TECHNISCHE

TlJ
VU:.NNA
r

UNIVEH51TAT

WIEN
VIENNA UNIVEBS1TY OF TECHNOLOGY

AUSTAUSCHBAU MESSTECHNiK

UND

MAKiNA MALZEMESi ANABiLiM DAU

VE

iMALAT TEKNOLOJiSi

ÖLÇME TEKNiGi VE DEGERLENDiRME

Prof. Dr.M.Nurnan DURAKBASA, Ögr.GÖr.Or. Anil AKDOGAN

Abt. "Austauschbau und Messtechnik" T echnische Universitat Wien Karlsplatz 13/3113 A-1 040 Wien TeL.: +43 1 58801-31142/ Fax: +43 1 58801-31196 E-mail: durakbasa@mail.ift.tuwien.ac.at ISBN 3-901888-32-2

Içerik 1) Metroloj; ve Ölçme Tekniginin Temelleri

2) Makina imalatinda Kullanilan Ölçme Cihazlari
3) Hata Türleri ve Analizi i Kalibrasyon 4) Toleransiar, Alistirmalar

i Alistirma ToleransianIISO Alistirma Sistemi i

5) Makro ve Mikro Geometri Ölçümleri 6) Diger Fiziksel Ölçümler

i
i

2

1. Bölüm Metroloji ve Ölçme Tekniginin Temelleri

3

Biyoloji gibi hemen hemen tüm bilim dallarinin temelini teskil eder. farkli yerlerde imal edilen mamullerin belirlenen spesifikasyonlara uymasi ve bir ölçü birligi içinde üretimin gerçeklesmesi gerekmektedir. -kaliteliürün. ölçmeye dayanan pratik ve teorik tüm konulari kapsar (VIM 2. Bunun sonucu olarak kalibrasyon ve dogrulamaislemleri büyük ölçüde önem kazanmistir.Uluslarara-siÖlçü' ve Ayarlar Bürosu . Endüstride kullanilan bir ölçü aletinin yaptigi ölçümün bütün dünyada taninmasi ve yapilan diger ölçümlerle ayni oldugunun kabul edilmesi. bu ölçümün. akilli üretim. degistirilebilir imalat teknolojisi gibi modern imalat sistemlerinde. belirli sartlar altinda bir ölçü aletinin veya ölçme sisteminin gösterdigi degerler veya bir ölçü gered ile elde edilen degerler ile ölçülenin bunlara tekabül eden ve bilinen degerleri arasinda bir takim baglanti kurma islemidir. Metroloji. gerçeklestirilen tüm ölçümlerin milli ve milletlerarasi düzeyde kabuledilebilirligi saglanmisolur. Metroloji. Kalibrasyon. Yalin üretim. dogruluk seviyesi ve uygulama alanina bakmaksizin. Kimya. Ortaya atilan teorik hipotezler gereken deney ve gözlemler yapilmak suretiyle ölçme teknigi vasitasiyla dogrulugu ispat edilerek desteklenirler. imalat teknolojisinde seri üretime geçilmesiyle baslayan sanayilesme sürecinde. "VIM: Vocabu!arie International des termes fondamentaux et generaux de Metrologie {International Vocabulary of basic and general terms in Metrology)". Bu enstitürer yine hiyerarsik bir yapi içerisinde ölçümlerin uluslararasi taninir nitelikte olmasini saglamak amaciyla merkezi Paris'te olan . Sistemin bir bütün olarak degerlendirilmesi.1. farkli yerlerde üretilen parçalarin birlestirilmesiyle bir bütünün olusturulmasi. Metroloji ve Ölçme Tekniginin Temelleri Olçme teknigi.BlPM (Bureau International des Poids et Measure)' teskilatina baglantrlar. bir ölçme referans zinciri ile en yüksek hassasiyetI! temel ölçme standardina ulasmasi ile mümkündür. Ulusal metreloji enstitüleri referans zinciriyle sisteme bagli olan ve ülke bazinda en üst seviyede çalisan enstitülerdir. degerinin dogrulugu kabul edilmis bir standart kullanilarak daha az hassas bir ölçü aletini veya standardini ölçme islemi gerçeklestirilir (Ölçme Belirsizliginin Belirlenmesi için Rehber .01).GUM Guide Expression of Measurement Uncertainty). üretim ve kaliteli imalat prosesleri jçin ölçme teknigi bir temelolusturur ve kaçinilmazdir. 4 . yan sanayi ve üretimde uzmanlasma olusumlarini baslatmis ve ölçümlerin uluslararasi taninir nitelikte olmasi büyük önem kazanmistir. Teknik problemlerin çözümünde ölçme tekniginden yararlanilir. ölçü ileilgili bilim sahasidir. Bunun yerine getirilmesiyle. günlük yasantrmizda önemli bir yer almasinin yani sira Fizik. Kalibrasyon ile.

ölçme alani veya ölçme hacmi 10 katina çikmistir. Ölçme aletlerinin güvenirligi de mikrolektronigin yaygin bir sekilde kullanilmasiyla ayni derecede artmistir. ölçme dogrulugu ve ölçme hizi 100 kat. istatistiksel degerlendirmeler ve kaiite datatarinin olusturulmasi. kalibrasyon..1 hassas imalat gelisme sürecini göstermektedir. sicaklik gibi fiziksel özellikler bilinen büyüklüklerle karsilastirmak suretiyle belirlenider. Günümüzde imalat ölçme teknigi. bilinen bir nitelikle karsilastirmak suretiyle degerlendirme islemi yapilir. bir ölçme metodunun uygulanan Doppler Efekt. ölçme yöntemleri. agirlik. Hassas imalat teknolojisinin gelismesi daha hassas ölçme teknigi ihtiyacini beraberinde getirmektedir. ayrinWi olarak belli bir metodagöre yapilmasi ile isgili bir grupteorik ve-pratikislemdir. enstrümantasyon. ölçme neticelerinin degerlendirmesi ve enterpretasyonu.~ Tanimlar (O!çm~bir büyüklügün degerini belirlemek amaciyla yapilan bir dizi islemdir. Ölçme degerlerinin elde edilmesi için islem yapilan bilgi miktari onbin kat artmistir. belli bir ölçüm ile ilgili tüm bilgi teçhizat ve islemlerdir. daha dogru ve daha esnek ölçÜlmesi taleplerini karsilamak durumdadir. ~---< Olçme ile bilinmeyen bir niceligi. dogrulama. 5 . Uzunluk.1 Ölçme Teknigine Giris Ölçme Tekniginin günlük yasamimizda çok önemli bir yeri vardir. Nümerik kontrollü tezgahlarin imalat ··süreçlerinde kullanilmasiyla modern imalat ölçme tekniginde gelisme süreci baslamistir. ölçme sistemlerinin tayini. 1. bilimsel esasidir. Ölçmenin belirsizligi. Ölçme Teknigi Kavramlar. is parçalarinin daha hizli. ölçme tekniginin baslica konulanni olusturmaktadir. ölçmenin yapilmasi ve niteligi ile ilgili tüm hususlari kapsar.ölçme prosedürü. Produktivite./. Ayrica ölçme teknigi tüm mühendislik daJlarinda mevcuttur ve tüm diger bilim dallarinin olusmasi ve çalismalarina imkan tanir. Özellikle laboratuvar çalismalarinin her düzeyinde ölçme teknigine gereksinim vardir. bir Örnegin hiz ölçümünde Ölçme usulu . ölçülenin gerçek degerini de ihtiva eden degerler araligini karakterize eden bir tahmindir. Sekil 1.. ölçme hassasi~etieri ve dogrulugu. Mikro ve nano teknolojilerinin makina mühendisligi alaninda kullanilmaya baslamasiyla bu hassasiyetlerde ölçme islemlerinin yapilmasina olanak saglayacak cihaz ve enstrümanlarin gelistirilmesi ve endüstride kullanilmalari kaçinilmaz hale gelmistir. Ölçme islemleri. imalat öiçme tekniginin son 25 yillik gelismesini gittikçe artan talepleri karsilayacak yeni cihaz ·ve enstrümanlann gelistirilmesi belirlemistir. Ölçme neticelerinin dökümantasyonu da ayni sekilde büyük önem kazanmaktadir. Ölçme prensibi.3 Ölçme Tekniginin Gelismesi imalat ölçme teknigi 1950 yillarina -kadar imalat tekniginin bir parçasi olarak imalatta yer almistir. 1. ölçmelerin Ölçme süreci.2. .1. Bu kavram h·'·· .

nanoyapilar. impürite ve hatalarin birbirlerine göre dizilimini çok hassas bir sekilde kontrol edebilme yetenegi ve mükemmel inorganik ve organik nanoyapilar entegre edebilme yetenegi tamamen yeni nesil ileri düzey kompozitlerin ortaya çikmasini saglayacaktir.Ölçme teknikleri 1950 yilindan bu yana ilk yillarda elektronik devrelerdekii 1960 . nancteknoloji ve nanometrotojisi bir kristalin mükemmelolarak yapilabilmesi için gerekli teknolojidir.1: U/asilan imalat hassasiyeti Nano metro!oji. nanoyapilar hücrenin sürekliligini saglayan histonlar ve proteozomlar gibi temel makinalar. 400 250 160 100 63 40 25 16 10 6. Tüm uygulanan metottar nano pozisyon sistemleri ve yüksek derecede dogrulukta pozisyon ölçümleri ile mikroskop teknigi temeline dayanirlar.6 1 YIL Sekil 1. 1970 yilindan itibaren de fiber optik elemanlari ve bilgisayar teknolojisindeki gelisme/er ölçme tekniginingelismesinde önemli ölçüde olumlu etkiler yapmislardir. ölçme büyüklügü tipik olarak nano metre (1 nm = 1/1 000 000 mm). Makina mühendisliginde de. Katalizde. kloraplast. mikro teknik. çogalma ve kopyalanma kompleksIeridir.1970 yillari arasi laser ve optik cihazlar. ribozom. nanoyapilar Moore Yasasi'nin sinirli uzantisi ve klasik araçlardan küçük araçlara geçisini ve kuantum araçlari ile yeni islemci mimarilerinin yapimini mümkün kilar. 6 . Moleküler biyolojide. Nanoteknolojisinin gelismesiyle birlikte bfrçbk bilim alanlarinda yeni boyutlar ve arastirma imkanlari dogmustur. Elektronikte. Nano metrolojisinde. mitokondrinin parçaciklari.3 4 2. ölçme belirsizligi ise çogunlukla 1 nm den küçük olarak belirlenir ve gÖsterilir.5 1. yari iletkenler ve nano teknigi alanlarindaki çok küçük objelerin uzunluk ölçüleri ile ilgili bir tekniktir. Tüm bu disiplinlerin herbiri kendi açilarindan nanobilim çalismalari yapmaktadir ve tüm bu farkli pencerelerin entegrasyonu ve birbirinden bagimsiz gelisen araç ve tekniklerin paylasimi firsati günümüz için tüm bilim dal/arina çekici gelmektedir. zeolitlerin sablonlari ve delikçikleri ve diger yasamsal yapilardir.

Dalga boyu. Enerji eKaliniik. Nanoyapilardaki bazi malzemelerin kendi kendine montaj egilimi günümüzde temel arastirma alanidir.2: Kendi kendine montajla elde edilmis kuantum noktasinin (Ge piramidi) STM resmi. Ara!arinda karsilikli altinda toplanabilirler: olarak karsilastirilabilen büyüklükler bir büyüklük türü _Is. 1. Birim Sistemleri Ölçülebilir Büyükime~ ÖlçUle5T1ifbuyuklOk kalitatif olarak ayrilabilen ve kantitatif olarak tayin edilebilen bir olay. Sekil 1.) Piramit kendini "kendi kendine montaj" denilen proses ile sadece birkaç saniye içerisinde olusturmustur.on yüzey üzerindeki germanium atomiarindan olusmus piramidi gösterilmektedir. Amaç. cisim veya maddeye bagli bir özelliktir. Resimde yuvarlak görünümlü objeler aslinda birer germanium atomudur. Sekil 1.5 nancmetre yüksekligindedir. (Arastirmaci: R.Atomiarin nanoteknolojisi yardimiyla öngörülen pozisyonlara yerlestirilmesi bu günkü teknolojide gerçeklestirilmektedir.4 Ölçme Birimleri Her ölçme isleminin ve ikame edilebilir imalat tekniginin en önemli sarti gerekli büyüklüklere göre tam olarak tanimlanan birimlerin mevcudiyeti ve bu birimlerin uluslararasi tespit edilen kurallara uygun olarak b~lirlenmis olmalaridir. Piramid köseden köseye 10 nanometre ve sadece 1.. 1. Williams. Çevre 7 . S.2 de kendi kendine montajla elde edilmis kuantum noktasi (Ge piramidi) bir si\i\<. Isi miktari.4. Eger belli sayida germanium atomu dogru tipte silikon yüzeyinin üzerine konulursa atomlar arasindaki etkilesimler piramidin olusmasini saglamaktadir. Hewlett-Packard Co. elektronik devreler gibi daha karmasik yapilar olusturmak için malzemelerin kendi kendine montaja nasil yönlendirilecegini ögrenmektir.1 Büyüklükler ve Birimler.

yüzyilin ortalarindan sonra ekonomi ve teknik alandaki gelismeler yeni ölçme birimlerinin belirlenmesini ve ölçme birimleri konusunda uluslararasi bir koordinasyonu zorunlu kilmistir. insan ilk ölçme birimi olarak sürekli yaninda olan ölçegi. karis.4 Si Birimleri (Uluslararasi Metrik Sistem) Tanimlanmis ölçü ve agirliklar birimleri insanlar ticaret yapmaya baslayinca gerekli olmustur. arsin. o birim için tespit edilmis semboldür.4. özel bir telin elektrik'direnci Büyüklük Boyutu: Bir büyüklügün boyutu.4.4. Ancak bu ölçü birimlerinin anlasilir olmasi yaninda kisiden kisiye degismesi ticarette problem/erin olusmasina neden o/mustur. Örnegin: LI> Uluslararasi Birimler Sistemi. LI> Bas parmak genisligi (inch). ayak. yani bedenini kullanmaya baslamistir. Örnek: • m Metre için birim sembolü.Büyüklüklerle ilgili formuller iso 31 Uluslararasi Standartta belirlenmistir. Bu amaçla toplanan metre konvensiyonuna imza ci 8 . 1. Genel anlamda büyüklükler sunlardir: Uzunluk. büyüklük sisteminin bir büyüklügünü o sistemin temel büyüklüklerinin üslerinin çarpimi olarak gösteren ifadedir. Örnegin L M T -2 büyüklük sisteminde kuwetin boyutu temel büyüklüklerin Uzunluk. uluslararasi ticaret hacmine göre çok yüksektir. kütle. sicaklik. Endüstriiesme ile birlikte 19. Kütle ve Zaman çarpimidir. adim.3 Birimler Sistemi Birimler sistemi: Bir büyüklük sistemi için tespit edilen birimler grubu olup. ' Birimin sembolü. seçilmis bir temel birimler grubunu da ihtiva etmektedir (Si. Ölçme sistemine yapilan yatirim. Avuç (hacim ölçüsü). özel bir maddenin kütlesi. Si ~-CGS Birimler Sistemi 1. elektrik direnci Özel büyüklükler: özel bir çubugun uzunlugu. tarif edilen esitlikler ve oranti faktörleri ile tespit edilen !üretilmis birimlerle birlikte. zaman.2 Birimler ve Sembolleri Birim: Ayni boyuta sahip büyüklükleri sayi ile ifade etmek için kullanilan milletlerarasi anlasma ile kabul edilmis bir büyüklüktür. e A Amper için birim sembolü 1. CGS). <il Karat (keçi boynuzu tohumunun agirligi) gibi ölçüler kullanilmistir.

CGPM (1979) 0. .. 13. iletken arasinda 2X 10-7 Nm kuvvet olustura~' akimin siddetidir.'.. '.-.GGPM (1889) ve 3. 0 ••• ---.GGPM (1967) Boslukta birbirine 1 m mesafede parelel duran sonsuz uzunlukta ve kesitleri ihmal edilebilen iki .' Uluslararasi kilogram prototipinin kütlesine Taban enerjisindeki Gelsiyus 133 atomunun iki süper ince düzeyi arasindaki geçisler sirasinda olusan radyasyon periyodunun 9 192 631 770 katidir. (BIPM) metrik sistemin kullanimini yayginlastirmak.. yayilma dogrultusundaki radyasyon miktari 1/683 WattlSteradyan olan isigin siddetidir.' ""'" .' ..CGPM (1948) li if Zaman Saniye s Elektrik Akimi -Ampei>· A 1/ i Sicaklik 'BKeivin i i Suyun üçlü il====Hii= ===='11"=' ===== Isik Siddeti Kandela cd D ii 1/273. Temel Birimler \ i>" . 1metre. . '.. moleküi olarak ifade edilmelidir.•...• . Bu ifadeyle birlikte madde yapisi iyon.CGPM (1901) \1 ~g.•• -··-----·--•• - . 1...:·'>1 '. . 9. ---... .. •• 0 ••••••••• I·BEJ "'. Li esittir... 16..16 katidir. Buna göre Systeme Internationa\de'Unites (SI birimleri) üç tip birimden olusur: • Temel birimler • Yardimci Birimler • Türetilmis Birimler Tablo 1. atom.:. metro\oji ve kalibrasyon konusunda uluslararasi koordinasyonu saglayarak dört yilda bir Uluslararasi Ölçü ve Agirlik Kongresini (CGPM) toplamaktadir.CGPM (1967) noktasinin dinamik sicakliginin Monokromatik ve 540X 1012 Hz frekansli. . i Birim . 14.. 13. :: ii Fimyüklük . toplantisinda kabul edilmistir. 1/299792458 sn'de katettigi yolun uzunlugudur.. Vakum içerisindeki monokromatik isigin M 17.. 1960 yilinda Ölçüler ve Agirliklar Konferansi'nin 11."i'~sem~ol i Tanimi i ..atan 17 ülke Uluslararasi Ölçü ve Agirliklar Bürosu (BIPM) nun kurulmasini kabul etmislerdir. i ---. Si birimleri..' ...012k9 Karbon C12 elementinin atomIari sayisi kadar madde elemanlari bulunduran bir sistemin madde miktaridir..:.. ' i !5110gram Kg '. ·1 Metre.EJ"D-.CGPM (1971) Madde Miktari Mal mol 9 .. Uzunluk ~ (AgiriiK) Kütle .CGPM (1983) . gelistirmek için çalismakta..

Milattan sonra 1101 yilinda ingiltere'de Heinrich H nin göz hizasindan parmak ucuna kadar olan mesafe uzunluk ölçüsü 1 Yard olarak belirlendi (SekiliA).••••• 1 Ayak --. tapinaklar) veya • Mümtaz ve mükemmel kimselerin vucut ölçüleri (hükümdar.4: Uzunluk ölçüsü 1 Yard . Sekil 1.Heinrich ii lO . degisik sahalarda karsilastirma büyüklükleri olarak ortaya çikmaktaydl. Ilk zamanlar birimler.4.5 Uzunluk Ölçü Birimi Çesitli ölçme birimleri hakkindaki ilk bilgiler dünya tarihinde eski çag dönemine kadar uzanmaktadir. r Sekil 1.· zira ayni isim altinda farkli büyüklükler anlasilmaktaydi.1.tür ölçü!erin müsterek bir temeli olmamasi nedeniyle çogu zaman yanlis anlamalara sebebiyet vermekteydi. Ancak bu . • • Dogal ölçüler (tohum tanelerinin büyüklük ve kütlesi) Binalariin belirli kisimlari (saraylar. ~~. prens) J :c-.3: Uzunluk ölçüsü ayak Son olarak belirtiten vucut ölçüleri dirsek LI • ayak • kulaç • adim (çift adim) uzun bir süre geçerli oldu.

Breteuil 11 . Yüzyilda baska bir prototip ortaya kondu. Kutup Ekvator arasi 10000 km.1 Metre" Paris rasathanesinden geçen yerküresiçeyrek meridyaninin onmilyonda biri olmaliydi. Matematkçi ve ~fizikçi F. Sekil 1. Sekil 1. taksimati nötral faser üzerine yapilan ve uzunlugunu.Farkli anlamalara yol açan bu duruma bir son vermek üzere 1791 senesinde Fransa Ulusal Meclisinde bir karar alindi. 1792-1798 yillari arasinda triangulation metoduyla Dünkirehen ile Sareelona'da Montjuieh· arasindaki daire gerçekten ölçülmek suretiyle tespit edildi. Paris . Tamma göre. . Bessel'in (1784-1846) arastirmalarinin temeline dayanan bu prototip.6: Pt-Ir Metre. Buna göre elde edilen sonuç kesiti 25mm X 4.. Su karara göre uzunluk birimi olarak her zaman ayni kalabilen ve her zaman tekrarlanabilen bir dogal ölçü "Metre" kullanilmaliydl. %10 Ir) birçubuktu.05mm boyutlarinda dikdörtgen seklinde bir platin çubuk olarak cisimlendirildi ve saklandigi yerin adiyla (Fransa Devlet Arsivi "metre des arehives") adlandirildl.W.5: Metre tanimi: Yerküre çevresinin kirk milyanda biri. kendi agirligi ile ortaya çikan deformasyonda da koruyabilen platin-iridyum alasimi! (%90 Pt. 19.

