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NDICE

CAPTULO I ..........................................................................................................................................2 1. 2. 2.1. 2.2. 3. 4. INTRODUO ..............................................................................................................................3 OBJECTIVOS ...............................................................................................................................4 Geral ........................................................................................................................................4 Especficos ..............................................................................................................................4 METODLOGIA ..............................................................................................................................5 PERTINNCIA DO TRABALHO .....................................................................................................6

CAPTULO II .........................................................................................................................................7 5. 5.1. 5.1.1. 6. 7. CIRCUITO INTEGRADO ................................................................................................................7 TERMINOLOGIA DOS CIRCUITOS INTEGRADOS .....................................................................7 Parmetros de tenso e corrente .........................................................................................7

NVEIS LGICOS ASSOCIADOS AOS CIS ...................................................................................8 FAN-OUT................................................................................................................................... 10

CAPTULO III ..................................................................................................................................... 11 8. 9. 10. 11. 12. RETARDO DE PROPAGAO ................................................................................................... 11 IMUNIDADE AO RUDO.............................................................................................................. 12 EXIGNCIAS PARA ALIMENTAO ...................................................................................... 12 CONCLUSO ........................................................................................................................ 14 REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS ......................................................................................... 15

NDICE DE FIGURAS Fig. 1 Circuito Integrado mostrado internamente Fig. 2 Tenses e correntes em nvel lgico 1 e 0 Fig.3 Faixas de tenso associadas ao nvel lgico alto e baixo ... Fig. 4 Faixas de tenso associadas Lgica Positiva e Negativa.. Fig. 5 Porta NAND acionando vrias portas NANDs.. Fig. 6 Retardo de propagao Fig. 7 Margens de rudo.. 7 8 9 9 10 11 12

CAPTULO I 1. INTRODUO O desenvolvimento da tecnologia dos circuitos integrados, possibilitando a colocao num nico invlucro de diversos componentes j interligados, veio permitir um desenvolvimento muito rpido da Eletrnica Digital e conseqentemente do projeto de sistemas digitais. Foi criada ento uma srie de circuitos integrados que continham numa nica pastilha as funes lgicas digitais mais usadas e de tal maneira projetadas que todas eram compatveis entre si. Estas sries de circuitos integrados formaram ento as Famlias Lgicas, a partir das quais os projetistas tiveram facilidade em encontrar todos os blocos para montar seus sistemas digitais. Em virtude da massificao do uso de CIs, torna-se necessrio conhecer as caractersticas gerais desses circuitos.

2. OBJECTIVOS 2.1. Geral Estudar a terminologia dos circuitos integrados.

2.2. Especficos Estudar parmetros de tenso e corrente dos CIs; Estudar o fan-out (baixo) e (alto) dos CIs; Estudar o retardo de propagao nos CIs; Estudar a imunidade ao rudo dos CIs; Estudar o porqu da exigncia da alimentaopor parte dos CIs.

3. METODLOGIA A metodologia da pesquisa o conjunto detalhado e sequencial de mtodos e tcnicas cientficas a serem executados ao longo da pesquisa, de tal modo que se consiga atingir os objectivos inicialmente propostos. Segundo VENTURA (2002, pag.76-77), so incontveis e absolutamente diversas as classificaes da metodologia que se pode encontrar na literatura especializada. Pela natureza do trabalho apresentado, optou-se por uma pesquisa bibliogrfica e o mtodo de procedimento Monogrfico. Para a sua concretizao, passou pela etapa de reviso bibliogrfica acadmica.

4. PERTINNCIA DO TRABALHO Dentro do quadro actual de desenvolvimento Cientfico e Tecnolgico de nosso pas cada vez mais ganha nfase a necessidade de formao de mo-de-obra com capacidade de adaptao s crescentes evolues tecnolgicas, que pressupe em relao Cincia e a Tecnologia, a inter-relao entre teoria e a prtica experimental. Devemos ainda considerar que o presente trabalho de pesquisa resultante que agora apresentado constitui um elemento relevante para: Gerao de Conhecimentos Cientficos - constitui excepcional instrumento de apoio formao de recursos humanos que desenvolvam ou venham a desenvolver projectos de pesquisa com base em metodologias que possibilitam a qualificao de profissionais capazes de conhecer e dominar as aplicaes da Electrnica nas mais diversas reas de modo integrado. Desenvolvimento de Tecnologia instrumento de apoio ao desenvolvimento de projectos interdisciplinares de pesquisa, em mbito intra ou interinstitucional, que possibilitem a compreenso da Electrnica, possibilitando a gerao de competncia na mesma rea.

