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MANUAL

DE PROYECTOS

EN PTICA
Dr. Gilberto Camacho Basilio (Responsable) M.C. Gabriel Aguilar Soto (Tcnico Acadmico) Puebla, Pue., Agosto de 2004.

TABLA DE CONTENIDOS PREFACIO ..................................................................................................................................... 4 TEXTO ELEMENTAL .................................................................................................................. 5 0.1 ptica Geomtrica ............................................................................................................... 5 0.2 Ecuacin de las lentes delgadas .......................................................................................... 10 0.3 Difraccin .......................................................................................................................... 13 0.4 Interferencia ....................................................................................................................... 20 0.5. Polarizacin........................................................................................................................ 26 0.6. Lseres. ............................................................................................................................. 33 0.7 Teora de Abbe de Formacin de Imgenes. ...................................................................... 46 0.8 Referencias .......................................................................................................................... 52 ENSAMBLE DE COMPONENTES ............................................................................................ 53 Ensamble Dirigidor de Haz: (BSA-I) ....................................................................................... 54 Ensamble Dirigidor de Haz Modificado (BSA-II).................................................................... 56 Ensamble Dirigidor de Haz Modificado: (BSA-III) ................................................................. 58 Ensamble de Objetivo (TA-I) ................................................................................................... 60 Ensamble de Objetivo Modificado (TA-II) .............................................................................. 61 Ensamble de Lentes (LCA) ....................................................................................................... 62 Ensamble de Plataforma de Rotacin (RSA-I) ......................................................................... 64 Ensamble de lser (LA) ............................................................................................................ 66 SECCION DE PROYECTOS ....................................................................................................... 68 1.1 Proyecto # 1: Las leyes de la ptica geomtrica. ................................................................ 68 1.2 Proyecto # 2: La ecuacin de las lentes delgadas. ............................................................. 76 1.3 Proyecto 3: Expansin de un haz de lser. ......................................................................... 81 1.4 Proyecto #4: Difraccin por aberturas circulares............................................................... 86 1.5 Proyecto # 5: Difraccin producida por una sola rendija e interferencia producida por una doble rendija.............................................................................................................................. 91 1.6 Proyecto # 6: El interfermetro de Michelson. ................................................................. 96 1.7 Proyecto # 7: Coherencia y lseres. ................................................................................. 100 1.8 Proyecto # 8: Polarizacin de la luz................................................................................. 104 1.9 Proyecto # 9: Birrefringencia de materiales...................................................................... 109 1.10 Proyecto # 10: Teora de Abbe de formacin de imgenes. ........................................... 113 Prefacio Elementos de ptica ptica geomtrica Ecuacin de lentes delgadas Difraccin Interferencia Polarizacin

Laseres Teora de Abbe de la formacin de imgenes Referencias

PROYECTOS EN OPTICA
PREFACIO
El kit de proyectos en ptica es un conjunto de equipo de laboratorio que contiene todas las componentes pticas y opto-mecnicas necesarias para completar una serie de experimentos que proporcionarn a los estudiantes una base en ptica y una experiencia prctica en tcnicas de laboratorio. Los proyectos cubren un ancho rango de tpicos que van desde teora bsica de lentes hasta interferometra y teora de formacin de imgenes. El Manual de Proyectos en ptica ha sido desarrollado por el equipo tcnico de Newport Corporation y el Prof. Dr. en Ciencias OShea, para proporcionar a los educadores los medios convenientes de estimular el inters y la creatividad de sus estudiantes. Este manual comienza con una descripcin de las diversas componentes mecnicas que sern usadas en varias combinaciones para cada experimento. En suma, esas componentes pueden ser ensambladas en muchas otras configuraciones que llevarn a experimentos ms complejos de disear y ejecutar. Uno de los beneficios de construir esos experimentos usando un banco ptico (algunas veces llamado tabla ptica) ms las componentes estndares, es que el estudiante puede ver que estas componentes son usadas en una variedad de circunstancias diferentes para resolver un problema experimental en particular, en lugar de estar frente a un artculo que dar forma a sola una tarea en una sola forma. Un corto Texto Elemental relata los fenmenos pticos de los diez proyectos en este manual. Cada descripcin del proyecto contiene un planteamiento de objetivos que puntualiza el fenmeno que se va a medir, el principio ptico que est siendo estudiado, una breve exposicin de las ecuaciones relevantes que gobiernan el experimento o referencias a la seccin apropiada de la Introduccin, una lista de todo el equipo necesario y un completo conjunto de instrucciones paso a paso que guiarn al estudiante a travs del ejercicio de laboratorio. Despus de la descripcin detallada del experimento, est una lista de experimentos algo ms elaborados que extendern los conceptos bsicos ya explorados en el experimento. La facilidad con la cual pueden hacerse esos experimentos adicionales depender de los recursos con que se cuente y de la inventiva del instructor y del estudiante. La lista de equipo para los experimentos individuales se da en trminos de las componentes de ensamble, mas los artculos que son parte del kit de proyectos. Hay un cierto nmero de artculos requeridos que pueden ser proporcionados por el instructor. Artculos tales como cintas mtricas pueden ser obtenerse fcilmente. Otros, para los experimentos elaborados, pueden ser algo ms difciles de conseguir, pero muchos se encuentran en la mayora de los programas de licenciatura. Los estudiantes deben entender que el propsito del equipo es conseguir datos reales, usando cualquier cosa que se requiera. El estudiante debera llevar alguna ingenuidad al resolver algunos de los problemas, pero si sus elecciones materialmente afectaran sus datos, un instructor debe estar preparado para intervenir. Se intenta que estos experimentos sean usados por instructores de estudiantes de ingeniera y ciencias fsicas o en un curso avanzado de laboratorio en una escuela de fsica. Los proyectos siguen el estudio general encontrado en la mayora de los libros de texto, aunque algo del material sobre lseres y formacin de imgenes se aparta del currculo estndar de hoy en da. Ellos deberan encontrar su mayor aplicabilidad como auxiliares instruccionales para reforzar los conceptos enseados en esos libros.

TEXTO ELEMENTAL
El campo de la ptica es un rea de estudio fascinante, en muchas reas de la ciencia y la ingeniera, el entendimiento de los conceptos y efectos puede ser difcil debido a que los resultados no son fciles de reproducir. Pero en la ptica, se puede ver exactamente lo que est pasando, se pueden variar las condiciones y ver los resultados. Este Texto Elemental intenta proporcionar una introduccin a las 10 demostraciones y proyectos en ptica contenidos en este Manual de Proyectos en ptica. Al final de este texto elemental se da una lista de referencias que pueden proporcionar fundamentos adicionales.

0.1. ptica Geomtrica


No hay necesidad de convencer a nadie de que la luz viaja en lneas rectas, cuando vemos los rayos de sol pasar entre las hojas de un rbol en una maana, confiamos en nuestra vista. La idea de rayos de luz viajando en lneas rectas a travs del espacio es precisa mientras la longitud de onda de la radiacin sea mucho ms pequea que las ventanas, pasajes, y agujeros que puedan restringir el camino de la luz, cuando esto no es verdad, el fenmeno de difraccin debe ser considerado, y su efecto sobre la direccin y el patrn de la radiacin debe ser calculado, sin embargo, en una primera aproximacin, cuando la difraccin puede ser ignorada, podemos considerar que el avance de la luz a travs de un sistema ptico puede trazarse siguiendo trayectorias en lnea recta o rayos de luz a travs del sistema. Este es el dominio de la ptica geomtrica. Parte de la belleza de la ptica, as como en un buen juego, es que las reglas son tan simples, las consecuencias son tan variadas y a veces, elaboradas, que uno nunca se cansa de jugar. La ptica Geomtrica puede expresarse como un conjunto de tres leyes: 1. La ley de transmisin. En una regin de ndice de refraccin constante, la luz viaja en lnea recta. 2. La ley de Reflexin La luz incide sobre una superficie plana a un ngulo i con respecto a la normal a la superficie es reflejada en un ngulo r igual al ngulo incidente (Fig. 0.1).

i = r
3. La ley de Refraccin (ley de SneIl)

(0.1)

La luz en un medio de ndice de refraccin n, incidente sobre una superficie plana con un ngulo i con respecto a la normal es refractada con un ngulo t en un medio de ndice de refraccin nt como (Fig. 0.1):

n sen i = nt sen t

(0.2)

Fig. 0.1 Reflexin y refraccin de luz en una interfase

Un corolario de esas tres reglas es que los rayos incidente, reflejado y transmitido, y la normal a la interfase, todos ellos estn en un mismo plano, llamado plano de incidencia, el cual se define como el plano que contiene la normal a la superficie y la direccin del rayo incidente. Note que la tercera de esas ecuaciones no esta escrita como una razn de senos, como tal vez la viste en tus primeros estudios, sino como un producto de nSen. Esto es debido a que la ecuacin no es ambigua con respecto a cul ndice de refraccin corresponde a qu ngulo. Si recuerdas esto en esta forma, nunca tendrs ninguna dificultad al tratar de terminar qu ndice va en qu lugar al resolver para los ngulos. El Proyecto # 1 te permitir verificar las leyes de la reflexin y la refraccin. Un caso especial debe considerarse si el ndice de refraccin del medio incidente es mayor que el del medio de transmisin (ni > nt). Resolviendo para t obtenemos
sen t = (ni nt ) sen i (0-3)

En este caso, ( ni nt ) > 1, y Sen i puede ir de 0 a 1. De esta forma, para ngulos grandes de i parecera que tenemos Sen t > 1. Pero Sen t debe ser tambin menor que 1, as que hay un ngulo crtico i =c donde sen c = (nt ni ) y sen t = 1 . Esto significa que el rayo transmitido est viajando perpendicularmente a la normal (es decir, paralelo a la interfase) como muestra el rayo # 2 en la Fig. 0.2. Para ngulos de incidencia i mayores que c no hay luz transmitida, la luz se refleja totalmente hacia el medio incidente (vea el rayo # 3, Fig. 0.2). Este efecto se llama reflexin total interna y ser usado en el Proyecto # 1 para medir el ndice de refraccin de un prisma.

Como se ilustra en la Fig. 0.3, los prismas pueden proporcionar espejos altamente reflectantes, no absorbentes, explotando la reflexin total interna.

Fig. 0.2 Tres rayos incidentes a ngulos cercanos o al ngulo crtico.

Fig. 0.3 Reflexin total interna en prismas.

La reflexin total interna es la base para la transmisin de la luz a travs de muchas fibras pticas. Nosotros no cubrimos el diseo de sistemas de fibra ptica en este manual porque la aplicacin se ha vuelto altamente especializada y est mas cercanamente ligada a la teora moderna de comunicaciones que a la ptica geomtrica. Un manual separado una serie de experimentos sobre fibras pticas est disponible en Newport en nuestros Proyectos en fibras pticas.

0.1.1

Lentes

En la mayora de los diseos pticos, las componentes para la formacin de imgenes las lentes y los espejos curvos son simtricas con respecto a una lnea, llamada el eje ptico. Cada una de las superficies curvas de una lente tienen un centro de curvatura. Una lnea dibujada entre los centros de curvatura de las dos superficies de la lente establece el eje ptico, como se muestra

en la Fig. 0.4. En la mayora de los casos se supone que el eje ptico de todas las componentes es el mismo. Esta lnea establece una lnea de referencia para el sistema ptico.

Fig- 0.4 El eje ptico de una lente.

Al dibujar rayos a travs de una serie de lentes, uno puede determinar cmo y donde se formar la imagen. Hay convenciones para el trazo de rayos y aunque no son universalmente aceptadas, esas convenciones son tan usadas que es conveniente adoptarlas para bosquejar y hacer clculos.

1. El objeto se coloca a la izquierda del sistema ptico. La luz se traza a travs del sistema de izquierda a derecha hasta que una componente de reflexin altera la direccin general. Aunque uno podra dibujar algn objeto reconocible para obtener su imagen con el sistema, el ms simple es una flecha vertical. (La imagen de la flecha formada por el sistema ptico, indica si las imgenes subsecuentes estarn derechas o invertidas con respecto al objeto original y las otras imgenes.) Si suponemos que la luz del objeto es enviada en todas direcciones, podemos dibujar una fuente resplandeciente de rayos desde cualquier punto sobre la flecha. La imagen se forma donde todos los rayos del punto, que son redirigidos por el sistema ptico, otra vez convergen a un punto. Una lente positiva es uno de los dispositivos ms simples para formar imgenes. Si el objeto se coloca muy lejos (en el infinito, es el trmino usual), los rayos del objeto son paralelos al eje ptico y producen una imagen en el punto focal de la lente, a una distancia f de la lente (la distancia f es la distancia focal de la lente), como se muestra en la Fig. 0.5(a). Una lente negativa tambin tiene un punto focal, como se muestra en la Fig. 0.5(b). Sin embargo, en este caso, los rayos paralelos no convergen a un punto, sino que parecen divergir de un punto a distancia f al frente de la lente. 2. Un rayo de luz paralelo al eje ptico de una lente pasar, despus de la refraccin, a travs del punto focal a una distancia f del vrtice de la lente. 3. Un rayo de luz que pase a travs del punto focal de una lente ser refractado paralelo al eje ptico.

Fig. 0.5 Enfocamiento de luz paralela por lentes positiva y negativa

4. Un rayo de luz dirigido hacia el centro de la lente no se desva. La formacin de una imagen por una lente positiva se muestra en la Fig. 0.6. Nota que los rayos se cruzan en un punto en el espacio. Si pusieras una pantalla en ese punto veras la imagen en foco ah. Debido a que la imagen puede encontrarse en un plano accesible en el espacio, es llamada imagen real. Para una lente negativa, los rayos de un objeto no se cruzan despus de la transmisin, como se muestra en la Fig. 0.7, sino que parecen venir de algn punto detrs de la lente. Esta imagen, la cual no puede observarse sobre una pantalla en algn punto en el espacio es llamada imagen virtual. Otro ejemplo de imagen virtual es la imagen que ves en el espejo del bao en las maanas. Uno puede tambin producir una imagen virtual con una lente positiva, si el objeto se coloca entre el vrtice y un punto focal. Las etiquetas real y virtual no implican que un tipo de imagen es til y el otro no, simplemente indican si los rayos redirigidos por el sistema ptico se cruzan o no. La mayora de los sistemas pticos contienen ms de una lente o espejo. Las combinaciones de elementos no son difciles de manejar de acuerdo a la siguiente regla: 5. La imagen del objeto original producida por el primer elemento se convierte en el objeto para el segundo elemento. El objeto de cada elemento adicional es la imagen del elemento previo. Se pueden manejar sistemas ms elaborados de una manera similar, en muchos casos 9

estos sistemas pueden dividirse en sistemas ms simples que pueden ser manejarse separadamente, en principio, y unirse despus.

Fig. 0.6. Formacin de la imagen de un objeto puntual por una Lente positiva. Una imagen real invertida respecto al objeto es formada por la lente.

Fig. 0.7. Formacin de la imagen de un objeto puntual por una Lente negativa. Una imagen virtual derecha respecto al objeto es formada por la lente.

0.2. Ecuacin de las lentes delgadas


Hasta aqu no hemos utilizado ningn nmero con los ejemplos que hemos mostrado. Aunque hay mtodos grficos para evaluar un sistema ptico, los rayos bosquejados son solamente usados como un diseo abreviado. Es a travs del clculo como podemos especificar los componentes necesarios, modificar los valores iniciales, y entender las limitaciones del diseo. 10

Los rayos trazados cerca del eje ptico de un sistema, aquellos que tienen un ngulo pequeo con respecto al eje, son los que pueden calcularse ms fcilmente debido a algunas aproximaciones simples que pueden hacerse en esta regin. Esta aproximacin se llama aproximacin paraxial, y los rayos se llaman rayos paraxiales. Antes de proceder, debe plantearse, un conjunto de convenciones para los signos en los clculos con lentes delgadas para consideraciones posteriores. Las convenciones usadas aqu son aquellas que se usan en la mayora de los textos de preparatoria y de licenciatura en fsica. Estas no son las convenciones usadas por la mayora de los ingenieros pticos. Esto es desafortunado, pero es una de las dificultades que se encuentran en muchos campos de la tecnologa. Nosotros usamos un sistema coordenado estndar derecho, con la luz propagndose generalmente a lo largo del eje z. 1. La luz inicialmente viaja de izquierda a derecha en direccin positiva. 2. Las distancias focales de los elementos convergentes son positivas; los elementos divergentes tienen distancias focales negativas. 3. Las distancias de los objetos son positivas si el objeto est colocado a la izquierda de una lente y negativas si est colocado a la derecha de la lente. 4. Las distancias de las imgenes son positivas si la imagen se encuentra a la derecha de una lente y negativas si se encuentra a la izquierda de la lente.

Fig. 0.8. Geometra para una derivacin de la ecuacin de las lentes delgadas.

Podemos derivar la relacin objeto-imagen para una lente. Con referencia a la Fig. 0.8, usemos dos rayos de un objeto puntual fuera del eje, uno paralelo al eje, y uno a travs de la distancia focal. Cuando los rayos son trazados, forman un conjunto de tringulos semejantes ABC y BCD. En ABC,
ho + hi hi = so f

(0-4a)

Y en BDC

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ho + hi ho = si f

(0-4b)

Sumando esas dos ecuaciones y dividiendo entre h0 + h1 obtenemos la ecuacin de las lentes delgadas 1 1 1 = + (0-5) f si so
Resolviendo las ecuaciones 0-4 a y 0-4 b para ho + hi, puedes mostrar que la amplificacin transversal o amplificacin lateral, M, de una lente delgada, la razn de la altura de la imagen hi a la altura del objeto ho, es simplemente la razn de la distancia a la imagen sobre la distancia al objeto: h s (0-6) M = i = i ho so Con la inclusin del signo negativo en la ecuacin, esta razn no solo da el tamao de la imagen final, su signo tambin indica la orientacin de la imagen con respecto al objeto. Un signo negativo indica que la imagen est invertida con respecto al objeto. La amplificacin axial o longitudinal, la amplificacin de una distancia entre dos puntos sobre el eje, puede ser mostrada como el cuadrado de la amplificacin transversal o lateral.
M1 =M 2

(0-7)

Al referirnos a la amplificacin transversal, usaremos una M sin subndice. La relacin de una imagen a un objeto para una lente de distancia focal positiva es la misma para todas las lentes: Si comenzamos con un objeto en el infinito, encontramos, de la Ec. 0.5 que para una lente positiva una imagen real est localizada en el punto focal de la lente ( 1 s o = 0 , de esta forma si = f ), y a medida que el objeto se aproxima a la lente, la distancia a 1 a imagen se incrementa hasta que se acerca al punto 2f al otro lado de la lente. En este punto, el objeto y la imagen son del mismo tamao y estn a la misma distancia de la lente. Conforme el objeto se mueve de 2f a f, la imagen se mueve de 2f a infinito. Un objeto colocado entre una lente positiva y su punto focal forma una imagen virtual amplificada que decrece en amplificacin a medida que el objeto se aproxima a la lente. Para una lente negativa, la situacin es ms simple: comenzando con un objeto en el infinito, una imagen virtual, no amplificada, aparece en el punto focal del mismo lado de la lente que el objeto. Si el objeto se acerca a la lente, lo mismo hace la imagen, hasta que el objeto y la imagen son iguales en tamao en la lente. Estas relaciones sern exploradas en detalle, en el Proyecto # 2. El clculo para una combinacin de lentes no es mucho ms difcil que para una sola lente. Como indicamos antes, con el bosquejo de rayos, la imagen de la lente precedente se vuelve objeto para la lente subsiguiente. Una situacin particular, que es analizada en el Proyecto # 2, es determinar la distancia focal de

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una lente negativa. La idea es reenfocar la imagen virtual creada por la lente negativa con una lente positiva para crear una imagen real. En la Fig. 0.9, una lente positiva de distancia focal conocida f2 forma una imagen de la imagen virtual creada por una lente negativa de distancia focal desconocida f1. La potencia de la lente positiva es suficiente para crear una imagen real a una distancia s3 de sta. Determinando qu distancia al objeto s2 sera la adecuada para esta distancia focal y distancia a la imagen, la localizacin para la distancia para la lente negativa puede encontrarse basndose en la regla 5 de la Seccin 0.1: la imagen de una lente sirve como el objeto para una lente subsiguiente. La distancia a la imagen s1 para la lente negativa es la separacin entre las lentes t1 menos la distancia al objeto s2 de la lente positiva. Como la distancia original al objeto s0 y la distancia a la imagen s1 han sido encontradas, la distancia focal de la lente negativa puede ser encontrada de la ecuacin de las lentes delgadas. En muchos diseos pticos se usan varias lentes juntas para producir una mejor imagen. La distancia focal efectiva de la combinacin de lentes puede ser calculada por mtodos de trazo de rayos. En el caso de dos lentes delgadas en contacto, la distancia focal efectiva de la combinacin est dada por 1 1 1 = + f f1 f 2 (0-8)

Fig. 0.9 Determinacin de la distancia focal de una lente negativa Con el uso de una lente positiva de distancia focal conocida.

0.3. Difraccin
Aunque las dos secciones previas trataron a la luz como rayos propagndose en lneas rectas, este modelo no describe todo el rango de fenmenos pticos que pueden ser investigados dentro de los experimentos en Proyectos en ptica. Hay algunos conceptos adicionales que son necesarios para explicar ciertas limitaciones de los rayos pticos y para describir algunas de las tcnicas que nos llevarn a analizar las imgenes y a controlar la amplitud y la direccin de la luz. Esta seccin es una breve revisin de dos importantes fenmenos en ptica fsica: la interferencia y la difraccin. Para una discusin completa de estos y otros temas relacionados, el lector debera consultar una o ms referencias. 13

0.3.1 Principio de Huygens

La luz es una onda electromagntica compuesta de muchas longitudes de onda. Como la luz de una fuente cualquiera (an un lser!) consiste en campos de diferente longitud de onda, parecera que es difcil analizar su efecto resultante. Pero los efectos de la luz compuesta de muchos colores pueden entenderse determinando lo que pasa para una onda monocromtica (de una sola longitud de onda) sumando los campos de todos los colores presentes. De esta forma, por anlisis de esos efectos para luz monocromtica, somos capaces de calcular lo que pasara en casos no monocromticos. Aunque es posible expresar una onda electromagntica matemticamente, describiremos las ondas de luz grficamente y usaremos esas representaciones grficas para proporcionar ideas a varios fenmenos pticos. En muchos casos esto es todo lo que se necesita conseguir. Un campo electromagntico puede ser descrito como una combinacin de campos elctricos (E) y magnticos (H) cuyas direcciones son perpendiculares a la direccin de propagacin de la onda (k), como se muestra en la Fig. 0.10. Debido a que los campos elctricos y magnticos son proporcionales entre s, solo necesitamos describir uno de los dos campos para entender lo que est pasando en una onda de luz. En la mayora de los casos, una onda de luz es descrita en trminos del campo elctrico. El diagrama de la Fig. 0.10 representa el campo en un punto en el espacio y en el tiempo. Es el arreglo de los campos elctricos y magnticos en el espacio lo que determina como progresa el campo de luz.

Fig. 0.10 Onda plana monocromtica propagndose a lo Largo del eje z. Para una onda plana, los campos elctrico Y magntico son constantes en un plano x-y. El vector k est En la direccin de propagacin.

Una forma de pensar acerca de los campos de luz es usar el concepto de frente de onda. Si graficamos el campo elctrico como una funcin del tiempo a lo largo de la direccin de propagacin, hay lugares sobre la onda donde el campo es un mximo en una direccin, otros lugares donde es cero, y otros lugares donde el campo es un mximo en la direccin opuesta, como se muestra en la Fig. 0.11. Estos representan diferentes fases de la onda. Por supuesto, la fase de la onda cambia continuamente a lo largo de la direccin de propagacin. Para seguir el 14

progreso de una onda, en cambio, nos concentraremos en un punto en particular sobre la fase, usualmente en un punto donde la amplitud del campo elctrico sea un mximo. Si todos los puntos en la vecindad tienen esta misma amplitud, ellos forman una superficie de fase constante, o frente de onda. En general, los frentes de onda de una fuente de luz pueden tener cualquier forma, pero algunas de las formas ms simples de los frentes de onda se usan al describir algunos fenmenos pticos.

Fig. 0.11 Onda plana monocromtica propagndose a lo Largo del eje z. Las lneas slidas y las lneas punteadas Indican los mximos positivos y negativos de las Amplitudes de los campos.

