ISBN 978 3 901 906 58 9

MEASUREMENT OF LEDS
CIE 127:2007
2nd edition
UDC:

53.085.342
535.24
621.3.032.32

Descriptor: Light sources, indicating devices
Photometry
Light-emitting elements

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THE INTERNATIONAL COMMISSION ON ILLUMINATION
国际照明委员会(CIE) 是一个国际性的组织,它致力于成员国之间关于照明的艺术与科学方面的所有事情的国际性的信息互操作
和交换。该组织由40个委员国组成。
CIE 的目标:
1. 在光和照明领域为关于科学、技术和艺术的所有事情的讨论和国家间在这些领域的信息交流提供了一个国际性的 论坛.
2. 在光和照明领域开发计量学的基础标准和程序 。
3. 在光和照明领域,为国际和国家标准的发展中的规则和程序的应用提供参考。
4. 准备和出版与光和照明领域的科学、技术和艺术的所有事情有关的标准、报告和其他出版物。
5. 保持与其他国际性组织关于光和照明领域的科学、技术和标准化的联络和技术互换。CIE的工作是通过七个部门来实施的,
每个部门大约有20个分技术委员会。工作覆盖从基础事宜到所有照明应用类型的项目范围。由CIE的这些国际部门开发的标准
和技术报告受到全世界的认可。
一个全体出席的会议每四年举行一次,在会议上,各部门和技术委员会的工作被检阅和汇报,并制定未来的工作计划。CIE是被
承认的在光与照明方面的权威。因此,它在国际组织中占据着一个重要的位置。
LA COMMISSION INTERNATIONALE DE L'ECLAIRAGE
La Commission Internationale de l'Eclairage (CIE) est une organisation qui se donne pour but la coopération internationale
et l'échange d'informations entre les Pays membres sur toutes les questions relatives à l'art et à la science de l'éclairage.
Elle est composée de Comités Nationaux représentant environ 40 pays.
Les objectifs de la CIE sont :
1.
De constituer un centre d'étude international pour toute matière relevant de la science, de la technologie et de l'art de
la lumière et de l'éclairage et pour l'échange entre pays d'informations dans ces domaines.
2.
D'élaborer des normes et des méthodes de base pour la métrologie dans les domaines de la lumière et de l'éclairage.
3.
De donner des directives pour l'application des principes et des méthodes d'élaboration de normes internationales et
nationales dans les domaines de la lumière et de l'éclairage.
4.
De préparer et publier des normes, rapports et autres textes, concernant toutes matières relatives à la science, la
technologie et l'art dans les domaines de la lumière et de l'éclairage.
5.
De maintenir une liaison et une collaboration technique avec les autres organisations internationales concernées par
des sujets relatifs à la science, la technologie, la normalisation et l'art dans les domaines de la lumière et de
l'éclairage.
Les travaux de la CIE sont effectués par 7 Divisions, ayant chacune environ 20 Comités Techniques. Les sujets d'études
s'étendent des questions fondamentales, à tous les types d'applications de l'éclairage. Les normes et les rapports
techniques élaborés par ces Divisions Internationales de la CIE sont reconnus dans le monde entier.
Tous les quatre ans, une Session plénière passe en revue le travail des Divisions et des Comités Techniques, en fait
rapport et établit les projets de travaux pour l'avenir. La CIE est reconnue comme la plus haute autorité en ce qui concerne
tous les aspects de la lumière et de l'éclairage. Elle occupe comme telle une position importante parmi les organisations
internationales.
DIE INTERNATIONALE BELEUCHTUNGSKOMMISSION
Die Internationale Beleuchtungskommission (CIE) ist eine Organisation, die sich der internationalen Zusammenarbeit und
dem Austausch von Informationen zwischen ihren Mitgliedsländern bezüglich der Kunst und W issenschaft der Lichttechnik
widmet. Die Mitgliedschaft besteht aus den Nationalen Komitees in rund 40 Ländern.
Die Ziele der CIE sind :
1.
Ein internationaler Mittelpunkt für Diskussionen aller Fragen auf dem Gebiet der W issenschaft, Technik und Kunst der
Lichttechnik und für den Informationsaustausch auf diesen Gebieten zwischen den einzelnen Ländern zu sein.
2.
Grundnormen und Verfahren der Meßtechnik auf dem Gebiet der Lichttechnik zu entwickeln.
3.
Richtlinien für die Anwendung von Prinzipien und Vorgängen in der Entwicklung internationaler und nationaler Normen
auf dem Gebiet der Lichttechnik zu erstellen.
4.
Normen, Berichte und andere Publikationen zu erstellen und zu veröffentlichen, die alle Fragen auf dem Gebiet der
Wissenschaft, Technik und Kunst der Lichttechnik betreffen.
5.
Liaison und technische Zusammenarbeit mit anderen internationalen Organisationen zu unterhalten, die mit Fragen
der W issenschaft, Technik, Normung und Kunst auf dem Gebiet der Lichttechnik zu tun haben.
Die Arbeit der CIE wird in 7 Divisionen, jede mit etwa 20 Technischen Komitees, geleistet. Diese Arbeit betrifft Gebiete mit
grundlegendem Inhalt bis zu allen Arten der Lichtanwendung. Die Normen und Technischen Berichte, die von diesen
international zusammengesetzten Divisionen ausgearbeitet werden, sind von der ganzen W elt anerkannt.
Tagungen werden alle vier Jahre abgehalten, in der die Arbeiten der Divisionen überprüft und berichtet und neue Pläne für
die Zukunft ausgearbeitet werden. Die CIE wird als höchste Autorität für alle Aspekte des Lichtes und der Beleuchtung
angesehen. Auf diese W eise unterhält sie eine bedeutende Stellung unter den internationalen Organisationen.
Published by the
COMMISSION INTERNATIONALE DE L'ECLAIRAGE
CIE Central Bureau
Kegelgasse 27, A-1030 Vienna, AUSTRIA
Tel: +43(1)714 31 87 0, Fax: +43(1) 714 31 87 18
e-mail: ciecb@cie.co.at
WWW: http://www.cie.co.at/
© CIE 2007 – All rights reserved

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COMMISSION INTERNATIONALE DE ECLAIRAGE
INTERNATIONAL COMMISSION ON ILLUMINATION
INTERNATIO NALE BELEUCHTUNGSKOMMISSIO N

MEASUREMENT OF LEOS
CIE 127:2007
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CIE 127:2007

此技术报告是由CIE部门2 “光与辐射的物理测量” 的分技术委员会2-45制定并得到了CIE的研
究与应用执行委员会的认可。此文档报告基于现今的光与照明这个特定的领域中的知识和经
验,可被CIE 全体会员和其他感兴趣的群体使用. 它应当被摘记,当然,,此文档的身份是提供咨询
的,而非强制性的。最新的CIE会议记录或者CIE新闻应该查阅随后的相关的可能的修订。

Ce rapport technique a été élaboré par le Comité Technique CIE 2-45 de la Division 2
"Mesures physiques de la lumière et des radiations" et a été approuvé par le Bureau de la
Commission Internationale de l'Eclairage, pour étude et emploi. Le document expose les
connaissances et l'expérience actuelles dans le domaine particulier de la lumière et de
l'éclairage décrit ici. Il est destiné à être utilisé par les membres de la CIE et par tous les
intéressés. Il faut cependant noter que ce document est indicatif et non obligatoire. Il faut
consulter les plus récents comptes rendus de la CIE, ou le CIE NEWS, en ce qui concerne
des amendements nouveaux éventuels.

Dieser Technische Bericht ist vom CIE Technischen Komitee 2-45 der Division 2
"Physikalische Messungen von Licht und Strahlung" ausgearbeitet und vom Vorstand der
Commission Internationale de l'Eclairage gebilligt worden. Das Dokument berichtet über den
derzeitigen Stand des Wissens und Erfahrung in dem behandelten Gebiet von Licht und
Beleuchtung; es ist zur Verwendung durch CIE-Mitglieder und durch andere Interessierte
bestimmt. Es sollte jedoch beachtet werden, daß das Dokument eine Empfehlung und keine
Vorschrift ist. Die neuesten CIE-Tagungsberichte oder das CIE NEWS sollten im Hinblick auf
mögliche spätere Änderungen zu Rate gezogen werden.
任何组织或者产品的提及并不是CIE的宣传。同时每个注意事项已经被收 录 到 编纂的清单
里,由于出版时时间紧迫,可能不够广泛全面。

Toute mention d'organisme ou de produit n'implique pas une préférence de la CIE. Malgré le
soin apporté à la compilation de tous les documents jusqu'à la mise sous presse, ce travail
ne saurait être exhaustif.

Die Erwähnung von Organisationen oder Erzeugnissen bedeutet keine Billigung durch die
CIE. Obgleich große Sorgfalt bei der Erstellung von Verzeichnissen bis zum Zeitpunkt der
Drucklegung angewendet wurde, ist es möglich, daß diese nicht vollständig sind.

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II
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````-`-`.CIE 127:2007 下面是TC 2-34 LED 测试部门参与制定此技术报告的成员。分技术委员会TC 2-34 属于部门2 (光与辐射的物理测量)。 成员: Goodman. R. Japan Distl.`. K. Germany Schanda.. I.. G. T. USA --`. J.`--- 顾问: III Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale ... Germany McKee. Russia Schutte. USA Ashdown. K. V. D. A.`. Germany Gugg-Helminger. USA Sperling. Germany Young..`. W. T. J. T. Y. Canada Bando. USA Sauter. USA (Chair) Ohno. R. Germany Muray. G. USA Sapritsky. R.```. Germany Stolyarevskaya. Russia Valenti. UK Heidel. Hungary Steudtner. Germany Sliney... G.

2.1 实验室测量 1.2 主体测试 2.1.2 应用光谱失谐校正 5.1 LEDs的光学特性 2.2 电特性 2.3 温度对辐射的影响 2.2.1 探测器 3.5 环境温度 2.1 测量的工程量 6.1 正规化因子和相对的空间分布 4. 空间和方向特性的测量 5.`--- 目 录 摘要 .```..1 配光测试仪方法 3 3 4 5 5 5 5 6 7 8 8 8 9 9 9 10 10 10 11 11 11 11 13 13 13 14 14 14 15 16 16 16 16 17 17 17 17 18 18 19 19 IV Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS 3 Not for Resale --`.3 光度/辐射度测量仪的光谱响应 3.1.1 照明强度 4.3 发射区域 2. 光度/辐射度测量仪的特性 3.`.3.3 光谱辐射测量仪的使用 5.1 总光通量 6.. 光通量的测量 6.2.2 部分LED光通量 6.2 1.1 测量白色 LEDs的光度测量仪 3. 平均LED强度的测量 5..3..3 有效的发射表面的位置 4.2 参考标准操作 2.2.2 温度对效率和效能的影响 2.3 平均LED强度 4..`.1 替换方法 5.2 光谱分布 2.`.1 带更少标准的替换 5.3 1.2 测量彩色 (非白色) LEDs的光度测量仪 4.1 空间分布 2.3.1 1.4.4 产品容限 3.4 1 1 1 1 2 2 2 范围 术语 报告的目的 LED测量的类别 1.4. LEDS的特性 2.2.2.1..4.2..1 峰波长随温度的变化 2.1.4 前向电压 2.2 光度/辐射度测量仪的成角度的空间响应 3.3. 介绍 1.2 照度 4.1.CIE 127:2007 VI 摘要 VI 摘要 VI 1.1. 定义空间关系的工程量 4.1 电操作条件 2.4 "近地"和 "远地" 测量条件 4.4 参考探测器方法 6.3 时间依赖操作 2.2.2 光通量测量方法 6.2.````-`-`.2 方向工程量的测量 4.2.

.1 主波长 7..1.2 总通量模式 7.4 带宽和扫描间隙的考量 7.````-`-`.CIE 127:2007 6.2 纯度 7.`--- Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale V .1 光谱分布的概念 7.```.3 由光谱分布决定的色度工程量 7..2.2 积分球方法 6.4. 参考文献 31 --`.2 中强水平的光谱带宽 7.2..1 峰波长 7.4..3 球校准和修正方法 20 22 7.2.`.4 质心波长 7.2 正规化因素和相关的光谱分布 7.3 部分通量模式 7.`.3 中强带宽的中心波长 7.5 其他不确定成分 23 23 23 24 24 24 24 24 25 25 26 26 27 27 28 28 30 30 8.4 LEDs的光谱测量 7.1 光谱浓度 7.3.4.2.1 发光模式 7.`. 光谱测量 7.2.1..4.2 光谱分布相关的工程量 7..4.3.2.

