lapshin
Особенности измерения упорядоченных самоорганизующихся ст...
from lapshin in Research, Science
Тезисы докладов второй международной научно-технической конференции “Микроэлектроника и информатика”, стр. 159-160, Москва, Зеленоград, 23-24 ноября, 1995
Сглаживание наношероховатостей плёнки полиметилметакрилат...
from lapshin in Research, Science
Тезисы докладов XIII международного симпозиума “Нанофизика и наноэлектроника”, том 1, стр. 280-281, Нижний Новгород, 16-20 марта, 2009
Исправление искаженных дрейфом СЗМ-изображений
from lapshin in Research, Science
Тезисы докладов третьей международной научно-технической конференции “Электроника и информатика – XXI век”, стр. 76-77, Москва, Зеленоград, 22-24 ноября, 2000
Процедура распознавания атомов в СТМ изображениях
from lapshin in Research, Science
Тезисы докладов третьей международной научно-технической конференции “Микроэлектроника и информатика”, стр. 222-223, Москва, Зеленоград, 11-12 ноября, 1997
Способ считывания цифровой информации в зондовом запомина...
from lapshin in Research, Science
Тезисы докладов третьей международной научно-технической конференции “Электроника и информатика – XXI век”, стр. 169-170, Москва, Зеленоград, 22-24 ноября, 2000
Позиционирование зонда сканирующего микроскопа-нанолитогр...
from lapshin in Research, Science
Тезисы докладов третьей международной научно-технической конференции “Электроника и информатика – XXI век”, стр. 167-168, Москва, Зеленоград, 22-24 ноября, 2000
AFM investigation of highly ordered nanorelief formation ...
from lapshin in Research, Science
Physics, Chemistry and Application of Nanostructures: Reviews and Short Notes to Nanomeeting 2003 (International Conference “Nanomeeting-2003”, Minsk, Belarus, May 20-23, 2003), Editors: V. E. Borisenko, S. V. Gaponenko, V. S. Gurin, World Scientific Publishing Ltd., London, UK, pages 500-502, 2003
Автоматическая распределённая калибровка сканера зондовог...
from lapshin in Research, Science
Тезисы докладов симпозиума “Нанофизика и наноэлектроника”, том 1, стр. 161-162, Нижний Новгород, 25-29 марта, 2005
Способ автоматической коррекции искажённых дрейфом СЗМ-из...
from lapshin in Research, Science
Тезисы докладов симпозиума “Нанофизика и наноэлектроника”, том 1, стр. 159-160, Нижний Новгород, 25-29 марта, 2005
Method of Correction of Surface Images Obtained Using Sca...
from lapshin in School Work
Abstract of Invention
Способ коррекции искаженных дрейфом изображений поверхнос...
from lapshin in School Work
Описание изобретения
Method for Reading Digital Information in Probe Memory De...
from lapshin in School Work
Abstract of Invention
Способ считывания цифровой информации в зондовом запомина...
from lapshin in School Work
Описание изобретения
Method for Measuring Surface Relief by Means of Scanning ...
from lapshin in School Work
Abstract of Invention
Способ измерения рельефа поверхности сканирующим зондовым...
from lapshin in School Work
Описание изобретения
Procedure of Movement of Sonde of Scanning Microscope-nan...
from lapshin in School Work
Abstract of Invention
Способ перемещения зонда сканирующего микроскопа-нанолито...
from lapshin in School Work
Описание изобретения
Method of Automatic Distributed Calibration of Probe Micr...
from lapshin in School Work
Abstract of Invention
Способ автоматической распределенной калибровки сканера з...
from lapshin in School Work
Описание изобретения
+ See more activity
lapshin's Documents
 |
Объектно-ориентированное сканирование для ... 424 Reads |
|
|
Объектно-ориентированное сканирование для ... 717 Reads |
|
|
2,132 Reads |
|
|
Способ автоматической распределенной калиб... 214 Reads |
|
|
Method of Automatic Distributed Calibratio... 248 Reads |
|
|
Способ перемещения зонда сканирующего микр... 450 Reads |
|
|
Procedure of Movement of Sonde of Scanning... 182 Reads |
|
|
Способ измерения рельефа поверхности скани... 135 Reads |
|
|
Method for Measuring Surface Relief by Mea... 151 Reads |
|
|
Способ считывания цифровой информации в зо... 119 Reads |
