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METROLOGIA Y ENSAYOS

INTRODUCCIN A LA METROLOGA

METROLOGIA Y ENSAYOS GRADO MEDIO

METROLOGIA Y ENSAYOS
ndice
1. Patrn primario de longitud: Materializacin del metro.
2. Clasificacin de la metrologa dimensional. 3. Consideraciones en medidas dimensionales. 4. Instrumentos de medida en metrologa dimensional y su trazabilidad

5. Magnitudes macro-geomtricas en metrologa dimensional.


6. Magnitudes micro-geomtricas en metrologa dimensional.

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Patrn primario de longitud: El metro, m
Evolucin de la unidad de longitud (i)
Las primeras definiciones de la unidad de longitud son definiciones en algunos casos difcilmente reproducibles y materializadas en barras con la dificultad que ello conlleva.
Es en 1960 y debido al progreso constante de las medidas pticas cuando se provoca el cambio fundamental en la definicin de esta unidad y se decide pasar a un patrn natural e indestructible . La XI Conferencia General de pesas y Medidas acord una nueva definicin del metro basada en la longitud de onda en 1960: El metro es la longitud de 1 650 763,73 longitudes de onda en el vaco de la radiacin correspondiente a la transicin entre los niveles 2p10 y 5d5 del tomo de kripton 86.

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Patrn primario de longitud: El metro, m
Evolucin de la unidad de longitud (ii)
El nmero escogido de la cantidad de longitudes de onda se fij en 1 650 763,73 para no introducir demasiados cambios en la magnitud del metro definido con anterioridad. Con esta definicin, quedo determinada la longitud de onda de dicha radiacin en el vaco con una reproducibilidad de 110-8 en valor relativo.

La realizacin prctica de esta definicin requiere de la excitacin de los tomos de kripton, efectuada por una descarga en una clula conteniendo vapor y la observacin de la luz de fluorescencia emitida por estos tomos.
Entre 1967 y 1968 aparece tambin la definicin del segundo atmico.

El segundo se define como la duracin de 9 192 631 770 periodos de la radiacin correspondiente a la transicin entre dos niveles hiperfinos del estado fundamental del tomo de Cs 133.

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Patrn primario de longitud: El metro, m
Definicin actual del metro
La actual definicin del metro fue adoptada en la XVII Conferencia General de Pesas y Medidas, en 1983 como: La longitud del trayecto recorrido por la luz en el vaco durante un tiempo de 1 / 2 999 792 458 s. Con la definicin de 1980, se obtuvo como gran ventaja la mejor reproducibilidad del patrn. Con la definicin de 1983 se obtiene otra ventaja adicional respecto a las anteriores, y es que puede materializarse la unidad de longitud sin modificar la definicin del metro.

El CIPM se encarg de dar una lista de Recomendaciones para la realizacin prctica del metro, donde figuran 8 radiaciones recomendadas de lseres estabilizados y dos radiaciones de lmparas espectrales (entre ellas la radiacin del Kr 86).

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Patrn primario de longitud: El metro, m
Materializacin actual del metro
La radiacin ms ampliamente empleada para la realizacin prctica de la unidad de longitud es la correspondiente a lseres de He-Ne (estabilizados mediante absorcin saturada de 127I2), y con una longitud de onda en el vaco de 632 991 392,22 fm, lo que corresponde a una frecuencia de 473 612 214 702 kHz, con un incertidumbre relativa de 2,510-11 La realizacin prctica del metro se lleva a cabo en los Institutos Nacionales de Metrologa, en el caso de Espaa en el Centro Espaol de Metrologa. stos sistemas son comparados en el BIPM y muestran un acuerdo de unas pocas partes en 1011.
En gran parte de laboratorios se emplean sistemas interferomtricos lser para realizar mediciones de longitud. Estos lseres han sido calibrados contra estos lseres estabilizados mediante celda de Iodo, para asegurar la trazabilidad de las medidas por medio de una cadena ininterrumpida de calibraciones.

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Introduccin a la Metrologa Dimensional
La finalidad bsica de las mediciones dimensionales en la produccin es garantizar y verificar la concordancia del producto fabricado con sus especificaciones de diseo. La necesidad actual de una mayor exactitud en las mediciones procede de la mayor precisin requerida en la fabricacin, debido a nuevas exigencias:
Tolerancias de fabricacin ms estrechas.
Compactacin y miniaturizacin de componentes y productos (microelectrnica).

Diseo compensado entre fuerzas y tensiones.


Mayor precisin operacional y mejores prestaciones en engranajes, rodillos, elementos de guiado y sellado, etc., lo que implica tolerancias de posicin, y forma geomtrica y de calidad superficial ms estrechas. Ensamblado automtico a altas velocidades.

