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NORMA TCNICA COLOMBIANA

NTC 4518
2005-12-22

LECHE Y PRODUCTOS LCTEOS. MUESTREO. INSPECCIN POR ATRIBUTOS

E:

MILK AND MILK PRODUCTS. SAMPLING. INSPECTION BY ATTRIBUTES.

CORRESPONDENCIA:

esta norma es una adopcin idntica (IDT) por traduccin de la ISO 5538IDF 113:2004, Milk and Milk Products. Sampling. Inspection by Attributes. leche- muestreo; productos lcteos muestreo ; leche- inspeccin por atributos; productos lcteos inspeccin por atributos.

DESCRIPTORES:

I.C.S.: 67.100.01; 03.120.30


Editada por el Instituto Colombiano de Normas Tcnicas y Certificacin (ICONTEC) Apartado 14237 Bogot, D.C. Tel. 6078888 Fax 2221435

Prohibida su reproduccin

Primera actualizacin Editada 2006-01-12

PRLOGO

El Instituto Colombiano de Normas Tcnicas y Certificacin, ICONTEC, es el organismo nacional de normalizacin, segn el Decreto 2269 de 1993. ICONTEC es una entidad de carcter privado, sin nimo de lucro, cuya Misin es fundamental para brindar soporte y desarrollo al productor y proteccin al consumidor. Colabora con el sector gubernamental y apoya al sector privado del pas, para lograr ventajas competitivas en los mercados interno y externo. La representacin de todos los sectores involucrados en el proceso de Normalizacin Tcnica est garantizada por los Comits Tcnicos y el perodo de Consulta Pblica, este ltimo caracterizado por la participacin del pblico en general. La NTC 4518 (Primera actualizacin) fue ratificada por el Consejo Directivo del 2005-12-22. Esta norma est sujeta a ser actualizada permanentemente con el objeto de que responda en todo momento a las necesidades y exigencias actuales. A continuacin se relacionan las empresas que colaboraron en el estudio de esta norma a travs de su participacin en el Comit Tcnico 45 Leche y productos lcteos. COOPERATIVA COLANTA LTDA. CONSEJO NACIONAL DE LA LECHE Y PREVENCIN DE LA MASTITIS DIRECCIN DE IMPUESTOS Y ADUANAS NACIONALES DE COLOMBIA- DIAN FEDERACIN COLOMBIANA DE GANADEROS -FEDEGNINDUSTRIA COLOMBIANA DE LCTEOS LTDA. -INCOLACTEOS LTDA.LEDESA S.A. PRODUCTOS LCTEOS EL RECREO S.A. PRODUCTOS NATURALES DE LA SABANA S.A.- ALQUERA S.A. ROBIN HOOD S.A. TETRA PAK COLOMBIA UNIVERSIDAD DE LOS ANDES UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA

Adems de las anteriores, en Consulta Pblica el Proyecto se puso a consideracin de las siguientes empresas: ACEGRASAS S.A.TECNOLOGA EMPRESARIAL DE ALIMENTOS S.A. ALGARRA S.A. ALPINA PRODUCTOS ALIMENTICIOS S.A. ASOCIACIN NACIONAL DE PRODUCTORES LCTEOS -ANALACANCOOLAC AQUALAB LTDA. ASINAL LTDA. ASOCIACIN NACIONAL DE INDUSTRIALES -ANDIASOLECHE BIOCONTROL LTDA. CAJA DE COMPENSACIN FAMILIAR COLSUBSIDIO CARULLA VIVERO S.A. CENTRAL LECHERA DE MANIZALES S.A. CELEMA CENTRO AGROLECHERO LTDA. CONSERVAS CALIFORNIA S.A. CONSEJO NACIONAL DE LCTEOS CONSUMIDORES COLOMBIA -COCOCOOPERATIVA DE GANADEROS DE CARTAGENA -CODEGANCOOPERATIVA DE PRODUCTORES DE LECHE DE ATLNTICO LTDA.-COOLECHERACHR- HANSEN COLOMBIA S.A.

DANISCO COLOMBIA LTDA. DERILAC S.A. DIRECCIN INSTITUTO DEPARTAMENTAL DE SALUD DE ARAUCA DISPROALQUMICOS S.A. FRESKALECHE S.A. FUNDACIN UNIVERSIDAD DE LA SABANA FUNDACIN UNIVERSITARIA AGRARIA DE COLOMBIA GIVAUDAN COLOMBIA S.A. HUGO PARDO - INDEPENDIENTE INSTITUTO COLOMBIANO AGROPECUARIO -ICAICTA - UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA INDUSTRIA COLOMBIA DE ALIMENTOS S.A.- INDUCOLSA S.A. INGECAL UNIVERSIDAD CATLICA DE MANIZALES INSTITUTO NACIONAL DE VIGILANCIA Y CONTROL DE MEDICAMENTOS Y ALIMENTOS -INVIMA J. ROMERO INGENIERA LA CAMPIA S.A. LCTEOS DEL CAMPO S.A. LCTEOS EL CORTIJO LARKIN LTDA.

LUCTA GRAN COLOMBIANA S.A. MERCADEO DE ALIMENTOS DE COLOMBIA S.A.- MEALS S.A. MERCK COLOMBIA S.A. MINISTERIO DE AGRICULTURA Y DESARROLLO RURAL MINISTERIO DE COMERCIO, INDUSTRIA Y TURISMO MINISTERIO DE LA PROTECCIN SOCIAL NESTL DE COLOMBIA S.A. PARMALAT COLOMBIA LTDA.PROLECHE- PROCESADORA DE LECHES S.A. PREPAC COLOMBIANA LTDA. PRODUCTOS ALIMENTICIOS AMY LTDA. PRODUCTOS RAMO S.A. QUIOS LTDA. RHODIA COLOMBIA LTDA. SECRETARIA DE SALUD DEL META SECRETARIA DISTRITAL DE SALUD SUPERINTENDENCIA DE INDUSTRIA Y COMERCIO TECNIMICRO LABORATORIO DE ANLISIS TECNOALIMENTARIA LTDA. TRES M COLOMBIA S.A. TOLYHELADOS UNIRED QUMICAS S.A.

ICONTEC cuenta con un Centro de Informacin que pone a disposicin de los interesados normas internacionales, regionales y nacionales y otros documentos relacionados. DIRECCIN DE NORMALIZACIN

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NTC 4518 (Primera actualizacin)

LECHE Y PRODUCTOS LCTEOS. MUESTREO. INSPECCIN POR ATRIBUTOS

0.

INTRODUCCIN

La teora de muestreo empleada en esta norma est basada en la clasificacin de una unidad como buena o defectuosa. Una unidad es buena si cumple los requisitos de una especificacin, mientras una unidad defectuosa no los cumple. Es indispensable que la muestra sea tomada aleatoriamente. De lo contrario, los planes de muestreo no darn la proteccin establecida. Vase el Anexo A. 1. OBJETO

1.1 Esta norma especifica los planes de muestreo para la inspeccin por atributos de la leche y los productos lcteos. Est prevista para escoger el tamao de la muestra en cualquier situacin donde se requiera medir la conformidad de un lote de un producto lcteo con una especificacin, mediante el examen de una muestra representativa. 1.2 Esta norma se aplica para el muestreo de todos los productos lcteos presentados en lotes discretos, independientemente de que los lotes procedan de la misma produccin. La aceptacin o rechazo de cualquier lote es un asunto entre las partes del contrato y est fuera del alcance de esta norma. 1.3 Esta norma se puede usar en todos los casos donde se requieran planes de muestreo por atributos para un producto lcteo, excepto que si se especifican normas de composicin especfica, contratos o especificaciones que incluyen esquemas de muestreo diferentes, se deben usar estos. 1.4 Esta norma no es aplicable al muestreo para la determinacin de defectos microbiolgicos, a menos que las partes interesadas acuerden algo diferente.
NOTA Los mtodos de muestreo de leche y productos lcteos estn dados en la ISO 707 o productos lcteos. Gua para muestreo. NTC 666, Leche y

2.

