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Modulo De Young

Modulo De Young

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08/14/2013

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INSTRUMENTACI´ON REVISTA MEXICANA DE F´ISICA
49
(6) 555564 DICIEMBRE 2003
Medici´on del m´odulo de Young en el hule l´atex usando ESPI
J.A. Rayas, R. Rodr´ıguez-Vera y A. Mart´ınez
Centro de Investigaciones en´ Optica, A.C., Apartado Postal 1-948, 37150 Le´ on, Gto. M ´ exico,e-mail: jrayas@cio.mx, rarove@cio.mx y amalia@cio.mx
Recibido el 28 de abril de 2003; aceptado el 18 de julio de 2003Es conocido que el m´odulo de elasticidad o m´odulo de Young relaciona el esfuerzo con la deformaci´on unitaria que experimenta un objeto al ser sometido a cargas externas. En este trabajo se presenta la implementaci´on de la interferometr´ıa electr´onica de patrones de moteado (ESPI)como t´ecnica para medir las deformaciones que sufre el hule l´atex al ser sometido a cargas de tensi´on. Aunado a la medici´on de las cargas tensionantes (mediante un dinam´ometro digital), se determina el m´odulo de Young del objeto bajo prueba. El valor determinado mediantela t´ecnica ESPI es comparado con uno obtenido mediante un ensayo a tensi´on realizado en un dispositivo dise˜nado y construido en el laboratorio (el cual es equivalente a una m´aquina de ensayos comercial); corroborando as´ı la veracidad de la ecnica ESPI usada comoextens´ometro interferom´etrico.
 Descriptores:
Metrolog´ıa´optica; interferometr´ıa de moteado; constantes el´asticas.It is well know that the module of elasticity or Young’s module relates the stress to the strain that suffers a object, which is yielded toexternal loads. In this work we show the implementation of the Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI) as a technique to measuredeformations on a piece of latex when it is subjected to external loads. Along with the measurement of tension loads (by means of a digitaldynamometer), we determine the Young’s module of the object under test. The value determined by using the ESPI technique is comparedwith that obtained in a device designed and constructed in our laboratory (which is equivalent to a commercial testing machine). It isdemonstrated the veracity of the ESPI technique applied as an interferometric extensometer.
Keywords:
Optical metrology; speckle interferometry; elastic constants.PACS: 06.20; 07.60.Ly; 62.20.Dc
1. Introducci´on
Cuando se habla sobre mec´anica de materiales y m´odulo deYoung, es acil imaginarse grandes m´aquinas de ensayos,probetas estandarizadas, mordazas y sobre todo una gran va-riedad de extens´ometros (mec´anicos, el´ectricos, electr´onicos, entre otros).Para comparar las cualidades mec´anicas entre los mate-riales, se hacen evaluaciones num´ericas por medio de pruebasllamadasensayos(tensi´on,compresi´on,torson,etc.).Existen m´aquinas modernas, controladas por computadora, que apli-can tensi´on al material de una manera sumamente controlada.La medici´on de los resultados del ensayo la realizan aparatosespec´ıficos; para medir las cargas aplicadas se usan transduc-toresdefuerzallamados
celdasoc´ elulasdecarga
;paracuan-tificarlasdeformacionesgeneradasporlaacci´ondelascargasaplicadas, se usan instrumentos llamados extens´ometros (vi-deo extens´ometros, galgas extensiom´etricas, calibradores; losmismos desplazamientos que realiza la m´aquina de ensayosal aplicar la carga sirven para tener una idea general de lasdeformaciones en toda la muestra, entre otros). Su funciona-miento puede estar basado en principios mec´anicos, ´opticoso el´ectricos.A partir de la medici´on de cargas aplicadas y deformacio-nes resultantes, es posible determinar caracter´ısticas mec´ani-cas de los materiales como el odulo de Young y la relaci´ono raz´on de Poisson, los cuales son importantes en el estudio,caracterizaci´on y aplicaci´on de los materiales.Los extens´ometros´opticos tienen la ventaja de medir de-formaciones sobre toda la superficie del esp´ecimen (siemprey cuando est´e en su campo de visi´on), adem´as de hacer medi-das m´as fieles de las deformaciones, pues no tienen contactodirecto con el objeto. Son ideales para materiales sumamen-te fr´agiles y superel´asticos como en el caso que nos ocupa.Los video-extens´ometros son sistemas de visi´on digital que, junto a una computadora, amplifican la imagen del esp´eci-men mientras est´a siendo deformado; el material bajo pruebadebe ser marcado con anterioridad para poder localizar f´acil-mente las deformaciones. Estos extens´ometros alcanzan unaalta resoluci´on, pero al aumentar ´esta disminuye el ´area de visi´on (0.6
µ
m
en un´area de 6
mm
2
)
[1].Por su parte, la metrolog´ıa ´optica (rama de la ´optica quetiene como prop´osito efectuar medidas usando las ondas dela luz como escala [2]) da soluci´on a los inconvenientes quepresentan los video-extens´ometros, pues realiza las medicio-nes por medio de instrumentos llamados interfer´ometros queoperan sobre el principio de interferencia de las ondas lu-minosas. Esto hace independiente la resoluci´on del ´area devisi´on.En la actualidad, la mec´anica de materiales y la metro-log´ıa´optica pudieran tener, en conjunto, una aplicaci´on im-portant´ısima en la caracterizaci´on de materiales y en su valo-raci´on a sus posibles aplicaciones industriales.En este contexto, la interferometr´ıa electr´onica de patro-nes de moteado [3] (ESPI, por sus siglas en ingl´es: ElectronicSpeckle Pattern Interferometry), como prueba´optica no des-
 