Teknolojideki gelismeler. 1900 yilinda tolerans sinirlari 0. Zira ilk "Ölçü ve Agirlik Genel Konferansi'nin yapildigi 1889 ve 1957 yillari arasinda prototipin.01 mm.L a Sekil 1. 1800 yilinda uzunluk ölçüsü için dogruluk. L a a = 0. 1950 li yillarda da 0.Prototip için uygun bir kesit olarak.2203 rde biri mesafesinde mesnet noktalari belirlenir. Bu yüzden uzunluk ölçü birimi için daha dogalolan bir tanim bulmak üzere çalismalara baslandi. 12 . 0. fizikçilerin yaptiklari arastirmalar temelinde -özellikle Fizikçi A. kristallesme degisiklikleri nedeniyle.A. özellikle ölçme teknigi alaninda. 0. yeni bir uluslararasi metre tanimi kabul edildi (Sekil 9). Buna göre asgari bir deformasyon için çubugun her iki tarafindan içeriye dogru olacak sekilde çubuk uzunlugunun 0.25 mm ye kadar yeterli sayilirken. Bunun neticesi olarak metrenin yeniden tanimlanmasi ihtiyaci üzerine.5 J. ölçme dogrulugu ile ilgili gitgide artan talepler bu yöndeki çalismalarin baslica nedenini olusturmaktaydilar.lm daha kisalmis oldugu tahmini kuvvetlenmisti. Böylece 1960 senesinde ilk defa oybirligi ile alinan bir kararla vakumda dalga boyu esasina dayanan. Sekil 1.8: Bessel mesnet noktalari Metrenin bu tanimi da uzun süre devam etmedi.7: Platin iridyum alasimi prototip Sekil 1.yeni tanim için çalismalar yapiidi.22031. küçük alan ölçüsü ve büyük mukavemet momenti olan (Tresca'ya göre) X profil sekli seçildi.8 Bessel mesnet noktalarinin prototip Pt-Ir çubugu için konumunu göstermektedir.25 i-im degerlerine kadar küçüldü. Michelson'u sayabiliriz (1852-1931).

1 metre. tammlandl. Optik frekanslari bir atom geçisinde. Sekil 1.. Metrenin iyot stabilize He-Ne Laser vasitasiyla 13 . 1983 yilinda 17 CGPM'de yapilan bu tanim 1960 yilinda Kripton 86 atomunun nesrettigi radyosyona bagli olarak yapilan metre tarifini.8 m 0.9: Dalga boyu esasina göre metre tanimi 1983 senesinden beri geçerli olan son metre tanimina göre ise.10: Uzunluk ölçüsü spektrumu Metre taniminin fiziksel gerçeklestirilmesi normalolarak yüksek stabilitede ve belli bir frekans düzeyinde Laser iSini ile olur. yani iyot gazinin absorpsiyon çizgisinde stabilize edilir.Bu tanima göre: 1 metre.. . 1889 yilinda yürürlüge giren kutupdan ekvatora kadar olan meridyenin uzunlugunu temel alan prototip metreyi (Pt-Ir çubuk) geçersiz kilmistir.Günes . vakum içerisindeki monokromatik isigin 1/299792485 saniyede katettigi mesafeye denk bir uzunluk olarak tespit edildi.Ay 150 000 000 000 m 380000000 m 2400000 m Çin Seddi Everest 8848 m insan Saç kalinligi ..7300 dalga uzunlugu olara\<. 1960 yilinda yapilan tarif de.00008 m --"' H20 Molekulü Atom o.ogo 000001 m 0. -1. Uzunluk Ölçüsü Spektrumu Yer Küresi Yer Küresi .. Primer normalolarak He-Ne Laser kullanilir.0000000003 m Sekil 1. Kripton 86 atomunun 5d5 ile 2p10 seviyeleri arasinda geçisine tekabül eden vakumda yayilan isinin 1650763.

Bu standart ölçülecek büyükmklerin dogrudan karsilastirilmak suretiyle ölçülmesine olanak verir. Ulusal kütle ölçme standard. Serv Fransa) 1.4. : .11 ).4. :.•. ~üzylJda agirliK ölçüsü ilk olarak 1.6 Agirhk Ölçü Birimi 18.. Bu günes saati gölgenin aksettigi bir düzlem ile bir skaladan meydana gelmisti (Sekil 1.633 ~m) çok dogru olarak belirlenmesi cisimsiz bir uzunluk standartinin elde edilmesi anlamina gelmektedir.11 : Agirlik prototipi (BIPM müzesi.gerçeklestirilmesinin relatif belirsizligi 2. yüksekligi 39mm. Aristarch ilk günes saatini yapti.0 dm3 (1 Litre) hacminde aritilmis suyun kütlesi 1 kg olarak tanimland:.::. olan Pt-Ir alasimli prototipler ülkelerin ulusal metroloji enstitülerinde muhataza edilirler. yogunlugu 21500 kg/m3 olan Pt . Bu belirsizlik yer küre ekvator Stabilize laser isininin dalga boyunun (0. i Mi/attan önce 400 yillarinda . interferometri _yardimiyla laser isininin dalga boylari sayilarak ve enterpolasyon yöntemiyle onlarca metre uzunlugunda ve nanometre alt seviyeleri arasinda oldukça gen-isbir ölçme yeLpazesinde uzunluk ölçümleri gerçeklestirilii. 14 . Bu prototip 1889 yilinda 1. Bir aylik süre yeni ayin dogmasindan baslaytp takip eden yeni ayin dogmasina kadar geçen süre ayalarak tanimlanmisti.=~. Uluslararasi tanima göre 1 kg-i uluslararasi kilogram prototipinin küflesine esittir. çapi 39mm.~':-'. ~ Sekil 1. 1. %10 iridyum) silindirik kütledir.Ir alasimli (%90 Platin. uzunluguna göre 1 mm ye tekabül eder. Ölçü ve Agirliklar Genel Konferansi'nda (CGPM) kabul edilen. Bu prototip Fransa'nin Serv sehrinde BIPM müzesinde muhafaza altindadir.7 Zaman Ölçü Birimi Mi/attan önce 2000 yillarinda BabilUer ilk ay takvimini kullandilar.5x10-11 dir.

: -----Sekil 1.12: Günes saati '-. Bu sekilde yapilan zaman ölçümü. 1967 yilinda ÖI.13: 15 . Fakat dünyanin günesin etrafinda dönmesinde bazi düzensizlikler olmasi sebebiyle saniye istenilen hassasiyette bir zaman birimi olmaktan uzaklasti. Buna göre saniye. Çok siklikla kullanilan zaman Ölçümü kuvars saatiyle yapilmaktadir. Cesium 133 atomunun temel enerji durumunda iki süper ince düzeyi arasindaki geçisler sirasinda olusan radyasyon periyodunun 9 129 631 770 katidir.800 1900 2GO(1 Jarf Sekil 1. Hata orani gün basina 0.r karesi rotasyon salinimi kuvars 170{l .çü ve Agirliklar Genel Konferansi'nin (CGPM) 13.--~ Daha sonra yapilan zaman tarifine göre saniye. Hata san/gün rakkas 0_000001_ Yf!. Toplantisi saniyeyi atomik esasli bir tarifle yeniden açikladi. kuvars kristallerinin kalinlik titresimleri üzerinde gerçeklestirilir. Günümüzde bu esasa göre imal edilmis Cesium atomik saati ile günde saniyenin yüzmiiyonda biri dogrulukta saniye ölçümü yapilmaktadir.0801 saniyedir. astronomik olarak bir gunun 86440'de biri olarak ifade edilmekteydi.

yari çapi 1m olan bir çemberin 1m yay uzunluguna karsi gelen merkez açi olarak tanimlanir. Yardimci birimler temel birim veya türetilmis birim olarak da kabul edilebilir.. Açi birimi olan radyan. rüretilmis Birimler Türetilmis birimler. kabul edilmistir. Bunlarin disinda bazi türetilmis birimler de bu sembolleri kullanarak ifade edilebilir ./ i Rf'!soikitor i i A Qua rzoszlltator Sekil 1.4. Düzlem açi birimi radyan (rad) ve kati açi birimi steradyan (sr) yardimci birim olarak tanimlanmistir.14: 1. Tablo-2'de verilen bu semboller CGPM tarafindan onaylanmis. atom saati 50 yildan beri en dogru zaman ölçer olarak bilinen mikrodalga saatlerinden 20 defa daha dogru olarak çalismaktadir.Amerikali bir arastirma grubunun yaptigiçalismalar zaman ölçümünün çok Optik atom yüksek hassayiyette optik atom saati ile yapilabilecegini ortaya koymustur. temel ve yardimci -birimlerdericebirsel islemlerle elde edilen birimlerdir.7 Yardimci Birimler. ~ \ i i LS i i ii .15: radyan açi birimi 16 . Bazi türetilmis birimlerin özel isim ve sembolleri vardir. 1 rad = a = bi r Sekil 1.

16: Steradyan Türetilmis birimler ve yardimci birimler. Tablo 2.Derece Dakika Saniye 10=(n/180) 1'=1°/60. (açi dakika) = 1'160 Gen açi birimi: 1gon=( 1t/200) rad 1c= 1gon/1 00 1 cc = 1 gon/10 000 Rad iki uzunlugun. 1 Hz IlcJ/s C 11N. Tablo 3 te gösterilmektedir. Türetilmis Birimlerin Özel isim ve Sembolleri i birimin diger türetitmis Si özel Volt Birimlerle ifadesi m2/m2 IVve yardimci SLbirimlerle veya iTüretilmis \ Watt Coulomb Pascal Newton Hertz 1 rad La1 m/m i 1 sr = 1\1TemelII=J Joule i J \\W 111 W = II11s·1m/s2 Pa Hz 11 V ===1J/CN/m2 . iso Sekil 1.m Pa sr 1kg A. Ancak boyutsuz büyüklüklerdir. Steradyan ise iki alanin orani seklinde tanimlanabildiginden. 31 bu birimleri türetilmis birim olarak kabul etmektedir. 1" rad.s N N 1\ i Sembol ~E] i i ]7 .

.llMiA.kisi potansiyeli 1 T = 1 T weber " Wb/m2 tesla i henry ohm /Iümen IWbfarad Lux 1 Wb==1W-1 S ==11Im/m2 endüksiyon 1F=1CNWb/A yogÜnluk11 W = ~ Im \1 H IIWcd. Birimler sistemine yeni ilaveler: Tablo 3.. EJ EJ -.s 11 Im i1 Ix· siemens Eiektrik Manyetik fark Elektrikselaki Potansiyel direnç ~ 1\ . Bazi türetilmis birimlerin elde edilmesinde ~~lIanllabilirler. 18 . . '~-=' ~--'-"I ]Atom fiziksel bÜyÜklÜkler.• ~jB-.- Ekim 1980'de Ölçü ve Agirliklar Genel Konferansi.-IF=örir!iiJ-~'-~-~I-Te-m~... :Kütle " '.. Bu katsayi birimlere öntaki olarak kullanilir ve birimin degerini tabloda belirtilen oranda degistirir. 1°C=1K .. Örnegin...-.t~m. açisal hiz S-l veya rad/s açisal ivme ise S-2 veya rad/s2 olarak ifadeedilebilir._=__ jElek!~on volt ii eV i Si Birimlerinin ifadesinde Tablo-4'de verilen ondalik katsayi sistemi kullanilmaktadir.ar 1 ibirimi i kütle 11u v~ya amu i(at?mic mass iunit) ·-iE-ne-r-j_i-_-_-_~=- ------I'-w---.sr V/A 11 Ix II H V. Atomfizii<seliJÜyÜklÜkler vebirimler ~ . yardimci birimleri boyutsuz türetilmis birim olarak tanimladi ve bu birimlerin türetilmis birimlerin ifade edilmesinde ku1ianihp kullanilmamasini serbest birakti. e~J~b~i~~im~-i-'r-im~is-a~r~e~t/~' i .

s·l seklinde ifade edilir.Her bir öntaki sadece bir birime etki eder. SI-Öntaki 1 000 000 000 000 000 000 000 000 = 1024 Mikro Milli Nano Femto Piko Peta Exa Yokto Zepto Centi Deci Tera Atto Deca Zetta Kilo 1 000 000 000 000 000 000 000 = 1021 Hecto Giga Mega 1 000000000000000000 =1018 1 000000000000000 = 1015 1 000000000000 = 1012 1 000000000 = 109 1 000000 = 106 1 000 = 103 100 = 102 10 = 101 0. 6 küçük açilarda yaklasilan Genelolarak dizinin ilk iki terimi.000000000000000000001 = 10-21 0..5 Matematiksel Temel Bilgiler Tüm teknik önemli fonksiyonlar.000000000000000001 = 10-18 0. Bilesik birimler araya çarpim isareti konularak veya arada bosluk birakilmadan yazilir.8 = j3 - ~. Cümle sonu vb. dizi MacLaurin dizisi olarak adlandirilir.000000000000000000000001 = 10-24 Z d E da c a T fG n h P y m k p Yotta M 11 1.. Gelisimin baslangici olarak sifir noktasi alindigi takdirde. mN mili Newton ifade eder. açi fonksiyonlari da dahilolmak üzere Taylor dizisi gelisimine uygun üslü dizi olarak tasarlanabilirler. mIJ yerine nm kullanilmalidir. Birim sembolleri miktari belirten nümerik bir degerin arkasina bir bosluk birakilarak yazilir.000000001 = 10-9 0. Karmasik birimlerin ifadesinde parantez ve üslü ifadeler kullanilmalidir. Örnek olarak açi fonksiyonu sin us dizisi açilimi su sekildedir: sin.) Çarpan olarak etkileyecegibirim ile öntaki arasmda bosluk birakilmamahdir. Her bir birim için sadece bir adet öntaki (çarpan) kullanilir.000000000000001 = 10-15 0. gereklilik olmadigi sürece birim sembollerinin sonuna nokta konulmaz.01 = 10-2 0.000001 = 10-6 0.1 = 10-1 0. Newton-metre Nm olarak yaziimali. xo=O. Bölüm seklindeki bilesik birimler mIs veya m. 8 dereceden degerlerin dogrulugu bakimindan yeterli olmaktadir. Tablo 4. (Örnegin.. 19 . Ondalik Katsayi Sistemi.000000000001 = 10-12 0.001 = 10-3 0.83 .

X2. Ortalama deger /1 .17: Normal dagilim Çan egrisinin parametreleri sunlardir: aritmetik ortalama ~ El • standart sapma cr Dagilimin degerleri.': ~ " i -j. yeterli sayida gözlemJerin olmasi halinde. . (esas çokluk) bilinmeyen parametreleri -için numunenin tahmini • aritmetik ortalama x ve lt standart sapma s kullanilirlar. çogunlukla normal dagilim modeline göredir (Gauss normal dagilimi).1.1 Normal Dagilim Ölçme degerleri. ·1 - IJ JJ+3a Ölçme degerleri Sekil 1.1-30p-Za ' Standart sapma i J. Bu degerlerin olusturdugu çokluklar. x ve s asagidaki formüllerle hesaplanirlar: _i =X n ~Xi i=i n 20 . en azindan ise yarar bir yakinlasma olarak kabul edilir (Sekil 1.l+2a i i IJ-cr i i LI i J.l-+rJ' . yani bir dagilim içerisindedirler. Xn) birbirleriyle farkliliklar gösterirler. gözlemler (X1.17). Bu degerlerin dagilimi.5. Bu degerler. degerlerin tamamim içine alan ve hiç bir zaman tam olarak tespitedilemeyenesas çokluk ve gözlemlenen çokluk olarak ayrilirlar. Burada degerlerin bir türlü dagilimi söz konusudur.

/. egrinin sekli ve konumu sekilde . / " cr=1 x 2] .t)) '01 >- :i :i i:: :i o \ \. " \ ..5 ~~/V ..(x) -_ cr 1 ~e -(X-Il)' 2a' parametresi ve \J parametrisinin degismesiile görüldügü gibi degisecektir (Sekil 1...=] 1 n -x)2 Ölçme degerlerinin islenmesi ve istatiksel incelemelerde kullanilan diger parametrejer su sekilde belirlenir: aritmetik ortalamanin standarthatasi: Açiklik: Normal dagilimin egrisi i-i ve cr parametreleri ile asagidaki ifade tarafindan tanimlanir: j.18). n-I ./ /cr=O.S = -i--l)x.

:::i >Cl :::i i:: O ::i >01 ~ •. Somut normal dagilimdan normlandirilmis nori:ria"-gagilimatransformation su sekilde yapilir: z = Xi - a j.18: degismesi (J ve IJ parametrelerinin degismesiyle dagilim egrisinin ve konumunun Herhangi bir ölçme degerinin belli bir deger araliginda yer almasi olasiligi. aralik sinirlari ile sinirlanan egri altinda kalan alanla dogru orantilidir.J2Jr 1 __ 2 Z2 O Egrinin altindaki alan: 1 . Bu alanlarin her konkret durum için uygun olan entegral hesabi ile hesaplanmasi mecburiyetine karsi. .J2Jr J e -2" dz = Zi 1 22 .J21L OJ Z2 -OJ f e -2 dz = 1 araliginda yer almasi olasiligi sekilde Bir ölçme degerinin Z1 ve Z2. ... normlandirilmis normal dagilim belirlenmistir. Aritmetik ortalama degeri O olup böylece egrinin altinda kalan tüm alan 1 dir. Egri su formülle tanimlanir: .1 Bu dagiliminkoordinat sisteminin baslangiç noktasi. veya X1 ve oldugu gibi taranmis bölge alanina esittir: X2 Z2 Z2 CD (:i) = :ii J :iz JI' (:i) dz=-- 1 .' x /-L1 L Sekil 1.-e Iz) .:.i::: !tl f f E ... Bu tür dagilim için tabelalarda hazirlanmis degerler statistik kitaplarinda mevcuttur. çan egrisinin ortasindadir.~ ro .

y Ölçme noktasi -------=Ç7" " " ".3'ü bu alan içinde kalir.-? +7 i -z /\ v ~/. Linear regresyon.2. Ortalama deger ± 2s: tüm degerlerin %95. tek tek ölçme degerlerinin grafik olarak göster. elde edilen ölçme degerlerinin dagilimi hakkinda genel bir bilgi verir. k dan bagimli olarak (k ::: 1.20: Linear Regresyon 23 . @ \ij 1.ilmesinde oldugu gibi. " " " Denqeieme doqrusu " " Sekil 1. ~J -----: i 1 i /~.y) çokluguna istinat . bir (x. ks veya ±ka alanlarinda belli miktarlarda degerlerin olmasidir. @ ) Ortalama deger ± s: tüm degerlerin %68.19 : Rasgele büyüklüklerin normal dagilimi Standart normal dagiliminkarakteristik özelligi.2 linear Regresyon Linear regresyonda gözlemlenen çokluk. Bunun için Gauss metodu olarak da adlandirilan en küçük kaieler metodu kullanilir. Dengeleme dogrusu o sekilde konulmalidir ki" dogruya olan mesafelerin karelerinin toplami minimum olsun.~:~ +2 ilJJh Sekil 1.5. Ortalama deger ± 3s: tüm degerlerin %99.3.eder.Tsi bu alan içinde kalir.4'ü bu alan içinde kalir. l~?(z) O! f.

Böylece dogrunun esitligi elde edilir: y- y = b(x-x) L .Mesafelerin kare/erinin toplami n a= i)y. ~ a=:>minimum.. n . b= si 2 24 .~J 1 n (Xi - X)(Yi - y) s -!!.. (Xi. -bx..~i _k)2 .21 : En küçük kareler metodu ile dengeleme dogrusunun bulunmasi y=bXj + k dengeleme dogrusunun esitligi düsey mesafe b . egim Dogrunun egimi b regresyon faktörü (eoeficient) olarak tanimlanir. n i~J 1 n Sxy = ~1 n t i~J y=-Iy....ro = ro O CU ve .= & O -tsa rt i zerine ge iri·1· irse. . Aradaki bagintilar su formüllerle gösterilir: x=-Ix. X = Xi x Sekil 1.. Yi) Yi Y - Y ~ . eger.

2. Bölüm Makina Imalatinda Kullanilan Ölçme Cibazlan 25 .

~ 2.

.•..

_'~-:'."'~"'-""---

M~!dnajmalatind aKuHafitlacn-·ÖI~me-(;ih azla ri

2.1 Temel Bilgiler Muayene islemleri, üretim ve proses ölçme teknigi açisindan (Sekil 2.1). Sekil 2.1: Muayene islemleri türleri su bölümlere ayrilir

Muayene

i
anlamda Muayene

i Yakin
Görsel ·muayene (vizüel) Görsel olmayan muayene -Dokunma (taktit) -Dinleme (auditif) -Koklama (ölfaktörik)

-Karsilastirma

-Mastarlama
" X.··;;.·.'~·\l.·.·.·."·····
:;!.';' •

.Sayma
'" ;i.;.:>

-Tatma
(gustatorik) objektif muayenede; • • ölçme cihazi mastarlar yardimci aletler ve gereçler

kullanilirlarlar. Ölçme aletleri • Ölçü etalanlari •• Göstergeli ölçme aletleri olmak üzere ikiye ayrilirlar.

