Fontes Chaveadas - Cap.

12

Caracterizao de Fontes Chaveadas

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12. CARACTERIZAO DE FONTES CHAVEADAS

Apresentaremos aqui alguns aspectos que servem caracterizao do desempenho das fontes chaveadas, bem como outros temas relacionados com o enquadramento do equipamento dentro de normas internacionais de comportamento. 12.1 Requisitos de qualidade na alimentao de equipamentos sensveis Especialmente para os equipamentos de computao, so estabelecidos limites em termos da qualidade da energia a ele suprida. No existem, ainda, padres industriais reconhecidos, no entanto, graas ao de grandes usurios (especialmente militares), a CBEMA (Computer Business Equipment Manufacturers Association) adotou as curvas mostradas na figura 12.1. Estas curvas aparecem na norma IEEE 446 como prtica recomendada para sistemas de alimentao de emergncia, em aplicaes industriais e comerciais. As curvas definem um envelope dentro do qual deve estar o valor eficaz da tenso suprida ao equipamento. Ou seja, quando os limites forem violados, o sistema de alimentao ininterrupta deve atuar, no sentido de manter a alimentao dentro de valores aceitveis. Em outras palavras, se a tenso de alimentao estiver dentro dos limites no deve ocorrer mal-funcionamentos do equipamento alimentado. Violaes dos limites podem, ento, provocar falhas, que devem ser evitadas. Via de regra, quem suporta a alimentao do equipamento na ocorrncia de falhas de curta durao so as capacitncias das fontes de alimentao internas, de modo que, eventualmente, mesmo violaes mais demoradas do que aquelas indicadas podem ser suportadas. Nota-se na figura 12.1 que, em regime, a tenso deve estar limitada a uma sobre-tenso de 6% e uma subtenso de 13%. Quanto menor a perturbao, maior a alterao admitida, uma vez que os elementos armazenadores de energia internos ao equipamento devem ser capazes de absorv-la. Assim, por exemplo, a tenso pode ir a zero por meio ciclo, ou ainda haver um surto de tenso com 3 vezes o valor nominal (eficaz), desde que com durao inferior a 100 s. 12.2 Tempo de sustentao da tenso de sada (Hold-up) Este teste determina o intervalo de tempo no qual a sada capaz de manter a corrente nominal de sada quando ocorre uma interrupo na alimentao. Esta interrupo na alimentao do equipamento pode ter origem em manobras de equipamentos alimentados pela mesma rede, causando uma queda na tenso CA (ou CC) com durao maior que 1/2 ciclo (8,33 ms). O desempenho esperado determina a energia a ser acumulada nos capacitores a serem utilizados na entrada e na sada do equipamento, o que pode levar a valores muito maiores do que os necessrios para a operao em regime, ou seja, apenas para reduzir a ondulao de tenso advinda do chaveamento. A figura 12.2 indica o procedimento de teste.

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Figura 12.1 Envelope de tolerncia de tenso tpico para sistema de tecnologia da informao (curva CBEMA superior e curva ITIC inferior).

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+ Fonte Vi sob teste

carga nominal

osciloscpio

Tenso de entrada 100% 0 Tempo de sustentao Vo Vomin

Figura 12.2 Teste para verificao do tempo de sustentao da tenso de sada. 12.3 Regulao de linha O teste relativo chamada regulao de linha mede a alterao na tenso de sada em resposta a uma mudana na tenso de entrada. O teste se faz com a fonte operando carga nominal, ou seja, todas as sadas devem estar fornecendo a corrente nominal. A tenso de sada medida (0,1% de preciso mnima) em 3 situaes de tenso de entrada: mnima, nominal e mxima. A figura 12.3 mostra o arranjo para medio. A regulao de linha, dada em porcentagem :
Regula o de Linha = Vo max Vomin 100 Voideal (12.1)

onde Vomax e Vomin so medidas, respectivamente, mxima e mnima tenso de entrada.

+ Fonte Vi ajustvel V sob teste

Carga nominal

Vo

Figura 12.3 Teste de regulao de linha.

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12.4 Regulao de carga

Este teste mede a alterao na tenso de sada em resposta a uma mudana na corrente mdia de cada sada da fonte. O teste feito com tenso nominal na entrada. Cada sada medida com 50% e com 100% da corrente nominal. Regula o de carga = Vo max Vomin 100 Voideal (12.2)

onde Vomax e Vomin so medidas, respectivamente, a 50% e 100% da carga nominal.

+ Fonte Vi nominal sob teste

1/2 carga nominal -

1/2 carga nominal

Vo

Figura 12.4 Teste de regulao de carga.

