ANALISIS KRISTAL & MINERAL DENGAN DIFRAKSI SINAR-X

1

Sejak ditemukannya, sinar-x telah umum dipergunakan untuk tujuan pemeriksaan tidak merusak pada material maupun manusia. Disamping itu, sinar-x dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi tertentu yang dapat digunakan dalam menganalisa kualitatif dan kuantitatif material. Sinar-x adalah gelombang elektromagnetik dengan panjang gelombang sekitar 0,2 sampai 2,5 A (panjang gelombang cahaya tampak adalah sekitar 6000 A). Teori tentang difraksi sinar-x dikemukakan pertama kali oleh Von Laue (1912), dari Universitas Munich (Jerman), dan dikembangkan lebih lanjut oleh W. H. Bragg, dari Universitas Leed (inggris).
2

Sumber Radiasi X – Ray dan Gamma Ray adalah suatu gelombang ELECTROMAGNETIC dengan tingkatan energy Radiasi sebagai berikut: Semakin tinggi Energy radiasi semakin tebal daya tembusnya dalam memeriksa suatu material Abrianto@T.Metalurgi-UNJANI 3 3 .

High Electrical Potential Electrons + - X-ray Generator or Radioactive Source Creates Radiation Radiation Penetrate the Sample Exposure Recording Device 4 .

Sedangkan arus tabung yang besar akan mempertinggi intensitas dari sinar X. 5 .Sinar X dapat dihasilkan dengan menumbukkan elektron yang dilepaskan oleh katoda pada anoda di dalam suatu tabung hampa udara. maka tinggi tegangannya makin besar daya tembus dari sinar X yang dihasilkan. Sifat-sifat sinar X yang dihasilkan sangat tergantung dari tegangan dan arus dari tabung. Tegangan 150 volt untuk tebal plat 4 mm dan 250 volt untuk tebal plat 6 mm.

6 .

dimana spektra dengan intesitas melonjak yang diberi tanda Kα dan Kβ dinamakan radiasi monokromatik atau radiasi karakteristik.Spektrum sinar X yang dihasilkan mampu mempunyai intensitas. Sinar X yang dihasilkan dengan tegangan rendah biasanya tidak mempunyai radiasi karakteristik dan disebut radiasi putih. 7 .

8 .

9 .

10 . maka kristal tersebut dapat berfungsi sebagai kisi-kisi yang menghamburkan cahaya.Logika dibalik teori ini adalah asumsi bahwa seandainya suatu kristal terdiri dari atom-atom yang tersusun secara teratur dan periodik dalam ruang dan jarak antar atom hampir sama dengan panjang gelombang sinar-x. maka difraksi dapat terjadi kalau kristal dikenai oleh sinar-x. Dengan konsep ini dan mengingat bahwa sinar-x mempunyai panjang gelombang yang mendekati jarak antar atom.

difraksi orde n dari bidang (h k l) dengan jarak antar bidang d’. dapat dianggap sebagai difraksi orde 1 dari bidang (nh nk nl) yang berjarak d=d’/n . 11 . λ adalah panjang gelombang sinar-x. Hukum Bragg merupakan perumusan matematik tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar-x yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi yang secara umum. Berkas sinar-x yang saling menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi. sehingga: n λ = 2 d’ sin θ λ = 2 d sin θ dimana. dan θ adalah sudut difraksi.Berkas sinar-x yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasanya sama.

Metoda difraksi dapat dibagi atas 3 jenis. dan berkas difraksi selalu sebidang. bidang normal terhadap bidang difraksi. λ dibuat tetap dan θ berubah-ubah. Metoda kristal berputar dan metoda serbuk. θ dibuat tetap dan λ berubah-ubah. bukan θ.Ada dua faktor yang perlu diingat:  Sinar datang.  Sudut antara berkas sinar difraksi dan berkas sinar transmisi adalah 2θ. Dalam metoda Laue. 12 . Sudut 2θ inilah yang diukur pada percobaan difraksi. sedangkan metoda kristal berputar dan metoda serbuk. yaitu metoda Laue.

Aplikasi teknik difraksi sinar-x ini antara lain adalah untuk:      Penentuan struktur kristal Penentuan ukuran sel satuan Analisis kualitatif identifikasi unsur/senyawa Analisis komposisi kimia Pengukuran tekstur 13 .

karena itu arah difraksi hanya ditentukan oleh ukuran dan bentuk sel satuan saja. jarak antar bidang tersebut bergantung pada ukuran dan bentuk sel satuannya. Sebaliknya jika arah difraksi tertentu. karena setiap sistim kristal mempunyai pola urutan difraksi tertentu yang menghasilkan urutan s 14 .Jika Hukum Bragg ditulis sebagai: sin θ = λ/2d maka arah difraksi hanya ditentukan oleh jarak antar bidang (d). maka bentuk sel satuan dapat ditentukan pula.

Indeks Miller Sistim Sel Satuan 15 .Gambar 1.

Sedangkan ukuran sel satuan (kisi kristal. yaitu sebagai berikut: Cubic 1/d2 = (h2+k2+l2)/a2 Tetragonal 1/d2 = (h2+k2)/a2 + l2/c2 Hexagonal 1/d2 = 4/3{(h2+hk+k2)/a2} + l2/c2 16 . a) dapat ditentukan dari persamaan jarak antar bidang.

dengan demikian jika pola unsur atau senyawa tersebut diketahui. 17 .Teknik difraksi sinar-x dapat digunakan pula untuk analisis kualitatif karena setiap unsur atau senyawa mempunyai pola difraksi tertentu. maka unsur atau senyawa tersebut dapat diidentifikasi.

Karena sangat banyak sekali unsur/ paduan/senyawa organik/senyawa anorganik dan material yang telah ditemukan. maka pola-pola difraksinya telah tersedia dan telah dikelompokkan. Jarak antar bidang dapat dihitung dengan hukum Bragg.Hasil difraksi serbuk dengan difraktometer adalah berupa pola difraksi yang berisi data intensitas dan sudut difraksinya. 18 .

19 .

20 .

Metalurgi-UNJANI 21 21 .Abrianto@T.

Sign up to vote on this title
UsefulNot useful