SEP INSTITUTO TECNOLGICO DE LEN INGENIERA ELECTROMECNICA LABORATORIO DE CIENCIA E INGENIERA DE MATERIALES

SES

Prof. Ing. Mayagoitia Barragn Jos de Jess Alumnos: Nombre Escalante Sandoval Pablo Cesar Lpez Romo Moiss Mata Rangel Jos de Jess Lpez Cabrera Carlos Martin Semestre 3ero 3ero 3ero 3ero

Grupo: B Equipo: 1B

Periodo: Agosto Diciembre / 09 Horario: Martes 10:30-12:10

No. 1 2 3 4 5

Nombre de la prctica Metalografa Mquina Universal Dureza Rockwell Lquidos penetrantes Lquidos fluorescentes, deteccin electromagntica de grietas

Promedio

Prctica No. 1 Grupo: B PRCTICA NO. 1

Equipo: 1B Fecha: 1-Sep-2009

METALOGRAFA 1. Pulido y encapsulado. 2. Ataque para resaltar el lmite de grano. 3. Uso de microscopio metalogrfico.

OBJETIVO Realizar los pasos necesarios para la preparacin de probetas metlicas a observar en este tipo de ensayes, e identificar los limites de grano, comparara y diferenciara las fotomicrografas de los metales y aleaciones, obtenidas de diversas fuentes, con las emanadas durante el desarrollo de la prctica.

INTRODUCCIN Observar las caractersticas estructurales de los metales y aleaciones es una parte importante del estudio de los materiales. La enseanza de metalografa es una parte fundamental de cualquier curso sobre materiales metlicos. Esta disciplina, al igual que otras muchas basadas en el estudio de imgenes, consta de dos partes bien diferenciadas: el manejo de los equipos de obtencin de la imagen y la capacidad de anlisis de los datos que las imgenes obtenidas pueden ofrecer. Para el perfil del ingeniero electromecnico es de suma importancia el conocimiento de las microestructuras de los materiales. As como la adquisicin de fotomicrografas por medio de equipo especializado, para despus desarrollar, disear, crear y construir mquinas y mecanismos tiles y de buena calidad; conociendo sus cualidades y beneficios estructurales.

Prctica No. 1 Grupo: B I. QU ES LA METALOGRAFA?

Equipo: 1B Fecha: 1-Sep-2009

La metalografa estudia mediante el microscopio, las caractersticas de la estructura de un metal o una aleacin. Un ensayo de metalografa se realiza con el fin de obtener toda la informacin que es posible encontrar en la estructura de los diferentes materiales. El microscopio es el instrumento ms valioso con el que se dispone para el estudio de las estructuras cristalinas, no solo desde el punto de vista cientfico de investigacin en el laboratorio, sino tambin en la prctica industrial. Mediante el puede determinarse el tamao de grano, forma y distribucin de las diversas fases e inclusiones, caractersticas ntimamente relacionadas con las propiedades mecnicas de los metales. El examen de la microestructura de los metales nos permitir conocer caractersticas como tratamiento mecnico, inclusiones, tratamientos trmicos a los que haya sido sometido; con el fin de determinar si dicho material cumple con los requisitos para los cuales ha sido diseado y prever su probable comportamiento en determinadas condiciones.

Prctica No. 1 Grupo: B II. El MICROSCOPIO Y SUS TIPOS

Equipo: 1B Fecha: 1-Sep-2009

El microscopio (de micro-, , pequeo, y scopio, , observar) es un instrumento que permite observar objetos que son demasiado pequeos para ser vistos a simple vista. El tipo ms comn y el primero que se invent es el microscopio ptico. Cabe resaltar que existen diferentes tipos de microscopios para los diversos tipos de estudio, tales como: Microscopio ptico Microscopio simple Microscopio compuesto Microscopio de luz ultravioleta Microscopio de fluorescencia Microscopio petrogrfico Microscopio en campo oscuro Microscopio de contraste de fase Microscopio de luz polarizada Microscopio con focal Microscopio electrnico Microscopio transmisin Microscopio barrido Microscopio de iones en campo Microscopio de sonda de barrido Microscopio de efecto tnel Microscopio de fuerza atmica Microscopio virtual Microscopio de antimateria Microscopio metalogrfico electrnico de electrnico de

El principal uso de cualquier microscopio es la observacin de estructuras, molculas, u organismos que son difciles de observar e investigar a simple vista. Microscopio ptico Un microscopio ptico es un microscopio basado en lentes pticas. Tambin se le conoce como microscopio de luz, microscopio fotnico (que utiliza luz o "fotones") o microscopio de campo claro. El desarrollo de este aparato suele asociarse con los trabajos de Anton van Leeuwenhoek. Los microscopios de Leeuwenhoek constaban de una nica lente pequea y convexa, montada sobre una plancha, con un mecanismo para sujetar el material que se iba a examinar (la muestra o espcimen). Este uso de una nica

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lente convexa se conoce como microscopio simple, en el que se incluye la lupa, entre otros aparatos pticos.

Imagen que muestra el microscopio ptico(Imagen obtenida del sitio web: http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/6/6c/Micr oscope-letters.svg/250px-Microscope-letters.svg.png)

Microscopio simple Un microscopio simple es aquel que solo utiliza un lente de aumento. El ejemplo ms clsico es la lupa. El microscopio ptico estndar utiliza dos sistemas de lentes alineados. El objeto por observar se coloca entre el foco y la superficie de la lente, lo que determina la formacin de una imagen virtual, derecha y mayor cuanto mayor sea el poder diptrico del lente y cuanto ms alejado est el punto prximo de la visin ntida del sujeto.