REFERENCIAS NORMATIVAS

Los siguientes documentos referenciados son indispensables para la aplicacin de este documento. Para referencias fechadas, se aplica nicamente la edicin citada. Para referencias no fechadas, se aplica la edicin ms reciente del documento referenciado. 1

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NTC 2062-1, Estadstica. Vocabulario y smbolos. Parte 1. Probabilidad y trminos estadsticos generales (ISO 3534-1). NTC 2062-2, Estadstica. Vocabulario y smbolos. Parte 2. Controles estadsticos de la calidad. (ISO 3534-2). NTC - ISO 2859-1, Procedimientos de muestreo para inspeccin por atributos. Parte 1: Planes de muestreo determinados por el nivel aceptable de calidad (NAC) para inspeccin lote a lote. (ISO 2859-1). ISO 3534-1, Statistics. Vocabulary and Symbols. Part 1: Probability and General Statistical Terms. ISO 3534-2, Statistics. Vocabulary and Symbols- Part 2: Applied Statistics. 3. TRMINOS Y DEFINICIONES

Para los propsitos de esta norma se aplican los trminos y definiciones dados en las normas NTC 2062-1, NTC 2062-2, ISO 3534-1, ISO 3534-2 y los siguientes: 3.1 nivel aceptable de calidad NAC nivel de calidad que es el peor promedio del proceso tolerable cuando se presenta una serie continua de lotes para muestreo de aceptacin. [ISO 2859-1:1999, definicin 3.1.29] [NTC- ISO 2859-1:2004, definicin 3.1.26] 4. PLANES DE MUESTREO

La NTC-ISO 2859-1 describe los planes para ser utilizados en todas la situaciones y da cuenta del fundamento terico de las tablas de muestreo. Los planes estn indexados por tamao del lote y nivel aceptable de calidad (NAC). 5. 5.1 SELECCIN DE LOS PLANES DE MUESTREO CLASIFICACIN DE DEFECTOS

5.1.1 Generalidades Antes de la seleccin de un plan de muestreo, el contrato o especificacin debe definir claramente todos los defectos crticos, mayores y menores, de manera que sean entendidos sin ambigedad por todos los usuarios del contrato, especificacin o documento que contenga o referencie el plan de muestreo.

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5.1.2 Defecto crtico

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Es aquel que hara el producto inaceptable. Para el propsito de esta norma, los defectos crticos se relacionan con la presencia de contaminantes txicos con un nivel crticamente alto. Los ejemplos incluyen metales pesados y residuos de plaguicidas. En este caso, el mtodo por adoptar debe ser el que se describe en el Anexo B. Es necesario decidir sobre un riesgo aceptable de no detectar cierto porcentaje de defectuosos, donde un defectuoso es una unidad que contiene ms del nivel crtico del contaminante. Es imposible garantizar un producto libre de contaminacin. 5.1.3 Defecto mayor

Defecto que probablemente haga al producto inadecuado para su uso, es decir, en el caso de la leche y los productos lcteos, defecto que los hace inadecuados para la venta al consumidor. Un defecto mayor dara como resultado deterioro del producto, o que este resultara inadecuado para la venta o procesamiento. Los ejemplos incluyen: a) b) c) d) Defectos de composicin, en donde esto afecte la conservacin de la calidad. Contaminacin con sustancias inhibitorias. Integridad del embalaje, y Contaminacin visible con suciedad.

Los planes de muestreo para defectos mayores se deben seleccionar de las tablas utilizando un NAC no mayor de 6,5 %. 5.1.4 Defecto menor

Falla en el cumplimiento de una especificacin, pero que no hace a la unidad inadecuada para su uso y venta, ni causa deterioro. Algunos ejemplos incluyen: a) Una unidad cuya composicin qumica o contenido neto se encuentra por fuera de un lmite de la especificacin, pero cercana a l, y Pequeas anormalidades en la apariencia.

b)

Los planes de muestreo para defectos menores se deben seleccionar de las Tablas 1 a la 24 utilizando un NAC no mayor del 10 %. 5.2 SELECCIN DE UN NIVEL DE INSPECCIN Y DEL NAC

5.2.1 El plan de muestreo se debe seleccionar de las Tablas 1 a 24, utilizando el tamao del lote y el NAC acordado. En estas Tablas, n es el tamao de la muestra, Ac es el nmero de aceptacin y Re es el nmero de rechazo.
EJEMPLO Para un tamao de muestra de n = 13, Ac = 0 y Re = 1, significa que si una muestra de 13 unidades no contiene defectuosos, el lote debe se debe aceptar; si la muestra contiene 1 defectuoso, el lote se debe rechazar.

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Las tablas de la 1 a la 20 se obtienen de la NTC-ISO 2859-1 y se refieren a los niveles de inspeccin I, S-4, S-3, S-2 y S-1. Se prefiere el nivel de Inspeccin I. Al usar cualquiera de los planes S se incrementarn los riesgos, y no se deben usar sin comprobar primero que el riesgo asociado es aceptable. En el numeral 5.2.2 se presentan detalles de estos riesgos. 5.2.2 Los niveles de inspeccin S-4, S-3, S-2 y S-1 se pueden usar donde son necesarias tamaos de muestras relativamente pequeo, y se pueden o deben tolerar riesgos de muestras grandes. Como consecuencia, al usar estos niveles especiales se incrementa la probabilidad de tomar una decisin equivocada. Primero, el riesgo del consumidor aumenta. Esto se ilustra en las Tablas 21 a 24. La Tabla 21 hace referencia a los planes con un NAC de 2,5 %, la Tabla 22 a un NAC de 4,0 %, la Tabla 23 a un NAC de 6,5 % y la Tabla 24 a un NAC del 10 %. Cada tabla contiene: El tamao de la muestra (n) y el tamao apropiado del lote a niveles de inspeccin separados; el nmero mximo de unidades defectuosas permitidas en la muestra, es decir, el nmero de aceptacin (Ac); el nmero mnimo de unidades defectuosas requeridas en la muestra para rechazar el lote, es decir, el nmero de rechazo (Re), y; la calidad lmite - CL