Intercambiabilidad general de piezas, componentes y repuestos.


Fiabilidad en el funcionamiento de mquinas y fabricaciones en general.

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Clasificacin de Metrologa Dimensional
Atendiendo al tipo de mediciones a realizar o de defectos a evaluar:

Microgeometra
Acabado superficial Nanometrologa

Macrogeometra
Dimensiones
Longitud ngulos

Formas
Rectitud, Planitud y Paralelismo Redondez y Cilindricidad Simetra y Concentricidad

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Imperfecciones en metrologa dimensional
Origen de los defectos macrogeomtricos
Precisin de las mquinas-herramienta utilizadas en la fabricacin, y el estado de conservacin de las mismas, en el momento de la mecanizacin de las piezas.

Calidad y estado de desgaste de la herramienta de mecanizacin.


Deformaciones elsticas de la pieza, en su fijacin a la mquina. Deformaciones debidas a dilatacin trmica, tanto de la pieza como de la mquina, en funcin de sus respectivas temperaturas durante el proceso de mecanizado.

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Imperfecciones en metrologa dimensional
Origen de los defectos microgeomtricos
Las causas a que obedecen los defectos microgeomtricos son tambin variadas, pero ligadas a la mquina herramienta que produce la pieza:
Filo de la herramienta Velocidad de giro Avance del husillo

Vibraciones, etc.

Las piezas aparecen pues con superficies irregulares, compuestas de ondulaciones, picos y valles, con determinados valores de paso y amplitud, dependiendo del proceso de mecanizado seguido. Caractersticas como resistencia al desgaste, rodadura, deslizamiento, propiedades de lubricacin, resistencia a la fatiga, intercambiabilidad funcional, resistencia a la corrosin, etc. estn ligadas al estado superficial del elemento en cuestin.

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Fuentes de incertidumbre en metrologa dimensional
En la prctica existen muchas posibles fuentes de incertidumbre en una medicin, entre ellas: Definicin incompleta del mensurando. Realizacin imperfecta de la definicin del mensurando. Muestra no representativa del mensurando.

Conocimiento inadecuado de los efectos de las condiciones ambientales sobre la medicin, o medicin imperfecta de dichas condiciones ambientales.
Lectura sesgada de instrumentos analgicos por parte del operador. Resolucin del instrumento de medida. Valores inexactos de los patrones de medida y/o de los materiales de referencia.

Valores inexactos de constantes y otros parmetros obtenidos de fuentes externas y utilizados en el algoritmo de tratamiento de datos.
Aproximaciones y suposiciones establecidas en el mtodo y procedimiento de medicin. Variaciones en la repeticin de las observaciones del mensurando bajo condiciones aparentemente idnticas.

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Precauciones a considerar en medidas dimensionales
Cuando se pretende medir con cierta exactitud la longitud de un objeto material, es necesario conocer su temperatura, as como el valor del coeficiente de dilatacin.
Las mediciones de gran exactitud nicamente pueden realizarse en locales que cumplan las caractersticas siguientes:
Temperatura constante: Los resultados de medida vienen referidos a 20 C, por tanto es indispensable trabajar en un local cuya temperatura sea lo ms prxima posible a esta referencia. Ausencia de vibraciones: Las vibraciones podran dar lugar a desplazamientos imperceptibles de las muestras bajo medicin, o de ciertos rganos de las mquinas de medicin, o generar un ruido que hiciera imposible la medicin. Grado higromtrico adecuado.

Limpieza y ausencia de polvo.

Tras haber adoptado las precauciones necesarias para obtener una buena estabilidad en temperatura, y para eliminar las vibraciones, la regulacin del grado de humedad y el trabajo en ausencia de polvo son fciles de conseguir.

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Instrumentos utilizados en Metrologa Dimensional
Los equipos utilizados en los laboratorios de Metrologa Dimensional son muy variados, atendiendo a las diversas magnitudes a medir, al campo de medida, a la resolucin, a los principios fsicos en los que se basan,.etc. La eleccin de uno u otro depender de la incertidumbre requerida en el proceso de medicin, funcin a su vez de la tolerancia especfica que deba garantizarse. La industria cuenta hoy da con captadores electrnicos, de tipo inductivo y capacitivo, comparadores mecnicos y neumticos, sistemas multicota, medidores pticos, lseres, interfermetros, reglas codificadas, mquinas de medicin por coordenadas, etc., que han supuesto revoluciones parciales en el campo de la Metrologa Dimensional, sobre todo al combinarse con la informtica:

Automatizacin de los procesos de medicin.

Eliminacin de la influencia del operado.


