Petunjuk Teknis Kalibrasi Mikrometer

A. Praba Drijarkara ver. 0.2 27/05/2006

1
1.1

Pendahuluan
Tujuan dibuatnya Petunjuk Teknis Kalibrasi ini adalah untuk mengharmoniskan pelaksanaan kalibrasi alat ukur jenis mikrometer luar, mikrometer dalam dan kepala mikrometer yang dilakukan oleh laboratorium yang diakreditasi oleh Komite Akreditasi Nasional. Metode kalibrasi yang diuraikan dalam Petunjuk ini didasarkan pada standar JIS B 7502 khususnya Klausul 10.1, 10.2 dan 10.3.

1.2

2
2.1

Lingkup
Petunjuk ini menguraikan prosedur metode kalibrasi mikrometer luar (outside micrometer), mikrometer dalam (inside micrometer) dan kepala mikrometer (micrometer head), meliputi: pengukuran kerataan muka ukur (mikrometer luar dan kepala mikrometer), pengukuran kesejajaran muka ukur (mikrometer luar), pemeriksaan kesalahan penunjukan mikrometer (mikrometer luar, mikrometer dalam dan kepala mikrometer).

2.1.1 2.1.2 2.1.3

3
3.1

Definisi
Mikrometer luar Alat ukur yang dapat mengukur dimensi luar dengan cara membaca jarak antara dua muka ukur sejajar yang berhadapan, yaitu sebuah muka ukur tetap yang terpasang pada satu sisi rangka berbentuk U, dan sebuah muka ukur lainnya yang terletak pada ujung spindle yang dapat bergerak tegak lurus terhadap muka ukur, dan dilengkapi dengan sleeve dan thimble yang mempunyai graduasi yang sesuai dengan pergerakan spindle. Mikrometer dalam jenis tubular (mikrometer dalam dua-titik) Alat ukur yang dapat mengukur dimensi dalam dengan cara membaca jarak antara dua muka ukur sferis yang saling membelakangi, yaitu sebuah muka ukur tetap yang terpasang pada batang utama dan sebuah muka ukur lainnya yang terletak pada ujung spindle yang dapat bergerak searah dengan sumbunya, dan dilengkapi dengan sleeve dan thimble yang mempunyai graduasi yang sesuai dengan pergerakan spindle. Kepala mikrometer Alat ukur yang dapat mengukur pergerakan spindle-nya yang bergerak searah dengan sumbunya, dan dilengkapi dengan sleeve dan thimble yang mempunyai graduasi yang sesuai dengan pergerakan spindle serta dilengkapi bagian dudukan. Kesalahan penunjukan sesungguhnya. Nilai penunjukan mikrometer dikurangi nilai

3.2

3.3

3.4 3.5

Setting bar Batang logam dengan dua permukaan rata sejajar, atau dua permukaan sferis, dengan panjang tertentu di antara kedua permukaannya,

Halaman 1 dari 8

Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.0.2

25-05-2006

2 Persyaratan Kalibrasi Kalibrasi dilakukan dalam suhu 20 °C ± 1 °C dan kelembaban relatif 55 % ± 10 % Untuk pemeriksaan digunakan optical flat atau optical parallel dengan kerataan kurang dari 0. atau dengan sebuah balok ukur yang dipindah-pindah posisinya. Mikrometer Luar [gambar mikrometer dalam] Gambar 2.1 µm.2 5. Halaman 2 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.yang digunakan untuk mengatur posisi pengukuran minimum sebuah mikrometer luar yang nilai pengukuran minimumnya lebih besar dari 0 mm. Pengukuran kesejajaran muka ukur dapat dilakukan dengan dua cara: dengan perbandingan terhadap standar kesejajaran (optical parallel).1 6.2. Kepala Mikrometer 5 5.1.1 Komponen Nama bagian-bagian utama mikrometer diuraikan dalam Gambar 4.3 Landasan Spindle Penjepit Sleeve 0 5 10 5 0 45 40 Muka-muka ukur Garis fidusial Thimble Rangka Pelat isolator Ratchet Gambar 1.1 Prinsip Kalibrasi Pengukuran kerataan muka ukur dilakukan dengan perbandingan terhadap sebuah standar kerataan optis (optical flat) dengan menggunakan prinsip interferensi cahaya. Mikrometer Dalam [gambar kepala mikrometer] Gambar 3.3 6 6.0. Pengukuran kesalahan penunjukan mikrometer dilakukan perbandingan terhadap seperangkat balok ukur (gauge block). dengan 5. 4 4. dan 4.2 25-05-2006 . 4.

