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CDU:

ABNT-Assocla~ao Brasllelra de Normas Tkhicas

‘_

) NB-1326 Controle estatistico para preven@io e detec@io de desvios da qualidade, durante processes de fabrica@o, por meio de grhficos
621.3:519.248 NOV./I 990

Procedimento

Registrada no INMETRO NBR 3 - Norma Brasileira coma NBR Registrada 11469

Origem: Projeto 03:056.02-016/88 CB-03 - Cornit& Brasileiro de Eletricidade CE-3:056.02 - Comissao de Estudo de Controle e Certificaoao da Qualidada NB-1326 Control chart techniques for prevention and detection and quality deviations when manufacturing Procedure Esta Norma foi baseada na BS 2564/l 985 Palavras-chave: Controle de qualidade. Estatistica 1 23 paginas

SUMhO
1 Objetivo 2 Dacumentos complementares 3 Definigbes 4 Generalidades 5 Graficos de controle por variaveis 6 Graficos de controte poratributos 7 Interpretagao dos greficos de controle 6 Capabilidade ANEXOA-Testesparedeterminag~odecausasespeciais em graficos de controle ANEXO B -Tab&s ANEXO C - Figures

2 Documentos
Na aplicagk TE-298

complementares
consultar:

desta Norma B necesskio - Estatistica Terminologia

BS 5703 Guide to data analysis and quality control usfng cusum charts and tabulations

3 Defini@es
OS termos tecnicos utiiizados de 3.1 a 3.3 e na TB-298. 3.1 Causa comum nesta Norma estao definidos

I Objetivo 1.1 Esta Norma destina-se a servirde guia para a utilizag& do controle estatistico do process0 par meio de gtificos.
1.2 Esta Norma se aplice para prevengao e detecgao de problemas da qualidade dumnte o processo de fabricag&o para apresenter informagks essenciais sobre a qualidade final e corn0 meio auxiliar pare o julgamsnto do estado de controle alcangado. Faz referencia, em panicular, aos metodos de coletar, ordenar, registrar e analisar OS dados de ensaios de uma forma planejada. pare preven@o e detecgao de desvios daqualidade causados por perturbagdes no processo.

Fatores, geralmente numerosos e de impotincia individual relativamente pequena, inerentes ao processo, que contribuem pare a varia@o desk processo de modo previsfvel. mas que nao aletam a sua uniformidade.

3.2 Cause especial
Fatores detect&eis e identific&eis que contribuem para a vanagao do processo de modo imprevisivel e afetam a sua uniformidade. 3.3 Capabilidade Capacidadedo conformidade do processo processo produzirunidades con a especificagao. doprodutoem

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NB-1326/1990

4 Generalidades
4.1 Todo processo apresenta variabilidade. desta variabilidade podem serde dois tipas: a) causas especiais; As causas

c) medidas

de propor@o (p); (u);

- fm@o defeituosa - defeitos d) medidas

par unidade

de quantidade de defeituosas de defeitos (c). quanta Bs medidas da (np);

b) causas comuns. nljmero 4.2 Urn processo 6 considerado sob controk estatistico quando todas as causas especiais fOram eliminadas, apresentando some& causas comuns. 4.3 Uma causa especial pode ser atribuida B falta de uniformidade dos insumos que COmpdem 0 processo, quais sejam, mat&a-prim, m%ade-obra, ndquina, m&do, meio ambiente. 4.4 0 controk estatistico do processo B uma t&znica baseada na teoria estatistica que tern corn0 objetivos pnncipais: a) eliminar as causes especlals; ntimero

4.10 OS grificos de controle, qualidade, podem ser: a) grifico de controk

par variGveis; par atributos.

b) gr&fico de controk

4.10.1 No gtifico de controk par vari&eis, OS pontos reglstrados representam as medidas de posi@o (mhdia ou mediana) e as medidas de disperseo (desvio-pad& ou amplitude). 4.10.2 No grsfico de controle par atributos, OS pontos registrados s&o medidas de propo@o (fra@o defeituosa ou defeitos par unidade) ou redidas de quantldade (ntim~ro de dekituosas ou ntimero de defeitos). 4.11 Esta Norma abrange de controk: a) par variSvei, - x s (mgdia e desvio-padrHo); OS seguintes tipos de grificos

b) mantero prcesso sob mntrOle estatistii detectand0 e eliminando o mais ripido pussivel novas causas especiais; c) evitar a produG& d) conhecer de itens defeituosos; do processo.