Dieser Technische Bericht beschreibt im Detail die Messbedingungen für die "mittlere LED-Lichtstärke". Le rapport décrit en détail les conditions de mesure de l’intensité moyennée d’une LED "ALI" (Averaged LED Intensity). le flux total et le flux partiel d'une LED. den LEDGesamtlichtstrom und die spektrale Strahlungsverteilung von LEDs.`. diese erfordern von der CIE die Einführung neuer Größen zur Charakterisierung von LEDs unter genau festgelegten Messbedingungen.. MESSUNG VON LEDS ZUSAMMENFASSUNG Dieser Technische Bericht ist eine Aktualisierung des früher publizierten Technischen Berichtes der CIE der Nummer 127-1997. Les nouvelles grandeurs définies ici sont "l'intensité moyennée d'une LED" et "le flux partiel d'une LED".. l'introduction de nouvelles grandeurs avec des conditions de mesure précisément définies pour leur caractérisation..````-`-`. et la distribution spectrale de puissance. VI Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale --`. Die hier neu eingeführten Größen sind die "mittlere LED-Lichtstärke" und der "LED-Teillichtstrom".CIE 127:2007 LEDS测试 摘要 此报告是前面出版的CIE技术报告CIE 127-1997的更新。 LED与其他的光源之间存在很重要的不同之处,这就使得CIE有必要引进新的特征量,并精确的定 义了测量的条件。这里新引进的工程量是"平均LED强度" 和"部分LED通量". pour la CIE. Il est montré que les mesures par une méthode de substitution utilisant une LED étalon peuvent être plus simples.`--- RESUME . kalibriert werden. Les LED étalons doivent être étalonnées par un laboratoire national de métrologie ou un laboratoire traçable à un laboratoire national de métrologie. 此报告详细的描述了ALI(平均LED强度)、总的和部分的LED通量和光谱能量分布的测 量条件。显示了通过采用LED标准的替换方法进行测量会更简单;不管怎样,在测量结果上对 照相似的彩色LEDs或者使用颜色修正是很重要的。标准LEDs需要通过国家的计量学实验室或 者一个源于国家计量学实验室的实验室来校准。 MESURE DES DIODES ELECTROLUMINESCENTES (LED) Ce rapport est une actualisation du rapport technique CIE 127-1997 publié antérieurement par la CIE.. hierbei ist es wichtig.`. Es gibt signifikante Unterschiede zwischen LEDs und anderen Lichtquellen.```. dass Messungen nach der Substitutionsmethode unter Verwendung von LED-Normalen einfacher sein können. Il y existe des différences significatives entre les LED et les autres sources de lumière qui ont nécessité. LEDs ähnlicher Farbe zu vergleichen oder aber die Messergebnisse bezüglich spektraler Fehlanpassung zu korrigieren.. das rückführbar ist auf die Nationalen Metrologischen Institute.. cependant il est important de comparer des LED de couleur similaire ou d'appliquer une correction de couleur aux résultats des mesures. den "LED-Teillichtstrom". Es wird gezeigt.`.. Die LED-Normale müssen bei den jeweiligen Nationalen Metrologischen Instituten oder einem Labor.

````-`-`.1 范围 发射光学辐射的半导体设备可以分为不同的两类,发光二极管(通常称作LED)和激光二极 管。该报告仅关注第一类, LEDs。这篇报告仅处理独立的LED的测量,并不包括使用LEDs固 定装置的LED聚集或者阵列,也不包括大面积表面发射器如关联发光二极管(OLEDs)。这篇报告 覆盖了光度计的、辐射度的和色度的LEDs工程量,具体实施是在校准的实验室进行的;报告并 不包括生产线的需要其他考量的测量程序。制造商和使用者有责任确保:在获得了很好的具有 特征的工作标准之后,用于产品控制的测试装置将正确的测量已定义的工程量。生产线的测量 建议在另外一篇报告里会进行处理。当设计和安装测量设备时,必须要认真检查实验室测量条 件的偏差和可能的错误来源。 1.`.CIE 127:2007 1.`--- 此报告是CIE 127-1997 (Measurement of LEDs)的修订和接替。在高功率LED变得通用之前, CIE 127 就已经诞生了。 自从CIE 127出版以来. • 部分LED 通量..3 报告的目的 为了满足不同的应用种类规格,LEDs 被大量生产成很多不同的类型。 当这一系列不同类型的 LEDs 结合了发射光线的多维特性,这在测量时必须要考虑到,不仅与发射二极管有关,而且影 响接收探测器,对 测 量结 果 的可 能 影 响范 围 是相 当大 的 , 并 且测 量 的不 确 定 性会 相 对变 高 。 某些 LEDs发 射的 低水 平 的发 射功 率会 限制 光谱 和 空间 分布 测量 的解 决方 案 。为 了 增加探测器的信号,在相对短的距离和相当大的连续的 LED发射的辐射角度测量LED的 光照强度已经成为常见的操作, 比如方向强度。这时, LEDs 不能作为点光源测量并且测量 结果随着所用的几何条件变化。为 了 降 低 结 果 的 变 动 , 这 篇 报 告 使 这 样 的 稽 核 条 件 标准化以便测量结果可以在不同的实验者中具有可比较和可复写的特性。 1 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale . 在LEDs的发展中已经取得了很多的成绩,尤其 是在具有很多颜色范围包括白色的高功率LEDs方面,在LEDs的常规测量中已经发生了很多的改 变,并且一些新知识已经变成可用的了。对于更多的可复写和改良的LEDs测量方法,此版本就 反映了这样的改变并更新了建议。 1....`...应该被称为IREDs (Infrared Emitting Diodes红外发射二极管)。 。一般来说,不管怎么样, 两者都被广泛的归类为LEDs,这 是 因 为 这 两 者 的 大 多 数 测 量 技 术 和 特 性 是 一 样 的 。 该术 语 LED在全篇报告里都用到了,它覆盖了这两种类型。这也被应用到发射紫外 (UV)射线的二极 管。与光度和色度的工程量有关的部分 明确地仅应用于那些发射可见光的设备..```. 更准确的定义请见文档。 1. 但是如果存在 任何不确定性将会在合适的地方指出。 CIE 词汇中未定义但此报告有用到的几个术语如下: • 平均LED强度. 介绍 --`.2 术语 严格来说,术语 LED 应该仅被应用到发射可见光的二极管。那些在附近发射红外射线的. 更准确 地.`.

.2 主体测试 主体测试被用来进行生产控制或者核查新进单元的质量。为了对付大量的元件,测试设定在高 速运行状态,并且因此,常常从标准测量条件来进行简化和修正。只要测量结果和实验室测量 结果紧密相关,那么如此简化或者修正生产控制的测量条件也可被采用。 LED的常规测试在专家实验室外面进行,最重要的是要获得稳定的、校准的和标准的LEDs,这 些LEDs与那些即将被测的LEDs具有相同的空间的和光谱的特性,从而尽可能地确保测试是在 相似类型的设备之间的简单直接的对照的基础上进行。 2 --`.`.4 LED测量的类别 LED测量可以分为两类: 1..通过这种方法可使文档保持有价值和最新。 1.1 实验室测量 大多数的LED制造厂家和使用者首先会在精密实验室关注这些的产品的第一特性。会为每个不 同类型的LED的生产质量控制制定好工作标准。 1.CIE 127:2007 为了展示测量中的某些限制条件,用于表征LEDs性能特性的各种不同种类的辐射度的、光度测 定的和色度的工程量已经在一定程度上在此被收集和提出。关于新的CIE标准测量条件的提议已 经给出,可用于详述LEDs的特性。 尽管被很频繁结合物理探测器使用,发射可见光的LEDs也很广泛地被用于信息必须要传送到人 眼的场合。因此,这篇报告处理发射光的功率的特性,不仅有辐射度工程量,还有光度测定的 和色度的工程量。 是否涉及了辐射度的或者光度测定的工程量,总是需要使用合适的SI单元来 测量。 实施测量通常采用DC电流电源,并且在稳定的状态条件下运行。假定热量是均衡的。如果电源 改变成多元的或者可调节的形式,即使调节供给待测LED同样的有效电功耗,及时计算测量值 的平均值,但LEDs的表面特性会发生引人注目的改变。其原因及对结果的可能影响有待讨论。 此报告建立在CIE技术委员会TC 2-34和后来继续的TC 2-45的全体成员的经验和观点的基础 上,但是它仅代表此刊物出版时该领域的知识和发展状态。这是一个生产和测量技术快速改变 的领域,并且很有可能未来的发展要感谢现在已经过时了的报告的某些方面。已经证明了很有 必要的是.`..为了吸收新的发展结果(比如新的发射更短波长光线的LEDs的介绍,更高光输出水平 等),希望报告能一直被修订.`--- Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale ..`.````-`-`.4..```..4..

`. Wyszecki and Stiles..`.```. LEDS的特性 2.. 1980. CIE.1 LEDs的光学特性 LED的辐射可以用辐射度的和光谱辐射度的工程量来表征其特征。如果LED发射可见光,那么需 要确定光度的和色度的工程量对人眼的影响。因此,辐射度的、光谱辐射度的、光度的和色度 的工程量和它们相关的单元就得用来表示LED发射的光学辐射。 注意,对于每个辐射度工程量都有一个光度的类似物(CIE. 2004)中有描述. 1983.````-`-`.....1.`--- Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale . 1982) 中可以找到。 市场上有成百上千种不同类型的可用LED,不仅所发射光的光谱分布不同而且其空间分 布也不一样,从准-发散的特性到接近准直的光束以及其间的任何值。应用一些常规的工程量来 描述从光源发射的射线来表示LED的特性是非常合理的。 2. 更全 面更通 用的 光学辐 射和 颜色测量 的处 理方法 在参 考文献 (Grum and Bartelson.CIE 127:2007 2..`.1 空间分布 LED产生的光学射线是由某种形式的封装的半导体芯片生成的,外包装在操作中保护芯片、加 入电路接口并支持手握。注意,封装会通过内置的反射器或者镜片和一些零散的材料、彩色滤 光器或者荧光层来频繁地改变芯片发光能量的光谱和空间分布。 如图1所示,展示了挑选的一 些不同光强的空间分布,可以看到图中显示了相当大的变化,并发现与之相关的定义统一的 测量和界定方法存在很多困难。 3 --`. 1987a)中可以找到。比色法的基本概念在CIE publications (CIE. 1983)。唯一的不同在于,对 于每个辐射度工程量来说辐射是以能量单位来计算的,而对于光度的工程量来说辐射是以光谱通 量效率函数V(λ)乘以Km (= 683 lm/W)来计算的。为 了 避 免 不 必 要 的 重 复 , 通 篇 报 告 中 , 所 做 注 释 同 等 地 应 用 于 放射性测量的和光度测量的工程量,仅对光度计的工程量制定了参 考。如果测量辐射度的工程量,光度测定的项能够很容易地被辐射度的等量取代。 LEDs的光学属性的特性应该建立在和其他类型光源规划的同样的方法和技术上。所包 含 的不同类 型的光度 计的、 辐射度的 和色度 的工程量 在刊物 The International Lighting Vocabulary (CIE.

6 40° 0.6 0.4 0.4 20° 0. 2.6 0...6 0.4 0.2 0.`....2 0 10° 0° 0.0 0.8 0.2 1.8 0 0.4 0.2 0.2 1 1 0.2 0.6 40° 50° 0.0 0.````-`-`.2 0.```.4 10° 0.4 0.8 0.2 0 0.8 0.`. 挑选的不同LEDs发射的光强的空间分布 此分布已经被分成统一规范化的具有最大值的小块 2.8 30° 0 0.4 0. 1.6 0.4 0.8 30° 0.2 Fig.CIE 127:2007 30° 20° 10° 0° 10° 20° 30° 0° Iv(ϑ) 10° Iv(ϑ) 20° 1.`.`--- 0400 400 .2 0° 10° Iv(ϑ) 20° Iv(ϑ) 1.2 0 450 450 500 500 550 550 600 600 Wavelength (nm) Wavelength (nm) Fig.6 20° 0.8 0.8 30° 0.6 30° 0. 一系列典型的LEDs的相对光谱能量分布图 4 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale 650 650 700 700 --`.2 0..1..2 光谱分布 LEDs发射的光学射线的光谱分布是设备特有的,并且其与其他光学射线源的光谱分布在外观 上事不同的。典型单色的LED的光谱分布既不是单频的(如激光器发射的)也不是宽带的 (如白炙灯的),而是介于两者之间的,带有一定的纳米级数的光谱带宽。如图2所示为在可 见区域里LED的典型的对照的光谱分布图。注意,LEDs的辐射效能的变化很依赖于它们的风 波长。 1.

2 2. 1982)。 相比之下.2 参考标准操作 用来测量LED特性的器具必须符合LED参考标准的标准,这些标准以及被专门地选择和 制定。这些器具应该在恒定电流下操作并使芯片的温度保持在一个恒定的值。如果使用外加的加 热系统来控制芯片的温度,那么LED可以通过使用依赖温度的带方向的电压作为指示物来稳定芯 片的温度并使其保持在一个特定的值。 用于参考标准而专门制造的LED具有单独的电阻器或者包装在LED内部的晶体管,这样 可以最优化加热器和芯片之间的气流联系。图3 显示了这样一个参考标准的原理图。对于所有的 参考标准LEDs强烈建议这种操作程序。 5 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale . 这主要是由芯片发热引起。 在正常的操作条件下(在启动阶段和 饱和区域之间),LEDs发射的光学辐射与电流线形相关。因此要想描述LEDs的属性,建议在横 流下操作。 在传统的光源中发现了光通量和消耗的电功率之间的相互关系,但不适用于LEDs。在电 流恒定时,LED的前向电压在环境温度升高时会降低。调整电操纵条件来稳定LED消耗的功率将 会改变芯片温度,因此会影响LED两端的压降。由于这个原因,不建议采用稳定的电功耗作为改 进LED发出的射线的稳定性的一种方法。 2.1.1 电特性 电操作条件 LEOs通常运转在带有特定方向的方向的直流电源,并且电流值恒定为IF ,其相关的电压为 VF (通过LED两端的电压来测量)。为了精确的测量,建议采用分开的给LED提供电流的和测 量电压用的接头(四孔插座)。它们对于在高电流下操作来说是很重要的,一般为单路或者多 路复用的模式. 与测量距离相比,对于使得反射平方法则有效来说当发射区域的尺寸足够小 或者辐射模式已经与发射器的距离无关时,就是指“远地”条件。 “近地”和“远地”条件的 概念在第4章将继续讨论。 2.CIE 127:2007 2. 斜率变得更平坦 (饱和区域).2.3 发射区域 LEDs的小包装为光发射表面提供了不同种类的尺寸和形状。发射区域由其形状、尺寸 和周围的亮度模式来表征,整个发光面的亮度是整个发射区域亮度分布的平均值。通常,发出 光束的中心处的亮度值最大而边缘处的亮度显著降低。不管怎样,在这样的LED灯的应用中都 存在很不同的分布。 在一些应用中,LEDs被用在包装的发光面与探测器的距离相对较短,以便发光面可作 为一个扩展的区域并且光源就不再被当作一个点光源。这种情况下,在不同距离产生的光照比 例就不再遵循平方反比法则并且辐射模式依赖于与发射器的距离。这被称作“近地”条件。想 要了解更多关于“近地”条件的信息,请看参考文献(Goure and Massot. 辐射功率 (光通量) 比电功率上升得快(启动阶段)。高电流 时.2. LED消耗的电功耗P的计算公式如下: P = VF · IF (1) 低电流时.

.`--- 在多路复用模式中,会短时间的重复断开和接通高电流,此时间断的电流平均值等于常规操作 时的直流电流。 6 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale .`.1 调制电流 增加电流会同时增加光的输出和芯片的温度,芯片温度会循环影响光输出。当电流可调时,芯 片温度也会改变,这样平均输出也会跟具有同样均值的稳流状态时的不同。因此,即使LED在 启动和饱和之间的正常工作区域很好的运行,辐射效率he是平均电流的函数,它是辐射功率Φe 与电输入功率P的比值。 2. 温度稳定标准LED的示意图 2.`..`. 为了表征每种LED的属性所采用的测量经常通过几十毫秒的单路操作并且其电流 水平接近于稳定状态条件下常用的。对于大多数的LEDs来说,芯片和包装的高温容限很大,使 得芯片温度难以达到稳定状态运行时的值,这样会修改LED的特性参数。幸运的是,这些值总 是跟稳定状态的值紧密相关。一旦通过一些增补的实验确定了特殊类型的LED,就能够通过那 些被测的来计算真实的特性。 2.3.2.3 多路复用操作 --`.3. 3..2.```.````-`-`..2..2.CIE 127:2007 参考标准的校准理想情况下应该在国家政府研究机构或者起源于国家政府研究机构里进 行。测量设备和错误状态的精确描述应该在具有校准的标准LED时给出,应该指定可追踪校准 的国家实验室应。 安装在一个特别设计的包装里的参考标准LED对于待测类型来说应该是典型的。选择的 LED 必须是预挑选的和成熟的 (如燃点中,一般依照稍候的操作中要使用的评定等级使用了500 小时)。不建议采用更高的电流来加速。挑选的用作标准的LED应该尽可能的具备和待测LEDs相 一致的光谱的和空间的功率分布,这是很重要的。包装应该含有恒温器来使参考标准LED维持 在一个预设定的温度并提供一个恒流装置来确保一个恒定的光学输出。 Heat control unit LED lamp Current control unit Cable to power supply Ring for alignement Fig. LEDs工作在非稳定状态条件下,比如已调的单路或者多路复用模式的电流。因 为LED的输出特性受到操作条件,所以通过报告表征LEDs属性特性的数据来识别操作模式是很 重要的。 2.3.3 时间依赖操作 在很多应用中..2 震动操作 在产品控制中..

IF ) (2) 总的派生量可以分成两个方面的影响: dV F  V F VF dI F  dT C I F  TC 2.2 V,蓝色LEOs的为6.在单路操作中,要建立光输出与多路复用时电流的比率和光输出与稳流操作时电流的比率之间 的相互关系,并且这种关系能通过一些增补的测试来重新建立。 此报告限于讨论恒流操作,但是提出的适用于此情况的电操作方法通过一些适当的调整 可以扩展到其他条件下使用。测量系统的光学部分没有改变,但是必须确认光电探测器和光电 流测量设备能线性地求得光线的平均值。 2. 对 应 有四种不同的取值。 7 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale .在一个工作点显示了LED的前向电压和电流之间的关系,此时VFo = 2 V, IFO= 20 mA.5 V。独立的LED的 电压VF依赖于电流IF和焊点温度Tc(可以用半导体的温度作为第一近似值代替)。 VF = VF (TC . IREDs的常规电压值为1.1 ( 3 ) 依赖于电流的前向电压 在稳定的温度条件下,LED的前向电压和电流之间的关系遵循一个对于所有得半导体二极管斗 很常见的已建立的模式。在常规工作区域,在启动和饱和水平之间存在带有一定倾斜度的近似 的线性关系,如下式: ∂VF ≈ 10 [V/A] ∂IF (4) 如果LED工作在某个工作点,设置其电流为IFo ,相关的前向电压为UFO ,并具有一个 该状态下的不同的阻值 ,阻值计算如下: RF 0  VF 0 IF0 (5) 接着电压/电流特性就可近似计算下: VF ( I F )  RF 0  I F 0 log(b IF  1) IF0 (6) 其中, b  exp( VF 0 ) RF 0 .2.4.2.I F 0 (7) 在图4中.4 前向电压 T前向电压的值取决于LED半导体的材料,对于现在可用的不同类型来说有五种变化因素。通常 工作时,电流设置为20 mA.

5 (8) 环境温度 除非特别说明,对于LED特性一般假定环境温度Tamb = 25 °C。由于LED芯片消耗功率,电源打开 后芯片温度Tc会升高并且稍后会稳定,其值TChip > Tamb。温度变化的比率依赖于输入功率的水平和 LED包装的热容限和热电阻。当达到了热均衡,TChip 的值由转变到环境中的热量控制,这主要是通 过LED的基片实现 (在更老的结构中是通过LED导线实现)。因此,供给LED和芯片及散热片间的导 线长度的电触点的热属性通常对测试的影响很大。 如果工作在短单路条件,LED芯片的温度差不多不会改变,但是恒流操作时温度会产生小幅度的 升高。已调制的或者多路复用操作下的温度影响在前面的2.2. 这种改变大约为 8 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale .3.5 to 2.1节中有讨论。 2. 4. 典型 LED 的工作时前向电压和电流之间的关系 ,其中V Fo = 2 V , IFO = 0.CIE 127:2007 RF0 = 2 Ohm RF0 = 20 Ohm VF (V) IF (A) Fig.1 温度对辐射的影响 峰波长随温度的变化 Constant恒流和一个温度稳定的电压将会使LED产生恒定的电功率消耗。注意,不管怎样,不通过控 制温度来稳定功率将会导致非常不同的操作条件。发射光的相对的光谱分布将受到两方面的影响。一 方面,分布的形状将会产生微小的变化,另一方面对于基于LED的GaInN当温度升高时整个分布将会 向更长波长的方向发生很大的改变(对于基于LEDs的GaInN如蓝色 LEDs,这种改变更多情况下会朝 着更短波长的方向发展)。对于典型的LED.2.02 A 对应的 RFo 取值不同 2.4.5) [ m V/K ] ∂TC 2.2 依赖于温度的前向电压 对于大多数的LEDs 来说,常温下工作时,恒流时的典型的前向电压温度系数值的取值范围如 下: ∂VF ≈ (−1.3 2.2.3.