Si el tamao de la muestra es pequeo, la CL es alta; si el tamao de la muestra se incrementa, la CL se reduce al mismo NAC. Por ejemplo, en la Tabla 6, el plan de inspeccin en el cual el tamao de la muestra es 5 y CL = 45 % aparece en todos los niveles de inspeccin, pero slo en el nivel S-1 se pueden inspeccionar todos los tamaos de lote. En los niveles de inspeccin S-4 y I, el tamao de la muestra de 5 slo se puede tomar cuando el tamao del lote no exceda 150. El hecho de que el riesgo para el consumidor (y a la vez la CL) llegue a ser ms pequeo mientras el tamao del lote inspeccionado aumenta, se justifica en fundamentos econmicos. Los planes de inspeccin en los cuales la CL es varias veces mayor que el NAC son inadecuados tanto para el consumidor como para el productor. Si se considera un lote de 35 000 unidades, el nivel de inspeccin I requerira un tamao de muestra de 125, lo que da una CL del 11 % de defectos (es decir, se rechazara el 95 % de los lotes que contienen el 11 % de defectuosos). El nivel S-1 requerira un tamao de muestra de 5, lo que da una CL de 45 %. Una CL de 45 % es tan superior al NAC de 2,5 %, que el concepto de NAC llega a carecer de sentido. Adems, la muestra de 5 rechazara equivocadamente ms del 10 % de lotes que contienen 2,5 % de defectos. Al incrementar el tamao de la muestra se aumenta tanto la proteccin al consumidor como la discriminacin del plan de muestreo; sta es una de las razones principales para relacionar el tamao de la muestra con el tamao del lote. Los usuarios de esta norma encontrarn las caractersticas completas de operacin para cada plan en la NTC-ISO 2859-1; estos relacionan la probabilidad de aceptacin con el porcentaje de defectuosos en el lote. 4

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6. REGISTROS

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Para lograr una operacin exitosa de este tipo de plan de muestreo se requiere el mantenimiento de registros que incluyan los resultados de inspeccin y el plan que se utiliza. El intercambio de informacin entre ambas partes es til, y se recomienda que cada parte tenga disponible la informacin cuando la otra parte la requiera. 7. SELECCIN DE UNIDADES

La teora de muestreo usada para los planes de la NTC-ISO 2859-1 y en consecuencia en esta norma, suponen que el muestreo es aleatorio, lo que significa que cada unidad en el lote debera tener la misma probabilidad de aparecer en la muestra. Se deben hacer todos los esfuerzos necesarios para obtener una muestra aleatoria. Siempre que sea posible, se debe usar un procedimiento formal de aleatorizacin, como se describe en el Anexo C. Si esto no se hace, no se puede suponer que los riesgos asociados con los planes sean los esperados. La aleatorizacin formal no es difcil, aunque puede ser un proceso tedioso y puede requerir bastante tiempo. Para las Tablas de la 1 a la 20, cuando se usa inspeccin reducida, si se excede el nmero de aceptacin pero no se llega al nmero de rechazo, el despacho se debera aceptar pero la inspeccin debera regresar a inspeccin normal.
Tabla 1. Nivel de inspeccin I-NAC = 2,5 % Tamao del lote Hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta de 150 500 1 200 3 200 10 000 35 000 150 000 500 000 500 000 Inspeccin normal n Ac Re 5 0 1 20 1 2 32 2 3 50 3 4 80 5 6 125 7 8 200 10 11 315 14 15 500 21 22 Inspeccin estricta n Ac Re 8 0 1 32 1 2 32 1 2 50 2 3 80 3 4 125 5 6 200 8 9 315 12 13 500 18 19 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 8 0 2 13 1 3 20 1 4 32 2 5 50 3 6 80 5 8 125 7 10 200 10 13

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Tabla 2. Nivel de inspeccin I-NAC = 4,0 % Tamao del lote Hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta de 90 280 500 1 200 3 200 10 000 35 000 150 000 150 000 Inspeccin normal n Ac Re 3 0 1 13 1 2 20 2 3 32 3 4 50 5 6 80 7 8 125 10 11 200 14 15 315 21 22 Inspeccin estricta n Ac Re 5 0 1 20 1 2 20 1 2 32 2 3 50 3 4 80 5 6 125 8 9 200 12 13 315 18 19 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 5 0 2 8 1 3 13 1 4 20 2 5 32 3 6 50 5 8 80 7 10 125 10 13

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Tabla 3. Nivel de inspeccin I-NAC = 6,5 % Tamao del lote Hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta de 25 150 280 500 1 200 3 200 10 000 35 000 35 000 Inspeccin normal n Ac Re 2 0 1 8 1 2 13 2 3 20 3 4 32 5 6 50 7 8 80 10 11 125 14 15 200 21 22 Inspeccin estricta n Ac Re 3 0 1 13 1 2 13 1 2 20 2 3 32 3 4 50 5 6 80 8 9 125 12 13 200 18 19 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 3 0 2 5 1 3 8 1 4 13 2 5 20 3 6 32 5 8 50 7 10 80 10 13

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Tabla 4. Nivel de inspeccin I-NAC = 10 % Tamao del lote Hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta de 90 150 280 500 1 200 3 200 10 000 10 000 Inspeccin normal n Ac Re 5 1 2 8 2 3 13 3 4 20 5 6 32 7 8 50 10 11 80 14 15 125 21 22 Inspeccin estricta n Ac Re 8 1 2 8 1 2 13 2 3 20 3 4 32 5 6 50 8 9 80 12 13 125 18 19 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 2 3 1 3 5 1 4 8 2 5 13 3 6 20 5 8 32 7 10 50 10 13

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Tabla 5. Nivel de inspeccin S-4 - NAC = 2,5 % Tamao del lote Hasta hasta hasta hasta hasta de 150 1 200 10 000 35 000 500 000 500 000 Inspeccin normal n Ac Re 5 0 1 20 1 2 32 2 3 50 3 4 80 5 6 125 7 8 Inspeccin estricta n Ac Re 8 0 1 32 1 2 32 1 2 50 2 3 80 3 4 125 5 6 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 8 0 2 13 1 3 20 1 4 32 2 5 50 3 6

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Tabla 6. Nivel de inspeccin S-4 - NAC = 4,0 % Tamao del lote Hasta hasta hasta hasta hasta hasta de 90 500 1 200 10 000 35 000 500 000 500 000 Inspeccin normal n Ac Re 3 0 1 13 1 2 20 2 3 32 3 4 50 5 6 80 7 8 125 10 11 Inspeccin estricta n Ac Re 5 0 1 20 1 2 20 1 2 32 2 3 50 3 4 80 5 6 125 8 9 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 5 0 2 8 1 3 13 1 4 20 2 5 32 3 6 50 5 8

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Tabla 7. Nivel de inspeccin S-4 - NAC = 6,5 % Tamao del lote Hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta de 25 150 500 1 200 10 000 35 000 500 000 500 000 Inspeccin normal n Ac Re 2 0 1 8 1 2 13 2 3 20 3 4 32 5 6 50 7 8 80 10 11 125 14 15 Inspeccin estricta n Ac Re 3 0 1 13 1 2 13 1 2 20 2 3 32 3 4 50 5 6 80 8 9 125 12 13 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 3 0 2 5 1 3 8 1 4 13 2 5 20 3 6 32 5 8 50 7 10

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Tabla 8. Nivel de inspeccin S-4 - NAC = 10 % Tamao del lote Hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta de 90 150 500 1 200 10 000 35 000 500 000 500 000 Inspeccin normal n Ac Re 5 1 2 8 2 3 13 3 4 20 5 6 32 7 8 50 10 11 80 14 15 125 21 22 Inspeccin estricta n Ac Re 8 1 2 8 1 2 13 2 3 20 3 4 32 5 6 50 8 9 80 12 13 125 18 19 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 2 3 1 3 5 1 4 8 2 5 13 3 6 20 5 8 32 7 10 50 10 13