26

2.1.1 Ölçme Türleri

Statik ölçme, ölçme sirasinda degeri sabit olarak mütalaa edilen bir büyüklügün ölçülmesidir. "StatikUolarak nitelendirme, ölçme büyüklügü ile ilgili olup, ölçme metodunu tanimlamaz.
Dinamik ölçme, bir büyüklügün ani degerinin ve gerekli oldugunda zamanla degisiminin tespit edilmesidir. Dinamik olarak nitelendirme, ölçme büyüklügü ile ilgili olup, ölçme metodunu tanimlamaz. 2.1.2 Ölçme Metodu Ölçme metodu, genelde belli bir prensibe göre ölçmelerin yapilmasi ile ilgili bir grup teorik ve pratik islemlerdir. Dogrudan ölçme metodu, ölçülerle fonksiyonelolarak ilgili digerbüyüklÜklerin ölçülmesinden ziyade ölçülenin degerinin dogrudan elde edildigi bir Ölçme metodudur. ilgili düzeltmeleri yapmak için, etki büyüklüklerinin degerlerini tespit etmek üzere Ilave ölçmeler yapmak gerekli olsa bile metot, dogrudan ölçme metodu olarak kalmaktadir. Örnek:
e
ili

Cetvel kullanarak uzunluk ölçülmesi Dogrudan okunan voltmetre ile gerilim ölçülmesi Ayni kollu terazi ile kütlenin ölçülmesi

ili

Dolayh ölçme metodu, ölçülenin degerinin bu büyüklük ile· fonksiyone! olarak ilgili diger büyüklüklerin ölçülmesiyle elde edilen bir ölçme metodudur. o':· • Örnekler:
e
El

Bir sivi sütunun yüksekliginin ölçülmesiyle basinç ölçümü Birdirenç termornetresi yardimiyla isi öl~(ürnü

2.1.3 Ölçme Sistemi Ölçme sistemi, belli bir ölçme ile ilgili tüm bilgi, teçhizat ve islemlerd~r. Örnegin, ölçme prensibi, ölçme usülü, ölçme metodu, etki büyüklügü degerleri ve ölçme normalleri v.b.

2.1.4 Ölçme Sonuçlari
Bir ölçmenin sonucu, ölçülenin ölçüm ile elde edilen degeridir. "Bir ölçmenin sonucu" terimi kullanildigi zaman, asagidakilerden herhangisinden bahsedildigi açiklanmaiidir. li Bir ölçü aletinin gösterdigi deger ~ Düzeltilmis sonuç
o

Düzeltilmemis sonuç gözlemlere dair ortalama deger alinip alinmadigi

ve
e

27

"Bir ölçmenin sonucu" terimine, ölçmenin belirsizligine ve ölçmeyi etkileyen büyüklüklerin degerlerine ait bilgiler de dahildir. Düzeltilmemis sonuç, bir ölçmenin varsayilan sistematik hatalar için düzeltme yapilmadan önceki sonucudur. Ölçü aletinin gösterdigi tek bir deger oldugu takdirde, düzeltilmemis sonuç bu degerin aynisidir. Düzeltilmis sonuç, varsayilan sistematik hatalar göz önüne alinarak düzeltiimemis sonuca düzeltmeler yapildiktan sonra elde edilen bir ölçme sonucudur. 2.1.5 Ölçme Degeri Ölçme degeri, ölçmenin bir ölçü aletiile elde edilen degeridir. Aletin gösterdigi deger, skalada isaretli bulunan birimler dikkate alinmaksizin ölçülenin birimleri ile ifade edilir. Bu degeri elde etmek için skalada görünen degerlerin -bunlara aletin dogrudan gösterdigi deger dogrudan okuma veya skala degeri adi verilir- alet sabiti ile çarpilmasi gerekir. Bir ölçü gereci (normali) için aletin gösterdigi deger onun anma veya isaretlenmis (verilen) degeridir. "Aletin gösterdigi deger" teriminin anlami bazan bir kaydetme cihazinin kaydettiKierini veya bir ölçme sistemi içindeki ölçme sinyalini kapsayacak sekilde genisletilebilir. Ölçmenin dogrulugu, ölçmenin sonucu ile ölçülenin kabul edilen gerçek degeri arasindaki uyusma yakinligidir. Dogruluk terimi için hassasiyet teriminin kullanilmasindan ~açinilmalidir.
/ __ ,__ ,_~_.'.m,_-,__m mm', __
__ ~

// 2.1.6 Ölçmenin Belirsizli~m
-m""""""" )

Ölçmenin belirsizligi ölçüienin gerçek degerini de içeren degerler araligini karakterize eden bir tahmindiL Ölçmenin belirsizligi genelolarak birçok bileseni kapsar. Bu bilesenlerden bazilari seri ôlçme sonuçlarinin istatistiki dagilim esasina göre tahmin edilebilir ve empirik standard sapmalarla karakterize edilebilr. Diger bilesenlerin tahminleri sadece baslica bilgilere veya tecrübelere dayandirilir.
"m

2.1.7 Ölçme Hatasi Ölçme hatasi, ölçme sonucundan ölçülenin -kabul edilen- gerçek degerinin çikariimasi ile elde edilen bir degerdir. Bu terim, • Aletin gösterdigi deger • Düzeltilmemis sonuç • Düzeltilmis sonuç ile ayni derecede baglantilidir. Ölçme hatasinin bilinen kisimlari uygun düzeltmeler tatbik edilerek telafi edilebilir. Düzeltilmis sonucun hatasi yalnizca bir belirsizlik ile karakterize edilebilir.

28

. ölçme zinciri. '. Ölçme tesrsati terimi.j . belli bir büyüklügün bir veya daha fazla bilinen degerini -kullanimi sirasinda sürekli ayni deger olarak göstermek için amaçlanan biraraçtir. özel bir ölçme islemini yeri.1 Ölçme Aleti Ölçmealeti.2. tek basina veya diger bir teçhizat ile birlikte ölçmede kullanilan Burada. e e e Analog gerilim ölçme aleti (voltmetre) Dijital gerilim ölçme aleti (voltmetre) Mikrometre 29 .3 Göstergeli Ölçme Aleti Göstergeli ölçme aleti.3Ölcme J"esisatL __ . Örnek: Bir elektro-akustik meydana gelir.2.~...~_. Örnekler: li Laserin dalga boyu cl Bir agirlik Standart bir sinyal jeneratÖri. skala ile veya skalasiz) Uzunluk normali - G fO EI 2. bir mikrofon. Bir hacim ölçüsü (bir veya daha fazla deger için."_--CC-7>·"-'-'=-·~-"-'-- Ölçme tesisati.2. Örnekler: €i Kazan dairesi aletleri • Akis ölçülmesi için güç devreleri 2. .. giristen çikisa ölçüm sinyal yolu meydana getiren bir ölçme aleti veya sistemin bir dizi elemanidir. yükseltici ve voltmetreden 2. kullanilan terimler ait olduklari tanimlanmalan ile gösterilmekted\L 2..2. Ölçme zinciri..~~_.2 Ölçme Gereci Bir' ölçme ~ereci... filitre.2 Ölçme Aletleri Ölçme aletlerinin taniminda çesitli terimler kullanilmaktadir.L -"'--~'_~'~-'----'---=~' .~c""".A Ölçm~_fÜicir. cihazdir.. daimi olarak yerlestirilmis genellikle büyük tipte ölçme cihazlari için kullanilmaktadir.' .2-. tercihan 2. ölçülenin degerini veya onunla ilgili bir degeri gösteren ölçü aletidir.ne getirmek için biraraya getirilmis tam bir ölçÜ cihazi takimidir.

ölçülenin degerinin 2. Örnek: Dijital voltmetre 2. Örnekler: • • Barograf Isilisinimli (termo lüminesansll) dozimetre • X-V Kaydedici • Elektrokardiyograf 2.3. ölçülenin degerini veya onunla ilgili bir degerin (daimi veya aralikli) kaydini saglayan bir ölçü aletidir. Kayit. dijitai bir sonuçveya deger saglayan bir öiçü aletidir.6 AIgilayicl Algilayici. Analog gösterge tertibati analog bir deger.3.2 Kayit Yapan Ölçü Aleti Kayit yapan ölçü aleti. Gösterge tertibati.3. Birden fazla büyüklügün degeri ayni anda kaydedilebilir.3. 2. dijital go-sterge tertibati dijital bir deger gösterir. Dar kapsamli olarak burada sensor terimi de kullanilabilir. 2. analog -sürekli veya süreksizveya dijitalolabilir.4 Gösterge Tertibati . Bu terim. Karma gösterge tertibati olarak. Örnekler: • Termoelektrik bir termometrenin • Bir türbin akis ölçerin rotoru 30 Isli çifti . gösterilen degerin ve'çikisini sürekli bir fonksiyonu oldugu bir ölçü aletidir. ölçülenin degerini veya onunla ilgili bir degeri gösteren fonksiyonel bilesenler grubudur. en küçük signifikant kismi interpolasyon yapilabilecek sekilde sürekli degisen bir gösterge veya bir skala ve okuma isareti ilave edilmis bir gösterge tanimlanir. bir ölçme aleti veya ölçme zincirinin. sinyal jeneratöründe oldugu gibi ayarlama göstergeli cihazlari da kapsar.3.3 Dijital Ölçü Aleti Dijital ölçü aleti. Kayit yapan bir ölçü aleti ayrica bir gösterme cihazi ile birlikte olabilir. bir ölçme gerecinin etiketi veya ayarlama tertibati için de kullanilabilir. bir ölçü aletinde.2.3.2 Analog veya Skalali Ölçü Aleti Analog veya skalali ölçü aleti.5 Kaydetme Tertibati Kaydetme tertibatii bir kaydetme aletinin ölçülen degerini veya onunla ilgili bir degeri kaydeden kismidir. ölçülenin dogrudan tatbik edildigi bir elemanidir. Gösterge tertibati 'terimi.

ibrenin 31 . bir gösterge tertibatinin skala veya skalalari tasiyan sabit veya hareketli kismidir. gösterilen bir degerin belirlenmesine imkan veren bir tertibatin sabit veya hareket edebilen bir parçasidir.10 Skala Taksimati Skala taksimati. ölçü aletinin dogrudan göstergesinin ölçülenin degerinin sifir olmasi durumunda.3. büyüklügün birimleri dikkate alinmaksizin skalada isaretli birimlerle ifade edilir.3. Genisletilmis skala. gösterge tertibatinin amaca uygun olarak rakamlanmis bir parçasidir. skala isaretlerine göre konumu.3. 2.3. Skala araligi. Dijital veya yari dijital göstergeler için numaralarin kendileri skala isaretleridir. 2. iii lineer skala ve fi lineer olmayan skala olarak ikiye ayrilir.11 SkalcfAra!igl Skala araligi.2.3.9 Skala Skala. 2.12 Kadran Kadran. yardimci güç kaynaklarinin devrede olmasi halinde. 2. bir skalanin herhangi -[ki ard arda skala isareti arasinda kalan kismidir.16 Ölçü Aletinin Sifiri Ölçü aletinin sifiri. ardarda gelen iki skala isaretine karsi gelen skala degerleri arasindaki farktir. skala uzunlugunun 2.8 Gösterge Gösterge.3. Skala. bir gösterge tertibati üzerinde bir büyüklügün bir veya daha fazla tarif edilmis degerine karsi gelen bir çizgi veya baska bir isarettir.7 Skala isareti Skala isareti.3. skala ölçme sahasinin bir kisminin genis bir kismini nispetsiz bir sekilde kapsadigi bir skaladir. Örnekler: ibre isikli nokta Kaydedici kalemi Sivi seviyesi 2.

Ölçü aletinin elektriksel yardimci bir güç kaynagina sahip olmasi halinde bu terim genellikle elektriksel sifir olarak adlandirilir. Duyarlik. 2. 2.4 Ölçü Aletlerinin Özellikleri Ölçü aletlerinin özelliklerini tanimlayan terimlerin birçogu ölçme halkasi. elektriksel sifira belki uymayabilir..6 Bir Gösterge Tertibatmm Ayirma Gücü . skala üzerinde bulunan degerler dikkate alinmaksizin.4. Örnegin 100cC'den 200°C'akadar. Alt limitin sifir oldugu yerlerde ölçme sahasi çogunlukla üst limitle ifade edilir. Mesela O V'dan 100 V'a kadar olan bir ölçme sahasi 100 V olarak ifade edilir.3 Duyarlik Duyarlik.4.4. herbir skala ölçme sahasinda ölçülenin bir grup degeri için. 2. gösterilen bir büyüklügün yakin degerleri arasinda anlasilacak bir sekilde ayirim yapma derecesinin kantitatif bir ifadesidir.4.4.4 Diskriminasyon Diskriminasyon.2 Açiklik Açiklik. uyarinin degerine bagli olabilir. Mekanik sifir. bir ölçü aletinin. Örnek: Ölçme sahasi: -10 V'dan +10 V'a kadar Açiklik: 20 V 2. ölçme dönüstürücüsü veya ölçme tesisati için de kullanilabilir. ölçülenin birimleriy ve genelolarak alt ve üst Iimitlerle ifade edilir. çogunlukla mekanik sifir degeri kullanilmaktadir. kontrolunun özelolarak yapildigi skala ölçme sahasi dahilinde verdigi degerlerdir.Çözülümü Bir gösterge tertibatinin ayirma gücü . 2. Anma sahasi. Bazi tür aletlerde mekanik sifir degeri belirsiz olabilir. anma sahasi ölçme sahasi anlaminda kullanilmamamlidir.bulundugu noktadir.çözülümü. 32 .1 Ölçme Sahasi Ölçme sahasi. bir ölçü aletinin ölçme sahasinin iki siniri arasindaki farktir. bir ölçü aletinin uyari degerindeki küçük degisikliklere karsiirk 2. bir gösterge tertibatinin. Skala ölçme sahasi. verme yetenegidir. Alet kullanilmadiginda ve yardimci güç kaynagi kapali oldugunda. ölçme sahasi veya skala ölçme sahasi gibi farkli anlamlarda kullanildigindan. bir ölçü aletinin cevabindaki degisikligin uyarida buna tekabül eden degisiklige bölünmesidir.

bir ölçü aletinin ölçme teknigi karakteristiginin zamanla yavas yavas degisimidir.4. 33 . Amerikan standartlar derneginin teklifi üzerine (1933 de). tespit edilmis sinirlar dahilinde kalmalarini saglamak amaciyla öngörülen ölçme teknigi taleplerini. 2. bir ölçü aletinin ölçme teknigi karakteristiklerini sabit tutabilme yetenegidir. 2. 2.5 Boyut Muayenesi ve Boyut Ölçme Aletleri Boyutsal ölçülerin tanimlanmasinda bugün kullanilan "metrik" ve "inç" ölçü sistemleri 1960 yilinda Ölçüler ve Agirliklar kongresinde metrenin tanimlanmasiyla ortaya konmustur. diger bir büyüklüge göre göz önüne aliniyorsa bu açik bir sekilde belirtilmelidir. genellikle anlasma ile kabul edilms ve smif endeksi adi verilen bir sayi veya sembolle gösterilir.4. Kararlilik.7 Sürüklenme (Drift) Sürüklenme. Üretilen parçalardaki boyutsal ölçülerin dogrulugunu degerlendirebilmek için asagidaki esaslar gözönünde bulunduruimalidir.4.2.73 kati olarak tanimlanmistir.9 Dogruluk Sinifi Dogruluk sinifi. 1 inç = 25. kararlilik zamana göre degerlendirilir.8 Bir Ölçü Aletinin Dogrulugu Bir ölçü aletinin dogrulugu. bir ölçü aletinin belli bir uyariya olan cevabmm uyarinin ardarda gelis biçimine ve yönüne bagli olma özelligidir. Histerizis.4 mm 1 yarda = 0. Metre.5 Histerizis Histerizis. ölçü aletinin ölçülenin gerçek degerine yaklasan degerleri vermek kabiliyetidir. Kripton 86 gazinin yaymis oldugu isik dalga boyunun 1650763.4. Geneliikle. yerine getiren ölçme aletlerininin bir sinifidir. Dogruluk sinifi. Bir ölçme aleti ile ölçme yapilirken herhangibir degere artarak veya azalarak yaklasilmasi durumunda histerezis nedeniyle farkli degerler okunabilir. ölçme aletlerinin sapmalarinin. genelde ölçülenile baglantili olarak mütalaa edilmesine ragmen ayrica etki büyüklükleri ile de bagiantdi oldugu düsünülebilir.4.9144 m olarak belirlenmistir. Üretimin uygunlugunu saglamak ve parçalari arzu edilen tolerans sinirlari içerisinde tutabilmek için ölçümün dogru bir sekilde yapilmasi gerekmektedir. 2. 2. e e Ölçme tamligi Ölçülen boyutun ölçme cihazindaki konumu "Tamilk" kavrami genel bir bilgidir ve standart ölçü aletleriyle kontrol edilen boyutun daha önceden belirlenen degerde oldugunun onaylanmasidir.6 Kararlilik Kararlilik.

5. Bu sartlari yerine getiren bir dizi göstergeli ölçme aleti boyut muayenelerinde fonksiyon prensibi. olup olmadigi kontro! edilir. Bu islernde el becerisi ve görme ha~sasiyeti önem tasir. Ölçü aleti kullanilarak ölçül~ç~k boy_utun büyüklügü..olarak mukayese edilerek bulunur. c) Direkt kontrol/u ölçme metodu: Bu uygulamada ölçülecek parça boyutuyla.y~pilan parçaya ait anma ölçüsünün alt ve üst ölç8sinirlannL içerisine alan bumastarlarla gerçek ölçünün degeri tespit edilemez. Hatalari en aza indirmek ve arzu edilen tamlik derecesine ulasabilmek için. ulasilabilecek ölçme belirsizligi ve kullanim korayl/gi yönüyle farklilik gösteririler. Ancak üzerinde veya içerisinde bölüntü çizgileri bulunan optikli. 2. ölçü limitlerini göstermektedir.. büyüklügü daha önceden bilinen ölçü degeri dogrudan mukayese ~dilir. b) Endirekt (mukayeseli) Ölçme metodu: Endirekt (mukayeseli) ölçme metodu genellikle çok küçük boyutlarin ölçülmesinde kullanilir. Buna bagli olarak çesitli hatalar yapilabilir.5. kullanilan ölçü aletinden okunur.2 ÖLÇÜ ALETLERi • Taksimatsiz (bölüntüsüz) ölçü aletleri cl Taksimatli (çizgi bölüntülü) ölçü aletleri 34 . • • • Direkt (dogrudan) ölçme metodu Endirekt (mukayeseli) Ölçme metodu Direkt (dogrudan) kontrollü ölçme metodu a) Direkt (dogrudanJ-ö1çme metodu: BölüntiilÜbir cetvel.fe parçanin ölçü büyüklügü farki. bir kumpas veya mikrometre gibi bir ölçme aletiyle verilenboyutu ölçebiliyorsak buna direkt ölçme denir ve ölçü degerini ölçme aleti üzerinden okuyabjliriz. Üretilen parça boyutuna uygun sabit bir sehpa üzerinme tespit edilen komparatör altindan geçiriterek kontrol edilen parçalar. Onun için ölçülen boyutun yerlesim konumu. Ancak ölçü büyüklügünün veya küçüklügünün miktari ölçülemez. birbiri ile monte edilecek parçalarin ölçülmesi sadece tek tek parçalarin boyutsal muayenesinin yapilmasi gibi farkli taleplere uygun ölçme alet ve yönteminin belirlenmesi gereklidir. 2. çok sayida parçanin kontrolünde endirekt ölçme metodu -kuilanilir \.1 BOYUTLARiN ÖLÇÜLMESi Boyutsal DüyüklÜklerin ölçülmesinde genellikle asagidaki üç ölçme metodundanbiri uygulanir. ve max. ölçü aletinin bölüntü hassasiyetinebagli . hatalari en aza indirecek sekilde seçilmelidir. Seri üretimde. Bu metodla dogrudan parçanin boyutu ölçülemez.Üretilen parça üzerindeki ölçülen boyutun yerlesim konumu ölçü alma ve uygulama bakimindan ölçme islemini etkilemektedir. Bu islem için sabit veya ayarlanabilen mastarlar kullawlir . Bu ölçme isleminde kontrol afeti parça üzerine veya içerisine geçiyorsa GEÇER veya geçmiyorsa GEÇMEZ olmaK üzere min. Ölçme isleminin hassasiyeti. elektrikli vb. Ancak parçanin anma ölçüsü sinirlariiçerisinde. Cetvelin parça üzerindeki yerlesim konumu ve ölçü okumada bakis açisi kadar önem tasimaktadir. seçilen ölçü aletinin hassasiyeti ve uygu/ama metodu da gözönünde bulundurulmalidir.Üretimi . endirekt olarak ölçülmektedir.

01 mm arasinda degismektedir. dis çap. iç ve dis çap ölçü aletleri. kullanma yeri ve özelliklerine göre degisik tip ve boyutlarda yapilmislardir.1-0. kanal genisligi vb. serit metrelerdir. (Fiber contali.sekilde monte edilmistir. olarak ölçülmesinde veya a) Yay baskili basit iç ved/~ çap ölçD aletleri Degisik biçim ve boyutlarda yapilan yay baskili basit iç ve dis çap ölçü aletleri ile. çelik ve tahta cetvellerle. \'.2 Yay baskili ölçü aletleri (Bagci. Çizgi bölüntülü basit ölçüaletlerinden en çok kullanilanlari düz çubuk metreler.çap kumpasiari Derinlik kumpasiari Özel kumpaslar Modül kumpaslan Mihengirler (yükseklik ölçü aletleri) 3S . Bu ölçü aletlerinin okuma hassasiyetleri 0.1. iç çap.1) Basit Taksimatsiz (bölüntüsüz) ölçü aletleri Dogrudan ölçüIemeyen iç ve dis çaplarin mukayeseli kontrol edilmesinde kullanilan ölçü aletlerindendir. katlanabilir metreler. Sekil 2.05. M. 0.. Ölçü alma ve kontrol islemleri yapilir. Bu gruba. merkezden matsal baglantili) 2) Taksimatli (bölüntülü) ölçü aletleri Basit taksimatli ölçü aletleri grubuna cetveller. pergeller ve çubuklu pergeller girer. Eriskin.02 ve 0. 0. Okuma hassasiyetleri (0. Ölçme islemi mukayeseli olarak yapilir. kontra somun baglantili.01) mm'ye kadar olan vemiyer bölçüntülü ölçü aletlerini asagidaki sekilde siralayabiliriz. "Ölçme Bilgisi ve Kontrol". üniversal gönyeler ve kumpaslar girmektedir. 3) Verniyer bölünWlü ölçü aletleri Yemiyer bölüntülü ölçü aletleri. çizecekli iç ve dis çap ölçü a!etleri.. 2004) b) Sürtünmeli kayma hareketlibasit iç ve dis çap ölçü aletleri Sürtünmeli kayma hareketli basit iç ve dis çap ölçü aletlerinde mafsal baglantisi çok siki veya çok gevsek olmayacak . @ LO e e @ iç çap ve dis . Y.

