2013-03

INFORME DE LABORATORIO N1

- Curso: CIENCIA DE LOS MATERIALES 1 - Turno: maana B302/S007 - Realizado 13/12/2013 - Fecha de entrega: 20/12/2013
Alumno: RAMOS VERA Oscar Arturo o 1310927@utp.edu.pe

Profesor:
SANCHEZ CURI Encarnacin Vicenta

INDICE

OBJETIVOS FUNDAMENTO TEORICO ANALISIS METALOGRAFICO DESCRIPCION DEL NIKON MA100 SISTEMA DEL MICROSCOPIO

2 2 3 4 5

SISTEMA MECANICO

SISTEMA DE LENTES

SISTEMA DE ILUMINACION

SISTEMA DE IMAGEN

8 10 11 11 11

OBSERVACIONES RECOMENDACIONES CONCLUSIONES BIBLIOGRAFIA

1. OBJETIVOS: Entender lo que es el anlisis metalogrfico Aprender a usa el microscopio ptico electrnico Hacer uso del software que nos permitir visualizar la imagen en la pc.

2. FUNDAMENTO TEORICO: El anlisis metalogrfico es el estudio microscpico de las caractersticas estructurales de un metal o aleacin. Es posible determinar el tamao de grano, y el tamao, forma y distribucin de varias fases e inclusiones que tienen efecto sobre las propiedades mecnicas del metal. El estndar ms comn para el anlisis metalogrfico es el ASTM E-3. 1

EJEMPLOS DE MUESTRAS. ANALISIS METALOGRFICO

http://www.cyti.com.mx/analisis_metalografico.asp

Metales - Aleaciones Preparacin de muestras MET

ANALISIS METALOGRAFICO

Normas tcnicas ASTM E3

Determinar el tamao de granos de muestra

Microscopio

ptico Lentes Luz (fotones) 1000 veces colores

Electrnico

Lentes electrones 106 veces (aumento) Color blanco y negro

Sistemas

Mecanico

Lentes

Iluminacion

Imagen

MICROSCOPIO NIKON SERIE MA100

Es un microscopio invertido compacto diseado para la observacin de rutina y anlisis del material preparado y muestras metalrgicas de la industria automotriz, equipo aeroespacial, mdica y electrnica. La huella de pequeo tamao hace que sea un instrumento accesible con excelente rendimiento ptico, ideal para la inspeccin de la muestra en lnea para los entornos de fabricacin, produccin y montaje que requieren el control de calidad de los materiales. (microscopios nikon, 2013)

Para hacer un buen uso del microscopio es necesario conocer bien cada sistema, ya que nos permitir hacer un uso adecuado del equipo y optimizar la recoleccin de datos de acuerdo a la muestra o material preparado para su respectivo anlisis. A continuacin, un mapa conceptual sobre los sistemas en el microscopio ptico Nikon de la serie MA100

Base Sosten Brazo

Plataforma

Sistema MECANICO

Revolver

Lentes Objetivos

Lentes Oculares

Sistema de Lentes

Diafragma de iris

Diafragma de campo

Condensador

Sistema de Iluminacin

Caja de Iluminacin

Crea una imagen aumentada del objeto. El sistema de lentes se subdivide en oculares El microscopio compuesto consiste en dos sistemas de lentes, el objetivo y el ocular, montados en extremos opuestos de un tubo cerrado. El objetivo est compuesto de varias lentes que crean una imagen real aumentada del objeto examinado. Las lentes de los microscopios estn dispuestas de forma que el objetivo se encuentre en el punto focal del ocular. Los microscopios que se utilizan en entornos cientficos cuentan con varias mejoras que permiten un estudio integral del espcimen. Dado que la imagen de la muestra est ampliada muchas veces e invertida, es difcil moverla de forma manual .Por ello los soportes de los microscopios cientficos de alta potencia estn montados en una plataforma que puede moverse con tornillos micromtricos. Algunos microscopios cuentan con soportes giratorios. Todos los microscopios de investigacin cuentan con tres o ms objetivos montados en un cabezal mvil que permite variar la potencia de aumento.La resolucin de los microscopios pticos est restringida por un fenmeno llamado difraccin que, dependiendo de la apertura numrica (AN o AN) del sistema ptico y la longitud de onda de la luz utilizada (), establece un lmite definido (d) a la resolucin ptica. Suponiendo que las aberraciones pticas fueran despreciables, la resolucin sera:

