PMI-2201 MICROSCOPIA PTICA

Por Prof. Dr. Hlio Goldenstein 1

MICROSCOPIA TICA
1 INTRODUO
A observao das estruturas encontradas na natureza utilizando microscopia tica,
como uma extenso natural da observao a olho nu, representou papel importante no
surgimento das cincias da natureza, tanto das cincias biolgicas, como a histologia,
anatomia, etc. assim como em mineralogia, petrografia, gnese de rochas, etc. e continua
uma tcnica importante hoje em inmeras reas da cincia, complementada pelas tcnicas de
microscopia eletrnica. A partir de 1863, quando Sorby apresentou Royal Society suas
observaes sobre as estruturas dos aos, a observao dos materiais por microscopia tica
esteve sempre presente no centro do conjunto das tecnologias e de campos da cincia que
viriam a se aglutinar no que hoje conhecido como Cincia e Engenharia dos Materiais .
2 OS MICROSCPIOS PTICOS
O tipo mais simples de microscpio uma lente de aumento, que permite a observao
de estruturas com diversas vezes de aumento; muito utilizado para a observao de gros e
minrios, de superfcies de fratura de metais, de amostras de fibras txteis, papel e outros
produtos da indstria qumica e metalrgica. Os microscpios compostos j so
instrumentos mais poderosos, que permitem desde a observao com aumentos de algumas
dezenas de vezes at um mximo de 1500 a 2000 vezes, o limite da observao com luz
visvel. O microscpio composto tem basicamente dois conjuntos de lentes, a ocular ( que
fica prximo ao olho do observador, ou do dispositivo fotogrfico) e a objetiva ( que fica
perto do objeto a ser examinado). Unindo os dois conjuntos de lente fica um tubo tico com
comprimento tico padronizado , geralmente com 160 mm. Na prtica os microscpios
modernos tem um grande nmero de outros elementos ticos incorporados ao caminho da
luz dentro do tubo, como filtros, analisadores, prismas, espelhos , lentes Zoom, etc. A
Figura 1 mostra o esquema de um microscpio moderno, indicando os diversos elementos.
Os primeiros microscpios desenvolvidos para Biologia e Petrografia usavam ( e usam ainda
nestes campos do conhecimento) uma iluminao por luz transmitida. Assim a luz gerada
por uma fonte (lmpada + espelho parablico, em geral) colimada por lentes
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condensadoras e passa atravs de aberturas variveis, chamadas diafragmas, por filtros e
depois, na microscopia por luz transmitida, atravessa a amostra que nestes casos deve ser
preparada como uma lmina fina o suficiente e de faces paralelas, para que seja transparente.
Figura 1: Microscpio de Luz transmitida com seus principais elementos indicados
Para a observao de metais, porm , este esquema no foi possvel de ser utilizado. Os
eltrons da camada condutora dos metais interagem fortemente com os ftons, tornando
estas amostras pouqussimo transparentes. Por este motivo foi desenvolvido um tipo de
microscpio em que a iluminao por meio de luz refletida, seja iluminao oblqua com
sistemas de iluminao independentes do microscpio ou, nos microscpios mais
sofisticados, atravs de um sistema de iluminao pelo prprio tubo e objetiva do
microscpio, usando engenhosos sistemas de espelhos, prismas e vidros semi-espelhados
que deixam passar a luz em uma direo e a refletem na outra. A Figura 2 mostra o esquema
de um microscpio de luz refletida.
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Luz com incidncia
perpendicular
amostra
Figura 2: Esquema de um microscpio de Luz transmitida. No detalhe direita v-se a
prensa usada para alinhar as amostras usando massa plstica
Cada sistema de lentes produz um determinado aumento. As objetivas so descritas
pela sua distncia de trabalho f, ou distancia focal, a distncia do objeto at a lente
correspondente ao foco e seu aumento dado pela expresso M = t/f onde t o comprimento
do tubo tico e tambm pela sua abertura numrica NA. A NA obtida a partir do angulo
2, o ngulo mximo em que a luz coletada pela objetiva quando a distancia at o objeto
f, atravs da frmula NA = n sen , onde n o ndice de difrao do meio, que 1 para o
caso do ar. Um truque muito utilizado para conseguir trabalhar com grandes aumentos e alta
resoluo colocar entre o objeto e a objetiva um outro meio, em geral um leo com ndice
de refrao n maior do que o ar, tipicamente 1,4. A Figura 3 mostra esquematicamente a
relao entre o aumento e a NA de uma lente objetiva.