Bu tür ölçme aletleri. sabit cetvel bölümüyle cetvel üzerinde kaydirilmak suretiyle hareket ettirilen verniye kismindan olusur.1 Sürmeli Kumpas Makina imalatinda en yaygin olarak kullanilan ölçme aleti sürmeli kumpastir.2.2. Bu taksimat kumpasin 0. verniyenin 10.__ çizgisi cetvelin 9~çizgisi ile çakisir. iIiOluk verniye sisteminde 9 birimlik (genelde 9 mm) bir uzunluk 10 esit parçaya bölünür. Genelolarak 0.ölçme Sekil 2.5.4: Dairesel skalali sürmeli kumpas 36 . 1/20 veya 1/50 bölümlü olmak üzere farkli bölmelere sahiptirler. Verniyenin O çizgi~i ile cetvel kisminin Oçizgisi birbiri üzerinde çakistiginda.1 mm çözülümde ölçme islemi yapmasina imkan saglar. Sekil 2. En yaygin olarak kullanilanlar 10 bölçmeli olan verniyeli kumpasiardir.5 mm altinda hassas ölçümler için çogu kez sürmeli kumpaslar kullanilir. Derinlik ölçme yüzeyleri Hareketli çene Dis. Bu yardimci cetveller 1/10.3: Sürmeli kumpas Verniye. kumpasin herhangibir taksimatli cetvelin kesirlerini okumak için cetvelle birlikte kullanilan yardimci bir cetveldir.

Dis ölçme. .-.kumpasiarda uygulanmasi dijital display ile okuma kolayligi saglamasi bakimindan Ölçme islemlerinde diger kumpasiara nazaran daha çok tercih edilir hale gelmeye baslamistir(Sekil 2.5.----r' ..-'---'.5: Sürmeli kumpas ile boyut ölçümü Elektronik ölçme sistemlerinin (kapasitif veya induktif) sürmeli ..-.-.500 mm) azami izin verilen hata degeri skala bölmesinin türüne göre 20 \Jm ile 30 \-im arasindadir.6) Sekil 2......-. Ölçme uzunluguna göre (50 mm .. örnek Mil çap ölçümü Dis ölçme iç ölçme örnek: delik çap! ! ----._.1/20 ve 1/50 bölümlü verniye sistemlerinde cetvel üzerindeki 19 bölme 20 esit veya 49 bölme 50 esit parçaya bölünür.. i '.6: Dijital kumpas 37 . 2.--.- iç ölçme Örnek: Yuvarlak ölçme yüzeyi Basamak mesafesi ölçümü Derinlik ölçme Sekil 2..--..

Mikrometrelerinuç kisminda bulunan circir vidasi sabit bir ölçme baskisi uygulamak için kullanilir.25-1 kg) arasindad1r. kalibrasyon imkani.Sekil 2. Osman F.. Vida 1mm ya da O. sac levha kalinliklarinin (düsey konumlu okuma hassasiyetii) vb.. .. Sonum $c:ibit. Vida bilinen bir hatveye sahiptir ve bu hatve sayesinde uzunluklar ölçülebWr. Yüksek hassasiyet. kanal derinliklerinin. Birsen Yayinevi. Ölçme hassasiyetleri 1/1ÜÖmm v'e 1/1000mm ve 1/1000" ve 1/10000" dir. boru et kahnhklannin.. Bu baski kuvveti (0... 2005) 1) DiS çap mikrometreleri DiS çap veya kalinliklarin ölçülmesinde veya kontrol edilmesinde. Yani vida tam bir tur attiginda hareketli agizin ilerleme mesafesi 1mm ya da O. ölçü kontrollerinde en çok kullanilan mikrometrelerin herbirinin üzerinde ölçme kapasiteleri yazilmistir. (0-25) gibi..) . "Ölçme Teknigi".. 38 . vida hareketlidir. o------j~ Sürtünmeli hareket vidasi Sekil 2. isi ektisini engellemek gibi özellikleriyle kumpastan Üstünlük gösterirler .2 Mikrometreler Mekanik kumandali vida-somun sistemine göre çalisan.8 Mikrometre (GENCELi.2. Sabit agiz tornavida yardimiyla hareket ettirilerek vidanin O çizgisi ile verniyerin O çizgisi çakishrilarak k.5.5mm olmaktadir. dönme hareketini dogrusal harekete çevirerek ölçme ve kontrol islemlerinin gerçeklestirildigi alettir.5mm hatvelidir.apbr(3syonyapilabilir.7: Dijital displayli sÜrmeli kumpas 2.

(5075). üretilen makina parçalarinin degistirilebilirlik özelligine sahip olmalaridir.Dis çap mikrometrelerinin ölçme kapasiteleri 225)mm. Bir ürünün sahip oldugu özelliklerin talepleri ve kalite gereksinimlerini saglayip saglayamadigini tayin etmek muayene fonksiyonunun ana amaçlarindandir. genelolarak boyutlari standart ölçülerle sabitlestiritmis kontrol aletlerine mastar. (25-50).9 iç çap mikrometreleri 2. e Kumpas mikrometre • Tüp biçimli iç çap mikrometresi G Üç ayakli iç çap mikrometresi: iç çapi 11mm'den 100mrn'ye olan 0. ölçme teknigi veya üretim ölçme teknigi cihazlari. birbirlerineait olan parçalann monte edilmeleri saglanmaktadir (Durakbasa. Bu özellige sahip olan üretim tarzilarinda üretilen parçalar ve gruplarinin birbirlerinden bagimsiz olarak üretilmeleri ve bu süreçten sonra da ilave islemler yapilmaksizin. geometrik biçimlerinin bazen de parça yüzey kalitesinin kontrolunde kullanilan. Bu üretim tarzinin problemsiz olarak gerçeklestirilebilmesi ise. 1998). Çift ölçülü olanlarda ölçülerden biri. metodlari ve yöntemleri tarafindan gerçeklestirilmektedir. yapilan kontrolislemine de mastarlama denir. yerine getirilmelerinin izlenmesi ve kontrolu.005mm'dir. (300-400). belirlenen 39 . ekonomik ve seri imalatin en önemli sartlarindan birisi. (400-500)mm arasindadir. (25-50). Modern. (0-25). üretilen parça veya makinalarin fonksiyonlarini tam olarak yapmalari bakimindan. Mastarlama Parça boyutlarinin. digeri ise izin verilen en küçük ölçüde yapilmistir. Okuma hassasiyetleri 0. Sekil 2. tolerans sisteminde parçaya izin verilen en büyük ölçüde. Mastar!ar özellikle seri üretim ünitelerinde sagladiklari hizli muayene olanak/ari ile büyük ekonomik faydalar kazandirmakta ve bu nedenle çok sik ku/lanilmaktadirlar. Bu sartlarin. Sabit ölçü mastar/an: Mastarlar tek ölçülü ve çift ölçülü olmak üzere iki çeside ayri/irlar.5.3. imal edilmis bir parçanin. (200- 2) iç çap mikrometreleri iç çap mikrometrelerinin ölçme kapasiteleri 25mm den baslamak üzere.5" 'den 4" 'e kadar olan deliklerin ölçülmesinde veya kontrol edilmesindekullanilir. (50-75). ancak üretim yöntemi ve parçalariçin belirli düzenlemeler ve sartlarin olusturulmalari ile mümkün olabilmektedir. (225-250) mm arasindadir.

gerilim giderme tavlamasi uygulanmis sert çenklerden imal edilirler.10 Çift tarafli mil kontrol mastarlari Sekil 2.ÇA T ALMASTARLAR a) MiL. KONTROLMASTARLARI .iskarta tarafi kirmizi renkle belirtilir. Çift ölçülü mastarlar iki agiz ihtiva ederler. Mil kontrol mastarlari Delik kontrol mastarlan Özel kontrol mastarlan Esas ana mastarlar olarak 4 grupta incelemek münikündür. agizlardan biri iyi taraf (parçaya geçen/giren) digeride iskarta taraf (parçaya geçmeyen/girmeyen) adini alir. iskarta taraf geçmiyorsa.iki ölçü arasinda olup olmadigi kontrol edilir. iyi taraf mile geçip. "mil istenilen tolerans limitleri dahilinde imal edilmistir" denir. Sekil 2. iyi taraf kendi agirligi ile mHden geçmelidir. iyi taraf ölçüsü parça en büyük ölçüsünde ve Jskarta taraf ise parça en küçük ölçüsünde olur.11 Tek tarafli mil kontrol mastarlan 40 .: Mil kontrol mastarlarinda (dis ölçüler için olan mastarlar). Sabit • • • • ölçü mastarlarini. Kontrol yüzey/erinin asinarak hassasiyetini kaybetmemeleri için mastarlar. Sabit ölçülü kontrol mastartan belirli bir ölçüdeki bir parçanin kontrolunu h izli ve güvenilir bir sekilde yapar.

"delik istenilen tolerans limitleri dahilinde imal edilmistir" denir . konik. Sekil 2.. vida hatvesi dis taragi ve yariçap kontrol mastarlari ölçülecek parçaya temas ettirilerek isigin . Tampon mastarlar c) ÖZEL KONTROL MASTARLARi Vida. iyi taraf delige girip.12 Bagalar mH kontrolünde kullanilir b) DEliK KONTROL MASTARlARI-TAMPON MASTARLAR Delikkontrol mastarlarinda (iç ölçüler için olan mastarlar). iyi taraf ölçüsü parça en kÜçük ölçÜsünde ve iskarta taraf ise parça en büyük ölçüsünde olur. Sekil 2. iskarta tarafi kirmiZi renkle belirtilir. Vida mastarlan ve konik mastarlar geçer-geçmez prensibine göre kontröl yaparken. aralik. iyi taraf kendi agirljgi ile deHge girmelidir. Hassasiyetle fazla degildir. vida hatvesi ve yançap ölçümÜ ve kontrolü gibi özel gayeler için kullanilirlar.Sekil 2. kullanan elemanin deneyimi ile artmaktadir.13. iskarta taraf girmiyarsa.sizma prensibine göre yapilir.14 Vida kontrol mastari 41 . aralik.

kontrolunda ve kalibrasyonunda kullanilirlar.. 96. Kutular içerisinde..parçalik olup. Bu sekilde birkaç parça biraraya getirilerek istenen degerdeki hassas ölçü elde edilebilir. Hata miktarlari çok küçük olup. 122 .0004mm dir.0.0001 mm. 75-100 mm arasinda +/. 50-75 mm arasinda +/. Eriskin. 20-50 mm arasinda +/.. Y. 2004) 42 . parçalar birbirlerine eklenerek kapasiteleri dahilinde her ölçüyü temin ederler. toleransiar.16 Esas ana mastarlar Degisik ölçüdeki iki mastarin yüzeyleri bir güderi ile temizlendikten sonra karsikarsiya getirilir ise birbirlerine yapisirlar.0. 30'luk. "Ölçme Bilgisi ve Kontrol".15 Aralik mastar takimi dj ESAS ANA MASTARLAR Diger ölçü aletlerinin ve kontrol masrarlarinin imalatinde.0003mm.0002mm.0. 111. En çok kulianiianlari "Johansson Mastarlari"dir. Sekil 2. 20mm ye kadar olanlarda +/.0..Sekil 2. Dikdörtgen prizmasi biçimindedirler. Parçalarin birbirlerini tutma kuvveti islenmis yüzeylerdeki molekülleraras\ çekim kuvveti ile saglanir. 87. M. (Bagci. 64.

Bölüm Hata Türleri ve Analizi ve Kalibrasyon 43 .3.

Bu farkli sonuçlarin ortaya çikmasinda farkli nedenler vardir.1 de görüldügü gibi siniflandirilir. ölçme sonuçlarinin belirlenmesinde uygun olmayan degerlendirme yÖntemlerinin kullanilmasi gibi nedenler olabilir. Ölçme hatalari Kaba hatalar "'::":. ölçme aletinin yetersizligi.3. dolayisiyla hiçbir fiziki deger mutlak degildir. gerçek degeri bilinmedigi halde ölçümdeki hata payini saptamak olacaktir.":'. ölçülen boyut ile gerçek boyut arasindaki cebirsel fark olarak tanimlanir. Bunlar. hatalar gereken veya zamaninda olduklarindan ilk degerlendirmeye 44 . 3. teorik hesaplamalar yaparken bile hata analizinden kaçamayacagimizi gösterir. Sistematik hatalar Belirlenemeyen sistematik hatalar Rasgele hatalar' Belirlenebilen sistematik hatalar Ölçme neticesinde bulunmaz Ölçme neticesf' ile birlikte ölçme· belirsizligi olarak verilir Sekil 3. Dolayisiyla hedef.1. Hata türleri Hatalar sekil 3.. bir fiziki degeri ölçerken.2. Bunun için bazi kavramlarin taniminin daha iyi yapilmasi gerekir: Bir fiziki degerin mükerrer ölçümü sonucu elde edilen ölçü de~erleri arasinda farkliliklar oldugu görülür. Gerçeklestirilen her ölçünün sonucunun ayni olmasi olanaksizdir. operatörden kaynaklanan kullanim hatalari. Bu tür itinanin gösterilmesi ve önlemlerin alinmasiyla olusmasi önlenir ortaya çikarilabilir ve düzeltilirler.1: Hatalarin siniflandirilmasi Kaba hatalar genellikle dikkatsizlikten dogan hatalardir. 'Hiçbir fiziki deger'in mutlak olmamasiçok önemli bir sonuçtur. Hata Türleri ve Degerlendirme Gerçek hayatta hiçbir ölçüm. Çogunlukla büyük çapta hata bakista kaba hata oiarak teshis ediiirier ve ait oldugu ölçme degeri alinmaz. Ölçü hatasi. Bu bize.

ölçme sonucunda elde edilen degerlerin ortalamasi ile gerçek boyut arasindaki cebirsel farktrr. Gerçek hata degerinin belirlenmesi. ayni ölçme yeri. parçanin üzerinde bir konumda yapilan. Sistematik hata. Bu tür hatalarin nedenleri tür ve büyüklük olarak belirlenebilen cinstendir. ölçme dokunma kuvveti etkisi (ölçme aletinin veya ölçüien cisimin egilmesi). 4S . Sistematik hatalar _(sebeplere dayanarak hesap yolyla belirlenmemis ise) ancak ölçme kosullarinin degismesi ile belirlenirler. Ölçme ve agirlik kuvveti etkisi Çevre etkisi e Hata yayilimi etkisi: indirek ölçmelerde aranan büyüklük bir çok ölçmenin neticesinin hesaplanmasiyla eldeedilir. ayni deneysel kosuiiar altinda. belirsiz bir sekilde degisir ve giderilemez. ileride belirtilen ve bu hatalardan ileri gelen dagilim standard sapmasi ile gösterilir. Bu sistematik hata dogrusal fonksiyonlarda yayilma kurali ile hesaplanir. Serit metrenin taksimat hatasi. Sistematik hatalar veya düzenli hatalar ayni ölçme kosullarinda (ayni ölçme aleti. parça üzerinde bir konumda yapilan. Rasgele hatalar. sicaklik degisimi ile ölçme aleti ve ölçülen objenin uzunluk farki sistematik hatalara örnek teskil ederler. Bunun ortaya koydugu ölçme kararsizligi. Ölçme neticeleri birer birer sistematik hata barindirdiklarindan sonucun sistematik hatasi olusur. bir boyutun bir -ölçme serisi içinde. yalniz bir ölçme ile elde ediien degerler ortalamasi arasindaki cebirsel fark olarak tanimianir.istatistiksel metotlarla hatanin kaba hata mi yoksa rasgele hata mi oldugu yeterince güvence ilebelirlenir. ayni çevre kosullari) ayni büyüklükte ve ayni yönde meydana gelen hatalardir. Nedenlerin türÜne göre su ayirim yapilir. Doiayisiyla bu tür hatalar temelde belirlenebilir/er ve neticede degerlendirilirler. ayni deneysel kosullar altinda. belirlenebilen.taninmayan sistematik hatalar olarak iki gruba ayrilirlar. @ Alet hatalari Standard (etalan) hatalari ~. Rasgele hata. Kaba hatalarda oldugu gibi ölçüleri tekrarlayarak ortaya çikarmak mümkün olmaz. birçok hata kaynaginin bir arada etkili olmasi buna karsin büyüklük olarak biribirlerinden ayird edilmemeleri nedeniyle herzaman mümkün olmayabiiir. Hatali bir ölçü aleti ile yapilan bir ölçü tekrarlandiginda daima ayni sekilde hatali olarak ölçülecek ve birbirini takip eden ölçüler arasinda hatayi gösterecek bir fark bulunmayacaktir. Tekrar edilen bir ölçme isleminde yalnizca bilinmeyen hataya sebep olan komponent dogrudan etkilendigi takdirde bir sonuca ulasmak mümkün olabilir.taninan ve belirlenemeyen . bir ölçme serisi içinde. Buna gör:e sistematik hatalar. ayni serinin ölçümü için. e @.

46 . ölçme islemi gerçeklestirilir. til = l[ai (ti .ai (t i - 20J] (i.3 Ölçme islemi Hata Kaynaklari Ölçme islemleri mutlaka hata barindirirlar.2. kabul edilerek. çarpilmis. Yanlis yerlesim Çevre etkilerinden meydana gelen hata/ar. kayit ve kizaklari asinmis ölçü aleti. nem. ai =ölçülen parçanin % uzama miktari. basinç. Bu tür hatalar boyutsal ölçülerde veaçilarin ölçümünde sik sik meydana gelir. Sekil 3. O hata ile ölçme yapmak imkansizdir.20) . Olçü konumundan meydana ge/en hata/ar. birbirlerine ölçme yüzeyi bozulmus veya asinmis ölçü aletlerinin standart mastarlarla blok setlerinden uymayan dolayi meydana gelen hatalardir. standartlara uygun olmayanisi dolayi meydanagelen hatalardir. Ölçme isleminin sartlari belirlenir ve hata payi bilinerek. ti =ölçü aletinin sicakligi (oC). ölçü aletinin parça üzerindeki konumuna uygun olarak yerlestirilemeyisinden meydana gelen hatalardir.3. ai =ölçü aletinin % uzama miktari. ti = ölçülen parçanin sicakligi (oC) Amaca uygun olmayan ölçü aleti ve onun özelliklerinden meydana gelen ve hata/ar. ölçme çeneleri. Sicaklik farkindan dogabilecek hata büyüklÜgü asagidaki formülle bulunabilir. hiçbir zaman ölçümü yapilan parçanin gerçek degerini gösteremez. ölçme isleminin gerçeklestirildigi degisimlerinden yerdeki sarsinti.im) i =nominal ölçü Üim). Ayrica ölçü aletinin yapimi sirasinda ve periyodik kalibrasyonlarinin dogru yapilmamasindan da hatalar meydana gelmektedir. Ölçü aletinden meydana gelen hata/ar.

operatörün bilgi. ölçülen parça yüzeyinde ve ölçme aleti ucunda meydana gelebilecek sekil degisimine sebep olan ölçme alanindaki yüzeyli parçalarin baski kuvveti ölçme hatasini meydana getirir. Para/faxe hatasi: tüm göstergeli ölçme alet/erin de ortaya çikabilir. noktasina büyüklügü dik olarak bakamayisindan meydana gelen hatalardir. k tungsten-karbit = 0.[P2 (N). f1b = O. profilometrede -1 Ogr. sekil degisimine sebep olan baski kuvvetinden dolayi temas noktasinda meydana gelen hata asagidaki formülle bulunabilir. 47 . P = baskikuvveti r =ölçme ucu ka vis yariçapi (mm). beceri ve bakis gücüne bagli olarak degisi L\ B .Ölçme alanmdaki baski kuvvetinden meydana gelen hata/ar.00. derece hata olusur. Operatör ska/aya dik istikamette bakmadigi takdirde 1. Bu da cetvele B noktasindan bakarsak saglanabilir. Yanis okuma KM mesafesini ölçmek için Ob yi okumak gerekir. Hata z S tanj3 z S -13 Ölçme islemi hatalannt neden-sonuç diyagrammda göstermek istersek. ölçme islenimi yapan operatörün uygun olmayan bakis açisi veya ölçüyü gösteren çizgilerin çakisma Hatanin f.. k =ölçme ucu malzemesis için sabit katsayi (k çelik = 1.'dir.43kV7 (i-im) .3. Düz küresel uçlu ölçü aletiyle ölçülmesinde. i \ R / / R R \~ \ \ o K \ \ 1\\1 i i i / i / ib i lif/ / / s M Sekil 3.81) Baski kuvveti mikrometrede -250 gr. Yanlts okuma hatalan.