```.`.1所示,为一种LED的封装几何轴线和发射光线的光学轴线是不一致的情 形。在产品测试时,通常没有足够的时间将LED放在测试夹具中从光学轴线的方向来 测量光强。在选择标准用的LEDs时,只选择光学轴线和几何轴线一致的LEDs是很重 要的。 Mechanical Mechanical i Optical Optical i 图5.∂λp ∂TC ≈ (0..`.2 温度对效率和效能的影响 小的温度变化对于LED发射的光效几乎没有什么影响。由于光谱分布的峰波长与V(λ)函数的最 大值很接近,所以发射绿光的LEDs的光效也是相当恒定的。在V(λ)函数的斜率上具有峰波长的彩色 LED的光效会由于光谱分布的改变而受到更严重的影响。因此,发射红光或者蓝光的LEDs的 光效会因相对小的温度变化而发生很大的改变。因为LED的光谱分布依赖于功耗和芯片的温 度,电流和温度的稳定性提供了控制操作条件和维持恒定的光谱分布的最好方法。 产品容限 被用来表征LEDs的光学辐射特性的一些很重要的工程量与特定的方向有关。因此,测量时精 确的校准LED是很重要的。不幸的是,两个关于前进方向的转动的轴线一个属于包装另一个属 于发射辐射的空间分布,这两轴线很少具有相同的方向,并且发射区域的形状和尺寸会改变, 结构上经常没有定义明确的发射孔,所以很难精确定位光源的中心位置,这导致成角度测量和 位置上排成直线存在困难并增加了测试的不确定性。 如图 3.3) [nm/K] (9) 2..1 to 0..4 .`--- 2. to be published a)。 9 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale --`. 一 种 几 何 轴 线 和 光 学 轴 线 方 向 不 同 的 L E D 3. 光度/辐射度测量仪的特性 对于LEDs测量....3.`.````-`-`. 光度测量仪或者辐射测量仪或者光度辐射测量仪的使用取决于是否测量辐射度 的或者光度的工程量或者两者。在第 7章中描述了光度辐射测量方法。为了放大和测量探测器的 输出,一个LED测量用的光度测量仪或者辐射测量仪一般由探测器、滤光器、入口孔和一个电 路组成。对于光度测量仪的一般要求,请参阅参考文献(CIE..