Una onda plana es un campo de luz compuesto de superficies planas de fase constante perpendiculares a la direccin de propagacin. En la direccin de propagacin, el campo elctrico vara senoidalmente de tal forma que se repite a cada longitud de onda. Para representar esta onda, hemos dibujado los planos de mxima fuerza del campo elctrico, como se muestra en Fig. 0.11, donde las lneas slidas representan planos en los cuales el vector de campo elctrico est apuntando en la direccin y positiva y las lneas punteadas representan planos en los cuales el vector de campo elctrico est apuntando en la direccin y negativa. Los planos slidos estn separados por una longitud de onda, as como los planos punteados. Otro frente de onda muy usado para el anlisis de ondas de luz es la onda esfrica. Una fuente puntual, una fuente ficticia de dimensiones infinitamente pequeas, emite un frente de onda que viaja hacia fuera en todas direcciones produciendo longitudes de onda que consisten en cascarones esfricos centrados en la fuente puntual. Esas ondas esfricas se propagan hacia fuera de la fuente puntual con un radio igual a la distancia entre el frente de onda y la fuente puntual, como se muestra esquemticamente en la Fig. 0.12. Lejos de la fuente, el radio del frente de onda es tan grande que los frentes de onda son aproximadamente planos. Otra forma de crear ondas esfricas es enfocar una onda plana. La Fig. 0.13 muestra las ondas esfricas colapsndose a un punto y entonces expandindose. Las ondas nunca se colapsan en un punto real debido a la difraccin (vea la siguiente seccin). Hay muchas otras formas posibles de campos de ondas, pero estos dos son los que necesitamos para nuestra discusin sobre la

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interferencia.

Fig. 0.12. Ondas esfricas alejndose de la fuente puntual. Lejos de la fuente puntual, el radio del frente de onda es grande Y los frentes de onda son aproximadamente ondas planas.

Fig. 0.13 Generacin de ondas esfricas enfocando ondas Planas en un punto. La difraccin impide a las ondas enfocarse en un punto.

Lo que nosotros hemos descrito son frentes de onda aislados. Qu pasa cuando dos o ms frentes de onda estn presentes en la misma regin? La teora electromagntica muestra que podemos aplicar el principio de superposicin: donde las ondas se traslapan en la misma regin del espacio, el campo resultante en ese punto en el espacio y el tiempo, se encuentra sumando los campos elctricos de las ondas individuales en ese punto. Para el presente estamos suponiendo que los campos elctricos de todas las ondas tienen la misma polarizacin (direccin del campo elctrico) y que pueden ser sumados como escalares. Si las direcciones de los campos no son las mismas, entonces los campos deben ser sumados como vectores. Ni nuestros ojos ni ningn detector ve el campo elctrico de una onda de luz. Todos los detectores miden el cuadrado del campo elctrico promediado en el tiempo sobre algn rea. Esto es la irradiancia de la luz dada en trminos de watt /metro cuadrado (w/m2) o en unidades similares de potencia por unidad de rea. Dado algn frente de onda resultante en el espacio, cmo predecimos su comportamiento al 16

propagarse? Esto se hace invocando el Principio de Huygens. O, en trminos de las descripciones grficas que ya hemos definido, la construccin de Huygens (vea Fig. 0.14): Dado un frente de onda de forma arbitraria, localice un arreglo de fuentes puntuales sobre el frente de onda, tal que la intensidad de cada fuente puntual sea proporcional a la amplitud de la onda en ese punto. Permita que la fuente puntual se propague un tiempo t, tal que el radio sea igual a ct (c es la velocidad de la luz) y sume las fuentes resultantes. La envolvente resultante de las fuentes puntuales es el frente de onda a un tiempo t despus del frente de onda inicial. Este principio puede ser usado para analizar fenmenos ondulatorios de complejidad considerable.

Fig. 0.14. Construccin de Huygens de un frente de onda de Forma arbitraria propagndose.

0.3.2

Difraccin de Fresnel y Fraunhofer

La difraccin de la luz surge de los efectos de aberturas y fronteras de interfases sobre la propagacin de la luz. En su forma ms simple, las orillas de lentes, aberturas y otras componentes pticas causan que la luz que pasa a travs del sistema ptico sea desviada de los caminos indicados por los rayos pticos. Aunque ciertos efectos de la difraccin son muy tiles, finalmente todos los resultados pticos estn limitados por la difraccin si hay suficiente seal, y por el ruido ptico si la seal es pequea.

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Cuando una onda plana ilumina una rendija, el patrn de onda resultante que pasa la rendija puede construirse usando el Principio de Huygens representando el frente de onda en la rendija como una coleccin de fuentes puntuales, todas emitiendo en fase. La forma del patrn de irradiancia que se observa depende de la distancia de la abertura de difraccin, el tamao de la abertura y la longitud de onda de la iluminacin. Si la luz difractada se examina cerca de la abertura, el patrn se parecer a la abertura con algunas variaciones sorprendentes (tales como encontrar un punto de luz en la sombra de un material opaco circular). Esta forma de difraccin es llamada difraccin de Fresnel y es algo difcil de calcular. A cierta distancia de la abertura, el patrn cambia a un patrn de difraccin de Fraunhofer. Este tipo de difraccin es fcil de calcular y determina en la mayora de los casos, las limitaciones pticas de sistemas de mayor precisin ptica. El patrn de difraccin ms simple es aquel debido a una abertura en forma de rendija larga. Debido a la relacin de la longitud de la rendija respecto a su ancho, el efecto ms fuerte se da con rendijas ms angostas. El patrn de difraccin resultante de una rendija en una pantalla distante contiene mximos y mnimos, como se muestra en la Fig. 0.15(a). La luz se difracta fuertemente en la direccin perpendicular a las orillas de la rendija, una medida de la cantidad de difraccin es el espacio entre el mximo central y la primera franja oscura en el patrn de difraccin. Las diferencias en los patrones de difraccin de Fraunhofer y Fresnel sern exploradas en el Proyecto # 4. A distancias alejadas de la rendija, el patrn de difraccin de Fraunhofer no cambia de forma, sino solamente de tamao. La separacin entre franjas se expresa en trminos del seno de la separacin angular entre el mximo central y el centro de la primera franja oscura,

sen =

(0-9)

Donde w es el ancho de la rejilla y es la longitud de onda de la luz que ilumina la rendija. Note que a medida que el ancho de la rendija se vuelve ms pequeo, el ngulo de difraccin se vuelve ms grande. Si el ancho de la rendija no es demasiado pequeo, el seno puede ser reemplazado por el argumento,

(0-10)

Si la longitud de onda de la luz que ilumina la rendija es conocida, el ngulo de difraccin puede medirse y pude determinarse el ancho de esta rendija de difraccin. En el Proyecto # 5 sers capaz de hacer exactamente esto. En el caso de aberturas circulares, el patrn de difraccin es tambin circular, como se indica en la Fig. 0.15(b), y la separacin angular entre el mximo central y la primera franja oscura est dada por

sen = 1.22 o para una D grande,

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= 1.22

(0-11)

donde D es el dimetro de la apertura. Como en el caso de la rendija, para pequeos valores de el seno puede ser remplazado por el ngulo. La medida del dimetro de orificios de D diferentes tamaos es parte del Proyecto #4.

Fig. 1.15. Difraccin de la luz por aberturas (a) Una rendija. (b) Apertura circular

Fig. 1.15. Difraccin de la luz por aberturas (b) Apertura circular

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Una buena aproximacin de una fuente puntual es una estrella brillante. Un par de estrellas cercanas entre s pueden dar una medida de los lmites de difraccin de un sistema. Si las estrellas tienen la misma brillantez, la resolucin del sistema puede determinarse por la separacin angular ms pequea entre tales fuentes a la cual estn resueltas. Si suponemos que aberraciones del sistema ptico son suficientemente pequeas la difraccin es la nica limitacin para resolver las imgenes de esas dos fuentes puntuales. Aunque es algo artificial, un lmite de resolucin que ha sido usado en muchos casos es que dos fuentes puntuales son solo resolvibles si el mximo del patrn de difraccin de una de las fuentes cae sobre el primer anillo oscuro del patrn de la segunda fuente puntual, como se muestra en la Fig. 0.16, entonces

R = 1.22 D

(0-12)

esta condicin para la resolucin es llamada el Criterio de Rayleigh. Es usado en otros campos del diseo ptico, tales como en la especificacin de la resolucin de sistemas pticos.

0.4

Interferencia

Mientras la difraccin proporciona el lmite que nos dice qu tan lejos puede ser extendida una tcnica ptica, la interferencia es la responsable para algunos de los ms utiles efectos en el campo de la ptica de las rejillas de difraccin a la holografa. Como veremos, un patrn de interferencia es a menudo conectado con alguna geometra simple. Una vez que la geometra es descubierta, la interferencia es fcil de entender y analizar.

0.4.1 Experimento de Young

En la Fig. 0.17 se muestra la geometra y el patrn de onda para uno de los ms simples experimentos de interferencia: el experimento de Young. Dos pequeos pinholes, separados por una distancia d, son iluminados por una onda plana, produciendo dos fuentes puntuales que crean dos ondas esfricas superpuestas. La figura muestra una vista transversal de los frentes de onda de ambas fuentes en un plano que contiene los pinholes. Note que en puntos a lo largo de una lnea equidistante de ambos pinholes, las ondas de las dos fuentes estn siempre en fase. De esta forma, a lo largo de la lnea C los campos elctricos se suman en fase para dar un campo que es dos veces el valor de un solo campo; la irradiancia en un punto a lo largo de la lnea, la cual es proporcional al cuadrado del campo elctrico, ser cuatro veces la presentada en el caso de un solo pinhole. Cuando los campos se suman para dar un valor ms grande, nos referimos a interferencia constructiva. Hay otras direcciones, tales como aquellas a lo largo de la lnea punteada D, en las cuales las ondas de las dos fuentes estn siempre 180 fuera de fase. Esto es, cuando una fuente tiene un campo elctrico mximo positivo, la otra tiene el mismo valor negativo, as los campos siempre se cancelan y ninguna luz se detecta a lo largo de esas lneas D, mientras ambas fuentes estn presentes. Esta condicin de cancelar los campos elctricos se llama interferencia destructiva. Entre los dos extremos de mxima interferencia constructiva y destructiva, la irradiancia varia entre cuatro veces la irradiancia para un solo pinhole y cero. Puede mostrarse que la energa total que cae sobre la superficie de una pantalla colocada en el 20

patrn de interferencia es ni ms ni menos que dos veces la de una sola fuente puntual, es solo que la interferencia causa que la distribucin de la luz se arregle diferentemente!

Fig. 0.16. Criterio de Rayleigh. Se muestra la grfica de la intensidad a lo largo de la lnea entre los centros de dos patrones de difraccin bajo la foto de dos fuentes resueltas bajo el criterio de Rayleigh.

Fig. 0.17. Experimento de Young. La luz difractada por dos pinholes est en la pantalla S2. la interferencia de dos ondas esfricas produce una variacin en la irradiancia sobre S2 , que est graficada a la derecha de la pantalla.

21

Algunos clculos simples mostrarn que la diferencia de distancias viajadas desde los pinholes a un punto sobre la pantalla es
r = dsen

(0-13)

en el caso de interferencia constructiva, los frentes de onda llegan a la pantalla en fase. Esto significa que hay uno, dos o varios nmeros enteros de longitud de onda de diferencia entre los dos caminos que viaja la luz hasta el punto de una franja brillante. De esta forma, los ngulos en los que las franjas brillante ocurren estn dados por r = dsen = n (n = 1, 2, 3, ....) (0-14)

Si la ecuacin de arriba se resuelve para los ngulos para los cuales las franjas brillantes se encuentran y si uno aplica la aproximacin de que para ngulos pequeos, el seno puede ser reemplazado por el ngulo en radianes, se obtiene:

n n d

(n = 1, 2, 3, ....)

(0-15)

La separacin angular para franjas vecinas es entonces la diferencia entre n+1 y n


= d

(0-16)

Esta es la separacin angular entre franjas, que ser medida en el Proyecto #5 para determinar la separacin entre dos rejillas.

0.4.2 El interfermetro de Michelson

Otra geometra de interferencia que ser investigada en el Proyecto # 6 y usada para medir un parmetro importante para un lser en el Proyecto # 7 se muestra en la Fig. 0.18. Este es un interfermetro de Michelson, el cual est compuesto por un divisor de haz y dos espejos. (Este dispositivo a veces es llamado interfermetro de Twyman-Green, cuando se usa con un fuente monocromtica tal como un lser, para probar componentes pticas.) El divisor de haz es un espejo parcialmente reflectante que separa la luz incidente en dos haces de igual intensidad. Despus de reflejarse por los espejos, los dos haces se recombinan de tal forma que viajan en la misma direccin cuando llegan a la pantalla. Si los dos espejos estn a la misma distancia ( L1 = L2 en la Fig. 0.18) del divisor de haz, entonces los dos haces estn siempre en fase una vez que son recombinados, justo como es el caso a lo largo de la lnea de interferencia constructiva en el experimento de Young. Ahora la condicin de interferencia constructiva y destructiva depende de la diferencia de caminos viajada por los dos haces. Como cada haz debe viajar la distancia del divisor de haz a su respectivo espejo y regresar, la distancia viajada por el haz es 2L. Si la diferencia de camino, 2 L1 2 L2 es igual a un numero entero de longitudes de onda, m , donde m es un entero, entonces las dos ondas estn en fase y la interferencia en la pantalla ser constructiva.

22

L1 L2 = M 2

(m = ....,-1, 0, 1, 2,...)

(0-17)

Si la diferencia de camino es un numero entero de longitudes de onda mas media longitud de onda, la interferencia sobre la pantalla ser destructiva. Esto puede ser expresado como:
L1 L2 = m 4

(m = nmeros impares)

(0-18)

En la mayora de los casos los frentes de onda de dos haces cuando son recombinados no son planos sino que son frentes de onda esfricos con radio de curvatura grande. El patrn de interferencia para dos frentes de onda de diferente curvatura es una serie de anillos brillantes y oscuros. Sin embargo, la discusin de arriba aun se mantiene para cualquier punto de la pantalla. Usualmente, sin embargo, el centro del patrn es el punto usado para los clculos. En la discusin de arriba, se supuso que el medio entre el divisor de haz y los espejos es aire sin perturbaciones. Si, sin embargo, seguimos la posibilidad de que el ndice de refraccin en esas regiones pueda ser diferente, la ecuacin para las franjas brillantes seria escrita como:
n1 L1 n 2 L2 = m 2

(m = ...., -1, 0, 1, ....)

(0-17-a)

De esta forma, cualquier cambio en el ndice de refraccin en las regiones puede tambin contribuir al patrn de interferencia como vers en el Proyecto # 6.

Fig. 0.18. Interfermetro de Michelson.

23

En el diseo de sistemas pticos, interfermetros tales como el interfermetro de Michelson pueden usarse para medir distancias muy pequeas. Por ejemplo, un movimiento de uno de los espejos por solamente un cuarto de longitud de onda (correspondiente al cambio de la longitud del camino de una media longitud de onda) cambia la irradiancia detectada en la pantalla de un mximo a un mnimo. De esta forma, los dispositivos que contienen interfermetros pueden ser usados para medir movimientos de una fraccin de longitud de onda. Una aplicacin de la interferencia que se ha desarrollado debido a la invencin del lser es la holografa. Esta fascinante materia se explora en un conjunto separado de experimentos en Proyectos en holografa de Newport.

0.4.3. La rejilla de difraccin

Resulta algo confuso el uso del trmino para llamar rejilla de difraccin al artculo bajo discusin. Aunque la difraccin crea en efecto la dispersin de la luz a partir de una serie regular de rendijas cercanamente espaciadas, es la interferencia combinada de los mltiples haces lo que permite a una rejilla de difraccin deflectar y separar la luz. En la Fig. 0.19, una serie de rendijas angostas, cada una de ellas separada de sus rendijas vecinas por una distancia d, es iluminada por una onda plana. Cada rendija es entonces una fuente puntual (en este caso una lnea) en fase con todas las otras rendijas. A algn ngulo d , respecto a la normal a la rendija, la diferencia de camino entre las rendijas vecinas ser (vase la Fig. 0.19): x = dsen( d ) Ocurrir interferencia constructiva a ese ngulo si la diferencia de camino x es igual a un nmero entero de longitudes de onda: m = dsen( d )

(m = entero)

(0-19)

Esta ecuacin, llamada la ecuacin de la rejilla, se mantiene para cualquier longitud de onda. Como cualquier rejilla tiene una separacin entre rendijas constante d, luz de diferentes longitudes de onda ser difractada a diferentes ngulos. Esto explica por qu una rejilla de difraccin puede usarse en lugar de un prisma para separar la luz en sus colores. Debido a que varios enteros pueden satisfacer la ecuacin de la rejilla, hay varios ngulos para los cuales la luz monocromtica ser difractada. Esto ser examinado en el Proyecto # 5. De esta forma, cuando una rejilla es iluminada con luz blanca, la luz ser dispersada en varios espectros correspondientes a los enteros m = ..., 1 , 2 ,..., como se ilustra en la Fig. 0.20(a). Insertando una lente despus de la rejilla, el espectro puede proyectarse sobre una pantalla a una distancia igual a la distancia focal de la lente, Fig. 0.20(b). Estos son llamados los rdenes de la rendija y son etiquetados por el valor de m.

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Fig. 0.19. Difraccin de la luz por una rejilla de difraccin.

Fig. 0.20. Ordenes de difraccin de una rejilla iluminada por luz blanca. (a) Los rayos denotan los lmites superior e inferior de los haces Difractados para los extremos rojo (R) y azul (B) del espectro; (b) espectro producido al enfocar cada haz colimado de longitudes de onda a un punto en el plano focal.

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0.5. Polarizacin
Como los campos elctrico y magntico son cantidades vectoriales, sus magnitudes y direcciones deben ser especificadas, Pero, debido a que esas direcciones de los dos campos son siempre perpendiculares una a la otra en medios no absorbentes, se usa la direccin del campo elctrico de una onda de luz para especificar la direccin de polarizacin de la luz. El tipo y la cantidad de polarizacin pueden ser determinados y modificados a otros tipos de polarizacin. Si entiendes las propiedades de polarizacin de la luz, puedes controlar su cantidad y su direccin a travs del uso de estas propiedades.
0.5.1. Tipos de polarizacin.

La forma de polarizacin de la luz puede ser algo compleja. Sin embargo, para la mayora de las situaciones diseadas hay un nmero limitado de tipos que son necesarios para describir la polarizacin de la luz en un sistema ptico. La Fig. 0.21 muestra el camino trazado por el campo elctrico durante un ciclo completo de oscilacin de la onda ( T = 1 ) para varios de los diferentes tipos de polarizacin, donde es la frecuencia de la luz. La Fig. 0.21(a) muestra polarizacin lineal, donde la orientacin del vector de campo elctrico no cambia con el tiempo mientras que la amplitud del campo oscila de una valor mximo en una direccin, a un valor mximo en la direccin opuesta. La orientacin del campo elctrico se da con respecto a algn eje perpendicular a la direccin de propagacin. En algunos casos, puede ser una direccin en el laboratorio o sistema ptico, y se especifica que es horizontal o verticalmente polarizada o polarizada a algn ngulo respecto a un eje coordenado. Debido a que el campo elctrico es una cantidad vectorial, los campos elctricos se suman como vectores. Por ejemplo, dos campos, Ex y Ey, linealmente polarizados a ngulos rectos uno al otro y oscilando en fase (el mximo para ambas ondas ocurre al mismo tiempo), se combinarn para dar otra onda linealmente polarizada, mostrada en la Fig. 0.21(b), cuya direccin

(tan = E

E x ) y amplitud ( E x + E y ) se encuentran por adicin de las dos componentes. Si


2 2

estos campos estn 90 fuera de fase (el mximo en un campo ocurre cuando el otro campo es cero), el campo elctrico de los campos combinados traza una elipse durante un ciclo, como se muestra en la Fig. 0.21(c). El resultado es llamado luz elpticamente polarizada. La excentricidad de la elipse es la razn de las amplitudes de las dos componentes. Si las dos componentes son iguales, el trazo es un crculo. Esta polarizacin es llamada polarizacin circular. Como la direccin de rotacin del vector depende de las fases relativas de las dos componentes, debe especificarse la orientacin de este tipo de polarizacin. Si el campo elctrico proveniente de una fuente hacia el observador rota en sentido contrario a las manecillas del reloj, se dice que la polarizacin es izquierda. La polarizacin derecha tiene el sentido opuesto, en el mismo sentido que las manecillas del reloj. Esta nomenclatura se aplica tanto a polarizacin elptica como circular. La luz cuya direccin de polarizacin no sigue un patrn simple tal como los descritos aqu algunas veces es llamada luz no polarizada. Esto puede ser algo confuso debido a que el campo tiene una direccin instantnea de polarizacin en todo tiempo, pero puede no ser fcil descubrir qu patrn presenta. Un trmino ms descriptivo es el de luz aleatoriamente polarizada.

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Fig. 0.21 Tres orientaciones especiales de polarizacin: (a) lineal, a lo largo de un eje coordenado: (b) lineal, las componentes a lo largo de ejes coordenados estn en fase ( = 0 ) y de esta forma producen polarizacin lineal; (c) Las mismas componentes, 90 fuera de fase, producen polarizacin elptica.

La luz de la mayora de las fuentes naturales tiene a ser aleatoriamente polarizada. Aunque hay varios mtodos para convertirla a polarizacin lineal, solo cubriremos aquellos que son comnmente usados en el diseo ptico. Un mtodo es la reflexin, debido a que la cantidad de luz reflejada por una superficie inclinada depende de la orientacin de la polarizacin incidente y la normal a la superficie. Una geometra de particular inters es aquella en la que la direccin de propagacin de los rayos reflejado y refractado en una interfase son perpendiculares uno al otro, como se muestra en la Fig. 0.22. En esta orientacin la componente de la luz polarizada paralela al plano de incidencia (el plano que contiene el vector de propagacin incidente y la normal a la superficie, es decir, el plano de la pgina para la Fig. 0.22) es 100% transmitida. No hay reflexin para esta polarizacin en esta geometra. Para la componente de la luz perpendicular al plano de incidencia, hay alguna luz reflejada y el resto es transmitida. El ngulo de incidencia para el cual esto ocurre es llamado ngulo de Brewster, B, y est dado por: tan B = ntrans ninc (0-20)

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Como un ejemplo, para un vidrio, n=1.523 y el ngulo de Brewster es 56.7. La medicin del ngulo de Brewster es parte del Proyecto # 8.

Fig. 0.22. Geometra para el ngulo de Brewster.

Fig. 0.23. Un polarizador de pila de placas, que trabaja Al ngulo de Brewster, refleja alguna porcin de la polarizacin Perpendicular y transmite toda la polarizacin paralela. Despus De algn nmero de transmisiones, la mayoria de la polarizacin Perpendicular ha sido reflejada dejando una componente paralela Altamente polarizada.

Algunas veces solamente se necesita una pequea cantidad de luz polarizada, y la luz reflejada por una sola superficie inclinada al ngulo de Brewster puede ser suficiente para hacer el trabajo. Si se necesita polarizacin casi completa, se puede construir un polarizador lineal apilando varias placas de vidrio (por ejemplo, portaobjetos de microscopio) al ngulo de Brewster respecto a la direccin del haz. Como indica la Fig. 0.23, cada interfase rechaza una pequea cantidad de luz polarizada perpendicular al plano de incidencia. El polarizador de pila de placas descrito es algo voluminoso y tiende a ensuciarse, reduciendo

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su eficiencia. Las pelculas polarizadoras plsticas son ms fciles de usar y montar. Estas pelculas absorben selectivamente mas de una componente de polarizacin y transmiten ms de la otra. El origen de esta seleccin de polarizacin es la alineacin de cadenas lineales de polmeros a las cuales las molculas de yodo que absorben la luz estn fijas. La luz que est polarizada paralelamente a las cadenas es fcilmente absorbida, mientras que la luz polarizada perpendicularmente a las cadenas es transmitida mayormente. Las hojas polarizadoras hechas por Polaroid Corporation son etiquetadas por su tipo y transmisin. Tres polarizadores lineales comunes son HN-22, HN-32 y HN-38, donde el numero que sigue al HN indica el porcentaje de luz incidente no polarizada que es transmitido por el polarizador como luz polarizada. Cuando miras a travs de un cristal de calcita (carbonato de calcio) algo escrito sobre una pgina, ves una doble imagen. Si rotas la calcita, manteniendo su superficie sobre la pgina, una de las imgenes rota con el cristal mientras que la otra permanece fija. Este fenmeno es conocido como doble refraccin (birrefringencia). Si examinamos estas imgenes a travs de una hoja polarizadora, encontramos que cada imagen tiene una polarizacin definida, y estas polarizaciones son perpendiculares una a la otra. El cristal de calcita es uno de una clase completa de cristales que exhiben doble refraccin. La base fsica para este fenmeno esta descrita en detalle en la mayora de los textos de ptica. Para nuestros propsitos es suficiente saber que el cristal tiene un ndice de refraccin que vara con la direccin de propagacin en el cristal y la direccin de polarizacin. El eje ptico del cristal (no hay conexin al eje ptico de una lente o un sistema) es una direccin en el cristal respecto al cual se refieren todas las otras direcciones. La luz cuya componente de polarizacin es perpendicular al eje ptico viaja a travs del cristal como si fuera una pieza ordinaria de vidrio con un solo ndice de refraccin, no. La luz de esta polarizacin es llamada rayo ordinario. El plano que contiene al eje ptico tiene un ndice de refraccin que vara entre no y un valor diferente, ne. El material exhibe un ndice de refraccin ne donde la componente del campo es paralela al eje ptico y la direccin de propagacin de la luz es perpendicular al eje ptico. La luz de esta polarizacin es llamada rayo extraordinario. La accin del cristal sobre la luz de estas dos componentes de polarizacin ortogonales proporciona las dobles imgenes y la polarizacin de la luz por transmisin a travs de cristales. Si una de estas componentes pudiera ser bloqueada o desviada mientras que la otra componente es transmitida por el cristal, puede conseguirse un alto grado de polarizacin. En muchos casos los polarizadores son usados para proporcionar informacin acerca de un material que produce, de alguna manera, un cambio en la forma de la luz polarizada que pasa a travs de l. La configuracin estndar, mostrada en la Fig. 0.24, consiste de una fuente de luz S, un polarizador P, el material M, otro polarizador, llamado analizador A, y un detector D.