12.5

Resposta dinmica variao de carga

Embora este parmetro no seja usualmente publicado, ele uma informao interessante, especialmente para o projetista, uma vez que permite verificar o desempenho do sistema de controle utilizado. basicamente um teste para medir o tempo necessrio para que a realimentao corrija a tenso de sada na ocorrncia de uma variao em degrau na carga. Este um parmetro que pior nas fontes chaveadas do que nas lineares, dada a limitao (ao inverso da frequncia de chaveamento) no mnimo tempo de resposta. Em geral so necessrios alguns ciclos para que ocorra a correo desejada. Isto ocorre principalmente por que o filtro de sada impede uma resposta rpida mudana na carga, sendo necessrio algum tempo para que todo o sistema atinja o novo ponto de operao e possa corrigir a sada. Tempos muito longos podem indicar um ganho CC muito baixo e ainda uma frequncia de corte muito reduzida. Quanto mais os parmetros do compensador so ajustados para uma situao conservativa em termos de estabilidade, pior a resposta dinmica. A figura 12.5 mostra o arranjo para a realizao do teste.

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+ Fonte Vi nominal carga 100% 50% sob teste

1/2 carga nominal -

1/2 carga nominal

osciloscpio

tempo de resposta Vo

Figura 12.5 Teste de resposta dinmica variao de carga.

12.6 Teste de isolao

Este teste verifica se a isolao entre a entrada, chassis e sada(s) excede um valor de tenso mnima especificada. As tenses de teste so, tipicamente, CA (50 ou 60 Hz), podendo ser substitudas por uma tenso CC com um valor equivalente ao pico da tenso CA. O propsito do teste assegurar que no exista possibilidade de que tenses potencialmente letais advindas da rede ou do prprio equipamento atinjam o usurio final do produto. As reas crticas para este teste so as isolaes do transformador de potncia, o espaamento entre as trilhas da placa de circuito impresso e a isolao para o chassi. A falha detectada caso ocorra uma corrente acima da especificada durante a aplicao da tenso ao equipamento. Alguns cuidados devem ser tomados durante a verificao da isolao, com o intuito de no danificar os componentes do equipamento. Por exemplo, os fios de entrada devem ser curtocircuitados, bem como os de sada. O uso de tenso CC mais conveniente por no permitir a ocorrncia de fugas pelo transformador (acoplamento capacitivo), o que poderia danificar algum componente. A figura 12.6 mostra o teste com tenso aplicada entre entrada e sada, enquanto na figura 12.7 tem-se o teste entre entrada e chassis. Realiza-se tambm o teste entre chassis e sada. Os componentes colocados entre os terminais de entrada ou de sada e o chassis devem suportar uma tenso maior que a tenso de teste. Tais componentes so basicamente os capacitores do filtro de IEM. Tambm aqui deve ser usada uma tenso CC. A tenso de teste deve ser rampeada em um tempo sempre superior a 2 segundos, de modo a evitar a induo de tenses elevadas no circuito.

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+ Entrada e retorno curtocircuitados Alta Tenso CC Fonte sob teste

+ Todas as sadas e retornos curtocircuitados conjuntamente -

Figura 12.6 Teste de alta tenso entre entrada e sada.

+ Entrada e retorno Curto-circuitados Alta Tenso CC Fonte sob teste + Todas as sadas e retornos curto-circuitados conjuntamente Chassi/terra

Figura 12.7 Teste de alta tenso entre entrada e carcaa.