556
J.A. RAYAS, R. RODR´IGUEZ-VERA Y A. MART´INEZ
tructiva, es una t´ecnica ideal para la medici´on de deformacio-nes microm´etricas en materiales que tienen un bajo m´odulode elasticidad (materiales superel´asticos). Esto se debe a quebasa su funcionamiento en la iluminaci´on especial del objetobajo prueba; por lo que no modifica la forma y la evaluaci´onde´este al intentar medirlo. Adem´as, ESPI permite la detec-ci´on de la deformaci´on del objeto completo (t´ecnica de cam- po completo) en tantos puntos como lo permita el sistema devisi´on [3].En este trabajo se describe la implementaci´on de la t´ecni-ca ESPI, usada como “extens´ometro interferom´etrico”. Semiden las deformaciones de una membrana de hule l´atex apartir de los mapas de desplazamientos obtenidos en un en-sayo a tensi´on. Aunado a la medici´on de las cargas aplicadas,se determina el m´odulo de Young (por ser este par´ametro unabuena referencia en el uso de materiales superel´asticos comoel hule l´atex). El tipo de interfer´ometro ESPI usado corres-ponde a uno de iluminaci´on dual, el cual es sensible a des-plazamientos en plano y puede alcanzar una resoluci´on de0.4
µ
m [4]. Los valores obtenidos para el m´odulo de Youngpor la t´ecnica ESPI, son comparados con los valores de refe-rencia obtenidos a partir de un dispositivo dise˜nado y cons-truido, el cual es equivalente a una m´aquina de ensayos co-mercial.Se usa el hule l´atex como material de prueba por su bajom´odulo de elasticidad y dada la gran importancia que ha to-mado en la fabricaci´on de diversos productos industriales yla poca informaci´on que hay sobre este material; en compa-raci´on con el acero y el concreto.
2. Fundamentos te´oricos
2.1. Esfuerzo y deformaci´on unitaria
El esfuerzo es una consecuencia de las fuerzas internas que seproducen en un cuerpo por la aplicaci´on de cargas exteriores.A la intensidad de la fuerza por unidad del ´area transversal sele llama
esfuerzo unitario
[5]:
σ
=
dP dA,
(1)donde
σ
es el esfuerzo unitario (
N/m
2
)
,
es la carga apli-cada (
)
y
A
es el ´area sobre la cual act´ua la carga (
m
2
)
. Sila resultante de las fuerzas aplicadas pasa por el centroide dela secci´on considerada, se puede usar la siguiente expresi´onpara calcular el esfuerzo:
σ
=
A.
(2)El cambio de longitud que sufre un objeto bajo esfuerzo,se conoce como
deformaci´ on
. La
deformaci´ on unitaria
se de-fine como el cambio en la longitud por unidad de longitud:
ε
=
dL,
(3)donde
ε
es la deformaci´on unitaria (
m/m
)
,
δ
es la deforma-ci´on total (
m
)
y
L
la longitud original (
m
)
. Si se cumplen lassiguientes condiciones:el elemento sometido a tensi´on debe tener una secci´ontransversal recta constante;el material debe ser homog´eneo; yla fuerza o carga debe ser axial, es decir, producir unesfuerzo uniforme.De esta manera, la deformaci´on unitaria se puede expresarcomo
ε
=
δL.
(4)
2.2. Ley de Hooke y m´odulo de Young
Los resultados de un ensayo a tensi´on suelen representarseen un gr´afico XY, donde los esfuerzos se representan en eleje de las ordenadas y la deformaci´on unitaria en el de lasabscisas; a este gr´afico se le denomina
diagrama esfuerzo-deformaci´ on
[6]. Por otro lado, la
elasticidad 
es la propiedadque hace que un objeto, que ha sido deformado, regrese a suforma original despu´es de que se han removido las fuerzasdeformadoras. Seg´un esta definici´on, casi todos los materia-les son el´asticos (hasta cierto l´ımite de carga). Robert Hoo-ke estableci´o que el esfuerzo es proporcional a la deforma-ci´on (
σ
ε
); a esto se le conoce como ley de Hooke [6]. Estarelaci´on es f´acilmente identificable en el diagrama esfuerzo-deformaci´on desde el origen y hasta llegar al ımite de elasti-cidad.La pendiente de este segmento de la gr´afica es el
m´ odulode elasticidad 
del material en cuesti´on y se representa por laletra
[6]. Por consiguiente,
=
σε.
(5)Aunque da la impresi´on de ser una medida de las pro-piedades el´asticas de los materiales,
es una medida de surigidez; entre mayor es el valor de esta constante, mayor es larigidez del material. Esta constante de proporcionalidad fuecalculada a principios del siglo XIV por Thomas Young [6];por lo que tambi´en es llamada
m´ odulo de Young
y correspon-de a la constante de proporcionalidad que relaciona el esfuer-zo y la deformaci´on unitaria (mientras el material no excedasu ımite el´astico). El m´odulo de Young de un material cual-quiera puede cambiar con la temperatura
2.3. El fen´omeno de moteado
Cuando utilizamos un haz de luz coherente para iluminar unobjeto rugoso, es posible apreciar en su superficie un patr´onaleatorio de manchas. En la Fig. 1a se muestra una probeta dehule l´atex siendo iluminada con un haz l´aser, y en la Fig. 1bla misma probeta, pero ahora est´a siendo iluminada con unal´ampara incandescente. En el caso de la iluminaci´on l´aser se puede notar f ´acilmente este fen´omeno que se conoce como“patr´on de moteado”. Dicho patr´on no aparece en el caso dela iluminaci´on con la l´ampara incandescente.
 Rev. Mex. F ´ ıs.
49
(6) (2003) 555–564
 