CAPTULO II 5. CIRCUITO INTEGRADO Um circuito integrado (CI), tambm conhecido por chip, um dispositivo microeletrnico que consiste de muitos transstores e outros componentes fabricados, isto , integrados sobre a mesma pastilha de silcio, os quais so interligados capazes de desempenhar muitas funes. Suas dimenses so extremamente reduzidas, os componentes so formados em pastilhas de material semicondutor, como mostra a figura 1. .

Fig. 1 Circuito Integrado mostrado internamente. 5.1. TERMINOLOGIA DOS CIRCUITOS INTEGRADOS Apesar do grande nmero de fabricantes de circuitos integrados, grande parte da nomenclatura e da terminologia empregadas nesta rea so mais ou menos padronizadas. Os termos mais usuais sero definidos e discutidos a seguir. 5.1.1. Parmetros de tenso e corrente VIH (mnimo) Tenso de Entrada Correspondente ao Nvel Lgico Alto. o nvel de tenso necessrio a representar o nvel lgico 1 na entrada de um circuito digital. Qualquer tenso abaixo deste nvel no ser considerada nvel lgico alto por um circuito digital; VIL (mximo) - Tenso de Entrada Correspondente ao Nvel Lgico Baixo. o nvel de tenso necessrio para representar o nvel lgico 0 na entrada de um circuito digital. Qualquer tenso acima deste nvel no ser considerada nvel lgico baixo por um circuito digital;
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VOH (mnimo) - Tenso de Sada Correspondente ao Nvel Lgico Alto. o nvel de tenso necessrio a representar o nvel lgico 1 na sada de um circuito digital.Tal parmetro normalmente especificado por seu valor mnimo; VOL (mximo) - Tenso de Sada Correspondente ao Nvel Lgico Baixo. o nvel de tenso necessrio a representar o nvel lgico 0 na sada de um circuito digital. Tal parmetro normalmente especificado por seu valor mximo; IIH (mnimo) Corrente de Entrada Correspondente ao Nvel Lgico Alto. Valor da corrente que circula na entrada de um circuito digital, quando um nvel lgico alto aplicado em tal entrada. IIL (mximo) Corrente de Entrada Correspondente ao Nvel Lgico Baixo.Valor da corrente que circula na entrada de um circuito digital, quando um nvel lgico baixo aplicado em tal entrada. IOH (mnimo) Corrente de Sada Correspondente ao Nvel Lgico Alto. Valor da corrente que circula na sada de um circuito digital, quando um nvel lgico alto gerado em tal circuito, respeitadas as limitaes para carregamento da sada. IOL (mximo) Corrente de Sada Correspondente ao Nvel Lgico Baixo. Valor da corrente que circula na sada de um circuito digital, quando um nvel lgico baixo gerado em tal circuito, respeitadas as limitaes para carregamento da sada.

Fig. 2 Tenses e correntes em nvel lgico 1 e 0

6. NVEIS LGICOS ASSOCIADOS AOS CIS Os circuitos digitais ou circuitos lgicos, so projetados para produzirem em sua sada nveis lgicos, baixos ou altos, em resposta aos nveis lgicos (baixos ou altos) aplicados s suas entradas de acordo
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com um conjunto de regras lgicas associadas a cada circuito. Porm, a cada nvel lgico alto ou baixo associada uma faixa de tenso como mostra a figura 3. O nvel lgico 1 (um) representa uma faixa de tenso entre um valor mnimo (VHmn) e um valor mximo de tenso (VHmx), e o nvel lgico 0 (ze ro) representa uma faixa de tenso prxima do zero, entre 0V (zero volts) e um valor mximo de tenso (VLmx). Os valores de tenso compreendidos entre a faixa considerada nvel alto e a faixa considerada nvel baixo, e portanto entre VLmx e VHmn, correspondem ao rudo, ou seja, so valores de tenso os quais no representam nem nvel alto nem baixo e portanto proibidos.