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Dibujo de un microscopio simple(imagen obtenida del sitio web: http://www.geocities.com/inociencia2009/microantiguo.jpg)

Microscopio compuesto Un microscopio compuesto es un microscopio ptico que tiene ms de un lente. Los microscopios compuestos se utilizan especialmente para examinar objetos transparentes, o cortados en lminas tan finas que se transparentan. Se emplea para aumentar o ampliar las imgenes de objetos y organismos no visibles a simple vista. El microscopio ptico comn est conformado por tres sistemas: El sistema mecnico est constituido por una serie de piezas en las que van instaladas las lentes, que permiten el movimiento para el enfoque. El sistema ptico comprende un conjunto de lentes, dispuestas de tal manera que producen el aumento de las imgenes que se observan a travs de ellas.

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El sistema de iluminacin comprende las partes del microscopio que reflejan, transmiten y regulan la cantidad de luz necesaria para efectuar la observacin a travs del microscopio.

imagen de un microscopio compuesto( Imagen obtenida del sitio web: http://www.monografias.com/trabajos58/practica-microscopio/pm1.jpg)

Microscopio de luz ultravioleta La lente, que habitualmente es de vidrio es sustituida por lentes de cuarzo y la iluminacin se produce por unas lmparas de mercurio. No usa filtros y se observa en placas fotogrficas. La variedad de fluorescencia, si usa filtros, y la observacin es directa. La imagen en el microscopio de luz ultravioleta depende de la absorcin de esa luz por las molculas de la muestra. La fuente de luz ultravioleta tiene una longitud de onda de 200 nm, por lo tanto puede alcanzar una resolucin de 100 nm. La microscopia ultravioleta no es muy diferente del funcionamiento de un espectrofotmetro pero sus resultados son registrados en fotografas. La muestra no se puede observar directamente a travs del ocular porque la luz ultravioleta puede daar la retina. El mtodo sirve para detectar cidos nucleicos, protenas que contienen determinados aminocidos. Mediante

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longitudes de ondas especficas para la iluminacin se puede obtener mediciones espectrofotomtricas para cuantificar el DNA y el RNA de cada clula. El microscopio de luz ultravioleta utiliza el rango ultravioleta del espectro luminoso en lugar del rango visible, bien para aumentar la resolucin con una longitud de onda menor o para mejorar el detalle absorbiendo selectivamente distintas longitudes de onda de la banda ultravioleta. Dado que el vidrio no transmite las longitudes de onda ms cortas de la luz ultravioleta, los elementos pticos de estos microscopios estn hechos con cuarzo, fluorita o sistemas de espejos aluminizados. Adems, dado que la radiacin ultravioleta es invisible, la imagen se muestra con fosforescencia (vase Luminiscencia), en fotografa o con un escner electrnico. El microscopio de luz ultravioleta se utiliza en la investigacin cientfica.

Fotografa de un microscopio de luz ultravioleta (Imagen obtenida del sitio web: http://www.atlsadecv.com/user/small_314.jpg)

Microscopio petrogrfico El microscopio petrogrfico o de polarizacin se utiliza para identificar y estimar cuantitativamente los componentes minerales de las rocas gneas y las rocas metamrficas. Cuenta con un prisma de Nicol u otro tipo de dispositivo para polarizar la

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luz que pasa a travs del espcimen examinado (vase ptica: Polarizacin de la luz). Otro prisma Nicol o analizador que determina la polarizacin de la luz que ha pasado a travs del espcimen. El microscopio tiene un soporte giratorio que indica el cambio de polarizacin acusado por el espcimen.

Fotografa de un microscopio petrogrfico (Imagen obtenida del sitio web: http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/a/a8/Microscopio_petrogr%C3%A1fico_binocular_museo_geominer o_de_Madrid.jpg)

Microscopio en campo oscuro El microscopio de campo oscuro utiliza un haz enfocado de luz muy intensa en forma de un cono hueco concentrado sobre el espcimen. El objeto iluminado dispersa la luz y se hace as visible contra el fondo oscuro que tiene detrs, como las partculas de polvo iluminadas por un rayo de sol que se cuela en una habitacin cerrada. Por ello las porciones transparentes del espcimen quedan oscuras, mientras que las superficies y partculas se ven brillantes, por la luz que reciben y dispersan en todas las direcciones, incluida la del eje ptico que conecta el espcimen con la pupila del observador. Esta forma de iluminacin se utiliza para analizar elementos biolgicos transparentes y sin pigmentar, invisibles con iluminacin normal, sin fijar la muestra, es decir, sin matarla. Tambin es bastante utilizado en la observacin de muestras metalogrficas para la observacin de detalles en superficies con alta reflectancia.

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fig.1.1 Representacin esquemtica del microscopio en campo oscuro(imagen obtenida del sitio web: http://3.bp.blogspot.com/_SBO4k8eZTI/SHkV5jN5GUI/AAAAAAAAAls/5dHMhutKw8o/s320/microscopia+de+campo+oscuro+cardioide.JPG)

Microscopio de contraste de fase El microscopio de contraste de fases permite observar clulas sin colorear y resulta especialmente til para clulas vivas. Este aprovecha las pequeas diferencias de los ndices de refraccin en las distintas partes de una clula y en distintas partes de una muestra de tejido. La luz que pasa por regiones de mayor ndice de refraccin experimenta una deflexin y queda fuera de fase con respecto al haz principal de ondas de luz que pasaron la muestra. Aparea otras longitudes de onda fuera de fase por medio de una serie de anillos pticos del objetivo y del condensador, anula la amplitud de la porcin fuera de fase inicial del haz de luz y produce un contraste til sobre la imagen. Las partes oscuras de la imagen corresponden a las porciones densas del espcimen; las partes claras de la imagen corresponden a porciones menos densas. Por lo tanto estos microscopios se utilizan para observar clulas vivas, tejidos vivos y cortes semifinos no coloreados.