1984a).3 光度/辐射度测量仪的光谱响应 光度测量仪/辐射度测量的光谱响应可以用一个绝对的因子s0 和一个相对的函数sr(λ)表示,如 下: s(λ ) = s0 ⋅ sr (λ ) (10) 关于如何确定定光学辐射探测器的光谱响应的程序的建议请见参考文献(CIE..CIE 127:2007 下面将叙述与LED测量相关的一些具体的信息和要求。 3.```. 或者通过使用一个小的积分球来作为输入视 觉。扩散体 (比如猫眼石) 也被用来作此用途,尤其是当一个更小的光电二极管被采用时。通常 使用一个扩散体来达到好得空间统一是更困难的。为了达到足够好的空间统一,需要一个好的设 计和扩散材料的挑选。 3.2 光度/辐射度测量仪的成角度的空间响应 因为来自一个狭窄角度的光线是干扰的,所以测量平均LED光照强度的光度测量仪和辐射度测量 仪并不依靠余弦响应。测试LED的辐射在光度测量仪或者辐射度测量仪上会是干扰的,在这个 角度范围内它们需要统一化的响应。因此,在进行强度测量时光度测量仪或者辐射度测量仪的 前表面通常不需要余弦修正.`.`. 1983)。 10 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale --`..1 探测器 硅型光电二极管通常用来建造LED测量的光电测量仪和辐射度测量仪。 硅型光电二极管在从紫 外线的到红外线附近到1100nm的区域中都是敏感的,峰值响应约为900 nm。硅型光电二极管 在输入辐射不断变化的几十年中一般具有线性响应并且在可见区域具有可忽略的响应的温度依 赖。注意,滤光器具有更高的透射比的温度依赖。 3..3) 应该统一光度测量仪/辐射度测量仪的入口孔的 响应,确保到达探测器的辐射都能被同样的尺度地测量。一些LEDs具有狭窄的光束角度或者不 规则的强度分布,在孔中这样会生成不统一的照度分布。如果入口孔处的响应没有被规格化,在 测量平均 LED强度时可能会造成很严重的错误,尤其是在CIE-B几何结构中对于这样的LEDs。 具有很好的空间统一的光度测量仪一般可以使用一个非扩散类型光度测量仪来构造 (CIE. 到 光 源 的 短 距 离 比 到 光 度 探 测 器 的 前 孔 需 要 一 个 更 大 的 探 测 器 光 敏 区 域 )。另一方面,一个使用时带有积分球的用于光通量或者辐射通量测量的光度 测量仪/辐射度测量仪需要很好的余弦修正。 对于"平均 LED强度"的测量 (见章节4..````-`-`..`--- 如果探测器被具有光谱分布X(λ)的放射线辐照,那么光电电流i可通过下式计算: . 也就是从光学视角看的CIE的光谱的光 效函数(CIE..`. 不管怎样一个通过使用一个扩散体来实现一个比探测器的光敏区域 更大的光敏区域(注意. 其中 X0 是归一化因子, S(λ)是相对的光谱分布。X(λ)表示待测的光 度计的或者辐射度的工程量 光度测量仪的相对光谱响应应该尽量接近于V(λ).. ∫ ∞ i = X 0s0 sr (λ )S(λ ) d(λ ) (11) 0 这里 X(λ) = X0 · S(λ). to published a) (它需要一个大面积的光电二极管).

那么白色LEDs 的错误会 最小化,但是不确定性还是需要适当的计算。 如果用于LED测量的光度测量仪不满足建议的f1'.. 即使f1'很小,由于一些LED的光谱在函数V(λ)的两翼取得最大值(这里偏差对 f1'的影响很小但是会造成很大的错误),光谱失谐错误可能会非常大。 为匹配LEDs的函数V(λ)的优良性确定一个更好的和更有用的数据就不属于本报告的范围 了。 [从初步的结果来看,似乎一个和f1'相似的数据在评估光度测量仪测量所有不同颜色类型的 LEDs的精确度时是不充分的.3.`.2中所述)..φ)表示,那么这可当作规格化因子和已定 义的相对的光谱分布G(θ.2 测量彩色 (非白色) LEDs的光度测量仪 单色LEDs情况下...φ)的绝对值,这时θ=θ0,φ=φ0并用I00=I(θ. 4.````-`-`.φ)可以表达为: 11 --`.```.辐射度测量仪的光谱响应在额定的范围内应该要尽量平坦。 3..`.2)。 3.`.建议提供光度测量仪的相对光谱响应,对于光谱失谐错 误用示例显示如何应用修正和计算已给的有色LED的被测光度测定工程量的测量不确定性。 4. 建议使用f1'< 3. to be published).φ),并且这种依赖关系被称作空间光强分布。I注意,包括那些要 求绘制空间分布图的光强的测量,必须通过一些很小的稳定的角度元素dΩ来实现,并且这需要一个 输入孔的直径和光源的直径相对于光源的距离来说是很小的的探测器 。如果在精确确定的参考方向 测量光强I(θ.`--- Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale ..1 定义空间关系的工程量 正规化因子和相对的空间分布 一般,光强I(θ.1987b)来分类。建议在测量白色 LEDs时使 用这个f1'。 除非总是应用光谱失谐修正 (如章节 5..φ)来使用。光谱的强度分布I(θ. 反而可能需要多达4个数据 (Csuti et al.3. 那么这样的光度测量仪的使用应该被限 制到严格的替代物(同样类型的标准的和具有同样颜色的测量LED的对照).0 %的光度测量仪 来测量白色LEDs 。f1' 的定义如下: (12) 这里 s*(λ)rel 是探测器的规格化相对光谱响应: (13) S(λ)A 是CIE标准照明A的相对光谱分布。CIE标准照明A被考虑在内的事实是,光度测量仪通常 是使用钨丝灯装置来校正到CIE标准照明A的分布温度。如果 f1' 很小.] 用光度测量仪测量单色LEDs时..1 测量白色 LEDs的光度测量仪 商业上用的光度测量仪通常按照它们的f1' 数值 (CIE.φ)依赖于方向(θ. 或者这样的光度测量仪 配置有独立的测量的相对光谱响应数据以便进行光谱失谐修正(见章节5.

CIE 127:2007 I (θ.`.`.. φ) = I00 .φ)的对简单的形式如下: G(θ) = G (16) 这里G是一个常量,这代表了等方性的点光源的球状空间分布。 很容易算术表达的另外一个空间分布是Lambertian发散分布。θ测量的是考虑的方向和垂直于表面的 之间的角度。¢的所有值的空间分布通过下面的式子计算: (17) 这里角度范围限制在0≤θ≤π/2,这种空间分布通常作为参考使用。 用一个简单的数学函数来表达大多数实用的空间分布是不可能的,但是对称的空间分布 通常用指定角度等于最大值的50 % 和 10 %来表示其特征(CIE.`. 1987b)。注意,对于构建的强度 分布曲线,肯定不只一个角度产生50 % 或者 10 %的值。 当采用这种方法,对于这样的强度值 的第一个角度建议从0° (从机械轴线方向测量的)开始报告。 The多数LEDs设计成在方向θ= 0°时可提供最大光强,但是情况并不总是这样,一些 LEDs设备的结构在几何轴线的方向比远离轴线的角度会有很明显的降低值。在图1 中这样的一个 例子显示了这种效果。 有时..... 由于产品容限,即使LED被装配到圆筒状的包装里,包装得机械轴线(用于 使测量器械里的灯排成直线)和光学轴线(空间分布的转动对称性轴线)可能会有微小的 不同方向(见图 5)。 测量步骤必须要考虑到对结果的影响。 所有的LEDs产品无法拥有完全轴对称的空间分布。图6显示了两种在LED中有时可以发 现的常见的不对称空间分布形式,并且可能会导致排成直线的问题。图6(a)中所描述的LEDde 空间分布显示了包装轴线的方向的最低限度(θ= 0°)和最高限度是偏离轴线的方向。图6(b)显示 的I(θ)被标绘于适用于一种LED的恒定的θ,强度分布的非圆形状显示了对于旋转对称的背离。 12 --`. φ ) = I(θ .```.`--- Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale .. G(θ. φ ) I00 (15) θ= 0°以及θ= π时,光谱的强度分布不依赖于角度φ。因此,方向值θ= 0°通常是规格化的首选,这 时I00=I(θ= 0°)。 函数G(θ. φ) (14) 其中, G(θ .````-`-`..

θ = 0° 10° 20° I 1.1.`..2..3),在这个区域中短距离测量时可能区域太大 而不能当作点光源看待。 另外,LEDs的包装通常具有一个透镜并改变有效的发射中心。 4.φ)产生的照度EV(θ. φ) = IV (θ...2 0 0. φ) / d 2 (19) 再次提醒,对于光源来说距离要足够大才能有效地看作点光源,并且为了有效地统一照明被探测 器包在叶腋内的角度至少要足够小。 公式19被称作 "平方反比法则".φ)和 光强IV(θ.4 0... 但是也可以写成: IV (θ.`.````-`-`.4 I (a) (b) Fig.1 (18) I = dφ v / dΩ 尽管初看这只是一个依照连续的角度单元在一个给定的方向上测量光通量的问题,实际 上情况通常比这要复杂得多。光强的概念需要假定一个点光源,或者对于自身的尺寸来说至少是 一个足够小的光源,与光源及探测器之间的距离相比小到可以忽略不计,原则上至少是,测量需 要建立在依照很小的连续的角度元素的基础上实施。 很多LEDs具有相对扩展的辐射区域(见2.2 方向工程量的测量 照明强度 光强被定义成离开光源的通量dφ与以连续的角度单元增强的包含了给定方向的dΩ之间 的商数: 4. φ) · d2 (20) 这是实际光强测量的基础。实际上测量的工程量是探测器表面的照度,那么强度就可以在公式20 的基础上通过照度乘以从光源的距离的平方就计算得到。 对于精确的光强测量,不管怎样,不仅光源的相对尺寸和探测器包在叶腋内的角度要足 够小,而且准确测量光源和探测器之间的距离也是很重要的。由于自身的透镜和总的扩散率,所 以很难确定一个LED的有效光源中心的实际位置,于是测量距离时通常从LED包装的主观位置算 起。 13 --`.8 40° φ 50° 0.φ)有关,具体如下: EV (θ.6 60° 0. 6. (b) 空间强度分布是非轴对称的。 4. 两种经常发生的非对称强度分布: (a)光学轴线远离几何轴线 is off the geometric one.`--- Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale . φ) = EV (θ..```.2 照度 从距离光源d、基于对于一个方向是正规的表面元素的的方向(θ.0 30° 0.2 0.`.2.

.`--- Not for Resale .1中所定义的真实的光强。 实际使用的程序是为了从LED的测量距离测量探测器上的通量干扰,并通过按照正对着 的距离划分探测器区域来计算连续的角度。因为经常要在相对短的距离中进行测量,在很多情 况中,与到探测器的距离相比LED的发射区域可能足够大,可看作一个扩展的区域而不是一个 点光源。这就是上面所述的“近地”条件。也有可能,如果探测器里光源太近,当从探测器表 面的不同部分区观看,真实的光强值可能会变化。 在LED测量的真实世界很常见的情况中,用传统的方式测量的工程量并不是强度而表示一种 平均强度的形式;平均适用于不同独立的元素,这些元素构成了LED的发射表面的扩展区域和遍及探 测器表面的不同部分。不幸的是,区别并不是对定义的准确用词的吹毛求疵,而是存在一个真实 的问题,这种情况下,测量的结果和测量值的适用性严重地依赖于准确的测量条件。为了不同 产品之间以及不同制造厂商的相似产品的对照,赞同和定义一个精确的可用于很广泛的LEDs的 测量几何图形很重要。 在为了解决这个问题的一次尝试中,CIE决定采用明确的针对LED测量的新的术语来描述 这样的近地条件下测量的工程量并定义与之相关的两个标准测量几何图形。这两个测量几何图形 是建立在现在的工业实践和LEDs的生产商和使用者的观点的基础上。 14 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS --`.2.CIE 127:2007 4.3)。 4. 其中IV为光源的光强, d为光源中心和探测器之间的距离。 这种情况有时是指“远地”条件。 不管怎样,在很多应用中,LEDs的测量是在相对的短距离进行的,此时,光源的相对尺 寸太大而不能将其看作点光源或者光源处的被探测器包在叶腋内的角度变得太大。这就是 “近地”条件。就不能再应用平方反比法则并且通过探测器测得的照度严重地依赖于准确的 测量条件。 4.3 平均LED强度 在制造资料中,通常光强作为LED的方向输出衡量标准的参数之一标出。不幸的是,在很多情况 下,这个术语使用不正确,并且不是一个如4.3 有效的发射表面的位置 If 如果测量距离足够大,光源中心的精确方位就不是很重要了,但是,由于可用的LED的种类多种 多样,对于精确测量来说还没有简单的常规的规章来决定最小安全距离 (见CIE.2... 1987c)。这就是 CIE推荐使用平均LED强度概念的原因(请见章节4.```.````-`-`..`...光源发射区域和探测器接收表面的尺寸必须足够小,小到与两者之 间的距离相比没有什么意义。这时,就会遵循平房反比法则,并且探测器表面的照度EV将通 过EV= IV I d2计算得到 (公式 19).2.`.`.4 "近地"和 "远地" 测量条件 如果测试真实的光强..

