Yang umumnya: Kapan dan dimana mikroskop elektron ditemukan?

Mikroskop elektron dirancang pertama kali oleh Ruska dan Knoll pada tahun 1931 di
Berlin, Jerman setelah sebelumnya pada tahun 1920 ditemukan fenomena bahwa elektron
akan memiliki karakter seperti cahaya jika gerakannya dipercepat dalam suatu ruangan
hampa dan dalam kolom yang bersifat elektromagnetik.


Transmission Electron Microscopy (TEM)
Sejarah TEM
TEM pertama kali dirancang oleh Max Knoll dan Ernst Ruska, prinsip awalnya
dilakukan dengan membatasi pencitraan gelombang cahaya terhadap objek yang akan
dilihat. TEM sederhana tersebut hanya mampu melihat spesimen material hingga 18 kali
pembesaran. Perkembangan berikutnya kohler dan rohr menggunakan sinar ultraviolet,
namun hal ini tidak dapat menghasilkan apa-apa karena terkendala oleh panjang
gelombang. Berikutnya max knoll di Universitas Teknologi Berlin Adolf Matthias,
ditunjuk sebagai ketua tim peneliti untuk mengembangkan desain CRO yaitu desain
defleksi sinar katoda. Kemudian pada tahun 1931 kelompok ini berhasil menggerakkan
gambar yang diperbesar dari grid mesh yang diletakkan di atas aperture anoda. Alat ini
menggunakan dua lensa magnetik untuk mencapai perbesaran yang lebih tinggi, dan alat
inilah yang disebut mikroskop elektron pertama (TEM).













Sketch of first electron microscope, originally from Ruska's notebook in 1931, capable of
only 18 times magnification

Mikroskop yang pertama kali diciptakannya adalah dengan menggunakan dua lensa
medan magnet, namun tiga tahun kemudian ia menyempurnakan karyanya tersebut dengan
menambahkan lensa ketiga dan mendemonstrasikan kinerjanya yang menghasilkan resolusi
hingga 100 nanometer (nm) (dua kali lebih baik dari mikroskop cahaya pada masa itu).
Mikroskop elektron transmisi saat ini telah mengalami peningkatan kinerja hingga
mampu menghasilkan perbesaran objek hingga 2 juta kali, yang menggunakan elektro
statik dan elektro magnetik untuk mengontrol pencahayaan dan tampilan gambar serta
memiliki kemampuan pembesaran objek serta resolusi yang jauh lebih bagus
daripada mikroskop cahaya. Mikroskop elektron ini menggunakan jauh lebih banyak
energi dan radiasi elektromagnetik yang lebih pendek dibandingkan mikroskop cahaya.

Gambaran Umum tentang TEM












Transmission electron microscopy

Transmission electron microscopy atau mikroskop elektron transmisi adalah salah
satu jenis mikroskop yang memanfaatkan adanya penemuan elektron. Sesuai dengan
namanya, mikroskop ini memanfaatkan elektron dengan cara mentransmisikan elektron
sehingga nantinya akan ditangkap oleh sebuah layar yang akan menghasilkan gambar dari
struktur material tersebut. Secara tidak langsung cara kerja dari TEM mirip dengan cara
kerja projector slide, dimana elektron ditembuskan ke dalam objek pengamatan dan
pengamat mengamati hasil tembusannya pada layar.
Dalam dunia riset, TEM (Transmission Elektron Mikroskopi) merupakan salah satu
mikroskop yang penting. Dalam bidang material, mikroskop ini digunakan untuk
mengetahui struktur material terutama bentuk kristal penyusun material yang tidak dapat
dilihat dengan mikroskop biasa.
Gambar tadi bisa terbentuk oleh karena adanya interaksi antara electron yang
ditransmisikan melewati specimen, lalu gambar akan membesar dan akan difokuskan pada
suatu alat pencitraan, biasanya dengan menggunakan layar flouresent atau dengan suatu
sensor seperti kamera CCD
Dengan TEM, maka gambar yang kita hasilkan akan memiliki tingkat resolusi yang
jauh lebih tinggi daripada mikroskop cahaya. Kita dapat melihat sesuatu yang memiliki
ukuran 10.000 kali lebih kecil daripada ukuran objek terkecil yang bisa terlihat di
mikroskop cahaya.