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Imagen esquematizada de un microscopio de contraste de fase (Imagen obtenida del sitio web: http://www.cecyt6.ipn.mx/academia/BASICAS/BIOLOGIA/micro1_archivos/image006.jpg)

Microscopio de luz polarizada Los microscopios de luz polarizada son microscopios a los que se les han aadido dos polarizadores (uno entre el condensador y la muestra y el otro entre la muestra y el observador),el material que se usa para ello es un cristal de cuarzo y un cristal de Nicol dejando pasar nicamente la luz que vibra en un nico plano (luz polarizada). Algunos compuestos inorgnicos responden al efecto de la luz, stos tienen un alto grado de orientacin molecular (sustancias anistropas), que hace que la luz que lo atraviesa pueda hacerlo en determinados planos vibratorios atmicos. El prisma de Nicol permite el paso de luz en un solo plano, as el cuarzo gira la posicin de polarizacin, facilitando la identificacin de sustancias que extinguen la luz. Al fenmeno de extincin de luz causado por estos planos atmicos y orientaciones moleculares se llama birrefringencia. Este tipo de microscopio se usa para poder identificar mejor sustancias cristalinas o

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fibrosas (como el cito esqueleto), sustancia amiloide, asbesto, colgeno, cristales de uratos, queratina, slice, y otras de origen exgeno.

Imagen de un microscopio de luz polarizada (Imagen obtenida del sitio web: http://www.javeriana.edu.co/Facultades/Ciencias/neurobioquimica/libros/celular/caminoptico.jpg)

Microscopio con focal El microscopio confocal es un microscopio que emplea una tcnica ptica de imagen para incrementar el contraste y/o reconstruir imgenes tridimensionales utilizando un "pinhole" espacial (colimador de orificio delimitante) para eliminar la luz desenfocada o destellos de la lente en especmenes que son ms gruesos que el plano focal.[1] Esta tcnica ha ido adquiriendo cada vez mayor popularidad entre las comunidades cientfica e industrial. Se aplca tpicamente en las ciencias de la vida y en la inspeccin de semiconductores.

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fig.1.2 Representacion esquematica del microscopio focal(imagen obtenida del sitio web: http://www.upf.edu/sct/_img/microscopia/clsm5.gif)

Microscopio electrnico Un microscopio electrnico es aqul que utiliza electrones en lugar de fotones o luz visible para formar imgenes de objetos diminutos. Los microscopios electrnicos permiten alcanzar una capacidad de aumento muy superior a los microscopios convencionales (hasta 2 aumentos comparados con los de los mejores microscopios pticos) debido a que la longitud de onda de los electrones es mucho menor que la de los fotones "visibles". El primer microscopio electrnico fue diseado por Ernst Ruska, Max Knoll y Jhener entre 1925 y 1930, quines se basaron en los estudios de Louis-Victor de Broglie acerca de las propiedades ondulatorias de los electrones. Un microscopio electrnico, como el de la imagen, funciona con un haz de electrones generados por un can electrnico, acelerados por un alto voltaje y focalizados por medio de lentes magnticas (todo ello al alto vaco ya que los electrones son absorbidos por el aire). Los electrones atraviesan la muestra (debidamente deshidratada) y la

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amplificacin se produce por un conjunto de lentes magnticas que forman una imagen sobre una placa fotogrfica o sobre una pantalla sensible al impacto de los electrones que transfiere la imagen formada a la pantalla de un ordenador. Los microscopios electrnicos slo se pueden ver en blanco y negro, puesto que no utilizan la luz, pero se le pueden dar colores en el ordenador. Como se puede apreciar, su funcionamiento es semejante a un monitor monocromtico.

fig.1.5 Fotografa de un microscopio electrnico (imagen obtenida del sitio web: http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/6/6e/Elektronenmikroskop.jpg/150pxElektronenmikroskop.jpg)

Prctica No. 1 Grupo: B Microscopio de iones en campo

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La microscopa de iones en campo (FIM) es una tcnica analtica empleada en ciencia de materiales. El microscopio de iones en campo es una variedad de microscopio que puede ser usado para visualizar la ordenacin de los tomos que forman la superficie de la punta afilada de una aguja de metal. Fue la primera tcnica con la que se consigui resolver espacialmente tomos individuales. La tcnica fue desarrollada por Erwin Mller. En 1951 se publicaron por primera vez imgenes de estructuras atmicas de tungsteno en la revista Zeitschrift fr Physik. En la FIM, se produce una aguja de metal afilada y se coloca en una cmara de ultra alto vaco, que despus se llena con un gas visualizador tal como el helio o el nen. La aguja se enfra hasta alcanzar temperaturas criognicas (20-100 K). Luego se aplica un voltaje positivo que va de 5.000 a 10.000 voltios sobre la punta. Los tomos de gas absorbidos por la punta se ven ionizados por el fuerte campo elctrico que existe en las proximidades de ella. La curvatura de la superficie cercana a la punta provoca una magnetizacin natural; los iones son repelidos bruscamente en direccin perpendicular a la superficie (un efecto de "proyeccin de punto"). Se coloca un detector de modo que pueda recoger esos iones repelidos; y la imagen formada por todos los iones repelidos puede tener la resolucin suficiente como para mostrar tomos individuales en la superficie de la punta.

Fotografa de un microscopio de iones en campo. (Imagen obtenida del sitio web: http://web.educastur.princast.es/proyectos/grupotecne/archivo s/investiga/104insta04.jpg)

Microscopio de sonda de barrido

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Un microscopio de sonda de barrido (tambin llamado SPM por sus siglas en ingls Scanning Probe Microscopy) es aquel que tiene el transmisor en la parte exequimal del lente (Objetivo 4x). Este microscopio utiliza una sonda que recorre la superficie del objeto a estudiar. Su uso en investigaciones cientficas es el de regular la imagen mediante un barrido de electrones haciendo que la imagen aumente (10.000.000 nm).