`.316 m.`--- 这些条件相当于视角0.```.001sr(条件A)和0.. CIE 标准条件下对于平均 LED强度测量的示意图。 对 于 条 件 A , 距离d= 0. 要求并不严格..和 对于 CIE 标准条件 B: 100 mm. d = 0.`. 但是具有相似光束的标准LEDs的使用将会降低零散光错误 (由于进入光度测量仪的光不是直接来自光源而产生的错误)。挑选用于强度测量的标准LEDs时 应该挑选那些光束的光学轴线和机械轴线相近并且围绕中心轴线(在 ± ~10°范围内)的空间分布 为平坦和恒定的LED,以便排成直线错误不会造成很大的测量不确定性。 15 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale . 空间和方向特性的测量 选用具有和待测的LEDs相似的相对的光强空间分布的LED作为工作标准的LED是可取的。对于 使用积分球的光通量测量, 具有相似光束的标准LEDs的使用将积分球的最小化空间非统一化错 误。 对于强度测量.. 这样的测量几何图形将被称为LEDs测量的CIE标准条件A 和 B。 对 于 在 这 些 条 件 下 决 定 的 平均LED强度,建议采用符号ILED A 和 /LED B 。它们可用于辐射度的或者光度测定的工程 量 (例如 ILED A e• /LED B v)。 两种条件都要用到带有一个环形入口孔的探测器,其孔面积为100mm2 (即直径为 11.````-`-`.316 m ,对于条件B... 在两种情况下,都是从LED的前端到光度测量仪或者辐射度测量仪的入口孔平面测量距 离的。 对于照明来说,如果探测器已经被校准,平均LED强度可以从下面的关系计算得到: ILED v = EV · d2 (21) 这里 EV 为用lx计量的平均照度,d为距离,单位m。对于条件A.3mm)。要将LED 面 向 探 测 器 放 置 , 以 便 L E D 的 机 械 轴 线 穿 过 探 测 器 孔 的 中 心 。 构 成 条 件 A 和 B 之 间 的 距 离 就 是LED和探测器之间的距离,此距离分别为: 对于 CIE 标准条件 A: 316 mm.新的术语叫做平均LED强度。 (平均 LED 光照强度或者平均LED辐射强度)..100 m。 = 0. 4.. 对于条件B ,d = 0.5° (条件 B)。 LED 图 7.但是实际的尺寸和确认的相符的结果中的 角度同样重要。相等的角度大约为2°(条件A) 和6.4.01sr(条件B).100 m.`. d --`.

.```.. 有太多不同类型(颜色)的LEDs要测量,而又无法供应这样多的标准LEDs。这时, 在章节5.test  ytest I LED.1 很多情况下.`--- 因此应该避开具有窄光束或者在强度分布曲线方面具有一些结构的LEDs。在选择了合适的标准 之后,第一步应该进行核查的测量。如果实验室配备有配光试验仪器,应该用它来实施强度的 空间分布的直接测量。最好的解决办法就是将LED的前端安置在配光测试仪的中心,然后在设 备允许的范围内尽可能远距离的测量辐射。 在配光测试仪器不可用的实验室中, 一 个 简 单 的 测 试 就 是 用 L E D s 照 亮 一 张 白 纸并从视觉上直观地比较光束模式。 . 5.. test分别是参考LED和测试LED的平均LED强度。yref 和 ytest分别是光度测量 仪对于参考LED和测试LED的信号。 用这样严格的替换方法,就不需要进行光谱失谐修正了,并且这是最简单的测量方法。 不管怎样,如果测试很多类型的待测LEDs,那么就需要很多不同类型的标准LEDs了。 (同样...2 应用光谱失谐校正 这种方法要求具有光度测量仪前端的相对光谱响应方面的知识。光度测量仪前端用某种颜色(例 如绿色或者白色)的标准LED进行校准,并且测量任何其它颜色的测试LEDs时要用到股票失谐修 正,如下所示: (23) 这里 F是对每个测试LED计算的 光谱失谐修正因子,如下: ∫ (24) 这里 16 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale --`.1 替换方法 用一个同样类型(相似的光谱分布)的参考LED对照着对测试LED进行校准。参考LED必须已经被 和待测LED同样几何结构(CIE条件A 或者条件 B)条件下校准。 测试LED的平均 LED 强度 ILED [cd]的计算如下: I LED . ref yref 这里 ILED..`.1.`.CIE 127:2007 平均LED强度的测量 5.````-`-`. 由 于在参考LED和测试LED的光谱分布存在不同之处,所以会存在一些光谱失谐错误,这将作为一 种不确定成分进行评估。) 带更少标准的替换 5.2中所述的解决方法是可接受的。在这种方法中,建议使用用户的装置来测量校准的不 同颜色的标准LEDs (源于国家标准实验室) 并且对照结果来核查测量的不确定性。 5. ref 和 ILED..`.

.````-`-`..1.`. 光通量的测量 6.因此,总通量集合了所有的方向(4π steradian solid angle)。 不管怎样. 光度测量仪前端可直接按照下面的式子测量待测LED的平均 LED强度: ⋅ (25) 或 ⋅ (26) 这里 y是 光度测量仪前端的信号, sLED A 和 sLED B 分别是对应于CIE条件A和B的光度测量仪前 端的光照响应,并且 F是光谱失谐修正因子。 光谱失谐修正因子F 是按照等式Eq. Sr(λ) 是参考LED的相对光谱分布.2中描述的方法的不 同之处在于, 在参考探测器方法中,比例尺被保持在光度测量仪前端。 相应仅为一个参考光源 保持,并且LEDs 总是应用光谱失谐修正来测量。 这种方法种,必须知道光度测量仪前端的相 对光谱响应和测试LEDs的相对光谱能量分布。为了保持一个必须的不确定性,光度测量仪前端 应该被再次周期地校准。 --`.4.. 这在一般的光度测量中是常有的操作。选择的高质量光度测量仪在很长一段时间里都 是稳定的。对于参考光源光谱(一般. 修正因子F是对于测试LED的光度测量仪前端的测量信号的乘数。 5.3 光谱辐射测量仪的使用 如果一个光谱辐射测量仪被适当地设计用来进行LED测量,那么光谱辐射测量仪可能会在平均 LED强度测量用的光度测量仪前端使用。 见章节 7.`--- 当应用这种方法时. 而使用一个光度测量仪作为参考标准(称作参考光度测 量仪)... 24来计算的。这种方法和章节5.`.St(λ) 是测试LED的相对光谱分布.4 参考探测器方法 不使用标准LEDs来校准光度测量仪前端.. 5. 这并不总是特殊LED的应用要求的重要的工程量。 17 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale .1 测量的工程量 术语总通量表示从光源发射的总的通量的意思.```.`.. CIE 标准照明 A)的照明响应[A/lx],带有要求的用于测量平 均LED强度的孔的光度测量仪前端被按照与CIE条件A和CIE条件B几何结构一致的距离进行校 准。CIE条件A 和 B 下的响应由于近地影响可能稍微有点不一样。这样的光度测量仪前端的校准 可能可以从一个NMI 得到,同样,使用者也能通过校准一个与源于NMI的标准LED方向相反的光 度测量仪前端来进行操作。当光度测量仪前端被放置在准确的距离d (316 mm 或者100 mm对应 于CIE 条件 A 或者 B 几何结构).建议使用用户的装置来校准多种颜色的标准LEDs (源于一个 NMI) , 并通过比较结果来核查不同颜色LEDs的测量的不确定性。 6. srel (λ) 是光度测量仪前端的相对光谱响应,并且 V(λ) 是拍照视角的 CIE 光谱照度效率函数.1.

````-`-`. x.它是一个用于具有简单仪表和可重复结果的LEDs 实际测量的量。 建议尽量多使用总光通量 (章节6.90° 和120° 。很多不同角 度的使用会造成对照困难。同样,更可取的是,选择的角度应该包含了多数LED主光通量。 18 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale .. 其中x的值是锥形角度 (直径) 度数. 8. x 50 mm diam.1. Partial LED Flux.. d xx° 2 这里 0°≤ x ≤ 180° 这个量的符号是 ΦLED.`.x LED. 180..1..2 部分LED通量 部分LED通量是用于特殊LEDs应用的量。它被定义成离开 LED和在一个锥形角度(从LED's 机械轴线集中)范围传播的 通量,这个角度是由直径为50mm的圆孔确定的,并且距离 是从LED的端口测量。 图8 显 示 了 这 种 定 义 。 距离d的设 置对应于一个要求的锥形角度x°,如下: d= 25 [mm ] x tan (29) Φ Φ LED.CIE 127:2007 在一些情况下,发散到某些固定角度的部分通量的概念是需要的(忽略不想要的方向,比如向 后的)。因此,除了总光通量之外,引进了一个新的量 “部分LED通量”用于LED测量。 6. 建议尽量使用满角度如40°.`. 相反...它被定义成来自光源的覆盖整个连续的 角度范围的完整的光照强度: Φ= ∫ I dΩ (27) Ω --`.它被称作 "部分LED通量". 与前半球发射的通量相一致 (前向通 量), 这时,d = 0。 其他方向而非给定的锥形角度发射的通 量就被忽略了。 尽管这不是光发射的有效中心,LED的参考点是围绕 LED的端口,这是因为当很难确定有效发射中心甚至有时还 不知道时,对于任何类型的LED它容易被识别。 因其测量的 简单和可重复性而被选择。 为了在测量中达到可重复性,孔 (50 mm)的直径是固定的。 Fig. 例如..`.1. 60°.`--- 或者, 光源的覆盖着个假想的包围光源的封闭区域的完整的照度 : Φ= ∫ E dA (28) A 因此,一个LED的总光通量应该包括从一个LED发射的包括后向通量在内的所有的通量。 6. ΦLED.1) 。部分LED通量仅在当总光通量不能满足给定应用 的需求时使用。当使用部分LED 通量.1 总光通量 总光通量是光源的基础的量 。它被定义成在固定的角度范围4π steradian内一个光源的积累的光 照通量。 总光通量的符号是 Φ 或者 Φv 并且单位是流明.```. (如果对于同一锥形角度使用不同尺寸的孔,那么测量结果会改变。) 这不是一个在远地定义的真 实的部分通量.

`. 如果配光测试仪也被设计用 来测量平均LED强度,距离r可以按照条件A和B (100 mm 或者316 mm)来选择。注意,在这些条 件下的角度解决方案是相当差的 (由于测量通量的固定角度相当大)。 配光测试仪的光度测量仪前端应该满足章节3. 这时,测量结果可能与基于给定的LED类型的两种几何结构的结果修正的定义条件下(50 mm 孔 径)的值相同或者修正到该值,同时要考虑到附加的不确定成分。 6.`--- 配光测试仪可以设定成照度分布E (θ.这样的条件会使测量对于LED排成直线和距离及孔径方面的错误的敏感程度降低。 在一个生产的环境中. φ ) sinθ dθ dΦ (30) Φ = r2 2π π ∫φ ∫θ =0 E (θ . φ ) sinθ dθ dφ (31) =0 按照在公式31 中给出的定义,在假想的球中光源的位置并不重要,因此,理论上,光 源(LED)的排成直线跟测量的总光通量无关,尽管光源通常被放置在光度测量仪的旋转中 心。 测量的角度间隔应该按照LED的光束模式的锐利仔细的选择。实际中,LED不是点光源 并且它们的光分布并不统一。测量距离(光度测量仪的旋转半径) 应该设置成足够长 (一般为 300 mm 或者更长) 以致在距离测量(包括光度测量仪的参考平面的位置错误) (在等式31中用 到 的 )中 的错误或者LED排成直线方面的错误(公式30用到的)将是可忽略的.1 配光测试仪方法 6. φ). 由于测试光源的强度分布中的区别,配光测试仪方法理论上不存在错 误。它不需要总光通量标准。反而,对于每个样品它需要很长的测量时间。 通过测量光源的光强分布I (θ.2..1...`. 使用 了配光测 试或者积 分球测试 。 对于部分 L ED通 量的测量 ,通常 使用 积分球。 6.3中给出的光谱响应要求。光度测量仪前端 的校准(和光谱失谐修正)应该遵循对于平均LED强度测量的建议(章节5)。仪器也要求在仪器内 部具有对于周围光线和反射光线的仔细的保护。 角度扫描的范围必须覆盖整个测试LED发射的光线的固定角度。注意,尽管在一个向前 的方向具有一个窄光束,一些LEDs具有值得注意的反向发射量的。对于总光通量, 必须包括这 样的反向的发射。注意,一些配光测试仪可能只扫描前半球,这时,后向的发射就被忽略了,从 而导致总光通量方面的一些错误。 19 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale --`.````-`-`.`.```..φ)是在一个假想的半径为r [m]的球表面进行测量 的,而不是测量光强。 这时,给出总通量如下: ..2.2 光通量测量方法 对于总光通量的测量. 总的光通量计算如下: Φ= 2π π =0 =0 ∫φ ∫θ I (θ . 部分 LED 通量可能在一个改良的几何结构(更小的孔径)中被测量..1 总光通量测量 配光测试仪是在光源的很多不同的方向测量光源(或者在一个给定的距离的光源的照度)的光强的 设备。和积分球方法相比..