2 cm.e T - "". Konumlandirma )."Yani. olmasi gereken aralik 1. Kesinlik Sekil 3:5 Kesinlik ve dogruluk Dogruluk Kesinlik ve Dogruluk 48 . Hatalari Mekanik Titresimler Elektronik Gürültü Sifir Noktasi Yükleme Biçim Çözünürlük Hassasiyet Asinma Fillreleme .4 Temel kavramlar Dogruluk: Bir fiziksel özelligin ölçümünde gerçek deger ile ölçme aletinin gösterdigi deger arasindaki fark olarak tanimlanir. Sek' Do!li~ Düzlem em .ir.. - i Mekanik Titresimler ~ Hava BasinclT ~... ran s ' .4 Tarayici igne uçle bir ölçme cihazi ile ölçme isleminde olasi hatalar 3.Sürtünme '-.:: gözlemin 'gerçekdegere' yakinligi Kesinlik: Bir ölçme aletinin ayni bir fiziksel büyüklüge ait tekrarlanan çesitli ölçme islemleri sirasinda ayni degeri verebilme özelligidir. ~haz Donanimi / izleme Hatasi Uc Boyutu Tarayiciigne Sekil 3. Yani belirsizlik fazla olursa.~ / ~F"'cl'~"'\~' Nem . cetvel ile bir uzunlugu belli ölçüde kesinlikle ölçüyoruz. parametreTanim~. bu da pek makbul bir ölçüm sayilmaz. O zaman bu ölçüm ise yarar bir sonuç vermeyecektir. kesinlik (precision).~ir. örnegin 1 cm. ama cetvelin ayari bozuk.Çevre Yazilim is Parçasi ".. ayari dogru bir cetvel ile. Ayni sekilde. bir ölçme deneyi beili ölçüde kesinlikle gerçeklestirilemiyebilir.Örnegin çok h~s~~~ . iZlik~ ~asl.m e •• '\. Se'" 1-'1' Do~ost._Re f . -. e . - '-- i Olçm. dogruluk (accuraey) .• ."_ M> .::gözlemin ne kadar iyi yapildigi (ayni zamanda tekrarlanabilirligin de ölçüsü) Kesinlikle yapilan ama dogruluktan uzak bir ölçüm yapmaya çalismak bosuna -enerji kaybidir.

ölçülecek cisim ile ölçme sistemi veya ölçme skalasi ölçme istikametinde ayni dogrultuda olmalidir. 49 . Vemiyeli kumpasiarda ABBE Prensibi: Kumpasiarda hareketli çenenin az miktarda ~ açisi kadar esas cetvel üzerindeki hareketi esnasinda oynamasi sürgü hareketinin gerçeklestirilmesi ve belli bir kuvvetle ölçülen cisim üzerine kuvvet tatbik edilmesi için mevcuttur. Buna göre ölçme islemlerinde daima yerine getirilmesi gereken ölçme tekniginin temel prensibine göre. bir ölçme büyüklügünün hatasi ile hata nedeni arasinda matematiksel bir baglanti varsa ve bu baglanti matematikselolarak çabuk konverge olan bir diLi ile ifade ediliyorsa..1 ABBE Prensibi ABBE Prensibi.Hata derecesi.Ina göre. Yüksek kuvvetli ögeler. 3. derece hata olusumunu önleyeceksekilde ölçmalidir. derece hata- Buna göre kumpasta ABBE prensibi geçerli degildir. mevcut olmasina karsin. Enist Abbe tarafindan formule edilen prensip komparatör prensibi olarak da aniiir: Hl. ~ nin sarti ile çok küçük bir degeri olmasi nedeniyle göz ardi edilir. Bu prensip ABBE prensibinin uygulanmasi iie yerine getirilir. Hata = yanlis .S tan ~ tan = f3 j3 +- 13 fJ 3 +- 2 5 j3 + 5 eger . Ölçme düzenekleri 1.S = 13 = f1 1.4.dogru = E' . bu dizinin en Küçük ögesi hatanin derecesini belirtir.E = . Hata :::::: .S tan p . derece hataolusmasina yol açar. 13<1"<' tan 13 :::::: 13.E = E . Bu oynama kumpasta 1.

H ~. derece hata Mikrometrede ABBE Prensibi: ._---.:::.... . '~.' .\ Sekil 3.·.~..... !!11""1'. E(1 + ~221/-IJ = E ~ 2. >j J -. - \ .6 : Kumpasta 1.:x _ ~~--Sekil 3..~\ ' \ . derece hata. . ~- :::::::-:-. f ... f'< p . ABBE prensibine uygun ata = yan iS ogru = E' /32 - = H I d ~ E ---E cos j3 E-i( = E---1 cos 1 L fJ J --=1+-+ .... ~1+1 fJ2 cos/3 2 2 eger 13<1 Hata.7 : Mikrometrede 2. ~ 'T . derece hata = /i-._.E ri 2 \ \ - \ 1. 50 .H L\]!.. 1 : __ . .

. Yukarda oldugu gibi: cas cas 2 Hata = yanlis .~: ~1~ Sekil 3.. derece hata si . ' ' " Sekil 3.E = ~ /3 . 3--~ .. Normalin ~ açisi kadar bir egimi komparatörde 2.8 : ABBE prensibine uygun 2.dogru = EL...E = E(_1_/3 -1J ~ E /32 : / i' " .9 : Komparatörde ABBE prensibine uygun 2.~: ~...~". 7 '" ' "'-.0/ / / / \ / / ': ' """".1"'-'-- -t"-. derecehata Abbe'ye göre Komparatör Bu tür komparatör Abbe tarafindan tasarlanmistir. derece hata olusmasina yol açar. . " ' JW d /111 1/" : .:. "'-.' J:}:~:.

9y -!ix 8. hata barindirdiklarindan neticede sistematik Ölçme neticesine olan hata etkisi sistematik hatalar için bir dogrusal hata yayilimi fonksiyonuna göre parsiyel diferansiyel Be total diferansiyel olarak hesaplanir. ise 52 .. y= Z (X1 i X2 i X3 . 3.\Xj ve ölçme belirsizligi Uxi olusur. 2 Ölçme büyüklüklerinin ölçme belirsizliginin neticeye etki eden hata yayiiiminda baska bir yol takip edilir.. • • • • • • • Sicaklik Aydinlatma Titresim Havada toz miktari Hava basinci Hava nemliligi Elektriksel gerilim veya frekans degisimleri ~.2 Çevre etkileri Çevre etkilerinin belirlenmesi genellikle zordur. Çevre etkenleri sunlardir.x 2 -!ix + . ) Ölçme neticeleri birer birer sistematik hata L'.9y 8.4.. 5 Hata Yayilimi Indirek ölçmelerde aranan büyÜkiük bir çok ölçmenin neticesinden hesaplanir.Abbe prensibine uygun olan ve olmayan sistemler sunlardir. Bununla beraber interferometrik ölçümlerde ve sicaklik etkisi hariç degerlendirmeye alinmazlar. J .J' + -. = . Burada Gauss hata yayilimi kurali geçerlidir...1) '.x 1 /). uygun Abbe uzunluk ölçer Uygun degil Kumpas Çok koordinatli ölçme sistemleri Takim tezgahlari ölçme ssstemieri .

Bu güvencenin sürekliligi ise söy konusu ekipmanlarin düzenli ve özlenebilir kalibrasyonu ile saglanir.xi 2 +U. Su baglantilar geçerlidir: Uy = ±JU.V. ölçme büyüklügü bilinen bir ölçme normali ile karsilastirma yoluyla yapilir. Sonuçta bulunan hata miktari göz önüne alinarak dogru deger elde edilir. muayene ve kontrol ekipmanlarininkalibrasyonu ve kontrolü ile imalat esnasinda yapilan ölçümlerin uygunlugu ~üvence altina alinmis olur. X3) neticesinde barinan belirsizliktir. 53 ..birÖlçme aletinde okunan deger ile ölçme büyüklügü arasindaki bagintinin saptanmasi islemidir. '\ 3. Ölçme. Y = Y(X1.6 Kalibrasyon) Kalibrasyon.-birölçme aleti veya cihazinin gösterdigi degerler veya bir malzeme ölçümü veya referans malzemenin gösterdigi degerler arasindaki iliskinin kuruldugu operasyonlar serisidir.x/ + . Kalibrasyonun amaci kuilanilan cihaz veya ekipmanin gerçek degere oranJa ne kadar hata yaptiginin belirlenmesi ve dökümante Bdilmesidir..X2 . Kalibrasyon. ISO 10012standarta göre kalibrasyon ' ~~'sart-Iar -a~IHnmi..Uy./ ..

Alistirmalar i Alistirma Toleranslan IISOAlistirma Sistemi i S4 .4.Böiüm Toleransiar.

Buna göre tolerans. iki limit birisi bu limit ölçmerden alabilecegi en büyük. Özellikle beraber çalisacak sahip olan parçalarin olarak parçalarin montaj edilebilmeleri is parçalari toleransiari küçüldükçe daha zor hale gelmistir. Dolayisiyla. gerçek is parçalari yaratilmaktadir. Sekli deforme olmus. digeriise en küçük ölçüyü ifade etmektedir.ISLEME HASSASIYETLERI Toleranslandmna. mükemmeliyetten uzak. B: Üst sinir K: Alt sinir ~_B T i K CD (a) Sekil (b) (c) a ilim veya iç parça b Delik veya dis parça c Tolerans Imalatlanndan sonra is parçalari birbirlerine montaj edilmektedirler. boyutlar tasarimci tarafindan hayal edilenden çok farkli ve yüzeyler pürüzlüdür. Bir is parçaS1 dizayn edilirken. tasamnei onu ideal.l1dayüzeylerde kusursuzdur. ürün kabul edilebilir olarak addedilmektedir. TOLERANSLANDIRMA . Tasarimeiya göre tüm boyutlar ve geometri herhangi bir geometrik hatadan uzak ayni zama. imalattan sonra parçanin bitmis ölçüsünün bu iki deger arasinda kalmasi temel kosuldur. halinde. Montaj prosesi de ideal degildir ve yine ilave hatalar meydana gelebilmektedir. Fakat imalat operasyonu sirasinda. Parçalarin teknik resimlerinde. Is parçasi geometrisini veya bazi 55 . mükemmel bir nesne gibi hayal etmektedir. Bu iki lImit deger arasindaki [arka da tolerans denmektedir. bir ihtiyaci 1800'lü yillarin sonlarinda degistirilebilme özelligine ortaya çikmistir. T=B-K olmaktadir.1. imalat hatalari eger geregi gibi kontrol edilebiliyorsa. boyutlarin tek bir ölçü ile belirlenememesi ölçüyü içermesi gerekmektedir (Tükel. 1982). Eger birden fazla is parçasi ayni tekriik dokümana göre imal edilirse her biri birbirinden farklilik göstermektedir.

yer ve kosma (salgi) toleransiari olarak üç ana gruba ayrilir. genelolarak doku. büyüklük. Boyutsal Toleransiar: Boyut toleransiari bir elemanin geometrik ideal boyutundan kabul edilir sapmalarinin sinirlarini tayin eder. 2. boyut.is parçalarinin montaj islemlerini hesaba katarak olusturulan talepler. kabul edilir sapmalari sinirlar. Geometrik mamul özellikleri ISO (Uluslararasi Standartlar Organizasyonu) tarafindan standardize edilmistir. Herhangi bir yüzeyin geometrik sekli "yüzey dalgalanma dokusu" olarak tanimlanmaktadir.arasindaki geometrik ideal konumdan. Geometrik ToleratrSlar (Sekil ve konum toleransiari) Sekil toleransiari bir elemanin geometrik ideal seklinden kabul edilir sapmalannin sinirlarini tayin eder. Sekil toleranslarinin ·sekil elemanlaridir. Is parçasi yüzey kalitesini degerlerinden sapmalarini için. Bu elemanlardan en az bir -tanesi referans elemani olarak belirlenir. Bu toleranslar. Standartlarin genel içerigi. Yüzey Doku Toleranslari Güiiümüzde bir is parçasinin yüzey dokusu da en az boyutsal ve sekilsel toleranslar kadar önem arz etmektedir. • • • Boyutsal Toleransiari Geometrik Toleranslar (Sekil ve konumtoleransiari) Yüzey Doku Toleranslan 1. Bir yüzey. 56 .. 3. önceden tespit edilmis yüzey pürüzlülük belirlemek yüzey dokusu ölçme isleminin amacidir. geometrik tolerans ve yüzeyin geometrik uygunluklarini da içine alarak GPS (GMÖ) olarak bilinmektedir. Konum toleransiari iki veya daha fazla elemanin birbirleri . referanslari genellikle Konuin Toleranslan istikamet (yön). pürüzlülük. ve sekil hatasi seklinde tanimlanan karakteristiklerden degerlendirmek meydana gelmektedir. elemanin içinde bulunmasi gereken -eleman genelde herhangi bir sekle sahip olabilir.tolerans kusagini belirler.

Önemli olan "ölçme belirsiz1igi"ni bilmek ve ona göre ölçme islemi sonunda gerekli düzeltmeleri yapmaktir. iki disli arasindaki mecburen birakilan bosluklar. e) Takimdan kaynaklanan hatalar. kazanilmis geometri asinabilir.GMÖ Boyutsal Tolerans Geometrik Tolerans Yüzey Doku Toleransi Pürüzlülük Sekil Konum Dalgalihk Isleme hassasiyetine etkiedelJjaJsHlrler: Talasli imalat tüm imalat yöntemleri için bitirme islemi olarak kullanildigindan talasli imalatin etkilerine bakmak gerelGnektedir. takim parça sürtünmesi (720oC) Tüm bu nedenlerden Sonuçta ölçme dolayi imalatin O hata ile gerçeklesmesi da imal edildiklerine göre ölçme mümkün islemini olamamaktadir. Ayna ekseni ile silindirik parça ekseni çakismali. 2) Tezgahin zaman içerisinde asinmasi 3) Tezgahin yeteri kadar rijit olmamasi (kuvvet etkisi altinda sekil degistirmemeli) b) Tutturma tertibatindan kaynaklanan hatalar. de O hata ile cihazlari gerçeklestirmek mümkün degildir. a) Takim tezzahindan kaynaklanan hatalar Takim boyutlari küçüldükçe parçaya kazandirabilecegimiz islem hassasiyetleri artmaktadir. sap kismi rijit olmayabilir. takim yanlis yerlestirilebiliL dj Cevre etkileri. 1) Bosluk. sicaklik (hava. tezgah. yatakla mil arasindaki. 57 . asinmalardan meydana gelen hatalar olabilir. llijit1ik olmali.

bu milin tolerans sinirlari O ile -2lflm 58 . ayni zamanda çalisma kosullarina uygun olacak yeter degerde seçimi beklenmektedir. ISO tolerans sisteminin esaslari. Bu tolerans degerlerinin belirlenmesinde de tabii bir parçanin tek basina durumu degil.(j +30 -40 OBS +21 -60 -89 +)3 -30 -5 -3 -2 +5] 9 -50 -13 O-32 -Il-50 13 -J+]8 -13 -I] +8 +-40 -60 -41 +15 +25 -8 +8 +9 -73 -41 +30 -32 7 +42 +Il -25 -25 +22 +15 +18 -9 +22 +18 -34 +21 -ll! -21 -28 -59 -13 -4 -16 -16 -33 +29 +15 +26 -27 +24 e8 -20 +305 bSe7 f7-7 H7 f6 li7 t27 m6 h6 i6 p6 deiik "'C riiillcrd dei>:erl • Delikler Millcr Örnegin. . Degisik çaplarda mil ve deliklere ait tolerans degerleri standardize edilmistir. islem sartlarini sabit tutamadigimiz için toleransli islernek zorundayiz. tersine beraber çalisacak iki parçanin birlikte çalisma durumu çok önemlidir. Tablodan. Modem imalat tekniklerinin kullanildigi üretim tarzlarinda konstrüktörlerden. Tablo 3. Uluslararasi Standartlar Organizasyonu ISO esas alinarak hazirlanmistir.020 h7 ölçüsündeki bir teknik resim parçasi.2. nominal ölçüsü 20mm olan bir mildir ve 7. Bunlar da. Söz konusu kosullu çalismalara bir düzenleme getirmek amaciyla.tolerans degerlerindedir. yüzünden. gelismis endüstrilere sahip ülkelerde olusturulan çesitli sistemlere alistirma sistemleri adi verilmistir. toleransiann gereksinimlere göre ve olanaklar ölçüsünde büyük. ALisTiRMA SISTEMLERI Ortam tezgah sicakliklari Takim parça sürtiinmesi Takim geometrisinin bozulmasi Operatörün etkileri vs. kalitesine sahiptir. ortami (ölçme ortami) 20°C olmalidir. • • ISO 1 nolu standarda göre Iab. Isletme kosullan saglanmis ve belirli bir durumda beraber çalisacak iki parçaiiin olusturacagi topluluga da alistirma adi verilir.1 Dcilisik canlarlla Çap -90 +9 o o+32 o+6 O+7 HI -30 O+25 -106 O-47 ·+46 O +39 -60 -13-49 --40+19 -75+11 -50 .(jl 16 +12 -16 -95 -19 +-22 -25 -30 -20 -25 .

döküm ve dövme simgeler. En hassas kalite 1 olup. imalatindaki toleransIarda kullanilir.arttikça artar. ana mastarlann En kaba kalitede 16 olup. hata pay] büyür.erans degerleri artar. 1 den 16 ya dogru gIttikçe tol.11l Normal mil sistemi ve normal d-elik sistemi esas kabuI edilir. '" Tolerans degerleri normaI ölçü ve isIem kalitesi. Tolerans Kaliteleri: Imalat sanayinde imalat kalitesini i6 adet toIerans kalitesi vardir. S9 . haddelerne. imalatin kalitesi kabaIasiT.

(GENCELI. Deliklerde A'dan H'ye kadar olan bölge hareketli geçme bölgesi. Birsen Yayinevi. h'den z'ye kadar olan bölge hareketsiz geçme bölgesidir. normal ölçüden geçen O çizgisine göre durumu (tolerans alanlarinin Tolerans alanlanmn konumu) deliklerde alfabenIn büyük harfleri ile. 2005) 60 . Ayin sekilde deliklerde l' den Z'ye kadar olan bölge toleranslarm üst ölçü farklari.Ilm +300 i U A DELIKLFJI -i/GO +50- o :-50 . Millerde.. J ve j harfleriyle gösterilen tolerans alanlari O çizgisi üzerinde olup. j'den z'ye kadar olan bölge toleransiarin alt ölçü farklaridir. Millerde ise h konumu O çizgisinin altinda ve üst ölçü farki O'dir. bu dogruya göre yaklasik simetriktir.~/OO '-150 ":200 -250 -JOO! n • Ölçü farklan (üst-alt) ve tolerans alaiÜanmn nonna} Ôlçüye göre durumu. millerde ise alfabenin küçük harfleri ile belirtilir. "Ölçme Teknigi".. Osman F. H'den Z'ye kadar olan bölge hareketsiz geçme bölgesidir. Ayni normal ölçü gruplari için birbirine esittir. Deliklerde H konumu tam O çizgisinin üzerinde ve alt ölçü farki O'dir. Millerde a'dan h'ye kadar olan bölge hareketli geçme bölgesi.

5.Bölüm Makro ve Mikro Geometri Ölçümleri 61 .

:. Ancak iki terim arasindaki farklarinda ne sekilde belirtilecegi üzerinde henüz ortak bir anlasmaya varilamamistir.""r Esas itibanyla yukanda sözü edilen esaslardan da anlasilacagi gibi •. t{!§~~~~:~"··'_r.:~~~". c·:'<···_.._. Mikrogeometri. farkli derecelerde sekil sapmalari olarak aralarinda aynlmaktadirlar..-... 'y't. ".."---. 0.-.1._.. . ._. 1998). •.~~~"J tinda kullanilan ölçme cihazlari olara. Örnegin bir parçanin taslanmasiyla elde edilen yüzeyin toplam görünüsü ve seklinin yaninda..silindirik"konivb.•". Giris: Parçalann sekil hatalari.' k~P~"JW~)~?i~~Y~c~em k<iba hem diiz ölçüm aletlerinden bazilari Bölüm 2' ~--n.. _"".'-. Hemen hemen bütün pratik uygulamalarda kisa dalga boylu geometrik sapmalarin 3 ve daha yüksek dereceli olanlari birarada yüzey pürüzlülügü olarak kabul edilir ve uluslararasi standardlarda tespit edilen parametreler bazinda degerlendirilirler.-. 62 ./. digeride bu yüzeyin kisimlarindaki belirli özellikler yani "durum"dur..._ . Buna =-= göre .. . ~yüzeYleri~ni '-""""'0> . Yüzey pürüzlülügü disinda parçalann sekil ve konum sapmalarinin ölçülmelerinde de yaygin olarak çok koordinatli ölçme teknigi kullanimi hatalar arasindaki bagintilarla ilgili bilgilerin derinl esmesini saglamistir.. n ...al.·:....' ---..~_~_ ._.'. . ..'..:~ina Ohnay'i!lX~.""'. " ... Mikrogeometrinin toplam olarak m2~.1~· Makrogeometri. /".. Kisa açiklamalarla bu kavramlarin anlami belirtilecektir... ckapsal11..-c·_·. __ .::. Bunlardan biri parçayi sinirlayan toplam yüzey..::. mm2'lik Ilk yüzeyarastirmalan --"".l~~-'rfelenmekted!i::Mikrogeometri . Koordinat ölçme makinaIari ise bu bölümün sonunda tanitilmaktadir. 2. _.-.. " '_. Yüzeyleri gerçekten genelolarak tetkik edersek iki özelligi birbirinden ayirmak önemlidir....1(tanitilmistir. yüzeylerinin makro yada mikrogeometri analizlerinin yapilmalarina göre standardlarda ve bilimsel literatürde._ '"'..•. terimI eri makrogeomet:rik ül<lyg1tgIJ:)I..· kapsayacak etüd ve degerlendirmeler makrogeometrik konulardir. ilgilendirmesi ve bunlarin ölçülendirmelerinde 10-6 m'nin limit hassasiyet siniri olarak kabul edilmesi önerilmistir (Osanna ve Durakbasa. Mikro ve Makro Geometri Kavramlari: Yüzeylerde bugün artik gerek mikrogeometri ve gerekse makrogeometri tabirIeri pek kullanilmamaktadir..'..-=-lliy'ill:lflk"J:tv.~-!~~i~~~ durum makrogeometri olacaktir." ". ..:.. mikrogeometrideki Iz derinliklerine göre meydana gelmis çesitli yüzey karakteristikl~~i<iij~.~2&!:Q.~ ve uygulamalarinda yüzeyin tamaminin içinden degerlendirmelerinin mikrogeometriyi i alanlarda yapil~ca~ar(ls!i~~I~iIl:re .<'-.iv.. tasi_amaile meydana gelmis küçük izlerin ve bunlarin belirli yerlerdeki derinlikleri veya dolgunluklarinin durumu mikrogeometri kavrami altinda incelenmektedir.c.>.