a variabilidade

4sOsdadosdesubgrupos devemserregistradosem urn grifico de controk que contern dois segmentos de retas parakks horizontais. que determinam OS limites de mntrok do processo, e urn segment0 de reta horizontal, que COTresponde ao valor m6dio. 4.6 OS limites de controle do processo (LCP) s80 determinados considerando-se 3 desvios-pad&o para o limite superior e -3 desvios-pad& para o limite inferior, em rela@o i mCdia das medidas estatisticas definidas nesta Norma (ver 4.9). 4.7 Urn ponto que czia fora dos limites de controle do prccesso i-&a a exkt&cia protivel de “ma cause especkl. 4.6 OS limites de controle, em geral, nho sS.o tiilizados para a verifica@o da qualidade individual da unidade do prcduto Eks tie aplkados mrmalmente g red& estztislica deumsubgrupodeunidades, sendoestamedidacalculada a partir de observa@?s feitas individualmente sobre as unidades do subgrupo. 4.9 As medidas a) medidas de estatisticas de posi@.o comumente utilizadas s&a:

x - R (media e amplitude); - X R (median?. b) par atributo, - p (fra@o np (ntimero - u (defeitos - c (ntimero defeituosa); de defeituosas); par unidade); de defeitos). e amplitude);

media (x); mediana b) medidas (xl;

4.12 Antes da introdu@o dos gr&ficos de controle, deve ser desenvolvido urn sistema para obten@o dos dados, que B a base para a cokta, o registro e a representa@o gr-hfica das informa@es no grifico de controk. HA cases, par exemplo, em que se toma necess%io tomar uma decis% entre combinar dada de diferentes fontes ou ent& trati-los em separado prevendo urn grefico de mntrok pam cada “m d&s. Para qualquerait&ia adotado, B neoe&rio que haja sempre compatibilidade entre o gtifico de controle e o processo de fabrica&. 4.13 Normalmente, OS subgrupos S&J retimdos de forma mcional em fun& do tempo. Entretanto, o m&do de gr8cos de controk pode seraplkado igualmente a divis&s de subgr~pos baseados em fatores t&nicos que afetem a fabricago, taiscomoo operador, a mequinaoua mat&iaprima.

de dispen&o (s);

desvio-padrao - amplitude (R);

25subgrupossw cessivos. quando os pontos registradas no grificodecontrole.vel para verikar a vfabilklade de mudanqa dos limites de especifica@o. o surgimento de uma causa especial pode ser facilmente identificado no subgrupo. as cause. altera@es bzisicas no processo de .17 OS valor% das medidas de qualidade obtidos de cadaumdossubgruposamostradoss8olan~ados nogrifioo assim que determinados.24 As informaqbes a respeito do es&do de controk estatistico podem ser desejadas par urn comprador do produto interessado em reduzir ou eliminar sua inspe@o realizada a cada remessa recebida. 4.22 Quando o estado de controle estatistico for atingido e parte do produto nao estiver em conformidade corn a especifica@o na camcteristica de qualidade controlada. caiam dentro dos limites de controle e desde que n. at6 que o processo esteja sujeito unicemente Bs varia@es de causacomum. pe!o conhecimento do instante da retirada do subgrupo. Nos cases onde existe a varia@o sistem&ica em fun@o do tempo. 4.s deste procedimento e corn a tomada de provld&c& para evitar novas ocorr&ncias.1.obtidosde. 6 precise tomar cuidado corn este tips de amostragem. A+ o process0 ter alcan$ado o estado de controle estatistico e rrelhorias terem sido feitas.19 Este continua ciclo de medi@o. d) fomece urna base confG. da qualidade $ inspe@o $ retifica$Bo 4. Entretanto.1.20 Quando o estado de controle estetistico for atingido. OS subgnrpos Go tomados corn b&ante freqi%ncia. Sefordesejado. os ensaios e. investiga@o e &o 6 a exprestio pr.21 Somente quando o processo atingiro estado de controle estatistico e assim permanecer. par exemplo. 4.Cópia não autorizada C6pia impressa pelo Sistema CENWIN NB-I 326/I 990 3 4. 5. s. pelo menos.23 A existsncia de urn estado apresenta as segulntes vantegens de controle pr&ticas: estatistico a) 6 possivel se preverem p&metros da popula@o baseando-senas informa~besobtidasemumcerto nljmero de itens da popula@o. 6 que se pode comparar a disperse0 do processo corn a toler3ncia de especifica@o do prod& Essa compara@o vai determinx a capabilidade do processo.14.?. pelo operador. j6 que a tinica varia@o existente 6 a inerente a ele. 4. 5 Grhficos de controle 5.30 ocorram as ressalvas previstes no Anexo A. afimdequeas vatia@es dentro de cada subgrupo tendam a refletir as variapk de ousts canuns. Corn isso. 4. 4. potenciais desta varia@ podem ser detectadas pela retiradade subgruposem intetvalos regulares.1. b) OS dados das arrnstras do produto sk mak mnfdveis para o ju!gamento da qualidade.sAfrt?qii&cia de retirada de ceda urn dos subgrupos depende das condi$&s do pr6prio processo e de consider+es de ordem econBmica. A&M+ da rep+% sistem6tic. c) proceder 100%. os limites de controledevemseratualizados periodicamente at& que o estado de controle estatistico seja atingido.tamb&m podemserfeitos ajustes no posicionamento do processo. usualmente s80 retiiados 25 subgrupos. conforme indtido em 4. &messes dadossso calculadasasestimativasdedispers~oede posi@odo processoquesgo utilizadas noc&lculodoslimites de controle (ver Tab& 1 do Anexo 6).15 Normalmente. quando urn grhfiw de controle 6 implantado.~. 5. a amostra. e) a aceita@o de urn produto pelo wmprador pode ser baseada corn seguraw M evid&cie do contmk do processo feito pelo fornecedor. 4. Ekes devem ser retirados de tal maneira que as varia@es havidas no processo corn o tempo sejam mpidamente detectadas. que 6 o objetivo do controle estatistico do process*.16 56 se pode concluir a existencia de urn estedo de controle estatistico. pode-se chegar a urn processocadavez mais prkimodoestedode controk estatistico.aquantidadedeitensdosubgruponaosejamenorque 3 e maior do que 10. n&o t possivel obter urn gnu mais alto de uniformidade no processo.1 Consideraqks gerais por varihels 5. Recomendase que. para o grifico de controle que utiliza a amplitude (R). 4. conseqtientemente.1 OS grificos de controle porvari&?is Go usados para controlar a varia@o do processo em cases onde a caracteristice sob investiga@o 6 uma quantidade mensutivel. c) a porcentagem de itens que cai dentro dos limites de especifica@o pode ser previste corn mais alto gmu de confianqa. b) alter. iwentes a0 pt6pti3 prccesso. oscustosdeinspe@o podem ser reduzidos.14 OS dados de cada subgrupo devem ser retirados seqijencialmentesobcondi~Bessimilares. pode-se aplicar uma das seguintes a@% corretivas: a) introduzir produ@o. a qua1 dew ser i&ntificzda inzd$tamente e eliminada. 4. Urn ponto que caia fora dos Iimites de controle B tornado coma indicador de uma prov6vel presenqa de uma causa especial.4 Na implanta@o do grifico de controle porvarikis. os limites de especifica@o.itica do intermirdvel melhoramento da eficiencia do processo e a qualidade do produto. isto 6. ap6s as provid6ncias de melhoria do processo terem sido realizadas.18 Corn novas dados obtidos. cada urn contendo cirxo unidades produzidas consecutivamente. a freqiGncia de retireda dos subgrupos tende a diminuir consideravelmente. mntrok.~ OS dados devem ser obtidos em subgrupos de tamanho cmstante.?& se possivel. pois esti sujeito & influkcia causada.