Imagen de un microscopio de sonda de barrido. (Imagen obtenida del sitio web: http://img.directindustry.es/images_di/photo-g/microscopiode-sonda-de-barrido-spm-47975.jpg)

Microscopio de efecto tnel El microscopio de efecto tnel (Scanning Tunneling Microscope STM) es un poderoso instrumento que permite visualizar superficies a escala del tomo. En una instalacin cuyo fin es tomar medidas en escala atmica es necesario que el elemento que se usa como sonda de medida tenga una resolucin de esa misma escala. En un microscopio de efecto tnel la sonda es una punta conductora, por ejemplo, de Wolframio. La punta se trata para eliminar los xidos y para que sea lo ms afilada posible. En condiciones ideales hay un solo tomo en el extremo de la sonda. La instalacin consiste en un circuito elctrico en el que estn incluidos la muestra y la punta de medida. Como se ha apuntado anteriormente, el parmetro de medida es la intensidad de corriente tnel. Esta intensidad apenas alcanza los nanoamperios y,

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adems, es muy sensible tanto a la distancia, como a la diferencia de tensin entre la punta y la muestra. Debido a esta sensibilidad todo el sistema debe estar controlado electrnicamente. As, la toma de medidas y los movimientos de la punta (realizados mediante un dispositivo piezoelctrico con precisiones que pueden llegar a los 0.05 nm) son controlados por el usuario, a travs de las interfaces correspondientes, por ejemplo: mediante un PC de sobremesa. La punta no toca la muestra, sino que se queda a una distancia equivalente a un par de tomos (del orden de angstroms) de la superficie. El PC registra la trayectoria de la punta y entonces se puede desplegar la informacin como una imagen en escala de grises a manera de mapa de densidades o mapa topogrfico. A la imagen se le puede agregar color slo para mejorar el contraste y as observar mejor los cambios detectados.

Representacin grafica de un microscopio de efecto tnel (imagen obtenida del sitio web: http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/f/f9/ScanningTunnelingMicroscope_schematic.png/280pxScanningTunnelingMicroscope_schematic.png)

Microscopio de fuerza atmica

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El Microscopio de fuerza atmica (AFM, de sus siglas en ingls Atomic Force Microscope) es un instrumento mecano-ptico capaz de detectar fuerzas del orden de los piconewtons. Al rastrear una muestra, es capaz de registrar continuamente su topografa mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cnica. La sonda va acoplada a un listn o palanca microscpica muy flexible de slo unos 200 m. El microscopio de fuerza atmica ha sido esencial en el desarrollo de la nanotecnologa, para la caracterizacin y visualizacin de muestras a dimensiones nanomtricas (1x10 9 m = 1nm).

Representacin grafica de un microscopio de fuerza atmica (imagen obtenida del sitio web: http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/1/1a/Atomic_force_microscope_block_diagram.png/200pxAtomic_force_microscope_block_diagram.png)

Gracias a este Microscopio de Fuerzas Atmicas (AFM), se ha podido visualizar por primera vez una molcula de pentaceno (C22H14), consistente en cinco anillos de benceno enlazados formando una cadena aromtica, que es candidato a ser utilizada en nuevos semiconductores orgnicos. Este logro de los cientficos del laboratorio de IBM en Zrich (Suiza) representa un hito en el mbito de la nanotecnologa y la electrnica molecular y un avance en el desarrollo y mejora de las prestaciones de los dispositivos electrnicos.

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Estructura interna de una molcula de pentaceno, de 1,4 nanmetros de longitud. Abajo, modelo de la misma, los tomos grises son de carbono y los blancos de hidrgeno. (Imagen obtenida del sitio web: http://www.elpais.com/fotografia/pentaceno/microscopio/elpdiasoc/20090828elpepusoc_8/Ies/)

Microscopio de antimateria El microscopio de escaneo de positrones (SPM) pronto podr estar disponible como una herramienta de gran alcance para probar muchos materiales diferentes. Werner Triftshuser y sus colegas en la Universidad Militar de Munich, Alemania, pensaron que los positrones pueden dar imgenes de alta calidad de los defectos en las superficies de semiconductores. El SPM utiliza positrones, la antipartcula de los electrones, a la hora de detectar los defectos en semiconductores.

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Un ejemplo son aquellos positrones que son atrados a las regiones de carga negativa. La forma ms comn de defectos de semiconductores que se conoce como una "vacante". Cuando un positrn se rene un electrn, los dos tratan de aniquilar a los dems, liberando su energa como fotones de rayos gamma. La radiacin resultante revela la ubicacin precisa de una vacante. Los positrones, que proceden de una fuente radiactiva de sodio, pasan a travs de una serie de campos elctricos que homogenizan estos con cortos pulsos. Ellos se transmiten a travs de otra serie de campos que aceleran el pulso de una determinada energa antes de centrarse en un 2 micrones punto en la superficie de silicio. Microscopio metalogrfico El principal uso de cualquier microscopio es la observacin de estructuras, molculas, u organismos que son difciles de observar e investigar a simple vista. Debido a la importancia del estudio de las estructuras cristalinas metlicas, es necesario el uso del microscopio metalogrfico. Este tipo de microscopio es de uso comn para el control de calidad y produccin en los procesos industriales. Con ellos, es posible realizar mediciones en los componentes mecnicos y electrnicos, permite adems efectuar el control de superficie y el anlisis ptico de los metales. De acuerdo al propsito de uso, existen multitud de variedades dependiendo del tipo de objetivos, oculares, aumento mximo permitido, enfoque, etc. Este tipo de microscopio difiere de los biolgicos en que el objeto a estudiar se ilumina con luz reflejada, ya que las muestras cristalogrficas son opacas a la luz. Su funcionamiento est basado en la reflexin de un haz de luz horizontal que proviene de la fuente, dicha reflexin se produce, por medio de un reflector de vidrio plano, hacia abajo, a travs del objetivo del microscopio sobre la superficie de la muestra. Parte de esta luz incidente, reflejada desde la superficie de la muestra se amplificar al pasar a travs del sistema inferior de lentes, llegar al objetivo y continuar hacia arriba a travs