Limite de resoluo a capacidade da objetiva de separar detalhes individuais que
esto em posies adjacentes no objeto; corresponde menor distncia entre dois detalhes
que pode ser distinguida na imagem ou seja, que pode ser resolvida.
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Figura 3: Esquema das lentes
objetivas
O poder de resoluo a recproca do limite de resoluo e expresso em nmero de
linhas resolvidas por milmetro. Pode-se demonstrar usando as leis da tica que o limite de
resoluo
LR = K / 2NA
onde K uma constante que pode chegar a 1,22 com o uso de um condensador adequado e
o comprimento de onda da luz utilizada para iluminar a amostra. Quando uma lente est
focada em um dado plano do objeto, pontos que esto um pouco acima e um pouco abaixo
deste plano podem ainda ser vistos com um foco aceitvel. Profundidade de foco ento,
outro conceito importante, que corresponde distancia atravs da qual o plano da imagem
pode ser movido sem que a imagem perca a nitidez. Em outras palavras profundidade de
foco a diferena entre a mxima e a mnima distncia no objeto que podem ser observados
com determinada lente. Campo-de-viso de uma lente uma outra grandeza importante, que
descreve o tamanho da rea que enxergada pela lente. Nos microscpios modernos as
lentes so projetadas para ter um campo-de-viso compatvel com o ngulo de viso mximo
que o olho humano acomoda, que de cerca de 50.
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O aumento total do microscpio obtido multiplicando o aumento da objetiva pelo da
ocular e ainda multiplicando por eventuais aumentos introduzidos por outros sistemas de
lentes introduzidos no tubo, como sistemas Zoom. A maioria dos microscpios tem diversas
lentes objetivas colocadas em um porta-objetivas de tipo revolver, permitindo a troca rpida
do aumento. Do outro lado do tubo a maioria dos microscpios tem um sistema binocular,
com uma ocular para cada olho, ajustavel para as distncias interpupilares dos observadores,
que costumam variar entre ~50 e ~80 mm para os seres humanos. Para adaptao de
cmaras fotogrficas, cmaras digitais CCD ou cmaras de vdeo, alguns microscpios
apresentam um sistema trnocular, com uma terceira ocular vertical ou horizontal.
As amostras ficam montadas sobre uma placa chamada de platina, sobre um porta-
amostra , tambm chamado de charriot. Geralmente o porta-amostra tem vrios sistemas de
cremalheiras (coroa e pinho) para movimentar a amostra; dois nas direes X e Y e muitas
vezes um outro para rodar a amostra (platina giratria) nos microscpios que utilizam
analisadores de luz polarizada. O conjunto do porta-amostra, platina e parte do sistema de
iluminao nos microscpios de luz transmitida, movimenta-se na direo Z paralela ao tubo
tico, atravs de outros dois sistemas de cremalheiras, que correspondem ao foco grosso e ao
foco fino.
A Lupa estereoscpica (Figura 4) um tipo de microscpio utilizada para a observao
de amostras com grandes relevos, como gros, partculas ou superfcies de fratura. Como o
nome (estereoscpica) diz, ela formada por dois sistemas ticos independentes, dois tubos,
objetivas e oculares, o que permite ver imagens tridimensionais de objetos com relevo. As
Lupas estereoscpicas podem ser de luz transmitida ou luz refletida. Em alguns casos elas
permitem que sejam feitas pares de fotografias do mesmo objeto, usando os dois tubos,
obtendo-se um par estereoscpico de imagens, que observado com um dispositivo que os
separa permite que cada foto seja vista com um olho formando uma imagem tridimensional
graas ao efeito da paralaxe entre as duas imagens.
