MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE

LUCRAREA NR. 1

DIANU MIHAELA-DIANA
NEAGU HORATIU-FLORIN
VOICU ANDRA-MIHAELA

GRUPA
422 G
DATA EFECTUARII LUCRARII:
28.11.2008

SCOPUL LUCRARII
Scopul acestei lucrari de laborator este insusirea metodei de
determinare a permitivitatii complexe relative a materialelor dielectrice
uzuale si analiza comportarii acesteia in fecventa.

Notiuni teoretice:
Dielectricii sunt materiale care se caracterizeaza prin stari de
polarizatie cu functie de utilizare. Prin stare de polarizatie se intelege starea
materiei caracterizata prin momentul electric al unitatii de volum diferit de
0. Starea de polarizatie poate fi temporara sau de orientare dipolara. In
domeniul liniar, interactiunea unui dielectric izotrop cu campul electric este
caracterizata de permitivitatea complexa relativa:
r =D/( 0 E)= 'r -j 'r'
Daca un material cu permitivitatea complexa relativa r se introduce
intre armaturile unui condensator care are capacitatea C 0 in vid, atunci
admitanta la bornele condensatorului astfel format are expresia : Y= 'r' C
0

+j 'r C 0 . Din schema echivalenta a condensatorului format se observa

ca partea reala a permitivitatii complexe relative caracterizeaza dielectricul

din punct de vedere al proprietatilor sale de a se polariza, iar partea
imaginara a permitivitatii complexe relative 'r' caracterizeaza dielectricul
din punct de vedere al pierderilor de energie in material, pierderi modelate
prin rezistenta R e =1/( 'r' C 0 ).
In diagrama fazoriala, complementarul unghiul dintre tensiunea
aplicata U condensatorului si curentul I care il strabate se numeste unghi de
pierderi a materialului dielectric si se noteaza cu . Se defineste tangenta
unghiului de pierderi a materialului dielectric

tg= 'r' / 'r , iar inversul

tangentei unghiului de pierderi se numeste factor de calitate al materialului

dielectric si se noteaza cu Q= 'r / 'r' .
Datorita structurii fizice si fenomenelor complexe ce se petrec in
dielectric cand asupra acestuia se aplica un camp electric, permitivitatea
dielectrica reala si tangenta unghiului de pierderi sunt dependente puternic
de frecventa si temperatura.
Principiul de masurare:
In cadrul lucrarii, pentru a masura si calcula valoarea permitivitatii
comlexe relative a materialului dielectric solid si tangenta unghiului de
pierderi, din valoarea capacitatii condensatorului echivalent se foloseste
analizatorul E4991A. Condensatorul echivalent este realizat fizic din

electrzii superior si inferior ai dispozitivului pentru test si materialul testat.

Materialul testat se pozitioneaza intre electrozii de fixare pentru test. Partea
reala se determina cu relatia 'r =(gC e )/( 0 S), iar partea imaginara cu
relatia 'r' =g/( 0 SR e ).
Rezultatele se trec in tabel, apoi se realizeaza graficele r(f), r(f),
tg(f).

Tabelul 2:
F[MHz]