Mayor repetibilidad y fiabilidad.
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Trazabilidad de los instrumentos de metrologa dimensional

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Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional
Patrones primarios de longitud
El rea de Longitud del CEM posee dos lseres de He-Ne estabilizados sobre clula interna de Iodo (llenado BIPM), emitiendo en 633 nm, con los que realiza y mantiene la actual definicin del metro. Dichos lseres son, por decisin oficial, los patrones nacionales, de los que se derivan todos los dems existentes. La incertidumbre tpica, para un nivel de 1, con la que se realiza la unidad de longitud, mediante la frecuencia de emisin de dichos lseres es de 2,5 x 10-11.

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Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional
Patrones materializados para mediciones de longitud (i) Los tipos bsicos de patrones son:

Patrones a cantos: Bloques patrn, barras de extremos, etc.


Patrones a trazos: Reglas a trazos, codificadas, etc. La calibracin de los patrones a cantos, se realiza por interferometra o por comparacin mecnica, dependiendo de su grado de calidad. En el caso de los patrones a trazos, los mtodos utilizados suelen ser interferomtricos, con ayuda de mtodos pticos para el enrase de los trazos.

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Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional
Patrones materializados para mediciones de longitud (ii)

Bloques patrn
Los bloques patrn son patrones materializados de longitud en forma de paraleleppedo rectangular cuyas caras opuestas, denominadas caras de medida, poseen una calidad superficial tal que tienen la propiedad de adherirse a otras caras de la misma calidad superficial, sean stas de otros bloques, o de bases de apoyo como las utilizadas en su medicin interferomtrica.

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Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional
Patrones materializados para mediciones de longitud (iii)

Bloques patrn escalonados

Este tipo especial de patrones de longitud, consiste en un soporte rgido, en cuyo eje de simetra, o fibra neutra, van localizados una serie de bloques patrn. Estos bloques, de acero, carburo de tungsteno o cermica, tienen comnmente longitudes individuales de 10 mm, y separacin variable entre caras adyacentes. Las longitudes totales de los soportes van desde los 300 mm, hasta los 1200 mm como mximo.

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Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional
Patrones materializados para mediciones de longitud (iv)

Barras de extremos

Se trata de cilindros de acero duro y estabilizado, con extremos esfricos, de dimetro igual a la longitud de la barra, o bien de extremos planos, y de longitudes variables. La forma primera es de mejor calidad metrolgica. Las del segundo caso suelen utilizarse para la verificacin de micrmetros de exteriores.

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Patrones materializados para mediciones de longitud (v)

Patrones de dimetro interior (anillos)


Se trata de patrones materializados, en acero muy duro, estabilizado, compuestos de un hueco cilndrico perfectamente rectificado y acabado. Este cilindro debe ser lo ms perfecto posible, desde el punto de vista geomtrico. Sobre cada patrn viene grabada la cota nominal, delimitndose mediante dos trazos paralelos sobre una de las caras, la zona en la que esta cota es vlida, a media altura del cilindro.

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Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional
Patrones materializados para mediciones de longitud (vi)

Patrones de dimetro exterior (tampones)


Se trata de elementos de control de dimetros interiores. Como prcticamente todos los calibres, se fabrican en metal duro tratado y estabilizado, o en carburo de tungsteno. Pueden ser:
calibres simples (o normales), portando una nica

zona calibrada, materializando la cota nominal, o mxima y mnima.

calibres de lmites, utilizados para verificar las cotas

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Patrones materializados para mediciones de longitud (vii)

Reglas a trazos
Constituyen el segundo tipo de patrones materializados de longitud, junto con los patrones a cantos. Se trata de patrones cuya longitud nominal viene definida por la distancia existente entre los ejes de dos trazos.
Las reglas que se comercializan presentan una gran variedad, en cuanto a material, seccin, longitud, tipo y calidad de la escala y los trazos, precisin, etc.

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Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional
Mquinas de medir por coordenadas (MMC)
Las MMC miden puntos en el espacio. La potencia de las MMC deriva de su capacidad para calcular, a partir de los puntos medidos, una gran cantidad de magnitudes dimensionales: distancias, posiciones relativas, ngulos, formas, etc., lo que antes requera el concurso de un gran nmero de instrumentos individuales.

Utilizan programas de medicin potentes, que incluyen correcciones no solo de parmetros ambientales, sino de los errores de guiado de sus ejes.
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Patrones materializados para mediciones angulares (i)

Bloques patrn angulares


Son similares a los longitudinales, pero en vez de materializar longitudes, materializan ngulos entre sus caras de medida. Valores angulares tpicos son: 45, 30, 20, 10, 3, 1, 45, 30, 20, 10, 3, 1, 45, 30, 20, 10, 3, 1. Al igual que los bloques longitudinales poseen la propiedad de adherencia de sus caras, posibilitando la formacin de valores angulares determinados mediante adicin de varios de ellos.