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Figura 4: Lupas estereoscpicas com iluminao incidente e transmitida
Alm das tcnicas comuns de iluminao, freqentemente se usa em microscopia as
propriedades da luz polarizada para obter efeitos especiais e mesmo para identificar fases. A
ondas eletromagnticas em um feixe de luz convencional vibram em todas as direes;
pode-se tratar este feixe de luz de forma que algumas direes de vibrao sejam eliminadas
ou rodadas de tal forma que as vibraes ocorram em um plano s (luz com polarizao
plana) ou em duas direes (luz com polarizao elptica). Quando a luz convencional
atravessa um cristal com simetria cbica ou materiais no cristalinos como o vidro ela
mantm suas propriedades. Mas quando atravessa um cristal anisotrpico (no cbico) em
uma direo que no seja um eixo tico deste cristal, so gerados dois feixes de luz, que
caminham por dois caminhos diferentes. Isto devido ao fenmeno da refrao dupla, ou bi-
refringncia, conseqncia dos coeficientes de refrao destes cristais serem diferentes em
diferentes direes do cristal. Este efeito pode ser utilizado para criar um feixe de luz com
polarizao plana, isolando um dos feixes. Antigamente os filtros polarizadores ou polares
eram feitos com um prisma duplo do cristal calcita, que tem a propriedade de ser bi-
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refringente, um arranjo chamado de Nicol em homenagem ao fsico italiano que inventou
este polarizador. Hoje em dia so produzidos filtros polarizadores muito mais baratos atravs
do uso de filmes de polmeros anisotrpicos. Estes filmes so utilizados tambm em
fotografia, em culos escuros ou em monitores de computador para filtrar os reflexos e os
feixes secundrios de luz.
Em um microscpio polarizador existem pelo menos dois filtros polarizadores, um
(polarizador) no percurso do feixe de luz antes de atingir o objeto e o segundo (analisador)
no tubo entre a objetiva e a ocular. Pelo menos um destes filtros, de preferencia os dois,
podem ser girados de forma controlada; em muitos casos a amostra tambm pode ser rodada
(platina giratria).
Se olharmos atravs do microscpio polarizador sem nenhum objeto no porta amostra
e girarmos um dos filtros veremos que a luz extinta duas vezes em uma volta completa;
isto acontece quando os planos de vibrao dos polarizadores esto perpendiculares entre si.
Se observarmos um cristal bi-refringente por microscopia de luz transmitida, com os
polarizadores cruzados e rodarmos o cristal verificaremos que ocorre quatro eventos de
extino da luz, a 45 cada uma, correspondentes s posies em que os planos de
polarizao do cristal ficam paralelos aos dos filtros polarizadores.
Quando usamos luz branca, com um espectro de freqncias, o cristal bi-refringente
vai aparecer colorido, com as cores variando medida que o cristal rodado. Este fenmeno
devido interferncia entre os dois feixes de luz gerados pela bi-refringencia. Outro
fenmeno interessante o pleocroismo, onde na observao sem o filtro analisador a cor do
cristal varia continuamente de claro para escuro com a rotao; o caso extremo o fenmeno
do dicroismo, quando um dos feixes de luz refratados desaparece completamente. A
principal aplicao destes fenmenos na microscopia de luz transmitida, na caracterizao
de lminas finas de minerais, cermicas e mais recentemente de polmeros.
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Figura 5: Micrografia tica de
Transmisso com Luz Polarizada de
Si
3
N
4
As Figuras 5 e 6 mostram respectivamente reprodues de e de esferulitos (ndulos
cristalinos ) de polipropileno em filmes finos, em ambos os casos a imagem foi obtida com
os filtros polarizadores cruzados e o contraste devido bi-refringencia dos cristais.
