You are on page 1of 6

T.C.

Sakarya Üniversitesi

Mühendislik Fakültesi

Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Bölümü

ATOMİK KUVVET MİKROSKOBU


ATOMİK KUVVET MİKROSKOBU
1980’lerin başında Heinrich
Rohrer ve Gerd Binnig
tarafından keşfedilen
Atomik kuvvet mikroskobu
o yıllardan bugüne dek
yüzey özelliklerini ve
malzeme topografisinin
incelenmesinde
vazgeçilmez bir konuma
gelmiştir. Stanford
üniversitesinde
çalışmalarını yürüten Özgür
Şahin ve ekibi de
geliştirdiği bir teknikle
AKM’nun kalitatif
incelemesini mümkün hale
getirmiştir.
AKM’de malzememizin yüzeyini incelerken her ne kadar ismi mikroskopta olsa ışık
kullanılmıyor. AKM’nun esası, birkaç atom çapında inceltilmiş özel bir ucun numune
yüzeyine çok düşük kuvvet tatbiki yapacak şekilde değdirilmesinden ibaret. Bu şekilde
numuneye değerek malzemeyi tarıyor.

Çalışma Prensibi

Aletin çalışma ilkesi, gerçekte dokunmaya


dayanıyor. Örneklersek, karanlık bir odada yemek
masasında oturduğunuzu düşünün. Masanın
üstünde neler durduğunu bilmek istiyorsunuz.
Yapacağınız ilk şey, ellerinizi masanın üstünde
gezdirip, dokunduğunuz cisimlerin şeklini
anlamaya çalışmaktır. Bu yolla çatal, bardak veya
bir kürdanlığı kolayca bulabilirsiniz. Ancak, toplu
iğne başından daha küçük cisimleri bulmanız hiç
de kolay olmaz. Küçük cisimleri, hele hele
atomları, bu yöntemle görebilmek için
parmaklardan çok daha sivri ve dokunma duyusu
çok daha gelişkin bir araca gerek vardır. İşte
atomik kuvvet mikroskobunun rolünü böyle
tanımlayabiliriz. Neredeyse bir atoma kadar sivriltilmiş ucu ile bir yüzeydeki atomlara
dokunulduğunda oluşan kuvvetlere dayanarak yüzeyin şeklini bulmak, yalnızca atomik
kuvvet mikroskobu ile sağlanabilir.

Kuvvetlerin hassas şekilde ölçülmesi, plastik bir cetveli ya da bir dalış tahtasını
andıran, ucuna bastırınca bükülebilen ve gözle zor görülecek küçüklükte bir yapıya
dayanıyor. Bu küçücük cetvelin bir ucuna kilogramın trilyonda biri kadar kuvvet
uygulandığında,
ölçülebilir derecede bir
bükülme oluşuyor.
Bükülme, kuvvetle
doğru orantılı
olduğundan, bükülme
ölçülerek dolaylı
yoldan kuvvet
ölçülüyor. 
Atomları görebilmek için kullanılan sert sivri uç, cetvelin bir ucunda, ama cetvele dik
duran, iğnemsi bir yapı olarak düşünülebilir. Küçük iğneyi çıplak gözle görmek
mümkün değildir. Sivri uç, bilgisayar işlemcilerini yapmakta kullanılan yöntemle ve
birkaç atom genişliğine kadar sivriltilmiştir. Bu küçük cetvel ve ucunda ona dik olarak
duran iğne bir yüzeye yaklaştırıldığında, iğne yüzeye temas eder etmez
cetvel bükülmeye başlar. Cetvel bir yüzey üzerinde gezdirilirken oluşan bükülme,
yüzeydeki atom ve moleküllerin oluşturduğu tepe ve çukurları algılar. Bir bilgisayar
yardımı ile cetveldeki ölçülebilir bükülmeler kaydedildiği zaman, yüzeyin şekli de
bulunmuş olur. Atomik kuvvet mikroskobunun çalışması, basitçe bu mantığa
dayanmaktadır.

Atomik kuvvet mikroskobu, özellikle polimerler ve ileri teknoloji ürünü süper iletkenlerin
analiz ve incelenmesinde kullanılır.