Normalmente, se supone una de 550 nm, correspondiente a la luz verde. Si el medio es el aire, la AN prctica mxima es de 0,95, y en el caso de aceite de hasta 1,5. Ello implica que incluso el mejor microscopio ptico est limitado a una resolucin de unos 0,2 micrmetros.

3. PROCEDIMIENTO a. Tomar una muestra para analizarla b. Centrar el objeto en la plataforma c. Activar el microscopio y la pc d. Calibrar la imagen hasta visualizarla claramente e. Segn el requerimiento activar la opciones de imagen desde el software f. Analizar la muestra

4. CONCLUSIONES Despus de haber experimentado con el microscopio de marca nikon y comparado con otras marcas se lleg a la conclusin que el microscopio de marca nikon es ptimo y especfico para el anlisis de muestras metalrgicas; luego investigando en la internet tambin es usado para analizar materiales preparados, apartados mdicos, en la industria aeroespacial, automotriz y afines El programa de anlisis de imgenes de Nikon, el NIS-Elements es importante porque permite al usuario realizar todo, desde la imagen bsica a la medicin, anlisis y administracin de las imgenes capturadas. Los usuarios, pueden agregar un amplio arreglo de aditamentos a los paquetes bsicos de acuerdo a sus necesidades. Se aprendi lo realizado en el laboratorio con respecto a las instalaciones del laboratorio, especficamente del laboratorio de anlisis de materiales es sabido que es un ambiente pequeo y cerrado en consecuencia es bochornoso, no se tiene dnde poner las mochilas y las bancas dan la espalda a la pizarra acrlica esto es solucionable solo con algunos cambios de posicin de las mesas, un lugar para las mochilas y el encendido del aire acondicionado.

5. BIBLIOGRAFA
http://tecnicaenlaboratorios.com/Nikon/Eclipse_Ti_Especificaciones.htm

http://tecnicaenlaboratorios.com/Nikon/Eclipse_Ti_Clave.htm http://www.directindustry.es/prod/nikon-metrology/microscopios-metalograficos-invertidos-21023610638.html http://www.techinst.com/pub_docs/brochures/ind/MA100%20200%20Eclipse.pdf http://www.tecnicaenlaboratorios.com/Nikon/Eclipse_%20LV100D_Clave.htm http://ryfag.ch/de/node/4785 http://www.cyti.com.mx/analisis_metalografico.asp

[1]

FSICA, vol. I : MECNICA, Alonso M. & Finn E. ( v. espaola por Hernndez C. & LaTorre V.), Lima, Fondo Educativo Interamericano, 1976, Cap.10, pg. 296-314.

[2]

Mechanics, Symon K., 2da. Edition,Adison Wesley Publishing Company, Massachusetts, EEUU, May 1961, pag. 100 - 103, 120 125, 215 232.

[3]

FSICA vol. I,Feynman /Leighton / Sand, Adison Wesley Iberoamericana, S.A., 1987, Wilmington, Delaware, Cap. 18, 19 y 20.

[4]

Introduccin a los principios de la Mecnica, Walter Hauser, I Edicin, Mxico 12, DF, 1969, Cap9, pg. 273, 314.

[5]

Fsica Universitaria, F. W. Sears, M. W. Zemansky, H. D. Young, R. A. Freedman, Addison Wesley Longman, IX edicin, 1998, Mxico D.F., Mxico, Cap. 3, pg. 61 - 76.

"Investigar es ver lo que todo el mundo ha visto, y pensar lo que nadie ms ha pensado." ALBERT SZENT-GYRGI (1893-1986) Bioqumico hngaro-estadounidense

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