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reflector de vidrio plano; despus, de nuevo se amplificar en el sistema superior de lentes (ocular). tal como se indica en el siguiente diagrama:

Representacin esquemtica del microscopio metalogrfico (Imagen obtenida de la pgina web: http://www.esi2.us.es/IMM2/Practhtml/microsco.html)

Imagen de un microscopio metalogrfico con estilo de platina invertida y con diferentes tipos de objetivos x5, x10, x40, x100(Imagen obtenido de la pgina web: http://www.uam.es/docencia/labvfmat/labvfmat/Anexo/microscopio_metalografico.htm)

El xito del anlisis del microscopio depende en gran medida al cuidado que se haya tomado en la preparacin de la muestra.

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III.

REALIZACIN DE UN ENSAYO METALOGRFICO

Para este ensayo se requiere una gran tecnologa y experiencia por que el proceso de anlisis metalogrfico es de gran cuidado y precisin. El anlisis de las microfotografas es complejo aunque se realice a simple vista ya que se debe tener un conocimiento amplio de la gran cantidad de casos que se pueden presentar. 1) Muestreo La seleccin de una muestra para el estudio microscpico metalogrfico es muy importante. Si lo que se va a investigar es una falla, se debe escoger la muestra ms prxima al rea de falla y comparrsele con una tomada de la seccin normal o sana. Si el material es suave, como metales o aleaciones no ferrosas y aceros no tratados trmicamente, la seccin puede obtenerse por corte manual con una segueta. Si el material es duro, la seccin puede obtenerse mediante un disco cortador abrasivo, el cual es un plato delgado fabricado por un abrasivo de tipo adecuado, que gira a alta velocidad. La muestra debe mantenerse fra mediante la operacin de corte para evitar el recalentamiento de la muestra; adems, no debe ser muy grande porque se dificulta el proceso de pulido. 2) Esmerilado burdo o tosco. Una muestra blanda se puede aplanar si se mueve lentamente hacia arriba y abajo a travs de la superficie de una lima plana poco spera.

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La muestra blanda o dura puede esmerilarse burdamente sobre una lija de banda (rotatoria), manteniendo la muestra fra sumergindola frecuentemente en agua durante la operacin de esmerilado. En todas las operaciones de esmerilado y pulido, la muestra debe moverse en sentido perpendicular a las ralladuras existentes. Esto facilitara darse cuenta del momento en que las ralladuras ms profundas hayan sido sustituidas por las menos profundas, caractersticas del abrasivo ms fino. El esmerilado contina hasta que la superficie queda plana libre de mellas, rebabas, etc., y todas las ralladuras debido al corte manual o al disco cortador no son visibles. 3) Montaje Para que el manejo de la muestra sea ms sencillo y seguro y adems que al pulir no se pierda nada de las fronteras de la pieza, se acostumbra montarlas en resinas epxicas acrlicas o baquelita, que son materiales de alta dureza y muy buena resistencia mecnica y a la corrosin; este montaje se puede hacer en fro o en caliente. Las muestras pequeas o de forma incomoda deben montarse de alguna manera para facilitar el pulido intermedio y final. La resina termofijadora que ms se emplea para montar muestras es la baquelita. Los polvos para moldear baquelita se fabrican en colores de este material lo cual simplifica la identificacin de las muestras montadas. La muestra y la cantidad correcta de polvo de baquelita, o una preforma de baquelita se colocan en el cilindro de la prensa de montar. La temperatura aumenta gradualmente hasta 150 C y se aplica una presin de moldeo de unas 4000lbs/pul2 simultneamente. Una vez que la baquelita esta adherida y curada cuando se alcanza esta temperatura, la base con la muestra puede extraerse del dado de moldeo mientras est caliente.

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La lucita es la resina termoplstica ms comn; es completamente transparente cuando se moldea de forma adecuada. Esta trasparencia resulta til cuando es necesario observar la seccin exacta que se pule o cuando por cualquier otra razn se desea ver por completo la muestra en la base. Al contrario de los plsticos termo fijados, las resinas termoplsticas no sufren cura a la temperatura de moldeo, sino que adquieren estabilidad al enfriarse. La muestra y la cantidad de polvo de lucita adecuadas se colocan en la prensa para montar y se someten a la misma temperatura y presin que para la baquelita (150C y 400 lbs. /pulg2). Una vez alcanzada esta temperatura se quita la bobina de calentamiento y las aletas de enfriamiento se colocan alrededor del cilindro para enfriar la base hasta 75 C en unos 7 minutos al tiempo que se mantiene la presin de moldeo. Si se saca la base todava caliente o si se deja enfriar lentamente en el cilindro de moldeo a la temperatura ambiente sin sacarla, se opacara. Las muestras pequeas pueden montarse de forma conveniente para prepararlas metalograficamente en un dispositivo de sujecin, hecho en el laboratorio. Las muestras laminares delgadas, cuando se montan en tal dispositivo de sujecin, suelen alternarse con hojas metlicas rellenadoras de metal que tienen

aproximadamente la mismas durezas que las muestras. Si se usan hojas rellenadoras se conservara la superficie libre de las irregularidades de la muestra y se evitara, de alguna manera que los bordes de la muestra se redondeen durante el pulido. 4) Pulido intermedio Despus de montada, la muestra se pule sobre una serie de hojas de esmeril o lija abrasivos ms finos, sucesivamente. El primer papel es generalmente No. 1, luego 1/0, 2/0, 3/0 y finalmente 4/0. Por lo general las operaciones de pulido intermedio con las lijas de esmeril se hacen en seco; sin embargo, en ciertos casos, como el de preparacin de materiales suaves, se puede usar un abrasivo de carburo de silicio. Comparando con papel esmeril, el carburo de silicio tiene mayor rapidez de remocin y, como su acabado es a base de resina se

