TEXTURA CRISTALOGRÁFICA
Os materiais policristalinos são constituídos de pequenos cristais, denominadosgrãos ou cristalitos, os quais são separados uns dos outros por fronteiras denominadascontornos de grão. A grande maioria dos materiais policristalinos existentes tem grãoscom tamanho médio na faixa de 10
μ
m a 1mm. Os materiais trabalhados apresentamtamanhos de grão em uma faixa ainda mais estreita: 10 a 100
μ
m. Portanto, as peças ecomponentes policristalinos são constituídos de um enorme número de grãos. Porexemplo, um corpo de prova de tração típico pode conter cerca de 10
10
grãos. Aspropriedades do policristal dependem da forma, do tamanho e da orientação dos grãos.Cada grão em um agregado policristalino tem orientação cristalográficadiferente da dos seus vizinhos. As diferenças de orientação são habitualmente daordem de dezenas de graus. Consideradas de modo global, as orientações de todos osgrãos podem estar concentradas, em maior ou menor escala, ao redor de alguma ou dealgumas orientações particulares. Nesta última condição, o agregado policristalinoapresenta orientação preferencial ou
textura cristalográfica
. Assim, a
textura
pode sergenericamente definida como uma condição na qual a distribuição de orientações dosgrãos de um policristal não é aleatória. Algumas vezes utiliza-se a expressão
texturaaleatória
para significar ausência de orientação preferencial.Figura 39 : Chapa com orientação dos cristais ao acaso (sem textura).Finalmente, é importante destacar que a textura não se refere à forma dos grãosmas sim à forma como a rede cristalina desses grãos são arranjadas. A presença ouausência de textura não pode ser inferida a partir da forma dos grãos. Por exemplo,grãos alongados (não equiaxiais) não indicam necessariamente presença de textura55
cristalográfica. Um processo que introduz textura em um material pode ou não levar àexistência de grãos alongados (não equiaxiais).A orientação preferencial pode ser introduzida no material por diversos modos:pela solidificação direcional, pela deformação plástica, pela recristalização, pelatransformação de fase. Ela pode ser eventual ou produzida intencionalmente. Em geral,diz-se que a textura é formada por
componentes
. Uma componente é representada poruma orientação cristalina ideal próxima da qual as orientações de um razoável volumedo material (número de grãos) se agrupam. No caso de tratar-se de uma chapalaminada, a componente é representada pelo plano cristalino {hkl} que é paralelo aoplano da chapa e pela direção <uvw>, pertencente ao plano {hkl}, que é paralela àdireção de laminação (DL). Isto fixa a posição do cristal em relação aos eixos DL(direção de laminação), DT (direção transversal), DN (direção normal) da chapa. NaFigura 39, acima, por exemplo, a componente que representa a textura de cubo é{001}<100>. No caso de produtos com simetria cilíndrica, como barras ou fiostrefilados, as componentes são representadas pelas direções <uvw> paralelas à direçãoaxial (DA) do fio ou barra, em torno das quais os grãos se arrumam. Estas direções sãonormais de planos {hkl} situados na seção reta do fio. A textura é então chamada de
textura de fibra
. Em geral, a textura de um material comercial tem várias componentes.A Figura 40 mostra exemplos de textura de chapa e de textura de fibra. Note que, nocaso do fio, a textura de fibra inclui vários planos {hkl} que contêm a direção <100>.(a) (b)Figura 40: (a) Textura {001}<110> em chapa [67]; (b) textura de fibra <100> emfio [68].56
Métodos de Representação da Textura Cristalográfica
Há vários métodos de representar a textura de um material. Para todos eles, épreciso que as orientações dos cristalinas presentes sejam determinadas de algummodo. Tradicionalmente, tem-se usado a difração de raios x, por meio da qual medem-se as frações volumétricas de material associadas a uma dada orientação cristalina, apartir da intensidade que difratam. Num policristal, milhares de grãos são analisadossimultaneamente, por esta técnica. Recentemente, o uso do EBSD (“Electron Back-Scatter Difraction”) associado à microscopia eletrônica de varredura (MEV) permitiu adeterminação da orientação individual de cada grão, de modo muito rápido. Aquantidade de grãos com cada orientação, existente no policristal, é, assim, levantadadiretamente, por um processo automatizado. Abaixo, serão vistas as maneiras maiscomuns de representar a distribuição das orientações medidas experimentalmente.
Figuras de Pólos Inversa
Na figura de pólos inversa, registra-se a densidade dos pólos dos planos {hkl}paralelos a uma dada superfície da amostra, sobre um triângulo estereográficocaracterístico do sistema cristalino do material. Chama-se figura de pólos inversaporque é a normal à superfície que varre o triângulo de orientações à procura daquelasque representam a textura. A densidade de pólos pode ser obtida por difração de raiosx ou por EBSD e é normalizada pelas densidades dos planos de uma amostra semtextura, em unidades “vezes o padrão aleatório”.(a)
(b)Figura 41 : (a) Figura de pólos inversa típica; (b) Projeção padrão do sistema cúbico.57
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