````-`-`.`..```.`.2. 建议的适用于LED总光通量的球形几何结构。(a) 适用于LEDs的 所有类型.2 积分球方法 6.. 9. 带大散热片并且无反向发射的高功率 LEDs可以用几何结构(b) 来进行测量,这时,只有LED 头部被插入到球内并且大散热片留在球外。 Cosine-corrected photometer head Cosine-corrected photometer head baffle baffle Test LED Test LED Substitution Substitution Standard LED Standard LED Auxiliary LED Auxiliary LED (a) (b) Fig. (b) 适用于不带后向发射的LEDs 对于任何一种几何结构.`.2.CIE 127:2007 6.2.. 因此可以用一个固定的光度测量仪前端来测量总通量并且测量是快速方便 的。用总光通量标准来对积分球光度测量仪进行校准。通过与具有相似的空间的和光谱的分布 的标准光源的对照来对测试光源进行测量。因此,这种方法需要对于光通量校准的标准光源。 和配光测试仪相比,测试时很快的,但是当测试LED和标准LED的空间强度分布不相似时容易产 生错误。这种类型的错误很难修正,所以应当通过优良的设计几何结构和使用标准LED的相似 类型来最小化这种错误。 图 9 显示了建议的适用于LEDs总光通量测量的球形几何结构。包括具有窄光束的轮廓或 者具有宽的和反向发射的所有的LED类型建议使用几何结构 (a)。在球形墙壁范围内,这种球形 几何结构提供了一个响应的良好的空间统一,并且对于LED空间强度分布方面的区别的敏感度降 低。在旧的实践中,测试LED被装到球形墙上,由于反向发射的损失通常对于总光通量测量不建 议这样做。 不管怎样, 几何结构(b)对于不具有反向发射的LEDs是被接受的。这种几何结构有 一个优点就是测试LED可以很容易被装到墙上。注意5 mm 环氧型LEDs可能具有大量的反向发 射,因此,应该使用几何结构(a).1 总光通量测量 一个用来测量LED通量的更简单的方法是使用积分球广度测量仪。它是一个实现视觉上的通量 的空间整合的设备. 1989)。自吸收测量必须在测试和标准LED属于同一类型 和尺寸情况下(严格替换)才能进行,或者除非球尺寸足够大以至于LED的自吸收可以被忽略不 计。 20 --`...在这样的球中可以将整个LED和散热器装在几 何结构 (a)中的球中心。 球必须装配有辅助的LED (CIE.`--- Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale ... 建议球的最小直径为20 cm。直径为20 cm to 50 cm的球通常用 于LED测量。球越大,空间不统一方面的错误会更低 (由于挡板的相对更小尺寸) 并且自吸收方面 的敏感度会更低,但是信号也减弱了。高功率LEDs (比如消耗的电功率> 1 W) 可以在大积分球 里测量 (如对于传统灯具的测量使用a 2 m 的球).

.2.`. 很重要的是光度测量仪前端具有一个很好的余弦响 应和好的V(λ) 匹配。应用于总的球形系统(光度测量仪前端 +积分球)的光谱响应要求 (章节 3..3.`.`--- 在进行部分LED通量测量时建议使用具有图10中所描绘的几何结构的积分球光度测量仪。该球 有一个洞,和这个洞连在一起的是一个精确的孔(直径为50mm)。参考平面(平面包括切割边 缘)应该被放置到与球(允许的全锥形角度最大为x=180°)的内表面持平的地方。测量孔面积时必 须考虑到一定的不确定性,因为它直接影响了部分LED通量测量的不确定性。建议使用直径尺 寸为20cm或者更大的球。对于更高的信号和更好的球响应空间统一,考虑到由于大的开孔造成 了有效球反射比的损失,首选一个相当高反射系数的涂层。距离d (从LED的末端到孔的参考平 面)是按照等式29并针对于给出的全锥形角度x°来确定的。 .2....g. 必须保护围绕测试LED和开孔的区域不被周围的光照到,并且应该小心的是直接来自测 试LED的光线可能会不带零散光或者没有经过LED周围的其他物体的反射就进入开孔。 21 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale --`.1) 应该被实现. 这里将测试 LEDs和同样类型(几乎相同的光谱分布)的标准LED进行对照。 必须小心的是..2..2.如果测量LED可以在球内生成荧光。当LED的峰波长在V(λ) (如深蓝LEDs)的两侧 时错误会很大,并且荧光发生在V(λ)的值很高的绿色区域时荧光的影响在测量的光通量中被放 大。 6. x = 180°).3。如果光谱失谐错误不可修正,严格的替换 (章节 6.```.````-`-`.依赖于球的特性,对于不同颜色的LED自吸收可能是不同的。如果区别很明显,那么最好用一个 和测试LED具有相似颜色的辅助的LED。 内部涂层反射比90% 到98%是首选的,这依赖于球的尺寸和球的使用方法。反射比越 大,获得的信号就越大,并且和LED强度分布变化有关的错误就越小。不管怎样,有更高的反射 比,球响应对于自吸收影响、长项漂移和光谱功率分布的区别就更敏感。为了保护光度测量仪不 被直接的来自参考和测试的最大尺寸的待测LED的光照到,挡板的尺寸应该尽量小。 在任何一种几何结构 (a)或者 (b)中. d = 0.2 部分 LED通量测量 挡板大约被放置在光度测量仪前端和开孔之间的中间位置,并且它应该是尽可能最小尺 寸但对于保护光度测量仪(光敏区域)防备整个孔的开口来说是足够大的。 如果测试LED很小并且被放置在远离开口(例如x = 60°)的地方,那么就不需要进行自吸收 测试了。不管怎样,如果测试LED(包括它的托架)很大并且/或者它被放置在接近/处于开口(例如d = 0.3) 。对于光谱失谐修正方法见章节6.. x = 180°)的地方,那么就需要进行自吸收测量了。 (e.`.3.

....2.CIE 127:2007 余弦-修正的 光度测量仪前端 dd 挡板 测试 LED --`.那么就需要很多不同的标 准LEDs了。(同样,注意,即使在这样严格的替换下,由于参考LED和测试LED的光谱分布的差 异,还是会存在光谱失谐错误,并且这样的错误应该被评估成一种不确定成分)。当测试LEDs和 标准LED不同时,由于颜色和空间分布式不相干的,应该用辅助灯来确定自吸收:在操作辅助 LED期间要关掉测试中的LED。重要的是它们是不同的,例如吸收的差异。 带更少标准的替换 很多情况下.2.2 应用光谱失谐修正 如果知道了积分球光度测量仪的相对光谱响应,那么就用某种颜色的(绿色、白色等等)标准 LEDs对球形光度测量仪进行校准,然后应用光谱失谐修正对任何颜色的待测LEDs进行测试。如 果不知道,那么必须测量待测LED的相对光谱分布。通过等式24来计算光谱失谐修正因子F,其 中srel(λ)可用下面的式子替换: 22 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale .```.`.3.````-`-`.3. 需要测量很多LEDs(颜色)类型并且不能供应如此多的标准LEDs。这种情况下, 建议使用章节6.3 球校准和修正方法 6.2..3。 6.`.2.`..2中所描述的方法。这时,推荐使用用户的装置来对多种颜色的校准标准 LEDs进行测试并且在每种LED颜色一定的不确定性范围中对照结果来核实结果的一致性。 6.1 严格替换 当测量某种颜色(光谱分布)的测试LED时,用一个同样颜色(或者接近同样的光谱分布)的 标准LED对积分球进行校准。当测量另一种颜色的测试LED时,就用同样颜色的另一种标准LED 对该球形光度测量仪进行校准。用如此严格的替换方法,就不需要光谱失谐修正了,并且该测 试是最简单的。不管怎样,如果要测量很多不同类型(颜色)的LED..`--- 50 mm 替换 标准 LED 精确 孔 辅助 LED Fig.2. 10. 为部分LED 测量推荐的球形几何结构 for Partial LED Flux measurement.3. 通过替换同种类型的标准LED来对待测LED进行测量。建议使用具有相似空间强度分布 的标准LEDs,原因是它会抵消或者降低很多错误来源比如零散光、距离d和孔面积A。关于标准 LEDs的使用和光谱失谐修正,请看章节6.

`. 该量的光谱集中是因波长而不同的,具体给出如下: X λ (λ ) = dX e (λ ) dλ (34) 23 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale .) 7.srel (λ ) = sph.1..4..`. rel(λ) 是 光 度 测 量 仪 前 端 的 相 对 光 谱 响 应 , 并且Trel(λ)为积分球的相对光谱范 围。 相对光谱范围的测量 可以使用下面的方法来测量积分球的相对光谱范围Trel(λ) : 1) 对于积分球里的总通量测量,首先,在球外面用一个光谱辐射测量 仪 测 量 参 考 钨 丝 灯 的 光 谱 分 布 。不同方向的测量时为了核查灯是否具有空间统 一的光谱分布。光谱辐射度测量仪必须处于发光模式并且具有很好的余弦修正。接着, 将灯放置在球里并在一个探测器端口(带有直接光线防护)用一个相同的光谱辐射度测量 仪来测量光谱分布。测量的球里面的光谱分布和球外的数据的比例将会给出球的相对的 光谱范围。 2) 使用积分球引进一个参考钨丝灯的一束光线来测量部分LED通量。用光谱辐射测 量仪在入口孔方向测量灯的光谱分布 (发光模式)。接着,用同样的谱辐射测量仪在 积分球的探测器端口测量光谱分布。谱辐射测量仪必须具有很好的余弦 -修正。在 球的探测器端口测量的光谱分布和直接测量的灯的数据的比例将会给出球的相对光谱 范围。 注意,如果球的涂层是不均匀的和/或者含有荧光,那么这种方法对错误很敏感。在这个 测量中用到的钨丝灯相对于球来说应该要足够小 (例如一个小型的钨丝卤素灯对于一个20cm的球 市合适的)。 通过下面的计算可能可以确定球的光谱范围Trel(λ): ρ (λ ) Trel(λ ) = k 1− ρ (λ ) ⋅ (33) 这里ρ(λ)是球涂层的光谱反射系数,并且k为归一化常量。注意,当球在使用中,涂层会变陈旧 并且会被污染。因此,对于实际的积分球来说,从涂层样品数据计算的结果可能不太准确。必 须在半球照明几何结构中对反射系数ρ(λ)进行测量。另外,由于共同特性..3 光谱辐射测量仪的使用 一个光谱辐射测量仪可能会作为积分球的探测器使用,并且如果光谱辐射测量仪被设置成测量 LEDs的总光谱辐射通量,那么可以在没有光谱失谐修正的情况下对总光通量进行测量。(见章节 7.```. 1-ρ(λ).2...`--- 6. rel (λ ) ⋅ Trel (λ ) (32) 这里 sph.````-`-`...2. 光谱测量 7.1 光谱浓度 对于任何给出的辐射度工程量Xe.1 光谱分布的概念 7. 在 ρ(λ)中的测 量错误会被放大。 --`.1.3.`.

