NOVE TEHNOLOGIJE U ISPITIVANJU ELEKTROMAGNETSKE KOMPATIBILNOSTI RA UNARA - TEM # ELIJA NEW TECHNOLOGIES IN ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY COMPUTER TESTING - TEM

CELL
Zoran M. Vrani , Marija Zajeganovi -Ivan#i VI A KOLA ZA INFORMACIONE I KOMUNIKACIONE TEHNOLOGIJE u BEOGRADU E-mail: zokivran@ptt.yu ure& aja u fazi razvoja ili zavr' no ispitivanje). Sa druge strane izbor domena merenja direktno uti#e na konfiguraciju i slo) enost mernog mesta (broj i vrsta mernih instrumenata odnosno mernog pribora) i donekle na trajanje ispitivanja. Merenje karakteristika EMC ra#unara pomo u TEM elije u frekvencijskom domenu je u su' tini merenje spektralne raspodele snage EMI koje ispitivani ra#unar zra#i. Zbog toga ovakva merenja pru) aju samo delimi#nu informaciju o karakteristikama zra#enja ra#unara. Merenjem se dobija samo ukupna snaga zra#enja koja poti#e od svih struja koje teku kroz elektri#ne i elektromehani#ke sklopove unutar ra#unara. Uz to je veoma te' ko odrediti fazne stavove pojedinih komponenti spektra, te je mogu nost ta#nog dijagnosticiranja izvora EMI unutar ra#unara u cilju njihovog suzbijanja veoma ograni#ena.

Sadr% aj % U radu je prikazana nova metoda za ispitivanje elektromagnetske kompatibilnosti (Electromagnetic Compatibility-EMC) ra#unara. Metoda se zasniva na merenju smetnji koje emituje ispitivani ra #unar u vremenskom domenu kori % ' enjem TEM ' elije sa ciljem odre) ivanja izvora smetnji u ra #unaru. Za razliku od merenja u spektralnom domenu, merenje u vremenskom domenu pru *a potpunu informaciju o zra #enju ra#unara, jer se koreliranjem poznatih talasnih oblika struja u ispitivanom ra #unaru sa izmerenim elektromagnetskim smetnjama, (Electromagnetic Interference-EMI) mogu identifikovati izvori koji generi % u smetnje najvi% eg nivoa.

Abstract - This paper presents a new method in electromagnetic compatibility (EMC) testing of computers. The method is based on time-domain emission measurement from the equipment under test (EUT) using TEM cells in order to determine the origins of radiation within the computer. Unlike measurements in the spectrum domain, time-domain measurement can offer full information on radiation, and by correlation of the known waweforms of all the currents in the EUT with EMI can pin-point the contributors of the higest emission levels.

2. ISPITNO MESTO ZA MERENJA RA UNARA POMO# U TEM # ELIJE

EMS

OD

1. UVOD Za ispitivanje karakteristika EMC ra#unara, ure& aja i podsistema koji se primenjuju u informacionim tehnologijama postoji vi' e metoda. Sa stanovi' ta metrolo' kog koncepta metoda merenja EMC, a prema najnovijim stavovima iz ove oblasti [1], postoje dve su' tinske odrednice u pristupu merenju. Prva je izbor ispitnog mesta u okviru koga se formira merno mesto, a drugi je izbor domena merenih veli#ina. Ispitno mesto mo) e biti: ispitni poligonotvoreno ispitno mesto (Open Area Test Site - OATS), faradizirana laboratorija sa ili bez anehoi #ne obrade unutra' nje povr' ine zidova, TEM- elija i GTEM elija. Sa druge strane merene veli#ine, pri ispitivanju karakteristika EMC, mogu biti u frekvencijskom ili u vremenskom domenu. Izbor ispitnog mesta zavisi od namene ispitivanog ure& aja, njegovih dimenzija, frekvencijskog opsega ispitivanja, preciznosti merenja kao i svrhe ispitivanja (ispitivanje

Pogodnost primena TEM #elije kao ispitnog mesta za merenja EMS od ra#unara proizilazi iz #injenice da njenim kori' enjem prestaje potreba za skupim OATS ili faradiziranim laboratorijama. Naime, postavljanjem ispitivanog ra#unara u unutra' njost TEM elije slika 1. posti) e se kvalitetno elektromagnetsko razdvajanje ra#unara od spoljnje elektromagnetske okoline [2]. Drugim re #ima smanjuje se na minimum elektromagnetski uticaja ra#unara na spoljnu elektromagnetsku okolinu i iobratno.