91 151 501 1 201 10 001 35 001 ms

Tabla 9. Nivel de inspeccin S-3 - NAC = 2,5 % Tamao del lote Hasta hasta hasta de 500 35 000 500 000 500 000 Inspeccin normal n Ac Re 5 0 1 20 1 2 32 2 3 50 3 4 Inspeccin estricta n Ac Re 8 0 1 32 1 2 32 1 2 50 2 3 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 8 0 2 13 1 3 20 1 4

501 35 001 ms

Tabla 10. Nivel de inspeccin S-3 - NAC = 4,0 % Tamao del lote Hasta hasta hasta hasta de 150 3 200 35 000 500 000 500 000 Inspeccin normal n Ac Re 3 0 1 13 1 2 20 2 3 32 3 4 50 5 6 Inspeccin estricta n Ac Re 5 0 1 20 1 2 20 1 2 32 2 3 50 3 4 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 5 0 2 8 1 3 13 1 4 20 2 5

151 3 201 35 001 ms

Tabla 11. Nivel de inspeccin S-3 - NAC = 6,5 % Tamao del lote Hasta hasta hasta hasta hasta de 50 500 3 200 35 000 500 000 500 000 Inspeccin normal n Ac Re 2 0 1 8 1 2 13 2 3 20 3 4 32 5 6 50 7 8 Inspeccin estricta n Ac Re 3 0 1 13 1 2 13 1 2 20 2 3 32 3 4 50 5 6 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 3 0 2 5 1 3 8 1 4 13 2 5 20 3 6

51 501 3 201 35 001 ms

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Tabla 12. Nivel de inspeccin S-3 - NAC = 10 % Tamao del lote Hasta hasta hasta hasta hasta de 150 500 3 200 35 000 500 000 500 000 Inspeccin normal n Ac Re 5 1 2 8 2 3 13 3 4 20 5 6 32 7 8 50 10 11 Inspeccin estricta n Ac Re 8 1 2 8 1 2 13 2 3 20 3 4 32 5 6 50 8 9 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 2 3 1 3 5 1 4 8 2 5 13 3 6 20 5 8

151 501 3 201 35 001 ms

Tabla 13. Nivel de inspeccin S-2 - NAC = 2,5 % Tamao del lote Hasta de 35 000 35 000 Inspeccin normal n Ac Re 5 0 1 20 1 2 Inspeccin estricta n Ac Re 8 0 1 32 1 2 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 8 0 2

ms

Tabla 14. Nivel de inspeccin S-2 - NAC = 4,0 % Tamao del lote Hasta de 1 200 1 200 Inspeccin normal n Ac Re 3 0 1 13 1 2 Inspeccin estricta n Ac Re 5 0 1 20 1 2 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 5 0 2

ms

Tabla 15. Nivel de inspeccin S-2 - NAC = 6,5 % Tamao del lote Hasta hasta de 150 35 000 35 000 Inspeccin normal n Ac Re 2 0 1 8 1 2 13 2 3 Inspeccin estricta n Ac Re 3 0 1 13 1 2 13 1 2 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 3 0 2 5 1 3

151 ms

Tabla 16. Nivel de inspeccin S-2 - NAC = 10 % Tamao del lote Hasta hasta de 1 200 35 000 35 000 Inspeccin normal n Ac Re 5 1 2 8 2 3 13 3 4 Inspeccin estricta n Ac Re 8 1 2 8 1 2 13 2 3 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 2 3 1 3 5 1 4

1 201 ms

Tabla 17. Nivel de inspeccin S-1 - NAC = 2,5 % Tamao del lote Todo tamao de lote n 5 Inspeccin normal Ac Re 0 1 Inspeccin estricta Ac Re 0 1 Inspeccin reducida Ac Re 0 1

n 8

n 2

Tabla 18. Nivel de inspeccin S-1 - NAC = 4,0 % Tamao del lote Hasta de 35 000 35 000 Inspeccin normal n Ac Re 3 0 1 13 1 2 Inspeccin estricta n Ac Re 5 0 1 20 1 2 Inspeccin reducida n Ac Re 2 0 1 5 0 2

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Tabla 19. Nivel de inspeccin S-1 - NAC = 6,5 % Tamao del lote Hasta de 500 500 n 2 8 Inspeccin normal Ac Re 0 1 1 2 Inspeccin estricta Ac Re 0 1 1 2 Inspeccin reducida Ac Re 0 1 0 2

ms

n 3 13

n 2 3

Tabla 20. Nivel de inspeccin S-1 - NAC = 10 % Tamao del lote Hasta de 35 000 35 000 n 5 8 Inspeccin normal Ac Re 1 2 2 3 Inspeccin estricta Ac Re 1 2 1 2 Inspeccin reducida Ac Re 0 2 1 3

ms

n 8 8

n 2 3

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Tabla 21. Planes de muestreo simple con NAC = 2,5 % n 5 20 32 50 80 125 200 315 500
a

CL S-1 % 0 1 45 Todo tamao de lote 1 2 22 2 3 18 3 4 15 5 6 13 7 8 11 10 11 8,5 14 15 7,0 21 22 6,1 Calidad lmite (vase el numeral 5.2.2)

Ac

Re

Tamao lote (unidades) para los niveles de inspeccin mostrados S-2 S-4 S-3 Hasta 35 000 hasta 500 hasta 150 ms de 35 000 501 hasta 35 000 151 hasta 1 200 35 001 hasta 500 000 1 201 hasta 10 000 ms de 500 000 10 001 hasta 35 000 35 001 hasta 500 000 ms de 500 000

151 501 1 201 3 201 10 001 35 001 150 001 ms

l hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta de

150 500 1 200 3 200 10 000 35 000 150 000 500 000 500 000

Tabla 22. Planes de muestreo simple con NAC = 4,0 % n 3 13 20 32 50 80 125 200 315
a

CL S-1 % 0 1 63 Hasta 35 000 1 2 32 ms de 35 000 2 3 28 3 4 23 5 6 20 7 8 16 10 11 14 14 15 11 21 22 9,6 Calidad lmite (vase el numeral 5.2.2)

Ac

Re

Hasta ms de

Tamao lote (unidades) para los niveles de inspeccin mostrados S-2 S-3 S-4 1 200 hasta 150 hasta 90 1 200 151 hasta 3 200 91 hasta 500 3 201 hasta 35 000 501 hasta 1 200 35 001 hasta 500 000 1 201 hasta 10 000 ms de 500 000 10 001 hasta 35 000 35 000 hasta 500 000 ms de 500 000

91 281 501 1 201 3 201 10 001 35 001 ms

l hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta de

90 280 500 1 200 3 200 10 000 35 000 150 000 150 000

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Tabla 23. Planes de muestreo simple con NAC = 6,5 %

n 2 8 13 20 32 50 80 125 200
a

CL S-1 % 0 1 78 Hasta 500 1 2 47 ms de 500 2 3 41 4 5 34 5 6 30 7 8 25 10 11 20 14 15 18 21 22 15 Calidad lmite (vase el numeral 5.2.2)