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Fig. 0.24 Anlisis de luz polarizada. Usualmente el polarizador es un polarizador lineal, as como el analizador. Algunas veces, sin embargo, se usan polarizadores que producen otros tipos de polarizacin. La cantidad de luz transmitida por un polarizador depende de la polarizacin del haz incidente y la calidad del polarizador. Tomemos, por ejemplo, un polarizador perfecto uno que transmite toda la luz para una polarizacin y rechaza toda la luz de la otra polarizacin. La direccin de polarizacin de la luz transmitida es el eje de polarizacin, o simplemente el eje del polarizador. Como la luz aleatoriamente polarizada no tiene una polarizacin preferente, habra cantidades iguales de luz incidente para dos direcciones de polarizacin ortogonales. De esta forma, un polarizador lineal perfecto tendra una designacin de Polaroid de HN-50, debido a que pasara la mitad de la radiacin incidente y absorbera la otra mita. La fuente en la Fig. 0.24 est aleatoriamente polarizada, y el polarizador pasa luz linealmente polarizada de irradiancia Io. Si el material M, cambia la polarizacin incidente rotndolo un ngulo , cul es la cantidad de luz transmitida a travs de un analizador cuyo eje de transmisin est orientado paralelamente al eje del primer polarizador?. Como el campo elctrico es un vector, podemos descomponerlo en dos componentes, una paralela al eje del analizador, la otra perpendicular a este eje. Esto es

v // + E 0 sene E = E 0 cos e

(0-21)

(Note que las componentes paralela y perpendicular aqu se refieren a su orientacin respecto al eje del analizador y no al plano de incidencia como en el caso del ngulo de Brewster.) El campo transmitido es la componente paralela, y la irradiancia transmitida Itrans es el promedio en el tiempo del cuadrado del campo elctrico
I trans = E 0 cos 2 = E 0
2 2

cos 2 (0-22)

o
I trans = I 0 cos 2

Esta ecuacin, que relaciona la irradiancia de la luz polarizada transmitida a travs de un polarizador perfecto con la irradiancia de la luz polarizada incidente, es llamada la Ley de Malus, por su descubridor, Etienne Malus, un ingeniero del Ejrcito Francs. Para un polarizador no perfecto, I0 debe ser reemplazado por I 0 , donde es la fraccin de la polarizacin preferida transmitida por el polarizador.

0.5.2. Modificadores de la polarizacin.

Adems de servir como polarizadores lineales, los cristales birrefringentes pueden ser usados para cambiar el tipo de polarizacin de un haz de luz. Describiremos el efecto que estos modificadores de polarizacin tienen sobre el haz y dejaremos la explicacin de su operacin a un texto de ptica fsica. En un cristal birrefringente, la luz cuya polarizacin es paralela al eje ptico viaja a una velocidad de c n // ; para una polarizacin perpendicular a esta, la velocidad es c n . En la

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calcita n > n//, y de esta forma la velocidad de la luz polarizada paralelamente al eje ptico, v// es mayor que v. De esta forma, para la calcita, el eje ptico es llamado el eje rpido y un eje perpendicular es el eje lento. En otros cristales n// puede ser mayor que n y la designacin de los ejes rpido y lento debe ser revertida. El primer dispositivo para describir es una placa de cuarto de onda. La palca consiste de un cristal birrefringente de un grosor especfico d, cortado de tal forma que el eje ptico sea paralelo al plano de la placa y perpendicular a la orilla, como se muestra en la Fig. 0.25. la placa esta orientada de tal forma que su plano es perpendicular a la direccin del haz y sus ejes lento y rpido estn a 45 de la direccin polarizada de la luz incidente linealmente polarizada. Debido a esta geometra de 45, la luz incidente es dividida en componentes lenta y rpida de igual amplitud viajando a travs del cristal. La placa es cortada de tal forma que las componentes, que estn en fase al entrar al cristal, viajen a diferentes velocidades a travs de l y salgan en un punto cuando estn 90, o un cuarto de onda, fuera de fase. Esta salida de componentes de igual amplitud, 90 fuera de fase, es entonces luz circularmente polarizada. Puede mostrarse que cuando luz circularmente polarizada es pasada a travs de la misma placa, resulta luz linealmente polarizada. Tambin, debera notarse que si la geometra de entrada de 45 no se mantiene, la salida es elpticamente polarizada. El ngulo entre la direccin de polarizacin de entrada y el eje ptico determina la excentricidad de la elipse. Si un cristal se corta de forma que tenga dos veces el grosor de la placa de cuarto de onda, se tiene una placa de media onda. En este caso, la luz linealmente polarizada a cualquier ngulo con respecto al eje ptico proporciona dos componentes perpendiculares al final 180 fuera de fase despus de pasar a travs del cristal. Esto significa que respecto a una de las polarizaciones, la otra polarizacin est a 180 de su direccin original. Estas componentes pueden ser combinadas, como se muestra en la Fig. 0.26, para dar una resultante cuya direccin ha sido rotada 2 de la polarizacin original. Algunas veces, una placa de media onda es llamada rotador de polarizacin. ste tambin cambia la orientacin de la polarizacin circular de izquierda a derecha o al revs. Esta discusin de placas de onda supone que el grosor del cristal d es correcto solamente para la longitud de onda de la radiacin incidente. En la prctica, hay un rango de longitudes de onda alrededor del valor correcto para el cual estos modificadores de la polarizacin trabajan bastante bien.

Fig. 0.25 Placa de cuarto de onda. Con luz incidente linealmente Polarizada esta placa retarda 90 una componente respecto

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a la otra. Esto produce luz circularmente polarizada. Con otras orientaciones, produce luz elpticamente polarizada.

Fig. 0.26. Placa de media onda. La placa produce una diferencia de fase de 180 entre las componentes de la luz incidente linealmente polarizada. Si la direccin de polarizacin original est a un ngulo , respecto al eje ptico, la polarizacin transmitida est rotada a 2 de la original.

Las placas de onda proporcionan buenos ejemplos del uso de la polarizacin para controlar la luz. Una demostracin especfica que realizars como parte del Proyecto # 9 concierne reduccin de la reflexin. La luz aleatoriamente polarizada es enviada hacia un polarizador y luego hacia una placa de cuarto de onda para crear luz circularmente polarizada, como notamos arriba. Cuando la luz circularmente polarizada es reflejada por una superficie, su orientacin es invertida (derecha para la izquierda o izquierda para la derecha). Cuando la luz pasa a travs de la placa de cuarto de onda por segunda vez, la luz circularmente polarizada de la orientacin opuesta se vuelve luz linealmente polarizada, pero rotada 90 respecto a la polarizacin incidente. Luego de pasar a travs del polarizador lineal por segunda vez, la luz es absorbida. La luz que emana de una superficie reflectora (el monitor de una computadora, por ejemplo) no estar sujeta a esta absorcin y una gran porcin ser transmitida por el polarizador. Una pantalla de computadora anti-reflejante es una aplicacin de estos dispositivos. La luz de una habitacin debe experimentar el paso a travs de una combinacin de polarizador-placa de onda dos veces y es, de esta forma, eliminada, mientras que la luz de la pantalla de una computadora es transmitida a travs de la combinacin solamente una vez y nicamente se reduce su brillo. De esta forma, el contraste de la imagen sobre la pantalla de la computadora es acentuado significativamente usando esta tcnica de polarizacin.

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0.6. Lseres.
La salida de un lser es muy diferente que la mayora de las otras fuentes de luz. Despus de una descripcin del tipo mas simple de haz, el haz de modo gaussiano TEM00 y sus parmetros, veremos los medios de colimacin del haz. Discutiremos el efecto de una construccin de lser sobre su salida y un mtodo mediante el cual sta salida puede medirse.

0.6.1. Caractersticas de un haz gaussiano.

El trmino gaussiano describe la variacin en la irradiancia a lo largo de una lnea perpendicular a la direccin de propagacin y a travs del centro del haz, como se muestra en la Fig. 0.27. La irradiancia es simtrica alrededor del eje del haz y vara radialmente hacia fuera de este eje con la forma

I (r ) = I 0 e 2 r
o en trminos del dimetro del haz

r12

(0-23)

I (d ) = I 0 e 2 d

d12

donde r1 y d1 son las cantidades que definen la extensin radial del haz. Estos valores son, por definicin, el radio y el dimetro del haz donde la irradiancia es 1 e 2 del valor sobre el eje del haz, I0.

0.6.1.1.Cintura y divergencia del haz

La Fig. 0.27 muestra un haz de rayos paralelos. En realidad, un haz Gaussiano cualquiera, diverge a partir de una regin donde el haz es mas pequeo, llamada cintura del haz, o converge a ella, como se muestra en la Fig. 0.28. La cantidad de divergencia o convergencia se mide mediante el ngulo completo de divergencia del haz , que es el ngulo subtendido por los puntos de dimetro 1 e 2 para distancias alejadas de la cintura del haz como se muestra en la Fig. 0.28. en algunos textos y artculos sobre lseres, el ngulo se mide a partir del eje del haz a la asntota 1 e 2 , un medio ngulo. Sin embargo, es el ngulo total de divergencia, como se define aqu, lo que es usualmente dado en las hojas de especificacin de la mayora de los lseres. Debido a la simetra hacia cualquier lado del haz, el ngulo de convergencia es igual al ngulo de divergencia. Nos referiremos a ste ltimo en ambos casos.

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Fig. 0.27. Perfil de un haz gaussiano. Grfica de la Irradiancia contra la distancia radial del eje del haz.

Bajo las leyes de la ptica geomtrica un haz gaussiano que converge con un ngulo de debera colapsar a un punto. Debido a la difraccin, esto no ocurre. Sin embargo, en la interseccin de las asntotas que definen , el haz alcanza un valor mnimo d0, el dimetro de la cintura del haz. Puede mostrarse que para un modo TEM00, d0 depende del ngulo de divergencia como: 4 do = (0-24) donde es la longitud de onda de la radiacin. Note que para un haz Gaussiano de una longitud de onda particular, el producto d 0 es constante. De esta forma, para una cintura de haz muy pequea la divergencia debe ser grande, para un haz altamente colimado ( pequeo), la cintura del haz debe ser grande. La variacin del dimetro del haz en la vecindad de la cintura del haz se muestra en la Fig. 0.28 y est dado por (0-25) d 2 = d 02 + 2 z 2 donde d es el dimetro a una distancia z de la cintura del haz a lo largo del eje del mismo.

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Fig. 0.28. Variacin del dimetro de un haz gaussiano en la Vecindad de la cintura del haz. El tamao del haz en su punto ms Pequeo es d0: el ngulo total de divergencia, definido por las Asntotas ms pequeas para los puntos 1 e 2 a una distancia grande De la cintura del haz es .

0.6.1.2. El Rango de Rayleigh.

Es muy usado caracterizar la extensin de la regin de la cintura del haz con un parmetro llamado el Rango de Rayleigh. (En otras descripciones de los haces Gaussianos esta extensin es algunas veces caracterizada por el parmetro del haz confocal y es igual a dos veces el rango de Rayleigh.) Rescribiendo la Ec. 0-25 como

d = d 0 1 + ( z d 0 )

(0-26)

definimos el Rango de Rayleigh como la distancia de la cintura del haz a donde el dimetro del haz se ha incrementado a d 0 2 . Obviamente esto ocurre cuando el segundo trmino bajo el radical es la unidad, esto es, cuando
z = zR = d0 (0-27)

Aunque la definicin de zR debe parecer algo arbitraria, esta eleccin particular ofrece mas que solo conveniencia. La Fig. 0.29 muestra una grfica del radio de curvatura de los frentes de onda en un haz gaussiano como una funcin de z. Para grandes distancias medidas desde la cintura del haz, los frentes de onda son casi planos, dando valores que tienden a infinito. En la cintura del haz, los frentes de onda son planos tambin, y, de esta forma, el valor absoluto del radio de curvatura de los frentes de onda deben ir desde infinito para grandes distancias hasta un mnimo y regresar a infinito en la cintura del haz. Esto tambin es verdad en el otro lado de la cintura del haz pero con el signo opuesto. Puede mostrarse que el mnimo del valor absoluto del radio de curvatura ocurre cuando z = z R , esto es, a una distancia de un rango de Rayleigh a cualquier

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lado de la cintura del haz. De la Fig. 0.29, la regin colimada de la cintura de un haz Gaussiano puede tomarse como 2 z R .

Fig. 0.29. Grfica del radio de curvatura (R) contra la distancia (z) desde la cintura del haz. El valor absoluto del radio es un mnimo en el punto zR, al rango de Rayleigh. En el lmite de la ptica geomtrica, el radio de curvatura de los frentes de onda sigue la lnea punteada.

El rango de Rayleigh puede ser expresado de varias formas:

zR =

d0

d02 4

(0-28)

De aqu, vemos las tres caractersticas de un haz gaussiano son dependientes unas de las otras. Dada una de las tres cantidades, d0, zR, y la longitud de onda de la radiacin, el comportamiento del haz est completamente descrito. Aqu, por ejemplo, si un lser de helionen tiene un dimetro TEM00 especificado de 1 mm, entonces

= 4 d 0 = (1.27 6.33 10 7 ) (1 10 3 ) = 0.8mrad


y z R = d 0 = (1 10 3 ) (0.8 10 3 ) = 1.25m

El rango de Rayleigh de un lser tpico de helio-nen es considerable.


0.6.2 Colimacin de un haz de lser.

Mediante el uso de lentes, la divergencia, la cintura del haz y el rango de Rayleigh de un haz Gaussiano pueden cambiarse. Sin embargo, de la discusin de arriba, es claro que las relaciones entre los diversos parmetros del haz no pueden ser cambiadas. De esta forma, incrementar la colimacin de un haz reduciendo la divergencia requiere que la cintura del haz se incremente,

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debido a que el producto del dimetro de la cintura y la divergencia es constante. Esto se hace primero creando un haz con una divergencia fuerte y una cintura pequea y luego poniendo la cintura del haz en el punto focal de una lente de distancia focal grande. Esto es, hacer pasar el haz a travs de un telescopio invertido. El lser ir de la lente ocular a la lente objetivo. Hay dos formas de realizar esto. Una es usando un telescopio Galileano, el cual consiste de una lente ocular negativa y una lente objetivo positiva, como se muestra en la Fig. 0.30(a). La luz es divergida por la lente negativa produciendo una cintura de haz virtual y la lente objetivo es colocada a una separacin igual a la suma algebraica de las distancias focales de las lentes para producir un haz ms colimado. Puede mostrarse que el decremento en la divergencia es igual a la divergencia original dividida por la amplificacin del telescopio. La amplificacin del telescopio es igual a la razn entre las distancias focales del objetivo dividida por la del ocular. El segundo mtodo usa un telescopio Kepleriano (Fig. 0.30(b)). La lente ocular es una lente positiva de tal forma que el haz viene a un foco y entonces diverge para ser colimado por la lente objetivo.

Fig. 0.30 Colimacin de un haz gaussiano. (a) Telescopio galileano. (b) Telescopio Kepleriano. Ocular de distancia focal fe; distancia (c) Focal del objetivo, fo.

El Proyecto # 3 demostrar el diseo de estos dos tipos de expansores de haces de lser. Cada uno tiene distintas ventajas. La ventaja del expansor de haz Galileano ocurre para sistemas de lseres de alta potencia o de pulsos. Como el haz no converge a un foco, dentro del camino ptico del expansor de haz, la densidad de potencia del haz decrece. Si las lentes y sus alrededores pueden soportar el haz inicial, podrn soportarlo en cualquier parte del camino ptico. Aunque el expansor de haz Kepleriano puede dar proporciones similares de expansin del haz, la densidad de potencia en el foco de la primera lente es muy grande. De hecho, con una alta potencia, un lser de pulsos puede provocar una turbulencia del aire en el espacio entre las lentes.

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Esta turbulencia es causada por el campo elctrico muy fuerte que resulta de enfocar el haz en un pequeo dimetro creando relmpagos en miniatura. (Muchos investigadores han sido desagradablemente sorprendidos cuando estos relmpagos en miniatura destruyeron algunos equipos pticos muy caros.) La principal ventaja del expansor de haz Kepleriano es que un pinhole de un dimetro ptimo puede ser colocado en el foco de la primera lente para ordenar el haz de lser rechazando la parte de la energa del lser que esta fuera del dimetro del pinhole. Este concepto de filtrado espacialser explorado en el Proyecto # 10.
0.6.3 Modos axiales de un Lser.

Las propiedades de la luz lser incluyen monocromaticidad, baja divergencia (ya explorada en las secciones previas), un alto grado de coherencia, la cual engloba ambas propiedades. Esta seccin es una discusin de la coherencia del lser y un experimento histrico que ilustra uno de los conceptos usando un dispositivo moderno. Una discusin completa del principio de accin del lser tomara una cantidad sustancial de espacio y tiempo para leerse. Para una explicacin del concepto aludimos a las referencias. La base de los lseres es un proceso fsico llamado emisin estimulada. sta aparece como la tercera y cuarta letra de las siglas LSER (Amplificacin de la luz mediante Emisin de Radiacin Estimulada). La amplificacin es solamente el principio del proceso en la mayora de los lseres, debido a que el incremento en la luz mientras pasa a travs de un volumen amplificante es usualmente demasiado modesta. Si la radiacin fuera solamente amplificada durante un solo paso a travs del volumen, debera ser solo marginalmente usada. Sin embargo, cuando se colocan espejos en ambos extremos del medio amplificador, la luz es regresada al medio para obtener amplificacin adicional (Fig. 0.31). La salida til del lser se dirige a uno de los espejos, el cual refleja la mayor parte de la luz, pero transmite una pequea fraccin, usualmente del orden del 5% ( ms del 40% para lseres de alta potencia). El otro espejo es totalmente reflejante. Pero los espejos lser hacen mas que confinar la mayor parte de la luz. Tambin determinan la distribucin de las longitudes de onda que pueden soportar amplificacin en el lser.

Fig. 0.31. La cavidad del lser. La distancia entre los espejos Es un parmetro importante en la salida de un lser.

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Fig. 0.32. Onda estacionaria.

Los espejos sirven como un interfermetro simple pero efectivo, y para solamente ciertas longitudes de onda, exactamente como en el caso del interfermetro de Michelson, habr interferencia constructiva. Los espejos forman una estructura resonante que acumula o soporta solamente ciertas frecuencias. Esto es lo mejor comparado a la resonancia de una cuerda de guitarra en la que la nota que la cuerda produce cuando el tirn est determinado por la longitud de la cuerda. Una nota diferente se obtiene cambiando la posicin del dedo en una cuerda de guitarra. La nota (en realidad, las notas) est determinada por la cantidad de tensin que el guitarrista pone sobre la cuerda y la longitud de sta. Cualquier libro fundamental de fsica mostrar que las condiciones impuestas sobre la cuerda de longitud L producir una nota cuya longitud de onda es tal que un nmero entero de medias longitudes de onda es igual a L,
q 2 = L

(0-29)

En la Fig. 0.32 se muestra una onda estacionaria con tres medias longitudes de onda. En la mayora de los lseres, a menos que se tomen precauciones especiales, varias longitudes de onda satisfarn esta condicin de resonancia. Nos referimos a estas longitudes de onda como modos axiales del lser. Como q 2 = L , donde q es un entero, las longitudes de onda soportadas por el lser son

q = 2 L q

(0-29a)

Las frecuencias de estos modos estn dadas por = c , donde c es la velocidad de la luz. Insertando la expresin para las longitudes de onda, las frecuencias de los modos resonantes estn dadas por

q = q(c 2 L )
donde q es un entero. La frecuencia de separacin entre estos modos axiales es igual a la

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diferencia entre modos cuyos enteros difieren en la unidad: n = q +1 q = (q + 1) c 2 L q c 2 L = c 2 L (0-30)

as, la separacin entre modos vecinos de un lser es constante y depende solamente de la distancia entre los espejos en el lser, como muestra la Fig. 0.33. Como la cantidad de potencia obtenida de lseres pequeos de helio-nen, tales como el usado para los proyectos descritos en este manual, est relacionada con la longitud del lser, la separacin entre espejos est determinada por los constructores para producir la potencia requerida por el lser. Pero la banda de longitudes de onda que puede mantener la emisin estimulada est determinada por la fsica atmica del medio, en este caso el nen. Esta banda no cambia radicalmente para la mayora de los tubos de lser helio-nen. De esta forma, el nmero de modos axiales depende principalmente de la distancia entre los espejos, L. Mientras mas separados estn los espejos, ms cercanas son las frecuencias de los modos axiales. De esta forma, los lseres largos de helionen de alta potencia tienen un gran nmero de modos axiales, mientras que los lseres de potencia moderada usados en el Kit de Proyectos en ptica, tienen un pequeo nmero (usualmente tres) de modos axiales.

Fig. 0.33. Distribucin de los modos de un lser. Grfica De la potencia en la salida de un lser como una funcin de la Frecuencia.

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Fig. 0.34. Salida de un lser de tres modos. La polarizacin Relativa de cada modo est indicada como su base.

Una de las otras relaciones entre los modos vecinos de un lser, adems de su separacin, es que su polarizacin es ortogonal (cruzada) a la de sus vecinos (Fig. 0.34). De esta forma, si examinamos un lser de tres modos con las herramientas apropiadas, esperaramos encontrar que los otros tendran una polarizacin perpendicular. Esto significa que, mientras los modos axiales estn separados en frecuencia por c 2 L , los modos de la misma polarizacin estn separados por c L . Cuando miramos a travs de una rejilla de difraccin en la salida de un lser de tres modos, vemos un solo color. Deben emplearse interfermetros de alta resolucin para exhibir los modos axiales de un lser. Sin embargo, es posible tambin usar un interfermetro de Michelson para investigar los modos sin recurrir a dispositivos de alta resolucin. Esta tcnica tiene aplicaciones especiales en la regin del infrarrojo del espectro.

0.6.4 Coherencia de un lser.


Cuando decimos que algo es coherente en la vida diaria, usualmente significa que ste, una pintura, una pieza musical, un plan de accin, tiene sentido. Que es consistente. Est en este concepto la idea de consistencia y predecibilidad. El juicio de lo que es coherente, sin embargo, es una prueba individual. Lo que una persona puede encontrar coherente en la msica heavymetal, otra persona lo escuchara en blues.... Este concepto de coherencia como una forma predecible o consistente de alguna idea o de algn trabajo de arte tiene con mucho el mismo significado cuando se aplica a las fuentes de luz. Qu tan consistente es un campo de luz de un punto a otro? Cmo se hace la comparacin? La interferencia del haz de luz consigo mismo hace la comparacin. Si hay una relacin constante entre un punto en un haz de lser y otro

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punto, entonces la interferencia de ondas separadas por esa distancia producir un patrn de interferencia estable. Si, sin embargo, la amplitud, la fase o la longitud de onda cambia entre esos dos puntos, la interferencia, mientras est aun siempre presente, variar constantemente con el tiempo. Este patrn de interferencia inestable puede aun exhibir franjas, pero estas franjas se borrarn. Esta prdida de visibilidad de las franjas como una funcin de la distancia entre los puntos de comparacin es la medida de la coherencia de la luz. Esta visibilidad puede ser medida por el contraste de las franjas de interferencia. El contraste est definido por C= I mx I mn I mx + I mn (0-31)

donde Imx es la irradiancia de las franjas brillantes e Imin es la irradiancia de las franjas oscuras (Fig. 0.35). Este contraste est determinado por el paso de la luz desde la fuente a travs de un interfermetro de brazos desiguales. Cambiando la diferencia de longitud de camino entre los brazos en el interfermetro, puede registrarse la visibilidad de las franjas como una funcin de esta diferencia. A partir de estas observaciones, puede hacerse la medicin de la coherencia de una puente usando un interfermetro de Michelson.

Fig. 0.35. Contraste

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Fig. 0.36. Funcin de visibilidad.

