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Table Of Contents

Prefacio
Conceptos básicos de calidad
Calidad y competitividad
Productividad
Medición del desempeño de una empresa
Variabilidad y pensamiento estadístico
Ciclo de la calidad (ocho pasos en la solución de un problema)
Capacidad de procesos I: Estadística descriptiva
Medidas de tendencia central
Medidas de dispersión o variabilidad
Histograma y tabla de frecuencias
Medidas de forma
Cuantiles (percentiles)
Diagrama de caja
Estudio real (integral) de capacidad
Uso de sistemas computacionales
Introducción a la probabilidad
Conceptos de probabilidad
Distribuciones discretas
Distribución normal
Verificación de normalidad (gráficas de probabilidad)
Gráfica de probabilidad para verificar normalidad
Distribuciones derivadas del muestreo
Elementos de inferencia estadística
Conceptos básicos
Estimación puntual y por intervalo
Conceptos básicos de prueba de hipótesis
Prueba para la media
Prueba para la varianza
Tres criterios de rechazo o aceptación equivalentes
Hipótesis para dos parámetros: comparación de dos procesos o poblaciones
Poblaciones pareadas (comparación de dos medias con muestras dependientes)
Uso de software
Índices de capacidad, métricas Seis Sigma y análisis de tolerancias
Índices de capacidad para procesos con doble especificación
Capacidad de largo plazo e índices P
Métricas Seis Sigma
Estimación por intervalo de los índices de capacidad
Diseño de tolerancias
Estimación de los límites naturales de tolerancia de un proceso
Herramientas básicas para Seis Sigma
Diagrama de Pareto
Estratificación
Hoja de verificación (obtención de datos)
Diagrama de Ishikawa (o de causa-efecto)
Lluvia de ideas
Diagrama de dispersión
Diagramas de procesos
Sistemas poka-yoke
Sistema poka-yoke
Cartas de control para variables
Causas comunes y especiales de variación
Cartas de control
Carta de control
Carta de control X—
Interpretación de las cartas de control y causas de la inestabilidad
Carta de individuales
Cartas de precontrol
Carta de precontrol
Uso de software estadístico
Cartas de control para atributos
Cartas p y np (para defectuosos)
Cartas c y u (para defectos)
Implantación y operación de una carta de control
Cartas CUSUM y EWMA: detección oportuna de cambios pequeños
Carta CUSUM
Carta EWMA
Estado de un proceso: capacidad y estabilidad
Estado de un proceso
Estrategias de mejora
Estudio largo de repetibilidad y reproducibilidad
Estudio R&R corto (short method)
Monitoreo del sistema de medición
Estudios R&R para pruebas destructivas
Estudios R&R para atributos
Estudio R&R para atributos
Muestreo de aceptación
Cuándo aplicar el muestreo de aceptación
Tipos de planes de muestreo
Formación del lote y selección de la muestra
Aspectos estadísticos: variabilidad y curva característica de operación
Método de Cameron
Military Standard 105E
Planes de muestreo Dodge-Roming
Plan de muestreo PDTL (NCL, LTPD) con c = 0
Muestreo de aceptación por variables (MIL STD 414)
Confiabilidad
Funciones en confiabilidad
Modelos (distribuciones) para el tiempo de falla
Especificación de la distribución de vida y estimación gráfica de sus parámetros
Estimación por mínimos cuadrados y por máxima verosimilitud
Confiabilidad de sistemas
Análisis de modo y efecto de las fallas (AMEF)
Actividades para realizar un AMEF (proceso)
Estrategia Seis Sigma
Antecedentes y características de Seis Sigma
Etapas de un proyecto Seis Sigma
Diseñar para Seis Sigma (DMADV)
Diseño para confiabilidad
Diseño para confiabilidad
Proceso esbelto y Seis Sigma
Implantación de la estrategia 6σ
Ejemplo de proyecto Seis Sigma
Definición
Medición
Análisis
Mejora
Control
Apéndice
Bibliografía y referencias
Índice
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P. 1
Control Estadístico de Calidad y Seis Sigma 2e - Gutiérrez 2009

Control Estadístico de Calidad y Seis Sigma 2e - Gutiérrez 2009

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Pages 400 to 413 are not shown in this preview.
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Pages 424 to 458 are not shown in this preview.
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Pages 469 to 502 are not shown in this preview.

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