12.7 Interferncia Eletromagntica (IEM)

Dois tipos de interferncia devem ser considerados: a conduzida pela rede de alimentao e a irradiada. Diferentes normas, nacionais (VDE - Alemanha, FCC - EUA) e internacionais (CISPR IEC), determinam os valores limites admissveis para o rudo eletromagntico produzido pelo equipamento. No Brasil, a adoo de normas especficas sobre este assunto est em discusso, seguindo-se, em princpio, as normas IEC-CISPR [12-1] a [12-4]. Estas normas, alm dos limites de sinal irradiado ou conduzido, determinam os mtodos de medida, os equipamentos de teste e classificam os produtos a serem testados em funo de suas caractersticas prprias e do local onde devem ser utilizados (CISPR 16). Via de regra, as fontes chaveadas so elementos internos aos equipamentos, devendo-se utilizar os limites e procedimentos explicitados para tal equipamento. Os limites mais severos referem-se a produtos utilizados em ambientes "domsticos" (classe B), o que significa que so alimentados por uma rede na qual existem usurios que no so indstrias ou estabelecimentos comerciais. Ambientes industriais e comerciais tm seus equipamentos includos na chamada classe A. No que se refere IEM conduzida, equipamentos de informtica possuem suas normas (CISPR 22), enquanto os aparelhos de uso industrial, cientfico e mdico (ISM), so regulados pela CISPR 11. Aparelhos eletrodomsticos so controlados pela CISPR14. De modo simplificado, os testes de IEM irradiada devem ser feitos em ambientes anecicos, quer seja um campo aberto ou uma cmara especial. J as medidas de IEM conduzida fazem uso de uma impedncia artificial de linha, sobre a qual se realiza a medida dos sinais de alta frequncia injetados pelo equipamento.
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12.7.1 IEM irradiada As medidas de IEM irradiada so feitas, tipicamente, para frequncias de 30 MHz a 1 GHz. As normas VDE estabelecem tambm limites para a faixa entre 10 kHz e 30 MHz. Tal procedimento, no entanto, no adotado pelas normas CISPR nem pela maioria das normas nacionais, que definem apenas a faixa de frequncias mais elevadas. Os equipamentos ISM so divididos em grupos. No grupo 1 tm-se aqueles nos quais existe energia em rdio-frequncia intencionalmente gerada e/ou condutivamente acoplada, a qual necessria para o funcionamento interno do equipamento. No grupo 2 tm-se aqueles nos quais existe energia em rdio-frequncia intencionalmente gerada e/ou usada em forma de radiao eletromagntica para o tratamento de materiais ou eletro-eroso. O perfil relativo aos limites da classe A determinado pela diviso do espectro, em funo da sua ocupao pelo sistema de comunicao. Quando houver uma faixa de uso comercial, a o limite deve ser mais baixo. Por esta razo, este perfil pode ser diferente em cada pas, adaptandose utilizao real do espectro. A captao dos campos eltrico e magntico emitidos pelo equipamento feita por meio de antenas localizadas em posies normalizadas. A figura 12.8 mostra os limites da norma CISPR 11 (equipamento ISM) para classe B. Os limites entre 150 kHz e 30 MHz esto sob considerao. A origem do rudo irradiado est na presena de componentes de alta frequncia presentes nas tenses e correntes da fonte (ou mesmo de outros subsistemas do equipamento). Tais componentes, associados a elementos parasitas (indutncias e capacitncias), podem produzir fenmenos de ressonncia que potencializam os efeitos de tal rudo. Para frequncias elevadas, os condutores nos quais circulam as correntes, ou os terminais nos quais se tem tenso, atuam como antenas, irradiando para o ambiente. Do ponto de vista do projeto da fonte, no existe uma sistemtica explcita para minimizar tais problemas, pode-se, no entanto, tomar algumas precaues que visam evitar o agravamento da situao. Todos os caminhos nos quais circula corrente elevada devem ter o menor comprimento possvel, o que implica na proximidade fsica entre os componentes de potncia. Os elevados dv/dt e di/dt advindos do chaveamento devem ser minimizados por meio de supressores e amaciadores. Normalmente as fontes so colocadas dentro de caixas metlicas, as quais confinam os campos magnticos produzidos (baseando-se na teoria da esfera Gaussiana). A blindagem deve envolver todo o circuito que produz interferncia, formando um "curto-circuito" em torno a ele. Qualquer juno na blindagem deve ter uma resistncia de contato muito baixa, sob o risco de se perder sua eficcia.
Limite dB(uV) 50 40 30 10 30 100 300 1000 37dB Medidas distncia de 10 m

Frequncia (MHz)

