Espectrometría de emisión atómica.

La espectrometría de emisión de plasma, arco y chispa tiene varias ventajas si se le compara con los métodos de absorción de llama y electrotérmicos. Entre las ventajas está su baja susceptibilidad a las interferencias químicas, la cual es un resultado directo de sus temperaturas superiores. En segundo lugar están los buenos espectros que resultan para la mayoría de los elementos con un solo grupo de condiciones de e citación. !tra ventaja de las fuentes de plasma más energéticas es que facilitan la determinación de concentraciones bajas de elementos que tienden a formar compuestos refractarios, es decir, aquellos que son muy resistentes a la descomposición térmica, como los ó idos de boro, fósforo, tungsteno, uranio, circonio y niobio. "demás, las fuentes de plasma permiten determinar no metales como cloro, bromo, yodo y a#ufre. $or %ltimo, los intervalos de concentración de los métodos de emisión de plasma son de varios órdenes de magnitud, en contraste con el intervalo de dos o tres décadas de los métodos de absorción. " menudo los espectros de emisión a partir de fuentes de plasma, arco y chispa son muy complejos, casi siempre están formados por cientos y hasta miles de líneas. Esta gran cantidad de líneas, aunque representan ventajas cuando se busca información cualitativa, aumenta la probabilidad de interferencias espectrales en el análisis cuantitativo . $or tanto, la espectroscopía de emisión que se basa en plasma, arcos y chispas requiere mayor resolución y equipo óptico más caro que el necesario en ls métodos de absorción atómica con fuentes de llama o electrotérmicas. " pesar de sus ventajas, es improbable que los métodos de emisión que se basan en fuentes de alta energía desplacen por completo los procedimientos de absorción atómica electrotérmica. &e hecho, ambos son complementarios. Entre las ventajas de los procedimientos de absorción atómica están el equipo más sencillo y más barato, los bajos costos de operación, la precisión un poco mayor, por lo menos en la actualidad, y los procedimientos que requieren menos habilidad del operador para obtener resultados satisfactorios. Espectroscopía de emisión con fuentes de plasma. 'n plasma es una me#cla gaseosa eléctricamente conductora que contiene una concentración importante de cationes y electrones. En el plasma de argón, que se usa con frecuencia para el análisis de emisión, los iones y los electrones de argón son las especies conductoras principales, aunque los cationes provenientes de la muestra también están presentes en cantidades peque(as. Los iones de argón, una ve# formados en el plasma, son capaces de absorber suficiente potencia de una fuente e terna para conservar la temperatura en un nivel en el que la ioni#ación posterior mantiene indefinidamente al plasma, el cual alcan#a temperaturas hasta de )*,*** +. ,ay tres tipos principales de plasma de alta temperatura- ). plasma acoplado por inducción, /. plasma de corriente continua y 0. plasma inducido por microondas. La tercera fuente de las mencionadas es la menos usada. Fuente de plasma acoplado por inducción. La fuente utili#ada en este caso es llamada antorcha. Esta formada por tres tubos concéntricos de cuar#o a través de los cuales fluyen corrientes de argón. 1eg%n el dise(o de la antorcha, el consumo total de argón es de 2 a /* L3min. El diámetro del tubo más grande es casi siempre alrededor de /.2 cm. La parte superior de este tubo está rodeada por una bobina de inducción, refrigerada por agua, que está alimentada por un generador de radiofrecuencia capa# de producir una potencia de *.2 a / 45 a /6.)/ 7h# o hasta 8*.9: 7h#. La ioni#ación del argón que fluye se inicia mediante una chispa que proviene de una bobina ;esla. Los iones resultantes y sus electrones asociados interaccionan entonces con un campo magnético oscilante, ,, producido por la bobina de inducción. Esta interacción fuer#a a los iones y los electrones dentro de la bobina a moverse en trayectorias circulares. La resistencia que manifiestan los iones y electrones a este flujo de carga es la causa del calentamiento óhmico del plasma. La temperatura del plasma así formado es lo suficientemente elevada como para que el cilindro e terior de cuar#o requiera aislamiento térmico. $ara lograrlo, se hace fluir argón de forma tangencial alrededor de las paredes del tubo. Este flujo enfría las paredes interiores del tubo central y concentra radialmente el plasma. Introducción de la muestra. 1e reali#a mediante un flujo de argón de casi ) L3min por el tubo central de cuar#o. La muestra puede ser aerosol, vapor generado térmicamente o polvo fino. El medio mas com%n es el nebuli#ador concéntrico de vidrio. !tros tipos comunes de introducción son- a. nebuli#ación por flujo cru#ado. En este caso, un flujo de gas a alta velocidad atraviesa la punta de un capilar en ángulos rectos, lo que ocasiona el mismo efecto que en el nebuli#ador concéntrico. b. <apori#ación electrotérmica. 