Ac

Re

Tamao lote (unidades) para los niveles de inspeccin mostrados S-2 S-4 S-3 Hasta 150 hasta 50 hasta 25 151 hasta 35 000 51 hasta 500 26 hasta 150 ms de 35 000 501 hasta 3 200 151 hasta 500 3 201 hasta 35 000 501 hasta 1 200 35 001 hasta 500 000 1 201 hasta 10 000 ms de 500 000 10 001 hasta 35 000 35 001 hasta 500 000 ms de 500 000

26 281 501 1 201 3 201 3 201 10 001 ms

l hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta de

25 150 280 500 1 200 3 200 10 000 35 000 35 000

Tabla 24. Planes de muestreo simple con NAC = 10 % n 5 8 13 20 32 50 80 125


a

CL S-1 % 1 2 66 Hasta 35 000 2 3 60 ms de 35 000 3 5 50 5 6 46 7 8 37 10 11 32 14 15 26 21 22 24 Calidad lmite (vase el numeral 5.2.2)

Ac

Re

Tamao lote (unidades) para los niveles de inspeccin mostrados S-2 S-3 S-4 Hasta 1 200 hasta 150 hasta 90 1 201 hasta 35 000 151 hasta 500 91 hasta 150 ms de 35 000 501 hasta 3 200 151 hasta 500 3 201 hasta 35 000 501 hasta 1 200 35 001 hasta 500 000 1 201 hasta 10 000 ms de 500 000 10 001 hasta 35 000 35 001 hasta 500 000 ms de 500 000

91 151 281 501 1 201 3 201 ms

l hasta hasta hasta hasta hasta hasta hasta de

90 150 280 500 1 200 3 200 10 000 10 000

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ANEXO A (Normativo)

TEORA ESTADSTICA A.1 Los planes de muestreo incluidos en la NTC-ISO 2859-1, de la cual se han tomado los planes de la presente norma, se basan en la teora de distribucin de Poisson o binomial. La distribucin binomial se usa para tamaos de muestras ms pequeos, y la distribucin de Poisson para los esquemas donde esta distribucin es una aproximacin suficiente a la binomial. La NTC-ISO 2859-1 proporciona ms detalles. A.2 Para usar la teora del muestreo slo es necesario cumplir dos requisitos. Primero, una unidad individual puede slo ser buena o defectuosa, como se define en la introduccin. Segundo, la muestra se debe tomar aleatoriamente como se define en la NTC-ISO 2859-1:1999, numeral 8. No es necesario hacer ninguna suposicin acerca de la distribucin de los defectuosos dentro del lote.

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ANEXO B (Normativo)

DEFECTOS CRTICOS

Los defectos crticos constituyen una categora especial. Es imposible escoger para estos defectos cualquier valor de porcentaje de defectuosos y afirmar: Este porcentaje de defectuosos es aceptable. La solucin adoptada generalmente cuando se utiliza una inspeccin no destructiva, es establecer que las caractersticas crticas se van a inspeccionar empleando una muestra de tamao igual al del lote y un nmero de aceptacin de cero. Esta es una inspeccin al 100 %; sin embargo, debe sealarse que no es una inspeccin al 100 % tradicional. No se trata aqu de clasificar los artculos como buenos o malos, sino tratar de comprobar que no hay productos malos. Si se encuentra una unidad de producto con defectos crticos, no significa que simplemente se coloca en otra caja diferente y que la inspeccin contina; significa que se rechaza el lote completo (aunque el rechazo no significa necesariamente que se deseche el lote). Siempre que sea posible, esto debera significar tambin que la produccin se detiene mientras se realiza una investigacin profunda para tratar de descubrir cmo se origin el defecto y para disear los mtodos que impidan que ocurra nuevamente. La razn de este procedimiento es tratar de prevenir la produccin de unidades con defectos crticos y evitar dar al fabricante la impresin de que como el inspector descubrir dichos defectos, no importa demasiado si se producen algunos. Incluso el mejor inspector puede ocasionalmente no detectar un defecto; de forma que slo impidiendo la produccin de unidades defectuosas crticas se podr tener la seguridad de que ninguno llegar a las manos del consumidor. Si se considera que un defecto crtico en particular no justifica este procedimiento, habr que considerar seriamente su reclasificacin como un defecto mayor y no como crtico. Los defectos crticos deben ser realmente crticos y ningn esfuerzo para evitarlos puede considerarse demasiado grande. De acuerdo con la definicin de defecto crtico (vase el numeral 5.1.2), esta clasificacin se debera usar para un defecto que probablemente cause o condiciones peligrosas o inseguras para los individuos que usan, mantienen o dependen del producto. La expresin es probable que es importante. Algunas veces existe la tendencia a reemplazar estas palabras por podra ser posible, y en consecuencia, clasificar todo como crtico, ya que siempre es posible inventar una historia en la cual algn evento trivial al comienzo lleva al final a una catstrofe. Si se adopta este enfoque, el principal resultado es desvalorizar la clasificacin crtica, y es posible que las unidades con defectos crticos genuinos no sean tratadas tan severamente como debera ser. La clasificacin crtica tambin est disponible para un defecto que es probable que impida el desempeo de la funcin prctica de un elemento final mayor. De nuevo, las palabras subrayadas son importantes si no se va a desvalorizar la clasificacin crtica. Cuando la nica inspeccin posible para los defectos crticos es destructiva, es incluso ms importante la bsqueda de mtodos para impedir que se presenten. En este caso, no se puede tener una muestra igual al 100 % del lote, y por tanto, es necesario determinar qu muestra se debera tomar para la inspeccin de defectos crticos. Esto se puede lograr empleando una 13

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frmula simple que relacione el porcentaje de unidades defectuosas para el cual se deseara estar casi seguros de encontrar al menos un defectuoso en la muestra, si lo hubiera; el tamao de la muestra y el riesgo que estamos preparados para asumir, de fracasar en encontrar un defectuoso. La frmula es:
n = F D

en donde n F D = = = el tamao del lote; es el factor que depende del riesgo; es el porcentaje de defectuosos que se desea detectar, si lo hay:

El factor F depende del riesgo de fracasar en encontrar un defectuoso en la muestra, como sigue:
Riesgo Factor 230,26 1 en 10 460,52 1 en 100 690,78 1 en 1 000 921,04 1 en 10 000 1 151,30 1 en 1 000 00 1 381,56 1 en 1 000 000 El factor de otros valores de riesgo, si se requiere, se puede calcular como
1 230,26 log riesgo
a

Como ya se encontr a partir de esta frmula, el tamao de la muestra con frecuencia no ser un nmero entero. Es mejor redondear hasta el siguiente nmero entero superior, antes que redondear al siguiente nmero entero. Por supuesto, el nmero de aceptacin siempre es cero en este contexto. Esta frmula es exacta solamente para pequeos valores de porcentaje de defectuosos, es decir, no es mayor de 10, pero esto no es una desventaja, ya que nunca es necesario considerar valores altos de porcentaje de defectuosos para defectos crticos. Si la frmula se usara para, digamos, un 20 % 50 % de defectuosos, se sobreestimara el tamao de muestra necesario.
EJEMPLO Para un producto determinado, la inspeccin de defectos crticos es destructiva, y se decide que si un lote tuviera hasta el 2% de defectuosos crticos, se debera asumir un riesgo de solamente 1 en 10 000 de fracasar en encontrar un defectuoso en la frmula.