Fungsi TEM
Sebuah mikroskop elektron transmisi memiliki desain dengan mikroskop cahaya
biasa, hanya perbedaannya TEM menggunakan cahaya sedangkan mikroskop cahaya
menggunakan elektron. Dengan menggunakan tabung sinar katoda atau filamen (sumber
untuk menghasilkan elektron yang sangat baik) dalam ruang hampa, elektron dipercepat
menuju spesimen yang diberikan dengan menciptakan perbedaan potensial. Serangkaian
magnet dan lubang logam digunakan untuk memfokuskan uap elektron menjadi
monokromatik balok, yang kemudian bertabrakan dengan spesimen dan berinteraksi sesuai
dengan kerapatan dan muatan material. Interaksi ini sangat dipengaruhi oleh bagaimana
spesimen yang telah disiapkan. Aplikasi utama TEM adalah sebagai berikut: analisis
mikrostruktur, identifikasi defek, analisis interfasa, struktur kristal, tatanan atom pada
kristal, serta analisa elemental skala nanometer.
Adapun Sinyal utama yang dapat dihasilkan oleh TEM cukup banyak, antara lain:
1. Diffraction contrast : dipakai untuk mengkarakterisasi kristal, biasanya digunakan
untuk menganalisa defek, endapan, ukuran butiran dan distribusinya.
2. Phase contrast : dipakai untuk menganalisa kristalin material.
3. Mass/thickness contrast : dipakai untuk karakterisasi bahan amorf berpori, polimer,
dan material lunak lainnya.
4. Difraksi elektron
5. Characteristic X-ray (EDS)
6. Electron energy loss spectroscopy
7. Scanning transmission electron microscopy













Komponen-Komponen TEM
Berikut adalah komponen-komponen yang terdapat pada TEM beserta
penjelasannya:
a. Vaccum space (Ruang Vakum)
Ruang vakum merupakan tempat dimana interaksi elektron terjadi, TEM standar
mempunyai tekanan rendah, yaitu sekitar 10-4 Pa. Hal ini dimaksudkan untuk mengurangi
perbedaan tegangan antara katoda dan ground, dan juga untuk mengurangi frekuensi
tumbukan elektron dengan atom gas. TEM membutuhkan film yang harus diganti secara
teratur tiap ada objek sehingga TEM dilengkapi dengan sistem pemompaan ganda dan
airlocks.

b. Electron gun (Pistol elektron)









Cross sectional diagram of an electron gun assembly, illustrating electron
extraction

Electron gun merupakan bagian dari TEM yang sangat penting, electron gun inilah
yang menghasilkan partikel-partikel elektron. Electron gun memiliki beberapa komponen
penting yaitu filament, sebuah biasing circuit, sebuahWehnelt cap, dan sebuah extraction
anode. Elektron dapat di ekstraksi dengan menghubungkan filamen ke komponen power
supply negatif, elektron "dipompa" dari pistol elektron ke lempeng anoda, dan kolom TEM.
Pistol dirancang untuk membuat berkas elektron keluar dari rangkaian dalam beberapa sudut
tertentu, yang dikenal sebagai semiangle perbedaan pistol, . Dengan membentuk silinder
Wehnelt sedemikian rupasehingga memiliki muatan negatif lebih tinggi dari filamen itu
sendiri untuk membuat elektron keluar dari filamen dengan cara diverging. Pada operasi
yang tepat, pola elektron dipaksa untuk memusat dengan diameter ukuran
minimum crossoverpistol.

c. Condensor aperture
Condensor apertures merupakan
lingkaran pelat logam yang terdiri dari sebuah
cakram logam kecil yang cukup tebal.
Condensor apertures digunakan untuk
mengarahkan elektron agar dapat berjalan
secara aksial. Hal ini dapat menyebabkan efek
simultan,yaitu apertures dapat mengurangi
berkas intensitas dan menghilangkan elektron yang tersebar di berbagai sudut tinggi, yang
mungkin disebabkan oleh proses-proses yang tidak diinginkan seperti aberration, atau
karena difraksi dari interaksi dalam sampel.
Dengan adanya aperture, elektron sentral dalam TEM menyebabkan dua efek
simultan:
Pertama, aperture mengurangi intensitas berkas elektron yang disaring dari balok,
yang mungkin diinginkan dalam kasus sampel balok sensitif.
Kedua, penyaringan ini menghilangkan elektron yang tersebar pada sudut tinggi,
yang mungkin disebabkan oleh proses-proses yang tidak diinginkan seperti aberration bola
atau berwarna, atau karena difraksi dari interaksi dalam sampel.