1in embargo, paro los métodos que utili#an plasma, el horno se utili#a sólo para introducir la muestra y no para atomi#arla, Esta técnica acoplada a una antorcha de plasma ofrece las ventajas de los hornos electrotérmicos de poder anali#ar micromuestras =>2?L. y bajos límites absolutos de detección =>) ng. a la ve# que conserva el amplio intervalo lineal de trabajo, precisión aceptable muestra a muestra =2 a )*@., ausencia de interferencias y la aptitud para el análisis de m%ltiples elementos del plasma acoplado por inducción. Ionización y atomización de los analitos. El tiempo de residencia de los átomos de la muestra es de unos / ms antes de alcan#ar el punto de observación. &urante ese lapso los átomos e perimentan temperaturas que varían entre 22** y :*** +. El tiempo y las temperaturas son apro imadamente do o tres veces mayores que los que se encuentran en las llamas de combustión más calientes =acetileno3ó ido nitroso. que se utili#an en los métodos espectroscópicos de llama. $or lo tanto, la atomi#ación es más completa en los pasmas que en las flamas y hay menos problemas de interferencias

Los métodos de preparación son similares a los que se describen para los métodos de absorción atómica de llama. Los dos %ltimos se usan poco en la espectroscopía de emisión. que genera más iones que mantienen la corriente de manera indefinida. Curvas de calibración. desde )6* nm hasta :** nm. En la actualidad la mayoría de los espectrómetros de emisión de plasma abarcan por completo el espectro ultravioleta y visible. tal ve# porque la gran concentración de electrones que provienen de la ioni#ación del argón mantiene una concentración de electrones casi constante en el plasma " diferencia del arco. Las fuentes de plasma de acoplamiento por inducción de corriente continua proporcionan datos analíticos cuantitativos mucho mejores que otras fuentes de emisión. los electrodos de grafito se tienen que sustituir cada pocas horas. Espectrómetros con fuente de plasma. 1on significativamente menores con plasma que con otros atomi#ador. Los instrumentos secuenciales se programan para pasar desde la línea de un elemento hasta la línea del segundo elemento. Fuente de plasma de corriente continua. "demás. Fuando el intervalo de concentración es grande. de varios canales simultáneos y de trasformada de Dourier. La muestra es aspirada dentro del área entre los dos bra#os de la B. En estos e perimentos se a(ade una cantidad constante de itrio a todos los patrones y la intensidad relativa de la línea del analito respecto a la línea del itrio a /8/. lo que las hace %tiles para el análisis elemental tanto cualitativo como cuantitativo. "sí mismo./nm sirve como patrón analítico. e citada y detectada. "l igual que en espectroscopía de absorción atómica.iene mejor capacidad par manejar soluciones orgánicas y soluciones acuosas con alto contenido de sólidos que el plasma acoplado por inducción. mientras que la fuente de plasma acoplado por inducción requiere poco mantenimiento. La mayor parte de los elementos contiene varia líneas intensas que se pueden utili#ar para identificarlos y cuantificarlos. donde es atomi#ada. 1orprende que los efectos de interferencia por ioni#ación sean peque(os. La selección depende de la consideración de qué elementos aparte del analito podrían estar presentes en la muestra y de si e iste la posibilidad de que las líneas de estos elementos se traslapen con las líneas del analito. Las fuentes de plasma generan espectros ricos en líneas de emisión características. con su longitud de onda con tres cifras decimales y la intensidad apropiada para más de 6* elementos. Preparación de la muestra. La temperatura en el n%cleo del arco es de más de :*** + y en la #ona de observación. a concentraciones bajas de analito. La calidad de dichos resultados radica en su gran estabilidad. ablación por láser o por chispa y vapori#ación de descarga luminiscente. bajo ruido. por lo regular.ay un ánodo de grafito en cada bra#o de la B y un cátodo de tungsteno en la base invertida. La principal causa de esto es la autoabsorción. En varias publicaciones se puede encontrar información sobre las líneas más notables. En principio se pueden identificar todos los elementos metálicos mediante espectrometría de emisión de plasma. $or lo tanto. 1e requiere mucho menos argón y la fuente de alimentación au iliar es más sencilla y más barata. Elementos que se pueden identificar. y provienen sobre todo de átomos más que de iones.secuenciales. en cada una para medir sus intensidades con una relación se(alEruido satisfactoria. Aplicaciones de las fuentes de plasma. las chispas y las flamas. la emisión de fondo debida a la recombinación de iones de . deteniéndose sólo lo suficiente =algunos segundos. 