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puede utilizar como un lubricante, el cual impide el sobrecalentamiento de la muestra, minimiza el dao cuando los metales son blandos y tambin proporciona una accin de enjuague para limpiar los productor removidos de la superficie de la muestra, de modo que el papel no se ensucie. Los hierros grises, nodulares y maleables no deben ser sometidos al pulido intermedio, sino pasar directamente al pulido para evitar que se arranque el grafito. 5) Pulido fino. El tiempo utilizado y xito del pulido fino dependen en mucho del cuidado puesto durante los pasos del pulido previo. La ltima aproximacin a una superficie plana libre de ralladuras se obtiene mediante una rueda giratoria hmeda cubierta con un pao especial cargado con partculas abrasivas cuidadosamente seleccionadas en su tamao. Existe gran disponibilidad de abrasivos para efectuar el ltimo pulido. En tanto que muchos harn un trabajo satisfactorio parece haber preferencia por la forma gamma del oxido de aluminio para pulir materiales ferrosos y de los basados en cobre, y oxido de cerio para pulir aluminio, magnesio y sus aleaciones. Otros abrasivos para el pulido final que se usan a menudo son la pasta de diamante, oxido de cromo y oxido de magnesio. La seleccin de un pao para pulir depende del material que vaya a pulirse y el propsito del estudio metalogrfico. Se pueden encontrar paos de lanilla o pelillo variable, desde aquellos que no tienen pelillo (como la seda) hasta aquellos de pelillo intermedio (como pao ancho, pao de villar y lonilla) adems de aquellos de pelillo profundo (como el terciopelo). Tambin se pueden encontrar paos sintticos para pulir con fines de pulido general, de los cuales el Gamal y el Micropao son los que se utilizan ms ampliamente. Una muestra pulida de forma

Prctica No. 1 Grupo: B

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adecuada mostrara nicamente las incrusiones no metlicas; adems estar libre de ralladuras. 6) Ataque El propsito del ataque qumico es hacer visible las caractersticas estructurales del metal o aleacin. El proceso debe ser tal que queden claramente diferenciadas las partes de la microestructura. Esto se logra mediante un reactivo apropiado que somete a la superficie pulida a una accin qumica. En las aleaciones compuestas de 2 o ms fases las componentes se revelan durante la reaccin qumica al atacar preferencialmente, el reactivo, a una o ms de estas constituyentes debido a la diferencia en composicin qumica de las fases. En las aleaciones uniformes de una sola fase o metales puros se obtiene contraste y las fronteras de grano se hacen visibles debido a las diferencias en la rapidez a que los diversos granos son atacados por el reactivo. Esta diferencia en la rapidez de ataque est asociada principalmente con el ngulo que guardan las diferentes secciones de grano con el plano de la superficie pulida. Debido al ataque qumico por el reactivo de ataque las fronteras de grano aparecern como valles en la superficie pulida. Al chocar con la orilla de estos valles, la luz del microscopio se reflejara fuera del microscopio, haciendo que las fronteras de grano aparezcan como lneas oscuras. La seleccin de reactivo de ataque est determinada por el metal o aleacin y la estructura especifica que se desea ver.

En la siguiente seccin se mostrarn los tipos de reactivos a usar para la etapa de ataque, para cada tipo de metal o aleacin.

Prctica No. 1 Grupo: B IV.

Equipo: 1B Fecha: 1-Sep-2009

TABLAS DE REACTIVOS MS UTILIZADOS PARA EL ATAQUE

En las siguientes tablas se brinda un resumen de los reactivos de ataque ms utilizados, dando su composicin, caractersticas y usos. Reactivos de ataque para hierro, aceros y hierros colados
Tipo de agente Nital Composicin 2 ml cido ntrico; 98 ml de alcohol (espritu metilado industrial) Caractersticas y usos El mejor reactivo de ataque general, para hierro y acero. Graba perlita, martensita y troostita, y ataca las orillas del grano de la perlita. Para hierro fundido y forjado, la concentracin de acido ntrico puede elevarse a 5 ml. Para resolver, un atacado de perlita, debe ser muy ligero. Adecuado tambin para hierros ferrticos vaciados grises y hierros maleables negros. Excelente para atacar perlita y estructuras esferoidizadas, pero no ataca a los bordes del grano a ferrita. Es el reactivo adecuado para todos los hierros vaciados, con excepcin de hierros de aleacin y completamente ferrticos. Se disuelve hidrxido de sodio en agua agregando luego el acido pcrico. Se calienta todo en bao de agua hirviendo, por 30 minutos y se vierte el liquido claro. La probeta se ataca durante 5 a 15 minutos en la solucin hirviendo. Su aplicacin principal consiste en distinguir entre ferrita y cementita. La ultima se mancha en negro pero la ferrita no es atacada. Adecuado para aleaciones de nquel-cromo y aceros austenticos con base de hierro-cromo. Tambin para otros aceros austenticos, aceros de alto cromocarbono y aceros de alta velocidad. Calentar la probeta en agua hirviendo antes de su inmersin. Particularmente adecuada para aceros inoxidables. Debe estar recientemente preparada para usarse.

