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La diffraction des RX, application aux matériaux dentaires
1.
RX
1.1.
NATURE
radiation électro-magnétique (grain d
én de masse nulle, animé d
un champ em variablepériodiquement, dans un plan perpendic à sa propagation) SCHEMA1895 RoentgenRadiographie: image du contraste d
absorption du matériau1912: REM
λ
0,5 à 2,5 A: diffraction,0,05 à 1: RXaspect corpusculaire photons, E=hv=h c
λ
eV (h=cste de Planck= 6,62 10-27, v= fré-quence des RX)
1.2.
PRODUCTION DES RX
1.2.1.
PRINCIPEaccélération des e par ddp, frappent AC, excitation puis déexcitation parémission d
un photon X. R faible=1,1.10-
9
ZV, choix AC (W, Cu,réfrac-taire)
1.2.2.
SPECTRE D
EMISSION
spectre continu
I varie de façon continue,
VE=eV=hv, I max=3/2
λ
mini,V=én recue, én photon tot du spectre proport ZV
2
(énergieXrendement)
spectre de raies caractéristiques
superposition de raies dont I
V mais
λ
(position) indpt de V, fonction de Zmécanisme: expulsion d
un e des couches profondes (ionisation), réarrange-ment électronique par transition, émission d
un rayonnement de désexcita-tion: photon X.
λ
K
α
1 et 2 pour diffraction
SCHEMA
1.2.3.
SOURCE DE RX
• 
tube à RX
SHEMA
• 
générateur
fournit ddp, tension variable,I ajustable, stabilisé
1.3.
INTERACTIONS RX/MATIERE
1.3.1.
Principe SHEMA
1.3.2.
Coefficient d
absorption dI=-
μ
I dx(x=épaisseur)
1.3.3.
Variation du coefficient
μ
 
 
λ
et Z,
1.3.4.
(Détecteurs à RX)
2.
DIFFRACTION DES RX
2.1.
PRINCIPE, INTERET EN RADIOCRISTALLOGRAPHIE
diffraction: diffusion
élastique cohérente
des photons X. E=,
λ
=diffraction: utilisée en radiocristallographie, elle permet d
étudier la
structure
des maté-riaux grâce aux
interactions RX/matière
matériau est caractérisé via étude de la
géométrie spatiale
du faisceau RX diffractépar l
échantillon. (Exp Laué XIX)
2.2.
REGLES DE DIFFRACTION
SCHEMA
2.2.1.
REGLE DE WULFF
incident= réflexion
2.2.2.
RELATION DE BRAGG: les ondes réfléchies doivent être en phase au momentoù elles atteignent le détecteur
2dsin
ϴ
=n
λ
d= distance entre plans
ϴ
= angle de diffraction
 
n=ordre de diffraction= aussi nombre entier
λ
=longueur d
onde du faisceau de RXIl faut que AB+BC=n
λ
pour que les faisceaux restent en phaseloi simplifiée: 2dsin
ϴ
=
λ
, donc
λ
<2d (sin
ϴ
<1): il faut utiliser de petiteslongueurs d
onde
2.2.3.
INTENSITE DIFFRACTEE DOIT ETRE NON NULLE
I=A |Fstruct
hkl
|
A= facteur expérimental|Fstruct
hkl 
|= module du facteur de structureOr,
F
hkl
=
i=n i=1 fi exp -2
π
i (
h.
xi) doit être
de 0
fi= facteur de diffusion atomique (probabilité d
interaction avec lamatière)2
 π 
i: i =i complexe
h= cf hkl
xi= vecteur de position atomiqueF
0 dans:
CC quand h+k+l= 2n
CFC quand tous pairs ou impairs
C simple: pas de condition, toutes les raies existent
2.3.
TECHNIQUES
2.3.1.
METHODE LAUEanalyse de la géométrie des faisceaux diffractésrayonnement polychromatiqueéchantillons monocristallinssi fin: en transmissionsi épais: en réflexiondétecteur: film RXsymétrie, groupe d
espace, indices surface, déformation.pas d
applications dentaires
2.3.2.
DEBYE-SCHERRERéchantillon polycristallin en poudrerayon polychromatécran fluorescent-: éch non ponctuel,mobilité et var dim film, tps, I diffractée?
2.3.3.
DIFFRACTOMETRE A COMPTEURSBcp plus précisgraphe I fctio de 2
ϴ
position de la raie:
struct, paramètre de maille, d, sym, groupe d
espa-ce,anisotropie,
phases
intensité (surface de la raie):
composition des plans, position des ato-mes dans les plans, texture,%age de phases:
facteur de structureforme de la raie (surf = mais d
):
 état de cristallisation, taille de la cris-tallisation, état de perturbation, de la microstruct (d varie), taille desgrains,distribution de tailles,distorsion, gradient de composition
du tout: 
taille des grains, texture, orientation
: transfo de phase
tps
:processus de réaction chimique
contrainte
3.
APPLICATIONS DENTAIRES
3.1.
ALLIAGES métalliques
of 00

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