d. Spesimen stages
Spesimen stages merupakan bagian yang fungsinya
seperti meja preparat di mikroskop, yaitu berfungsi untuk
meletakkan objek / preparat. Di dalam TEM spesimen stages
ini berupa jaring-jaring yang bisa kita sebut dengan grid.
Ukuran grid TEM standar ditunjukkan seperti cincin
berdiameter 3,05 mm, dengan ukuran ketebalannya mulai dari
100 pM. Sampel diletakkan pada grid dengan ukuran sekitar
2,5 mm. Grid biasanya terbuat dari tembaga, molibdenum, emas atau platinum. Untuk
spesimen Elektron transparan memiliki ketebalan sekitar 100 nm, tetapi nilai ini tergantung
pada tegangan percepatan.

e. Electron lens








Diagram of a TEM split polepiece design lens

Lensa elektron dirancang dengan cara meniru lensa optik, dengan memfokuskan
sinar sejajar pada beberapa constant focal length. Lensa dapat beroperasi elektrostatis atau
magnetis. Mayoritas lensa elektron untuk TEM menggunakan kumparan elektromagnetik
untuk menghasilkan lensa cembung. Untuk lensa ini bidang yang dihasilkan harus radial
simetris, deviasi dari simetri radial lensa magnetik dapat menyebabkan aberasi seperti
astigmatisme, spherical dan chromatic aberration. lensa elektron dibuat dari besi, komposit
besi-kobalt atau kobalt nikel.
Seluruh komponen termasuk yoke, kumparan magnet, pole, polepiece, dan sirkuit
kontrol eksternal. polepiece harus diproduksi dengan cara yang sangat simetris. Kumparan
yang menghasilkan medan magnet berada di dalam yoke. Biasanya kumparan dapat
digunakan dengan tegangan tinggi, oleh karena itu memerlukan isolator untuk mencegah
hubungan arus pendek pada komponen lensa. Thermal distributor digunakan sebagai
peredam panas yang dihasilkan oleh energi yang hilang dari gulungan coil.

Cara kerja
Prinsip kerja TEM dimulai dari sumber emisi (pistol elektron) yaitu tungsten
filament dan sumber lanthanum hexaboride (LaB6). Dengan menghubungkan pistol ini
dengan sumber tegangan tinggi (biasanya ~ 100-300 kV) pistol akan mulai memancarkan
elektron baik dengan termionik maupun emisi medan elektron ke sistem vakum. ekstraksi
ini biasanya dibantu dengan menggunakan silinder Wehnelt. Interaksi elektron dengan
medan magnet akan menyebabkan elektron bergerak sesuai dengan aturan tangan kanan,
sehingga memungkinkan elektromagnet untuk memanipulasi berkas elektron. Penggunaan
medan magnet akan membentuk sebuah lensa magnetik dengan kekuatan fokus variabel
yang baik. Selain itu, medan elektrostatik dapat menyebabkan elektron didefleksikan
melalui sudut yang konstan. Dua pasang defleksi yang berlawanan arah dengan
intermediete gap akan membentuk arah elektron yang menuju lensa.
Berbeda dengan mikroskop optik yang lensanya bisa langsung difungsikan, optik
TEM bisa cepat berubah, TEM memiliki kekuatan lensa yang berubah-ubah. Lensa TEM
memungkinkan adanya konvergensi, dengan sudut konvergensi yang sesuai variabel
parameter, TEM berkemampuan untuk mengubah perbesaran dengan cara memodifikasi
jumlah arus yang mengalir melalui kumparan, lensa quadrupole atau lensa hexapole.
Biasanya TEM terdiri dari tiga tahap lensing. Tiga tahapan itu adalah lensa
kondensor, lensa objektif, dan lensa proyektor. Lensa kondensor bertanggung jawab untuk
pembentukan balok primer, sedangkan fokus lensa objektif datang melalui sampel itu
sendiri (dalam STEM mode pemindaian, ada juga lensa objektif atas sampel untuk
membuat konvergen insiden berkas elektron). Lensa proyektor digunakan untuk
memperluas sinar ke layar fosfor atau perangkat pencitraan lain, seperti film. Pembesaran
TEM berasal dari rasio jarak antara spesimen dan lensa objektif. Selain itu, lensa Quad dan
hexapole digunakan untuk koreksi distorsi balok asimetris, yang dikenal sebagai
astigmatisme. Perlu dicatat bahwa konfigurasi TEM optik sangat berbeda dengan
kenyataannya.
Sistem Pencitraan dalam TEM terdiri dari layar fosfor, partikel sulfida seng dibuat
sehalus mungkin (10-100 pM) untuk pengamatan langsung oleh operator. sistem
perekaman gambar berdasarkan film atau doped YAG yang digabungkan CCD layar.
Perangkat ini dapat dihapus atau dimasukkan ke dalam jalur balok oleh operator sesuai
kebutuhan.
Secara umum, elektron dihamburkan oleh partikel di udara, yang diperlukan untuk
memperbaiki (dan mempercepat) electron yang disimpan dalam ruang hampa untuk
mencegah interaksi yang tidak diinginkan. Oleh karena itu, untuk melihat spesimen hidup
di bawah TEM sulit untuk dilakukan. Selain itu, elektron tidak dapat menembus spesimen
yang sangat tebal lapisannya, karena hanya dapat menembus 50-100nm.
