İtici modun çekici moda göre avantajları:


Manivela yüzeye değmediği için yumuşak alanlarda (biyolojik sübstratlar gibi) kullanılabilir.

Çekici modun itici moda göre avantajları:


Çözünürlük yüksek. Atomik seviyede görüntüler bu modda elde edilir.

Bazen de itici ve çekici modun birleşimi bir modda kullanılır: tıklatma modu. Bu modda ise
manivela yüzeye dokunup, çekilir; bir nevi tıklatma hareket yapar. Bu sayede çekici moddaki
yüzey hasar sorunu bir nevi çözülmüş olur, hem de yüksek çözünürlüklü görüntüler elde
edilir. Aynen TTM'de olduğu gibi AKM'de de bir başka iki mod vardır: sabit yükseklik, sabit
kuvvet. İlk modda manivela ile yüzey arası mesafe sabit tutulur ve kuvvetteki değişim esas
alınır, geri bildirim sistemi vardır. İkinci modda kuvvet sabit tutulacağı için mesafe değişir, bu
mesafe değişimine göre görüntü oluşturulur, geri bildirim sistemi yoktur.

Eğilme miktarı nasıl ölçülür?


AKM ilk üretildiğinde manivelanın üstünde TTM'de kullanılan bir sivri uç kullanılıyordu.
Manivela ile bu sivri uç arasındaki tünelleme akımındaki değişime göre hesaplamalar
yapılıyordu. Bu süreç biraz zordu ve her zaman istikrarlı bir ölçüm alınamıyabildiği için artık
kullanılmamaktadır.

Günümüzde optik metodlar kullanılmaktadır. (resimdeki sistem) Bu yöntemde manivelanın


üstü bir metalle kaplanır ve ayna haline getirilir. Daha sonra lazerden demetler gönderilir.
Yansıyan demetler iki fotodiyottan oluşan bir sisteme çarpar. Eğer manivelanın konumu
değişmiş ise bir diyot daha fazla akım üretir, akımdaki bu değişime göre manivelanın sapma
değeri belirlenir.

TTM'ye göre avantajları


 Görüntüleme kuvvete bağlı olduğundan, mikroskop hem iletken hem de yalıtkan
yüzeylerde kullanılabilir. Oysa, TTM'lerde görüntü akıma bağlı olduğundan , sadece
iletken yüzeylerden görüntü alınabiliyordu.
 Sübstratın 3 boyutlu profilini gösterir. TTM ise 2 boyutlu profiini gösterebilir.
 Daha ucuzdur. (ama o kadar da ucuz değildir :) )
 Açıkhavada ve sıvı ortamda çalışabilir, TTM vakumlu ortamda çalışabilir. Bu yüzden
biyolojik sübstratlarda AKM kullanılır.

Uygulama Alanları

 Hissetme - Bazı malzemelerin ortamda olup olmadığını anlamaya yardımcı olur.


 Atom yer değiştirmesi - Yüzeydeki atomların yerleri ile oynanabilir.
 Ölçme - Malzemenin karakteristik bir özelliğini hakkında bilgi toplama.
 Görüntüleme - Yüzeylerin topografik görüntüleri oluşturulur.

Atomik Kuvvet Mikroskobu ve Kalitatif Analiz

Bu çalışma atomik kuvvet mikroskobuna ''yeni beceriler kazandırmak'' olarak nitelenebilir.


Mikroskop, yüzeyin görüntüsünü almak için tek tek atom ve moleküllere dokunurken, bir
yandan da yüzeyi oluşturan cismin kimyasal bileşimlerinin bulunabileceği düşüncesinden yola
çıktım. Bir kumaşa dokunduğumuzda ipek mi yoksa yün mü anlıyorsak ya da plastik bir çatalı
metal çataldan ayırt edebiliyorsak, atomik kuvvet mikroskobu da, atomlara ve moleküllere
dokunurken onları tanıyabilirdi. Böyle bir gelişme, daha önce söz edilmemişti biyolojik
moleküllerin kimyasal yapılarını ve işlevlerini gözleyebilmemize olanak tanıyacak, yeni
geliştirilen malzemelerin atomik ölçekteki bileşenlerini ayırt edebilmemize ve daha iyilerini
tasarlayabilmemize yardımcı olacaktı.