为了给所报告的数 值提供一个更方便的数字范围通常报告中记作mW ..sr-1 nm-1。 Iel(λ) (often written simply as Iλ are W .5 (38) 注意: 在 很 多 应 用 中 也 会 采 用 △λo.. sr nm or 注意: 光谱浓度也可以表达成频率或者波数的函数..5 = λ"0.1 峰波长 光谱分布的最大值处的波长就是峰波长λp。 为 了 给 出 一 个 具 有 整 体 最 大 值 的 相 对 的 光 谱 分 布 , (绝对的) 光谱分布通常在这个波长被规格化 ,而不是在一个随意的波长处。 7.2. 但 是 通 常 选 择 的 波 长 函 数 是 用 来 表 征 L E D s 的 光 谱 分 布 特 征 的 。 光谱分布的现状将会随着使用的光谱辐射测量仪的带宽发生 微小的改变。当展示光谱分布数据时,测量中使用的全宽度中值的带宽(FWHM)和应用的 任何对于零-宽带的修改都要被公布出来。带宽要不大于nm。 7.1. sr m ..' o..```.`--- Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale .2.`.3 中强带宽的中心波长 光谱带宽在50 %水平时的两限制波长λ.sr-1 nm-1. sr-1 nm-1或者 μW .2 正规化因素和相关的光谱分布 LEDs发射的光谱辐射的波长限制在λ1≤λ≤λ2的范围。规格化光谱分布函数和将其分为两部分通 常是有帮助的,其中一部分是规格化因子Xeo,它是在波长λ= λo时获得,光谱浓度单元为 : (35) X e0 = X λ (λ = λ0 ) 另一部分是对照函数Sx(λ) S x( λ ) = X λ (λ ) X e0 (36) 它被称作相对光谱分布,呈现的是一个整体面积,但是仍然与为原始的量定义的几何测量条件有关。 从公式36.5和λ.2 (37) 光谱分布相关的工程量 图11说 明 了 在 下 面 的 章 节 中 描 述 的 典 型 波 长 的 位 置 。 其形状为所有LEDs的典型的曲 线图,具有波长范围λ1≤λ≤λ2外的零值和一个介于两者之间的重要的最大值。图2显示了挑选的 典型的不同类型的现今商业上可用的LEDs和IREDs的光谱分布。 7.2.λ'0. usually reported as mW .5m,其计算如下: 24 --`.'o.CIE 127:2007 Xλ(λ) 被称作该量的光谱分布,这个函数是一个波长的函数,光谱辐射度工程量单位是 按照单位长度划分的辐射度工程量,米。例如,辐射强度Ie的单位尺寸是W .5来计算的: Δλ0.5和λ"o.5 .````-`-`.5之间的波长指定为λo.2 中强水平的光谱带宽 中强水平的光谱带宽 △λo..5(见图11)。这就是介于强度降低到最大值得十分之一时的两波长之间的 带宽。 7.`. sr-1 并且 光谱 辐射强度I e l (λ)的单位尺寸是 (经常简单写成l(λ)) 的 单 位 是 W.`..5是通过λp(此处的强度为峰值的50 %)两边的两个波长λ" o. (绝对的) 光谱分布可以写作 X λ (λ ) = X e0 ⋅ Sx (λ ) 7.

2.4 质心波长 光谱分布的质心波长λc .```.2 0.5 λ (nm) (nm) ΔΔλ λ 0.λ0.2 0 0 λp λc Δλ Δλ0.6 S( λλ)) 0. LED的典型的相对光谱分布,显示了典型的波长和波长间隙的位置 7. 2004)。白色LEDs是用它们相关的颜色温度 来描述的。 25 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale --`.8 0.`...5 + λ"0.4 0.5m = 1 2 (λ '0..`--- 7.6 0..5 ) (39) 11 0.10.`.3 .````-`-`.`.它是作为“万有引力波长的中心”并按照下面的等式来计算的: λ2 λc = ∫ λ ⋅ S X (λ ) dλ λ1 λ2 ∫ SX (λ ) dλ (40) λ1 注意..50..1 Fig.. 11.8 0.质心波长不像其他的此处定义的典型的波长 ,当作为很多LEDs的典型的光谱 分布类型来计算时,可能会在曲线(这里的测量的不确定性由于丢失的辐射、噪音影响或者 的扩音器补偿的影响而增加)逐渐缩小的尾部严重的受到很小的相对光谱分布值的影响。 由光谱分布决定的色度工程量 LED发射的光的颜色可能被以色品坐标条款的方式详述,并且这些都通过从光谱能量 分布来进行很好的计算获得。也常常被用来表征LEDs的颜色的两个非传统的工程量是主波长 和纯度,它们不能用于白色LEDs。它们可以被用来提供颜色的色调和饱和度的定量性测量并 可从下面将解释的色度坐标来计算。图12 说 明 了 主 波 长 和 集 电 纯 度 的 概 念 。要看关于色 度的概念和计算的补充资料,请见参考(CIE.4 0.

3 700 0.2 480 0.6 yy λd 500 0.. Yd) 分 别 代 表 点 C , N 和 D 的 x , y 色 品 坐 标 。 注意: 如果测试的染色性是位于光谱核心,那么集中纯度的值就是整体。如果测试的染色性和参考 刺激物具有相同的色品坐标,那么该值为零。 26 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS --`.5 DD 580 C C 0.2 纯 度 为了表征LED发射的纯度,采用了术语集中纯度 p e ,其定义如下: 在CIE1931标准色度系统(1964图表对于更低的饱和度给出的值有微小的不同)中,的色品图 上用两线状距离的比例NC/ND定义的量,第一个距离是介于代表了考虑的颜色刺激物的点C和代表 了指定的非彩色的刺激物的点N之间的距离.CIE 127:2007 0.. (xn.3333.7 560 0.`--- Not for Resale .yn yd ..`.8 540 0.2 0.`.. (xd. 0 0 460 380 0.xn (41) 这里 (x. 第 二 个 距 离 是 介 于 位 于 考 虑 的 颜 色 刺 激 物 的主波长的光谱位置的点N和点D之间的距离。 该定义导致下面的表述: Pe  y .`. CIE 1931 色品图,显示了用于主波长和集中纯度计算的距离和交叉 7. 0..y n 或者 Pe  x .3. y).. Yn).4 0.```. YE = 7.3. 12.6 xx 0.xn xd .1 主 波 长 一个颜色刺激物的主波长λd定义如下: 单 频 的 刺 激 物 的 波 长 , 当 以 适 当 的 比 例 和 非 彩 色的刺激物相混合,可以与颜色刺激物相匹敌。 对于表征LEDs来说,参考的非彩色刺激物应该是一个同等的能量光谱,刺激物的可表示为 波长的函数的功率的光谱浓度是恒定的 (有时表示为照度E) 并且具有色品坐标 XE = 0.8 Fig.````-`-`.4 600 620 N N 0..9 520 0.3333.

`.7.3 平均LED强度)。对于平均 LED强度的测量,选择的孔的尺寸应该要满足CIE条件B或者CIE条件A几何结构。 7. 3) 部分通量模式4) 辐射模式。在发光模式下,一个测试 LED的光谱分布和颜色是在一个方向测量的,尽管在总通量模式下它们是从所有方向的平均测 量的。部分通量模式是介于两者之间的。辐射模式是通过光度测量仪的视觉成像来对LED表面 的光谱辐射进行测量。辐射模式可以在大多数典型的单色LEDs上使用,单色LEDs具有颜色的空 间统一分布。白色LEDs具有非统一的颜色空间分布..2),对于平均LED强度测量来说可能是不合适 的。空间统一性较差的扩身体仅当其被测试LED均匀地照亮才会有效。即使是简单的颜色测量, 也应该避免不带扩散体的光纤视觉输入的使用,原因是测量会对干扰角度和由此决定的光源尺寸 很敏感。对于典型的LEDs的颜色测量,修正角度应该选为10° (+/... 这时建议使用总通量模式或者部分通量模 式来测量平均颜色。 7.```..5°) 或者更少。如果获得了足 够的信号,推荐使用CIE条件B或者CIE条件A几何结构 (见章节 4..1 发光模式 测量了在一个给定的固定的小角度范围内的 一个方向传播的待测LED的辐射。 图13显示 了发光模式布置下的输入几何结构。用一个 光谱发光标准灯(通常.1 平均LED强度的测量 在发光模式中如果光谱辐射测试仪输入光被布置成CIE-B 或者 CIE-A 几何结构,并且针对绝对光 -2 -1 谱照度来校准,可以从绝对的光谱照度E(λ) [Wm nm ]来测量一个测试LED。 27 --`.1. 2) 总通量模式..一个石英-卤素钨丝灯 ) 来对该光度辐射测量仪进行校准 。重要的 是,引进到光谱辐射测量仪中(入口裂缝或者 光纤输入)的标准灯和测试LED的辐射具有相 同的空间和角度分布,并且具有相同的光偏 振条件。(注意,钨丝灯是轻微偏振的。) 为 了达到这个目的,对于输入光通常就需要一 个小积分球 (如直径为 50 mm) 或者一个扩 散体。这样的输入光应该为分散的元素提供 空间和角度一致的照明,这些分散的元素是 独立于光源的尺寸和强度分布的。因此,该 LED和标准LED可能在尺寸方面是不同的并 且(对于相似的信号水平)可以放置在不同的 位置。 Integrating sphere Spectral irradiance standard lamp Spectroradiometer Fiber-optic input Transmitting diffuser Reflecting Diffuser Radiance-mode spectroradiometer Fig. 13..````-`-`. 必须小心的是扩散体表面的光响应的空 间不统一性。如果响应的空间一致性很差(见章节3.`--- Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale .4.4 LEDs的光谱测量 对于光源的光谱测量的一般参考,请参考CIE 63 (CIE. 1984b)。这个章节对于具体的LEDs描述 了光谱辐射测量仪的要求。可以用光谱辐射测量仪在四种不同的模式下测量LEDs的光谱分布和 颜色: 1) 发光模式.`.4.`. 对于发光模式的光谱辐射测 量仪的输入几何结构的例子 在图13给出的例子中,尽管敏感度是最低的,积分球的使用 (并不限制于图中显示的几 何结构)对于任何光谱辐射测量仪都是最被推荐的。当要求更高的敏感度时就可能会用到反射扩 散体。当使用一个扩散体 (尤其是当与光纤相结合时)时.

应该通过测量不同颜色的标准LEDs来核准结果。如果一致性是在一定 的测量不确定性范围内,那么结果就是不带任何修正的有效。覆盖范围因素k = 2时由超出的联合 不确定性造成的分歧可能会显示不完全的不确定性预算,并且应该要审查(ISO. λ (Km = 683 lm/W) (42) 当采用这种方法,应该通过测量不同颜色的标准LEDs来核实结果。如果一致性是在测量 的不确定性的一定范围内,那么结果在不需要任何修正情况下是有效的。覆盖范围因素k = 2时由 超出的联合不确定性造成的分歧可能会显示不完全的不确定性预算,并且应该要审查(ISO.`.4.修 正 挡板 测试 LED 总光谱辐射通量标准灯 辅助灯 自吸收是波长的函数,于是,即使是对相 对光谱分布的测量,也要应用自吸收修 正。 Fig..1 总光通量的测量 如果总通量模式下的光谱辐射测量仪针对绝对光谱辐射通量进行校准,那么可以针对绝对的总 光谱辐射通量对测试LED进行测量。由此,总光通量Φ v [lm]就可以从下式获得: Φ v = Km Φ ( λ )V ( λ ) dλ ∫ λ (43) 对于这样的绝 (Km = 683 lm/W) 对测量,自吸收修正(光谱的)是批判性的,原因是标准灯的尺寸和形状和 LEDs的是很不一样的 当采用这种方法.4.. 总通量模式光谱辐射测量 仪的几何结构的一个例子 7.````-`-`.2 总通量模式 测量了测试LED的 (空间的) 平均光谱分布。 对于 普通的照明,这种模式通常用于测量发光灯的光 谱分布和颜色,原因是它们趋向于具有颜色的空 间不统一分布。这种模式,如果在绝对的单元里 校准就会测量光源的总的光谱辐射通量 (单位: W/nm) 。图14显示了一个总通量模式的几何结构 的例子。该球具有和图9(a)中给出的用于总光通 量模式的一样的几何结构。 9(a)中用它的光度测量仪替换成了光谱辐射测量 仪。标准LED和辅助LED都是替换成标准灯和辅 助的灯。光谱通量是整个固定角度内(4π sr)空间 的积累。用一个总光谱辐射通量标准灯(通常是一 个钨丝灯)来对这样一个系统 (光谱辐射测量仪 + 球) 进行校准。 .`--- 7. 1993)。如果需要,仅在相对情况下可以实施光谱校准,而绝对的尺度应该从标准LEDs来给出。 光谱辐射测量仪r 余弦.4..2.`.3 部分通量模式 对于部分通量模式也可以使用光谱辐射测量仪。图15显示了一个这样的几何结构的例子。这是 一个和图10中用于部分LED通量的相同的球形几何结构,就是将 28 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale --`. 14.```.. 平均LED 强度ILED可以通过下式获得: ILED = d 2K m ∫ E(λ )V (λ ) dλ..`.CIE 127:2007 依靠这和LED的位置(100 mm or 316 mm)的距离d[m].. 1993)。如果需 要,仅在相对情况下可以实施光谱校准,而绝对的尺度应该从标准LEDs来给出。一般,在进行 主要的校准步骤时,应该采用会导致最低测量不确定性的校准路径。 7..