&is. no gr&fico da mediana.3 Compara#io vari. n$dia/amplitude e medianalamplitude..~. OS limites horizontais.t Algumas vezeso processoapresenta umatendgncia demudan~delocaliza@iodam~diaemfun~Hodotempo. Eks permitem detectar mais rapidamente o aparecimento de varia@es devido a causas especiais do que OS grificos de controk normais. onde o grgfifico pcde ser obtido par urn computadorou pek ptipria tiquina. o grifico de controle do desvio-padrao B mews sensivel em detectar varia@zs devido a causes especiais quando urn valor individual no subgrupo difere muito dos outros. 6 Graficos de controle par atributos 6. mais informa$es podem serobtidas nos gtificos de controle que identificam essa tend&n&a do processo. 5. galvaniza@o. esteja em estado de controk estatistico. A estimativa da linha de tend&% das medias do processo B feita narmalmente atrav& da reta de melhor ajuste entre OS valores das media5 registradas no gr&ico. podem-se determinar OS limites superior e inferior horizontais para controlar o processo. de defeituosas). em rela@o aos grdficos de Controle UsUaiS.4 Grhficos de controle cumulativos 5. fomecendo uma melhorconfigura@o do andarnento do pro-o.2 Na utiliza@o dos gL%cos de controk para media m&eis. de defeitos). OS valores individuais sao geralmente registrados graficamente e conseqtientemente a dispe&o dos valores individuais B mais facilmente percebida. porqw todos OS c&ulos podem ser programados e efetuados automaticamente.Cópia não autorizada C6pia 4 impressa pelo Sistema CENWIN NB-132611990 5. devido~simplicidadedec. etc. no lugar de aparelhos de medi@o. con-o porexemplo. devido a sua complexidade.. Entretanto.Slculo. 6. respectivamente. especialmznte quardo cada sutgrupo amosbado tern umtamanho maiorque 8. cujos dadosforam registrados IX) gr6fica de mntrok para tidias tiveis. 0 gr6fico de controle do desvio-padrso.) para OS ciclos do processo.) e as mediks minimas (x. seja pela prbpria natureza do processo (soldagem. 4.3 OS limites de controle atributos s&o calculados Anexo B.).4. pois n80 hi necessidade de se efetuarem c&ulos coma B o case 6.z. podendo corn isso reduzir a eficigncia do wntrole do processo. Emcontraposi@o.. Ck pontos registrados fora dos limties iwlinados indicam a exist&xia de uma varia@o de causa especial no processo. podemse obter meltwamentos na qualidade e produtividade reduzindo a quantidade de vezes que o process0 precka ser paralisado pam reajustes. 4. a estimativa da m&die do processo.2 Esta Norma abrange controk par atributos: a) grsfico p (fra@o b) gtifico c) gtifico d) gtifico np (ntimero u (defeitos c (ntimero quatro tipos de grificos de defeituosa).z. 524 0 movimento n-&dio da media (ti) C o valor &dio das difereyas entre as media mtiimas (%. kto 8. 5. mas sim de mostrar quando o processo precisa ser reajustado (VW Figura 4 do Anexo C). 6 menos eficaz que a obtida no gtifico da mbdia. principalmente quando o ntimero de itens de cada subgrupc amostrado for hlpar.fificos de cantrole por atributos tGm o seu maior campu de aplica@o nas Areas de fabrica@o onde os dados coktados nao sHo mensurados. n&e tipo de gtifico. ~2.~ i essential que o movimento &dio da mCdia (A?7 n80 seja maior que o exigido originalmente pelo processo para operar em niveis btimos. 5. tanto para a qualidade como para a produtividade. s. e.z. as &dk. calculada corn os dados de cada subgrupo. mntagem.. Desde que a medida de dispenbo.t.s entre OS gkficos de controle par OS grificos de controle cumulativos SSO utilizados para os casosondeprecisamsercontroladaspequenasmudan~as no processo.Sfico da amplitude.eAsFiguras 1. Quando esta situa@o &stir. OS dados devem ser coktados num ciclo do processo. enquanto que 0 gr. a sua maior complexidade no prepare e utiliza@o. tern-se tornadoo metodo mais comum de medida da dispersso. Akm disso.. seja porfatores econ~micos. 5.1 0 grsfico de controk da mediana B mais f&i1 de ser usado que o da m8dia.. C utilizado somente para processes automatizados. Corn0 resultado disso.2 GrBficos de controle pars mCdias mbveis da tidia. esti indiando quz o prccesso deve ser reajustado. existentes nas fClrmulas de c&ulo dos limites de controk. Entretanto. Entretanto.s OS limites de controk s80 calculados usando as f6rmuksdaTabek 1 doAnexo B. por unidade). ~.AsconstantesA. pintura. . B. Este tipo de grifico de controk B apresentado na literatura especializada e normas estrangeiras (por eremplo. B. C hors da fermmenta ser trocada e o grtifico de controk tamtim dew ser reiniciado. e as m&iias dos subgrupos registradas gfaficamente.a Ap& urn certo ntimero de ciclos de opera@o do processo. o intewalo entre os limites de controk para a mediana B maior do que pam a mhdia. o use de calibradores passa-nSo-passa para controlar caracteristicas de qualidade mensur.1 OS grS.1. Quando a mtdii m6vel do subgrupo cai forade urn desks limites de controk hotintak..s podem ser mmparadas oom OS limites inclinados e equidistant% da linha estimativa da tendS!ncia das medias do processo. o desvio-padrio B urn estimador mais eficiente da variabilidade do processo do que a ampkde.2e3doAnexoCmostramexemplosde grSficosdecontrok porvarieveisdam8dia/desvio-padr~o. na BS 5703). nao tsm a finalidadede iden~ificaraexistenciadeumavaria~~oddevido a uma causa especial. torna 0 se” camp de aplica@o restrito aos processo continues. pa exempto. sao dependentes da quantidade de itens existentes em cada subgrupo e encontram-se na Tab& 2 do Anexo B. Tais grgficos de cantrole ~80 conkcldos corn0 gtitflcos de contrcle para m&ix mirveis.x 0 g&co de controk da amplitude B mais ficil de ser usado que o do desvio-padtio que exige c~lculos mak complexes. Minimizando-se a tend&u% do rrwimento das &dias. entre trocas de ferramentas. para OS gr&fificos de controk por de acordo corn a Tab& 3 do 5. Dg e D.6vel. obtida do grifico da mediana.