Stanford Üniversitesi imkanlarını kullanarak büyük bir başarıyı sağlayan Özgür Şahin ,
AFM’de elementel analizi mümkün kılan bir teknik geliştirmişti.  Atomik kuvvet
mikroskobuna ''yeni beceriler kazandırmak'' olarak nitelenebilir. Mikroskop, yüzeyin
görüntüsünü almak için tek tek atom ve moleküllere dokunurken, bir yandan da yüzeyi
oluşturan cismin kimyasal bileşimlerinin bulunabileceği düşüncesinden yola çıkıldı. Bir
kumaşa dokunduğumuzda ipek mi yoksa yün mü anlıyorsak ya da plastik bir çatalı metal
çataldan ayırt edebiliyorsak, atomik kuvvet mikroskobu da, atomlara ve moleküllere
dokunurken onları tanıyabilirdi. Böyle bir gelişme, daha önce söz ettiğim, biyolojik
moleküllerin kimyasal yapılarını ve işlevlerini gözleyebilmemize olanak tanıyacak, yeni
geliştirilen malzemelerin atomik ölçekteki bileşenlerini ayırt edebilmemize ve daha iyilerini
tasarlayabilmemize yardımcı olacaktı.

Geliştirilen bu tekniğin temeli, atomik kuvvet mikroskobunun en yaygın işletilme yöntemi


olan ve kuvvet ölçmeye yarayan küçük cetvelin titreşmesi temeline dayanıyor. Bu kabul
görmüş yöntem, daha önce basitçe tasvir ettiğim yönteme oranla çok daha hassastır ve
yüzeye, neredeyse hiç zarar vermez. Yöntemde, cetvel saniyede yüz binlerce kez salınır. Tıpkı
dikiş makinesinin kumaşa girip çıkan iğnesi gibi, her salınışında yüzeye bir kez hafifçe çarpar.
Salınım, adeta bir gitar telinin çınlamasına benzer.

Bu teknik üzerine yapılan çalışmaların başında, küçük cetvelin hareketini matematiksel


yöntemler ile inceleyerek, yüzeydeki yapıların mekanik (dolaylı olarak da kimyasal)
özelliklerinin cetvelin üstünde beklenenin aksine, çok yüksek frekanslarda titreşimler
oluşturduğunu buldum. Ancak titreşimler o kadar cılızdı ki, pratik olarak ölçülmeleri mümkün
değildi. Bir süre sonra, cetvelin üstünde yapılacak küçük bir değişiklikle, bu titreşimlerin
1.000 kat etkili hale gelebileceğini bulunca, Stanford Üniversitesi'nin olanaklarından
yararlanarak, yeni tasarıma dayanan küçük cetvelleri ürettim. Yaptığım deneyler, bu yüksek
frekanslı titreşimlerin gerçekten de yüzeydeki moleküllerin kimyasal yapısına ilişkin bilgiler
taşıdığını gösterdi. Bu yeni tekniğin çalışma ilkesi, sivri ucun yüzeye vurup geri çekilmeye
başlaması sırasında geçen süreninin ölçülmesine dayanıyor. Yumuşak bir maddeye çarpan uç,
yüzeyi daha fazla çökertip belli bir zaman kaybediyor. Bu zaman farklılıkları, saniyenin
milyarda biri düzeyinde ve cetvelin üstündeki yüksek frekanslı titreşimler aracılığıyla
ölçülebiliyor.

Mekanik yöntemler kullanarak maddelerin kimyasal özelliklerinin ölçülmesi oldukça basit bir
temele dayanıyor. Doğadaki en sert malzeme olan elmas, yumuşak bir malzeme olan lastikten
yaklaşık bir milyon kat daha sert. Bu kadar büyük bir fark, elmasın ve lastiğin yapısını
oluşturan kimyasal bağlardan kyynaklanıyor. Maddelerin bu özelliği, onlarla etkileşebilmemiz
ve inceleyebilmemiz için bize büyük potansiyel sağlıyordu; ama, atomik boyuttaki ölçümler
bu güne kadar yapılamıyordu. Geliştirilen bu töntem, bu potansiyelin ortaya çıkarılabileceğini
gösterdi. Ancak kat edilmesi gereken daha çok uzun yol var.

You might also like