1in embargo. Fon frecuencia se utili#a un patrón interno en la espectrometría de emisión. El argón fluye desde los dos bloques anódicos hacia el cátodo. el eje vertical de la curva de calibración representa la relación o el logaritmo de la relación entre la se(al del detector para el analito y la se(al de patrón interno. Selección de la línea. poca radiación de fondo y la ausencia de interferencias al trabajar en condiciones e perimentales apropiadas. se utili#a entonces una gráfica logElog. En este caso. Fon frecuencia. . Esta fuente de chorro de plasma está constituida por tres electrodos dispuestos en una configuración de B invertida. El chorro de plasma se forma al poner en contacto por un momento el cátodo con los ánodos. Fon frecuencia estos instrumentos contienen un monocromador de red. Los espectros producidos por este sistema tiende a tener menos líneas que los producidos por un plasma acoplado por inducción. . Interferencias. $uede haber desviaciones de la linealidad cuando se abarcan intervalos grandes de concentración. de 2*** +. de tipo holográfico con /8** a 09** hendiduras o surcos por milímetro. las curvas de calibración ene espectrometría de emisión de plasma consisten en una gráfica de una se(al eléctrica proporcional a la intensidad de la línea contra la concentración del analito. Los instrumentos para la espectroscopía de emisión son de tres tipos básicos. la región de observación óptima es muy peque(a.ambién es posible anali#ar directamente muestras sólidas. la volatili#ación de la muestra es casi siempre incompleta debido a los breves tiempos de residencia en la región de alta temperatura. . el corte transversal de la temperatura del plasma es relativamente uniformeA por consiguiente no se presentan tan a menudo efectos de auto absorción y autoinversión. en la cual la se(al de salida disminuye como consecuencia de la absorción por parte de átomos en el estado basal presentes. las curvas de calibración suelen ser lineales y abarcan varios órdenes de magnitud de concentración. $ara ello se utili#an procedimientos de vapori#ación electrotérmica. 1e ioni#a el argón y se genera una corriente =>)8". de modo que las pie#as ópticas tienen que estar cuidadosamente alineadas para amplificar la imagen de la fuente. Fonsidere también que la precisión mejora cuando se miden concentraciones altas de analito. Co obstante.químicas. se tienen que introducir de manera periódica uno o más patrones para corregir los efectos de deriva instrumental. La espectroscoía de emisión de plasma acoplado por inducción se utili#a sobre todo para el análisis cualitativo y cuantitativo de muestras que están disueltas o en suspensión en solventes acuosos u orgánicos.

Holler. Principios de análisis instrumental. . minerales y rocas. como metales y aleaciones. Las fuentes de plasma están despla#ando a los arcos y las chispas.ome en cuenta que se pueden detectar más elementos en niveles de )* partes por mil millones =ppmm. &ebido a su inestabilidad. que empe#aron a reempla#ar en las a(os veintes los métodos gravimétricos y volumétricos clásicos para el análisis elemental. En las fuentes de arco y chispa la e citación de la muestra se produce en el peque(o espacio e istente entre un par de electrodos. México. y a menudo. durante un minuto o mas. . suelos. Fuente: D. S. es necesario integrar las se(ales de emisión provenientes de las fuentes de arco y de chispa durante al menos /* s. sobre todo en las industrias de los metales. Fomo los espectros con plasma acoplado por inducción de muchos elementos son tan ricos en líneas. F. o menos mediante e citación con plasma que con otros métodos de emisión o absorción. R. Crouch.argón con electrones es lo suficientemente intensa como para requerir correcciones cuidadosas. esta correlación se logra tomando lecturas de fondo en ambos lados de la línea de interés. Skoog. 6ta edición. Estos equipos todavía se usan en análisis cualitativo y semicuantitativo.anto para los instrumentos de un solo canal como para los de m%ltiples canales. Límites de detección. Espectroscopía de emisión con fuentes de arco y chispa. se basaron en la obtención de espectros de emisión de los elementos por medio de su e citación con arcos eléctricos o chispas de alta tensión. y es probable que contin%e esta tendencia. Cengage Learning. . J. El paso de electricidad entre los electrodos a través de este peque(o espacio proporciona la energía necesaria para atomi#ar la muestra y producir átomos o iones en estado electrónico e citado. A. para obtener datos analíticos reproducibles. Estas técnicas. Estos espectros permiten la determinación cualitativa y cuantitativa de elementos metálicos en varios tipos de muestras. siempre son posibles las interferencias espectrales. 2008.