MEDICI´ON DEL M´ODULO DE YOUNG EN EL HULE L´ATEX USANDO ESPI
557
F
IGURA
1. a) Iluminaci´on con l´aser y b) Iluminaci´on con l´ampara incandescente.
La aparici´on de este fen´omeno se debe a la coherencia dela fuente de iluminaci´on y a que la variaci´on de rugosidad dela superficie es mayor que la longitud de onda (
λ
)
de la luzaser con que es iluminada [7]. Esta iluminaci´on es reflejadadesde la superficie rugosa de la probeta hacia todas las direc-ciones haciendo interferencia aleatoria y formando el patr´onde moteado. Existen dos maneras para poder obtener patro-nes de moteado [7]; en los arreglos
objetivos
existe una pro-pagaci´on libre de las ondas reflejadas desde la muestra rugosahasta el plano de registro del patr´on de moteado. Los arreglos
subjetivos
usan un sistema ´optico (lente de video) para hacerel registro del patr´on.Cada mota presenta un perfil casi gaussiano en el planoimagen y tiene una di´ametro que est´a dado por [4]
1
.
22
λF 
#
(
+ 1)
,
(6)donde
#
es la apertura num´erica del sistema ´optico y
es la amplificaci´on del sistema ´optico. A su vez, la apertu-ra num´erica de la lente de video est´a dada por
#
=
f/D
,donde
es la distancia focal de la lente y
D
el di´ametro de supupila de entrada.
2.4. Interferometr´ıa electr´onica de patrones de moteado(ESPI)
Los m´etodos de interferometr´ıa de moteado se basan en laadici´on de un segundo frente de onda (de referencia), quepuede ser especular o moteado, al patr´on de moteado del ob- jeto [8]. Como la finalidad es hacerlos interferir, el haz objetoy el de referencia deben proceder de la misma fuente l´aser.Como resultado, el patr´on de moteado estar´a formado por lainterferencia de dos haces coherentes entre s´ı.Cuando el objeto sufre deformaciones, la adici´on de unhaz de referencia tiene como consecuencia un cambio en elcomportamiento del patr´on de moteado. La intensidad en elpatr´on resultante depende de la distribuci´on relativa de la fasede la adici´on de los haces. Si el objeto es deformado, la faserelativa de los dos campos cambia, causando una variaci´onde intensidad del patr´on resultante.Considerando el interfer´ometro de la Fig. 2, la intensidadde alg´un punto P(x,y) del objeto en el plano imagen (superfi-cie del detector) est´a dada por [8]
i
(
x,y
) =
A
(
x,y
) +
B
(
x,y
) + 2
 