Sl. 1. Op% ti izgled TEM ' elije Teorijski posmatrano, ispod gornje grani #ne frekvencije TEM elije, elektromagnetska sprega izme & u izvora EMI

(ra#unara) i TEM elije se odvija putem transverzalnog elektromagnetskog talasa-moda. Sprega preko elektri #ne komponente em-polja ostvaruje se u pravcu x-ose, a sprega preko magnetske komponente em-polja u pravcu z-ose. Po' to su dimenzije svih glavnih izvora zra#enja unutar ra#unara male u odnosu na talasnu du) inu, to se oni mogu zameniti ekvivalentnim elementarnim izvorima em-zra#enja, [3]. Izvor

r elektri#nim momentom M e (trodimenzioni kompleksni

vektor) a izvor elementarnog magnetskog odgovaraju im elementarnim magnetskim momentom

elementarnog

elektri#nog

polja

ekvivalentnim polja

r Mm

zra#enja mo) e jednozna#no opisati pomo u jedinstvenog skupa elektri#nih i magnetskih momenata dobijenih merenjem napona na priklju#cima TEM elije. Prema [4], izvor zra#enja je mogu e jednozna#no definisati pomo u sume svih elementarnih izvora zra#enja ponaosob. Pri tome je u fizi#koj realnosti (u elektri#nim kolima ra#unara), svaki elementarni izvor elektri#nog polja vezan za struju kroz odgovaraju i vod i elementarnu du) inu tog voda, a svaki elementarni izvor magnetskog polja za odgovaraju u struju i povr' inu elementarne petlje. Veza izme& u struja i odgovaru ih momenata je prema [5], data jedna#inama (6) i (7)

(trodimenzioni kompleksni vektor) koji su definisani jedna#inama (1) i (2):

M ez = I p dl p ,
p =1 m

(6)

r r M e = Idl , r r M m = IdS .
Gde je:

(1) (2)

M mx = I p dS p .
p =1

(7)

I p (t ) = i p e
Gde je: I struja koja te#e kroz provodnik koji je izvor zra#enja;

j p

(8)

I p struja u p-tom provodniku/petlji;

,
p

r dl elementarna du) ina provodnika kroz koji

proti#e struja I;

po#etna faza struje

Ip .
OD

r dS povr' ine elementarne petlje.

Prema [4], naponi na priklju #cima A i B TEM elije dati su jedna#inama (3) i (4):

3. MERNO MESTO ZA MERENJA EMI RA UNARA U VREMENSKOM DOMENU

r 0 r M ez + jk M mx , 2 r r Vb = 0 M ez jk M mx , 2 Va =

(3)

(4)

Ispitivani ra#unar se postavlja unutar TEM elije tako da je podjednako udaljen i od priklju#ka A i priklju#ka B. Dakle u centar elije, kako bi ka' njenje usled prostiranja EMI od ra#unara ka priklju#ku A odnosno B bilo isto. Na slici 2. je prikazan polo) aj ispitivanog ra#unara, dvokanalni digitalni osciloskop i podsistem za obradu i prikaz rezultata ispitivanja.

r 0 =
Gde je:

PZ c r z . h

(5)

r 0 -elektri#no polje unutar TEM elije; r M ez -elektri#ni momenat u pravcu z-ose; r M mx -magnetski momenat u pravcu x-ose;
k -konstanta prostiranja em-talasa u TEM eliji

P -ulazna snaga u TEM eliju (1W); Z c -karakteristi#na impedansa TEM elije;

h -rastojanje elektroda u TEM eliji.
Izvor em-zra#enja (ra#unar) se mo) e zameniti sa vi' e elementarnih izvora elektri#nog odnosno magnetskog polja. Zato se u elektromagnetskom smislu, ra#unar kao izvor Sl. 2. Blok-% ema mernog mesta za merenje EMI od ra #unara u vremenskom domenu pomo ' u TEM ' elije

Pri merenju EMI ra#unara u vremenskom domenu, na dvokanalnom osciloskopu se istovremeno dobijaju naponi i na A i na B priklju#ku TEM elije dati jedna#inama (9) i (10):

Va (t ) = Vb (t ) =
Gde je:

0 r 1 M mx (t ) M ez (t ) + ] , (9) 2 c t

0 r 1 M mx (t ) M ez (t ) 2 c t

].