1 µm dan kesejajaran kurang dari 0. 7.2. 2 Balok ukur sebaiknya diletakkan sedemikian sehingga titik tengah balok ukur berhimpit dengan titik tengah muka ukur mikrometer.2 7.1 dengan beberapa ukuran balok ukur atau gabungan balok ukur. Hitung selisih antara penunjukan mikrometer dengan panjang balok ukur. 7.1.1 Menggunakan Balok Ukur Letakkan sebuah balok ukur di tengah kedua muka ukur dan putar ratchet. Ukuran balok ukur atau gabungan balok ukur yang digunakan harus dipilih agar dapat mengukur kesalahan yang terjadi bukan hanya pada posisi ukur yang merupakan kelipatan bilangan bulat dari putaran spindle.3.4 7 7.1.2.2. Hitung banyaknya garis interferensi merah yang timbul dari cahaya putih pada permukaan kontak muka ukur. Lakukan pengukuran pada Klausul 7. atau gabungan sebuah balok ukur yang diapit dua optical parallel. Lakukan pemeriksaan kerataan pada kedua muka ukur.3. Untuk pengukuran kesalahan penunjukan digunakan balok ukur Kelas 0 atau Kelasi 1 (ISO 3650) atau yang setara.3 µm. 7. Letakkan balok ukur atau gabungan balok ukur di antara kedua muka ukur.3 7.2 µm.1 Prosedur Kalibrasi Pengukuran kerataan muka ukur mikrometer luar dan mikrometer kepala Letakkan sebuah optical flat atau optical parallel pada permukaan ukur.6.2 7. dengan posisi balok ukur di empat tepi muka ukur. Sebagai contoh. lalu putar ratchet hingga muka ukur berhimpit dengan balok ukur2. Hitung banyaknya garis interferensi merah yang timbul dari cahaya putih pada permukaan kontak muka ukur spindle. 6. masing-masing terpaut ¼ putaran spindle.2 1 Pengaturan posisi ukur minimum dapat dilakukan dengan acuan setting bar ataupun balok ukur. Lihat Klausul 11 mengenai pelaporan.2.1. Jika pengukuran dilakukan berulang.3.3 Untuk pemeriksaan kesejajaran digunakan optical parallel dengan keratann kurang dari 0. posisi balok ukur terhadap muka ukur mikrometer harus kira-kira sama.1 Pengukuran kesejajaran muka ukur mikrometer luar Menggunakan Optical Parallel Letakkan sebuah optical parallel.2 7.1 7. Hitung selisih pembacaan yang terbesar. Kemudian putar ratchet hingga muka ukur spindle merapat pada permukaan optical flat.2. dan/atau gauge block Kelas 0 atau Kelas 1 (ISO3650) atau yang setara. lakukan pembacaan.2. balok ukur 7.0. Satu garis merah dapat diasumsikan sama dengan 0.2 25-05-2006 . melainkan juga posisi-posisi di antaranya.1.1 7. Lakukan pemeriksaan di atas sedikitnya pada empat nilai ukur. Atur posisi sleeve agar penunjukannya sesuai dengan nilai ukur tersebut. pada muka ukur tetap sedemikian sehingga pola interferensi menjadi satu warna saja atau timbul pola kurva tertutup. Halaman 3 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.2 7.1 Pengukuran kesalahan penunjukan mikrometer luar Putar ratchet hingga spindle berada pada posisi ukur terkecil1. Berikutnya lakukan hal yang sama.