La frmula da:
n = 921,04 = 460,52 2

El plan de muestreo para crticos es: Tamao de muestra: 461 14

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Nmero de aceptacin: 0 defectuosos Nmero de rechazo: 1 defectuoso

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Un plan alternativo para defectos crticos, en donde el defecto es algo que se puede medir en vez de un atributo puro es hacer el muestreo con un margen de seguridad. As, si la carga de rotura mnima tolerable para algn componente fuera 2 000 kg, podra ser posible, en lugar de afirmar que el lmite fue de 2 000 kg y que el defecto fue crtico, decir que el lmite fue de 2 500 kg y que el defecto fue mayor. La determinacin del lugar en donde se deberan establecer los lmites y el plan que es permisible, depende del conocimiento pasado sobre la cantidad de variabilidad observada en la resistencia de los componentes en cuestin. Cuando este mtodo es posible, puede dar resultados mucho ms satisfactorios para todo lo involucrado concerniente, que la bsqueda de defectos crticos (y se espera que no haya ninguno presente).

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ANEXO C (Informativo)

TOMA DE MUESTRAS En el muestreo de aceptacin, el lote se juzga con base en la calidad de la muestra. Si ste va a ser un procedimiento racional, obviamente es importante que la muestra sea representativa del lote, de ninguna manera una muestra sesgada. Algunos inspectores se enorgullecen de sus habilidades para escoger de un lote todas las muestras defectuosas. Si el propsito es demostrar que hay algunos defectuosos, o mejorar el lote al rechazar los defectuosos, entonces esta habilidad es una caracterstica deseable. Pero esto no es lo que se requiere aqu. Para hacer un juicio correcto sobre el lote, es deseable que la muestra sea de la misma calidad que el lote, ni mejor ni peor. No hay una forma conocida de asegurar que la muestra es de la misma calidad que el lote, a menos que se conozca la calidad de ste, en cuyo caso no habra necesidad de tomar una muestra para considerarla. Sin embargo, existen mtodos de muestreo con los que se obtienen muestras no sesgadas en el sentido de que, aunque algunas muestras sern mejores o peores que sus lotes, en promedio sern las correctas y solamente la variabilidad inevitable del muestreo conducir a discrepancias. Adems, estos mtodos permiten calcular la variabilidad de la muestra en relacin con la calidad del lote, y es de estos clculos que depende la elaboracin de las curvas caractersticas de operacin. Este mtodo es un muestreo aleatorio simple: todas las muestras posibles del tamao requerido tienen una oportunidad igual de ser la muestra tomada. Las Tablas 1 a 24, que describen los planes de muestreo, suponen que las muestras (sencilla, doble o mltiple) se toman siguiendo este mtodo. Es muy importante que de hecho ste sea el caso.
EJEMPLO Suponga que el tamao del lote es 4, y que el tamao de la muestra es 2. Si a cada elemento del lote se le asigna una letra del alfabeto como su nombre, el lote consta de cuatro elementos: A, B. C y D. Existen 6 formas posibles de conformar un tamao de muestra de 2. Estas son: AyB oAyC oAyD oByC oByD oCyD

Para un muestreo aleatorio simple, a cada una de estas posibilidades se le debe dar una oportunidad igual. En este caso particular, se podra lanzar un dado comn de seis caras para escoger A y B si el dado muestra un punto, A y C si muestra dos puntos, etc. En este ejemplo, el problema del muestreo aleatorio simple se resuelve en forma relativamente fcil, ya que los nmeros involucrados se escogieron deliberadamente muy pequeos, lo que conduce a solamente 6 posibilidades para la muestra. Pero es claro que el nmero de posibilidades se incrementa rpidamente a medida que se incrementan el tamao del lote y el tamao de la muestra; por ejemplo, para una muestra de 5 de un lote de 20, hay 15 504 posibilidades; para una muestra de 7 de un lote de 30, hay ms de 2 millones de posibilidades; para una muestra de 10 de un lote de 50, hay ms de 10 000 millones; y estos son tamaos de lote y de muestra an bastante pequeos. Por tanto, es claro que el muestreo aleatorio simple, con tamaos de lote y de muestras 16

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tales como los que se usan con ms frecuencia en la prctica, no es fcil, pero se debe intentar hacer una eleccin lo ms aleatoria posible. El nico requisito fundamental es que el lote entero se debe presentar al inspector para la toma de las muestras. Se conoce de casos en que el fabricante ha ofrecido una muestra preparada para el inspector, mientras oculta el resto del lote, y casos en que un fabricante ha ofrecido la muestra tan pronto se haba completado el nmero de artculos del tamao de la muestra, e informa al inspector que no se fabricara el resto del lote hasta conocer los resultados del muestreo. Evidentemente en estas circunstancias no hay razn para suponer que la muestra es de alguna forma representativa del lote, y ningn lote se debera juzgar con base en una muestra as. Se debe aclarar que esto no prohbe la presentacin de una muestra de preproduccin. Es bastante comn y razonable que un fabricante presente o se le pida presentar una muestra antes de comenzar la produccin a granel, para la aprobacin del artculo que se pretende producir. Esto no es lo mismo que presentar la muestra para aceptacin o rechazo de un lote. Algunas veces es posible dar a cada artculo del lote un nmero, ya sea fsicamente escribiendo el nmero sobre l o dentro de l, o mentalmente, utilizando algn mtodo como por ejemplo la notacin de que Artculo 124 significa 1ra. fila, 2da. caja, 4to. artculo dentro de la caja. Si esto se puede hacer, entonces es posible tomar una muestra aleatoria usando una tabla de nmeros aleatorios. En las Tablas C.1 a C.4 se dan ejemplos de estas tablas.
EJEMPLO De un lote de 5 000 se toma un tamao de muestra de 8. Los artculos en el lote estn etiquetados con nmeros de 1 a 5 000, y comenzando en la parte superior de la primera columna de la Tabla C.1, los artculos que se deben tomar para las muestras son los nmeros 110, 4 148, 2 403, 1 828, 2 267, 2 985, 4 313 y 4 691 (los nmeros 5 327, 5 373, 9 244, etc., se ignoran, ya que los artculos correspondientes no se encontraran en el lote).

Se deben tener en cuenta los siguientes tres aspectos en relacin con el uso de una tabla de nmeros de muestreo aleatorios, como sigue: a) No es correcto comenzar siempre en la parte superior de la primera columna. Para cada muestra, el mejor procedimiento es comenzar en donde termin la muestra anterior, y continuar por toda la tabla. Una vez que se ha recorrido la tabla, regresar y hacer un nuevo recorrido, pero si es posible, es mejor proseguir con una tabla nueva antes que repetir la anterior. No es necesario leer los nmeros completos de cuatro cifras. Si el tamao del lote fuera igual o menor a 1 000, sera suficiente leer las tres primeras cifras, es decir, 11, 532, 537, etc. Algunas veces dos cifras son suficientes, otras veces es necesario disponer de ms de cuatro cifras. Es posible combinar tantas cifras como se desee.

b)

c)