Picral

4 g cido pcrico; 96 ml alcohol

Picrato de sodio alcalino

2 g cido pcrico; 25 g hidrxido de sodio; 100 ml agua

cidos y glicerol mezclados

Persulfato acido de amonio

10 ml cido ntrico; 20 ml cido clorhdrico; 20 ml glicerol; 10 ml perxido de hidrogeno 10 ml cido clorhdrico; 10 g persulfato de amonio; 80 ml agua

Prctica No. 1 Grupo: B Reactivos de ataque para cobre y sus aleaciones

Tipo de agente Persulfato amoniacal de amonio Composicin 20 ml hidrxido de amonio (0.880); 10 g persulfato de amonio; 80 ml agua 50 ml hidrxido de amonio (0.880); 20-50 ml perxido de hidrogeno (solucin al 3%); 50 ml agua 10 g cloruro frrico; 30 ml cido clorhdrico; 120 ml agua Caractersticas y usos

Equipo: 1B Fecha: 1-Sep-2009

Un buen agente, para revelar bordes de grano en cobre puro, latones y bronces. Debe estar recientemente preparada para dar los mejores resultados. Es el mejor reactivo general para cobre, latones y bronces ataca los bordes del grano y da un contraste moderado. El contenido de perxido de hidrgeno puede variarse para adaptarlo a aleaciones particulares. Se usa por frotamiento o inmersin, y debe ser recientemente preparada ya que el perxido de hidrgeno se descompone. Produce un ataque de gran contraste sobre latones y bronces. Obscurece la en latones. Puede usarse despus del ataque a los bordes del grano con el persulfato de amoniaco. sese sin diluir para aleaciones de cobre ricas en nquel. Dilyase una parte en dos partes de agua para soluciones slidas ricas en cobre, en latn, bronce y bronce de aluminio. til para bronce al aluminio y latones y bronces complejos. Tambin para aleaciones de berilio, magnesio y silicio con cobre, y para placas de nquel.

Amoniacoperxido de hidrogeno

Cloruro frrico cido

Solucin cida de bicromato

2 g bicromato de potasio; 8ml acido sulfrico; 4 ml solucin de cloruro de sodio saturado; 100 ml agua

Reactivos de ataque para aluminio y sus aleaciones

Tipo de agente Acido clorhdrico diluido Solucin de sosa caustica Reactivo de Keller Composicin 0,5 ml cido fluorhdrico; 99.5 ml agua 1 g hidrxido de sodio; 99 ml agua 1 ml cido fluorhdrico; 1.5 ml cido clorhdrico; 2.5 ml cido ntrico; 95 ml agua Caractersticas y usos Esta probeta se frota mejor con algodn impregnado en el reactivo. Un reactivo general bueno. Un reactivo general bueno para frotar. til particularmente para aleaciones del tipo duraluminio. Ataque por inmersin por 10-20 segundos.

Prctica No. 1 Grupo: B Reactivos de ataque para aleaciones miscelneas

Tipo de agente cidos actico y ntrico Composicin 3 ml cido actico glacial; 4 ml cido ntrico; 16 ml agua 30 ml cido actico glacial; 10 ml perxido de hidrogeno (solucin al 30%) 10 g cloruro frrico; 2 ml cido clorhdrico; 95 ml agua 1 ml cido clorhdrico; 99 ml alcohol (espritu metilado industrial) 10 g cristales de yodo; 30 g yoduro de potasio; 100 ml agua 50 ml cido ntrico; 50 ml cido actico glacial Caractersticas y usos

Equipo: 1B Fecha: 1-Sep-2009

til para plomo y sus aleaciones (sese recientemente preparado y con ataque por 4-30minutos). Es til tambin 5% de nital para plomo y sus aleaciones. Adecuado para aleaciones de plomo-antimonio. Atacar por 5 a 20 segundos.

Acido actico y perxido de hidrogeno

Cloruro frrico cido

Adecuado para metales de chumaceras ricos en estao. Pueden atacarse otras aleaciones ricas en estao, en 5% de nital. Para cinc y sus aleaciones. Es tambin til 1% de nital

cido clorhdrico diluido en alcohol

Solucin de yodo

El mejor agente para aleaciones cada bismuto.

Acido ntrico y acido actico, mezclados

Adecuado para nquel y metal monel. Debe estar recientemente preparado

NOTA: por ningn motivo debe permitirse que el cido fluorhdrico entre en contacto con la piel o los ojos. Debe tenerse cuidado con los cidos fuertes.

Prctica No. 1 Grupo: B V. FOTOMICROGRAFAS DE METALES Y ALEACIONES

Equipo: 1B Fecha: 1-Sep-2009

Fotomicrografa es la fotografa que se realiza a travs del microscopio. Hay dos grupos fundamentales: Fotografa a travs del microscopio ptico y la fotografa a travs del microscopio electrnico. A continuacin se ilustran ciertas fotomicrografas tomadas a ciertos metales de estudio:

Acero 1018, Acero de bajo contenido de carbn

Fig. 1.3 Acero 1018. Calentado a 900 C por 75 minutos y enfriado al aire (Normalizado). Atacado con Nital al 2%. Magnificacin en el microscopio: 100X Las reas claras son ferrita proeutectoide. Las reas oscuras son perlita.

Fig. 1.4 La misma estructura anterior observada a 400X en el microscopio. Se observan las fronteras de los granos de ferrita.