Si una fuente fuera absolutamente monocromtica, no habra expansin en frecuencias en su espectro. Esto es, el ancho de su banda de frecuencias sera cero. Para que esto sea verdadero, todas las partes de la onda exhiben la misma dependencia senoidal desde un extremo de la onda hasta el otro. De esta forma, una onda realmente monocromtica nunca mostrara alguna falta de contraste en las franjas, sin importar qu tan grande se haga la diferencia de longitud de camino. Pero todas las fuentes, an los lseres contienen una distribucin de longitudes de onda. Por consiguiente, mientras se incrementa la diferencia de longitud de camino, el frente de onda en un punto sobre el haz se sale de fase con otro punto sobre el haz. Una medida de la distancia a la cual esto ocurre es la longitud de coherencia lc de un lser. Esta est relacionada al ancho de la banda de frecuencias de un lser por = c l c (0-32)

Cualquier medicin de la longitud de coherencia de una fuente de luz por observacin de la visibilidad de las franjas de un interfermetro de Michelson dar informacin sobre el ancho de banda de esa fuente y, por consiguiente, de su coherencia. Por ejemplo, supongamos que la fuente es un lser con algn ensanchamiento. Mientras la longitud de uno de los brazos en un interfermetro de Michelson, como se muestra en la Fig. 0.36 se vuelve desigual (el espejo se mueve de A a B), una de las partes de una onda interferir con otra parte que sea atrasada en un tiempo igual a la diferencia en la longitud de camino dividida por la velocidad de la luz. Eventualmente las ondas comienzan a salirse del paso y el contraste de las franjas comienza a disminuir por causa de que las relaciones de fase entre las dos ondas est variando ligeramente debido al ensanchamiento en frecuencias en la luz. Mientras mayor sea el ensanchamiento del

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haz, mas rpidamente la visibilidad de las franjas ir a cero. Un caso particularmente interesante consiste de una fuente con solamente unos cuantos modos presentes como es el caso del lser de helio-nen de tres modos discutido arriba. Debido a que solamente luz de la misma polarizacin puede interferir, habr dos modos (1,3) en el lser que pueden interferir el uno con el otro. El tercer modo (2) con polarizacin ortogonal es usualmente eliminado pasando la salida del lser a travs de un polarizador. Con los espejos del interfermetro colocados a igual longitud de camino hay dos conjuntos de franjas, una de cada uno de los modos. Como la diferencia de longitud de camino es cero, estos dos conjuntos de franjas de alto contraste se superponen uno al otro. Pero cuando la longitud de camino se incrementa, las franjas comienzan a irse fuera del paso. Hasta que, finalmente, el mximo de interferencia de uno de los conjuntos de franjas se superpone al mnimo de interferencia del otro conjunto de franjas y el contraste va a cero. El clculo de esta condicin es realmente simple. La condicin para un mximo de interferencia est dada por L1 L2 = m 2 y para un mnimo de interferencia por
L1 L2 = m 4

m = un entero

(0-33)

m = enteros impares

(0-34)

Si suponemos que el cambio en la longitud de camino va de cero al punto donde la visibilidad va a cero primero, entonces para una longitud de onda, 1, L1 L2 = m 1 2 m = un entero (0-35)

y para el otro modo con la misma polarizacin hay un mnimo. L1 L2 = m 3 2 + 3 4 Igualando esas dos expresiones y rearreglando trminos, obtenemos m1 2 m 3 2 = m (1 3 ) 2 = 3 4 o m = 3 2 (0-35) (0-35)

La separacin en las longitudes de onda puede ser expresada como una separacin en las frecuencias por = (0-36)

donde y son los valores promedio en los intervalos y . Insertando esta expresin para , obtenemos = 2 m (0-37)

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El entero m es un nmero extremadamente grande en la mayora de los casos y no es fcilmente determinado, pero est relacionado con el valor promedio de la longitud de onda de la fuente por L1 L2 = m 1 2 . Si colocamos L = L1 L2 , resolvemos para m e insertamos la expresin para , = 2m = 4L = c 4L debido a que = c . De esta forma, la separacin en frecuencias entre modos puede ser medida determinando la diferencia de longitud de camino cuando los dos patrones de franjas de interferencia estn fuera del paso con algn otro, causando que la visibilidad vaya a cero, como se describe en la Fig. 0.37. Puede demostrarse tambin que hay mnimos adicionales en la visibilidad en = 3c 4L , 5c 4L , etc. El mximo de visibilidad ocurre a medio camino entre estos mnimos mientras los dos patrones de franjas regresan al paso. En el Proyecto # 7, este efectote har capaz de determinar la separacin de los modos para el lser usado en estos proyectos. Lo que se ha derivado aqu es un caso simple de muchos ms implicados en la aplicacin de esta tcnica. Es posible medir el contraste de las franjas como una funcin de la posicin del espejo (llamado interferograma) y almacenarlo en la memoria de una computadora. Se ha mostrado que una transformacin matemtica (la misma Transformada de Fourier que discutiremos en la siguiente seccin) de la funcin de visibilidad da el espectro de frecuencias de la fuente. Mientras que esto puede quiz parecer difcil, la llegada de poderosas computadoras ha reducido el costo e incrementado la utilidad de esta tcnica, particularmente en la parte del infrarrojo lejano del espectro. Estos instrumentos son conocidos como espectrmetros de la transformada de Fourier. (0-38)

Fig. 0.37. Funcin de visibilidad para sistema de dos modos.

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Fig. 0.38. Ordenes de difraccin.

0.7 Teora de Abbe de Formacin de Imgenes.


La discusin anterior de la formacin de imgenes dependa del trazo de una serie de rayos para determinar la posicin y el tamao de la imagen. Mostramos que solamente necesitamos unos cuantos rayos. Esta aproximacin ignora las posibilidades de que la fuente pudiera ser monocromtica y suficientemente coherente como para que los efectos de la interferencia y la difraccin puedan tomar parte en la formacin de una imagen. Lo que describiremos y demostraremos despus en el Proyecto # 10, es que despus de que la luz que formar una imanen ha pasado por la lente, podemos intervenir y cambiar la imagen en muchas formas especiales. Se ha encontrado que esta aproximacin de la formacin de imgenes se usa en muchas aplicaciones de la ptica moderna. Para empezar a entender este concepto, necesitamos revisar brevemente la rejilla de difraccin discutida en la Seccin 0.4.3, debido a que la rejilla es una de las ilustraciones ms simples de esta nueva forma de pensar acerca de la formacin de imgenes. Consideremos una rejilla de difraccin que consiste de una serie de bandas angostas absorbentes y transmitentes (negras y blancas) igualmente espaciadas. Es posible determinar matemticamente no solamente las direcciones de los rdenes de difraccin sen m = m d m = nm. Entero (0-39)

sino tambin las irradiancias relativas de las manchas difractadas de unas a otras. Si insertamos una lente despus de la rejilla de difraccin, podemos trasladar los rdenes de la rejilla de difraccin desde infinito hasta el plano focal posterior de la lente (Fig. 0.38). Veremos cmo puede usarse esto para entender la formacin de imgenes.

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0.7.1 Frecuencias espaciales.


Hemos usado la idea de las repeticiones en el tiempo. Las fuentes de seales elctricas y de audio, particularmente cuando estn relacionadas al sonido son usadas para probar la respuesta del equipo. Un buen sistema de alta fidelidad reproducir un ancho rango de frecuencias desde los graves profundos alrededor de 20 Hz (ciclos por segundo), esto es, tanto como para escucharse, hasta lo que es casi imposible de escuchar, 15,000 Hz, dependiendo de que tan bien hayas tratado tus odos durante tu vida. Como se not anteriormente, la frecuencia del campo electromagntico determina si la radiacin es visible para los ojos. Otra vez, esta variacin peridica en el campo elctrico toma lugar en el tiempo. As como es posible hablar de la variacin de las ondas elctricas y del sonido con el tiempo, en ptica, las variaciones en el espacio pueden ser expresadas como frecuencias espaciales. stas se expresan usualmente en ciclos/mm (o mm-1). Ellas indican la rapidez con la que un objeto o imagen vara en el espacio en vez del tiempo. Un ejemplo que muestra varias frecuencias espaciales est dado en la Fig. 0.39.

Como en el caso de muchas seales elctricas y de sonido, la mayora de los patrones espaciales repetitivos no consisten de una sola frecuencia, sino que, como un acorde musical, estn formadas por alguna frecuencia fundamental mas sus sobre-tonos o armnicas. La discusin de las frecuencias espaciales en ptica esta basada en una interesante, pero relativamente complicada matemtica. Podras querer leer esta seccin de una vez, para adquirir las ideas generales y entonces regresar despus de que hayas hecho el Proyecto # 10. ciertamente, el caso aqu es una caso donde el trabajo tcnico mejorar tu entendimiento de la discusin del tema.

Fig. 0.39. Frecuencias espaciales en un objeto.

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Fig. 0.40. Rejilla senoidal contra rejilla blanco y negro. (Anlisis de Fourier).

Un ejemplo de un objeto con pocas frecuencias espaciales es la rejilla de difraccin. Si la rejilla ya discutida consiste de una variacin senoidal, como se muestra en la Fig. 0.40(a), habra solamente un orden cero y los primero rdenes (m = 1 ). Como los patrones repetitivos se desvan del comportamiento senoidal, aparecen rdenes adicionales de difraccin y en el caso de rejillas blanco y negro, est presente una serie completa de rdenes de difraccin (Fig. 0.40(b)). Todo esto puede ser expresado matemticamente en trminos de la Teora de Fourier. Nosotros no nos ocuparemos de la expresin matemtica de la teora, sino solamente de expresar grficamente el resultado tan simplemente como sea posible. Cualquier funcin peridica (repetitiva) puede ser expresada como una serie de funciones seno y coseno que consiste de la frecuencia peridica fundamental (f ) y sus armnicas (aquellas frecuencias que son mltiplos de la frecuencia fundamental, f (2f, 3f, ...)). La cantidad con la que cada frecuencia contribuye a la frecuencia original puede calcularse usando algunas expresiones estndar del clculo integral. La descomposicin del patrn peridico en sus armnicas se denomina Anlisis de Fourier. Este anlisis determina la amplitud de cada contribucin de las armnicas a la funcin original y su fase relativa a la fundamental (en fase o 180 fuera de fase). El procedimiento puede ser invertido, en cierto sentido. Si un patrn de la frecuencia fundamental es combinado con las cantidades apropiadas de las armnicas, es posible aproximar cualquier funcin con una frecuencia de repeticin de la fundamental. Este proceso se denomina Sntesis de Fourier. Para sintetizar completamente una funcin tal como nuestro ejemplo de una rejilla alternante blanco y negro, se necesitara un nmero infinito de armnicas. Si solamente se usan frecuencias por arriba de algn valor especfico, la funcin sintetizada se parecer a la 48

funcin que queremos, pero sus orillas no estarn tan bien definidas como en la original. Un ejemplo simple (Fig. 0.41) usando solo una fundamental y dos armnicas muestra el principio de la sntesis de una funcin de onda cuadrada, similar a nuestra rejilla blanco y negro. Lo que t investigars en el Proyecto # 10 son tcnicas pticas que usan anlisis y sntesis de Fourier en la creacin de imgenes.

Fig. 0.41. Sntesis de Fourier.

0.7.2 Formacin de imgenes.


Si la rejilla blanco y negro es iluminada con ondas planas de luz monocromtica, varios rdenes de difraccin sern generados por la rejilla. Estos haces de ondas planas difractados a diferentes ngulos dados por la Ec. 0-39, pueden ser enfocados con una lente colocada detrs de la rejilla de difraccin, como muestra la Fig. 0.42. Los puntos enfocados tienen intensidades que son proporcionales al cuadrado de las amplitudes que podramos calcular para esta rejilla de difraccin. En efecto, la combinacin de lser mas lente sirve como una analizador ptico de Fourier para un objeto difractor. Cuando un haz de lser ilumina una rejilla, la luz se difractar y el espectro de frecuencias espaciales ser desplegado en el plano focal posterior de la lente. Esto resulta as an si el objeto no es una rejilla o una serie de lneas con un nmero de espaciamientos repetitivos, el patrn de luz en el plano focal posterior an describe el contenido de frecuencias espaciales encontradas en el objeto. Los objetos que son grandes y que varan suavemente en su sombreado representan bajas frecuencias espaciales y no difractarn mucho el haz. Sus contribuciones, por consiguiente, estn cerca del eje ptico de la lente. Los objetos pequeos o que tienen detalles finos y orillas puntiagudas causarn difraccin sustancial y sus contribuciones sern encontradas ms lejos del eje ptico en el plano focal posterior de la lente. Supongamos que usamos como objeto una malla cuadrada de alambre. sta es un par de rejillas cruzadas solo que un poco mas burdas que la discutida anteriormente (Fig. 0.42). Cuando esta

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rejilla cuadrada es iluminada por un haz de lser, los rdenes de difraccin son enfocados a una serie de puntos en la parte posterior del plano focal de la lente y las frecuencias espaciales forman una rejilla bidimensional de puntos. La separacin entre los puntos est determinada por la distancia entre alambres vecinos, representando la constante de la rejilla para esta rejilla rudimentaria. Si la lente est a mas de una distancia focal de la rejilla, entonces en alguna parte mas alldel plano de la transformada de Fourier, se formar una imagen real de la rejilla. La geometra est mostrada en la Fig. 0.43. el punto de inters de este arreglo es que la imagen puede entenderse como una distribucin de luz que surge de la interferencia de la luz desde las componentes de la frecuencia espacial del objeto colocado en el plano focal posterior de la lente. En otras palabras, la imagen es una sntesis de Fourier de las frecuencias espaciales en la rejilla. Esta imagen puede pensarse como un proceso de dos pasos: el anlisis de Fourier seguido de la sntesis de Fourier. Esta aproximacin para analizar imgenes fue primero propuesta por Ernst Abbe, un catedrtico de la Universidad de Jena, que fue contratado por Carl Zeiss para entender y disear lentes de microscopio. Despus de algunos estudios uno ve que mientras mayor sea el ngulo con el que la lente formadora de imgenes colecta la luz, mayor es la resolucin posible , debido a que las componentes ms altas de las frecuencias espaciales aparecen alejadas del eje. Aunque muy poca luz es colectada cerca de la orilla de la lente, es esta luz la que contribuye a los detalles finos en imgenes de alta resolucin.

0.7.3 Filtraje espacial.


Debido a que la luz en el plano de la transformada de Fourier (Fig. 0.43) est arreglada de acuerdo al incremento de la frecuencia espacial con el radio, entonces cualquier intervencin en este plano en la forma de un obstculo cambiar la distribucin de frecuencias espaciales en el plano. Tambin cambiar el contenido de la imagen, pero en una forma predecible. El procedimiento de modificar una imagen cambiando las frecuencias espaciales contenidas en ella es llamado filtraje espacial. Un ejemplo de tal procedimiento es el filtraje espacial de una transparencia de una pantalla de televisin. La transformada de Fourier de la transparencia, parece mas bien un parche en el centro de la diapositiva y una serie de puntos igualmente espaciados arreglados en una lnea vertical. Estos puntos representan una caracterstica peridica como de rejilla en la diapositiva. Esta rejilla es debida a una serie de lneas paralelas, llamada raster que es usada para construir una imagen sobre la pantalla de televisin. El haz de electrones que escribe sobre el frente del tubo en una TV, funciona como una serie de lneas paralelas. Encendiendo y apagando el haz como barriendo la pantalla y bajndolo un poco en cada paso, el circuito construye una imagen en el tubo. Si miras de cerca una pantalla de televisin puedes ver el raster. Si los puntos representan el raster dnde est el resto de la imagen? Reside en el parche en el centro del haz. Este proceso de anlisis y sntesis para formar imgenes ser demostrado como uno de los experimentos en el Proyecto # 10.

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Fig. 0.43. Teora de Abbe de Formacin de Imgenes.

Fig. 0.44. Filtraje espacial.

Hay diversas aplicaciones que estn basadas en esta aproximacin de formacin de imgenes. Una de ellas limpia un haz de lser. La distribucin de irradiancia del haz en muchos lseres es Gaussiana (Seccin 0.6.1) tal como sale en el espejo de salida del lser. Sin embargo, el polvo y las pequeas imperfecciones en la lente, ventanas y superficies que atraviesa o sobre las que se refleja pueden producir irregularidades en el patrn de irradiancia. La distribucin Gaussiana representa una variacin de las bajas frecuencias espaciales en el haz, mientras que las irregularidades contienen altas frecuencias espaciales. Cuando el haz de lser es enfocado con un objetivo de microscopio, como se muestra en la Fig. 0.44, estas variaciones estn arregladas de acuerdo a sus frecuencias espaciales. Si un pequeo pinhole, cuyo dimetro sea lo suficientemente grande para pasar la porcin Gaussiana de baja frecuencia del haz y bloquear la parte de alta frecuencia, las irregularidades sern removidas del haz emergente y resultar un lser limpio. Otra aplicacin implica el uso de frecuencias espaciales para reconocimiento de objetos. En algunas reas de examinacin fotogrfica, la cantidad de datos para analizar es enorme.

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Proporcionada una caracterstica de inters que tiene un conjunto particular de frecuencias espaciales conectado con ella (espaciamiento entre vas en el caso de ferrocarriles, por ejemplo), la combinacin de lser y lente puede usarse para reconocer la posible presencia de estas caractersticas en la fotografa. Otras aplicaciones incluyen inspeccin de productos, tales como las puntas de agujas hipodrmicas. El patrn de frecuencia espacial promedio para un gran numero de agujas buenas es almacenado en una memoria de computadora. Entonces el patrn de cada nueva punta es comparado con l. Aquellas agujas que no satisfacen el patrn almacenado dentro de cierto criterio son rechazadas. Como la posicin de la punta no afecta el patrn de frecuencia espacial, la prueba es insensible a errores de colocacin, mientras que una inspeccin directa de la imagen de la punta de la aguja tendra que localizarse con un alto grado de precisin.

0.8 Referencias
Elements of Modern Optical Design, Donald C. OShea J. Wiley & Sons, Inc., 1985 Optics (2a. Edicin), E. Hecht Adisson Wesley Fundamentals of Optics, F. Jenkins y H. White McGraw-Hill, 1957 Contemporary Optics for Scientists and Engineers, Nussbaum Prentice-Hall, inc. 1976 The Optics Problem Solver Research and Education Association, 1986

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ENSAMBLE DE COMPONENTES
Todos los experimentos de este kit usan un nmero de ensambles de componentes similares. Para simplificar el procedimiento de arreglo experimental hemos incluido una seccin sobre la construccin de estos ensambles. Esta seccin de componentes contiene esquemas de cada ensamble e instrucciones fciles de entender. Las partes estn etiquetadas con una sola letra en las instrucciones. El nmero de catlogo de Newport que aparece sobre algunos de los artculos est enlistado enseguida de la parte etiquetada. Los nmeros de catlogo entre parntesis denotan versiones mtricas del mismo artculo.

Alineacin de Componentes
Todos los ensambles, excepto el ensamble de lentes (LCA), pueden atornillarse a la cubierta ptica. La alineacin de muchas de las componentes se hace ms simple dirigiendo los caminos pticos a lo largo de los agujeros para tornillos sobre la superficie. Para ajustar la altura o alineacin de un componente, rota el ensamble en el sujetador de poste y vuelve a fijar el poste dentro del sujetador. En varios de los experimentos posteriores, notars que hay algunos ensambles estndar en las mismas posiciones. Una geometra en particular que se usa para todos los experimentos despus del Proyecto # 3, tiene forma de U: un brazo consiste de un ensamble de lser (LA) y un ensamble dirigidor de haz (BSA-I). El lado de la U est entre este BSA-I y un segundo BSA-I. En algunos experimentos se encuentra un expansor de haz, descrito y construido en el Proyecto # 3, dentro del brazo entre los dos ensambles dirigidores de haz. El tercer brazo consiste de cualquier nmero de componentes que son especficos al experimento en particular. Si los experimentos se hacen en orden, entonces debera ser posible construir la geometra bsica en forma de U, LA ms dos BSA-I, y conducir el balance de los experimentos sin tener que desmontarlo despus de cada conjunto de experimentos.

UNA NOTA SOBRE EL MANIPULACION OPTICA


Cuando manipules componentes pticos, trata las superficies de lentes y espejos con cuidado. Nunca toques estas superficies. Si hay paos para lentes o cubiertas para dedos disponibles, salas para proteger las superficies de los aceites de tus dedos y la contaminacin. Si no hay, maneja las componentes por sus orillas. Ensambla las componentes sobre una superficie plana. (No levantes las componentes sobre la mesa mas de lo necesario).

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Ensamble Dirigidor de Haz: (BSA-I)*


Este ensamble consiste en: Parte A B C D E F AA BB CC No. De Catlogo 10R08ER.1 MM-1H (M-MM-1H) MM-1 (M-MM-1) COR-1 SP-3 (M-SP-3) VPH-2 (M-VPH-2) 8-32 (M4) - 20 (M6) 8-32 (M4) Cantidad 1 1 1 1 1 1 2 1 1 Descripcin Espejo de 1 plg. Sujetador de Espejo Montura de espejo, ajustable Barra de Centro de Rotacin Poste, 3 plg. Sujetador de poste, 2 plg. Tornillos de cabeza Tornillos de cabeza Tornillo

1. Coloca el espejo de una pulgada (A) en su sujetador (B). Si el espejo parece estar chueco, coloca algunas hojas de pauelo para lentes sobre l a mesa y cuidadosamente coloca el sujetador y es espejo sobre ellas con el espejo hacia abajo. Empuja hacia abajo hasta que el fondo del espejo entre en el sujetador.. No muevas el espejo de lado a lado o puedes provocar severos daos sobre la cubierta del espejo.2. Pon el sujetador de espejo (B) en la montura ajustable para espejo (C). Asegura el sujetador de espejo en la montura usando el tornillo (CC) en su lado. No lo forces con mas de la fuerza de un dedo. 3. Usa uno de los dos tornillos de cabeza 8-32 (AA) para sujetar la barra (D) que coloca la orilla del espejo sobre el centro del poste (E). Puedes necesitar primero remover el tornillo que viene con el poste (E). Guarda este tornillo. 4. Usa el segundo tornillo de cabeza 8-32 para fijar el ensamble de espejo (A-B-C) al otro agujero en la barra (D). 5. Inserta un tornillo de - 20 (BB) en el sujetador de poste (F) desde adentro, coloca el sujetador sobre un agujero en la cubierta ptica donde vaya a localizarse el ensamble y apritalo. 6. Coloca el ensamble (A-B-C-D-E) en el sujetador F y apritalo lo suficiente como para mantenerlos unidos. NOTA: Para algunos ensambles, el sujetador de poste no est sujeto directamente a la cubierta ptica, sino que el tornillo (BB) se inserta a travs de una base (K) desde el fondo. Esto da una base al ensamble y le permite moverse en la mesa.

BSA: Del ingles Beam Steering Assembly

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Ensamble dirigidor de haz (BSA-I)

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Ensamble Dirigidor de Haz Modificado (BSA-II)*


Este ensamble consiste en: Parte C E F R BB CC No. De Catlogo MM-1 (M-MM-1) SP-3 (M-SP-3) VPH-2 (M-VPH-2) RSP-1T - 20 (M6) 8-32 (M4) Cantidad 1 1 1 1 1 1 Descripcin Montura de espejo Poste, 3 plg. Sujetador de poste, 2 plg. Plataforma de Rotacin Tornillos de cabeza Tornillo

Esta versin modificada del ensamble dirigidor de haz, consiste de una montura ajustable para espejo (C) cuya superficie es montada perpendicular al poste (E) con un tornillo 8-32 (CC), como se muestra. El sujetador de poste est sujeto al centro de la plataforma de rotacin (R).

BSA: Del ingles Beam Steerign Assembly

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Ensamble dirigidor de haz modificado (BSA-II)

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Ensamble Dirigidor de Haz Modificado: (BSA-III)*


Este ensamble consiste de: Parte A B C E F H AA CC DD No. De Catlogo 10R08ER.1 MM-1H (M-MM-1H) MM-1 (M-MM-1) SP-3 (M-SP-3) VPH-2 (M-VPH-2) CA-2 (M-CA-2) 8-32 (M4) 8-32 (M4) 8-32 (M4) Cantidad 1 1 1 1 1 1 2 1 1 Descripcin Espejo de 1 plg. Sujetador de Espejo Montura de espejo, ajustable Poste, 3 plg. Sujetador de poste, 2 plg. Sujetador de ngulo variable Tornillos de cabeza Tornillo Tornillo

1. Coloca el espejo de una pulgada (A) en su sujetador (B). Si el espejo parece estar chueco, coloca algunas hojas de pauelo para lentes sobre l a mesa y cuidadosamente coloca el sujetador y es espejo sobre ellas con el espejo hacia abajo. Empuja hacia abajo hasta que el fondo del espejo entre en el sujetador.. No muevas el espejo de lado a lado o puedes provocar severos daos sobre la cubierta del espejo.2. Pon el sujetador de espejo (B) en la montura ajustable para espejo (C). Asegura el sujetador de espejo en la montura usando el tornillo (CC) en su lado. No lo forces con mas de la fuerza de un dedo. 3. Inserta un tornillo 8-32 (DD) en un poste. Atornilla la montura para espejo (C) sobre l. 4. Inserta esta combinacin de montura para espejo-poste (E-A-B-C) en el sujetador de ngulo variable (H) en el agujero ms lejano de la perilla. Inserta un segundo poste (E) en el agujero que queda en el sujetador de ngulo variable (H). Suavemente aprieta la perilla para mantener los dos postes en su lugar. 5. Inserta un tornillo de cabeza de -20 (BB) en el sujetador de poste (F) desde su interior, coloca el sujetador sobre el agujero en la cubierta ptica donde el ensamble vaya a estar localizado y aprieta hasta que el tornillo quede al fondo del sujetador (F). 6. Inserta el ensamble de poste (E-A-B-C-H-E) en el sujetador de poste y suavemente aprieta el tornillo para mantener el ensamble unido. Se intenta que esta versin del ensamble dirigidor de haz est fijo en un lugar y el movimiento del objetivo se haga cambiando la longitud y direccin de los postes (E) en el sujetador de ngulo variable (H).