Referans yüzeyi kavrami pürüzlülük terimlerini tanimlayabilmek ve refere edebilmek için belirlenmis bir kavramdir. 4. Gerek imalatta isleme teknigi ile elde edilen ya da islenmis ve hazirlanmis bir yüzeyler ve gerekse parçalarin beraberce ~ahsmalarinda yüzeyin diger bir malzeme ile -beraberçalismasi önemini arttirmistir. Geometrik yüzey. Projelerde ve/veya diger teknik belgelerde anma biçimi olarak da tarif edilen ideal yüzeydir (TS 971.2).3. Referans yüzeyinin sekli geometrik yüzeyin sekli 63 . konunun Tükel' e (1982) göre.Ü ÖLÇME SISTEMLERI Teknolojinin bugünkü gelismeleri paralelinde yüzey durumu teknik ve mühendisler için en önemli konulardan biri haline gelmistir. teknik resimde gösterildigi gibi ideal 'bir" yüzeydir. asinma mukavemetini. Bu kosullarin yaninda söz konusuparça degerde önemlidir. yorulma montaj parçalannm ve agregatlarm gürüntülerim belirler. bugün bir parçanin istenen toleranslarla ve beraber çalisacak parçalarin belirli bosluk veya sikilik toleranslariyla imal edilebilmesi çesitli istekler karsisinda mümkün degildir. Fizikçiler tarafindan çok uzun yillardan beri önemi açiklanmaya çalisilmis sinir yüzeyleri. Pratikte gerçeklestirilmesi mümkün degildir. 3.1 Endüstride Yüzeyler ve Yüzey Kesitleri Geometrik ve Gerçek Yüzey. ve parçalarin yüzeylerinin durumu da ayni Is parçalarinin dayanikliliginive yüzeylerinin pürüzlülügü sürtünmeyi. üretim parçasini çevresindeki ortamdan ayirir (Sekil Referans Yüzeyi. Gerçek yüzey ise üretim prosesinde olusan yüzeyolup. Ayrica zor muayene sartlarinda veya yüzey pürüzlülügünün kontrol edilemedigi durumlarda yüzeylerin çok kere gereksiz yere daha düzgün olmasi için çalisilmaktadir. mühendislikte esasta çok geç ele alinmistir. 1998). Buna ragmen' çogu zaman yeteri kadar tam ve dogru olarak tespit edilmez. durumlarinda olusan problemler. YÜZEY PÜRÜZLÜLÜ(.

Sekil 4. kalitesini ve uygunlugunu belirtir. Genel olarak bu yüzey gerçek yüzeyle ayindir. o yüzeyin görünüsünü. emme hareketi. Yüzey kalitesini belirten pürüzlülük pürüzlülük degeri. honlama. sertligi. "en küçük Yüzeylerin profil analizleri uygun Ölçülen Yüzey. kullanimlari bazi durumlarda önemli daha az taninmakla saglayabilmektedir. 1988). Ölçme teknigi ile degerlendirilen yüzeydir. Yüzey hassasiyeti üretimde Bunlardan bazilari uygulanan isleme metotlarina göre degismektedir. Ra degeri ise dünya çapinda en çok kullanilan standarttir.2 Yüzey pürüzlülügünün tanimi Bir yüzeyin elde edilmesinde görünüsü. Yüzeyi tama. Ra ve Rt pürüzlülük degerleri standartlastirilmistir. frezeleme. Taslarna. 3. degerleri Alman standardidir ve diger ülkeler tarafindan pek kullanilmaz. 64 . planyalarna ve diger metotlarla islenmis bir malzeme yüzeyi. 3. önceden islenmis yüzeylerdeki pürüzler mümkün oldugu kadar yok edilmeye çalisilir. pürüz yüksekligi Ri veya aritmetik ortalai-na Ri degeri Ra ile belirtilir. DaJia iyi bir yüzeyelde etmek için. Bu amaçla taslarna. Matematikselolarak mesafe kareleri toplami" metoduyla hesaplanabilmektedir. dogrudan yüzey kalitesiyle baglantilidir. avantajlar Bunlar kontrolünde daha ziyade igneli degme Bunun yaninda daha baska yüzey bozuklugu muayene metotlarida beraber. TSE Ra degerini TS 971 ve digerlerinde tespit etmistir.ile ayni olup. lepleme ve süper ince isleme metotlari uygularunaktadir (Bagci ve Eriskin. mevcuttur. sanal kesitler yardimiyla yapilabilmektedir. konumu gerçek yüzeyin konumu ile çakisir.-lJlen kaplayan bu pürüzler.6'da çesitli yüzey muayene usulleri ile muayene cihazlari gösterilmektedir. paslanma ve asinma direnci.' Teknik resimde belli isaretlerle ve sembollerle saptanan ve parçayi sinirlayacak yüzeydir. rengi.3 Yüzey Pürüzlülügü ve Ölçülmesi Günümüzde yüzeylerin veya yüzey pürüzlülügünün cihazlar kullanilmaktadir. yaglarna ve tolei:anslan gibi pek çok önemli nokta roloynar. sayisiz küçük pürüzlerin birlesmesiyle olumaktadir. Istenen Yüzey. Ancak sonuçlar ölçme yöntemlerine göre degisiklikler göstermektedir.

a) Standart örnek yüzeyler Bu yöntemde. mukayese metodlariyla. Bu uygulama üretim atelyelerinde çok yaygin olarak kullanilmaktadir. tomalama gibi. is parçasini yüzey kalitesi mukayese Standart edilmektedir. Seki14. igneli degme metodu cihazlan profilometreler ilerleyen maddelerde tanitilmaktadir. örnek yüzeyler çesitli firmalar tarafindan üretilmektedir. 65 .rt Örnek yüzeylere göre. siyah plastikten yapilmis bir gövde üzerine birlestirilmis ve bu yüzeylerin üzerine talas görülen örnek -kaldirma metodu ve Ra ve Ri pürüzlülük degerleri yazilmistir.Yüzey U METOT Metotlari i ISIK OPTIK tJ ELEKTRIK- SEL Muayene TIRMA Yüzey muayene usulleri ve muayene cihazi an En çok kullanilan yüzey muayene metodlanndan. standa.YÜZEY KARSILASMIKROSKOP METOT iSEL (ELEKTRON } PNÖMATIK. bir isleme metoduyla ilgili yüzey pürüzlülügünü gösteren örnek yüzeyler baglanmistir. Standart örnek yüzeyler Örnek yüzeyler Ra ve Ri degerlerine göre düz veya silindirik olarak degisik talas kaldirma rnetodariyla belirli hizlar ve ilerlernede isleniI.7'de yüzeyler çelik veya dökme demirden 30x20 mm yüzey Ölçüsünde bir vida ile çerçeveye baglanabilecek sekilde yapilmistir. Sekil'4. Bir çerçeveye.7'de görülen örnek yüzeyler.

genis çapta becerisine ortamdaki isikdurumuna baglidir. flas bataryasindan elde edilebilir. özel mukayese mikroskoplari yardimiyla oldukça yükseltilebilir. 198~) Mikroskop kontrol edilecek yüzey ve örnek yüzey üzerinde sabit olarak ayarlanir.200X arasinda degerler vere·cek sekilde 66 . kontrol edilecek yüzeye temas ettirilir. mikroskop üzerindeki belirli yuvasina bir civata ile tespit edilmektedir. KontroI edilecek parça yüzeyi ile standart örnek yüzeyi. ayni malzemeden yapilmis ve ayni metotla islenmis uygun bir örnek yüzeyle mukayese edilerek kontrol edilmektedir. Örnek yüzey. i 5X . Sabit ayarlama için ölçme oldukça basit! estiril ebilmektedir. bakilarak veya yüzey üzerine tirnakla hafifçe temas ettirilerek Mukayese islemi gözle yapilmaktadir. Mukayese mikroskoplarinin pek çok tipi vardir. Bazilarinda büyütme orani ve görüs sahasi sabittir. li) Mukayese mikroskobu Mukayese hassasiyeti. sehpadan sökül ür ve objektif tüpü kontrol edilecek yüzeye temas ettirilerek Lambaya gelen gÜç. Bunun için . Objektif tüpü. Mtikayese· mikroskobu portatif olarak da kullanilabilmektedir. mukayese mikroskobu altinda ayni isik konumu ve ayni oranda büyütme ile ayni zamanda yan yana getirilerek mukayese edilmektedir (Bagci ve Eriskin.mikroskop· uygulanir. isçinin Yüzey ve pürüzlülügünün etkili bir sekilde degerlendirilmesi. Bazilarinda ise. bü)zütme oranlari objektifleri ve oküleri degistirilebilir.Islenen bir parçanin yüzey pürüzlülügü.

Isik bandi. 1988). mikroskobun büyütülmüs görüntüsü içinde birbirine paralel parlak siyah bantlar halinde görünür. Kontrol edilen yüzey üzerindeki çikintilar arakesit izi üzerInde kertikli çizgi olarak görünür. Burada uygulanan metotla. kullanilmak Mikroskoplar. Kontrol edilen ·yüzeyin pürüzlülük durumu. 67 .c) Isik bantli mikroskop Isik bantli mikroskop yaklasik 1 mikron yüksekligindeki yüzey pürüzlü1ügünün kontrol edilmesinde kullanilabilir. 1988) d) Interferans mikroskop Interferans ölçme metodu son yillarda süper ince islenmis yüzeyleri ölçmek ve kontrol etmek bakimindan büyük önem kazanmistir. Bu yöntemde yüzeye herhangi bir temas olmadigindan yüzey zarar görmemektedir. Hatalari silindirik parçalar özel V bloklari içine önlemek için çapi 30 mm'den küçük olan silindirler isik bantli mikroskoplarda ölçülmemelidir. belirli bir açi altinda gözlenerek yüzey pürüzlülük degerleri oküler içinde görünen dogru çizgilere göre belirlenmektedir (Bagci ve Eriskin. Ölçülecek yerlestirilir. düz parça dogrudan tabla üzerine. Bunlarla yüzey pürüzlülügü yüzeyler ölçülebilmektedir. Yüzey pürüzlülügünün okülerdeki görüntüsü (Bagci ve Eriskin. Bu mikroskoplarla kontrol edilecek yüzeye dokunmadan ve zarar vermeden büyük bir hassasiyetle basit bir isIemle ölçme yapilabilmektedir. kontrol edilecek yüzeye egimli olarak gönderilen düz isik hüzmeleri yüzey üzerinde dar bir isik bandi olusmaktadir. yüzey ile isik bandi hüzmesi düzleminin pürüzlülügü olusturan girinti ve arakesit izini belirtir. Düz yüzeylerde bu bantlarin araliklari birbirine esittir. Küresel ve silindirik yüzeylerde bu bantlarin araliklari muntazam bir sekilde azalarak dagilirlar. ölçme laboratuarinda ve üretim atelyelerinde 0. Gözlenen yüzeyin yükseklik degisimleri siyah bandin çevre smiriyla temsil edilir ve yükseklikler bant birimleriyle veya kisimlariyla ölçülendirilir.03 ile 2 mikron olan üzere tasarlanmislardir. Bu isik bandi.

Sekil 4.i O'da interferans incelendigi gösterilmektedir.

mikroskobu

ile üzerinde

V kanali bulunan bir yüzeyin

nasil

Burada örnek yüzey üzerinde gözüken bantlar arasindaki aralik

yanm dalga boyu ve egimli parlak paralel siyah düzlemler tarafindan meydana gelmektedir (Sekil 4.10.a). Mikroskop ideal yüzey pürüzlülügüne birimleri içindemikron içindeki görüntü sekil 4.1O.b'deki gibidir. Yüzey degisiklikleri bantlari saptiracaktir. Bu sapma degerleri dogrudan bant aralik

olarak ölçülebilir. ve hatalari interferans mikroskopta

Sekilde, düz yerlere ait degisik yüzey pürüzlülükleri çekilmis fotograflarla gösterilmektedir .

aL

.r,

b}:

Interferans mikroskobu ile üzerinde V kanali bulunan bir yüzeyin incelenisi e) Profilometreler Elektrikle çalisan profilometreler, yüzey üzerindeki pÜTÜzleregöre düseyolarak hareket eden

ve bu hareketleri elektrik sinyallerine dönüsen elmas uçlu ignelere dayalidir. Igne uç, bir basliga (detektör) baglidir ve baslik is parçasi yüzeyine kontrol edilebilir bir seviyede yüzeyi yakindan izlemesi saglanmaktadir. Igne ucun parça

tutularak igne ueun fizikselolarak

yüzeyi boyunca tarama hareketi esnasinda olusan mekanik sapmalar, baslik tarafindan elektrik sinyallerine dönüsür. Bu sinyaller elektronik olarak yükseltilir ve ibreli gösterge ve sayisal

68

okuma

ünitelerinde

ortalama

yüzey pürüzlülügü

degerlerinde

okunur

veya kaydetme

ünitelerinde yüzey pürüzlülügü büyütülmüs olarak milimetrik kagitlara kaydedilmektedir.

Genellikle elektrikle çalisan igne uçlu yüzey pürüzlülügü olusmaktadir;

ölçme aletleri üç ana kisimdan

a) Igne uçlu baslik ve hareket ünitesi: Baslik, yüzey üzerinde ileri-geri hareket etmekte ve yüzey pürüzlülügilnü esdeger elektrik voltajina dönüstürmektedir (Sekil 4.12). b) Amplifikatör: Basligin çikardigi voltaj ve iç direnci yükseltmektedir. e) Ibreli gösterge veya sayisalokuma voltaja cevap vermektedir. Igne uç, yüzey pürÜzlerini belirleyecek özellikte olmalidir. Uç kisim sert metalden 60° ve 90° lik koni biçiminde ve tepesi küreselolarak boyutunda kullanilmaktadir. küçümektedir. uygulanmaktadir. Ignenin yapilmakta, küre yançapi genellikle 0.01 için bu deger 0.002 mm'ye saglamak için bir baski
l11ill

ünitesi veya kayit ünitesi: Bu ünite yükseltilmis

Ince islenmis kontrolü devamli temasilli

kadar kuvveti

yüzeye

Bu kuvvet en fazla 2.5 gramdir.

8a§/3nfl
YUI

i

Göre!.

Baslik, igne uç ve destek

Hareket

ünitesi;

basligin,

dis yüzeyine

paralel

bir düzlein

boyunca

hareket

etmesini·

saglamaktadir. Bünyesinde bir elektrik motoru, bir disli kutusu, bir hareket vidasi ve bir sürgü bulunmaktadir. Ileri-geri hareketinin hizi ve kursu ayarlanarak kontrol edilmektedir.

Genellikle hiz degeri 2.5 ile 30 mm/s arasindadir. Ince islenmis yüzeylerde küçük çapli igne kullanilarak hassas ölçme yapmak gerektiginde 0.125 ile 1 mm!s'lik düsük hizlar tercih edilir. Ayarlanabilir kurs uzunlugu genellikle
1.5

ile 25 mm arasindadir.

Bazi aletlerde küçük

boyutlar için bu degerler daha küçük; örnegin, 0.25 mm alinmaktadir.

3.4 Yüzey Karakteristikleri
Kullanilan pürüzlülük parametreleri ile ilgili olarak, halen geçerli standartlara göre bugüne kadar uygulanmakta olan parametrelerle ve yeni gelistirilen uluslararasi standartlarda önerilen
69

parametreler arasinda farkliliklar bulunmaktadir. Bilgisine en sik basvurulan yüzey
pürüzlülük parametreleri;

a) Pürüzlülük parBmetresi, aritmetik ortalama sapma, Ra
Aritmetik ortalama Ra, (4.1) esitligi yardimiyla hesaplanan, gözlenen ölçme uzakligi

içerisinde -sapmalann (y) absolut degerlerinin- aritmetik ortalamasidir olarak Ra degeri birkaç numune uzunlugundan içerisinde hesaplanmaktadir (TS 971, ] 988). meydana

(Sekil 4.17). Pratik uzunlugu

gelen degerlendirme

1i
Ra

1

n

= - Jly(x~dx ~ -LIYil

i

O

n i=i

'~' .' Aritmetik Ortalama SapmaRa

b) Ortalama pürüzlülük derinligi, Rz (On nokta-metodu)
Ortalama çizgiye paralelolup, profilikesmeyen bir dogrudan örnek boyu içinde ölçülen bes

en yüksek çikinti ile bes en derin girinti arasindaki ortalama uzaklik olarak tanimlanm~tadir (Sekil 4. 8). (4.2) denklemi yardimiyla hesaplanmaktadir.

i

Ri (On nokta metodu)

c) Pürüz yüksekligi, Rt Numune ölçme uzunlugu (1) içerisindeki profil tepesinin en yüksek noktasi ile profil

regresyon çizgisi (m) arasindaki mesafedir (TS 6956, 1989).

Bu model genellikle bir ideal geometrik elemani içermektedir.4. biçim. konum ve istik. if) CMM ile gerçek is parçasi üzerinde noktadan noktaya ölçümlerle data setleri yaratmak (Sekil 1. açi). tayin etmek mümkün degildir (çap. direkt olarak ölçüm noktalari koordinatlari vasitasiyla Fakat. Örnegin. uzaklik. is parçasinin bir analitik modeli parametreleri tayin edebilmektedir. tasarlanan sekliyle karsilastirmak. biçim. ölçülmüs koordinatlara dayanarak tarif edilmektedir. Bu tür elemanlar uygun geometrik bir elemana atfedilerek belirlenebilir.b). probun farkli ölçme noktalari üzerindeki hareketiyle elde Her bir ölçme noktasi. Koordinat metrolojisinin özü Ni ve Waeldele'ye (1998) göre asagidaki sekillerde tanimlaILmaktadir. KOORDINAT ÖLÇME SISTEMLERI Koordinat metrolojisinin temel fonksiyonlari is parçasinin gerçek seklini tayin etmek. metrolojik bilgiyi degerlendirmek. Sekil 1. is parçasinin parametrelerini. if) Boyut. Bununla beraber. boyut. Is parçasinin edilmektedir.c).amet olarak verilen parametreIere dayanarak uygun ideal geometrik elemanin hesaplanmasi (Sekil 1. gerçek sekli. ideal elemanlari birlestirerek ve çizim boyuthin ile toleranslari kiyaslayarak (Sekil I. is parçasi geometrisinin basite indirgenerek modelize edildigi birörnegi göstermektedir.a). @ Ihtiyaç duyulan is parçasi sekillerini tayin etmek. 71 . konum ve istikamet gibi toleranslan belirlemektir.

' i ._. Bir koordinat ölçme cihazi su kisimlardan olusur. CMM ile boyutlari ölçÜIemeyecek hemen hemen hiçbir is parçasi yoktur. CMM'ler üç boyutlu bir istikamette fiziksel sunum veren kartezyen koordinat sistemlerinin yerine kullanilmaktadir (Pegss. Koordinat metrolojisinin dogasi (Ni ve Waeldele.- Computer C i çirim _ . Ölçme makinalarinin ayni koordinat ölçme sonuçlarini veren ancak bir istikamette hareket eden eksenleri olmayan türleri de vardir.a isparçasi ~ x 6 elemanlar kombinasyon b -:"'. 4. Esneklikteki gelisim ve dogruluk zamanla artmakta ve ölçümlerin maliyeti endüstriyel metroloji için halen kabul edilebilir bir degerde kalmaktadir. '" -.2 Koordinat Ölçme Cihazlan En güçlü metrolojik cihazlardan birisi olarak koordinat ölçme cihazlan büyük ve küçük bir çok üretim hattinda yaygin olarak kullanilmaktadirlar. 1997). G Mekanik Hareket sistemi El • Kontrol 72 . 1998)..rzst=J~ ~ _ Sekil 1.

prob basi üç yönde hareket edebilmektedir. Opsiyonel uzaktan kurnanda unitesi. Elektromekanik gösterilmistir. Bir CMM'in sistem komponentleri (Ni ve Waeldele. E'I @ E'I Mekanik düzenek Prob basi Kontrol jinitesi Dijital bilgisayar Sekil 2. CMM kartezyen koordinat sisteminde.yarayan yazilim. Ni ve Wae1de1e'ye (1998) göre koordinat ölçme teknolojisinin tanimlanmaktadir. kalibreli bir top basini referans noktasi olarak kullanarak. 1998). E'I Üç eksenli ve deplasman miktari ölçümlü mekanik bir donatim. Yazici ve çiziciye sahip dijital bilgisayar ve sonuçlari hesaplamaya ve göstermeye . 3D prob basi kullanarak yapilan bir kalibrasyon Örnegi Sekil 3 'de 73 . kalibre etmek. Ni ve Waeldele'ye göre (1998) bir CMM ile ölçüm islemi daima asagidaki adimlari içermektedir. esaslari ile Ayrica asagidaki temel sistem bilesenlerini de içermektedir (Sekil 2).e 8 e Ölçme sistemi Dokunma sistemi Bilgisayar Ölçme sistemi. e Prob basini. Is parçalarini tüm dogrultularda ölçebilen bir prob.