Schematic of Transmission Elektron Microscope



Proses Terjadinya Gambar Pada TEM
1. Virtual Source di bagian atas mewakili gun elektron, menghasilkan elektron
monokromatik.
2. Aliran electron difokuskan pada berkas yang kecil, tipis, koheren dengan
menggunakan lensa kondensor 1 dan 2. Lensa 1 (biasanya dikontrol oleh tombol
"spot size) sangat menentukan ukuran dari besarnya aliran mengenai sampel. Lensa
kedua (biasanya dikontrol tombol intensitas/brightness) sebenarnya mengubah
ukuran spot pada sampel; mengubahnya dari tersebar luas tempat untuk sebuah balok
menentukan.
3. Berkas dibatasi oleh aperture dari kondensor (biasanya dapat dipilih pengguna),
merobohkan sudut tinggi elektron (yang jauh dari sumbu optik, garis putus-putus di
tengah-tengah)
4. Berkas elektron menumbuk specimen. Lalu, bagian bagiannya ditransmisikan.
5. Bagian yang ditransmisikan difokuskan oleh lensa objektif menjadi sebuah gambar
6. Tujuan dan pilihan opsional logam Area apertur dapat membatasi sinar; Objective
aperture meningkatkan kontras dengan menghalangi difraksi electron yang high
angle, yang dipilih apertur memungkinkan pengguna untuk secara berkala
memeriksa difraksi elektron oleh pengaturan memerintahkan atom dalam sampel
7. Gambar selanjutnya terus melalui intermediate dan lensa proyektor, yang diperbesar
sepanjang jalan
8. Gambar gambar membentur layar fosfor dan cahaya yang dihasilkan, yang
memungkinkan pemakai untuk melihat gambar. Daerah yang lebih gelap gambar
mewakili wilayah yang oleh sampel yang lebih sedikit elektron yang ditularkan
melalui (mereka lebih tebal atau padat). Area yang lebih terang gambar mewakili
wilayah yang oleh sampel yang lebih elektron yang ditularkan melalui (mereka lebih
tipis atau kurang padat)








Besi-tembaga-molybdenum paduan nikel
(atas) dan sebuah film dari paduan yang
sama berlapis dengan perak setiap 100
nanometer (bawah).
























Preparasi sample TEM
Agar pengamat dapat mengamati preparat dengan baik, diperlukan persiapan sediaan
dengan tahap sebagai berikut :
1. Melakukan fiksasi, yang bertujuan untuk mematikan sel tanpa mengubah struktur
sel yang akan diamati. fiksasi dapat dilakukan dengan menggunakan senyawa
glutaraldehida atau osmium tetroksida.
2. Membuat sayatan
a. Preparation of thin sections
Pengambilan sampel dengan ferri osmium (stabilizes lipid bilayers and proteins)
dan glutaldehyde (biasanya dilakukan di awal; ikat silang protein dengan ikatan
kovalen) memungkinkan spesimen untuk mengalami dehidrasi dan diresap oleh
Segmen dari nanotube karbon
berdinding multi diisi