Figura 12.8 Limites de IEM irradiada para equipamento ISM, grupo 1, classe B
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12.7.2 IEM conduzida pela rede A principal motivao para que se exija um limitante para a IEM que um equipamento injeta na rede evitar que tal interferncia afete o funcionamento de outros aparelhos que estejam sendo alimentados pela mesma rede. Esta susceptibilidade dos aparelhos aos rudos presentes na alimentao no est sujeita a normalizao, embora cada fabricante procure atingir nveis de baixa susceptibilidade. A medio deste tipo de interferncia feita atravs de uma impedncia (LISN - Line Impedance Stabilization Network) colocada entre a rede e o equipamento sob teste, cujo esquema est mostrado na figura 12.9. A indutncia em srie evita que os rudos produzidos pelo equipamento fluam para a rede, sendo direcionados para a resistncia de 1 k, sobre a qual feita a medio (com um analisador de espectro com impedncia de entrada de 50 ). Os eventuais rudos presentes na linha so desviados pelo capacitor de 1 F, no afetando a medio. Esta impedncia de linha pode ser utilizada na faixa entre 150 kHz e 30 MHz, que a banda normatizada pela CISPR. A faixa entre 10 kHz e 150 kHz definida apenas pela VDE, estando em estudo por outras agncias. Nesta faixa inferior, a LISN implementada com outros componentes, como mostrado na mesma figura 12.9. Tambm so feitas as distines quanto aplicao e ao local de instalao do equipamento. A figura 12.10 mostra estes limites para a norma CISPR 11 (equipamentos ISM). O ambiente de medida composto basicamente por um plano terra sobre o qual colocada a LISN. Acima deste plano, e isolado dele, coloca-se o equipamento a ser testado. As elevadas taxas de variao de tenso presentes numa fonte chaveada e as correntes pulsadas presentes em estgios de entrada (como nos conversores para correo de fator de potncia) so os principais responsveis pela existncia de IEM conduzida pela rede. No caso das correntes pulsadas, esta razo bvia, uma vez que a corrente presente na entrada do conversor est sendo chaveada em alta frequncia, tendo suas harmnicas dentro da faixa de verificao de IEM conduzida.

.
C1 Rede CA

L1

.
C2

L2

.
C3 Fonte Vo

9 a 150 kHz L1=250uH L2=50uH C1=4uF C2=8uF C3=250nF R1=10 R2=5 R3=1k

150kHz a 30MHz L1=0 L2=50uH C1=0 C2=1uF C3=100nF R2=0 R3=1k

..

R1

R2

R3

Analisador de Espectro (50 ohms)

Figura 12.9 Impedncia de linha normatizada (LISN).

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dBuV 100 90 80 70 60 50 10k 100k 1M f (Hz) 10M Classe A Classe B 100M

Figura 12.10 Limites de IEM conduzida pela norma CISPR 11 (equipamentos de uso Industrial, Cientfico e Mdico - ISM) A reduo dos nveis de IEM conduzida pode ser obtida com o uso de filtros de linha [12.6]. Seu objetivo criar um caminho de baixa impedncia de modo que as componentes de corrente em alta frequncia circulem por tais caminhos, e no pela linha. Devem-se considerar 2 tipos de corrente: a simtrica e a assimtrica. No caso de correntes simtricas (ou de modo diferencial), sua existncia na linha de alimentao se deve ao prprio chaveamento da fonte. A figura 12.11 mostra esta situao. A reduo da circulao pela linha pode ser obtida pelo uso de um filtro de segunda ordem, com a capacitncia oferecendo um caminho de baixa impedncia para a componente de corrente que se deseja atenuar. Os indutores criam uma oposio fuga da corrente para a rede. Em 60 Hz a queda sobre tais indutncias deve ser mnima. J para as correntes assimtricas (ou de modo comum), como sua principal origem est no acoplamento capacitivo do transistor com o terra, a reduo se faz tambm com um filtro de segunda ordem. No entanto, o elemento indutivo deve ser do tipo acoplado e com polaridade adequada de enrolamentos, de modo que represente uma impedncia elevada para correntes assimtricas, mas no implique em nenhuma impedncia para a corrente simtrica. Os capacitores fornecem o caminho alternativo para a passagem de tal componente de corrente.

rede

. .
Filtro de linha Figura 12.11 Circuito tpico com filtro de linha.

fonte

aterramento

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12.8 Referncias Bibliogrficas:

[12.1] CISPR specification for radio interference measuring apparatus and measurement methods. International Electrotechnical Comission, International Special Committee on Radio Interference, CISPR 16, second edition, 1987. [12.2] Limits ans methods of measurement of electromagnetic disturbance characteristics of industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment. International Electrotechnical Comission, International Special Committee on Radio Interference, CISPR 11, second edition, 1990. [12.3] Limits and methods of measurement of radio disturbance characteristics of electrical lighting and similar equipment. International Electrotechnical Comission, International Special Committee on Radio Interference, CISPR 15, fourth edition, 1992. [12.4] Limits and methods of measurement of radio disturbance characteristics of electrical motor-operated and thermal appliances for household and similar purposes, electric tools and electrical apparatus. International Electrotechnical Comission, International Special Committee on Radio Interference, CISPR 14, third edition, 1993. [12.5] Barbi, Ivo: Curso de fontes chaveadas, Florianpolis, 1987. [12.6] Nave, Mark J.: Power Line Filter Design for Switched-Mode Power Supplies. Van Nostrand Reinhold, New York, 1991.

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