BSA: Del ingles Beam Steering Assembly

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Ensamble dirigidor de haz modificado (BSA-III)

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Ensamble de Objetivo (TA-I)*


Este ensamble consiste de:

Parte E F G H BB DD

No. De Catlogo SP-3 (M-SP-3) VPH-2 (M-VPH-2) FC-1 (M-FC-1) CA-2 (M-CA-2) - 20 (M6) 8-32 (M4)

Cantidad 1 1 1 1 1 1

Descripcin Poste, 3 plg. Sujetador de poste, 2 plg. Sujetador de filtro Sujetador de ngulo variable Tornillos de cabeza Tornillo

1. Inserta el tornillo 8-32 (DD) en un extremo del poste (E). Atornilla el sujetador de filtro (G) en este tornillo 8-32. 2. Inserta esta combinacin de poste y sujetador de filtro (E-G) en un sujetador de ngulo variable (H). 3. Inserta un tornillo de cabeza de -20 (BB) en el sujetador de poste (F) desde el interior, colcalo sobre el agujero en la cubierta ptica donde el ensamble vaya a estar colocado y aprieta hasta que el tornillo toque el fondo de (F). 4. Inserta el ensamble (E-G-H-E) en el sujetador de poste (F) y aprieta suavemente el tornillo para mantener el ensamble unido.

Se intenta que esta versin del ensamble de objetivo (blanco) est fijo en un lugar y el movimiento del objetivo se haga cambiando la longitud y direccin de los postes (E) en el sujetador de ngulo variable.

TA: Del ingls Target Assembly

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Ensamble de objetivo (TA-I)

Ensamble de Objetivo Modificado (TA-II)*


Este ensamble consiste de: Parte E F G K BB DD
*

No. De Catlogo SP-3 (M-SP-3) VPH-2 (M-VPH-2) FC-1 (M-FC-1) B-2 (M-B-2) - 20 (M6) 8-32 (M4)

Cantidad 1 1 1 1 1 1

Descripcin Poste, 3 plg. Sujetador de poste, 2 plg. Sujetador de filtro Base plana Tornillos de cabeza Tornillo

TA: Del ingls Target Assembly

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Un ensamble modificado no usa el sujetador de ngulo variable (H) y consiste de la combinacin filtro-poste (E-G) montado directamente en el sujetador de poste (F) y una base plana (K) con los tornillos de -20 y los tornillos de cabeza (BB). No se intenta que este ensamble est fijo en la cubierta ptica, sino que se mueva sobre la base (K).

Ensamble de objetivo modificado (TA-II)

Ensamble de Lentes (LCA)*


Este ensamble consiste en:

LCA: Del ingls Lenses Chuck Asembly

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Parte E F J K BB CC

No. De Catlogo SP-3 (M-SP-3) VPH-2 (M-VPH-2) AC-1 (M-AC-1) B-2 (M-B-2) - 20 (M6) 8-32 (M4)

Cantidad 1 1 1 1 1 1

Descripcin Poste, 3 plg. Sujetador de poste, 2 plg. Montura para lentes Base plana Tornillos de cabeza Tornillo

1. Inserta el tornillo (CC) en la base de la montura para lentes (J). 2. Atornilla el poste (E) en el tornillo (CC) fijo a la base de la montura para lentes. Aprieta el poste firmemente. 3. Coloca el sujetador (F) sobre el agujero central de la base plana (K), inserta un tornillo -20 a travs de la base y aprieta hasta que el tornillo se fije en el sujetador (F). 4. Inserta la combinacin de montura para lente-poste (E-J) en el sujetador de poste (F) y aprieta la perilla para mantener el ensamble unido.

No se pretende que este ensamble est fijo a la cubierta ptica, sino que se mueva sobre ella.

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Ensamble de lentes (LCA)

Ensamble de Plataforma de Rotacin (RSA-I)*


Este ensamble consiste en:

Parte
*

No. De Catlogo

Cantidad Descripcin

RSA: Del ingls Rotation Stage Assembly

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E F R BB CC

SP-3 (M-SP-3) VPH-2 (M-VPH-2) RSP-1 - 20 (M6) 8-32 (M4)

1 1 1 1 1

Poste, 3 plg. Sujetador de poste, 2 plg. Plataforma de Rotacin Tornillos de cabeza Tornillo

Este ensamble ser usado en dos versiones ligeramente diferentes. El tipo RSA-1 tendr una plataforma de rotacin (R) montada de tal forma que la apertura de 1 plg. sea perpendicular a la superficie de la cubierta ptica. 1. Inserta el tornillo (CC) en el poste (E). Deja aproximadamente de plg saliendo del poste. 2. En uno de los agujeros en el centro del lado angosto, atornilla la plataforma de rotacin (R) en el tornillo (CC) del poste (E). 3. Inserta un tornillo de cabeza de -20 (BB) dentro de un sujetador de poste (F), coloca el sujetador sobre el agujero de la cubierta ptica donde el ensamble vaya a estar colocado y apritalo. 4. Inserta el ensamble poste-plataforma de rotacin (E-R) en el sujetador de poste (F) y aprieta la perilla para mantener el ensamble en su lugar.

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Ensamble de Plataforma de Rotacin (RSA-I)

Ensamble de lser (LA)*


Este ensamble consiste en:

Parte M N P Q BB

No. De Catlogo 41 (M-41) 340-RC (M-340-RP) ULM U-1301 - 20 (M6)

Cantidad 1 1 1 1 1

Descripcin Barra de 7 plg. Abrazadera Montura para lser de 1 plg Lser de He-Ne Tornillos de cabeza

LA: Del ingls Laser Assembly

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Advertencia

El lser He-Ne puede causar daos permanentes a tu visin. Nunca mires directamente dentro del tubo de lser o por reflexin producida por una superficie reflectora. No uses anillos u otro tipo de joyera brillante cuando trabajes con laceres. Usa solamente reflectores difusos (tarjetas blancas de 3 x 5) para ver el haz de He-Ne. Protege a tus compaeros de la exposicin accidental al haz de lser. Siempre bloquea el haz cerca del lser cuando el experimento se deje sin atencin.

1. Monta la barra (M) sobre la cubierta ptica colocando la llave dentro de la barra y colcala sobre uno de los orificios. Aprieta la perilla con la llave hasta que la barra est firmemente fija a la mesa. 2. Atornilla la montura del lser (P) sobre la barra abrazadora (N) con los dos tornillos de - 2 (BB). 3. Coloca la combinacin de montura de lser-barra abrazadora (N-P) en la barra (M) y aprieta la perilla sobre la barra abrazadora (N). 4. Inserta el lser (Q) en la montura de lser (P) de tal forma que aproximadamente 3 plg. salgan a ambos lados de la abrazadera. Rota el lser (Q) hasta que la marca de alineacin del frente est arriba y suavemente aprieta el tornillo para fijarlo. No aprietes demasiado , el lser podra sufrir daos.

Ensamble de Lser (LA)

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SECCION DE PROYECTOS
PROYECTO # 1

1.1 Proyecto # 1: Las leyes de la ptica geomtrica.


1.1 LAS LEYES DE LA OPTICA GEOMTRICA
Todos los diseos pticos estn basados en dos leyes de la ptica muy simples; las leyes de reflexin y refraccin. Cualquier anlisis de un sistema ptico, sin importar cuan elaborado sea, se hace usando esas dos leyes para simular el paso de los rayos de luz a travs de lentes y ventanas y desde espejos que componen el dispositivo ptico. As, la base de casi todo lo que puedas hacer en ptica comienza con esas dos simples leyes. Es, de esta manera, apropiado que el primer experimento en este manual sea una demostracin de esas leyes. La primer cosa que hars es verificar la ley de la reflexin: el ngulo de reflexin es igual al ngulo de incidencia. Entonces verificaras la ley de refraccin tambin conocida como Ley de Snell, la cual plantea que el producto del ndice de refraccin de un medio y el seno del ngulo de incidencia de un rayo sobre un lado de una interfase entre dos medios pticos es igual al producto del ndice de refraccin y el seno del ngulo con el que el rayo es transmitido sobre el otro lado de la interfase. Esto puede ser planteado matemticamente como: ni sen i = nt sen t (1-1)
Con formato: Numeracin y vietas

donde ni es el ndice de refraccin en el medio incidente, i es el ngulo entre la normal local a la interfase y la direccin del rayo incidente, nt es el ndice de refraccin del medio de transmisin, y t es el ngulo entre la normal local y la direccin del rayo transmitido. Esos ngulos son medidos entre el rayo y la normal a la superficie donde ste golpea la interfase. La direccin de la normal cambia sobre superficies curvas, tal como sobre una lente o espejo curvo, as la normal es algunas veces llamada la normal local, debido a que se aplica solo en el punto sobre la superficie y no en puntos vecinos. En suma, para verificar las leyes bsicas de la ptica geomtrica, este primer experimento tambin familiarizar al estudiante con las herramientas del oficio, los componentes que constituyen el arreglo experimental. Las etiquetas que estn colocadas sobre los artculos son las mismas usadas en la seccin de ensamble de componentes.

La ley de reflexin.

Una nota sobre la toma de datos La medida y el registro de datos para estos proyectos son tan importantes como los efectos que estars explorando. Es solo midiendo el tamao del efecto y checndolo con las expresiones dadas en el texto, que la materia bajo discusin puede ser verdaderamente entendida. Hasta que los datos son analizados, el proyecto es una bonita demostracin de

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un efecto ptico y no un experimento de ptica. Los datos debern ser tomados en un libro estndar de registro de laboratorio, de ser posible. El registro deber ser tan ordenado como sea posible. Si algo es registrado incorrectamente, ser subrayado con una sola lnea y el valor correcto recordado enseguida de este. No borres ningn dato de tu registro. Cuando hay suficientes datos y un rango razonable, sern graficados de la manera ms usada. Tu instructor puede ayudarte a determinar esto.
La ley de la reflexin ser verificada mostrando que el ngulo a travs del cual un haz es reflejado por un espejo (ngulo de incidencia mas ngulo de reflexin) es dos veces el ngulo formado por el haz incidente y la normal a la superficie del espejo (ngulo de incidencia). Explorando el ngulo de incidencia con el cual un haz de lser He-Ne golpea el espejo, sers capaz de mostrar que el ngulo total a travs del cual es haz es reflejado es dos veces ese ngulo.

Arreglo experimental.
Equipo de Newport Requerido: Parte LA BSA-I BSA-II BSA-III TA-I RSP-1T 05BR08 16569-01 Cantidad 1 2 1 1 1 1 1 1 Descripcin Ensamble de lser Ensamble dirigidor de haz Ensamble dirigidor de haz modificado Ensamble dirigidor de haz modificado Ensamble de Objetivo Plataforma de Rotacin Prisma Tanque plstico transparente

Equipo adicional requerido: Parte QI QW Cantidad 1 1 Descripcin Tarjeta indicadora Cinta mtrica o regla

1. La cubierta ptica deber ser colocada sobre una mesa cerca de un muro o al lado de un gabinete. Pega una hoja de papel sobre el muro o gabinete a la misma altura a la cual colocaras el lser en el siguiente paso. 2. Monta un lser He Ne como se describe en la parte de ensamble de lser (LA) de la seccin de Ensamble de Componentes y colcalo en la parte de atrs de la cubierta.

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3. Monta un Ensamble Dirigidor de haz (BSA-I) sobre una Plataforma de Rotacin (R). La Plataforma de Rotacin se fija entonces a la cubierta con tornillos de -20. El ensamble dirigidor de haz deber ser colocado de tal forma que el haz de lser incidente sea paralelo a un muro cercano, como se muestra en la Fig. 1.1.

Fig. 1-1. Vista esquemtica del Proyecto # 1. Ley de la reflexin.

4. Ajusta el Espejo Dirigidor de Haz para que refleje al haz de lser sobre s mismo. Registra la posicin de la plataforma de rotacin o en tu cuaderno de notas de laboratorio. DEBERS TENER EXTREMO CUIDADO PARA EVITAR LA EXPOSICIN ACCIDENTAL DE TUS COMPAEROS CUANDO ESTES DIRIGIENDO EL HAZ DE LASER HACIA AFUERA DEL REA DE LA CUBIERTA OPTICA 5. Explora el ngulo del espejo girando la plataforma de rotacin de tal forma que el haz de lser sea reflejado sobre la pieza de papel sobre el muro. Registra el nuevo ngulo en tu cuaderno y sobre la hoja de papel del muro justo arriba de la marca localizada en el centro del haz. Haz esto para diferentes ngulos de rotacin que produzcan posiciones del haz separados por una pulgada o ms sobre el muro. 6. Mide la distancia perpendicular Y del espejo al muro y la distancia X de ese punto sobre el muro a la marca sobre el muro como se muestra en la Fig. 1.2. Usa tu conocimiento de las definiciones de las funciones trigonomtricas y una calculadora para determinar el ngulo entre la direccin del haz de lser y la direccin del haz reflejado usando las medidas de la distancia que has hecho. Registra tus clculos y esos ngulos enseguida de los ngulos de incidencia.

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7. Compara los ngulos totales reflejados r n los ngulos de incidencia ( -o). Debers encontrar que el ngulo total de desviacin del haz es dos veces el ngulo de incidencia, confirmado la ley de la reflexin.

Fig. 1-2. Geometra para el clculo de los ngulos de incidencia y deflexin del haz.

Una nota sobre Montaje de Espejos Todos los movimientos del haz en esta parte del experimento fueron hechos usando la plataforma de rotacin (R). Sin embargo, puedes tambin mover el haz usando el botn sobre la montura ajustable (C). Nota que un botn mueve el haz horizontalmente y el otro verticalmente. No todas las monturas ajustables mueven el haz en dos direcciones perpendiculares una a la otra. Aquellas monturas que lo hacen son llamadas monturas ortogonales, debido a que los movimientos son en ngulos rectos, u ortogonales, unos a los otros. Es mucho ms fcil localizar un haz con tales ajustes. Examina la montura y ve si puedes entender como su diseo proporciona esta caracterstica. La ley de refraccin
La verificacin de la ley de refraccin ser mostrada midiendo los ngulos incidente y transmitido de un haz incidente de lser He Ne sobre una interfase aire-agua.

Montaje experimental.
1. Monta un ensamble de lser (LA) a lo largo de la orilla de la cubierta ptica con el haz paralelo a la orilla, como se muestra en la Fig. 1.3. Coloca el lser usando la barra

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abrazadora (S) a la mxima altura sobre la superficie de la cubierta. 2. Monta dos Ensambles dirigidores de haz (BSA-I) en las esquinas de la cubierta ptica como se muestra en la Fig. 1.3.

Fig. 1-3. Vista esquemtica del Proyecto # 1. Ley de refraccin.

3. Monta un Ensamble Dirigidor de Haz Modificado (BSA III) descrito en la seccin de Ensamble de componentes. Coloca el Soporte para Poste (F) fuera del eje del haz, de tal manera que el espejo est en lnea con el haz de lser. Rota el espejo para dirigir el haz aproximadamente a un ngulo de 45 grados a la superficie de la tabla. 3.4. Mide la distancia perpendicular de donde el lser intersecta el espejo (H1 en la Fig. 1.4) al fondo de la caja de plstico. Mide la distancia de este punto a donde el haz de lser golpea el fondo de la caja plstica (V1 en la Fig. 1.4). Llena la caja de plstico con agua clara hasta 1cm por debajo del borde. 5. De la misma manera que en el paso # 4, mide la distancia perpendicular del punto donde el haz de lser entra en la superficie del agua al fondo de la caja (H2 en la Fig. 1.4) y desde este punto sobre el fondo a donde el haz de lser golpea el fondo de la caja plstica (V2 en la Fig. 1.4)

Con formato: Numeracin y vietas

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Fig. 1-4. Medidas para determinar el ndice de refraccin de un lquido.

6. Puedes ahora calcular los ngulos incidente y refractado del haz en el agua. Usando la Eq. 1-1 dada arriba y el hecho de que el ndice de refraccin del aire es 1.0, encuentra los senos de los ngulos y determina el ndice de refraccin del agua. Tu valor debe ser cercano a 1.33. si no lo es, debes checar tus medidas y tus clculos. Asegrate de que las distancias medidas son las distancias descritas arriba.

Experimentos adicionales.
Si hay otros lquidos disponibles, puedes llenar el tanque y medir su ndice de refraccin tambin. Puedes checar tu respuesta en tablas de referencia de ndices de refraccin en manuales estndares.

# 1 Medida del ndice de refraccin de un Slido Transparente usando la Reflexin Total Interna.
El fenmeno de reflexin total interna (RTI) discutido en el texto Elemental ser usado para determinar el ndice de refraccin de un prisma. La geometra es algo difcil, pero permite la determinacin del ndice de refraccin de un prisma estndar 45-45-90 sin causar ningn dao al prisma. Como se puntualiz en el Texto Elemental, el ngulo de incidencia al cual una interfase cambia de transmitir alguna luz a la reflexin total interna es llamado el ngulo crtico, c. En este ngulo, donde el rayo transmitido esta viajando a lo largo de la frontera de una interfase aire vidrio, el ngulo transmitido es 90. El ngulo crtico esta relacionado con el ndice de refraccin del material n como

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sen c = 1 n En el caso del experimento que vas a hacer, las cosas son un poco mas complicadas, pero no mucho. En lugar de una sola interfase hay dos. La primera de las interfases no implica RTI. Es rotando un prisma hasta que la RTI ocurra en la segunda interfase y midiendo el ngulo entre un haz no refractado y el haz en el ngulo crtico que podemos determinar el ndice de refraccin del prisma a partir de una ecuacin cuya prueba se deja como ejercicio. n 2 = sen 2 o + ( 2 + sen o ) 2 donde o est relacionado con el ngulo a travs del cual el haz es desviado, por (1-2)

o = 45

(1-3)

Arreglo Experimental.
1. Monta un Ensamble para lser (LA) a lo largo de la orilla trasera de la cubierta ptica con la salida hacia un muro cercano. Monta un Ensamble Dirigidor de Haz que haya sido modificado para colocar la montura para espejo paralela a la superficie de la cubierta (BSA-II en la seccin de Ensamble de Componentes) sobre el centro de una plataforma de rotacin (R). El haz de lser deber estar 4 o 5 mm mas alto que el BSA-II y paralelo a la superficie de la cubierta. Pega una pieza de papel sobre el muro. Coloca un espejo plano redondo de una pulgada contra el muro y ajusta el ngulo del lser de tal forma que el haz sea retro-reflejado sobre s mismo. Esto asegura que el haz est en ngulo recto con el muro para nuestros clculos. Quita el espejo y marca la posicin del haz de lser sobre el papel pegado en el muro. Esto representa el haz no desviado. 2. Coloca el prisma de tal forma que el haz de lser sea incidente a uno de los lados cortos como se muestra en la Fig. 1.5. Retro-refleja el haz hacia la fuente. Puedes necesitar ajustar el tornillo de la montura sobre la cual esta colocado el prisma. El centro de la hipotenusa del prisma estar sobre el centro de rotacin. Mide la distancia del centro de rotacin del prisma al muro.

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Fig. 1-5. Vista superior del experimento sobre el ndice de refraccin.

2. Rota el prisma en el sentido de las manecillas del reloj girando la plataforma de rotacin (R) hasta que el haz salga por la hipotenusa del prisma y golpee la pared. Haz esto varias veces hasta que sientas que estas en la transicin en la cual la luz exactamente comienza a ser transmitida fuera de la hipotenusa. La medicin de o es dada por tan (o + 45) = Y/X, donde X es la distancia de la interfase al muro y Y es la distancia de la localizacin del haz al ngulo crtico al punto donde este haz golpea el muro antes de que el prisma sea colocado en l. 4. Sustituye este calculo en la formula dada arriba y compara este valor (1.517) con el ndice publicado del vidrio BK7 a la longitud de onda del lser de helio nen.

Este experimento te ha proporcionado la oportunidad de usar un tipo de equipo de laboratorio disponible en la mayora de las compaas. Despus, en algunos proyectos, los ngulos y las distancias son determinados y el equipo modular que usaste aqu puede ser reemplazado por componentes pticos especficos y soportes fabricados a las especificaciones obtenidas del experimento. Pero mientras un proyecto est en fase experimental, la flexibilidad del equipo usado aqu hace capaces a los ingenieros para construir rpidamente y revisar sus sistemas pticos.

# 2 ndices Gradientes.

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Este particular experimento debe ser preparado sobre el tiempo. Llena el tanque con agua y agrega varias cucharadas de sal a l. Permite que el tanque est sin perturbaciones toda la noche. Dirige un haz de lser a lo largo de la longitud del tanque, por debajo y paralelo a la superficie. Intenta esto a diferentes alturas dentro del tanque. Nota que el haz emerge del tanque a una diferente altura de la que entra. Esto es debido a que hay un ndice gradiente de refraccin en el tanque. Los ndices gradientes inclinan la luz en diferentes lugares. Ellos son los responsables de los espejismos y la apariencia de manchas distantes de humedad sobre una carretera caliente. La tecnologa ptica ahora depende de pequeas componentes pticas que tienen ndices gradientes diseado en ellas de tal forma que actan como lentes. Son las referidas lentes GRIN, donde las primeras dos letras son tomadas de gradiente y las dos segundas son tomadas de ndice.

Proyecto # 2: La ecuacin de las lentes delgadas. LA ECUACIN DE LAS LENTES DELGADAS


Mientras la idea de crear imgenes con lentes es fcil de comprender, entender la localizacin, amplificacin y orientacin de una imagen usualmente viene de trabajar con lentes. Este proyecto es mas que una verificacin de la ecuacin de las lentes delgadas. Es tambin un estudio en tamaos y orientaciones de imgenes y en el efecto de combinacin de lentes y su distancia focal equivalente. En este experimento aplicars la forma gaussiana de la ecuacin de las lentes delgadas: 1 f = 1 s0 + 1 si (2-1)

para determinar la distancia focal de una lente o combinacin de lentes. Mediante medidas cuidadosas de las distancias al objeto (s0) y las distancias de la imagen (s1) (Fig. 2-1) es posible calcular la distancia focal (f) de una lente desconocida a menos de un uno por ciento de error de la distancia focal real. El uso de esta ecuacin requiere que el grueso de la lente sea pequeo con respecto a su distancia focal. Si la lente es demasiado delgada, la ecuacin falla y se requiere un calculo mas complicado para determinar la distancia de la imagen y la amplificacin (vea las referencias). Como una sola lente negativa no puede producir una imagen real, se usa una combinacin de una lente positiva y una lente negativa para determinar la distancia focal de la lente negativa. La relacin entre la localizacin del objeto y la imagen se toma para comprobar lo que una da la forma Gaussiana de la ecuacin de las lentes delgadas. Pero es usualmente olvidado que se han hecho algunas aproximaciones al derivar la ecuacin. Como un mtodo para la localizacin de la distancia focal de varias lentes, esta ecuacin tiene uso, pero como un medio para hacer ingeniera ptica, no puede proporcionar la precisin requerida para clculos serios de diseo

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ptico. Aun, como un medio para explorar la naturaleza de la formacin de imgenes, los experimentos que implican la ecuacin de las lentes delgadas no pueden ser muy tiles.

Fig. 2-1. Definicin de los parmetros de las lentes.

Arreglo experimental.
Equipo de Newport Requerido: Parte Cantidad Descripcin TA-I 1 Ensamble de objetivo TA-II 1 Ensamble de objetivo modificado LCA 2 Ensamble de lentes LKIT-2 1 Kit de lentes LP1 KPX094 1 Lente positiva de 100mm de distancia focal LP2 KPX106 1 Lente positiva de 200mm de distancia focal LP3 KPX076 1 Lente positiva de 25.4mm de distancia focal LN1 KPC043 1 Lente negativa de 25.4mm de distancia focal

Equipo adicional requerido: Parte QW QI QT QQ Cantidad 1 1 1 1 Descripcin Cinta Mtrica Tarjeta indicadora Objetivo Lmpara de alta intensidad

1. Construye un objetivo (QT) sobre una tarjeta indicadora dibujando una cuadrcula con las lneas separadas 5 mm. Esto te servir como objeto. Puedes comparar el tamao de las imgenes que generas con este objeto para determinar la amplificacin. Agrega algunas 77

flechas para hacerte capaz de determinar si la imagen esta invertida o derecha. Monta esto en un ensamble de objetivo (TA-I) cerca de la orilla de la cubierta (Fig. 2-2). 2. Desenrolla la cinta mtrica a lo largo de la orilla de la cubierta. Coloca una lmpara de alta intensidad aproximadamente dos pulgadas detrs y a la misma altura que el objetivo.