(10)

c-brzina prostiranja svetlosti. Sa druge strane prema (6) i (7), ukupni elektri #ni momenat

komponenti elektri#nog odnosno magnetskog momenta. Drugim re#ima, struje u ra#unaru, kao izvor EMI, su preko elektri#nog i magnetskog momenta povezane sa merenim naponima na krajevima TEM elije. Tre e, pre po#etka obrade rezultata merenja neophodno je formirati bazu podataka sa snimljenim talasnim oblicima struja u ispitivanom ra#unaru. Koreliranjem rezultata merenja sa uzorcima iz prethodno formirane baze talasnih oblika, mogu e je jednozna#no identifikovati i locirati izvore smetnji najvi' eg nivoa u ra#unaru. Prema prethodno iznesenim principima, sa#injen je dijagram toka programske obrade rezultata merenja EMI od ispitivanog ra#unara i prikazan na slici 3.

r M ez koji poti#e od ispitivanog ra#unara je jednak sumi svih

elementarnih elektri#nih momenata (kojih ima p), definisanih ekvivalentnim segmentima provodnika struja

r dl p kroz koji te#e

I p (t ) . Na sli#an na#in ukupni magnetski momenat r ispitivanog ra#unara M mx je jednak sumi svih elementarnih r dS p kroz

magnetskih momenata (kojih tako& e ima p) definisanih ekvivalentnom elementarnom povr' inom petlje koju proti#e struja

I p (t ) . Veza izme& u skupa struja I p (t ) i

ukupnog elektri#nog/magnetskog momenta ispitivanog ra#unara kao izvora zra#enja u vremenskom domenu dobija se iz (6) i (7) kao:

M ez (t ) = I p (t p ) dl p ,
m p =1 m

(11)

M mx (t ) = I p (t p ) dS p .
p =1

(12)

Gde je:

p { 1,2,...m}, u odnosu na jednu proizvoljno odabranu struju iz istog skupa.

4.MERENJE I OBRADA REZULTATA MERENJA Da bi se dobili rezultati ispitivanja karakteristika EMC ra#unara na osnovu rezultata merenja napona u vremenskom domenu, neophodno je izvr' iti njhovu relativno slo) enu obradu koja se sprovodi programski. Pri sagledavanju i konceptualnom re' avanju problema kroz dijagram toka, neophodno je uo#iti tri osnovne uzro#no-posledi#ne veze inherentne matemati#ko-fizi#kom modelu metode merenja. Prvo, na osnovu rezultata simultanih merenja napona Va (t ) i

p -vreme

ka' njenja

struja

I p (t )

za

Vb (t ) na krajevima TEM elije, pomo u jedna#ina (9) i (10)

se dobijaju komponente elektri#nog i magnetskog momenta M ez (t ) i M mx (t ) . Drugo, na osnovu izra#unatih momenata

M ez (t ) i M mx (t ) preko jedna#ina (11) i (12) se odre & uje udeo svake od struja I p (t ) , gde je p { 1,2,...m}, u

Sl. 3. Dijagram toka merenja i obrade rezultata merenja EMI od ispitivanog ra #unara

Sa slike 3. se vidi da je u pristupu merenju EMI, nakon formiranja baze podataka sa talasnim oblicima struja, prvi korak orijentacija ispitivanog ra#unara u trodimenzionom pravougaonom koordinatnom sistemu. Ovaj korak je nu) an zbog odre& ivanja komponenti elektri#nog i magnetskog momenta u pravcima koordinatnih osa. Pri postavljanju ra#unara u polo) aj prikazan na slici 2., uzeta je u obzir raspodela elektri #ne i magnetske komponente empolja unutar TEM elije prikazana na slikama 4.i 5. Na slici 4.je prikazana raspodela elektri#ne komponente empolja unutar TEM elije, sa koje se vidi da ovo polje iznad unutra' njeg provodnika TEM elije (pogledati sliku l.) na kome je postavljen ispitivani ra#unar, ima pravac z-ose (pogledati sliku 2.)

izmerene vrednosti napona

Va (t ) i Vb (t ) izra#unavaju r r dl p i dS p

elektri#ni i magnetski momenat. Zatim slede dva paralelna koraka u okviru kojih se na osnovu jedna#ina (11) i (12) i podataka iz baze talasnih oblika odre & uju odnosno poti#u

I p (t )

od

kojih

smetnje.

