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Obtencin de informacin de un material al ser perturbado por una seal (luminosa, elctrica, trmica, etc.)
Informacin
Por qu es necesaria la caracterizacin de materiales? Conocer o predecir las propiedades de un material y as valorar su utilidad en una aplicacin determinada Conocer causas de fallos del material durante el servicio.
IMAGEN
Microscopa ptica MO / OM Microscopa Electrnica Barrido MEB / SEM Transmisin MET / TEM
Tamao, forma y distribucin de fases y microconstituyentes
ESTRUCTURA
Difraccin de rayos X Determinacin de estructura cristalina Espectroscopia FT-IR Espectroscopa Raman
Determinacin de fases y/o compuestos
COMPOSICIN QUMICA
Espectroscopa de absorcin atmica Espectroscopa de emisin ptica
% en peso o atmico de cada elemento que constituye en material
Al-Fe-Mn/Al-Si
: http://www.doitpoms.ac.uk/miclib/micrograph.php?id=157
28/05/2012
OBJETIVO:
sta
.
Lente que concentra los rayos luminosos sobre la
CONDENSADOR:
preparacin.
DIAFRAGMA: Regula la cantidad de luz que entra en el condensador. FOCO o FUENTE DE ILUMINACIN: Dirige los rayos luminosos
hacia el condensador.
Sistema ptico
Sistema mecnico
Sistema mecnico Rojo Amarillo Verde Azul Blanco 5X 10X 20X 50X 100X
SOPORTE:
Objetivos
brazo. Mantiene la parte ptica. Tiene dos partes: el pie o base y el
PLATINA: Lugar donde se deposita la muestra. CABEZAL: Contiene los sistemas de lentes oculares. REVLVER: Contiene los sistemas de lentes objetivos. Permite, al girar,
cambiar los objetivos.
TORNILLOS DE ENFOQUE: Macromtrico que aproxima el enfoque (enfoque grueso) y micromtrico que consigue el enfoque correcto (enfoque fino).
Luz Transmitida
Luz reflejada
Materiales opacos
28/05/2012
En campo claro En campo oscuro (poros, grietas, rayas de pulido, lmites de grano, inclusiones no metlicas) Con luz polarizada Fluorescencia (medicina y biologa)
Microestructura de Fundicin blanca Dendritas de perlita con una matriz de cementita 100 X 1000 X
Microestructura de un latn +
100 X
Funte Funte: : Eric Jhoan Fonseca Rivera
200 X
28/05/2012
Un microscopio electrnico es aqul que utiliza electrones en lugar de fotones o luz visible para formar imgenes de objetos diminutos.
Microscopio ptico
Observar y fotografiar zonas muestra Medida de longitudes a en escala nanomtrica Distincin zonas diferente nmero atmico
A. cualitativo y cuantitativo de composicin qumica Mapa distribucin elementos qumico Perfiles concentracin de un elemento en puntos diferentes de la muestra
http://www.mos.org/sln/SEM/mhead.html
http://mse.iastate.edu/images/microscopy/Dendrite2ss.jpg
Zonas oscuras
Zonas claras
Menor Z promedio
http://cime.epfl.ch/page-26774.html
Mayor Z promedio
28/05/2012
Amplificaciones 50X- 20 000X. Aceleraciones de voltaje 20 kev Imagen visual de la muestra a gran escala. Utiliza vaco en su operacin para evitar la colisin de los electrones con los tomos del gas. Muestras deben ser conductoras o aplicar recubrimiento.
28/05/2012
Observar y fotografiar zonas muestra Medida de longitudes a en escala nanomtrica Distincin zonas diferente nmero atmico A. cualitativo y cuantitativo Mapa distribucin elementos qumico. Perfiles concentracin de un elemento en puntos diferentes de la muestra Estudios cristalogrficos
Fases intermetlicas sigma () y Chi () presentes en los lmites de grano del material. Diagrama de difraccin de electrones.
Precipitados presentes en los lmites de grano y en la matriz del material. Diagrama de difraccin de electrones.
Anodizing in H3PO4
Anodizing in H2SO4
HAADF Detector
100 80 Counts 60 40 20
Ti Al O
1 1
500 nm
1
100 100 nm
Al map
300
Ti Al O
O map
Ti map
200 Counts 100 0 0 100 200 300 Position (nm) 400 500
0.1 m m
Anodizing of titanium
0.1 m m
0.1 0.1 m
28/05/2012
A diagram of a single axis tilt sample holder for insertion into a TEM goniometer. Titling of the holder is achieved by rotation of the entire goniometer
Amplificaciones hasta 200 000X. Aceleraciones de voltaje 200 kev Utiliza vaco en su operacin para evitar la colisin de los electrones con los tomos del gas (10-7 tor). Preparacin especial de la muestra debido a que tienen que permitir el paso de los electrones a travs de ella. (delgadas)
Adelgazamiento inico
Cortesa de S.J. Garca-Vergara. Corrosion and Protection Centre. Manchester, UK
28/05/2012
For metals, specimen thicknesses normally used for TEM range from 10-20 nm. Sections are cut at the desired thickness and then collected on grids usually made of copper or nickel.
http://www.vcbio.science.ru.nl/en/fesem/info/principe
Es aqul que utiliza fuerzas de interaccin atmica para formar imgenes tridimensionales de topografa
Esencial en el desarrollo de la nanotecnologa, para la caracterizacin y visualizacin de muestras a dimensiones nanomtricas.
20m
10m
AFM microscroscope
28/05/2012
Alta resolucin vertical (fracciones de nm) Realizar perfiles de topografa No es necesario que la muestra sea conductora Tamao del rea que escanea para obtener una imagen es muy pequea (150 x150 m como mx). Mxima diferencia de alturas que puede barrer para obtener una imagen es de 10 a 20 m. Velocidad de barrido (mucho menor que la del SEM).