Figura 6: Filme de polietileno cristalino; esferulitos revelados pelos polarizadores cruzados
Na microscopia por luz refletida, a observao de superfcies polidas de metais, ligas e
cermicas com estrutura cristalina anisotrpica (no cbica), utilizando polarizadores
cruzados, produz contraste entre gros com diferentes orientaes no espao e mostra
claramente maclas, defeitos de empilhamento, bandas de deformao e orientaes
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preferenciais (texturas), geralmente impossveis de serem vistas com iluminao
convencvional. Para isto necessrio obter uma superfcie sem riscos, pites de corroso ou
deformao superficial, o que as vezes exige tcnicas especiais de preparao como o
polimento eletroltico dos metais dcteis. Metais cbicos, com estrutura isotrpica, tambm
podem ser observados com luz polarizada desde que seja possvel crescer um filme de xido
ou precipitados epitaxiais (coerente com o substrato) em sua superfcie. A tcnica muito
til ainda para caracterizar incluses no metlicas transparentes sob luz convencional;
nestes casos muitas vezes com polarizadores cruzados aparecem cores caractersticas, anis
concntricos escuros e claros ou cruzes de malta que permitem a identificao das fases.
Uma outra tcnica importante na microscopia de luz refletida campo escuro, que
permite atravs da iluminao oblqua (obtida colocando um obstculo no centro do feixe de
luz) obter um contraste brilhante em regies que apresentam uma pequena inclinao em
relao superfcie, como as valetas formadas nos contornos de gro pelo ataque
metalogrfico.
Existem ainda tcnicas baseadas na interferncia da luz entre dois feixes, teis para a
observao qualitativa ou quantitativa de pequenos relevos na superfcie da amostra; as mais
importantes so o contraste de interferncia, que usando mltiplos feixes provoca o
aparecimento de franjas de interferncia que montam um mapa do relevo da amostra e o
contraste de interferncia ou interferncia Nomarski, que usa luz polarizada e uma objetiva
especial que tem um prima duplo de quartzo (prisma Wollaston) para produzir contraste de
cor e de luminosidade entre estruturas e tambm para revelar pequenos relevos, como os
produzidos por deformao plstica na superfcie polida dos metais.
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3 MICROSCOPIA QUANTITATIVA
Em todos os ramos das cincias e tecnologias que usam microscopia tica
desenvolveram-se tcnicas para a realizao de medidas quantitativas. Estas tcnicas
envolvem alguns problemas interessantes de estatstica e principalmente alguns raciocnios
de topologia, para obter informaes sobre a estrutura no volume do material a partir de
medidas feitas em observao de projees em lminas finas ou mais freqentemente, de
superfcies opacas polidas. Ao conjunto de problemas cientficos envolvidos na microscopia
quantitativa chama-se estereologia.
Em cada campo do conhecimento desenvolveram-se terminologias especficas; aqui
ser utilizada a terminologia adotada por Underwood (4), utilizada em metalografia
quantitativa, normalizada pelas normas ASTM. As medidas bsicas que so feitas em
microscopia em geral envolvem a sobreposio sobre a estrutura de um conjunto de pontos,
linhas ou figuras geomtricas ou reas, que so usadas para realizar medidas ou contagens de
aspectos morfolgicos. Assim possvel sobrepor um conjunto de pontos que esto ao acaso
em relao ordem da microestrutura e realizar contagens da frao de pontos que caiu
sobre uma determinada estrutura em relao ao total de pontos ( P
P
). De forma anloga pode-
se superpor linhas teste de comprimento conhecido sobre a estrutura e medir a frao do
comprimento da linha teste que esto sobre determinada estrutura ( L
L
) ou o nmero de
interseces da linha teste com alguma estrutura (N
L
); pode-se ainda medir a frao de rea
de uma dada fase ( A
A
) ou o nmero de partculas ou gros por unidade de rea (P
A
). A
partir desta medidas so reconstitudas as grandezas por volumtricas, como tamanho mdio
de gro, nmero de partculas ou incluses por unidade de volume frao volumtrica de
fases, comprimento de defeitos lineares ( discordncias) por unidade de volume, etc. A
Tabela I ilustra os principais grandezas medidas e/ou calculadas a partir de outras medidas.