15.```..那么可以通过光谱照度E(λ) [Wm-2nm-1]来计算引进到球里 的光谱辐射通量Φext(λ) [W/nm]: --`.从中可得到部分LED通量ΦLED.4.````-`-`. λ (Km = 683 lm/W) (45) 如果测试LED具有一个不可忽略的并且/或者位于接近开孔的地方的支撑架,那么就要使 用一个辅助的灯来实施自吸收测量并且要应用修正。在一些情况下,如果测试LED和支架很小并 定期被放到远离开口的地方,那么自吸收可以被忽略。当采用这种方法,应该要通过测量不同颜 色的标准LEDs来核实结果。如果如果一致性是在一定的测量不确定性范围内,那么结果就是不 带任何修正的有效。覆盖范围因素k = 2时由超出的联合不确定性造成的分歧可能会显示不完全的 不确定性预算,并且应该要审查(ISO.2.2 中给出的关于球的结构的同样的建议.. 部分通量模式光谱辐射测量仪的几何结构的一个例子 可以用光谱照度标准灯来对带光谱辐射测量仪的积分球进行校准。该标准灯被放置在球 外距离孔d的地方,也是在同样的距离对光谱照度进行校准的。 (例如... 1993)。如果需要,仅在相对情况下可以实施光谱校准,而 绝对的尺度应该从标准LEDs来给出。一般,在进行主要的校准步骤时,应该采用会导致最低测量 不确定性的校准路径。 29 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale . x = K m ∫ Φ e.3. ka 和 A几乎可以被忽略。 7..1 部分LED 通量的测量 如果在部分通量模式下的光谱辐射测量仪针对绝对光谱辐射通量Φext(λ)进行校准,那么测试LED 就可以针对部分光谱辐射通量Φe.`. a 1000 W FEL 类型的灯通 常在50 cm 至 70 cm的距离进行校准。) 如果孔的面积 A [m2] 是已知的. 仅对颜色).x ( λ )V (λ ) dλ. x [lm] 如下: Φ LED.`--- Φ ext ( λ ) = k a ⋅ A ⋅ E(λ ) (44) 这里 ka 是球的开口周围的平均光照的修正因子,并且围绕这个小的区域来对灯的光照进行校 准。通常用小得多的修正角度(于是,小得多的面积)来对光谱照明标准灯进行校准。通过在围绕 球开口相关的区域里空间绘制灯的光照分布可以得到ka 。仅对于相对光谱测量(例如.`.LED. x(λ) [W/nm] 进行测量.2.. LED..光度测量仪前端换成了光谱辐射测量仪,并且将辅助LED换成了辅助灯。应用了在章节6.`. 除了:如果按照这种布置仅测量相对光谱分布,那么孔的 要求不是严格的。 光谱辐射测量仪Spectroradiometer dd 挡板 cosine-ed 余弦修正 correct 测试 LED 光谱辐射标准灯 辅助灯 Fig.

Si-1..1).v’中小于 0..002。这样的由于光谱测量仪的带宽造成的错误与带宽的平方成比例。对于一个5 nm的 带 宽 ..4 带宽和扫描间隙的考量 当进行光谱测量时,由于光谱辐射测量仪的带宽和扫描间隙(CIE. 1988)应用起来很简单,并且很 有效。应用 S-S方法时. 1984b)方面的原因将会发生错 误。这些错误在具有狭窄发射频带的LEDs中更显著。光谱辐射测量仪的带宽对有加宽测量光谱 的影响,这将造成获得的颜色工程量方面的错误。例如,一个10 nm的带宽 (FWHM. 对 于 5 nm 的带宽采用2.`. 或者如果带宽超过了5 nm (但是小于10 nm). Si+1 和 Si+2 的值,相当于,例如,440 nm. 要求带通必须是一个三角函数.5 nm的间隙) 对于颜色测量是有利的,那是因为对于给定的带宽,将需要降低由随机噪声和抽样错 误引起的色度的错误。 当带宽和扫描间隙是固定的并且在商业仪器中不改变 (例如.003的错误.. 450 nm. 和 460 nm。如果带通要求完全满足精确度,那么将排除大部分的带通错误。如果带宽为5 nm并且 扫描间隙为2. 即将出版)。 7. n: integer)。例如,对于5 nm的带宽和5 nm的扫描间隙,要在邻近的5个点 从原始的值重新计算修正的光谱值Si’ ,具体如下: Si’ = (Si-2 . 这些参数 在大部分机械-扫描类型的仪器中是可选择的。为了更少的错误,更小的带通是合适的,但是信 号会减弱。更小的间隙是合适的,但是测量会需要更多的时间,所以这些参数是依赖于LEDs的 强度和要求的不确定性来设置的。 7.````-`-`.4. Si.`.```.4. --`. 并且带宽 Δλ0.00001 in u’..5 其他不确定成分 除了带宽和扫描间隙影响,在光源的光谱测量中还有很多其他的不确定成分,比如波长错误、 噪声、零散光、荧光、探测器的直线性、光谱标准中的不确定因素等等。噪声 (动态范围) 30 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale . 带 宽 不 是 完 全 的 三 角 形 状 并 且 在 可 见 区 域 不 是 完 全 恒 定 不 变 的 。 因此,修正的结果就不会和模拟预测的一样完美。即使是在修正之后 也应该考虑到一些残余的错误。那些可应用于非三角的带通的改进的方法并不要求带宽 和匹配的扫描间隙,也变成可应用的了(即将出版.12Si-1 + 120Si .`. 加德纳. 二极管-阵列 类型).5 和扫描间隙λstep 必须匹 配(Δλ0.12Si+1 + Si+2) / 98 (46) 这里Si-2.4.0005。对于 5 nm的数据间隔的错误是可 以忽略的(<0. 445 nm.CIE 127:2007 7. 455 nm. 那么波长周围的每5个点的原始值就被用来进行计算。 注意: 在真实的光谱辐射测量仪中. 并且对于绿色LED 是~0..1 带通修正 对于最高的精确度应用.001。对于实际的LED测量,一个5 nm的带宽或者更少是可以接受的和推荐的。在LED测量中不推荐使用大于5 nm的带宽.5 = n Δλstep.v’)。尽管给发射灯的比色法匹配带宽和扫描间隙是常见的操作,但是失 谐几乎不影响LED色品方面的错误。在一定程度上,对于一个给定的扫描间隙更小的带通是重要 的。扫描间隙,不管怎样,取得如LEDs的峰波长和光谱宽度(光谱形状)这样的工程量是重要的。 如果仅测量染色性,一个5 nm或者更小的扫描间隙是完全可接受的。对于测量峰波长和光谱宽 度,一个2.4. 三角形) 将 会 引 起 一 个 u’v’色 品 方 面 的 对 于 红 色 和 蓝 色 L E D 的 ~0.4.5 nm.5 nm 或者更小的间隙是被推荐的。过取样(如. 建议应用一个带通修 正。Stearns 和Stearns方法 (S-S 方法) (Stearns and Stearns.4.对 于 任 何 颜 色 的 L ED 在u’v’ 色品方面的错误将会小于0.但是使用 时可能需要合适的带通修正 (见章节7.`--- 扫描间隙也会造成错误,尽管比由带通造成的错误小得多。例如,由数据间隔10 nm (带 有 0 nm的带宽)对典型LED造成的错误在u’..

.. Optical and Quantum Electronics. CIE. . 1984a.L. Methods of Characterising Illuminance Meters and Luminance Meters. Bandwidth Correction for LED Chromaticity. 1993),光谱值中的不确定性或者波长中的不确定性将会演变成 颜色工程量中的不确定性(例如与颜色温度相关的色品坐标、主波长) 。计算由光谱值的不确定性 或者波长中的不确定性造成的光源(包括LEDs)的颜色不确定性的实际方法是可得到的(Ohno. 2000.. to be published. 2. CIE 64-1984. and SCHANDA. to be published. 1984b.. Photometry Using V(λ)-corrected Detectors as Reference and Transfer Standards. and MASSOT. GOURE. to be published b. A report from TC 2-37.`. Commentaires sur la détermination de la loi de luminance L(P. Measurement of Luminous Flux. The Spectroradiometric Measurement of Light Sources. CIE.. 1987a. 1993. 2001.和零散光对于LED测量时很严重的,原因是典型LEDs仅在视觉范围的一部分中发射。如果零散 光信号在LED无发射的区域里衰减,那么对于颜色的影响会很大。一些商业仪器不允许光谱分 布有负值(由于噪声),这在LED颜色测量中也是不被接受的。在LED没有发射的区域,如果负值 噪声都被缩短到零,那么剩下的正值噪声将会对零散光线造成相似的影响并在色品方面引起重 大的错误。如果是UV-LEDs. 1989. CIE 63-1984. J. GARDNER. 1982. 2001.N. CIE x020-2001. CIE.. In Proc. 2004. 1980. 1989. 5. GARDNER.. 2000. and BARTELSON. 1983.`--- GRUM. Color Res. J. 349-355. 1987. J. Color Res. The Measurement of Absolute Luminous Intensity Distributions. KRANICZ. CIE 69-1987. 由荧光造成的测量不确定性将会变得更显著。 通过统计学的方法(ISO. CIE. B. CIE. 1984b)。 8. CIE.```. To be published.L. 1987. 1980.. 2000)。 光谱测量中的其他不确定细节在通用光源中是常见的,并且超出了本报告的范围。这些 在参考文献中有涉及到(CIE. 1993. CIE 18. New York. Colorimetry. A report from TC 2-43. & Appl..`. The Basis of Physical Photometry. CIE. To be published in: Svetoteckhnika/Light & Engineering.````-`-`. Y.. 参考文献 CIE. CIE 84-1989. J. J.2-1983. 1984. 1987c. 1982. Description of a partial f1’ error index recommended for LED photometry. 1984. 25.. 2001.. CIE 15:2004.`. ISO. CIE. P.q) d’une source semi-conductrice en champ proche. Academic Press. 14. 1987b. 31 Copyright International Commission on Illumination Provided by IHS under license with CIE No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale --`.. 8-11. CIE Expert Symposium 2001 on Uncertainty Evaluation. Gardner. Optical radiation measurements. International Lighting Vocabulary. Determination of Measurement Uncertainties in Photometry. CIE. to be published. CIE 70-1987. CIE 17.. Vol. CSUTI. F. Uncertainty estimation in colour measurement. To be published. Determination of the Spectral Responsivity of Optical Radiation Detectors. 2004. Color Measurements. to be published a...J. OHNO. A Numerical Method for Color Uncertainty. C. Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement.P. 1983.4-1987. & Appl. 1987..

& Appl. In Proc. G. E.l.. WYSZECKI. 1982. 13. Color Res. STEARNS. 32 C op ynq ht lntemat1onal CommiSSion on Illuminatio n P ro vide d by IHS under license w1th CIE No rep ro d uctio n or ne two rking pe rmitted Without license from IHS Not for Res ale . 9-13 May.CIE 1272007 OHNO. 1982. 1988. and STILES. Spain. and STEARNS. Y. 1988. Color Science. New York. AIC'05. John Wiley & Sons. to be published. 257-259. Granada. to be published. 2nd ed.E. An Example of a Method for Correcting Radiance Data for Bandpass Error. WS. R... 2005. A Flexible Bandpass Correction Method for Spectrometers..

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