Welcome to Scribd, the world's digital library. Read, publish, and share books and documents. See more
Download
Standard view
Full view
of .
Look up keyword
Like this
1Activity
0 of .
Results for:
No results containing your search query
P. 1
6.10. rauta Jtag Ja Avr

6.10. rauta Jtag Ja Avr

Ratings: (0)|Views: 169 |Likes:
Published by digindom

More info:

Published by: digindom on Sep 05, 2010
Copyright:Attribution Non-commercial

Availability:

Read on Scribd mobile: iPhone, iPad and Android.
download as PDF, TXT or read online from Scribd
See more
See less

09/05/2010

pdf

text

original

 
1
JTAG testiliitäntä
Pentti Vahtera 5.8.2006 10.11.2006 + 24.12.2007 + 26.08.2008
”Elämä on kaunis ja hyvä elää sille, jolla on aikaa ja tilaa unelmille. Ja mielen vapaus.On vapautta valvoa kesäisiä öitä ja kuunnella hiljaisen haavan värinöitä. Ja elää elämäänsä. Ja elää elämäänsä.”
- Vexi Salmi
”On vapautta opetella Ceellä koodaamista ja rakennella laitteita mikro-ohjaimista. Ja elää elämäänsä. Ja elää elämäänsä.”
- Mr Mable
Sisältö
Mikä on JTAG?Boundary ScanMikä on AVR-JTAG?memory programmingon-chip debugJTAG ja PV-M32
Yleistä
Piirikorttien ja itse IC-piirien monimutkaistuessa myös niiden testaus tulee samallaentistä monimutkaisemmaksi. Miten testaat piirin jonka liitäntänastat ovat kotelon alla(BGA, Ball Grid Array), tai jos (rekisterin) signaaleja ei ole lainkaan tuotu piirinulkoisiin nastoihin, tai piiri ne on upotettu piirilevyyn?1980-luvulla perustettiin työryhmä Joint Test Action Group eli JTAG. Se kehittitestausmenetelmän Boundary Scan (boundary = rajapinta). Siitä tuli myöhemmin(1990) IEEE:n standardit 1149.1 ja 1149.4 (IEEE153).
Boundary Scan = JTAG
Testiliitäntä joka on joko piirikortilla ja/tai IC-piirissä.Sen kautta voidaan hallita testaus, emulointi, ohjelmointi, yms.Boundary = rajapinta, testisolut ovat piirin reunoillaJTAG, Joint Test Action Group, on boundary scanin kehittänyt yhteisö.Tämä loi yhteiset pelisäännöt mikropiiritasolla tapahtuvalle testaukselle. Esim.mikro-ohjain voidaan testata ilman että siitä aiheutuu haittaa piirin normaalilletoiminnalle. Se on tänä päivänä laajalti käytössä, erikoisesti ohjelmoitavissalogiikkapiireissä, mm. ASIC-piirit ja mikro-ohjaimet. Testauksen (protot, tuotanto,huolto) lisäksi se soveltuu mainiosti myös esim. mikro-ohjaimen (AVR) sisäisenrakenteen ja toiminnan opetukseen/opiskeluun.
 
2Kaikissa ”vakavasti otettavissa ” mikropiireissä boundary scan-JTAG-liitäntä onvalmiina. Tai se voidaan itse rakentaa käsittämään kortin kaikki piirit ja kytkennät.JTAG-liitäntää voidaan hyödyntää mikro-piirien testauksen lisäksi myös itsekomponenttilevyn (piirikortti) ja useasta piirikortista koostuvan järjestelmäntehokkaaseen tutkimiseen. Testaus voidaan tehdä jopa silloin kun piiri on norm.toiminnassa.
Käyttö mm.
- ladonta-, asennus- ja juotosvirheiden tunnistamiseen (oikosulut, katkokset)- monimutkaisten komponenttien toiminnan = sisäisen logiikan tutkiminen- muistien sisällön lukeminen- signaalien kaappaamisen- logiikkapiirien ja mikro-ohjaimien ohjelmointi ja emulointi (mm. AVR)JTAG-testilaitteiston lisäksi tarvitaan luonnollisesti myös testikone, yleensä PC-kone(halpa) jossa Centronics-portissa on adapteri tai erillinen liitäntäkortti ja siihentestausohjelmisto (yleensä se on kallis).
1. Boundary Scan
Nykyään suurimpiin piireihin (mikro-ohjaimet) valmistaja integroi erillisen BS-solurakenteen piirin tuloihin ja lähtöihin. Sen avulla hallitaan JTAG-liitäntäistenpiirien testausta, eli voidaan joko lukea tietyn piirin tulon tila, tai ajaa jokin piirinlähtö haluttuun tilaan.
 
Liitännän kautta piiriin voidaan syöttää niin synkronista ohjaus-kuin testidataa ja lukea ulos piirin toiminnan tuloksena syntyvää (tai ulkopuoleltatulevaa) dataa.Kuva. Boundary-Scan liitännän periaate.Kuvassa on logiikka-piiri (Application Logic) jonka inputissa ja outputissa on BSC,Boundary-Scan Cell. Varsinainen piirin työstämä data tulee piiriin NDI, Normal DataInput-liitännästä ja lähtee ulos NDO, Normal data out-pinneistä.Testisignaali ajetaan sisään TDI, Test Data Input-pinneistä BSC:n läpi ja luetaanlogiikan inputin ja outputin tilat TDO, Test Data Output-pinneistä ja johdetaan lopultaanalysoitavaksi PC:n testiohjelmaan.
 
3
Boundary Scan = JTAG
Testiliitäntä joka on joko piirikortilla ja/tai IC-piirissä.Sen kautta voidaan hallita testaus, emulointi, ohjelmointi, yms.Boundary = rajapinta, testisolut ovat piirin reunoillaJTAG, Joint Test Action Group, on boundary scanin kehittänyt yhteisö.Kuten ed. kuvasta näkyy BS-liitäntä on sarjamuotoinen. Kaikki BS-solut ovatsamanlaisia sekä piirin tuloissa että lähdöissä, eli kaikkia piirin I/O-linjoja voidaanohjata samalla tavalla. Kaikkien korttien ja niissä olevien piirien BS-solut ketjutetaanneljällä johtimella, jolloin saadaan ikäänkuin pitkä siirtorekisteri. Testidata kulkeepiirin jokaisen liitäntänastan kautta.Boundary-scanin avulla saadaan piirikortin testista kattava ja samalla edullinen.Perinteiset neulapeti-systeemit voidaan unohtaa.
TAP Controller, TAP, Test Access Port
Jokaisessa boundary-scan piirissä on TAP-ohjain jolla liitytään itse sisäiseen BS-verkkoon. Se ohjaa koko JTAG-liitäntää käskyrekisterin (Instruction Register) kanssa.TAP on tilakone joka ohjaa testiliitynnän toimintaa TMS-signaalin ja sarjaliitännänkautta syötettyjen komentojen avulla. Testausliitännän kautta voidaan lukea ja ohjatakunkin liitäntänastan tilaa muista nastoista riippumatta.Kuva 1. JTAGin rakenne (Intel)Käskyrekisteri, Instruction RegisterSillä valitaan JTAG-liitännän eri toiminnot (standardin mukaiset ja piirinvalmistajanomat). Eli se määrää ”mitä tehdään”.

You're Reading a Free Preview

Download
scribd
/*********** DO NOT ALTER ANYTHING BELOW THIS LINE ! ************/ var s_code=s.t();if(s_code)document.write(s_code)//-->