6.

ÎNCERCĂRI DE FIABILITATE
6.1 CLASIFICARE 6.1.1 După scopul urmărit  De investigare  Pentru determinarea indicatorilor de fiabilitate  De omologare 6.1.2 După importanţa dispozitivelor supuse încercării Standuri simple  Încercări asupra dispozitivelor simple N0 mare Nivel de încredere ridicat  Încercări aspra dispozitivelor cu standuri mai complexe grad mijlociu de complexitate (subansambluri) N0 mai mic standuri complexe  Încercări aspra dispozitivelor complexe N0 mic Nivel de încredere scăzut 6.1.3 După condiţiile în care are loc funcţionarea dispozitivelor Condiţii de funcţionare: - climă – temperatura şi presiunea atmosferice, umiditate, precipitaţii, vânt; - încărcare – încărcarea automobilului, intensitatea traficului, declivitatea drumului - mediu ambiant – starea drumului, densitatea prafului atmosferic; - materiale utilizate – combustibili, lubrifianţi, lichid de răcire etc; - utilizator – nivel de calificare, stil de conducere, calitatea şi frecvenţa operaţiilor de mentananţă.  În condiţii normale  Accelerate – condiţiile de funcţionare se înăspresc în scopul grăbirii apariţiei defecţiunilor; aceasta nu trebuie să afecteze natura fenomenelor ci numai intensitatea lor 6.1.4 După procedura utilizată  Încercări cenzurate – se derulază până la producerea unui număr de defecţiuni stabilit iniţial;  Trunchiate – se derulează o perioadă de timp stabilită iniţial;  Secvenţiale – la producerea fiecărei defecţiuni se compară timpul total de funcţionare cu două valori limită corespunzătoare nivelurilor „acceptabil”, respectiv „neacceptabil” ale fiabilităţii dispozitivelor încercate; dacă timpul total de funcţionare se situează între cele două valori de referinţă, testul de consideră neconcludent şi se continuă până la producerea următoarei defecţiuni, când procedura se repetă. 6.2 ÎNCERCĂRI CENZURATE Caracteristica încercărilor cenzurate: Se derulază până la producerea unui număr de defecţiuni, „ r”, stabilit iniţial. Scopuri: 57

N0*+r-2 t1 t2 t 3 . 3. . acceptându-se un nivel de risc α (sau un nivel de încredere p = 1 ... 3 2 1 t1 t2 t3 tr-1 tr t Timpul total de bună funcţionare: T = ∑ t i + ( N0 − r ) ⋅ t r i =1 r b) Încercări cenzurate cu înlocuire – dispozitivele defectate se înlocuiesc imediat după producerea defecţiunii. Valoarea aproximativă a MTBF pentru eşantion: µ= T r 58 . numărul r ≤ N0 fiind ales înainte de începerea încercării... N0*+1.  Determinarea intervalului de timp în care se află valoarea MTBF pentru întreaga populaţie de dispozitive. N N0 N0 – r . Determinarea valorii aproximative a MTBF pentru un eşantion de dispozitive la care se înregistrează un număr „r” de defecţiuni... a) Încercări cenzurate fără înlocuire – dispozitivele defectate nu se înlocuiesc.α). O încercare efectuată asupra unui eşantion alcătuit din N0 dipozitive este cenzurată la nivelul „r” dacă se încheie în momentul tr de apariţie a celei de a r – a defecţiuni. N0*+2. N N0* N0* -1 .. N0*+3 2. r+1 r r-1 . . Timpul total de bună funcţionare: * 0 T = N0*⋅ tr Relaţiile următoare sunt valabile pentru oricare din cele două tipuri de încercări cenzurate. tr-2 tr-1 tr t S-a notat cu N numărul de dispozitive din care a fost alcătuit iniţial eşantionul.. . N0*+r-1 1.

nivelul de încredere este p = 1 . Scopuri:  Determinarea valorii aproximative a MTBF pentru un eşantion de dispozitive la care.α ) 2T .1 − α ) . b) cazul intervalului necentrat: m1n = 2T χ 2 ( 2r . unde α este pragul de semnificaţie. limita superioară. „t*”.. m2c = α  χ 2  2r .1 −  2  . se înregistrează un număr „r” de defecţiuni.Limitele intervalului în care se află valoarea MTBF pentru întreaga populaţie de dispozitive Relaţiile prezentate în continuare sunt aplicabile în cazul în care dispozitivele se află în perioada vieţii utile.3 ÎNCERCĂRI TRUNCHIATE Caracteristica încercărilor trunchiate: Se derulează până la un moment. fixat a priori. .. pe durata t*. 3 2 1 59 . limita inferioară.α. acceptându-se un nivel de risc α (sau un nivel de încredere p = 1 . a) cazul intervalului centrat: m1c = 2T  α χ 2  2r . limita inferioară. N N0 N0 – r .  2  2T .  Determinarea intervalului de timp în care se află valoarea MTBF pentru întreaga populaţie de dispozitive. limita superioară. r+1 r r-1 .α) a) Încercări trunchiate fără înlocuire – dispozitivele defectate nu se înlocuiesc. . 6. atunci când acţionează legea exponenţială. m 2n = χ 2 ( 2r .