para urn mesmo par de limites de controle.3. etc. entretanto. nZ~.o para serem eliminadas.1. qw a wiabiliiade do process0 aumentou ou diminuiu.o do processo e o Cpk que kva em considera@ a posi@o do processo. Casoestava~a~Boexceda25%. se as mkdias estiverem fora dos limites de controk. novas limites de contmle devem ser calculados corn base no tamanho deste nova subgrupo (ver Figura 5 do Anexo C). que o process0 apresenta desvio ao longo do tempo. ambos em rela@oaos limites deespecifica@o. Case esta varia@o exceda 25%.3 Se os pontos registrados graficamente estiverem dentro dos limites de controk mas a sua configura@o indicar uma tend&Ma a kv&los para fora dos limites de controle. desgaste de ferramentas nas ndquinas operatrizes. 6. Cadaumdelesdevesertambem obtido detalformaquesejaminimizadaa posslbllldadede vark+io devido a causas especiais dentro dele.5 0 gdfico de cantrole do ntimero de defeituosas (np) B similar ao grifico p. 6. tanto pata o process0 corno parao produto.1. Qualquer ajuste num process0 inSt&el pode aUmen!aro refuge produzido.1 A ocor@ncia das situa@es mostradas no Anexo A indica em principio.2 0 grifico relative B posi@o petmite determinar se a 7. mudanca de turno. Urn ponto fora dos limites de controk mostra que uma varia@o devido a causes especkis prwavelmente esti presente e “ma anelise da?. entretanto. podem ser benhficas. Nestas circunstGxias.1. b) cansa~o do operador. Entretanto. Esse par de grificos B analisado separada econjuntamente. mudanps na posi@o da media representam a exist&zia de vatia@es devido a causas comuns inerentes ao prCIprio processo. posi@o do process0 este mudando corn o tempo.1 No case dos gtificos de controle par vari&veis. de 7 InterpretqCo doe greficos de controle 7.C6pia impressa pelo Sistema CENWIN Cópia não autorizada NB-1326/1990 5 6. Recomenda-se que. etc.eliminandoacausaespecial que provocou a vari+o no processo. A tinica diferenp C que OS tamanhos dos subgrupos precisam ser constanks. dew ser verificada a possibilidade de haver inftu&ncia de: a) &lculo ou registro g&w errado do limik de controk oudopontoqw representaavari~veldedispeweo nun. em principio. mudansa de two. b) trocas de operador. desgaste dos instrumentos de medi$Bo ou troca de inspetor. a tinica diferensa B que os tamanhos dos subgrupos precisam ser constante?. n80 haja uma varia@o do tamanho do subgrupo an-w&ado maior do que 25% em rela@o ao tamanho do subgrupo utilizado para 0 cSlcul0 do?. E precise antes restabekcer o estadodecontroieestatistico. Para isso. hG uma indica+o definida da exist&xk de vark@es devkto a causas especiais e que o processo esti inst&el. isto&. Estes valores 30 lanGados em dois grdficos separados (de prefe@ncia numa mema folha). B precise que o valor da disperse0 de cada urn dos subgrupos anwstrados esteja dentro dos limitesde contmle. instrumentos de medi@o ou de inspetor. 7. s80 obtidos dois valores de cada subgrupo: urn de posi@o (X ou x) e outro de dispersao (s ou R). 8 Capabilidade 6. quando calculadacom baseemdadosobtidos do processo no estado de controk estatistico durante urn longo period0 de tempo. entretanto deve serve&ada a possibilidade de serem conseqU&cia de: a) c&ulo ou registro gtifico errado do limiti de mntmk ou do ponto que representa a vari6vel de posi@o num subgrupo amostrado.1 0 grdfico de controk relative A dispersao permite verificar se a dispersso do process0 6 aceita corn0 sendo estivel. e devem ser investigadas. pa exemplo. recomenda-se adotar o grefico de m&d& m6veis vista na Figura 4 do Anexo C. mas para manter a melhoria conseguida..4 0 grifico de controk dafra@o defeituosa (p) B usado pra cmtrokr o prccesso onde exkte varia@o do tamanho dossubgruposamostradosequandoforavaliadaafra~o defeitwsa.1. afimde se auxiliaradedu@o de quando as variafles devido a causas especiais estio ou MO afetando o processo. limites de controle. 6. Como no grifico (p). 7. 7. Se o processo esti em estado de mntrole estatistioo. que as medidasdedispers&ode todos os subgrupos estejam em urn estado de controk estatistico. para urn mesmo par de limites de controle. ~~30 se dew fazer urn ajuste na posi@o do processo.3 A exist&Ma de varia@es devido a causas especiais pode ser identificada pelos testes indicados no Anexo A 7.1. No case de tend&&s sistendticas nun-a dire& crescente ou deaexrente corn.subgrupo amostrado. afimderestabeleceroestadodecontrole estatistico do processo.7 0 grifico de controk do nlimero de defeitos (c) B similar ao grifico de controk (u). Neste grsfico B registrado o nljmero total de defeitos encontrados em cada subgrupo amostrado (ver Figura 6 do Anexo C). N&e grifico B registrado o mjmero de defeituosasencontrado em cada subgrupo amostrado (ver Figura 6 do Anexo C). “80 haja uma varia@o do tamanho do subgrupo amostrado maior do que 25% em rela@o ao tamanho do subgrupc utilizado para o c&ulo dos limites de controle. 7. causas dew ser feita imediatamente. . os subgruposamostradosdevemserretiradosdetalmaneira queasvarfa@es havidasnoprocessocomotemposejam rapidamentedetectadas. Algumas configura@es. 6. novoslimitesdecontrok devem ser calculados corn base no tamanho d&e nova subgrupo (ver Figura 7 do Anexo C). 6. recomenda-se que.x? OS pontosfora dos limites de controle dasvari&veis de dispersjo (s ou R) indicam. dew serf&a uma investiga@o dascausasdessa tendGncia.1.6 Como nos gr?ificos de controk por variiveis.6 0 gr&fico de controk do ntimero de defeitos por unidade (u) B usado paracontrolaro process0 onde existe varia~~odotamanhodossubgruposequandoforavaliado o n6mero de defeitos par unidade.2 Acapabilidade do processo 8 medida par meio de dois indices: o Cp que kva em considera@o a dispen$.1 Acapabilidadedo prowssoB medidapelacompara@o do desempenhir do process0 corn as esp&fiiqZes exigidas do produto.3.