Como o assunto vasto, sero abordados a seguir apenas dois problemas muito comuns em
metalografia, a medida de frao volumtrica e a medida do tamanho de gro. Recomenda-se
a quem quiser se aprofundar o livro Tcnicas de Anlise Microestrutural, de A. F. Padilha
e F. Ambrsio, pginas 113 a 141.
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3.1 Medidas de frao volumtrica
Para determinar a frao volumtrica ou as propores em volume entre fases existem
diversas medidas possveis de serem realizadas em uma seco polida. A Estereologia
mostra que a frao de rea entre fases em uma seco polida A
A
idntica frao em
volume V
V
, desde que as fases estejam distribudas ao acaso. Aplicando-se linhas teste ao
acaso sobre a superfcie da amostra, a frao do comprimento das linhas teste L
L
que cai
sobre a fase ser igual A
A
e a V
V
. Da mesma forma, se colocarmos pontos ao acaso sobre a
superfcie, a frao de pontos que cai sobre a fase P
P
igual a A
A
e V
V
. Assim, o mtodo
mais empregado para medir frao volumtrica de uma fase a contagem de pontos. Para
isto se usa um reticulado sobre as micrografias, ou na ocular do microscpio, com um certo
nmero P
T
de pontos. Conta-se ento o nmero de pontos que caem sobre uma determinada
fase no plano de polimento. O nmero de pontos P que caem sobre a fase, dividido pelo
nmero total de pontos P/P
T
a frao de pontos, P
P
. Este procedimento, repetido para
diferentes campos da amostra at obter uma mdia e um desvio padro previamente
definidos por clculos estatsticos para um dado grau de confiana, permite obter um valor
de P
P
igual frao volumtrica V
V
. A Figura 7 ilustra o procedimento.
3.2 Medidas de Tamanho de Gro
Um contorno de gro a superfcie divisria entre dois cristais adjacentes de
orientaes cristalogrficas diversas. Os contornos de gros existentes em materiais
policristalino podem ser revelados por ataque qumico, eletro-qumico e trmico. Outra
maneira de se visualizar um contorno de gro atacando-se as superfcies dos gros da
amostra policristalina. Os contornos de gro aparecero indiretamente como a juno entre
dois gros de colorao diferente como esquematizado na figura 8a. Os gros individuais so
claramente identificveis pois as superfcies de cada um dos gros reflete a luz incidente de
maneira diferente, como esquematizado na figura 8.b.
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Figura 8a: Ao inoxidvel
austentico com maclas de
recozimento 100 X.
Figura 8b: Esquema ilustrando os diferentes ngulos
de reflexo da luz incidente, em cada um dos gros de
uma amostra policristalina.
Vrios mtodos tem sido utilizados para medir tamanho ou dimetro de gros em
amostras policristalinas. Na verdade as formas dos gros so em geral irregulares, o que faz
com que a definio de dimetro de gro seja arbitrria e dependente de hipteses
simplificadoras sobre a geometria dos gros. Felizmente possvel obter uma medida que
embora no seja exatamente o dimetro, correlaciona-se muito bem com as propriedades dos
materiais. Este parmetro, de muito maior generalidade e independente de qualquer hiptese,
vlido para qualquer estrutura granular que preencha o espao, independentemente da
forma, do tamanho e da posio dos gros. Este "dimetro" o comprimento de interseo
mdio L
3
obtido de medidas do nmero de interseces L
2
de uma linha teste de
comprimento conhecido com os contornos de gro, no plano de polimento. Para grande
nmero de medidas ao acaso a mdia dos valores da interceco torna-se o valor real,
tridimensional L
3
.
