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Affidabilità Dispositivi Elettronici:"Studio della Data Retention di memorie PCM con test accelerati in temperatura"

Affidabilità Dispositivi Elettronici:"Studio della Data Retention di memorie PCM con test accelerati in temperatura"

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Affidabilità Dispositivi Elettronici:"Studio della Data Retention di memorie PCM con test accelerati in temperatura"
Affidabilità Dispositivi Elettronici:"Studio della Data Retention di memorie PCM con test accelerati in temperatura"

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07/06/2011

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Università degliStudi di FerraraDipartimento di IngegneriaCorso di Affidabilità di componenti, circuiti e sistemi elettronici
DATA:
26/06/2011
Studio della Data Retention con test accelerati intemperatura
 
Nome file: Report.doc
 
Pagina
1 di 29
 
Affidabilità di componenti, circuiti e sistemi elettronici
 
A.A. 2007-2008
Università degli studi di FerraraDipartimento di Ingegneria
Studio della Data Retention con test accelerati in temperatura 
Studenti:Sferrazza GiovanniProf.Andrea Chimenton
 
Università degliStudi di FerraraDipartimento di IngegneriaCorso di Affidabilità di componenti, circuiti e sistemi elettronici
DATA:
26/06/2011
Studio della Data Retention con test accelerati intemperatura
 
Nome file: Report.doc
 
Pagina
2 di 29
 
Oggetto:
Studio della Data Retention con test accelerati in temperatura. L’obiettivo è quello dimisurare le distribuzioni di corrente di RESET.
Specifiche di misura:
Si analizza tutto l’array (usando l’apposita ciclatura e le routine MATLAB dipost analisi) dopo vari bake in temperatura (50° C; 0-48h) (80° C, 0-24h) (100° C, 0-10h) (150° C;0-5h). Per ogni temperatura si eseguono almeno quattro misure.
 Specifiche di analisi:
Si misurano
 
le distribuzioni di corrente di RESET per ogni temperatura in unprobability paper. Per ogni temperatura si estraggano le celle da considerarsi fallite (o quelle cheappartengono a una coda) e di queste si determina il probability paper che meglio fitta i dati. Sistimano i parametri MLE e di conseguenza si esegue un test di chi2. Si determina una relazione conla temperatura (ad es. fattore di Arrhenius). Si stima MLE il set di parametri minimo tenendo contodella relazione. Si esegua un test di ipotesi.
Materiale utilizzato:
 
1 test chip di memoria PCM (BJT37)
 
Apparecchio per test automatici RIFLE (Research Instrument for Flash Evaluation)
 
Pc collegato a RIFLE per l’utilizzo dello stesso
Impostazioni di programmazione:
Il chip prima di essere sottoposto alle prove ha subito diversi cicli di PRE-HITTING, cicli di set edi reset al fine di rendere operativa la memoria PCM. Il chip inoltre è stato programmato con unpattern a “scacchiera”, ovvero pagine di memoria alternate di SET e RESET, in modo da renderevisibili alcuni effetti topologici della memoria stessa.Nella configurazione di reset la cella si trova in uno stato amorfo in cui il passaggio di corrente èostacolato da un’alta resistenza tipica dello stato stesso. Per questo motivo le correnti in gioco sonomolto basse, nel range di 0-4
µ
A.Inoltre è stato scelto di effettuare le misure con l’ausilio della nanoboard che permette una maggiorerisoluzione e precisione. Il range di utilizzo della nanoboard è stato settato tra -4
µ
A
e +4
 
µ
A
.
 
Prove effettuate:
Le prove sono state svolte su una pagina di memoria dalle dimensioni di 512 Kbyte. La pagina diRESET utilizzata è logicamente e fisicamente adiacente ad una pagina di SET.Sono state effettuate diverse misure a diverse temperature sempre sullo stesso chip che dopo ognistress in temperatura è stato riprogrammato. Lo stress è stato eseguito per diverse tempisticheattraverso l’utilizzo di uno specifico forno programmato alle seguenti temperature: 150°C per 5h;100°C per 10h; 80°C per 24h; 50°C per 48h.
 
Università degliStudi di FerraraDipartimento di IngegneriaCorso di Affidabilità di componenti, circuiti e sistemi elettronici
DATA:
26/06/2011
Studio della Data Retention con test accelerati intemperatura
 
Nome file: Report.doc
 
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Per ogni bake in temperatura sono state svolte le misure delle correnti di reset della mappa, neiseguenti tempi:ANALISI N° 1 A 150°CMisura numero: min
i
 
Δmin
= (min
i
- min
i-1
)1 0 02 10 103 20 104 100 805 200 1006 300 100ANALISI N° 2 A 100°CMisura numero: min
i
 
Δmin= (min
i
- min
i-1
)1 0 02 10 103 20 104 100 805 200 1006 600 400ANALISI N° 3 A 80°CMisura numero: min
i
 
Δmin= (min
i
- min
i-1
)1 0 02 10 103 20 104 100 805 200 1006 1000 8007 1440 440ANALISI N° 4 A 50°CMisura numero: min
i
 
Δmin= (min
i
- min
i-1
)1 0 02 10 103 20 104 100 805 200 1006 1000 8007 2000 10008 2880 880

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