Teflon
g=3mm

Steclotextolit
g=1
mm

Pertinax
g=0.95
mm

Plexiglas
g=2.1m
m

100

200

300

400

500

600

700

800

900

1000

'r

1,964

1,964

1,958

1,957

1,96

1,941

1,951

1,954

1,952

1,95

''
r

-2,75E04

-7,51E04

-1,21E03

-1,71E04

7,85E04

-1,31E04

1,17E03

6,43E04

-1,03E04

8,80E05

tg

4,55E04

-5,50E04

-7,30E04

-1,07E04

6,82E04

2,23E05

6,56E04

2,28E04

-1,28E04

1,08E04

7,14E+
03

2,61E+
03

1,62E+
03

1,14E+
04

2,50E+
03

1,48E+
04

1,67E+
03

3,04E+
03

1,90E+
04

2,22E+
04

'r

4,83

4,76

4,74

4,71

4,69

4,68

4,66

4,66

4,65

4,64

''
r

1,06E01

1,03E01

9,97E02

1,03E01

9,71E02

1,01E01

9,80E02

9,54E02

9,57E02

9,89E02

tg

2,21E02

2,16E02

2,11E02

2,17E02

2,05E02

2,16E02

2,09E02

2,07E02

2,07E02

2,17E02

4,55E+
01

4,63E+
01

4,75E+
01

4,59E+
01

4,83E+
01

4,62E+
01

4,76E+
01

4,88E+
01

4,86E+
01

4,69E+
01

'r

4,92

4,75

4,66

4,59

4,54

4,51

4,48

4,46

4,45

4,44

''
r

3,22E01

3,07E01

2,95E01

2,94E01

2,83E01

2,85E01

2,80E01

2,78E01

2,75E01

2,82E01

tg

6,51E02

6,43E02

6,35E02

6,37E02

6,23E02

6,34E02

6,27E02

6,22E02

6,21E02

6,33E02

1,53E+
01

1,55E+
01

1,58E+
01

1,56E+
01

1,60E+
01

1,58E+
01

1,60E+
01

1,61E+
01

1,62E+
01

1,58E+
01

'r

2,65

2,64

2,63

2,63

2,62

2,63

2,62

2,62

2,62

2,62

''
r

1,82E02

1,70E02

1,38E02

1,45E02

1,34E02

1,47E02

1,44E02

1,52E02

1,38E02

1,51E02

tg

7,15E03

6,41E03

5,74E03

5,71E03

5,58E03

5,55E03

5,63E03

5,59E03

5,14E03

5,62E03

1,46E+
02

1,55E+
02

1,91E+
02

1,81E+
02

1,96E+
02

1,79E+
02

1,82E+
02

1,72E+
02

1,90E+
02

1,73E+
02

'r

9,57

9,57

9,59

9,61

9,61

9,65

9,69

9,74

9,79

9,9

Alumina

''
r

6,02E03

2,01E03

-2,36E03

6,94E03

-6,26E03

1,15E02

-2,32E03

-2,98E03

-3,44E03

5,66E03

g=1mm

tg

4,76E04

1,06E04

-2,03E04

7,66E04

-6,43E04

1,25E03

2,02E04

-3,16E04

-2,97E04

7,11E04

1,59E+
03

4,76E+
03

4,06E+
03

1,38E+
03

1,54E+
03

8,43E+
02

4,18E+
03

3,27E+
03

2,85E+
03

1,75E+
03

(f):

(f):

tg(f):

Concluzii:

Se poate observa ca toate marimile reprezentate prin grafice sunt

aproximativ constante atunci cand frecventa se modifica. Eventualele
variatii pot proveni din erori ce tin de aproximarea calculelor sau din faptul
ca masuratorile nu au fost precise.
Mai putem observa ca partea reala a permitivitatii complexe (cea care
caracterizeaza proprietatea de polarizare) are o valoare mai mare pentru
alumina, pentru steclotextolit si pertinax este foarte apropiata, este mai
scazuta pentru teflon, iar pentru plexiglas este foarte aproape de 0.
In cazul partii imaginare a permitivitatii (cea care caracterizeaza pierderile
de energie) se poate constata ca cele mai mari valori le inregistreaza
pertinaxul, scazand apoi pentru steclotextolit, si fiind foarte apropiate de 0
pentru alumina, teflon si plexiglas.
Tangenta unghiului de pierderi are cele mai mari valori pentru pertinax,
scade in cazul steclotextolitului si al plexiglasului, si este foarte aproape de
0 pentru alumina si teflon.

Tabelul 3:
Material

f[
Mhz] 'r1, 'r1, '
re

1
0
0

5
0
0

8
0
0

g[mm
]

Pertinax

'r1

4,92

4,54

4,46

0,95

Steclotextolit

'r2

4,83

4,69

4,66

're-masurat

4,942

4,614

4,527

1,95

're-calculat

4,8734
31

're-mas - 'recalc

0,0685
69

9,3189
47
4,7049
5

4,5603
71
0,0333
7

Sandwich(pertinax+steclot
extolit)
Sandwich(pertinax+steclot
extolit)
Sandwich(pertinax+steclot
extolit)

Concluzii:
In cazul masuratorilor facute pentru sandwich-ul de pertinax cu steclotextolit
putem observa ca la frecventele de 100 MHz si 800 MHz valorile masurate
ale marimii 're sunt foarte apropiate de cele calculate. Pentru frecventa de

1,95
1,95

500 MHz diferenta dintre valoarea calculata si cea masurata este mai mare,
ceea ce inseamna ca in timpul masuratorilor au intervenit erori.