Fig.3 Faixas de tenso associadas ao nvel lgico alto e baixo. Quando ao potencial mais positivo atribudo o nvel lgico 1, diz-se que o sistema digital baseado em lgica positiva e quando ao potencial mais positivo atribudo o nvel lgico 0, o circuito digital baseado em lgica negativa, como mostra a Figura 8.2. A maioria dos sistemas digitais utiliza lgica positiva.

Fig. 4 Faixas de tenso associadas Lgica Positiva e Negativa

7. FAN-OUT Em um sistema digital, diversas portas podem ser conectadas sada de uma mesma porta, como o mostrado na figura 5. Essas portas apresentam um certo valor de impedncia de sada quando no possuem nenhuma carga conectada sua sada. Ao serem conectados outros CIs sua sada, ocorrer uma diminuio na impedncia de carga do bloco, acarretando em corrente maior, alterando as especificaes de tenso de sada. Porm, cada tipo de porta apresenta uma corrente mxima de sada, quando esta est em nvel alto (IoH) e um outro valor para a corrente mxima de sada, quando esta est em nvel baixo (IoL), a qual pode ser drenada da porta. Para se ter uma medida de quantos blocos podem ser conectados na sada de outro, sem que ultrapasse a corrente mxima, tanto para nvel alto como baixo na sada, define se uma medida chamada de fan-out ou fator de carga do CI como sendo o nmero que expressa qual a quantidade mxima de blocos da mesma famlia que poder ser conectado sada de um bloco. E pode ser dado pelas expresses | | | |

Por exemplo: uma porta lgica com fan-out igual a 10 pode alimentar at no mximo 10 entradas lgicas padro. Se tal nmero no for respeitado os nveis de tenso na sada do circuito podero no respeitar as especificaes.

Fig. 5 Porta NAND acionando vrias portas NANDs


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CAPTULO III 8. RETARDO DE PROPAGAO Um sinal lgico sempre sofre um retardo em sua passagem atravs de um circuito. O atraso de propagao o tempo que demora entre o instante em que so aplicados os nveis lgicos na entrada e o instante em que obtm-se a resposta na sada; esse tempo varia de acordo com a verso que for utilizada. Os dois tempos correspondentes aos atrasos de propagao so definidos como: tPLH: o intervalo de tempo que transcorre desde o instante em que se aplica os nveis lgicos nas entradas at que a porta responda com a passagem da sada do nvel lgico 0 para o nvel lgico 1 (BAIXO para ALTO). tPHL: o intervalo de tempo que transcorre desde o instante em que se aplica os nveis lgicos nas entradas at que a porta responda com a passagem da sada do nvel lgi co 1 para o nvel lgico 0 (ALTO para BAIXO). A Figura 11.7 ilustra tais atrasos de propagao para o circuito NOT. Observe que tPHL o tempo necessrio para que a sada NOT passe do nvel ALTO para o BAIXO em resposta a uma entrada ALTO. Ele medido a partir da metade dos pontos de transio dos sinais de entrada e de sada. Em geral tPHL e tPLH possuem valores diferentes, variando tambm em funo das condies de carregamento a que o circuito est submetido. Tais valores so usados para compararem as velocidades de operao dos circuitos lgicos. Por exemplo: um circuito com retardo de propagao em torno de 10ns mais rpido do que um circuito com retardo da ordem de 20ns.

Fig. 6 Retardo de propagao tPLH Tempo de atraso do estado lgico 0 para o 1. tPHL Tempo de atraso do estado lgico 1 para o 0.

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9. IMUNIDADE AO RUDO Picos de corrente eltrica e campos magnticos podem induzir tenses nas conexes existentes entre os circuitos lgicos. Tais sinais, indesejados e esprios, so denominados rudo. A imunidade ao rudo de um circuito lgico refere-se capacidade deste circuito tolerar tenses geradas por rudo em suas entradas, sem alterar o seu funcionamento. A quantidade medida de imunidade ao rudo denominada margem de rudo. Ver figura 7. A margem de rudo para o nvel alto, VNH, definida como VNH = VOH (mnimo) VIH (mnimo) A margem de rudo para o nvel baixo, VNL, definida como VNL = VIL (mximo) VOL (mximo)

Fig. 7 Margens de rudo VNH = VOH(mnimo) - ViH(mnimo) VNL = ViL(mximo) - VOL(mximo)