Para gros que preenchem o espao o comprimento de interseo mdio definido
como:
L
3
= 1/N
L
= L
T
/P*M
onde, L
T
igual ao comprimento total de linha teste, M o aumento, P o nmero de
intersees de contornos de gro com a linha teste e portanto N
L
- nmero de intersees por
comprimento de linha teste, como na Figura 9.
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Figura 7: Contornos de gro e linha teste usada para contar nmero de interseces L
2
Fisicamente L
3
corresponde ao livre caminho mdio, ou seja distncia mdia entre
dois contornos de gro em toda a amostra.
Um outro mtodo de medida popular tamanho de gro ASTM, N:
N = (log. n/log. 2) + 1,000
onde, n o nmero de gros por polegada quadrada com 100 X de aumento. Normalmente,
para se obter o tamanho de gro ASTM necessrio contar-se um mnimo de 50 gros em
trs reas diferentes, e este valor deve ser convertido para nmero de gros por polegadas
quadrada e para um aumento de 100 X.
Existe uma relao entre N, o tamanho de gro ASTM e o L
3
, o livre intercepto mdio
dado em centimetros:
N = -10,0 6,64 log L
3
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4 APLICAES
Na Caracterizao de Matrias Primas Minerais, as principais aplicaes da
Microscopia tica so:
Identificao de fases minerais;
Quantificao de fases minerais;
Composio de fases minerais;
Formas de intercrescimento e associaes minerais
Na Caracterizao de Materiais de Engenharia, as principais aplicaes da
Microscopia tica so:
Controle de qualidade atravs do controle de parmetros estruturais
Medida das quantidades e distribuio de fases em metais e cermicas
Medida dos tamanhos de gro dos materiais policristalinos
Medida da espessura de camadas depositadas, modificadas ou tratadas
Identificao de materiais e de seu processo de fabricao
Caracterizao dos reforos e cargas minerais em materiais compsitos
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
Haines, R. Optical Microscopy of Materials, International Textbook Company, Glasgow,
1984. Est disponvel na Biblioteca PMT da EPUSP
Bradbury, S. An Introduction to the Optical Microscope, Royal Microscopy Society,
microscopy Handbooks 01, Oxford Science Publications1989. Est disponvel na
Biblioteca da Geocincias.
Van der Voort, G. Optical Microscopy, verbete em Metals Handbook Vol. 9, (th edition,
American Society for Metals, 1985. Pg 71, disponvel na Biblioteca PMT-EPUSP
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Underwood, E.E., Quantitative Metallography, verbete em Metals Handbook Vol. 9, (th
edition, American Society for Metals, 1985. Pg 123, disponvel na Biblioteca PMT-
EPUSP
Padilha, A.F. e Ambrsio Filho F., Tcnicas de Caracterizao em Cincia dos Materias,
Editora Hemus , 1986. Disponvel na Biblioteca PMT-EPUSP
Colpaert, H. Metalografia dos Produtos Siderrgicos Comuns, Edgard Blucher, So Paulo,
2 ed. 1953. Disponvel na Biblioteca PMT-EPUSP
Tschiptschin, A.P., Goldenstein, H., Sinatora, A. Metalografia dos Aos. ABM 1987.
Disponvel na Biblioteca PMT-EPUSP
EXERCCIOS
1. Explique como possvel observar os contornos de gro na seco polida de um metal
100% denso, usando microscopia tica.
2. Utilizando microscopia tica somente possvel observar gros de dimetro maiores do
que aproximadamente 1m (10
-6
m). Que fenmeno fsico responsvel por esta
limitao?
3. Polmeros cristalizados apresentam acentuado dicroismo, ao passo que polmeros
amorfos so isotrpicos. Explique como este fato pode ser usado para observar a
cristalizao de polmeros ao microscpio.
4. Que tipo de microscpio tico voc usaria para:
a) caracterizar se o p recolhido na bateia de um garimpeiro contm ouro
b) observar a superfcie de fratura de uma pea quebrada de automvel
c) Medir o tamanho de gro de uma chapa de ao
d) Medir a frao volumtrica de quartzo, feldspato e mica em um granito
decorativo