2] Halaman 4 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v. 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 uc E =u  Lu L S L S⋅S⋅u  L S⋅S⋅u  u  L Du L W u L G  2 [8. 8 8. 10.3.1 Pengukuran kesalahan penunjukan mikrometer dalam Susun balok ukur atau gabungan balok ukur dengan nilai nominal sama dengan nilai ukur terkecil mikrometer dalam di antara dua jaw tipe rata menggunakan penjepit balok ukur.7 mm.1 Pengukuran kesalahan penunjukan mikrometer kepala Pasangkan mikrometer kepala pada rangka kalibrasi.1 8. 7.4. 17. 12.3 mm.1.9 mm.0. Lihat Klausul 7.1. 15 mm. lakukan penyetelan nol. 5. ketidakpastian baku gabungan dalam nilai kesalahan penunjukan dapat dihitung dengan Persamaan 8.1 Evaluasi Ketidakpastian Pengukuran Model Matematis Kesalahan penunjukan mikrometer dihitung dengan model seperti pada Persamaan 8.5.1.2 mm. 22.2 Berdasarkan model matematis pada Persamaan 8.atau gabungan balok ukur dengan nilai nominal 2.2 untuk menentukan panjang balok ukur yang digunakan.6 mm.8 mm 25 mm dapat digunakan.5 7. 7.1.2 untuk menentukan panjang balok ukur yang digunakan. Lakukan pengukuran kesalahan penunjukan dengan menambahkan balok-balok ukur dan menghitung selisih penunjukan mikrometer dalam dan panjang balok ukur. Lakukan pengaturan posisi nol mikrometer dalam menggunakan susunan balok ukur tersebut.1]  : Selisih koefisien muai antara mikrometer dan balok ukur S : K  : Selisih suhu antara mikrometer dan balok ukur L D : Drift nilai koreksi balok ukur LW : Koreksi akibat wringing balok ukur LG : Koreksi akibat ketidaksempurnaan geometrik muka ukur mikrometer 8.3.2. 7.1 mm.4 7. Lihat Klausul 7. 20. E=L−L SL S S⋅  S⋅−L D−L W −LG E : Kesalahan Penunjukan Mikrometer L : Penunjukan Mikrometer L S : Panjang nominal balok ukur ditambah nilai koreksi balok ukur S : [8.5 mm. Putar ratchet sehingga muka ukur spindle berhimpit dengan bola baja. Lakukan pengukuran kesalahan penunjukan dengan menambahkan balok-balok ukur di antara bola baja dan muka ukur spindle dan menghitung selisih penunjukan mikrometer kepala dan panjang balok ukur.2 25-05-2006 .

u L=u L repu L rnd  s uL rep = n uL rep  : ketidakpastian dari sebaran nilai pengukuran berulang 2 2 2 uL rnd = a : setengah dari nilai terkecil yang dapat dibaca dari skala penunjukan mikrometer.2 dapat dievaluasi menurut panduan dalam Tabel 8 1.8.1 Evaluasi sumber-sumber ketidakpastian Sumber-sumber ketidakpastian dalam Persamaan 8.0.2 25-05-2006 . Evaluasi Sumber-sumber ketidakpastian Variabel Estimasi nilai Estimasi ketidakpastian L L=  L  : Rata-rata penunjukan mikrometer dari pengukuran L berulang s : simpangan baku n : banyaknya pengukuran pada titik ukur yang dievaluasi Pengukuran berulang untuk mengevaluasi sebaran nilai dapat dilakukan pada salah satu titik ukur dan sebaiknya dilakukan 10 kali pada titik tersebut. Tabel 8 1.2 8.2. nilai a bisa saja lebih kecil dari ½ divisi skala terkecil mikrometer. Pada mikrometer dengan skala analog tanpa nonius. S S=T mikrometer T balok ukur/2 uS  tidak perlu diestimasi karena koefisien sensitivitasnya nol. Nilai  S dapat diestimasi dari rata-rata suhu ruang di titik pengukuran pada saat pengukuran Halaman 5 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v. uL rnd  : ketidakpastian akibat pembulatan pada penunjukan mikrometer a 3 LS L S=L SN  L S L SN : Nilai nominal balok ukur  L S : Nilai koreksi balok ukur u2 L S  x =∑ u2 L Si  i L S  x  : panjang balok ukur untuk mengukur kesalahan penunjukan mikrometer pada titik ukur ke-x i : banyaknya balok ukur yang digabungkan untuk mendapatkan nilai nominal L S  x  uL Si  : ketidakpastian baku nilai koreksi tiap-tiap balok ukur yang digunakan uL S  diestimasi dari nilai terbesar di antara nilai-nilai uL S x .