Üç boyutlu koordinat sistemi. ölçme bloklari ile yapilmis ölçmeler. olanagina sahiptir. geometrik 1'de Çizelge konvansiyonel metroloji ile koordinat metrolojileri arasindaki fark ortaya konmaktadir. form. uzunluk ölçme komparatörü'_?J~iile~. pozisyon ve sapma gibi durumlari bir ölçme makinasinda ve bir referans sistemi kullanarak cihazi bir kiirusta belirleme . farkli referans sistemlerinde farkli hazirlik zamanlarina sahip. açi ölçme cihazlari vb. Bunun bir sonucu üliiiakda. geometrik elemanlar genelde birbirinden bagimsiz olarak ölçülmekte. Konvansiyonel metrolojide.konvansiyonel metrolojidekisisel hatalar bas göstermemektedir. Kalibrasyon gereçleri Koordinat metrolojisi CMM'lere sundugu önemli avantajlar Ni ve Waeldele'ye asagidaki gibi siralanabilir. dairesel ölçümler ya da düz çizgi ölçümleri referans ölçümler olarak alinmaktadir. Konvansiyonel metroloji ile.. 74 . Koordinat metrolojisinde. .. kullanilmaktadir. form ölçme cihazlari. örnegin. ixihQerinlik ve açisal ölçme ekipmanlari. büy(iklük. ölçme is parçasinin makina eksenine oturtulmasi yol açacagindan gözardi edilmistir . . matematiksel nümerik modellerle karsilastinlmaktadir. • • Düzeltme elemanlari gibi yardimci gereçlere olan ihtiyaç artabilmektedir.Sekil 3. farkli ölçme elemanlari. e (1998) göre Koordinat metrolojisinde süresinin azalmasina iki ya da daha fazla koordinat sistemi kullanmak. elemanlar.

1998) . konumsistemindeMETROLOiisikolay boyut. konum rçok nokta ölçümü için kullanilacak ". Nanometrik seviyede yüzeykontrolü Üretim teknolojisindeki yüzey gelismeler günümüzde.'~. Atom tünel (AFM) ve elektron mikroskoplan gibi çihazlar yardimiyla ölçülebilmektedir (Osaniia ve Durakbasa. Konvansiyonel metroloji . biçim. mikroskobu pürüzlülügÜTIü öngören mikro strokturlari üretimine Bu tür yüzeylerin subnannietre düzeyinde. KOORDINA Software !dapt~ Is parçasi dizimine gerek olmayisi Çizelge 1.Koordinat metrolojisi 5."".-c.=. ANSIvONEL METROLOJI ayri belirlenmesi rçasinin el ile zaman kaybettirici yerlesimi görevlerine Farkli makinalarda Ölçümlerin kinematik standartlar ya da ölçme bloklari boyut. 75 ._. submikrometre teknik parçalann ve subnanometre olanak mertebelerindeki talllmaktadif.'.~.\"'''''-'''='''''''.belirlenmesi KONV~_:=''''''''=''''=~'''. AFM ile taranmis örnek yüzey Yillar içinde ölçme cihazlarinda kaydedilen gelismeler daha hassas yüzeylere ulasabilmeyi saglamistir. "~ kiyaslanabilme toleranslarinin nümerik model/erle olanagi ve ve sapmalarin Bir referans matematiksel bir set-up kul/anarak Ölçmelerin sayesindeT ölçme görevlerine biçim.

. Cihazlan _u --------~ ---: --.i _-1--_ •••. i __ Optik .m r mm\. i "'---~ 0.' K=pörn'" _m_ u 0....V«("A.1 mm~-'"7....i ----I: :.ik~u i _n~'!~r:i~~.ULASlLABILEN HASSASIYET Ölçme Ohaz/ari Kumpas -1tO~A-- 0. i i '<-/~--t-i '~: i ': -u-Lu-~--uM-e-k~~~ i .. • u ÖlçmeCihazlan SEM STM AF~ YIL ..----uElektro. u~--i i~ .: ..1 iim i .01 • Lmn_t_m u: __~m:-:""-. n'!~ ____ _m ~~ ''''' ~-S(~'--~--T-: i: : ~--.tor __ • __ ~ u~_ ' i-nn i uc Lazer öi"".t_T ..____ nn i • i ·1 i~: L . ~ .4.. ~~~-.. <>1".. --- _ Lazer _ ynksek HassaSi.izlu Kampara. _.:etli i : i~ n_ u------1-- :: i ·~i .uu---u-u--n---.. i i Komparatar i .--~~. _ u 1900 1940 1960 1980 2000 Yüzeyölçme hassasiyetleri 76 ..

6. Bölüm Diger Boyutsal ve Fiziksel Ölçümler 78 .

"Ölçme Teknigi".1.90. Vemiyerde12 taksimat vardir. Yemiyerde 60 taksimat bulunur. 1/12Iik vemiyerde. Verniyer bölüniülü açi gönyeleri. 2005) 79 . 1/60 lik vemiyerde 59° alinmis. Osman F. Bu ölçme hassasiyeti vemiyer bölüntüsüyle elde edilmektedir. 1/30 luk vemiyerde 29° alinmis. 1/10 luk vemiyerde. Birsen Yayinevi. l2'ye bölünmüstür. (GENCELI. AÇi ÖL~~ELE~ Bölünlüsüz açi gönyesi. 30.120 gibi sabit açi1i gönyeler.. hassasiyeti 1° olan geometrik biçimli parçalann açilarinin ölçü ve kontrolünde kullanilir. VemiyerdelO taksimat vardir. Bu gönyelerIe geometrik sekillerin açilan 5' ve 2' hassasiyetle ölçülebilir.45. Basit bölüntü[ü açi gönyeleri. Yemiyerde 30 taksimat vardir. bölünmüstür. 30'a.ll ° alininis. 9° alinmis 10'a bölünmüstür. 60'a bölünmüstür.

Sekil de gösterildigi gibi B noktasindan mafsalli iki kol ve bu kollardan birinin üzerinde dönebilen ölçekli bir tekerlekten ibarettir. ALAN ÖLÇÜMÜ Grafik ve sayisal yöntemler ile de alan hesaplan gerçeklestirilebilir. Planimetre ile alan ölçümü: Planimetre alan ölçülmesinde kullanilan mekanik bir alettir. 80 . T ucu sekli tam olarak çevrildiginde BT kolu üzerindeki W tekerlegi de belirli bir miktar döner. Bu tekerlek üzerindeki dönme miktan yardimiyla ölçülmek istenen alan bulunabilir. T ucu alani ölçü1mek istenen yüzeyin çevresi etrafinda belirli bir yönde döndürüiür.Sekil: Universal açi ölçer 2. Sistemin O ucu belirli bir noktada sabiHestirildikten sonra.

süpürülen alanlar: 81 . planimetrenin hareketli ucu ölçülecek alan çevresi üzerindeki T noktasindan T" noktasina ilerlesin.Planimetre ile alan ölçümü Alan ölçümünde kullanilan planimetre Planimetre ile ölçmede süpürü1en alanin bulunusu Planimetre ile ölçme prensibini açik1ayabi1mek için yukandaki sekilde görüldügü gibi. Bu durumda OBT kolu OB'T" sekline geldiginden.

bitincitb. A = Ls + (R2 + L2 - J d e ve J dçb degerleri 2n olacagindan.~()pla. "Ölçme Teknigi".d(J+·a.*.J:'m. (GENCELI.mi ise eki~ edilir. R. Ikincidenklem. 2005) 82 .a degerleri ile tekerlegin dönmesi ile süpürülen s yolu belli olunca yukandaki baglantilardan. Bu esnada tekerlegin aldigi yol iis .~. Birsen Yayinevi.L. Osman F. bulunur.ayri~yriintegraUeri A· = . çevresinde dolasilan alanlar kolayca bulunabilir.olarak yazdabilir.013B'alam BB 'TT çi/emi (11~)Rfdrp (Rcosl!i:ti/»k ( il 2). A=Ls ( O noktasi alan disinda) = sabit noktasi ölçülen alanin içinde ise dlLrumda ölçülen alan.~~.~ Il!dfJ s = RJcosi3.=[O/2)L2 -aLJfd~tLff.= WW' +W' WJl'F' Re()sfl·.+( J /2)R2Idi/. bu 2aL).:.r (O noktasi alan içinde) elde edilir.. O sabit noktasi ölçülen alanin disinda ise fde ve fd~ degerleri = aesittir.ii~+q seklindedir.R2fd?+R4f~?sP.···Aiatl"'eyoliil1."Sunla.dB .~y~ri:· A :.L2f1(j fJ'rr'altirii d!acaktir.

Sekil: Dijital planimetre Sekil: Tekerlek1i dijital planimetre 83 .

eneiji etkinligi odalarda) 84 . türbin. Basinçlandinlmis • Atmosferik sartlar (hava tahmini. v.) • Pnömatik veya hidrolik mekanik elemanlarda • Biyomedikal uygulamalarda (Kan basinci ölçümü.dolayli etki • Oksijen tüpüyle daIma sirasinda • Boru ve köse akislannda kayiplann belirlenmesinde .b. irtifa) • Akis orani veya hizin ölçümünde .0689 b-ar F Basinç ölçümlerine nerede ihtiyaç duyariz ? • Basinç kontrollü cihazlarda (ie motorlar.BASINÇ ÖLÇÜMLERI Basinç bir alana tatbik edilen 1 N/ml == 1 Pa == 100000 Pa 1 hPa 1 psi == 1 bar == 100 Pa 1/1000 bar == 1 mbar == 0.

uygulansin. Bu manometrenin kadar uygun bir bir kolu ölçülmek istenen basinç. standart basinç. Manometre kollarindaki sivi yükseklikleri farkli seviyelerde dengede kalir. diferensiyal basinç 3. manometrede kullanilan sivinin yogunlugu pm ve yerçekimi ivmesi g ise. MEKANIKBASiNÇ Mekanik elemanlar ÖLÇÜM CIHAZLARI en basit olanlaridir. içlerine koyulan uygun basinç ölçümünün sivilarin yüksekliklerinin ölçülmesi ile dogrudan dogruya istenen basinç veya basinç farklari bulunabilir. iki koldaki basinçlarin dengesi için: Pa + ghPm = P+ ghPI P-Pa = gh(Pm-Pf) 85 . pa. p. Diger ucu ise atmosfere açik olsun. Bu seviyeler arasindaki toplam fark li. ilk önce U tipi manometreyi inceleyecek olursak U seklinde kivnlmis cam veya plastik gibi seffaf bir boru içine yaklasik orta seviyelerine akiskan koyulur.STANDART BASiNÇ: D/FERENS/YAl BASiNÇ: ATMOSFERIK BASiNÇ Patm ATMOSFERIK öiÇOMlER Sekil: Mutlak basinç.1. basinci ileten akiskan yogunlugu pf.

•••. Aynca. alkol ve civa kullanilir. hataya Bu akiskanlann Görüldügü çok gibi. civa buhan üst kisimi doymus içermektedir. Ölçme yapilirken büyük basinç kuyu tarafina. Bu durumda ölçülen h yüksekliginden atmosfer basinci hesaplanabilir.. hassasiyetle sonuç elde edilebilir.i..U tipi manometrede h yüksekligi çiplak gözle ±2 mm hassasiyetle ölçülebilir..005 yogunlugunun üzerindeki katkisi Hassasiyetin arttmlmasi için okumanin çok dikkatli yapilmasi gerekir. J U tipi h. Buradaki basinç atmosfer basincina göre oldukça küçüktür. r E4 L3 p=O i 4 ~ * L Li . esit olacaktir. Kuyu.1:ariometre Akiskan Kuyu tipli manometreler de ayni prensip le çalismaktadir. p 1 IIH . Atmosfer basinci 1 atmosfer ve 86 . %0. düsük basinç borudaki hacim artmasina ise boru tarafina baglanir.. azdir.Manometrede yogunluklan manometre tablolardan sivisinin çogunlukla saf su. basinci aktaran baglanti tüpünün de uzunlugu çok fazla olmamalidir. cam boru üzerindeki sifir isaretli kisima kadar manometre sivisi ile doldurulur. Tüpün Kuyudaki hacim azalmasi.

3. Kuyu tipi manometreler sekildeki gibi düzenlenirse "barQmetr'&" olarak isimlendirilir '. ELASTIK ELEMANLAR ILE BASiNÇ ÖLÇÜMÜ 3.. Mutlak basinci ölçen Böyle durumlarda Bourdon tüpleri de yapilmistir.as}'(}n durumu Orijin.olacaktif:Atmds'fer3 ile civanm seviyesi . Ölçüm yapilan referans basins: genellikle atmosfer basincidir. Borunun bir ucu sabit diger De!onn. Elastik elemanin basinç altinda sekil degisiminden faydalanilmaktadir. tüp kalinliginin arttmlmasi gerekir. Bourdon tüpü çogunlukla eliptik kesitli C seklindeki bir borudan ibarettir.sicaklik 20 OC iken barometresivisi basinci artarsa.2. Bu bomya basinç uygulandiginda elastik bir sekil degisimi meydana gelir. Bourdon tüpü 1000 MPa gibi yüksek basinçlara kadar kullanilabilir. skalanin civaise. baslangiçnoktasi çakismayataktir:"· Bu nedenle. Genelde ucuz sekilde statik basinç ölçümü ihtiyaci söz konusu olan uygulamalarda kullanilir.1.2. dönme olarak ibreye iletilir. 79 . Bourdan Tüpü Basinç Ölçüm Cihazi Bourdon tüpü sivi bulundunnayan bir basinç ölçme cihazidir. li yüksekligi 760 mm. ve bu da cihazm kalitesini Borunun bos ucunun degisimi yay ve disli mekanizmalarla Basinç ile dönme arasindaki iliski lineer olmalidir göstermektedir. bir mekanizma ile civa seviyesinin her zaman skalamn baslangfçinagetirlmesl' gerekir.al· dumm BÖlJrdOn tu be fP ucu bostadir.

Bu elemanlar çelik veya bronz metalik olabildikleri gibi.) . sehim miktan basinç ile yaklasik olarak dogru orantilidir. diyafram kalinliginin degerinden az oldugunda. ölçümÜ· ile basinç belirlenebiH?:':v Hata Orani: • Birçok uygulama:içinyeterlidegildir.2. L. 1/3 Sehim miktan birkaç degisik sekilde ölçülebilir: 1-Bagli bir strain gage( uzama teli) ile 80 . AvantajIan: • Tasinabilirdir.Strain gagemonte:. Sekilde gösterildigi gibi hazne içine yerlestirilmis olan diyaframin bir yüzü p 1 basincina. Diyafram Ölçüm Cihazi Birçok basinç ölçme uygulamalannda oldugu gibi.2. Bu basinçlar arasindaki fark diya:framin sekil degisimine neden olur. Düz diya:framdaki sekil degisimi. 3.r"'C:'s-=== i ii):-"". • Su terazi si ile yataylama gereksinimi yoktur. Dezavantajlari: • Statik ölçümlerle sinirlidir. +11> Diyal'taiii] 1 ~. diger yüzü ise p2 basincina maruz kalmaktadir. petrol ve yaga karsi dirençli lastik veya özel plastiklerden de yapilabilir. diyafram ve körük kuvvet etkisi altinda sekil degisimine ugrar ve bu sekil degisiminden faydalanarak basinç ölçülür.edilerek:elastikdeforinasYdll~' Hassasiyeti veçözünürlügÜ bagil olarak:zayiftir.

ince tellerin basinç altinda dirençlerinin degisimine dayanir. ·.& R Burada R direnç. Bu degisim lineer olarak olusmaktadir: R = Ri (1 + bl\p ) Burada.·differential transformer) 3-Baska tip yer degistirmeveya 3.degisimli diferansiyel<transformatörle(LVDT-' mzsensörleriile LineaLvariable. [liPa] p: ölçülen basinç.e. [Pa] 81 . Strain Gage (uzama teli) Sekil18: Sekil i 8'in degisimini ölçebilmek için diyafram yüzeylerine strain gageler yerlestirilebilir. dR =8.e. [O] b: direncin basinçla degisim katsayisi.. BRIDGMAN ÖLÇÜM CiHAZi Bu cihazin çalisma prensibi.2-:-L. [O] RI: ölçme telinin standart atmosfer basmcindaki direncidir..3. 3.3.2. R: ölçme telinin p basincindaki direncidir. Bu gagelerin çikislan yüzeydeki lokal gerilmelerle dolayisi ile basinç farki ile orantilidir. E: gerilme(ya da gerinme) S ise gerilme hassaslik faktörüdür(tel faktörü olarak da geçer).r •.in.. [Pa] pO: standart atmosfer basinci.

bu balonla irtibatli küçük boru ve referans ölçü borusu bulunmaktadir.iMaI1gaIliu (%84 bakir. 3.133 Pa ile 133 Pa basinçlan arasindaki normal vakumu ölçmek için bourdon tüpüve diyafram kullanilarak ölçülebilir. manometre ile ölçülür ve oijinal düsük basinç Boyle yasasi ile hesaplanir.4.33x10-2 Pa) dan daha küçük basinçlarin kullanilan standart bir cihazdif. %12 Magnezyum ve %4 Nikel) teli kullanilmaktadir.0. Kalibre edilmis bir cihaz ile %0. asagi yukan hareket ettirilebilen bir pompa. ALÇAK BASiNÇ ÖLÇÜMÜ Atmosfer veoldukça alti düsük dikkatli basinçlann ölçmeleri (vakum) gerekir.zaman zaman kalibreedi111ie~i gerekir. Daha düsük vakum ölçümleri için özel cihazlann yapilmasi gerekir.tip-c!h~zlarile 100000 bar gibi yüksek basinçlar ölçülmektediL Genel1ik1e.1 hassasiyetle ölçüm yapmak mfunkündür. Sekil 20: 82 .13ll. Civali manometrenin ölçümünde degistirilmis bir seklidir. Bu . Cihazda esas olarak. Uygulamada teknigin degisik özel bir konusudur fizik prensiplerine dayanançesitli vakum ölçme cihazlan gelistirilmistir. yaslanma nedeniyle kalibrasyonu bozulabilen sistemih.cihazlann dinamik davranisi oldukça iyidir. Düsük sikistinlmis basinç standart basinçli gaz yeterince büyük bir basinca kadar sikistinhr. ölçülmesi. bir balon. McLeod Ölçüm Cihazi McLeod cihazi 10-4 rmnHg (1.

.Hata oraninin yüksek olmasinin sebebi sikistirma sirasinda gaz fazindan sivi faz'a geçis olmasi ihtimalidir. }OgiinillgU. • Bazi uygulamalar için dogrulugu yüksek degildir.ncin Gaz gi. 83 . • Agirliksiz ortamda (O g) kullanilamaz.i::isi ö1cülmesi Mdeod cihazi ile ölçümlerde hata orani %1 ve üstündedir. \. • Civa buhan ile gaz kansabilir. i AJtisltai'l. • Düsük basinçli gazin sikistmImasi sirasinda gaz yogunlasabilir. Dezavantajlari: • Statik ölçümler için limitlidir.- KiiciiltOOru li:esit a1ani \. .si.ILI] Dfuük wcincli gaz IBI Akislcan(civa'V'b)i. Sili::ismis Oa. • Basittir. i . • McLeod sivisi ile ölçüm gazinin etkilesmemesi gerekir. Avantajlari: • Güvenilirligi yüksektir.

I·· ili Kaynakça 12345http://www. Sekil 23: KARSILASTIRILMASI degisik basinç araliklannda kullanilir.. Birsen Yayinevi.itu..ec. tr/~acarh/ den-muh/basinc-olcme. BASiNÇ ÖLÇÜM SISTEMLERININ Basinç ölçümÜJ1d~)mllanilandönüstürücüler. "Ölçme Teknigi".efunda. Osman F.com/reference/xprimer.5. .html http://xtranies. [mmHg] 102 10'10 i · . Diyafram 1-1!~l1ij 1! BourdontüpQ 1II.~i.com/prodinfo/pressuretransducers.pdf 84 ..htm atlas. 2005) http://www. Jl '" Jl\\!:. Basinç. -i McLead -. [N/m2] 10-6 •a1010 i~ li 10-4 10-2 10a 106 1012 10° 104 102 IL Ji Basinç.com/ (GENCELI.omega. .3. · :i ·~_ ~ · rili~_ · .\ 1 Piezoelektrik ~ij LI J . Manometreler _~~_. edu.

spiral boru ile spiral borunun kumanda ettigi disli mekanizinali göstergeden ibarettir.1. (-90°C ile 2S0°C) buhar basinçli spiral borulu termometreler. dayanir.Cisimlerin sicakliklannin. sivi genislemeli spiral (yay) borulu termometreler. sivi akiskamn bulundugu hassa uç vazifesi gören hazne. yapilmis bir boru ile bu borunun alt ucuna tesbit edilmis ve ortasindan geçen uz ama katsayisi küçük olan (kuartz gibi) çubuktan ibarettir. sivi akiskammn bulundugu ve hassas uç genislemesi ile metallerin esasina sicakliga Gaz bagli olarak belirli kanuna gore içinde dayanir.Ölç:Ülmesindeasagidaki·· tennometrik özelliklerden yararlamlarak degisik sicaklik ölçerler yapilmistir. sivi genislemeli cam termometreler. kapiler boru. Kuyruk kismina kolay buharlasan (kaynama noktasi düsük) sivi ile bir miktar ayni sivinin buhan doldurulur. pirinç. Elektrik direncinin degisiminden elektromotor kuvvetin degisimi ötürü farkli telin· olusturdugu elektrik devresindeki 4. Hacim degisimi . hacimselolarak nikel-krom gibi genlesmeleri malzemelerden Aluminyum. Sivi genislemeli spiral tipte termometre ile benzerdir. Sicaklikla orantili olarak hacimdeki genlesme spiral boruyu açarak göstergede sapmaya neden olur.J~asinç. Iç içe iki cisim arasindaki uzama farki sicaklikla karakterize edilmektedir. Kapiler borunun üstünde ufak bir hazne olup. Uzunluk degisimi 2. sicaklik termometre smmm geçtigi zaman genisleyen sivi burada toplanarak termometrenin çat1amasi önlenir. i. akiskanlar kapali bir kap sicaklik arttikça hacimsel genislemeleri basinç yükselmesini meydana vazifesi gören hazne ile genisleyen akiskamn yükseldigi ve sicaklik okumasinin yapildigi kapiler boru olmak üzere iki bölgeden ibarettir.degisimi 4. (-SOOe ile 350°C) metal genislemeli esasina termometreler. metallerin isitilinca nikel. Genislemeli Termometreler Sivi ve gaz akiskanlar hacimlerinin olduklanndan getirir. 85 .