No hay nada difcil en relacin con la utilizacin de los nmeros aleatorios, siempre y cuando los artculos se puedan numerar, aunque se argumenta con frecuencia que su uso no justifica tomarse ese trabajo, y que una muestra aleatoria tomada en forma intuitiva es igual de buena. En muchos casos esto puede ser cierto, pero la muestra aleatoria intuitiva con frecuencia est muy lejos de ser aleatoria. Por ejemplo, las personas que supuestamente toman en forma aleatoria elementos de una caja, usualmente tomarn demasiados de la mitad y las esquinas no estarn suficientemente representadas. Cuando se seala que se estn tomando muy pocos elementos de las esquinas, entonces comenzarn a tomar demasiados elementos de las esquinas. La simple aleatoriedad de dar a cada combinacin una oportunidad igual es muy difcil de obtener, por lo que vale la pena el trabajo adicional de usar nmeros aleatorios en donde sea posible. 17

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Sin embargo, se debe reconocer que el uso de nmeros aleatorios no siempre es fcil. Si el lote consta de una caja grande de artculos pequeos, puede ser bastante imprctico dar a cada uno un nmero. En estas circunstancias, el muestreo aleatorio intuitivo probablemente es todo lo que se pueda hacer, pero si la intuicin se modifica con el conocimiento de lo que debera hacerse si fuera posible, esto ayudar a obtener mejores resultados. Conocer que cada combinacin posible debe tener una oportunidad igual, aclara de una vez que los artculos se deben sacar de la caja para hacer que estn disponibles en forma equitativa antes de tomar la muestra, y tambin que ninguna calidad aparente de los artculos se debera ignorar. No debe haber una seleccin deliberada de artculos que parezcan adecuados o no. Existe otra alternativa al muestreo aleatorio simple, que est disponible, es recomendable en donde sea apropiado, y se puede aplicar, ya sea que se usen o no nmeros aleatorios. Este mtodo alternativo se conoce bajo el nombre de muestreo estratificado (tambin se denomina muestreo representativo). Su empleo est justificado cada vez que un lote puede dividirse en sublotes de acuerdo con algn criterio lgico. Hay que subrayar que este criterio debe ser lgico; una divisin en sublotes, hecha aleatoriamente, no sirve de nada. La muestra se obtiene tomando de cada sublote una submuestra cuyo tamao sea proporcional al tamao del sublote. Las submuestras deben tomarse obligatoriamente en forma aleatoria dentro de cada sublote (empleando si es posible, nmeros aleatorios) y finalmente estas submuestras se combinan para conformar la muestra completa antes de la inspeccin. No obstante, vase la norma NTC - ISO 2859-1, para advertencias acerca de las dificultades que pueden surgir si se mezclan dos o ms fuentes de alimentacin.
EJEMPLO Debe tomarse una muestra de 125 unidades de un lote que se ha dividido en dos cajas, y cada una de ellas contiene la mitad del lote. Se ha decidido que cada caja constituir un sublote. Se toma de una de las cajas una muestra de 62 unidades y de la otra caja una muestra de 63 unidades; estas dos muestras se combinan para formar la muestra de 125 (la caja que suministre la unidad suplementaria debe escogerse preferiblemente en forma aleatoria). Si en lugar de que cada caja contenga la mitad del lote, una de ellas contiene 2/3 y la otra 1/3 del lote, sera necesario tomar 83 unidades de la primera caja y 42 de la segunda caja, puesto que estos son los nmeros enteros ms prximos a 2/3 y 1/3 respectivamente.

Cuando se practica un muestreo doble o un muestreo mltiple, puede resultar prctico en algunas ocasiones tomar la primera muestra aleatoriamente e inspeccionarla, a continuacin tomar la segunda muestra, si fuera necesario, y as sucesivamente. En este caso, las tcnicas de muestreo aleatorio son las mismas descritas anteriormente, sin dificultades adicionales. Sin embargo, resulta a veces ms conveniente tomar inmediatamente la muestra mxima necesaria y dividirla en una primera muestra, una segunda muestra, etc., antes de la inspeccin. En este caso, es ms importante que, adems de tomar una muestra aleatoria del lote para conformar la muestra mxima, la primera, la segunda, etc., tambin se tomen aleatoriamente muestras de la muestra mxima. Es particularmente importante recordar este punto cuando se aplica muestreo estratificado; sera totalmente incorrecto permitir que toda la primera muestra proviniera del mismo sublote.

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Tabla C.1. Nmeros de muestreo aleatorios (Parte 1) 110 5 327 5 373 9 244 4 148 2 403 1 828 7249 7116 6 659 2 267 9 460 2 985 4 313 6 930 8 910 8 439 4 691 1 034 7 472 2 950 1 312 8 734 2 907 1 294 9 140 3 946 8 259 9 452 3 948 4 351 1 956 9 634 9 731 8 200 362 9 813 3 541 666 5 368 3 585 1 052 6 787 1 157 4 581 7 419 7 297 4 921 737 4 883 2 804 6 289 4 956 8 324 5 399 8 240 1 646 4 263 2 195 4 135 5 242 8 325 6 445 2 179 4 520 5 655 5 883 4 107 5 888 3 837 6 874 3 848 6 201 8 496 2 536 8 046 6 117 8 185 8 062 8 687 3 554 1 370 4 345 3 265 6 116 261 6 031 7 981 1 031 7 727 1 904 9 283 5 073 213 8 961 1 128 4 767 5 057 7 509 2 351 7 142 60 135 9 817 3 568 3 568 9 096 0 567 9 542 3019 7 990 1 102 8 796 7 804 2 536 681 1 053 8503 2430 7 931 5108 5 386 9 228 9 304 5 860 6 277 2 827 8 640 9 853 4046 4 701 738 1 272 2 808 6 223 8 886 2 825 9 480 8 075 4 166 6 310 5 667 6 875 7 397 6 351 7 643 7 361 9 938 7 112 334 6 210 6 546 7 410 7 479 4 558 7 494 8 015 5 302 1 720 7 323 375 4 899 2 409 8 187 7 653 568 572 7 525 7 204 1 727 7 335 2 079 5 104 5 528 2 595 8 627 2 738 6 335 9 559 0 705 6 036 513 3 352 4 832 965 7 577 1 599 9 456 6 575 448 3718 611 8894 6 893 9793 5 303 3 197 6 662 2 390 4 880 3 209 8 760 831 4 264 5 075 7 735 6 969 7 389 2 553 8 015 8 422 1 199 7 725 0 065 2 560 3 537 100 7 426 7 017 2 142 2 703 8 904 1 617 7 736 5 167 6 845 6 604 2 774 6 919 4 440 4 082 949 9 976 7 425 4 394 5 230 909 183 2 170 4 795 8 858 5 190 212 7038 816 8 793 4332 2 323 475 5 370

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NORMA TCNICA COLOMBIANA

NTC 4518 (Primera actualizacin)