e @as seguintes f&mules: limite superior da especificas& dispersgo 2 ? .1 A porcentegem de produtos sendo produzidos fore dos limites de especifica$Bo pode ser determinada pelo fator conform Tab& 4 do Anexo B. a probabilidade da porcentagem de prod&s fore do limite de especifica@o pode serobtida na Tabela 4 do Anexo C. 8. n80 consideradas nestes estudos. o que n80 permite predizer o desempenho do processo a longo prazo. zj= IANEXOS .esaolongodotempo.o z= disperseo 2 Onde: Z.limite inferior da especifica@. 8. ele s6 pode ser medidocommaiorprecistioqilandoj6. Z.x = x = media das media trades considerados bilidade k 2 j=l x dos subgrupos amosno estudo de cape- Xi k k = nlimero de subgrupos amostrados 8. 8.a. 6.C6pia Cópia não autorizada impressa pelo Sistema CENWIN 6 NB-1326/1990 R3 0 irdice de cap&Made do ~casso (Cp) 6 determiwx+z pela raz&o do valorda amplitude entre OS limites de espe cfiica@o pare a dispenHo do processo (ver Figura 9 do Anexo C).4. feitos em uma miquina nova ou processo que n80 produziu ainda dados suficientes pare determinarse ele esti ou Go em estado de con!role estatistico. a. o processo deveria ester centrado no valor nominal da espectiica@o.3 0 menor dos dois fatores Z. o indice de capabilidade potential 6 estimado a grosso modo e calculado da mesma forma que o indice de capabilidade do processo.afimdepermitirasvaria~t. pare uma determinada camcteristica. em geral. As informaybes pare esses estudos Go obtidas em curto intervalo de tempo ou em auditorias. seo processo t&rum indice de capabilidade maior que 1 e a sue media estivet descentralizada. = = fator Z pare o limlte superior de espzcrfica~o f&or Z pare o limite inferior da especrfii@o . Adisperstio do processo 6 normalmente fixada em seis vezes o desvio-padrso. B urn indice de capabilidade (Cpk) que relaciona a capabilidade do processo ao posicionamento do processo (ver Figura 9 do Anexo C).seestiveroperando corn o processo em estado de controle estatistico. Pore&e motive.4 Em geral. Entretento. Entretanto.5 Quando se est6 definindo a libera@o de urn processo ou uma m%quirw pare produ@o de urn determinado prodtio.2 Se o fator Z for menor que 1. o indice de capabilidade potential i: geralmente fixado em 1.4.6 OS estudos de cap&Ii&de potential s20. Emcontraposi@o. isto pode n80 ser economicamente vi&e1 se OS estudos de capabilidade revelerem urn indice de capabilidade do processo menor que 1.33. o processo dew ser ajustado no valor nominal da especifica@o a fim de evitar o refuge.

