu aru anggar.. hehehe, smoga kita terus solid yaaa... Dec 19

Model atom BOHR

MODEL ATOM BOHR Setelah Rutherford dengan prinsip fisika klasik gagal menerangkan teori model atom, fisikawan Denmark, Niels Bohr, pada tahun 1913 mengemukakan bahwa atom ternyata seperti sistem tata surya dengan elektron-elektron bergerak mengelilingi inti atom analog terhadap planet-planet yang bergerak mengelilingi matahari. Dec 19

Jika bukan karena RahmatNya

Jika bukan karena Rahmat Allah.. saat ini aku pasti tidak merasakan kenikmatan berislam, kenikmatan dalam keselamatan, karena islam berarti selamat.. Jika bukan karena Rahmat Allah.. aku pasti tidak bisa menikmati keindahan alam, menikmati nyanyian alam, karena penglihatan dan pendengaran ini adalah pemberianNya, rahmatNya.. Jika bukan karena Rahmat Allah.. Dec 13

lirik lagu korea

buat temen-temen yang lagi hunting lagu korea.. ni aku ada beberapa lirik lagu korea yang aku suka.. hehehe, smoga aja bermanfaat yaaaa.. Dec

13

laporan praktikum balmer

Laporan Fisika Modern Spektrum Atom Hidrogen Deret Balmer VERONICA NOVIXE SUSANTI 3215081812 PENDIDIKAN FISIKA REGULER 2008 UNIVERSITAS NEGERI JAKARTA 2010 KATA PENGANTAR Puji syukur saya panjatkan kepada Tuhan Yang Maha Esa karena berkat rahmat dan karunia-Nya saya dapat menyelesaikan laporan praktikum fisika modern dengan judul Deret Balmer ini dengan baik. 3

Loading Send feedback