Tabla C.2. Nmeros de muestreo aleatorios (Parte 2) 430 5 632 7 960 5 138 8 615 4 968 9 228 9 657 9 270 8 206 1 562 1 528 5 697 3 186 3 275 7 931 5 956 1 866 2 673 7 824 2 251 7 661 6 651 2 917 5 970 5 819 752 67 6 660 7 292 8 420 3 232 9 617 5 743 3 008 7 953 4 342 9 273 656 7 697 1 949 2 912 7 901 7 071 5 427 864 8 813 6 718 4 989 3 582 7 017 8 287 7 837 7 759 1 010 5 016 5 804 1 033 8 129 7 396 0 607 5 173 8 609 3 248 1 415 1 739 2 698 4 279 4 948 957 373 5 810 1 088 9 207 2 346 4 512 8 178 9 890 9 633 9 987 1 391 8 004 469 8 655 240 6 254 3 322 8 442 341 5 573 3 437 5 721 4 715 8 100 6 076 7 808 2 612 2 972 4 484 8 356 8 081 8 552 4 490 924 2 993 8 711 773 3 564 4 769 524 132 26 1 780 9 308 9 661 6 157 1 703 9 741 7 842 2 914 1 256 3 237 673 916 780 9 198 2 264 1 619 1 094 5 116 4 118 7 886 3 799 2 900 3 384 3 860 7 513 1 961 9 853 16 2 218 2 321 2 674 8 208 336 1 144 2 829 8 440 9 129 4 899 9 786 0 658 6 766 5 103 7 876 3 881 146 2 784 6 421 6 518 6 630 1 743 7 221 5 129 4 090 6 026 8 880 7 148 3 256 3 466 4 152 3 133 3 154 6 517 7 204 7 388 2 336 6 148 1 371 7 215 9 840 2 400 3 815 2 788 4 268 2 865 1 299 5 630 3 956 2 384 2 268 3 288 8 392 3 217 631 8 262 4 833 6 962 889 1 042 704 4 912 370 2 874 9 714 5 843 6 957 3 611 4 858 5 988 9 750 1 340 8 036 4 717 7 698 5 247 7 420 2 497 8 331 5 249 4 998 7 826 199 137 8 795 0 138 4 268 8 322 5 400 3 906 751 8 968 8 362 5 335 9 096 9 397 6 470 4 029 7 594 4 588 2 987 2 121 8 018 7 256 7 289 3 315 1 897 2 604 9 055 2 435

20

NORMA TCNICA COLOMBIANA

NTC 4518 (Primera actualizacin)

Tabla C.3. Nmeros de muestreo aleatorios (Parte 3) 1 564 6 022 8 418 5 948 6 945 370 6 702 3 740 3 833 8 683 6 794 5 054 1 733 6 609 3 970 9 504 668 4 364 8 875 4 521 5 066 9 138 975 1 049 682 8 048 9 676 9 906 1 652 3 629 1 165 6 457 4 722 3 356 7 947 1 732 1 532 6 560 6 263 7 716 2 769 9 636 606 3 041 3 391 1 454 5 003 1 836 9 925 1 343 6 359 5 768 19 2 545 7 351 8 035 2 270 3 002 9 025 4 719 4 809 9 498 9 758 9 160 8 807 534 6 001 4 355 7 183 6 695 9 642 8 633 7 629 3 408 7 454 8 802 3 388 550 3 981 3 502 4 415 8 611 8 020 5 749 9 403 9 473 7 702 8 586 600 6 123 758 9 372 2 395 2 261 5 986 8 675 2 670 5 136 3 029 8 600 2 860 9 918 4 223 2 102 1 760 9 812 8 479 182 4 780 7 863 5 893 544 3 263 4 304 3 748 9 824 8 746 2 070 7 210 2 416 8 767 7 575 7 824 7 244 8 598 3 546 8 897 5 586 3 523 550 4 312 1 419 4 451 6 042 0 701 1 154 87 2 532 2 784 1 036 9 536 1 579 8 915 6 072 7 979 582 4 021 3 916 1 766 9 953 3 117 1 119 4 842 7 419 8 874 3 524 835 9 389 3 829 9245 67 9 602 6 668 1 089 516 7 825 6 102 8 461 7 128 8 106 410 391 542 1 013 5 773 7 357 9 441 8 786 2 359 4 599 1 382 1 866 1 730 8 458 5 960 899 6 259 2 888 7 321 607 2 985 7 990 9 820 825 7 759 5 815 0 118 2 614 221 6 482 9 945 8 934 855 381 7 809 4 732 1 307 3 394 1 339 9 257 1 184 3 807 1 404 5618 2 710 3 824 4 526 6 811 8 281 6 379 2 697 9 493 6 567 8 492 4 439 5 739 8 555 5 650 8 457 9 474 2 303 4 211 7 094 6 948 2 588 8 630 7 276 3 887 6 172 3 700 3 449 3 429 5 873 6 815 2 101 1575 2 291 3 015 3 801 6 708

21

NORMA TCNICA COLOMBIANA

NTC 4518 (Primera actualizacin)

Tabla C.4. Nmeros de muestreo aleatorios (Parte 4) 263 2 733 1 441 5 014 3 745 8 384 9 944 3 045 5 939 4 294 3 787 4 764 292 7 856 3 490 3 670 3 665 3 792 2 618 8 972 7 305 1 794 3 179 2 930 8 418 4 909 3 398 2 684 5 616 5 956 8 727 8 361 2 466 5 741 1 777 2 516 2 339 9 574 1 662 3 071 8 960 2 367 557 2 204 8 829 8 852 4 551 1 304 3 828 9 627 9 832 7 630 1 116 1 721 5 512 5 567 7 050 6 640 7 210 5 386 2 661 4 541 285 2 627 2 967 6 477 8 144 8 489 9 433 962 1 688 1 262 7 767 7 172 7 948 627 3 824 758 8 772 8 577 5 881 8 783 6 804 872 7 182 6 711 5 415 4 230 940 4 922 3 671 9 663 8 446 2 527 5 597 3 571 4 845 4 769 3 188 6 243 1 155 734 5 411 4 605 4 178 3 721 3 815 1 704 3 279 7 238 9 240 6 314 2 283 7 836 3 658 9 318 990 8 082 5 744 8 834 3 393 4 039 7 373 7 487 1 176 4 007 7 736 3 365 388 31 1 896 9 768 8 665 3 177 8 408 5 994 7 979 5 232 3 741 4 333 1 317 6 155 1 122 9 330 5 857 2 990 7 760 5 195 2 191 9 393 446 8 465 4 489 1 399 3 090 3 758 3 247 2 539 6 021 7 674 3 068 3 634 8 830 3 217 6 452 6 355 4 520 1 181 721 9 800 9 488 1 565 5 013 1 225 2 252 6 988 849 6 241 5 993 2 296 7 236 1 706 2 320 2 045 1 719 5 524 5 320 5 662 8 824 9 149 4 982 294 8 142 8 866 7 375 8 883 4 745 6 894 7 770 377 4 699 459 6 413 7 459 124 6 860 9 355 9 831 163 9 068 932 5 400 6 404 7 393 4 420 5 815 7 504 7 119 3 695 9 209 2 476 1 178 5 734 3 999 9 798 1 740 8 733 3 615 4 445 5 896 1 740 3 510 9 442 3 706 9 921 5 520 6 714 2 514 7 306 6 091 814 223 3200 1 081 630 9 136 8 370 5 852 6 8 648

22

NORMA TCNICA COLOMBIANA

NTC 4518 (Primera actualizacin)


BIBLIOGRAFA

[1]

ISO 707, Milk and Milk Products. Guidance on Sampling.

23

NORMA TCNICA COLOMBIANA


DOCUMENTO DE REFERENCIA

NTC 4518 (Primera actualizacin)

INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION. Milk and Milk Products. Sampling. Inspection by Attributes. Geneve: ISO, 2004, 20 p. (ISO 5538).

24