3 uL D = k⋅0. misalnya u= 0. Jika tidak ada riwayat kalibrasi. atau 3 0.0005⋅Ls⋅Y µm µm untuk balok ukur Kelas 1.0.5 µm 3 Halaman 6 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.00025⋅Ls⋅Y uL D = µm untuk balok ukur Kelas 0. misalnya uL G = 0. Misalnya jika mikrometer dan balok ukur terbuat dari baja.050. Jika L D dihitung dari riwayat kalibrasi.05 =  2 LS : panjang nominal balok ukur dalam mm Y : jangka waktu sejak kalibrasi balok ukur terakhir dalam tahun LW LW =0 Dapat diestimasi dari perkiraan.Variabel Estimasi nilai terbuat dari bahan yang sama) Estimasi ketidakpastian  S =0 (diasumsikan bahwa mikrometer dan balok ukur 2×10−6 Dapat diestimasi dari perkiraan. Jika ada riwayat kalibrasi.2 °C 3 dapat dihitung dari LD L D dapat dihitung dari regresi. balok ukur. Jika tidak ada riwayat kalibrasi: 0. uL D  ketidakpastian regresi pada grafik riwayat kalibrasi. 3 Nilai rata-rata koefisien muai bahan pembuat mikrometer dan uS  tidak perlu diestimasi karena koefisien sensitivitasnya nol. diasumsikan L D=0 . S =11. misalnya u= /°C . misalnya uL W k : banyaknya wringing atau sambungan balok ukur 3 µm LG LG =0 Dapat diestimasi dari perkiraan.5 x 10-6/ °C dikondisikan cukup lama sehingga mempunyai suhu yang sama)  =0 (diasumsikan bahwa mikrometer dan balok ukur telah Dapat diestimasi dari perkiraan.020.2 25-05-2006 .

1994 ISO. 1993 Halaman 7 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v. laporan harus menyebutkan jenis dan identitas alat yang dipakai untuk menentukan posisi nilai ukur terkecil (misalnya setting bar atau balok ukur). Hasil pengukuran kesalahan penunjukan dapat ditampilkan sebagai nilai kesalahan pengukuran.1 Laporan Kalibrasi Jika nilai hasil pengukuran kerataan atau kesejajaran muka ukur melebihi batas yang diijinkan dalam standar spesifikasi yang diacu.2 25-05-2006 .3 10 10. laporan kalibrasi sebaiknya mencantumkan hasil pengukuran kerataan dan kesejajaran muka ukur. Untuk mikrometer luar dengan nilai ukur terkecil lebih besar dari 0 mm.2 9.0. JIS B 7502 Micrometer Callipers. atau sebagai nilai koreksi penunjukan dengan tanda (+/-) yang berlawanan dengan nilai kesalahan penunjukan.1 10. serta menyebutkan batas yang diijinkan dan acuan kepada standar spesifikasi tersebut. Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement.9 9. 9.2 Referensi Japanese Standards Association.

Hasil pengukuran kesalahan penunjukan dapat ditampilkan sebagai nilai kesalahan pengukuran. Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement. laporan harus menyebutkan jenis dan identitas alat yang dipakai untuk menentukan posisi nilai ukur terkecil (misalnya setting bar atau balok ukur). atau sebagai nilai koreksi penunjukan dengan tanda (+/-) yang berlawanan dengan nilai kesalahan penunjukan.1 12.2b. laporan kalibrasi sebaiknya mencantumkan hasil pengukuran kerataan dan kesejajaran muka ukur. serta menyebutkan batas yang diijinkan dan acuan kepada standar spesifikasi tersebut.0.11 11. 1994 ISO. 1993 [APD] [Petunjuk Teknis Kalibrasi Mikrometer v0. JIS B 7502 Micrometer Callipers. Untuk mikrometer luar dengan nilai ukur terkecil lebih besar dari 0 mm.1 Laporan Kalibrasi Jika nilai hasil pengukuran kerataan atau kesejajaran muka ukur melebihi batas yang diijinkan dalam standar spesifikasi yang diacu.2 11.2 Referensi Japanese Standards Association. 11.odt] [29-05-2006 09:57] Halaman 8 dari 8 Petunjuk Kalibrasi Mikrometer v.3 12 12.2 25-05-2006 .

Sign up to vote on this title
UsefulNot useful