Najzad,

koreliranjem prethodno dobijenih

I p (t ) sa podacima iz baze

talasnih oblika, dobijaju se kona #ni rezultati ispitivanja. Oni jednozna#no ukazuju na izvore EMI najvi' eg nivoa u ispitivanom ra#unaru. 5. ZAKLJU AK U radu je prikazan najnoviji pristup ispitivanju karakteristika EMC ra#unara, ure& aja i podsistema koji se primenjuju u informacionim tehnologijama. Prednost ove metode nije samo u ta#nosti i preciznosti izmerenih nivoa EMS, ve u mogu nosti jednozna#nog identifikovanja i lociranja izvora smetnji najvi' eg nivoa. To se posti) e koreliranjem rezultata merenja sa uzorcima iz prethodno formirane baze talasnih oblika. Odnosno, u postupku obrade rezultata merenja vr ' i se identifikacija poznatih struja koje teku u ra#unaru i nalaze se u bazi podataka, sa naponima izmerenim na pristupima TEM elije. Dobija se dakle koeficijent zra#enja povezan sa svakom strujom u ra#unaru. Ovakva mogu nost je posebno va) na u fazi razvoja ili nakon hardverske dorade, jer omogu ava identifikaciju izvora smetnji visokog nivoa a nakon toga selektivnu primenu postupaka em-za' tite. Najzad u smislu daljeg razvoja prezentirane metode neophodno je potcrtati, da se pri merenju EMI koristi samo jedna orijentacija ispitivanog ra#unara u TEM eliji. Ovo ima za posledicu direktnu i reletivno jednostavnu identifikaciju struja u ra#unaru koja su izvor EMI. Me& utim, lokacija izvora EMI unutar ra#unara se odre& uje posredno i relativno nepouzdano. Generalno re' enje ovog problema bi bilo u istovremenom trodimenzionom merenju napona na priklju#cima TEM elije, jer bi bilo mogu e direktno i pouzdano lociranje izvora smetnje. Istra ) ivanja u tom pravcu su u toku a laboratorijska ispitivanju su postala mogu a nakon zavr' enog razvoja t.z. 3D-TEM #elije [5]. LITERATURA [1] Tsaliovich, A. B. Electromagnetic Shielding Handbook for Wirred and Wireless EMC Applications , Boston, Kluwer Academic Publishers, 2001. [2] Olsen, R. G. "Electromagnetic Emissions of Integrated Circuits and PCB-s", IEEE EMC Society Newsletter, No 201, pp34-39, . Spring 2004. [3] . or& evi , A. R. Elektromagnetika za ra #unarsku tehniku, Akademska Misao, Beograd, 2002. [4] Fiori, F. F. Musolino, "Investigation on the Effectiveness of the IC Susceptibility TEM Cell Method", IEEE Trans. on EMC, vol.46, No 1, pp110115, . 2004. [5] Klingler, M. Egot, S. J. Ghys, P. Rioult, J. "On the Use of 3-D TEM Cells for Total Radiated Power Measurements", IEEE Trans. on EMC, vol.44, No 2, pp364-372, . 2002.

Sl. 4. Raspodela elektri #nog polja unutar TEM ' elije Na slici 5. je prikazana raspodela magnetske komponente empolja unutar TEM elije, sa koje je o#igledno da ovo polje na mestu gde je postavljen ra#unar ima samo komponentu u pravcu x-ose.

Sl. 4. Raspodela magnetskog polja unutar TEM ' elije Zbog toga, kada je ispitivani ra#unar postavljen kao na slici 2, elektri#ni i magnetski momenat imaju komponente samo u pravcu jedne ose (elektri#ni momenat samo u pravcu z-ose a magnetski momenat samo u pravcu x-ose). Drugi i tre i korak sa slike 3. su vezani za pode' avanje osnovnog mernog instrumenta (digitalnog dvokanalnog osciloskopa) pre svega vemenske baze i amplitude merenih signala. + etvrti korak pretstavlja period merenja napona na priklju#cima A i B TEM elije, koji poti#u od EMI ra#unara. Merenje se sprovodi u vremenskom domenu pomo u dvokanalnog osciloskopa povezanog prema blok-' emi prikazanoj na slici 2. U slede em koraku se primenom jedna#ina (9) i (10) na