d) sugere-sequeos testes 1. LscK----px ------ - LSC r - - - - ----_ B A \ --------_ X LIC Teste 1 .5. pam a aplik+ dcs testes.kel sob estudo (ver teste 1 deste Anexo). para 0 provdvel de ocoiier controle estatistico. a forma mais usual de detectar a ocnrr&wia de causas especiais B 0 registro de urn ponto fora do par de limites determinados a uma distkcia de +3 desvios-pad& da vari. outras formas de detecti-las. ester testes rmstram q uando as observa@es de urn subgrupo foram tomadas de 2 (ou mais) fontes corn medias diferentes. OS analistas pam qualquer padGo de pontos infl&ncias de causas especiais ser tomados come deem estarakrtas que pxsa indicar no processo.2.7eEdevemseraplicadosatodoogrefico. acima e abaixo da linha central. cadazonatendo “malarguradeo.Testes para determinaqb de causes especlais em gr&ficos de controle A-l Como indicado em 4. i) a presen$a de urn esti sob controle ponto 6 o iiltimo (apenas 1. deve-se observar que: a) estes testes sS.Urn ponto al&m da Zona A Teste 2 .596.4. can0 no t&e 1. atravk uma cruz abaixo ou acima do ljltimo ponto). confom mostrado nos testes 2 a 8 desk Anexo. as intermediGirias de B e as mais pr6ximas de C.5 e 6 devem ser aplicados 8s me&ides superiore inferior do grdfico separadamente. Ao consultar OS testes. f) OS testes 7 e 8 sao testes diagnkticos quanta B estratificar$o e Go muito riteis quando se esti implantando urn gkfico de controle. entretanto nenhum ponto dew ser marcado par mas de “ma cruz. A-2 Hd.o tirades de uma fonte de cada vez. a chance de obter incorretamente urn sinal da presen~a de uma causa especial B menor que 0. isto aumenta a probabilidade de urn f&o sinal para aproxlmadamente 2%. OS testes 1. “x” indica que o processo nao estatistico. o teste 7 wage quando as observa@es no subgrupo sempre vGm de ambas as font+ enquantoq”eotesteBreagequandoossubgrupos sS. para cada urn destes testes.as zones ma& afastadas da linha central Go charcadas de A. entretanto. que o de uma seqikcia de pontos tcste 1) que seria muito pouco se o processo estivesse sob j) embora estes testes possam urn con]unto b&&o.o aplickeis a greficos de m&as (X). OS testes3.C6pia impressa NB-1326/1990 pelo Sistema Cópia não autorizada CENWIN 7 ANEXO A . a probabilidade conjunta de obter urn sinal f&o a partirde urn ou mais desses testes B de aproximadamente 1%: e) sugere-se que 0s quatro prim&a testes sejam acrescidos dos testes 5 e 6 quando foreconomicamente desejkel obter urn aviso mais cede. g) sempre que a exlst&ncia de umacausa especial sinalirada poi urn teste. ou melhor. for M de h) OS pontos podem contribuir para mais de urn t&e. isto dew ser indicado grefico (por exemplo.2.3e4sejamaplicados deformarotineirapelapessoaqueestiverplotando o grifico. o gr?&a C diikftio igt&rente em6zo”as. c) quando “m processo este em estado de controle estatistico. b) OS limites de controle superior e inferior estFra dispostos a 317.Now pontos seguidos na Zona C . pressup&-se uma distribui@o normal.