A
B
cos(Ψ)
.
(7)Despu´es de un cambio en la fase entre los dos frentes deondas, esta distribuci´on estar´a dada por
(
x,y
) =
A
(
x,y
) +
B
(
x,y
)+ 2
 
A
B
cos(Ψ + ∆
φ
)
,
(8)donde
A
e
B
son las intensidades de los haces y
ψ
es ladiferencia de la fase aleatoria entre los haces. La diferenciade fase adicional
φ
puede ser introducida por deformaci´ono desplazamiento del objeto bajo prueba.El patr´on de moteado deformado es comparado con el pa-tr´on inicial (correlaci´on), mediante la suma o sustracci´on de intensidades. La correlaci´on de estos patrones da como resul-tado la aparici´on de un conjunto de franjas claras y obscurasque corresponden a los sitios de diferencia de la fase igualentre los frentes de onda. Esta diferencia de fase (
φ
) se re-laciona con la diferencia de camino´optico introducido por elmovimiento de la superficie [9], haciendo posible su cuanti-ficaci´on.Una mejor visibilidad del patr´on de franjas se puede ob-servar usando la correlaci´on por sustracci´on [10].´Esta con-siste en calcular el valor absoluto de la sustracci´on entre elpatr´on inicial y el patr´on deformado. Esto da como resultadola siguiente relaci´on:
|
i
|
=4
 
A
B
·
sen
2
ψ
+∆
φ
2
sen
φ
2
.
(9)Esta ecuaci´on tiene dos t´erminos que son funciones modula-das entre s´ı: la primera, con una frecuencia espacial alta (elruido del moteado); y la segunda, con una frecuencia espacialm´as baja (las franjas de correlaci´on). Un m´ınimo de la franjaaparece siempre que
φ
=
2N 
π
, donde
=0,1,2,..., es de-cir, donde quiera que la intensidad del patr´on de moteado haregresado a su valor original.Como se mencion´o anteriormente, esta t´ecnica permitehacer mediciones de campo completo y en tantos puntos co-mo lo determine el sistema de video, haciendo posible la me-dici´on de los desplazamientos entre cada uno de estos puntos,
F
IGURA
2. Interfer´ometro sensible a desplazamientos en el plano.
 Rev. Mex. F ´ ıs.
49
(6) (2003) 555–564

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