%10 kromlu Nikel. gümüs-altin alasimlan. Bu termik gerilimden faydalanilarak sicaklik ölçümleri gerçeklestirilir . Nikel-Krom kullanilir. TermoeIemanlar Termoelektromotor kuvvet: Farkli malzemelerdenolusaniki teliletkenlttbireruçia:rt birbirleriyle irtibat halinde iseler diger iki uç arasinda bir termIkgerilimrtieYdanagelir. altin-kobalt. iridium. Nikel-Bakir alasimi.cmeleri: Soy metallerve alasimlari: Platin. Nikel (1~ikel-Mangan-Al alasimlari). platin-rodyum.2. iridium-rodyum alasimlari.4. Soyolmayan metaller: Demir. Termoeleman çiftleri ile sicaklik ölçme devre ve aletler: Muhafaza içine yerlestirilmis termoeleman çifti bulunan bir devre: çifti' Ve devresi 86 . Termoelernon Malz. .

Bu sistemde radyasyon alicisinda . .: Iç. 4.3 .. Ölçülen sicakligin alt sinin cam mercek kullanildigi durumda 800°C (2.Sicakliklamuk<ivemetleri degismemelidir.lm'a kadar olan dalga boylannda ölçüm mümkündür) civarindadir.Termikgeriliminsicaklikla.lm üzerindeki dalga boylarinda ölçüme izin vermezler). Cam filtre virözden bakan kimsenin gözünü isiktan korumaya yarar.".siyah bir ~ isinmasi neticesinde üzerindeki termoeleman çiftinde meydana gelen termik gerilim. alicisina odakta bulunan =~... Mercekli radyasyon Toplam toplanir. lityumfluoridden edilmistir. Pirometreleri.!i. _... ~~g!".------~~"'.~. radyasyon yayan cismin dairesel görüntüsünün tam ortasinda olacak sekilde pirometreyi tutmasi gerekir.. döner çerçeveli ölçü aletinde sapma meydana getirir.~E~iii~LJ?ir.degisimi artmah daima ayni olmali karsi dayamklilik Oksidasyon ve cligerkimyasalreaksiyonlara . 87 . Aynanin yüzü ince bir kuartz cami tabakasi ile yapilmis çok ince bir zar ile dis ortamdan kaplanmis olup.8).Radyasyon ."""~ .--- ." Pirometreleri.~!9!!!~~_. 2.bijke)ig)lllalLIQ]2lam". Bu tip pirometre1er ilk defa Fery tarafindan 1902 yilinda yapilmistir.._-. Virözden bakan kimsenin.. -40°C'ye kadar ölçme yapilabilir.Pratik olarak ölçme dalga boyuna bagli degildir ve min.Termoelemanlarin genellikle asagidaki sartlari saglamasi beklenir: Termik gerilimsicakliklaberaber -..Yiro metreler: Toplam Radyasyon Pirometreieri: 1.~._~ izole sadece termoeleman çifti kullanilir. Bu sebeple düsük 700°C'de %80 ve cam mercekli sicakliklarda tercih edilmezler. ' ._.. Cam objektifradyasyonun 1700°C ise %40'ini pirometreler absorbe eder.9. bjektif o . kalsiyum fiuorid mercek kullamldigi durumda lSO°C (lO).~cis::iin ile diyaframdan Radyasyon geçerek alicisinin yaydigi radyas~.

buten. olarak siralayabiliriz. (Electronic Variable Area Flow Measurement) vb. atik sular. sivi hidrokarbonlar. i 88 . hem sürekli reaksiyon olan bir kap ta geri dönüsüm miktarini en aza indirir hem de reçete miktarina uygun akis saglayarak reaksiyonun güvenilirligini saglar. 3 Ticari bir tankerin kaç günde dolabilecegini hesaplayarak liman islerinin daha saglikli yönlendirilmesini yardimci olmak. Orifis yöntemiyle fark basincina göre debi ölçümü. Her yöntemin üstün taraflan vardir.1972" Koçyigit. temiz. nafta. Kullanilan ölçüm yöntemlerini öyle siralayabiliriz. 1 Boru içinde akan sivi debisi miktarini hacim /saat ya da kg / saat olarak ögrenmek.Istanbul. (Eleetronie V ortex Flow Measurement) 4 Likitlerin iletkenligini hiza bagli olusturmasina göre debi ölçümü.Kaynaklar: Yücelen I. benzen gibi kimyasal kirletici olmayan her türlü sivinin bir boru içinde basinç etkisiyle sahip oldugu debi miktarinin dogru bir sekilde ölçülmesi. Isçi C. (Electronie Magnetic Flow Measurement) 5 Samandirali Cam ve boru tip debi ölçümleri.. Debi ölçüm teknikleri içinde likitin yapisi. bir havuza sabit debide ürün göndermek. drenaj. Ancak ölçümleri sinirlayan parametreler her cihazin her yerde kullanimini engel1emektedir. petrol ürünleri. Debi ölçümlerinin dogru yapilmasi ünite operatörüne asagidaki islemler hakkinda bilgi verir. 2 Debi akisini istenilen degerde tutarak. yapiskan olmasi ya da devamli gazlasan tipte olmasina göre degisik yöntemler gelistirilmistir. Cilt 2. "Tennometreler". (Eleetronic Mass Flow Measurement) 3 Likinerin vorteks olusturmasina göre debi ölçümü. DEBI ÖLÇÜMÜ: Içme SUyU. Fen ve mühendislik 5.. Sayi 1. "TermoçiftKalibrasyonu dergisi. S. etilen. ve Sicaklik Ölçme".ITÜ. (Eleetronie Differential Pressure Measurement) 2 Corodial güç salinimina göre debi ölçümü.

Bu plakalar üzerine iç ve dis çap ile kullanilan malzeme ve akiskanin aktigi hatti açiklayan No' da yazilir. Bu basinç farki içinden geçen likitin oraniyla degisecektir. Biz burada basit Orifis plaka yöntemiyle olusturulan fark basinci ölçümül1~ . 89 . yerlestirilecegiboru çapina yakinboyutta dis çapi vardir ve iç çapi ise içinden geçen akiskanin fiziksel parametrelerinebagli olarak fark basinç yaratacak sekilde. Orifis plakasi bir hatta iki flans arasina monte edildiginde likitin giris yeri yüksek basinçta çikis yeri ise daha düsük basinçtadir. Bu ölçü metodunma maddenin aktigi boru içinde kesit darakinasi meydana getirilmekte ve bunun neticesinde basinç eneijisi kinetic eneijiye dönüsmektedir. Orms Plate : Paslanmaz çelikten imal edilmekte olup.-göre debi ölçüiliüne de inecegiz.KI~ YONU~ALAll Basinç Yüzeyi Asagidaki resimde imal edilmis muhtelif çaplarda orifis plakalar görülmektedir. DETAY B DETAY A t O sf {>. sicaklik ve basinci dikkate-alarak hesaplanir.Bu ölçüm yöntemlerinden her birinin kullanildigi yere gÖre bir üstÜnlügüvardir. Bu oran dogrusalolmayip logaritmik davranis gösterir. basinç farkinin daha baslarinda likit geçisi neredeyse iki kat artar. cinsi. Basinç düsmesi birim zamanda akan debi için bir deger olmaktadir. likitin yapisi.

. . somunla sikilarak boru hatti birlestirilir. Boru ikiye ayrilarak iki adet flans kaynatilir. flanslann üzerindeki deliklere YZ inclik karbon celigi borular baglanarak ölçümü yapilacak olan Transinitere baglanir. Bu borunun yüksek basinçli çikisi transmiterin Hi yazan tarafina.mm" plakasi 1 cl 1 i i ~ OrIfis Plate'nin Hatta Montaji : Orifis Plate sekilde görüldügü gibi hatta monte edilir. düsük basinçli tarafi ise Lo yazili tarafla birlestirilir. boru hatti üzerinde flanslar arasina yerlestirildikten soma. Son olarak saplamalar karsidan karsiya iki flans deliklerinden geçirilerek.. Iki adet grafit conta konarak yüksek basinçlarda kenarlardan likit sizmasi önlenir. ~ " Saplama Orms Plate'nin Elektronik Fark Basinç Transmiterine Baglanmasi: Orifis plate. 90 . Flanslar arasina orifis yerlestirilir.

20 mA akimi bu iki kablo vasitasiyla panelde montaj li bulunan bir indikatöre ya da kontrolöre deger gönderir. 91 . Bu islemi Manuel yapabilecegi gibi Kontrolöre bir set degeri yazarak boru içindeki çikisin bu set etrafinda sa1inmasini otomatige baglayabilir yani islemleri Kontrolöre birakabilir.Bom Hattiiia Monte Edilmis: Orifis rlerin aym seviyede olm~larini . Operatör okudugu degere göre isterse Loop üzerinde bulunan Pnomatik Kontrol Vanasini açtinp veya kapatarak debi geçisini degistirebilir. Transmiter two wire denilen baglanti yöntemiyle yani hem 24 Vdc besleme hemde proses degiskenlerini akim eklinde iletecek Standart 4 . sagl~ym' / Flansfiu _~J Elektronik indikatör Burada kullanilan Manifold Transmiterin sifir ayanni yapmak veya bakim için devreden sökülmesinde buhardan izole edilmesi gibi pek çok vazife görür.

SEVIYE ÖLÇÜMÜ: Endüstride su ve benzeri yogunlugu 0. Buoyancy Type Level Measure 4 U1trasonik seviye ölçümleri 5 Cam ve boru tip seviye ölçümleri i Ölçüm tiplerinin hepsinde farkli metodlar kullanilmaktadir. Seviye ölçümlerinin dogru yapilmasi. 92 . Differential Pressme Level Measure 2 Yer degistirme tip ölçümler. Mekanikselolarak seviye ölçülmesi: Samandira (sekil_ölçü teknigi kitabindan _177) Kullamlan diger ölçüm yöntemlerini söyle siralayabiliriz. Displacement Type Level Measure 3 Kaldirma kuvvetini esas alan samandirali tip ölçümler. Birbirine karismayan iki likit fazi varsa ana fazi koruyarak. Fark basincina göre seviye ölçümü. 2.8 kg/m3 ve yukari olan likitlerin dolduruldugu tanklarda seviye ölçümünün dogru ve güvenilir cihazlarla yapilmasi hem tanklarda tasmayi. ana prosese yanlislikla karismasimn önler. temiz. i hazirlayan bir kaynakçi 6. Her yöntemin üstün taraflari vardir. Likit seviyesini belirli seviyede tutarak. yapiskan olmasi ya da devamli gazlasan tipte olmasina göre degisik yöntemler gelistirilmistir. 1. diger islem görmüs fazi tahliye ederek bir yerde depolamak Seviye ölçüm teknikleri içinde likitin yapisi.10 inçlik bir boruya Flans kaynatip Orifis montaj görülmektedir. hem de tehlikeli likitlerin. Tanktaki sivi miktarim hacim ya da kütle olarak ögrenmek. 3. ünite operatörüne asagidaki islemler hakkinda bilgi saglar. bir yere sabit debide ürün göndermek. Ancak ölçümleri sinirlayan parametreler her cihazm her yerde kullammini engellemektedir.

F : Suyun kütlesinin dibe uyguladigi kuvvet m x g dir. Bu nedenle elde edilen basinç birimi kg/m2 yi SI birimi Paskal'a (kg/ms2) çevirmek için g ile çarpmakgerekir.Burada en çok kullanilan ve yapimi en kolayolan fark basincina göre seviye.ölçÜmü yani Differential Pressure Level 'e deginilecektir. Tank kapali ya da atmosfere açik olabilir. Teorik olarak tanktaki sivinin seviyesi yükselirken. özgül agirlik x suyun hacmi: px V dir. dibine yapacagi basinç. yerçekiminden dolayi olusan likitin kütlesinin tan1un alt yüzeyine uyguladigi kuvvet diyebiliriz.ye AraiJ~ ~ .:. V : Hacim. i Ölcü/ecek se. P=F/ AdiL Bu basincin genel formülüdür. 93 . P : Sivimn tabana yaptigi basinç. i ~ i i MimUffurn ! seviye Seviyesini ölçecegimiz yukandaki sekildekine benzer bir tank olsun. P = F / A = m / A = px V / A = px (A x h ) / A = px li bulunur. (g.) Bu esitligi formülde yerine koyarsak.8 kg. Maksimum SEWwe i i i i f i. kg/cm2 F: Sivinin kütlesinin tabana uyguladigi kuvvet A: Tankin dip alani ise Sivinin Tankin dibine uyguladigi basinç . . Burada tank dibine uygulanan kuvvetin hesaplanmasi gerekir.. taban alam x su yüksekligi A x h dir.mls2. m: kütle. 9. Tankin içine dolan sivi seviyesi yükseldikçe tabana artan miktarda basinç uygulamaya baslar. yerçekimi ivmesidir ve sabit oldugu için hesaplamalardan çikanlmistir.

P. P : Phigh .112" !iPT Elektronik Fi.-.. yaptigfbasinç.UK Bnsmç inmsmrfterl 94 .'Buradan basinçiçin asagidakiesimk çikar. :pxh=rgi-/cm3 x 800 cm :800 gr i cm2 0.ut~4a. EI-ektriik besl-eme $lifisi •• mm -4. örii~&ii1. basincin en yüksek oldugu "High Pressure" yeridir.si. .~ . 1 kg/cm2 basinç 0... düsük basinç ise Law koluna baglanir.Ölçme olarak fark basinci parametresini kullandigi için kullanim alani genistir... -. iP==Rt~~lr. l ..p:-gvinil1 yogunlugu .. Likitin üst kismi.•.Highpt~$Sirr~i~~üt L<>w preSSlife .8 kg / cm2 basinç yapar.i :slvtil1ntanic'içindeki yüksekligidir. Fark Basinç Ölçüm Transmiteri "High Pressure" ve "Law Pressme" diye iki girise sahiptir.Yüksek basinç. Içindeki diyafram tip sensör vasitasiyla kollanna uygulanan iki basinç arasindaki farki alir. '..1l2"NPT hiput .-.•.P law Bir su dolu tankta. basincin az oldugu ya da buharlasmadan dolayi bir miktar basincin oldugu yer ise "Law Pressme" tarafi diye adlandinlir.. dip..-'-"...Jiil1iz~uise ve tankin içini 8 metre doldurmus ise Tankin .'B. High koluna.8 kg/cm2 basinç 10000 nunH20 ise X X : 8000 mm R20 su basincidiL Elektronik Fark Basinç Transmiteri: Proseslerde hem seviye hem de akis hizi ölçümünde kullanilir.

sekilde görüldügü gibi monte ediIir. En basit yogunluk tesbit yolu "üç tarti" metodudur. Maksimum ge~iye öiçilecek SeviVe Anib!)' ii i i i i i ii! Minumum $eiiiye 7. 95 . Y ogunlugun ölçülmesi genellikle iki gayeye hizmet eder.Bir indikatöre sinyalini göndererek tank içindeki seviye degisimi izlenebilir.. Bunlar kütlesel debi ile iki madde kansiminda kansim oranlanmn tesbitidir.Burada görüldügü gibi Yüksy~b'. Tarti sirasi.Elektronik Basinç Transmitteribir . belirli bir sicaklikta bir maddenin birim hacminin kütlesidir. bir ölçü kabma belli bir miktar sivi konularak tartilmasi: Ms (kg) bu siviya kati madde ilave edilerek tartilmasi: Mk (kg) Bu üç ölçüden kati maddenin yogunlugu. kati maddenin tck basma tartilmasi:m (kg)·.tanka.ls~nt~ankm içindeki suyun dibe yaptigi basinca esittir. Yogunluk Ölçümü Piknometre Metodu Yogunluk.

D. "Ölçü Teknigi". Viskozite Tayini: Kinematik viskozite. ll. Kaldirma hareketi prensibi. dinamik viskozite katsayisi olmak üzere kinematik viskozite. bir akiskanin yer çekimi etkisi altinda akmaya karsi gösterdigi dirençtiL Belirli bir hidrostatik kolon basinci altinda yer çekimi ile akis için. PS MH-M MH S -M su Psu Ps =ölçü sivisinin yogunlugu MH =kati maddenin havadaki kütlesi Ms =kati maddenin sividaki kütlesi Msu=kati maddenin sudaki kütlesi Psu =suyun yogunlugu Kaynak: Özgür. Bu tarti islemleri neticesinde elde edilen kütlelere göre ölçü sivisinin yogunlugu su formülle tesbit edilir. 11/ P dUL 96 . Yildiz Üniversitesi Mühendislik Fakültesi. sivinin kinematik viskozitesi D ile dogrudan orantilidir. 1982.m Ms-Mk+mPs Ps Pk = sivinin yogunlugu = kati maddenin yogunlugu Sivilann yogunlugu ölçülürken. 8.. bir sivinin kolon basinci yogunlugu p ile orantilidiL Herhangi bir viskozimetre için. Bunun için ölçüleri tam tesbit edilmis kati madde havada ve 14°C sicakliktaki su ile ölçü sivisi içinde ayn ayri tartiya tabi tutulur. 1. belirli bir hacimdeki sivinin akis süresi. En basit metod hacmi ve agirligi belli bir kaba ölçü sivisinin doldurolup tartilmasidiL 2.

el)5ffia arasindaki orandir.ile sivirl1:i1. dinamik viskozite.izpidal degistigi frekansa bagimli bir özellik anlaminda da kullanilabilir. hirslYV1iP. Dinamik viskazIte.te verilen kesinlik sinirlan dahilinde ölçebilecek otomatik viskozimetre1er alternatif olarak kullanilabilir. bazen dinamik viskozite kat sayisi aJaxpk veya sadece viskozite Qlarak adlandinlir. cam kapilerli tip ölçme cihazidir.·Dinamik Viskozite.J<. kinematik vIskoziteyi verilen kesinlik sinirlan dahilinde ölçmeye uygun. VISKozIMETRE Viskozimetre. Bu sebeple. kayma gerilmesi ve kayma hizininzamanlasifri.. Dinamik viskozite 11.aJPJ)):tya veya defonnasyona karsi direncinin bir ölçüsüdür.birsiviya uygulanan kayma geiilmesi . ölçülen kinematik viskazItenin sivi yogunlugu ile çarpilmasiyla elde edilebilir. bir kinetik enerji düzeltmesi [TS 7756 (ISO 3105)] yapilmalidir. 10 min2/s. belirli bir hacimdeki sivinin kalibre edilmis cambir kapilervisküzimetreden yerçekimi etkisiyle akmasi için geçen sürenin ölçülmesiyle saydam ve opak petrol Ürünlerinin kinematik viskozitelerinin (D) tayinini kapsar.den küçük kinematik viskoziHerde ve 200 s. Otomatik Viskozimetreler Kinematik viskoziteyi Madde 14.den küçük akma sürelerinde. kalibre edilmis. olarak . Dinamik viskozite terimi. 97 . Bu standard. (TS 1451 EN ISO 3104 / Nisan 1999) Islem bir kapilar kanaldan deney sivisinin kendi agirliginin tesiri ile akma zamaninin tesbItine dayanir. Bu viskozimetreler kullanildiginda.

ii : Dinarrtik.j.Kinematiik visk. v p Xi O·s Burada. Tayin sicakligi.unli.HESAPLAMA . edilebmr.ozite (V). ölçülen verilen bagmti}~a nesç:iplamL alKls süresi! (ti' va viskoiimaire . ') p : K!rie·m. s diL ~Dinarttik vlskozite{lÜ. _ . •••. c: Viskoz:imetrenin kalibrasyon sabin. ile t~yln . T'lirnZts SICBkhkte nUIn1.Nuimmenin YQg. dir.ig1.menin YOgunlugu. Kitleilmiük viskazite. Klneniatik viskozlte. t . hesaplaniL X hesaplanan kilJematik vlskaZire (v) ve yogurduk (p)ikullariilarak asagida vsril. '10'13 EN iso 3675''çle verilen metot gibi UygWi bir metot iSO Ot·i'de belrrUlcHgi gibi duieltilir. . mm2/'s2.. __ • . Nor mPÇI. viskoi\te. mrn4ls.s.atik visKozilenin toiiinedlldigi \' ..0 __ "..sabit (C) kullanilarak asagida v=Cxi Burada: v .en ba.0. OlialÇlrna akis suresi. !kglm~'. ·.gintiyla LL :.