Dois entre trk pontos Zona A ou al&m seguidos na Teste 6 .Quatro entre cinco Zona B ou al&m pontos seguidas na LSC _-------- x LIC --------- Teste 7 .Vito pontos seguidos em ambos OS lsdos da llnha central sem nenhum “a Mona C IANEXO B .Seis pontos ascendentes seguidos continuamente ou descendentes Teste 4 .Quinze pontos seguldos “a Zona C (abalxo ou aclma da linha central) Teste 8 .Quatorze pontos alternativamente para baixo seguidos para clma e -- -- -- Teste 5 .C6pia 0 Cópia não autorizada impressa pelo Sistema CENWIN NB-1326/1990 LSC _-------- LIC --------- -------__ Teste 3 .

s LSC = x=+ Ad . -A.Fhmulas usadas para 05 calculus dos limites de controle Limites par variiveis Estimador de variabilidade do processo T Medidas posi@o de controle Medidas disperse% de de x-s LIC=:-A.C6pia impressa NB-1326/1990 pelo Sistema Cópia não autorizada CENWIN 9 ANEXO B -Tab&s Tab& Gtifico e controle 1 . LIC = limite inferior de controle.s LSC=B. .R LIC = .& i-R LSC=x=+A.S k-s 2 Si 5= k LIc=:-A. 6 x-R PI= - z R) k LSC=K+&k LIC LIC = . 6 LSC = D. de subgrupos: LX = limite superior de controle. 6 b) k = mimer. -A* R = D.s LIC=B.

Fatores usados nos c&x~los dos limltes de controle porvari6veis Fatores .Cópia não autorizada C6pia ICI impressa pelo Sistema CENWIN NE-1326/1990 Tab& 2 .

\r il mntrole6 iguaj azero. Nes!e CRSO. n Nlimero de defeitos Grhfico c c CT k iu NOtas: Algumas VOLE. d) h= k e) k = nhwo 1 i-3 . noczilculodolimite de defeitos de defeituosas de unidades infetiordecontrole6abtidoum enmntrado enmntrado exktentes em cada subgrupo.4culo. em cada subgrupo: em cada subgrupo v%t negative. . o limite inferiorde a) c = mimero b) d = mhero c) n = nchero Yi “. amostrado.I= n u+3 - u \i 2 c.Fbrmulas usadas faara OS c~lculos dos limites de controle par atributos Tips de gtifico de controk FraGZ!O defeituosa GrAfico P Valor registrado no g rifico Limit% de controle Inferior’” I d p= ” X di rj= X:nl p-3 Pm \i il Nlimero de defeituosas GrAfico np Z di nb= k Nlimero de defeitos Par unidade Grifico u c $.C6pia impressa Cópia não autorizada pelo Sistema CENWIN NB-I 326/1990 11 Tabela 3 . de subgrupos amostrados considerado para o c. = m&da dos tamanhas das subgrupos amostiados e considerada para o &icu!o.

l 26.0-l 45.4 9.2 12.5 086 0.os 44.07 41.1 0.1 03’5 0.4 4.0 6.o 38.s 687 3.3 5.4 2.00 50.1 0.Porcentagem 0.7 23.03 46.5 20.4 I.6 22.5 0.4 38 13 02 O.7 7.1 1.9 IO.o 0.9 25. 0.2 0.s 3.1 1.Cópia não autorizada C6pia impressa pelo Sistema CENWIN 12 NB-132611990 Tab& Z8 0” 2.3 0.2 0.4 28.9 31.4 0.1 8.6 0.7 30.4 18.02 47.5 16.1 w 1.1 02 0.4 11.7 69 5.4 0.8 37.8 24.j o.7 2.!2 4.4 7.9 de unldades fora do limite superior ou inferior da especifica@o 0.9 1.9 I.4 34.6 15.5 0.4 0.Ol 48.s ‘%.7 03 0.i 7.: to 0.7 0.7 i4.1 0.2 33.1 0.i 12.2 0.8 0.i w 0.06 42.3 0.l IAN EXO c .O 2.5 0.2 a1 02 0.1 0.6 I.7 I3 0.4 32.8 Of3 56 2.6 IO.9 !3.8 W 0.4 53 3.1 4 .2 27.6 0.4 Ll 0.4 19.3 2.I 2.5 20.6 21.6 35.4 02 0.4 17.09 39.5 29.5 16.7 0.5 0.08 40.0 0.a 14.