Sebuah kapiler yang sobek dan
eritrosit keluar

Penampang potongan melintang kulit sehat dari payudara. Lapisan paling atas
adalah stratum corneum (merah), yang dibentuk oleh sel-sel mati. Pada lapisan
dermis (pink) terdapat kapiler darah. Di bawah lapisan dermis adalah lapisan
subkutan yang umumnya berisi lemak

resin monomer. Spesimen dalam bentuk ini dapat diiris dengan baik dengan pisau
berlian atau ultra-mikrotom untuk membuat bagian tipis yang bebas dari air dan zat
volatil. Prosedur ini, kurang umum digunakan, oleh karena itu digantikan oleh rapid
freezing.
b. Rapid freezing
Pembuatan lapisan tipis suatu specimen yang diuji dengan TEM tidak menjamin
bahwa specimen tersebut dapat dilihat di bawah mikroskop menyerupai struktur
dalam bentuk (ikatan kovalen protein yang bermasalah) yang sebenarnya. Untuk
memastikan sepenuhnya, specimen harus diawetkan tanpa merusak struktur aslinya
yang dimungkinkan untuk pembekukan cepat spesimen dengan sedemikian rupa
sehingga mencegah molekul-molekul air dari menata ulang strukturnya
sendiri. Dengan memasukkan spesimen ke dalam sebuah polesan blok tembaga
dingin dengan helium, air sangat dingin dimasukkan ke dalam es
vitreous. Spesimen ini kemudian dapat diiris dengan sebuah ultramicrotome.
3. Pelapisan/pewarnaan, bertujuan untuk memperbesar kontras antara preparat yang
akan diamati dengan lingkungan sekitarnya. Pelapisan/pewarnaan dapat
menggunakan logam berat seperti uranium dan timbal.

Perbandingan TEM dan SEM
Perbedaan mendasar dari TEM dan SEM adalah pada cara bagaimana elektron yang
ditembakkan oleh pistol elektron mengenai sampel. Pada TEM, sampel yang disiapkan
sangat tipis sehingga elektron dapat menembusnya kemudian hasil dari tembusan elektron
tersebut yang diolah menjadi gambar. Sedangkan pada SEM sampel tidak ditembus oleh
elektron sehingga hanya pendaran hasil dari tumbukan elektron dengan sampel yang
ditangkap oleh detektor dan diolah. Mikroskop elektron transmisi digunakan untuk
menandai mikrostruktur bahan dengan resolusi spasial sangat tinggi. Informasi tentang
morfologi, struktur dan cacat kristal, fasa kristal dan komposisi, dan mikrostruktur magnet
dapat diperoleh oleh kombinasi elektron-optical imaging (titik 2.5A resolusi), difraksi
elektron, dan kemampuan probe kecil. Trade-off untuk ini beragam informasi struktural
dan resolusi tinggi adalah tantangan untuk memproduksi sampel yang sangat tipis untuk
transmisi elektron. Skema perbandingan kedua alat ini disajikan oleh gambar dibawah.













Kelebihan dan kekurangan TEM
Kelebihan:
1. Mempermudah belajar detail-detail kecil dalam sel atau bahan yang berbeda hingga
ke tingkat atom
2. Resolusi seribu kali lebih baik dibandingkan dengan mikroskop cahaya
3. Resolusi Superior 0.1~0.2 nm, lebih besar dari SEM (1~3 nm)
4. Mampu mendapatkan informasi komposisi dan kristalografi dari bahan uji dengan
resolusi tinggi
5. Memungkinkan untuk mendapatkan berbagai signal dari satu lokasi yang sama.

Kekurangan:
1. Bidang pandang relative kecil, meningkatkan kemungkinan bahwa daerah
dianalisis mungkin tidak menjadi ciri khas dari seluruh sampel
2. Perlakuan awal dari sampel cukup rumit sampai bisa mendapatkan gambar yang
baik
3. Elektron dapat merusak atau meninggalkan jejak pada sampel yang diuji.

Referensi
Anonim. ____. tem. Diakses dari http://www.matter.org.uk/tem/ pada hari Rabu, 04
Juni 2014
Anonim. ____. TEM. Diakses dari http://www.microscopy.ethz.ch/TEM.htm pada
hari Rabu, 04 Juni 2014
Anonim. 2009. Transmission Electron Microscopy. Diakses dari http://wiki.org pada
hari Rabu, 04 Juni 2014
Anonim. 2011. Transmission Electron Microscope (TEM). Diakses dari
http://unl.edu.com pada hari Rabu, 04 Juni 2014
Dosso, Isahi. 2011. Mengenal mikroskop elektron. Diakses dari
http://www.praktikumbiologi.com/2011/06/mengenal-mikroskop-elektron.html pada hari
Rabu, 04 Juni 2014