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Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional
Patrones materializados para mediciones angulares (ii)

Polgonos pticos
Son prismas de altura reducida, cuyas bases estn formadas por polgonos regulares, de p. ej., 4, 8, 12, 24, 36 o 72 lados, que materializan en el centro ngulos de 90, 45, 30, 15, 10 y 5 respectivamente. El material del que estn fabricados vara desde el acero al vidrio, siendo su principal caracterstica la alta reflectividad de las caras laterales, dado que su calibracin implica la utilizacin de mtodos pticos, basados en el empleo de autocolimadores.
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Mediciones de defectos de forma
Las medidas de forma cubren un amplio abanico, desde la determinacin de rectitud o planitud, hasta la cilindricidad y la redondez. La dificultad para el control de formas reside bsicamente en la eleccin de las referencias matemticas de clculo para la determinacin de la verdadera forma y posicin de la pieza, a partir de los valores obtenidos mediante palpado sobre la misma. Normalmente se acude a ecuaciones matemticas de ajuste por mnimos cuadrados, aunque existen otros criterios, aplicables segn el defecto de forma en cuestin. Para la puesta a punto y calibracin de los propios equipos medidores de defectos de forma, es necesario contar con patrones especficos. Es el caso de los patrones de dimetro interior, con defecto de forma inferior a 20 nm, los cilindros patrn de perpendicularidad, los flick standard (patrones de amplificacin), o los patrones de redondez (hemisferios) de vidrio, etc.

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Patrones materializados para mediciones de defectos de forma Cilindros de perpendicularidad y esferas patrn
Redondez: Es este uno de los defectos ms importantes, por cuanto cualquier tipo de fabricacin posee una serie de componentes cuya forma es redonda en todas o algunas de sus secciones (ejes, rodamientos, engranajes, cilindros, etc.). La cuestin importante, desde el punto de vista dinmico, es conocer y cuantificar la magnitud del defecto de redondez que caracteriza a dichos elementos.

Adems, podemos mencionar el defecto de perpendicularidad (entre ejes, entre eje y plano, entre planos) y el de cilindricidad (forma cilndrica), obtenible a partir de la determinacin de redondez en varias secciones. METROLOGIA Y ENSAYOS GRADO MEDIO

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Mediciones de calidad superficial (i)

Independientemente del proceso utilizado, durante el mecanizado de una pieza o elemento, la superficie siempre porta deformaciones. La produccin de piezas con superficies geomtricas ideales no es fcil, y en aquellas en que se alcanza un grado de perfeccin alto; p. ej., bloques patrn, el coste econmico es muy elevado. Cualquier desviacin respecto a la superficie geomtrica ideal tiene influencia sobre el comportamiento funcional del elemento en cuestin.

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Mediciones de calidad superficial (ii)
Todas las superficies mecanizadas poseen una mezcla de deformaciones o irregularidades (de forma, ondulaciones, rugosidades), distinguindose unas de otras por su espaciado horizontal (longitud de onda caracterstica), ms que por sus amplitudes. En los defectos de forma de gran longitud de onda, la longitud del defecto suele ser igual a unas 1000 veces su amplitud. En el caso de la ondulacin, la relacin entre el espaciado de los defectos y la amplitud mxima de los mismos suele hallarse entre 100:1 y 1000:1. En el caso de la rugosidad, el espaciamiento entre defectos, suele ser del orden de 5 a 100 veces la amplitud mxima de los mismos.

La normalizacin internacional ha definido una serie de parmetros para caracterizar el acabado superficial. La mayora de estos parmetros se basan en el perfil obtenido al analizar una seccin o corte de la superficie, tomado en la direccin que presumiblemente aporta mayores defectos.

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Mediciones de calidad superficial (iii)

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Magnitudes microgeomtricas en metrologa dimensional
Patrones materializados para mediciones de calidad superficial (i) Para el ajuste y calibracin de los instrumentos empleados en calidad superficial, se utilizan patrones de ranura y/o de escaln, algunos de ellos portando varias ranuras, con los que se procede a verificar la amplificacin vertical del equipo de medida (mtodo esttico). Estos patrones son calibrados previamente mediante contacto, microscopa interferencial o SPM (AFM).

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Magnitudes microgeomtricas en metrologa dimensional
Patrones materializados para mediciones de calidad superficial (i)

Tambin se utilizan patrones de rugosidad (mtodo dinmico). Estos patrones poseen una superficie rugosa con parmetros de rugosidad perfectamente conocidos, y permiten verificar no solamente la amplificacin del sistema, sino el comportamiento total del instrumento; es decir, palpador (radio de la punta, comportamiento dinmico), indicacin del valor medido y registro del perfil.

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