Fig. 1.5 Acero 1018. Calentado a 900 C por 75 minutos y templado en agua. Atacado con Nital al 2%. Magnificacin en el microscopio: 100X La microestructura contiene martensita de bajo carbono, bainita y algunos granos de ferrita. La formacin de 100% martensita solamente es posible en secciones muy delgadas y con enfriamientos rpidos.

Prctica No. 1 Grupo: B Acero 1045, Acero de medio contenido de carbn.

Equipo: 1B Fecha: 1-Sep-2009

Fig. 1.6 Acero 1045. Calentado a 900 C por 75 minutos y enfriado en el horno (Recocido). Atacado con Nital al 2%. Magnificacin en el microscopio: 100X La microestructura consiste en ferrita ms perlita. La cantidad de perlita es mayor que la que se encuentra en el acero 1018.

Fig. 1.7 Acero 1045. Calentado a 900 C por 75 minutos y enfriado al aire (Normalizado). Atacado con Nital al 2%. Magnificacin en el microscopio: 100X La microestructura consiste en ferrita ms perlita. Los granos de ferrita son ms finos que en la microestructura anterior.

Fig. 1.8 Acero 1045. Calentado a 900 C por 75 minutos y templado en agua. Atacado con Nital al 2%. Magnificacin en el microscopio: 100X La microestructura consiste en bainita en una matriz de martensita.

Prctica No. 1 Grupo: B Latn, proporciones de Cobre y Zinc

Equipo: 1B Fecha: 1-Sep-2009

Fig. 1.9 Latn 65/35, colado en coquilla. Estado de pulido

Fig. 1.10 Microestructura del latn 65/35, colado en coquilla. Ataque con dicromato, campo claro, 100X.

Fig. 1.11 Microestructura anterior del latn 65/35, tcnica de interfe-rometria de Nomarski, 100X.

Acero inoxidable, aleacin de acero con un mnimo de 10% de cromo

Fig. 1.12 Acero inoxidable para cuchillera (13% cromo; 0.3% carbn). Endurecido en aceite de 950C. Partculas de carburo en una matriz de martensita1500X.

Fig. 1.13 Acero inoxidable (18% cromo; 8% nquel; 1% carbn). Templado en aceite de 1100C. Cristales maclados de austenita 250X. Atacado con cloruro frrico acidulado.

Fig. 1.14 Acero inoxidable 18/8, templado en aceite de 1100C y recalentado luego a 650C por 1 hora. Carburos precipitados en los bordes del grano de austentita 250X. Atacado con cloruro frrico acidulado.

Prctica No. 1 Grupo: B Bronce al estao, aleacin metlica de cobre y estao

Equipo: 1B Fecha: 1-Sep-2009

Fig. 1.15 Bronce al estao, al 5%, condicin de vaciado. Solucin solida centrada. 100X. Amoniaco y perxido de hidrogeno.

Fig. 1.16 Bronce al estao, en condicin estirada en frio. Cristales mostrando las bandas de deformacin. 100X. Atacado con amoniaco y perxido de hidrogeno.

Fig. 1.17 Bronce al estao, 5% estirado en frio y luego recocido. Cristales duplicados, con los efectos de la deformacin, removidos por el recorrido. 100X. Atacados con amoniaco y perxido de hidrogeno.

Cobre, alta conductividad elctrica, ductilidad y maleabilidad

Fig. 1.18 Eutctico cobre-oxido de cobre en cobre electroltico fundido. Ligeramente atacado en forma qumica con bicromato de sodio. 500X.

Fig. 1.19 Partculas de oxido de cobre (puntos negros) en cobre electroltico forjado. Ligeramente atacadas en modo qumico en hidrxido de amonio y perxido de hidrogeno. 250X.

Fig. 1.20 100X.Reactivo de ataque: Hidrxido de amonio y Agua oxigenada .En la fotomicrografa se observa las fronteras de los granos de color entre caf oscuro y negro.

Prctica No. 1 Grupo: B

Equipo: 1B Fecha: 1-Sep-2009

Aluminio, til en ingeniera mecnica, por su baja densidad y su alta resistencia a la corrosin.

Fig. 1.20 Fotomicrografas de aleaciones de aluminio-silicio, izquierda 99.95% aluminio, centro Al con 8% silicio, derecha Al con 12% silicio

Fig. 1.21 Aluminio reciclado. Estado bruto de moldeo. Constituyente matriz ( + Fe3Al).

Prctica No. 1 Grupo: B VI.

Equipo: 1B Fecha: 1-Sep-2009

CULES SON LAS INVESTIGACIONES QUE PUEDEN REALIZARSE CON ESTE TIPO DE ENSAYE?

Este tipo de prcticas son de uso comn para el control de calidad y produccin en los procesos industriales, determinando el tamao de grano, forma y distribucin de varias fases e inclusiones que tienen gran efecto sobre las propiedades mecnicas del metal. La microestructura revelar el tratamiento mecnico y trmico del metal y bajo un conjunto de condiciones dadas podr predecirse su comportamiento esperado.

VII.

BIBLIOGRAFA

Sdney H. Avner. INTRODUCCIN A LA METALURGIA FSICA. McGraw Hill Traduccin 1era edicin Mxico 1996 547p. Raymond A. Higgins. INGENIERA METALRGICA TOMO 1. Compaa Editorial Continental, S.A., Mxico 1978 469p. http://www.uam.es/docencia/labvfmat/labvfmat/Anexo/microscopio_metalografi co.htm http://www.uam.es/docencia/labvfmat/labvfmat/Anexo/microscopio_metalografi co.htm http://www.esi2.us.es/IMM2/Pract-html/microsco.html http://sisbib.unmsm.edu.pe/BibVirtualData/publicaciones/geologia/vol9_n18/a02 .pdf http://www.uca.edu.sv/facultad/clases/ing/m210031/aceros.pdf