PROBLEMA DE SIMULACION

Realizar el estudio de simulacin descrito a continuacin, usando para ello el entorno de modelado Arena. Parte A. El modelo representa el final del proceso de fabricacin de un circuito electrnico: su montaje en el interior de una carcasa metlica y la realizacin de pruebas elctricas para determinar si el dispositivo, una vez encapsulado, funciona correctamente. Si bien se trata de un nico tipo de dispositivo electrnico, este puede encapsularse de dos maneras: usando la carcasa Tipo A o usando la carcasa Tipo B. Las carcasas metlicas, ya preparadas para alojar el circuito en su interior, llegan al sistema. Las carcasas de Tipo A llegan de una en una, mientras que las de Tipo B llegan en grupos de 4. Los intervalos de tiempo entre llegadas sucesivas estn distribuidos exponencialmente, con media 5 minutos y 30 minutos respectivamente. Al llegar al sistema, las carcasas deben recibir cierto tratamiento (pulido de los bordes, limpieza, etc.) en la Zona de Preparacin. El tratamiento y el recurso que lo realiza dependen del tipo de carcasa: En la Zona Prep. A se preparan las carcasas de Tipo A. El tiempo de proceso est distribuido triangularmente, con rango entre 1 y 8 minutos y modo igual a 4 minutos. En la Zona Prep. B se preparan las carcasas de Tipo B. El tiempo de proceso est distribuido triangularmente, con rango entre 3 y 10 minutos, y modo 5 minutos En ambos casos, las carcasas son procesadas una a una. En particular, las carcasas de Tipo B, que son recibidas en grupos de cuatro, son separadas y procesadas individualmente. Una vez concluido el proceso de preparacin, las carcasas de ambos tipos van a la Zona de Encapsulado y Prueba. El proceso en esta zona consiste en introducir el circuito dentro de la carcasa, cerrar y sellar esta y probar elctricamente el dispositivo. La distribucin de probabilidad del tiempo empleado en este proceso depende del tipo de carcasa. Para las de Tipo A est distribuido triangularmente, con rango de 1 a 4 minutos y con 3 minutos de modo. EL tiempo de proceso de los dispositivos con carcasa Tipo B est distribuido Weibull, con = 2.5 minutos y = 5.3 minutos. EL 91% de los dispositivos pasa las pruebas elctricas y son enviados. Se asume que la probabilidad de fallo de un dispositivo es independiente de probabilidad de fallo de los dems dispositivos. Los dispositivos fallados son enviados a la Zona de Re trabajado. En la Zona de Re trabajado los circuitos son extrados de las cajas, reparados, vueltos a encapsular y probados de nuevo. El 80% de los dispositivos re trabajados pasan con xito este nuevo test y son enviados. El 20% restante no consigue ser reparado y es desechado. Se considera que el tiempo del proceso del re trabajado es independiente del tipo de carcasa y de si finalmente se consigue reparar el dispositivo o no. El tiempo de re trabajado est distribuido exponencialmente, con media 45 minutos. La cadena de encapsulado opera durante 2 turnos al da, de 8 horas cada uno. Se considera que el funcionamiento en ambos turnos es similar, con lo cual el modelo no depende del turno. Asimismo, puesto que las condiciones al comienzo de un turno son las mismas que al finalizar el turno anterior, puede realizarse la simulacin sin solucin de continuidad entre turnos. Condiciones iniciales: todas las colas estn vacas y todos los recursos libres. Condicin de finalizacin: la duracin de la simulacin ser 4 turnos, de 8 horas/turno (es decir, 1920 minutos). El objetivo del estudio es estimar los estadsticos siguientes: La utilizacin de los recursos. El tamao medio de cada cola. El tiempo medio en cada cola. Los tiempos de ciclo de los dispositivos enviados sin re trabajar, de los re trabajados y de los dispositivos desechados