. . .64 Limite inferior de controle (LICs = B. .441 Limile inferior de controle (LIE.= i-A. . s&o obtidos Flgura “a Tab& 1 - 2.. . . . . . e 6.2) '1 s 3. . 1 O. . . . . .2. . Limite superisr de controle (LSCs = 6.. .82 k = 25 subgrupos 27 7 26 - x Limite superior de controle (LSCi = itA. _.. . t.%)= 126. . .:) = (21. . Grkfico de controle par varikeis (x . . . ..s) . . s I = (3. . .. . .431 . H= 1. . .C6pia impressa Cópia não autorizada pelo Sistema CENWIN NB-I 326/I 990 2x = k = 23. s)= (01 I Nota: OS valores de A. . B. . ..

GrAflco de controlc par vari6veis (x. .82 El = (21.. R) . R=4.391 .1326/1990 z. B D. Go obtidos “a TaMa 2. ii)= (0) Figura 2 . . Limite inferior de controle ILICR = D.C6pia 14 Cópia não autorizada impressa pelo Sistema CENWIN NB. X= xx ~ k = 23. D.44 OJ Nota: OS valores de 4. .44 k k = 25 subgrupos 27 x 26 Limite superior de controle lLSCX =+A.. x:23.A.82 k= - XR = 4.261 Limite superior de cantrole (LSCR= D4 RI = (9.38) V Limite inferior de controle I LICrX = 1 . .i?i i 126. .

Cópia não autorizada .

C6pia impressa Cópia não autorizada pelo Sistema CENWIN 16 NB-I 326/l 990 I 0 pracesso precisa ser reajustado quando il ultrapassa LSCX Linha da tendencia VariaFdo devido a urna couso especial -1 ciclo do processo I Process0 reajustodo.5.AX minima (xmin.Axn m= nljmero de ciclos considerados Figure 4 .R) corn mhdias mbveis . . os limites precisam ser reDosicionados. A estd m tabela no Tabela 2 Ax= Ax + Ax +.l e a media cada ciclo do processo. R 6 a amplitude m8dia.5h‘ii R -0.Gr6fico de controle por varihels (s. LSCT( ~Ic’ji = x+A =%-A R +0.) em TI = difer&a entre a media mdxima (51 m6x. .

C6pia impressa Cópia não autorizada pelo Sistema CENWIN NE-1326/1990 17 Fra@o defeituosa (p) ni .

Cópia não autorizada C6pia 18 impressa pelo Sistema CENWIN NB-1326/1990 defeituosa ni di 3w 6 0.Gkfico dos subgrupos de controle par atrlbutos .0225 8 13 9 400 9 0.Fra+o defeltuosa (p) .0200 300 7 9 0.06 1 SeqKmia Flgura 5 .

C6pia impressa Cópia não autorizada pelo Sistema CENWIN NB-I 326/l 990 19 Ntimero de defeituosas (np) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 ?2 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 Seqihcia dos ‘Subgrupos Figura 6 .Gr6fico de controle par atributos .Ntimero de defeituosas (np) .

Cópia não autorizada C6pia impressa pelo Sistema CENWIN 20 N&1326/1990 /continua .

C6pia NB-I Cópia não autorizada impressa pelo Sistema CENWIN 21 326/l 990 22 23 24 25 O* 4 2 3 4 5 6 7 8 9 1044 4243144516471819~22122232425 Seqiikcia Flgure 7 .Grilfico de controle dos subgrupos .N&mero de defeitos par unidade (u) par atributos .

2 3 4 5 6 7 8 9 IO 11 12 13 14 15 76 17 38 19 20 21 22 23 24 25 Seqiihcia dos subgrupos Flgura 8 .C6pia Cópia não autorizada impressa pelo Sistema CENWIN 22 NB-1326/1990 Nlimero de defeitos (c) Nota: k = nLinler0 de *“bgr”pos.Griflco de controle par atrlbutos . 40. 607 60 . c 20 * .Nlimero de defeitos (c) .

indices = Cpk de capabilidade do processo .LIE do processo <’ cp- Dispersao do processo Posicionamento LIE I do process0 LS E I I I I =x LIE DispersZIo 2 I LSE-i j I I I ) Dispersfio I 2 Z.= LSED isp/2 ZIZs I 1 z. = =x-LIE Disp/2 =x zs < Figura 9 .Cópia não autorizada C6pia impressa pelo Sistema CENWIN 23 NB-132611990 Tolerrincia I especificada I I DispersEo do processo I Process0 LSE - capaz LIE Y cp= Process0 LSE Dispersh incapaz .

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