Valoarea aproximativă a MTBF pentru eşantion: µ= T r T = ∑ t i + ( N0 − r ) ⋅ t * r . N0*+3 2.  2  2T .α. limita inferioară. m2c = α  χ 2  2r .. a) cazul intervalului centrat: m1c = 2T α  χ 2  2r + 2.t1 t2 t3 tr-1 tr t* t Timpul total de bună funcţionare: i =1 b) Încercări trunchiate cu înlocuire – dispozitivele defectate se înlocuiesc imediat după producerea defecţiunii.. N0+r 1. N0*+r-1. unde α este pragul de semnificaţie.. nivelul de încredere este p = 1 . limita superioară. tr-2 tr-1 tr t* t Limitele intervalului în care se află valoarea MTBF pentru întreaga populaţie de dispozitive Relaţiile prezentate în continuare sunt aplicabile în cazul în care dispozitivele se află în perioada vieţii utile. b) cazul intervalului necentrat: m1n = 2T χ 2 ( 2r + 2. atunci când acţionează legea exponenţială. N0*+1. .. N N0* N0* -1 . N0*+2.α ) 60 .1 −  2  . 3...N0*+r-2 t1 t2 t 3 Timpul total de bună funcţionare: T = N0*⋅ t* Relaţiile următoare sunt valabile pentru oricare din cele două tipuri de încercări trunchiate.

Se formulează ipotezele: H0 – ipoteza potrivit căreia m≥ Ms. atunci produsele sunt acceptate..β este probabilitatea de respingere a unui dispozitiv necorespunzător. Se notează: a= 1− β >1 α şi b= β <1 1−α .1 − α este probabilitatea de acceptare a unui dispozitiv corespunzător. dispozitivele sunt declarate corespunzătoare. în care caz dispozitivele se resping. când analiza se reia în acelaşi mod. .Mi – limita inferioară a MTBF. dacă el este mai mic decât timpul calculat pentru valoarea inferioară a MTBF. Probabilitatea de producere a r defecţiuni atunci când dispozitivele se află în perioda vieţii utile se determină cu ajutorul legii Poisson pentru cazul legii exponenţiale: 1 T  − Pr =   e m r!  m  r T . dispozitivele sunt declarate necorespunzătoare. . Se definesc: . limita inferioară. respectiv una superioară. . Pentru situaţiile corespunzătoare celor două valori de referinţă ale MTBF rezultă: 61 . La apariţia fiecărui defect se compară timpul cumulat de funcţionare înregistrat la eşantionul studiat cu valorile corsepunzătoare momentului respectiv calculate pe baza celor două limite ale MTBF alese iniţial. în care caz dispozitivele sunt acceptate. Se iau în consideraţie riscul producătorului şi al beneficiarului: . H1 – ipoteza potrivit căreia m≤ Mi. limita superioară. Dacă timpul cumulat de bună funcţionare înregistrat experimental este mai mare decât cel calculat corespunzător valorii superioare a MTBF.1 − α ) . iar testul se continuă până la producerea defecţiunii următoare.Ms – limita superioară a MTBF.4 ÎNCERCĂRI SECVENŢIALE Scop: Se urmăreşte verificarea nivelului de fiabilitate al unor dispozitive pe baza MTBF. 6. Dacă MTBF < Mi. m 2n = 2T χ 2 ( 2r .β este probabilitatea de acceptare a unui dispozitiv necorespunzător (riscul beneficiarului). .1 .α reprezintă probabilitatea de respingere a unui dispozitiv corespunzător (riscul producătorului). rezultatul este considerat neconcludent. Caracteristica încercărilor secvenţiale: În cazul încercărilor secvenţiale se adoptă iniţial două valori de referinţă pentru MTBF – una inferioară. Dacă MTBF > Ms. În cazul în care valoarea obţinută experimental se află între cele calculate. în care: T este timpul cumulat de funcţionare pentru r dispozitive care s-au defectat. produsele sunt declarate necorespunzătoare. m – MTBF.

T < O reprezentare grafică a desfăşurării unui astfel de test poate avea una din formele prezentate în figura următoare.1 T Pri =  r!   Mi Pri  M s = Prs   Mi  −Mi . se respinge H0 şi se acceptă H1 (dispozitivele se resping).    1 1  Prin logaritmare se obţine: Ms  1 1   ⋅ T < ln a .dacă T > 1 A ⋅r − B B 1 C ⋅r − B B . Condiţiile de acceptare sau respingere a dispozitivelor devin: . sau − −  M i  M i Ms    1  1 Ms 1  1 ln b +  M − M   ⋅ T < r ⋅ ln M < ln a +  M − M s i s  i  i ln b < r ⋅ ln    ⋅ T . T Dispozitivele se • acceptă Test (ipoteza H0 este valabilă) neconcludent Dispozitivele sunt respinse (este valabilă ipoteza H1) • 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 r 62 . dispozitivele sunt acceptate. se respinge H1 şi se acceptă H0 (dispozitivele sunt acceptate).   e   1 r T 1 T Prs =  r!   Ms  − Ms . dispozitivele se resping. relaţie ce poate fi scrisă şi sub  forma: 1 1 1 1 − − M Ms M Ms ln b ln a + i ⋅T < r < + i ⋅T Ms Ms Ms Ms ln ln ln ln Mi Mi Mi Mi care reprezintă ecuaţiile a două drepte ce delimitează trei domenii în planul graficului: A + B⋅T < r < C + B⋅T. Dacă b < Prs Condiţia de continuare a testului se mai poate scrie şi sub forma:  Ms b< M  i r − M −M   ⋅T  s   i  ⋅ e < a. . Pri > a . se continuă testul.   e  r T r − M −M   ⋅T  s   i . Dacă Prs Pri < a .  ⋅ e   1  Acest raport se compară cu mărimile a şi b definite anterior.dacă . Dacă Prs Pri < b .

Sign up to vote on this title
UsefulNot useful