Fig. 2-2. Proyecto # 2. Arreglo para una lente positiva.

Lente Positiva.
3. Lee la nota sobre el manejo de lentes en la seccin de ensamble de componentes si aun no lo has hecho. Toma una lente positiva de 100 mm de distancia focal del kit de lentes y mntala en una ensamble de lentes (LCA).

4. Coloca la lente a 125 mm del objetivo y registra en tu cuaderno la distancia exacta entre la lente y el objetivo. Esta es la primer distancia al objeto. 5. Monta la tarjeta blanca en una segunda montura para ensamble de objetivo (TA-II). Coloca el TA-II al final de la tabla ptica y lentamente muvela hacia la lente hasta que se vea la imagen. Continua moviendo la TA-II hasta que la imagen comience a verse borrosa. Aljala de la lente hasta que la imagen se vea otra vez. Mueve la TA-II para producir la imagen ms ntida y marca esta posicin. La distancia de la lente a la tarjeta es la distancia a la imagen. Registra este valor junto con la distancia al objeto. 7.6.Marca sobre la tarjeta blanca dos puntos sobre la imagen que representan la distancia entre un numero especifico de lneas de la cuadricula y, ya sea ahora o despus, mide la distancia entre esos puntos. Mide la distancia entre los puntos correspondientes sobre el objeto de la cuadrcula. Registra los valores en tu cuaderno junto con las distancias de la imagen y el objeto. 8.7. Repite los pasos del 4 al 6 con la distancia al objeto ahora en los valores de 150, 200, 78
Con formato: Numeracin y vietas

Con formato: Numeracin y vietas

400 y 600 mm. Registra las distancias del objeto y la imagen y la distancia entre dos puntos sobre la imagen. Esto te dar suficientes datos para hacer una buena determinacin de la distancia focal de la lente. 8. Usando la relacin para la distancia focal de las lentes, distancia del objeto y distancia de la imagen 1 f = 1 s 0 + 1 s i , calcula la distancia focal de la lente usando cada uno de los conjuntos de datos. Encuentra el promedio de los resultados y compara este valor al especificado en el kit de lentes. Tambin calcula la amplificacin de la imagen para cada distancia del objeto a partir de las distancias marcadas y medidas sobre la tarjeta blanca dividida por la distancia correspondiente sobre QT. Compara esas a la razn de la imagen dividida por la distancia del objeto. (Ve la Ec. 0-6 en el Texto Elemental). 9. Regresa a la primera ubicacin de la lente con una distancia del objeto de 125 mm. Verifica que la imagen est localizada en el punto que registraste antes moviendo el TAII a la posicin correcta. Ahora, manteniendo el TA-II fijo, mueve la lente hacia l hasta que consigas una imagen sobre la tarjeta indicadora. Mide las nuevas distancias del objeto y la imagen y calcula la amplificacin. Muestra ella alguna relacin con las mediciones anteriores?

Lente negativa.
Las lentes bi-cncavas tienen distancias focales negativas y la imagen que forman es virtual. Como las distancias a la imagen solamente pueden ser medidas para imgenes reales, la tcnica que usa una lente positiva auxiliar de distancia focal conocida, descrita en la Seccin 0-2 del Texto Elemental, es usada para determinar la distancia focal de una lente negativa. 10. Coloca una lente de distancia focal negativa (LN1) en un LCA con su lado cncavo viendo hacia el objeto y mide la distancia del objeto a la lente. 12. Enseguida coloca la lente positiva, cuya distancia focal ya se ha medido, alejada mas de 100 mm de la lente negativa. Obtn una imagen ntida y mide la distancia a la imagen de la lente positiva. 13. Como conoces la distancia focal de la lente positiva y has medido la distancia a la imagen, puedes calcular la distancia al objeto que sera requerida para esta distancia a la imagen si solamente una lente positiva estuviera presente. La imagen de la lente negativa es el objeto para la lente positiva (Regla # 5 en la Seccin 0-1). Resta la distancia al objeto calculada para la lente positiva del espacio entre las dos lentes. Esta es la distancia a la imagen para la lente negativa y ser negativa. Mira la Fig. 0-9 en el Texto Elemental para ayudarte a visualizarla. Recalcula la distancia focal de la formula de arriba (recuerda usar los signos correctos de las distancias a la imagen y al objeto). Compara esto con el valor en la gua del kit de lentes.

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Fig. 2-3. Proyecto # 2. Arreglo para una lente negativa. Experimentos adicionales Combinaciones de lentes
1. Usando una combinacin de lentes del kit de lentes (por ejemplo una lente de 100 mm EFL (LP-1) y una lente de 200 mm EFL (LP-2)), monta las dos lentes seguida una de la otra. Debes pegar con cinta las dos lentes juntas en varios puntos cerca de las orillas. No pongas cinta cerca del centro de las lentes. Mide la distancia focal de la combinacin de lentes como arriba para encontrar la distancia focal efectiva. Compara estos resultados con el valor calculado usando la Ec. 0-8 en el Texto elemental. 2. Repite el paso previo usando una lente positiva y una lente negativa. Para asegurar que conseguirs una imagen real puedes usar una lente negativa cuyo valor absoluto de su distancia focal sea ms grande que la distancia focal de la lente positiva Por qu es esto necesario? 3. Usando dos LCAs pon la EFL (LP1) de 100 mm en una y la EFL (LP2) de 25.4 mm en la otra. Coloca la LP1 a 200 mmm del objeto y registra la distancia al objeto. Coloca y registra la distancia a la imagen y la orientacin. Coloca la LP3 a 60 mm mas all de la posicin de la imagen y mueve el TA-II para encontrar la imagen para la combinacin. Registra la separacin entre las lentes y la amplificacin y orientacin de la imagen final. Nota que mientras la primera imagen fue invertida, la segunda imagen est erecta con respecto al objeto original. Verifica tus mediciones aplicando la ecuacin de las lentes delgadas dos veces para calcular las posiciones y amplificaciones de las imgenes intermedia y final.

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1.3 Proyecto # 3: Expansin de un haz de lser.


EXPANSION DE UN HAZ DE LSER
Muchas veces, cuando se usa un lser en un sistema ptico, hay un requerimiento, para cuando el haz es muy grande o tiene una pequea divergencia (no cambia de tamao con la longitud del experimento). En algunos casos el tamao del haz se vuelve crtico, por ejemplo; cuando se mide la distancia de la tierra a la luna, un haz de un metro de dimetro viaja a la luna, donde se ha expandido a varios cientos metros de dimetro y cuando regresa el haz intersecta la superficie de la tierra tiene varios kilmetros de dimetro. La seal regresada de esta expansin es millones de veces ms pequea que la seal original, de tal forma que la divergencia de un haz de lser debe ser reducida para producir seales detectables. Aun en el caso de experimentos en la superficie de la tierra, se requiere de ms altos grados de colimacin para muchas aplicaciones incluyendo algunos de los proyectos en este manual. Como se puntualiz en el Texto elemental, el producto de una cintura pequea de haz y la divergencia de una lente es una constante: d o = 4

(3-1)

Por lo tanto, si queremos un haz mas colimado, la divergencia debe ser reducida y esto puede hacerse solamente incrementando la cintura del haz. Este proceso no puede hacerse fcilmente por una sola lente. Primero, el haz debe ser divergido con una lente de distancia focal corta y entonces ser re-colimado con una cintura grande y una divergencia pequea. El arreglo de las lentes es esencialmente aquel de un telescopio invertido. Es invertido debido a que la luz va en la lente ocular (la lente de distancia focal ms corta) y sale por la lente objetivo. La cantidad de expansin del haz, y por lo tanto, la reduccin de la divergencia es igual a la potencia del telescopio, la cual es simplemente la razn de las distancias focales de las lentes del telescopio. Por lo tanto, despus de pasar a travs de un expansor de haz, la divergencia deber ser igual a la divergencia anterior dividida entre la potencia del telescopio. Este experimento demostrar el diseo de dos tipos de expansores de haz de lser el Galileano y el Kepleriano. Cada uno tiene distintas ventajas. De estos experimentos ganars experiencia en la alineacin de haces de lser y componentes y aprenders algunas tcnicas simples que hacen el proceso de alineacin mucho ms fcil. El montaje que construirs en este experimento ser usado para varios experimentos (# 4, 6, 7 y 10) que requieren iluminacin con lser expandido. Vale la pena escribir abajo, en tu cuaderno de notas cualquier cosa que te ayude a montar y alinear rpidamente el expansor de haz, debido a que lo hars otras veces.

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Fig. 3-1. Colimacin gaussiana de haces. (a) Telescopio galileano. (b) Telescopio Kepleriano. Distancia focal del ocular, fc; distancia focal del objetivo fo.

NOTAS EN LA ALINEACIN DE HACES DE LSER. Pega una tarjeta con un agujero ligeramente ms grande que el haz de lser, a la salida del mismo, de tal forma que el lser pase a travs de l y las reflexiones posteriores producidas por las componentes puedan ser vistas fcilmente. Para cada lente hay dos reflexiones, una desde cada superficie. Cuando los centros de las dos reflexiones estn a la altura del haz, la altura de la lente est adecuadamente ajustada. Cuando se superponen, el haz esta en el centro de la lente. Y cuando estn centradas con respecto a la salida del lser, las lentes no estn inclinadas con respecto al haz. En algunos casos, si el haz regresado es demasiado fuerte (como en el caso de este experimento), el lser tendr una salida irregular debido a que las vibraciones del mundo exterior pueden ser acopladas al lser. Sin embargo, en el caso de artculos tales como expansores de haz, donde no tratas de enviar toda la luz de regreso al lser, las pequeas reflexiones de los componentes no tienen efecto mensurable en los proyectos descritos en este manual.

Arreglo Experimental.
Equipo de Newport requerido: Parte LA BSA-I Cantidad Descripcin 1 Ensamble de lser 2 Ensamble dirigidor de haz

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LCA TA-I LKIT-2 LP2 KPX106 LP3 KPX076 LN1 KPC043

2 1 1 1 1 1

Ensamble de lentes Ensamble de objetivo Kit de lentes Lente positiva de 200mm de distancia focal Lente positiva de 25.4mm de distancia focal Lente negativa de 25.4mm de distancia focal

Equipo adicional requerido: Parte QI Cantidad 1 1 1 Descripcin Tarjeta indicadora Cinta Regla no metlica ni brillante

1. Monta un ensamble de lser (LA) a la parte trasera de la cubierta. Ajusta la posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y adems a una lnea de agujeros en la mesa ptica. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo agujero (de aprox. 2 mm) al frente del lser, de tal forma que el haz pueda pasar a travs de l. Esta tarjeta ser usada como una pantalla para monitorear las reflexiones producidas por los componentes tan pronto como sean incluidas en el haz. Estas reflexiones, cuando son centradas con respecto a la salida del haz, indican que la lente esta centrada en el haz con su eje ptico paralelo a l. 2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) aproximadamente a 4 pulgadas de la esquina contigua ms lejana de la mesa ptica (Fig. 3-2). Ajusta la altura de la montura para espejo hasta que el haz intersecte el centro del espejo. Entonces, rota el poste en el soporte para poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la mesa ptica. 3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz en la esquina izquierda ms baja de la mesa ptica, (Fig. 3-2). Ajusta la montura de espejo hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla frontal y a la superficie de la mesa ptica. 4. Usa una cinta mtrica o regla para medir al haz a varias distancias de la salida del lser, hasta una distancia de 10 m, si la habitacin lo permite. Habrs estimado el tamao del haz, debido a que, como se discuti en el Texto Elemental, la irradiancia del haz cae suavemente desde el centro. Registra los tamaos de haz a varias distancias separadas aproximadamente un metro. Calcula una divergencia para el haz de lser. Como se indica en el texto elemental, el dimetro del haz varia como d 2 ( z) = d o + 2 z 2
2

(0-25)

Suponemos que d0 es el dimetro del haz medido cerca del lser y que z es la distancia 83

desde el lser, usa la ecuacin de arriba para determinar el valor de basado en las mediciones para varios valores de z. Encontraras los valores de ms exactamente para valores de z ms grandes. El promedio de los valores medidos debe estar en la vecindad de 1 mili radin.

El expansor de haz galileano.


5. Inserte un lente negativa (LN1) de distancia focal corta (-25.4 mm) en un ensamble de lentes (LCA) y mntala a 5 pulgadas del primer ensamble dirigidor de haz. Alinea la lente subiendo o bajando el poste en el soporte para poste y deslizando la LCA de tal manera que el haz divergente este centrado sobre el espejo del segundo ensamble dirigidor de haz. Puedes tambin usar las sugerencias de alineacin dadas previamente.. 6. Inserta una lente positiva (LP2) de distancia focal ms larga (200 mm) en una LCA y colcala aproximadamente a 175 mm (la suma de las distancias focales de las dos lentes, recordando que la primera lente es una lente negativa) de la primera lente en el haz de lser divergente. Otra vez, centra el haz sobre el espejo del segundo BSA y usa las reflexiones de las lentes para auxiliarte en la alineacin del haz. 7. Rota el segundo BSA de tal forma que el haz regrese a travs de las dos lentes a cualquier lado de la apertura de salida del lser. (Si el haz regresado entra en la apertura de salida, el lser puede exhibir intensas fluctuaciones y no podrs determinar el tamao del haz regresado). 8. Cuidadosamente ajusta la posicin de la ultima lente movindola hacia atrs y hacia delante a lo largo del haz hasta que el haz que regresa sea del mismo tamao que el haz que sale. 9. Rota el segundo BSA y dirige el haz de lser hacia el final de la habitacin y mide el dimetro justo despus del expansor de haz y en varios lugares a lo largo del haz (al menos un metro separados). Dependiendo de la precisin de tu alineacin y de la distancia disponible, puede ser difcil ver alguna divergencia del todo. 10. Como discutimos arriba, la divergencia decrece con el incremento del dimetro de la cintura del haz. El expansor incrementa el dimetro del haz y como resultado decrece su divergencia en la misma razn que la expansin del haz. Aunque es difcil ser preciso en la medicin de la divergencia, compara el valor estimado de la divergencia del haz colimado dividido entre la potencia del telescopio. Puedes desear tratar otras combinaciones de lentes. Asegrate de que no escoges una combinacin de lentes que a una correcta separacin haga un haz que sobrellene la segunda lente y cause difraccin (Vase el Proyecto # 4).

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Fig. 3-2. Vista esquemtica del experimento del Expansor de haz Galileano. El expansor de haz Kepleriano. 1. Reemplace la lente negativa (LN1) con una lente positiva de distancia focal corta (25.4 mm) (LP3) y usa los mismos ajustes para centrar el haz en las lentes y en el espejo del segundo BSA. Ajusta la distancia entre las dos lentes para que sea la suma de sus distancias focales (Fig. 3-2).
3. Ajusta el espejo dirigidor de haz otra vez para la condicin de igual tamao de punto en la salida del lser. 4. Repite los pasos 7, 8, y 9 del Expansor de Haz Galileano incluyendo una estimacin de la colimacin del haz de lser para esta geometra. Debes estar animado para tratar otras combinaciones de lentes.

Fig. 3-3. Vista esquemtica del experimento Del expansor de haz Kepleriano.

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1.4 Proyecto #4: Difraccin por aberturas circulares

DIFRACCIN DE ABERTURAS CIRCULARES


La mayora de los sistemas pticos con los que trabajars, estn formados de componentes cuyas aperturas son circulares. Pueden ser espejos, lentes, o agujeros en las estructuras que contienen las componentes. A pesar de que ellos permiten que la luz sea transmitida, tambin restringen la cantidad de luz en un sistema ptico y causan una limitacin bsica a la resolucin del sistema ptico. En este experimento medirs los efectos de la difraccin de aperturas circulares (Fig. 4-1). La difraccin asociada con el tamao de la apertura determina la potencia de resolucin de todos los instrumentos pticos, desde el microscopio electrnico hasta la gigantesca antena de un radiotelescopio. En resumen, descubrirs que un objeto slido no solamente proyecta una sombra sino que es posible que una mancha brillante aparezca en el centro de esa sombra! Los patrones de difraccin que examinars estn localizados uno cerca de la apertura de difraccin y el otro mas lejos. El primero es llamado difraccin de Fresnel (Freh NEL); el segundo es llamado difraccin de Fraunhofer (FRAWN hoffer).

. Fig. 4-1. Difraccin producida por una apertura circular.

ADVERTENCIA Para ser capaz de ver algunos de los patrones de difraccin, este experimento ser realizado en una habitacin oscura. Debern tomarse extremas precauciones en lo concerniente al haz de lser He Ne. Tus pupilas se estarn expandiendo y permitirn el

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paso de 60 veces ms luz que en una habitacin iluminada. NO MIRES DIRECTAMENTE LA REFLEXION ESPECULAR O EL HAZ DE LSER. PON ATENCIN A TUS ALREDEDORES Y A TUS COMPAEROS DE TRABAJO. CAMINAR EN LA OSCURIDAD PUEDE SER PELIGROSO. Arreglo experimental.
Equipo de Newport requerido: Parte LA BSA-I LCA TA-I TA-II LP4 KPX100 LN1 KPC043 TP1 TP2 TP3 TF Canti dad 1 2 2 1 1 1 1 1 1 1 1 Descripcin Ensamble de lser Ensamble dirigidor de haz Ensamble de lentes Ensamble de objetivo Ensamble de objetivo modificado Lente de 150 mm de distancia focal Lente de 25 mm de distancia focal Objetivo. Pinhole de 0.001 de diam. Objetivo. Pinhole de 0.002 de diam. Objetivo. Pinhole de 0.080 de diam. Objetivo de Fresnel

Equipo adicional requerido: Parte QW QI Cantidad 1 1 Descripcin Cinta Mtrica Tarjeta indicadora

1. Monta un ensamble de lser (LA) en la parte trasera de la cubierta ptica. Ajusta la posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y adems a una lnea de agujeros en la cubierta ptica. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo agujero en ella (aproximadamente 2mm) al frente del lser, de tal forma que el haz pueda pasar a travs de l. Esta tarjeta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones producidas por las componentes tan pronto como sean insertadas en el haz. Mira la nota en el Proyecto # 3 sobre la alineacin de haces de lser. 2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA- I) aproximadamente a 4 pulgadas de la esquina contigua ms lejana de la mesa ptica (Fig. 4-2). Ajusta la altura de la montura para espejo, hasta que el haz intersecte el centro de ste. Entonces rota el poste en el sujetador de poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la mesa ptica. 3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser en la

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esquina izquierda inferior de la cubierta ptica, (Fig. 4-2). Rota y ajusta la montura para espejo hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla frontal y a la superficie de la cubierta ptica. 11. Coloca una tarjeta indicadora en un ensamble sujetador de objetivo modificado (TA-II) y colcalo al final de la cubierta ptica de tal forma que el haz golpee el centro de la tarjeta. 5. Monta un ensamble de lentes (LCA) cinco pulgadas a la derecha del ultimo espejo dirigidor de haz y directamente en lnea con el haz de lser. Este ser el sujetador de la apertura.

Fig. 4-2. Vista esquemtica del experimento de Difraccin De Fraunhofer usando TP 1

Difraccin de Fraunhofer de una apertura circular.


6. Cuidadosamente coloca el pinhole (TP1) (0.001 de dimetro) en el LCA. Ajusta la montura de tal forma que el haz de lser golpee el objetivo aproximadamente en el centro. ADVERTENCIA: El objetivo reflejar un gran porcentaje del haz. 9.7.Ajusta el ltimo espejo dirigidor de haz, de tal forma que el haz de lser llene el agujero. Esto puede ser realizado de mejor forma viendo el lado de atrs del objetivo (mas alejado del lser) a 45 y buscando un resplandor rojo brillante. Esto ocurrir cuando el haz de lser (o parte de l) est iluminando la apertura. 10.8. Mira la tarjeta blanca. Cuidadosamente ajusta el ltimo espejo dirigidor de haz para producir la imagen ms brillante. Deberas ver un circulo central brillante rodeado por bandas circulares oscuras e iluminadas. Este es el patrn del disco de Airy. Mide la distancia de TP1 a la tarjeta indicadora en el TA-II. Marca y entonces mide el dimetro de la primera banda circular oscura alrededor del circulo brillante central. Esta es una medida de la cantidad difraccin causada por el pinhole.
Con formato: Numeracin y vietas

Con formato: Numeracin y vietas

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9. Como se puntualiz en el Texto Elemental, la subtensin angular de la banda oscura esta relacionada a la longitud de onda y dimetro del pinhole por sen = 1.22 D (0-11)

Donde D es el dimetro y es la longitud de onda. Como el ngulo de difraccin es pequeo, el seno y la tangente del ngulo son iguales. La tangente se encuentra de dividir el radio de la banda oscura por la distancia del pinhole a la tarjeta indicadora registrada en el paso # 8. Insertando la longitud de onda del lser He-Ne ( = 633 nm) en la ecuacin, calcula el dimetro del pinhole. 10. Todas las aperturas circulares exhibirn el patrn de Airy. Reemplaza la TPl con TP2 (0.002 de dimetro). Necesitars usar una Montura sujetadora de objetivo (TA-I) aproximadamente a cuatro pulgadas de la orilla de la mesa ptica y en lnea con la posicin del ensamble de lentes. Mide el dimetro de la primera franja oscura y la distancia entre el pinhole y la tarjeta indicadora. Calcula el dimetro del pinhole basndote en este dato. Estas series de anillos para una apertura circular causan que los objetos que estn muy juntos se superpongan en el plano focal del instrumento de observacin y limitan el poder de resolucin para telescopios de gran apertura. 11. Ensambla un expansor de haz 6:1, usando las tcnicas del Proyecto # 3, entre la primera y la segunda montura dirigidora de haz (BSA-I) como se muestra en la Fig. 4-3. Reemplaza TP2 por TP3 (pinhole de 0.08 de dimetro). Como la apertura es muy grande, reemplaza la montura para tarjeta TA-II con un tercer BSA-I y dirige el haz a un muro que est alejado mas de 10 pies. Mide el dimetro de la primera banda oscura y estima la distancia entre el pinhole y el muro. Calcula el dimetro del pinhole. En el Texto elemental discutimos que en el campo lejano el patrn de difraccin de Fraunhofer no cambia en forma, sino solamente en tamao. Usando la tarjeta indicadora, mira el patrn de difraccin comenzando en el pinhole y alejandote hacia el muro. A una distancia de alrededor de 2 pies del pinhole veras que la mancha brillante central se volver una pequea mancha oscura. Dependiendo de qu tan bien est montado el expansor, esta pequea mancha oscura puede ser fcil o difcil de resolver. Sin embargo, cuando la mancha del centro cambia de brillante a oscura y hasta cuando brilla otra vez se trata de difraccin de Fresnel.

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Fig. 4-2. Vista esquemtica del experimento de Difraccin De Fraunhofer usando TP2.

Difraccin de Fresnel de aperturas circulares.


11. Reemplaza TP3 con la placa de Fresnel (TF). Mira el patrn de difraccin sobre la pantalla blanca. Nota que el centro de la imagen tiene varios anillos brillantes y oscuros. Esta es tambin difraccin de Fresnel. Dependiendo de la distancia del TA-II al TF, el centro del patrn debe ser brillante u oscuro. Aunque la placa de Fresnel tiene un crculo central absorbente, nota que aun hay luz en el centro del patrn. La mancha brillante en el centro es a veces llamada Mancha de Poisson o Mancha de Arago. 13. Examina las sombras de otros objetos ponindolos en el haz de lser expandido. Puntas de lpiz, alambres y pequeas cuentas sobre una cuerda son buenos objetos que dan patrones de Fresnel interesantes. Nota cmo cambian los patrones conforme mueves los objetos a lo largo de la direccin del haz. Dibuja algunos de los patrones ms interesantes en tu cuaderno.

Fig. 4.3. Vista esquemtica del experimento de difraccin de Fresnel.

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Una descripcin detallada de los resultados puede ser encontrada en The optics problem solver por the Research y Education Association.

1.5 Proyecto # 5: Difraccin producida por una sola rendija e interferencia producida por una doble rendija. DIFRACCIN PRODUCIDA POR UNA SOLA RENDIJA E INTERFERENCIA PRODUCIDA POR UNA DOBLE RENDIJA
La difraccin de la luz ocurre si se ilumina una apertura que tenga dimensiones que son del orden de la longitud de onda de la luz que est siendo usada. En el caso de una rendija que tiene una estrecha apertura, esto es, infinitamente alta, la difraccin toma lugar en la direccin perpendicular a la dimensin ms pequea. En resumen la luz de una rendija interferir con la luz de una segunda rendija cercana para producir un patrn de interferencia que combina las propiedades de interferencia de una sola rendija con el patrn de interferencia de dos fuentes cercanas. (Fig. 5-1).

