Professional Documents
Culture Documents
Sakarya Üniversitesi
Mühendislik Fakültesi
Çalışma Prensibi
Kuvvetlerin hassas şekilde ölçülmesi, plastik bir cetveli ya da bir dalış tahtasını
andıran, ucuna bastırınca bükülebilen ve gözle zor görülecek küçüklükte bir yapıya
dayanıyor. Bu küçücük cetvelin bir ucuna kilogramın trilyonda biri kadar kuvvet
uygulandığında,
ölçülebilir derecede bir
bükülme oluşuyor.
Bükülme, kuvvetle
doğru orantılı
olduğundan, bükülme
ölçülerek dolaylı
yoldan kuvvet
ölçülüyor.
Atomları görebilmek için kullanılan sert sivri uç, cetvelin bir ucunda, ama cetvele dik
duran, iğnemsi bir yapı olarak düşünülebilir. Küçük iğneyi çıplak gözle görmek
mümkün değildir. Sivri uç, bilgisayar işlemcilerini yapmakta kullanılan yöntemle ve
birkaç atom genişliğine kadar sivriltilmiştir. Bu küçük cetvel ve ucunda ona dik olarak
duran iğne bir yüzeye yaklaştırıldığında, iğne yüzeye temas eder etmez
cetvel bükülmeye başlar. Cetvel bir yüzey üzerinde gezdirilirken oluşan bükülme,
yüzeydeki atom ve moleküllerin oluşturduğu tepe ve çukurları algılar. Bir bilgisayar
yardımı ile cetveldeki ölçülebilir bükülmeler kaydedildiği zaman, yüzeyin şekli de
bulunmuş olur. Atomik kuvvet mikroskobunun çalışması, basitçe bu mantığa
dayanmaktadır.
Atomik kuvvet mikroskobu, özellikle polimerler ve ileri teknoloji ürünü süper iletkenlerin
analiz ve incelenmesinde kullanılır.
Bazen de itici ve çekici modun birleşimi bir modda kullanılır: tıklatma modu. Bu modda ise
manivela yüzeye dokunup, çekilir; bir nevi tıklatma hareket yapar. Bu sayede çekici moddaki
yüzey hasar sorunu bir nevi çözülmüş olur, hem de yüksek çözünürlüklü görüntüler elde
edilir. Aynen TTM'de olduğu gibi AKM'de de bir başka iki mod vardır: sabit yükseklik, sabit
kuvvet. İlk modda manivela ile yüzey arası mesafe sabit tutulur ve kuvvetteki değişim esas
alınır, geri bildirim sistemi vardır. İkinci modda kuvvet sabit tutulacağı için mesafe değişir, bu
mesafe değişimine göre görüntü oluşturulur, geri bildirim sistemi yoktur.
Uygulama Alanları
Stanford Üniversitesi imkanlarını kullanarak büyük bir başarıyı sağlayan Özgür Şahin ,
AFM’de elementel analizi mümkün kılan bir teknik geliştirmişti. Atomik kuvvet
mikroskobuna ''yeni beceriler kazandırmak'' olarak nitelenebilir. Mikroskop, yüzeyin
görüntüsünü almak için tek tek atom ve moleküllere dokunurken, bir yandan da yüzeyi
oluşturan cismin kimyasal bileşimlerinin bulunabileceği düşüncesinden yola çıkıldı. Bir
kumaşa dokunduğumuzda ipek mi yoksa yün mü anlıyorsak ya da plastik bir çatalı metal
çataldan ayırt edebiliyorsak, atomik kuvvet mikroskobu da, atomlara ve moleküllere
dokunurken onları tanıyabilirdi. Böyle bir gelişme, daha önce söz ettiğim, biyolojik
moleküllerin kimyasal yapılarını ve işlevlerini gözleyebilmemize olanak tanıyacak, yeni
geliştirilen malzemelerin atomik ölçekteki bileşenlerini ayırt edebilmemize ve daha iyilerini
tasarlayabilmemize yardımcı olacaktı.
Mekanik yöntemler kullanarak maddelerin kimyasal özelliklerinin ölçülmesi oldukça basit bir
temele dayanıyor. Doğadaki en sert malzeme olan elmas, yumuşak bir malzeme olan lastikten
yaklaşık bir milyon kat daha sert. Bu kadar büyük bir fark, elmasın ve lastiğin yapısını
oluşturan kimyasal bağlardan kyynaklanıyor. Maddelerin bu özelliği, onlarla etkileşebilmemiz
ve inceleyebilmemiz için bize büyük potansiyel sağlıyordu; ama, atomik boyuttaki ölçümler
bu güne kadar yapılamıyordu. Geliştirilen bu töntem, bu potansiyelin ortaya çıkarılabileceğini
gösterdi. Ancak kat edilmesi gereken daha çok uzun yol var.