10. EXIGNCIAS PARA ALIMENTAO Cada CI precisa de uma determinada quantidade de potncia eltrica para operar. Tal potncia suprimida por uma ou mais fontes de tenso, conectadas aos pinos de alimentao do chip. A quantidade de potncia que um CI precisa para funcionar determinada pela corrente ICC que ele puxa

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da fonte que fornece VCC, sendo seu valor numrico obtido pelo produto ICCxVCC. Para muitos CIs, o consumo de corrente vai variar, dependendo dos nveis lgicos dos circuitos dos chips. Exemplo: Considere um chip NAND, em que todas as sadas esto no nvel lgico ALTO. Neste caso, a corrente que sai da fonte VCC chamada de ICCH. Considere o mesmo chip NAND, com todas as suas sadas no nvel lgico BAIXO. Neste caso, a corrente que sai da fonte VCC denominada ICCL. Em geral, ICCH e ICCL tm valores diferentes, sendo o valor mdio de tais correntes

utilizado para calcular a potncia mdia consumida pelo circuito integrado.

ICCH corrente que sai da fonte VCC no nvel lgico ALTO ICCL corrente que sai da fonte VCC no nvel lgico BAIXO

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11. CONCLUSO Os circuitos integrados so circuitos electrnicos funcionais, constitudos por um conjunto de transstores, dodos, resistncias e condensadores, fabricados num mesmo processo, sobre uma substncia comum semicondutora de silcio que se designa vulgarmente por chip. O circuito integrado propriamente dito chama-se pastilha (chip, em ingls) e muito pequeno. A maior parte do tamanho externo do circuito integrado deve-se caixa e s ligaes da pastilha aos terminais externos. Em geral, a sada de um circuito lgico projetada para alimentar vrias entradas de outros circuitos lgicos. O fan-out , tambm chamado fator de carga, definido como o nmero mximo de entradas de circuitos lgicos que uma sada pode alimentar de maneira confivel. Circuitos integrados so amplamente usados na construo de sistemas digitais. Isso porque eles tm muito mais circuitos em um pequeno encapsulamento e so mais confiveis. Um sinal lgico, ao atravessar um circuito, sofre um atraso. Existem dois tipos de atraso: tPLH Tempo de atraso do estado lgico 0 para o 1 e tPHL Tempo de atraso do estado lgico 1 para o 0. Os valores dos tempos de atrasos de propagao so usados para medio de velocidade em circuitos lgicos. Como todo circuito eltrico, um circuito lgico consome uma certa quantidade de potncia. Essa potncia fornecida por fontes de alimentao e esse consumo deve ser levado em considerao em um sistema digital. Se um circuito integrado consome menos potncia poderemos ter uma fonte de menor capacidade e com isso reduziremos os custos do projeto. Circuitos lgicos s trabalharo confiavelmente com nveis de tenso especificados pelos fabricantes, ou seja, as tenses devem ser menores que VIL(max) e maiores que VIH(min) fora da faixa de indeterminao e com alimentao adequada.

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12. REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS Bignell,J. W.& Donovan, R. L. Eletrnica Digital-Lgica Combinacional. Ed Makron Books Fregni, E. & Saraiva, M., Engenharia do Projeto Lgico Digital, Ed. Edgard Blcher Ltda. Leach D. P. Eletrnica Digital no Laboratrio. Ed. Makron Books Tocci, J. R. , Sistemas Digitais- Princpios e Aplicaes, Ed. Prentice Hall do Brasil Uyemura, J. P. Sistemas Digitais- Uma Abordagem Integrada, Ed. Thomson Pioneira Apostila de Sistemas Digitais I- Prof. Sandro Rodrigo G. Bastos Apostila Circuitos Lgicos Prof. Gilvan Garcia Introduo aos Sistemas Digitais (v.2001/1) Jos Lus Gntzel e Francisco Assis do Nascimento http://www.dsif.fee.unicamp.br/~fabiano/EE610/PDF/2_h%20Comparativo%20Tecnol %F3gico%20&%20Interface.pdf consultado dia 13/08/2013 http://www.suframa.gov.br/minapim/news/visArtigo.cfm?Ident=151&Lang=BR 13/08/2013 consultado dia

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