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Fig. 5-1. Difraccin producida por una sola rendija.

Arreglo experimental.
Equipo de Newport Requerido:

Parte LA BSA-I TA-I TA-II TSS TDS DG

Cantidad 1 2 1 1 1 1 1

Descripcin Ensamble de lser Ensamble dirigidor de haz Ensamble de Objetivo Ensamble de Objetivo Objetivo. Una rendija Objetivo. Rendija dual. Rejilla de difraccin

Equipo adicional requerido: Parte QI QW Cantidad 1 1 Descripcin Tarjeta indicadora Cinta mtrica o regla

1. Monta un ensamble de lser (LA) a la parte trasera de la cubierta ptica (Fig. 5-2). Ajusta la posicin del lser de tal manera que el haz sea paralelo a la orilla y adems a una lnea de agujeros en la superficie. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo agujero (2 mm aprox.) enfrente del lser, de tal forma que el haz de lser pueda pasar a travs de l. Esta carta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones producidas por las componentes tan pronto como sean insertadas en el haz. Mira la nota en el Proyecto # 3 sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) a aproximadamente cuatro pulgadas de la esquina ms lejana de la mesa ptica (Fig. 5-2). Ajusta la altura de la montura para espejo hasta que el haz intersecte el centro del espejo. Entontes rota el poste en el sujetador para poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la cubierta ptica. 3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser en la esquina inferior izquierda de la mesa ptica, (Fig. 5-2). Rota y ajusta la montura para espejo hasta que el haz sea paralelo a la orilla frontal y a la superficie de la cubierta ptica.

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4. Coloca una tarjeta indicadora en un ensamble sujetador de objetivo modificado (TA-II) y mntalo al final de la cubierta ptica de tal forma que el haz golpee el centro de la tarjeta. 5. Monta un TA-I cinco pulgadas a la derecha del ultimo espejo dirigidor de haz y a cuatro pulgadas del haz de lser. Este ser el sujetador para la rendija sola y para la doble rendija.

Fig. 5-2. Vista esquemtica de los experimentos de difraccin.

Difraccin de una sola rendija.


6. Cuidadosamente coloca la TSS (rendija aislada 0.002 plg de ancho) en el TA-I. Ajusta la montura de tal forma que el haz golpee el blanco aproximadamente en el centro.

ADVERTENCIA El objetivo reflejar un gran porcentaje del haz.

8. Ajusta el ltimo espejo dirigidor de haz de tal forma que el haz llene la rendija. Esto puede ser realizado de mejor manera viendo el lado de atrs del objetivo a 45 y buscando un resplandor rojo brillante. Esto ocurrir cuando el haz de lser est iluminando la rendija. 9. Observa la tarjeta blanca. Cuidadosamente ajusta el ltimo espejo dirigidor de haz para producir la imagen ms brillante. Debers ver una banda central brillante con varias bandas oscuras a cada lado. Este es el patrn de difraccin de una sola rendija. Marca en la tarjeta indicadora las posiciones de tantas bandas oscuras como te sea posible ver fcilmente. Nota que la banda central es ms grande que las bandas de los lados. Mide la distancia entre el centro de las bandas oscuras a ambos lados de la banda central y la

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distancia de la rendija a la tarjeta indicadora. Calcula el ngulo en la rendija entre el mximo central y la primera banda oscura. Recuerda que la distancia entre las primeras franjas oscuras es dos veces la distancia entre la parte central y la primer banda oscura. Basado en las expresiones dadas en el Texto elemental, la subtensin angular de la banda del mximo central a la primera franja oscura esta dada por sen = m (0-9)

Si la longitud de onda del lser de He-Ne es 633 nm, determina el ancho de la rendija partir de tus clculos.

Experimento de Young de doble rendija.


1. Puede realizarse un segundo experimento relacionado con el montaje previo. Reemplaza el TSS por un blanco TDS (rendija dual 0.002 plg de ancho con 0.008 plg de separacin) y la tarjeta indicadora usada como pantalla de observacin. Mide la distancia R de la rendija a la tarjeta indicadora. 2. El patrn tendr una serie de mximos y mnimos separados dentro del desarrollo del patrn original de una sola rendija. Estas franjas son el patrn de interferencia de la doble rendija. Marca las posiciones de los mnimos x1, x2, ... de esas franjas cercanamente espaciadas. Calcula las separaciones promedio x = x1 x 2 . Tambin marca la localizacin del mnimo de la franja grande (la posicin donde las franjas de interferencia desaparecen). 3. Calcula la separacin de las franjas con la ecuacin

= x R

(5-2)

y regstralo en tu cuaderno. Con este valor de y la longitud de onda del lser ( = 633nm) puedes calcular la separacin de las rejillas usando la Ec. 0-16 del Texto Elemental. 4. Toma una tarjeta o la orilla de una regla y cuidadosamente insrtala enfrente de una de las dos rejillas. Esto requiere un poco de practica. Si lo haces bien, vers que el patrn de interferencia desaparece y el patrn de difraccin de una sola rendija permanece. Nota que cuando retiras el objeto que esta bloqueando la luz de cualquiera de las rendijas introduces franjas oscuras. Por supuesto que la luz en las franjas brillantes es ms brillante. Ests usando luz para empujar luz alrededor!

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Fig. 5-3. Vista esquemtica del experimento de Young de doble rendija

Experimentos adicionales. Rejilla de difraccin.


Existen patrones de mas alto orden de difraccin para 3, 4, 5,... rendijas igualmente espaciadas. Eventualmente, el nmero de aberturas se vuelve muy largo y los resultados se aproximan a la rejilla de difraccin descrita en la Seccin 0.4.3 en el Texto Elemental. La mayora de los instrumentos de alta resolucin para determinar las caractersticas de transmisin o reflexin de los materiales pticos usan alguna forma de rejilla. 1. Monta una rejilla de difraccin (DG) en el TA-I e ilumnala con el haz de lser. Monta una nueva tarjeta indicadora en el TA-II y colcala detrs de la DG, de tal forma que puedan verse varios ordenes de difraccin. 2. Aleja el TA-II de la DG hasta que solamente unos pocos puntos permanezcan sobre la pantalla y sus separaciones sean fcilmente medidas. Marca las posiciones de los rdenes de difraccin sobre la tarjeta y etiqueta cada uno con el orden (0 para un haz no difractado). Mide la distancia de la DG a la pantalla. 3. Calcula los ngulos de difraccin a partir de las mediciones. Nota que los ngulos son suficientemente grandes y no podrs usar la aproximacin para ngulos pequeos. Debers usar la tangente inversa para obtener el ngulo. 4. La separacin entre las ranuras o constante de rejilla, para esta rejilla se encuentra tomando el recproco de la frecuencia de la rejilla, la cual es 13,400 ranuras por pulgada. De la separacin entre las ranuras y las mediciones angulares para varios ordenes, determina la longitud de onda del lser de He Ne. Compara el resultado con 633 nm.

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Fig. 5-4. Vista esquemtica del experimento de la Rejilla de difraccin.

El espectro de otras fuentes puede ser estudiado usando esta rejilla de difraccin, pero se requieren componentes adicionales. Como la mayora no sern lseres con haces marcadamente definidos, las fuentes iluminan una rendija. La luz de una rendija est entonces colimada para proporcionar un ngulo constante de incidencia de la rejilla. Los haces difractados son entonces reenfocados a unas series de imgenes de rendijas que estn separadas en los colores del espectro de la fuente colocada en el plano focal de la lente foco. Ve cualquiera de las referencias de ptica para la descripcin de un espectrmetro simple de rejillas de transmisin. En la mayora de los espectrmetros comerciales, la rejilla de difraccin es una reflexin antes que un tipo de transmisin. Esto es debido a que el instrumento es mas compacto y las rejillas tienden a ser ms eficientes en este modo.

1.6 Proyecto # 6: El interfermetro de Michelson.


EL INTERFEROMETRO DE MICHELSON
En este experimento construirs un interfermetro de Michelson similar al descrito en el Texto Elemental y lo usaras como medio para observar pequeos desplazamientos y cambios en los ndices de refraccin. Cuando este arreglo de componentes es usado para probar componentes pticos en luz monocromtica es llamado Interfermetro de Twyman-Breen. El interfermetro de Twyman-Green es ampliamente usado para probar la ptica y los sistemas pticos, y proporciona medios para medir la cantidad de aberraciones presentes en esos sistemas pticos. Mas que hacer tal distincin aqu, el dispositivo ser llamado Interfermetro de Michelson en este manual.

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Arreglo Experimental.
Equipo de Newport Requerido: Parte LA BSA-I BSA-I* LCA TA-II* LKIT-2 FK-BS Cantidad 1 3 1 3 1 1 1 Descripcin Ensamble de lser Ensamble dirigidor de haz Ensamble dirigidor de haz con base B-2 Ensamble de lentes Ensamble de Objetivo sin base B-2 Kit de lentes Divisor de haz

Equipo adicional requerido: Parte QI QW Cantidad 1 1 Descripcin Tarjeta indicadora Cinta mtrica o regla

1. Monta un ensamble para lser (LA) a la parte trasera de la cubierta ptica (Fig. 6-1). Ajusta la posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y a una lnea de agujeros en la superficie de la mesa ptica. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo orificio (aproximadamente 2 mm) enfrente del lser, tal que el haz pueda pasar a travs de l. Esta tarjeta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones producidas por los componentes tan pronto como sean insertadas en el haz. Ve la nota en el Proyecto # 3 sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) a cuatro pulgadas aproximadamente de la esquina mas lejana de la cubierta ptica (Fig. 6-1). Ajusta la altura de la montura para espejo hasta que el haz intersecte el centro del espejo. Entontes rota el poste en el sujetador para poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la cubierta ptica. 3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser en la esquina inferior izquierda de la cubierta ptica, (Fig. 6-1). Rota y ajusta la montura para espejo hasta que el haz sea paralelo a la orilla frontal y a la superficie de la cubierta ptica.
4. Monta un expansor de haz entre los dos primeros BSA-I como se explic en el Proyecto # 3. Este expansor genera una onda plana expandida que es necesaria para construir el interfermetro. 5. Coloca un ensamble de lentes (LCA) aproximadamente a 5 plg a la derecha de la ultima

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montura BSA-I. Monta un divisor de haz 50/50 en la LCA y rota el ensamble 45 del camino ptico. El haz reflejado de la primera superficie deber ser perpendicular a e ir en la direccin de la orilla frontal de la cubierta ptica. El divisor de haz divide el haz que ingresa en dos componentes iguales para los dos brazos del interfermetro. 6. Coloca un BSA-I con su espejo centrado alrededor del camino del haz reflejado y aproximadamente a 5 plg del divisor de haz de tal forma que el haz sea retro-reflejado hacia la tarjeta indicadora pegada al lser. Este espejo ser llamado espejo de referencia. 7. Coloca un segundo BSA-I con su espejo centrado alrededor del camino del haz transmitido 5 plg mas all del divisor de haz para interceptar el haz transmitido (Fig. 61). Ajusta el espejo hasta que el haz sea dirigido hacia atrs a la tarjeta indicadora pegada al lser. Este espejo ser llamado espejo de prueba.

Fig. 6-1. Vista esquemtica del experimento del Interfermetro de Michelson.

8. Usa un TA-II (sin base) con una tarjeta indicadora (QI) como una pantalla de observacin al otro lado del divisor de haz a partir espejo de referencia (Ve el paso # 6). Ajusta los espejos en los dos brazos del interfermetro hasta que los dos haces se superpongan en la pantalla. Habr reflexiones combinadas en la pantalla de observacin y en la tarjeta en el frente del lser. Alinear los dos haces sobre esta tarjeta es bueno para una rpida alineacin rstica. 9. Como hacemos que los dos haces coincidan, una serie de franjas brillantes y oscuras aparecern representando el patrn de interferencia entre los dos frentes de onda. La orientacin y separacin de las franjas puede ser controlada ajustando los espejos de referencia y prueba. Usualmente es mejor usar un espejo para ajuste. Ajusta el espejo de tal forma que aproximadamente 5 franjas aparezcan cruzando el haz sobre la tarjeta. El nmero de franjas puede variarse en una direccin particular inclinando el espejo de referencia en una direccin perpendicular a la direccin de las franjas. Tu interfermetro de Michelson esta ahora completo. 10. Cualquier curvatura presente en las franjas representa diferencias de fase entre las ondas 98

que han cruzado los dos brazos del interfermetro, es decir, el brazo del espejo de referencia y el brazo del espejo de prueba. Si se supone que el espejo de referencia es perfectamente plano, entonces la curvatura en las franjas puede deberse al hecho de que el espejo bajo prueba no es plano, sino que tiene un cierto radio de curvatura o aberraciones. Estas aberraciones causan que la onda plana, generada por el expansor, en el brazo de prueba se vuelva una onda no tan plana. La interferencia del frente de onda plana de referencia con el frente de onda del espejo de prueba crear un patrn de franjas curvas con separacin variante. La cantidad de desviacin de una franja curva de una lnea recta representa el cambio de fase introducido por el componente bajo prueba. Esta desviacin, medida en numero de franjas, da dos veces la desviacin del frente de onda de prueba por causa del frente de onda de referencia en longitud de onda de luz lser. La cantidad de aberracin del espejo de prueba (W) puede ser calculada como sigue: W =(franjas cambiantes) /2 (6-1)

Donde W se expresa en unidades de longitud de onda del lser empleado (en este caso la longitud de onda del lser es 633 nm), y el cambio en las franjas es la altura de la franja expresada en unidades de la distancia de separacin promedio de las franjas en el patrn de interferencia. El factor de 2 surge del hecho de que la reflexin duplica la cantidad de aberracin. 11. Mueve la segunda lente del expansor de haz lentamente hacia la primera. El haz expandido ahora diverge, causando que el frente de onda sea esfrico en lugar de plano. Las franjas se volvern circulares si ajustas la coincidencia del haz, un patrn de blanco puede ser visto. 12. Enciende el cautn (QS), y despus de calentarlo colcalo en el camino de la luz en el brazo de prueba. Observa los cambios en las franjas alrededor de la punta del soldador. El cambio en las franjas se debe al cambio de fase introducido por el aire caliente que rodea la punta. El aire caliente tiene diferente densidad e ndice de refraccin que el aire fro y en consecuencia los dos brazos tienen una longitud de camino ptico diferente. 13. Inserta parcialmente tu dedo en uno de los brazos del interfermetro, de tal forma que su sombra pueda verse en la pantalla. Nota las variaciones en las franjas debidas al calor de tu dedo. Tambin coloca la palma de tu mano justo bajo uno de los brazos del interfermetro. 14. Continua con el espejo de prueba y nota que muy poca fuerza nos lleva a pequeas desviaciones de este espejo. Estas desviaciones son mensurables como indic el cambio en las franjas. Para cada franja que se mueve mas de un punto en el centro del patrn, el espejo se ha movido media longitud de onda a lo largo de la direccin del haz. Trata de concebir una manera de mover lentamente un espejo. Si el movimiento es lo suficientemente lento puedes contar el nmero de franjas y determinar la cantidad de desplazamiento del espejo. 15. Otra manera de cambiar el camino ptico dentro del interfermetro es insertar un

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material transparente, tal como un porta objeto de microscopio u otro material plano, en uno de los brazos. La desviacin del patrn de franjas del sistema no perturbado es una medida del ndice de refraccin y de la variacin del grosor del material.

Experimentos adicionales. Medida de la distancia. Dependencia en el tiempo de las franjas.


1. Despus de montar el interfermetro de Michelson, monitorea el cambio en el patrn de franjas como una funcin del tiempo. Usualmente los cambios trmicos causarn pequeas expansiones y contracciones en las distancias componentes y esto resultar en un cambio de las franjas con el tiempo.

Dependencia de vibracin de las franjas.


2. Golpea ligeramente la superficie de la mesa y monitorea los cambios en las franjas. Cunto le toma a la vibracin amortiguarse? Detectas algn movimiento vibracional cuando azotas una puerta, caminas por la habitacin o saltas? Algunas mesas tienen amortiguadores de aire o resortes para aislar un sistema ptico, como un Interfermetro de Michelson, de las vibraciones del mundo exterior.

Detector de Movimiento.
3. Este es un experimento algo mas elaborado y requiere un detector de luz tal como una foto celda o fototransistor. Reemplaza la pantalla de observacin con el detector y un agujero que permita solamente el paso de las franjas. Cuando el patrn de franjas se mueve, la luz en el detector crear alternativamente seales fuertes y dbiles. Si el detector es conectado a un amplificador de audio y bocina, la seal alternante proporcionar un sonido audible. La frecuencia del sonido depender del numero de franjas por segundo que pasan por el agujero. Como cada franja representa un movimiento del espejo de media longitud de onda, el tono de la onda de sonido representa la velocidad del movimiento del espejo.

1.7 Proyecto # 7: Coherencia y lseres.


Este proyecto es una desviacin de los experimentos de la ptica clsica descritos hasta este punto en este manual. En este proyecto examinars una de las caractersticas de los lseres con un interfermetro de Michelson para determinar la frecuencia de separacin entre los modos

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axiales del lser (Secc. 0.6.3). El lser estndar He-Ne proporcionado en el kit produce tres longitudes de onda separadas en frecuencia por c/2L, donde c es la velocidad de la luz y L es la distancia entre los extremos de los espejos del lser (aproximadamente la longitud del tubo del lser). La tcnica usada para este proyecto fue descrita en la Seccin 0.6.4 del Texto Elemental. Observando la visibilidad de las franjas del interfermetro de Michelson sers capaz de medir la frecuencia entre los modos axiales en el lser. El interfermetro de Michelson es descrito en la Seccin 0.4.2 del Texto elemental y fue construido en el Proyecto # 6.

Arreglo experimental.

NOTA: Si ya has construido el interfermetro de Michelson del Proyecto # 6, el montaje ya esta casi completo. La nica modificacin que tendrs que hacer es cambiar el espejo de referencia (paso 5) de un ensamble de base fija que se atornilla a la mesa ptica por un ensamble mvil sujetando una base B-2 de un los ensambles LCA al ensamble BSA-I (Fig. 7-1). Tambin, ajusta el expansor de haz para un frente de onda plano, el pequeo haz reflejado sobre la tarjeta en el frente del lser har la alineacin coincidente ms rpido. Una vez hecho esto, puedes empezar en el paso # 10. Debido a que el ensamble del espejo de referencia no esta muy fijo, necesitaras reajustarlo para encontrar las franjas cada vez que muevas o atropelles este ensamble.
1. Monta un ensamble para lser (LA) a la parte trasera de la mesa ptica (Fig. 7-1). Ajusta la posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y a una lnea de agujeros en la superficie de la mesa ptica. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo orificio (aproximadamente 2 mm) enfrente del lser, de tal forma que el haz pueda pasar a travs de l. Esta tarjeta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones producidas por los componentes tan pronto como sean insertadas en el haz. Ve la nota en el Proyecto # 3 sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) a cuatro pulgadas aproximadamente de la esquina mas lejana de la mesa ptica (Fig. 7-1). Ajusta la altura de la montura para espejo hasta que el haz intersecte el centro del espejo. Entontes rota el poste en el sujetador para poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la mesa ptica. 3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser en la esquina inferior izquierda de la mesa ptica, (Fig. 7-1).
4. Monta un expansor de haz entre los dos primeros BSA-I como se explic en el Proyecto # 3. Monta la primer lente a la mesa ptica sin base B-2 (Fig. 7-1).Este expansor genera una onda plana expandida que es necesaria para construir el interfermetro.

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5. Coloca un ensamble de lentes (LCA) aproximadamente a 5 plg a la derecha de la ultima montura BSA-I. Monta un divisor de haz 50/50 en la LCA y rota el ensamble 45 del camino ptico. El haz reflejado de la primera superficie deber ser perpendicular a e ir en la direccin de la orilla frontal de la mesa ptica. El divisor de haz divide el haz que ingresa en dos componentes iguales para los dos brazos del interfermetro. 6. Coloca un BSA-I con su espejo centrado alrededor del camino del haz reflejado y aproximadamente a 5 plg del divisor de haz para interceptar el haz reflejado (Fig. 7-1). Ajusta el espejo hasta que su haz sea regresado a la tarjeta indicadora pegada al lser. Este espejo ser llamado el espejo fijo.

Fig. 7-1. Vista esquemtica del experimento de coherencia.

7. Coloca un BSA-I* (modificado con una base B-2, de tal forma que pueda moverse sobre la mesa ptica) con su espejo centrado respecto al camino del haz transmitido y aproximadamente a 5 plg mas all del divisor de haz de tal forma que es haz sea retroreflejado hacia el lser. Este espejo ser llamado el espejo mvil. 8. Usa un TA-II (sin base) con una tarjeta indicadora (QI) como una pantalla de observacin al otro lado del divisor de haz espejo fijo (Ve el paso numero 6). Ajusta los espejos en los dos brazos del interfermetro hasta que los dos haces se superpongan en la pantalla. Habr reflexiones combinadas en la pantalla de observacin y en la tarjeta en el frente del lser. 9. Como los dos haces son llevados a coincidir, una serie de franjas brillantes y oscuras aparecern representando el patrn de interferencia entre los dos frentes de onda. La orientacin y separacin de las franjas puede ser controlada ajustando los espejos fijo y mvil. Usualmente es mejor usar un espejo para ajuste. Ajusta el espejo de tal forma que aproximadamente 5 franjas aparezcan cruzando el haz sobre la tarjeta. El numero de

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franjas puede variarse en una direccin particular inclinando el espejo de referencia en una direccin perpendicular a la direccin de las franjas. Tu interfermetro de Michelson esta ahora completo. 10. Ajusta la posicin del espejo hasta que la diferencia de camino entre los dos brazos del interfermetro sea igual. En este caso, sin embargo, los dos caminos no son tan iguales debido a que la luz que tiene que pasar por el vidrio para salir del divisor de haz viaja una distancia adicional, el camino dentro del vidrio debe ser multiplicado por el ndice de refraccin. En el caso del divisor de haz (FK-BS), la longitud del camino ptico adicional es aproximadamente 2 2 veces el grosor del divisor de haz. 11. Coloca la cinta mtrica sobre la mesa con alguna de sus divisiones principales en lnea con el centro del divisor de haz. Registra el valor en tu cuaderno. 12. Traslada el espejo mvil alejndolo del divisor de haz en incrementos de plg. Cada vez que el espejo se mueva reajusta su inclinacin hasta que se observen de 4 a 6 franjas. Habr una posicin en la diferencia de camino donde las franjas parezcan aparecer y desaparecer gradualmente. Cuidadosamente mueve el espejo respecto a esta posicin hasta no puedas hacer que las franjas aparezcan. Registra esta posicin. 13. Continua alejando el espejo del divisor de haz y observa que el contraste se incrementa. Usando la misma tcnica de arriba, busca las posiciones del espejo que den el mayor contraste posible. Puedes ir mas all de esta posicin y regresar varias veces para verificar tu decisin. Registra el valor para el contraste mximo. 14. Pon atencin para encontrar contrastes mximos y mnimos adicionales. Si eres capaz de hacer esto, registra tambin las posiciones. Las distancia entre mximos y mnimos sucesivos deber ser la misma. Si tienes mas de un valor, toma el promedio de las distancias mnimas y mximas. 15. En el Texto Elemental (Seccin 0.6.4) mostramos que si la visibilidad de las franjas va de un mximo a un mnimo en una distancia L, la frecuencia de separacin entre dos salidas de un lser que causan esta variacin de contraste es
v = c 2 L = v 4 L = c 4 L

(7-1)

Calcula la diferencia de frecuencia basndote en los valores que has medido para L. 16. Se mostr que la frecuencia de separacin entre los modos contiguos de un lser era c/2L. Basndote en la separacin de frecuencia determinada en el paso # 15, encuentra la distancia entre espejos en el tubo de lser que estas usando. Es razonable este valor basndose en las dimensiones exteriores del lser?

Experimentos adicionales.

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Si se agrega un polarizador al sistema en la salida del lser mientras el espejo esta en la posicin de mnimo contraste y el polarizador es rotado paralelamente al modo doble de salida, el contraste de las franjas ser maximizado. Los modos que contribuyen a la mayor variacin de contraste estarn ahora separados por c/L. Como los modos estn espaciados dos veces la separacin del experimento anterior, el contraste mnimo ocurrir a la mitad del valor de L encontrado en el Paso # 15. Rota 90 el polarizador y observa la variacin del contraste mientras mueves el espejo. No esperes algo tan dramtico como los efectos que has estado midiendo, debido a que ahora estas observando la interferencia de un solo modo del lser. Necesitaras la diferencia de longitud de un campo de ftbol en uno de los brazos para reducir el contraste. De esta forma la longitud de coherencia de este lser con un solo modo seleccionado por polarizacin es del orden de cientos de metros. Esto puede ser comparado con la longitud de coherencia de una fuente de luz de sodio estndar de laboratorio (0.045 nm medio ancho @ =550 nm) la cual tiene una longitud de coherencia de aproximadamente 2 mm.

1.8 Proyecto # 8: Polarizacin de la luz.

POLARIZACIN DE LA LUZ
Aunque la idea de polarizacin es bastante simple (Seccin 0.5 del Texto Elemental), permanece algo abstracta hasta que puedes trabajar con luz y sus diversas formas de polarizacin. El objeto de este proyecto es darte alguna experiencia en la orientacin y generacin de luz polarizada. Como se puntualiz en el Texto Elemental, (Seccin 0.6.3) y se explor en el Proyecto # 7, la salida del lser usado en el Kit de Proyectos en ptica tiene tres modos con dos de estos modos polarizados ortogonalmente al tercero. Como el lser no tiene sistema especial de estabilizacin de circuitos, los modos del lser tendern a arrastrar la frecuencia, de tal forma que uno de los modos de una polarizacin sea rechazado y un modo de polarizacin ortogonal sea aceptado. As que el modo simple de polarizacin se polariza ortogonalmente y viceversa. Este fenmeno se refiere a un modo de arrastre. Su efecto sobre estos experimentos es que la salida del lser en una polarizacin particular cambiar lentamente con el tiempo. As, mientras haces mediciones durante este experimento, cuida que algunas variaciones de la potencia no puedan ser debidas a tus esfuerzos por cambiar una variable, sino que puedan ser causados por efectos del modo de arrastre. Dos formas de minimizar estos efectos son: (1) dejar que el lser se caliente tan pronto como entres al Laboratorio y (2) tomar las series de datos mas de una vez para dar razn de cualquier variacin de la fuente. Si tienes tiempo, puedes querer monitorear y registrar la potencia de salida del lser para algn periodo de tiempo cuando no ests realizando los experimentos. Estas medidas tomadas antes de que el haz toque algn elemento son muy usadas para evaluar este fenmeno de variacin de potencia.

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Fig. 8-1. Placa de media onda. La placa produce un retraso De 180 en la fase entre las componentes E y E de la luz incidente Linealmente polarizada. Si la direccin de polarizacin original es A un ngulo al eje ptico, la polarizacin transmitida es rotada aprox. 2 de la original.

NOTA: Parte de este experimento requiere una medida de los niveles de potencia pticos. Si no te es posible, cuenta con tus ojos para realizar esta tarea. Su construccin, con un diafragma que se cierra cuando la luz se vuelve demasiado brillante los hace buenos detectores de imgenes pero pobres medidores de potencia. Por lo tanto, puede usarse o construirse algn tipo de detector ptico. Si no tienes un Newport 615 o algn Detector ptico equivalente, necesitaras obtener un voltmetro estndar de laboratorio y construir un detector simple. Aunque hay algunos dispositivos que harn el trabajo, las instrucciones al final de este Proyecto sern suficientes para construir un circuito fotodetector simple

Arreglo Experimental.
Equipo de Newport Requerido: Parte LA BSA-I RSP-1T LCA TA-II R (RSP--1T) Cantidad 1 2 1 2 1 1 2 Descripcin Ensamble de lser Ensamble dirigidor de haz Plataforma de Rotacin Ensamble de lentes Ensamble de Objetivo Plataforma de rotacin Polarizador lineal

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Equipo adicional requerido: Parte QI QV QD QM Cantidad 1 1 1 1 Descripcin Tarjeta indicadora Voltmetro Foto detector o celda solar Porta objeto de microscopio

1. Monta un ensamble para lser (LA) a la parte trasera de la cubierta ptica. Ajusta la posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y a una lnea de agujeros en la superficie de la cubierta ptica. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo orificio (aproximadamente 2 mm) enfrente del lser, tal que el haz pueda pasar a travs de l. Esta tarjeta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones producidas por los componentes tan pronto como sean insertadas en el haz. Ve la nota en el Proyecto # 3 sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) a cuatro pulgadas aproximadamente de la esquina ms lejana de la cubierta ptica (Fig. 8-2). Ajusta la altura de la montura para espejo hasta que el haz intersecte el centro del espejo. Entontes rota el poste en el sujetador para poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la cubierta ptica. 3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser en la esquina inferior izquierda de la mesa ptica, (Fig. 8-2). Rota y ajusta la montura para espejo hasta que el haz sea paralelo a la orilla frontal y a la superficie de la cubierta ptica.
4. Coloca el detector en un ensamble de lentes (LCA) y mntala bien mas all del segundo BSA-I de tal forma que el haz golpee el centro del detector. 5. Monta un polarizador en un ensamble LCA con la marca de los grados en el disco hacia arriba. Pega un segundo polarizador por las orillas a un ensamble de plataforma de rotacin (RSA-I) de tal forma que la marca de los grados sea vertical cuando la plataforma de rotacin este colocada a 360. Coloca ambos ensambles directamente en lnea con el haz lser entre el segundo BSA-I y el detector. La salida del dispositivo ser proporcional a la irradiancia de la luz (Watts/m2). Esta cantidad es proporcional al cuadrado de la amplitud del campo elctrico, como se discuti en la Seccin 0.5.1 del Texto Elemental. Rota el segundo polarizador en incrementos de 10 entre 0 y 180, registrando el ngulo y la salida del detector como mide el voltmetro. 6. Grafica los resultados de tus mediciones y compralas con la Ley de Malus. I trans = I o cos 2 (0-18)

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Tendrs que adaptar tu grfica de comparacin a la Io, que es el mximo valor registrado. Tambin puedes haberte equivocado en la orientacin de alguno de los polarizadores en alguna cantidad y por lo tanto las dos curvas pueden estar movidas a lo largo del eje del ngulo. Puedes tener que ajustar tus grficas para hacer la comparacin, pero debers justificar cualquier ajuste en tu cuaderno.

Fig. 8-2. Vista esquemtica del experimento de polarizacin de la luz.

7. Quita el RSA-I de la cubierta y desmonta la Plataforma de Rotacin. Quita el polarizador e inserta el adaptador en el agujero de una pulgada. Monta un ensamble de lentes (LCA) sin base sobre esta plataforma usando el agujero en el centro del adaptador. La plataforma de rotacin (R) se sujeta entonces a la mesa con tornillos 1/4-20. Coloca la LCA de tal forma que el haz de lser pase a travs del centro del sujetador de lentes. Pega un porta objetos de microscopio (QM) al sujetador de lentes de tal forma que el porta objeto se mantenga firmemente en su lugar y el haz no pase a travs de la cinta. (Fig. 83). 8. Coloca la Plataforma de Rotacin (R) a 0. Rota la montura para lente en su sujetador de tal forma que el haz reflejado del porta objetos sea regresado a la entrada del haz. Puedes querer usar la tarjeta indicadora con el agujero en ella para colocar el haz. Aprieta el tornillo en el poste, de tal forma que la montura para lentes se fije en la plataforma. 9. Rota el polarizador de tal forma que el eje de transmisin sea horizontal a la mesa (marca de grados hacia arriba). Esto significa que el vector de polarizacin es ahora horizontal y esta en un plano formado por la direccin del haz de lser y la normal a la superficie del portaobjetos de microscopio. El plano definido por esas dos direcciones se llama plano de incidencia. 10. Reemplaza el detector en el LCA con un ensamble de objetivo modificado (TA-II) debido a que vas a tener que seguir al haz sobre la tabla. 107

11. Rota la plataforma de rotacin (R) alejndola de 0 y observa la reflexin del portaobjetos sobre la tarjeta indicadora montada en TA-II. En algunos puntos en este proceso, la reflexin del portaobjetos se volver muy dbil. Busca despus del punto de reflexin mnima y observa que la irradiancia del haz reflejado se incrementa. Mediante sucesivas aproximaciones, has que la plataforma produzca la mnima reflexin. (Puedes encontrar que puedes mejorar el mnimo pellizcando ligeramente la entrada del ngulo de polarizacin en una pequea cantidad). Registra el ngulo de la plataforma de rotacin y determina el ngulo entre el haz y la normal a la superficie. Compara este ngulo con el ngulo de Brewster, discutido en la Seccin 0.5.1 en el Texto Elemental, y evala el que se da ah. 12. Rota la entrada de la polarizacin del haz a la polarizacin ortogonal y observa que tal reduccin en la irradiancia del haz reflejado, ocurre para algn ngulo.

Fig. 8-3. Vista esquemtica del experimento del Angulo de Brewster.

Ejercicios adicionales.
Si tu foto detector es lo suficientemente sensible, es posible medir la potencia del haz reflejado para ambas polarizaciones. Una grafica de las potencias registradas como una funcin del ngulo de incidencia puede compararse a las curvas tericas en la mayora de los textos de ptica en las secciones de polarizacin de la luz por reflexin. Otro uso de la luz polarizada es al medir el contenido de azcar de algunas mieles en la industria de los dulces. La base de esta medida es el hecho de que los azcares son materiales pticamente activos, causando que el plano de polarizacin de la luz pase a travs del liquido y que rote. La cantidad de rotacin depende de la concentracin de azcar y del grosor de la muestra a travs de la cual viaja la luz. De esta forma por construccin de un dispositivo con una longitud estndar de la muestra y conociendo la constante de rotacin del azcar, la concentracin del liquido

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azucarado puede ser determinada. Por ejemplo, la miel de maz sin color (Karo es la marca estndar) tiene una constante de rotacin para la luz visible que puede ser fcilmente medida. Usando un tanque de plstico transparente tal como el usado en el Proyecto #1, llena el fondo del tanque con miel a suficiente altura para pasar un haz a travs de ella y colocarla sobre una caja u otro objeto para subir el lquido a la altura correcta del haz. Sin el haz en el tanque, coloca dos polarizadores cruzados, entonces inserta el tanque de miel entre ellos. Debido a la actividad ptica de la miel, la luz rotar y ser transmitida por el analizador. El ngulo de polarizacin puede ser determinado rotando el analizador para eliminar el haz. La constante de rotacin es igual a ese ngulo dividido por la distancia que el haz viaj a travs de la miel. Cuando hayas terminado, vaca el tanque y coloca la miel en una jarra cubierta. Enjuaga el tanque y scalo para prevenir un desorden pegajoso la prxima vez que se use.

Circuito usado para medir luz en un experimento de luz polarizada.


El circuito alterno es para equipo de medicin de baja impedancia. Las patitas de tierra 5 y 6 no son usadas.

Proyecto # 9Proyecto # 9: Birrefringencia de materiales.

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BIRREFRINGENCIA DE MATERIALES.
La polarizacin de la luz puede ser usada para controlar el paso de la luz a travs de un sistema ptico e imprimir informacin de una onda de luz cambiando (modulando) la cantidad de luz de materiales birrefringentes. En este proyecto la birrefringencia de un material ser usada para cambiar la polarizacin del lser. Usando una placa de cuarto de onda y un polarizador, construirs un aislante ptico. Cuando agregues una segunda placa de cuarto de onda, resultar un rotador de polarizacin.

Arreglo experimental.
Equipo de Newport Requerido: Parte LA BSA-I RSA-I LCA LCA* TA-II FK-B2 Cantidad 1 3 1 1 2 2 1 2 2 Descripcin Ensamble de lser Ensamble dirigidor de haz Ensamble de plataforma de rotacin Ensamble de lentes Ensamble de lentes sin base B-2 Ensamble de Objetivo Divisor de haz Polarizador lineal Placas de cuarto de onda

Equipo adicional requerido: Parte QI Cantidad 2 Descripcin Tarjeta indicadora Cinta

1. Monta un ensamble de lser (LA) a la parte trasera de la cubierta ptica (Fig. 6-1). Ajusta la posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y a una lnea de agujeros en la superficie de la mesa ptica. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo orificio (aproximadamente 2 mm) enfrente del lser, tal que el haz pueda pasar a travs de l. Esta tarjeta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones producidas por los componentes tan pronto como sean insertados en el haz. Ve la nota en el Proyecto # 3 sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) a cuatro pulgadas aproximadamente de la esquina contigua ms lejana de la mesa ptica. Ajusta la altura del espejo hasta que el haz intersecte su centro. Entontes rota el poste en el sujetador para poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la cubierta ptica.

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3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser aproximadamente a dos terceras partes del camino a lo largo del lado izquierdo de la mesa ptica. Rota y ajusta la montura para espejo hasta que el haz sea paralelo a la orilla frontal y a la superficie de la cubierta ptica. 4. Monta el divisor de haz en un ensamble de lentes (LCA) y coloca la unidad a cuatro pulgadas a la derecha del ultimo espejo dirigidor de haz. Ajusta el divisor de haz de tal forma que su superficie este orientada a 45 hacia el ltimo espejo dirigidor de haz. 5. Coloca una pieza de cartn o algn otro objeto en la orilla de la cubierta ptica para bloquear la luz reflejada por la superficie posterior del divisor de haz (la superficie posterior del divisor de haz es siempre la superficie opuesta a la superficie que divide el haz). Habr al menos dos haces de intensidad desigual.
6. Coloca un ensamble modificado de objetivo (TA-II) sobre el lado opuesto del divisor de haz. Inserta una tarjeta blanca en el soporte a la altura del haz. Esta ser usada para monitorear la cantidad de luz reflejada. 7. Monta un polarizador en un ensamble de lentes (LCA) sin base B-2 y mntala sobre la mesa ptica en lnea con el haz de lser y varias pulgadas a la derecha del divisor de haz. Coloca el polarizador con la marca de los grados hacia arriba. Rota la montura de lentes ligeramente de tal forma que la reflexin de este polarizador pueda ser vista sobre la tarjeta indicadora. 8. Monta un segundo polarizador en un ensamble de lentes (LCA) sin base B-2 y mntalo 7 pulgadas a la derecha del primer polarizador. Coloca un segundo TA-II a la derecha del segundo polarizador. Rota el segundo polarizador hasta que bloquee completamente la luz del primer polarizador (es decir, susz ejes de polarizacin cruzados). Rota la montura para lentes ligeramente de tal forma que la reflexin de este segundo polarizador pueda ser reconocida como un haz separado. 9. Inserta la placa de cuarto de onda en un Ensamble de Plataforma de rotacin (RSA-I). Coloca el ensamble entre los dos polarizadores. Lentamente rota la placa de cuarto de onda hasta que la salida a travs del segundo polarizador sea un mximo. 10. Afloja el segundo polarizador en su montura para lentes y rota. Nota que la salida no cambia debido a que la luz esta ahora circularmente polarizada y hay una componente igual en cualquier direccin de la orientacin de polarizacin. La placa de cuarto de onda ha convertido la entrada lineal del haz a un haz circularmente polarizado.

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Fig. 9-1. Vista esquemtica del experimento de Birrefringencia de materiales.

11. Habiendo verificado que la placa ha producido luz circularmente polarizada, reemplace el segundo polarizador con un espejo en un ensamble dirigidor de haz BSA-I, (Fig. 9-2). Observa las reflexiones de la luz en la tarjeta indicadora. Habr reflexiones superficiales de las superficies del polarizador y la polaca de cuarto de onda, pero no habr reflexin fuerte del espejo debido a que como fue puntualizado en la Seccin 0.5.2 del Texto Elemental, el espejo invierte la luz circularmente polarizada y en el segundo paso a travs de la placa de cuarto de onda, el haz est nuevamente linealmente polarizado pero en ngulos rectos a la polarizacin original. Cuando el haz reflejado golpea el polarizador otra vez, es absorbido. Puedes probar esto removiendo o rotando la placa de cuarto de onda o rotando la entrada del polarizador. En cualquier caso, la luz en el espejo no esta muy circularmente polarizada. Esto es equivalente a decir que el haz saliente ha sido aislado de reflexiones despus de la placa de cuarto de onda. 12. Comenzando con el arreglo completado en el Paso # 9, con una sola placa de cuarto de onda en el RSA-I, coloca una segunda placa de cuarto de onda entre los polarizadores cruzados sin perturbar la orientacin de la primera. Rota la segunda placa de cuarto de onda hasta que la luz que pasa a travs del segundo polarizador sea un mximo. Cuidadosamente pega esta segunda placa de cuarto de onda al RSA-I en el cual est montada la primer placa de cuarto de onda. Has creado ahora una placa de media onda que rota la polarizacin entrante en 90. Para comprobar que esto efectivamente es as, rota el segundo polarizador para producir el mnimo de transmisin. Encontrars que tienes que rotar 90 y que los ejes de los dos polarizadores son ahora paralelos. 13. Finalmente, rota el primer polarizador en algn ngulo especfico, digamos 10, y anota la cantidad por la que el segundo polarizador debe ser rotado para extinguir el haz. Encontrars que el analizador debe rotarse en dos veces el ngulo del polarizador inicial.

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Fig. 9-2.

1.10 Proyecto # 10: Teora de Abbe de formacin de imgenes.

TEORA DE ABBE DE FORMACIN DE IMGENES


Este experimento toca el contenido del tema de frecuencia espacial de los objetos y cmo stos deberan ser usados para controlar la forma y calidad de una imagen. Esta materia es similar a encontrar el contenido de frecuencia armnica de una forma ondulatoria como por ejemplo, la producida por un instrumento musical. Un instrumento musical puede producir un tono bajo y un tono alto. Podemos controlar la calidad del sonido filtrando una de las dos frecuencias armnicas con un filtro de bajo paso o un filtro de alto paso. Una discusin de la teora bsica fue dada en la Seccin 0.7 del Texto elemental. Como notamos en el Texto Elemental, los objetos tienen cierto perfil de intensidad que se traduce en la correspondiente distribucin de frecuencia espacial. En este proyecto la distribucin de frecuencia de un objeto iluminado con un haz de lser ser examinada con una sola lente colocada despus de la diapositiva. La distribucin de luz formada en el plano focal nos dice el contenido de frecuencia del objeto, y manipulando la luz en ese plano controlamos la calidad y contenido de la imagen que ser exhibida. El haz de lser que estamos usando tiene un perfil suave, es decir, la distribucin de intensidad no tiene variaciones, y cuando esta enfocada produce un nico y pequeo punto., es decir, el haz original contiene solamente bajas frecuencias espaciales, por otro lado, si pasamos este haz a travs de una rejilla o pantalla que introduzca muchas variaciones en el perfil del lser, entonces,

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en el plano focal de la lente veremos varios puntos indicando que han sido agregadas componentes de frecuencia espacial adicionales. Construyamos un montaje que nos permita examinar esta caracterstica.

Arreglo experimental.
Equipo de Newport Requerido: Parte LA BSA-I LCA LCA* TA-II Cantidad 1 2 1 2 2 2 TL KPX100 1 Descripcin Ensamble de lser Ensamble dirigidor de haz Ensamble de lentes Ensamble de lentes sin base B-2 Ensamble de Objetivo Lentes para expansor de haz Lente transformadora (a50 mm EFL) Transparencias

Equipo adicional requerido: Parte QI Cantidad 2 1 Descripcin Tarjeta indicadora Porta objetos de microscopio Palillos, otros materiales para pegar

1. Monta un ensamble de lser (LA) al lado ms lejano de la cubierta ptica (Fig. 10-1). Ajusta la posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y en lnea con una lnea de agujeros en la superficie de la mesa ptica. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo agujero (aproximadamente 2 mm) en el frente del lser, de tal forma que el haz pueda pasar a travs de l. Esta tarjeta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones producidas por las componentes tan pronto como sean insertadas en el haz. Mira la nota en el Proyecto # 3 sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) a cuatro pulgadas aproximadamente de la esquina ms lejana de la mesa ptica (Fig. 5-2). Ajusta la altura del espejo hasta que el haz intersecte su centro. Entontes rota el poste en el sujetador para poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la cubierta ptica.
3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser en la esquina izquierda ms baja de la mesa ptica. Rota y ajusta la montura para espejo hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla frontal y a la superficie de la mesa ptica. 4. Coloca un expansor de haz entre los dos primeros BSA-I como se explico en el Proyecto

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# 3. Monta la primer lente a la tabla ptica sin base B-2 (Fig. 10-1).
5. Coloca una lente transformadora de 150 mm sin base a 12 plg del segundo BSA-I y cntrala en el camino del haz. 6. Monta un ensamble de objetivo modificado (TA-II) con una tarjeta indicadora y colcalo en el foco del haz, a 150 mm de la lente transformadora. El plano de la tarjeta representa el plano focal posterior de la lente. Para algunos de los experimentos la tarjeta indicadora ser reemplazada por un portaobjetos de microscopio. 7. Monta un segundo ensamble de objetivo modificado (TA-II) sin base 225 mm antes de la lente transformadora. Este ensamble ser usado para mantener la diapositiva antes de la lente transformadora en el camino de la luz lser. Este ensamble ser llamado soporte de diapositiva.

Fig. 10-1. Vista esquemtica del experimento de Formacin de imgenes.

8. El montaje para la examinacin de las diapositivas esta listo ahora. La imagen ser observada sobre una tarjeta indicadora en otro ensamble modificado de objetivo. La posicin del plano de observacin estar ahora aproximadamente a 450 mm despus de la ultima lente y dar una imagen de aproximadamente dos veces el tamao de la diapositiva objeto cuando la tarjeta en el punto focal posterior de la lente sea removida. 9. Quita cualquier diapositiva sujeta al soporte de diapositiva. En el plano focal posterior vemos una sola mancha enfocada. La posicin de la mancha localiza el nivel dc de iluminacin del haz que entra en la lente. Cualesquiera otras manchas que aparezcan sobre la tarjeta indican que estn presentes otras frecuencias espaciales. Quita la tarjeta del plano focal posterior y vers iluminacin uniforme (o nivel dc) en el lugar de observacin. 10. Coloca el objetivo de malla cuadrada en el soporte de diapositiva y vuelve a colocar la 115

tarjeta indicadora en el plano focal de la lente. Aqu veras un patrn de rejilla cuadrada de manchas que representan el contenido de frecuencia de la malla en ambos ejes: horizontal (eje x) y vertical (eje y). Marca con un lpiz sobre la tarjeta, la posicin de estos ejes. Las manchas en el eje x (o y) representan frecuencias presentes en esa direccin de la diapositiva. 11. Quita la tarjeta del plano focal posterior y mueve el TA-II en el plano imagen para conseguir la imagen mas definida. Esta imagen puede ser manipulada eliminando ciertas frecuencias, en gran parte en la misma forma como un filtro de audio de alta fidelidad controla el tono de un instrumento musical. Para ilustrar esto, corta una rendija vertical angosta en una seccin de la tarjeta indicadora de tal forma que solamente aquellos puntos sobre el eje horizontal pasen a travs del corte. Coloca la tarjeta en el TA-II en el plano focal posterior de tal forma que el resto de los puntos sean bloqueados por la tarjeta. Examina la imagen sobre la tarjeta indicadora en el plano de observacin y registra lo que ves. Notars que la imagen consiste de solamente lneas horizontales. Cuando quitas la rendija del plano focal, la imagen se parece al objeto original. 12. Rota la tarjeta en el Paso # 11 de tal forma que pasen los puntos en el eje-y. Registra lo que ves. 13. Haz otro corte de tal forma que solamente el punto central sea transmitido. Nota que solo iluminacin uniforme est presente en el plano de observacin, es decir, has filtrado todas las frecuencias ms altas y todo lo que dejas son las frecuencias bajas (es decir, iluminacin relativamente uniforme). Este es el principio de filtro espacial. ste limpia los haces pticos quitando las frecuencias altas centrando el haz a travs de un agujero, por eso obstruyendo los armnicos no deseados. 14. Otros cortes pueden insertarse en el plano focal posterior. Por ejemplo, si haces un filtro en forma de un agujero ms largo que pase solamente los puntos central y los dos adyacentes. Registra lo que ves. Nota que esto quita las orillas afiladas de la imagen y produce una imagen suave. Alternativamente puedes hacer un filtro especial que obstruir solamente el punto central poniendo un punto de tinta en un microscopio y colocndola en el punto central en el plano focal posterior. Registra tus observaciones. Esto quitara la iluminacin uniforme de la imagen y realzar las orillas. 15. Reemplaza la malla cuadrada en el soporte para diapositiva con cualquier diapositiva. Nota que esta imagen tiene superpuestas muchas lneas horizontales. En el plano focal posterior de la lente la distribucin de la luz consiste de una distribucin irregular de luz representando las muchas frecuencias espaciales presentes en la imagen. Superpuesta a esta distribucin est un conjunto de puntos tenues alineados a lo largo del eje vertical y pasando a travs del punto central. Esta lnea de puntos representa el contenido de frecuencias de lneas horizontales en la diapositiva. 16. Pega con cinta al microscopio dos alfileres (o palillos u objetos delgados) de tal forma que cuando este colocado atrs en el plano focal los objetos obstruyan esta lnea vertical de puntos. El punto central no deber ser obstruido. Registra tus observaciones. Quita y

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luego vuelve a colocar este filtro de aguja.

17. Pueden hacerse y usarse otros cortes en el plano focal posterior. Por ejemplo, corta un agujero en la tarjeta indicadora de tal forma que obstruya los puntos externos. Esos puntos contienen las informacin de alta frecuencia. Registra tus observaciones. Obstruirlas nos lleva a una imagen ms suave, ms borrosa, como se ve en el plano de observacin.

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