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UNIVERSIDADDECOLIMA

FACULTADDEINTENIERIACIVIL

ANALISISEXPERIMENTALDEESFUERZOSPOR
MEDIODELAFOTOELASTICIDAD

PRESENTA:
JOSMANUELNEGRETERAMREZ

ASESORES:
DR.AGUSTNORDUABUSTAMENTE
M.I.CARLOSE.SILVAECHARTEA

COQUIMATLN,COLIMA,A20DEJULIODE2009
Universidad de Colima
Facultad de Ingeniera Civil
RESUMEN
Lafotoelasticidadesunmtodovisualconelcualsepuedeobservarporcompleto
la distribucin del campo del esfuerzo en un modelo experimental, el cual se fabrica con
material fotoelstico, con una cierta escala con respecto al modelo original bajo
condicionesdecargasimilares.

Debido a las propiedades de la luz polarizada y a la birrefringencia del material


fotoelstico cuando se somete a esfuerzos, cuando ste se deforma y se analiza con un
polariscopio, patrones de franja de color distintos aparecen en el modelo. La
interpretacindeestepatrnrevelaladistribucindelesfuerzo,esdecir,lospuntosenel
modelo que tienen igual direccin de esfuerzos principales o de igual diferencia en
esfuerzosprincipales.

El comportamiento del elemento sujeto a carga se realiza en el intervalo elstico


lineal, y su determinacin depende del uso de los conceptos del anlisis dimensional,
mediante los cuales ser posible realizar la extrapolacin del estado de esfuerzos en el
espcimen.

Elpolariscopioeseldispositivopticoutilizadoparaelanlisisdeesfuerzosporel
mtodo fotoelstico bidimensional, cuya operacin depende de la propiedad de la luz
polarizada.

Lasresinasepxicas,polisteropoliuretanosoncomnmentelasmateriasprimas
involucradasenlaelaboracindelosmaterialesutilizadosenlafabricacindelosmodelos
fotoelsticos,quepuedendosificarseconelfindeproducirunagranvariedaddemdulos
deelasticidad(mdulosdeYoung)yrespuestafotoelsticaadiferentesdeformacionesdel
material.

RESUMEN
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
1.INTRODUCCIN
1.1. ANTECEDENTES

La birrefringencia inducida por medio de esfuerzos fue primeramente descubierta en


el vidrio por Brewster en el ao 1816. La primera investigacin sistemtica fue realizada
por Neuman en 1841, quien atribuy la birrefringencia a la deformacin. En el ao 1853
Maxwell relacion la birrefringencia con el esfuerzo y descubri las leyes pticas del
esfuerzo.CokeryFilon,aplicaronestatcnicaparaingenieraestructuralen1902.
La birrefringencia puede ser medida con un polariscopio, el cual se encarga de
convertir el cambio en la polarizacin de la luz transmitida a travs del espcimen
sometido a esfuerzos a la forma de franjas. Tomando como base la luz de entrada, los
polariscopios se catalogan como polariscopios planos y polariscopios circulares. La luz
circularmente es lograda por la combinacin del polarizador y un par extra de platos
retardadores que puedan separar la frecuencia en cuatro. Los resultados experimentales
obtenidos del polariscopio son parmetros fotoelsticos, denominados isocromticos e
isoclnicos, los cuales representan la magnitud y direccin de los esfuerzos principales
respectivamente. Los parmetros fotoelsticos son convertidos a esfuerzos principales
utilizandoalgunaleyisotrpicaoanisotrpicapticadeesfuerzo.

La fotoelasticidad tradicional extrae los parmetros fotoelsticos utilizando mtodos


deconteodefranjas,elcualidentificalosmrgenesintegraleslocalizandoelcentrodelas
franjas fotoelsticas. La resolucin de estos mtodos es usualmente del orden de 0.1 del
margenporqueelcentrodelasfranjasnoestnormalmentebiendefinido.Losmrgenes
parcialespuedensermedidosporvariosmtodosdecompensacinconunaprecisinde
hasta0.01delmargen.Losmtodosusadosparalacompensacinsonbarrasatensino
compresin, el compensador de BabinetSoleil, el mtodo de Friedel y el mtodo de
Tardy.Estosdosltimossonlosmscomnmenteutilizadosymsprcticosenelsentido
de que no requieren equipamiento adicional. De cualquier manera, los mtodos de
compensacin presuponen el conocimiento de las direcciones principales en el punto y
requierenajustamientomanual.Todalacartografaesrealizadapormediodeunatediosa
INTRODUCCIN 1
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
exploracin.Post(1955)introdujounafranjamultiplicadora,queconsisteendosespejos
parciales en la parte delantera y trasera de la muestra, colocados en un polariscopio
tradicionalparaincrementarhastadiezveceslabirrefringencia,todoestoacostadeuna
prdidasignificativaenlaresolucinespacialylaintensidaddelaluz.

La tcnica de la contabilizacin de franjas ha limitado las aplicaciones de la


fotoelesticidad tradicional. Para superar estas dificultades, programas computacionales
conunsistemadeprocesamientodigitaldeimgeneshasidointegradoenelpolariscopio
para lograr un anlisis ms preciso y automtico. Un nmero importante de intentos
fueron realizados utilizando la tcnica de punto por punto. Brown, Hickson y Frocht
fueronlosprimerosencolocarunfotodetectorenlospolariscopiosenladcadade1950,
para facilitar la colocacin del esqueleto de las franjas fotoelsticas. La automatizacin
delpolariscopiodecampocompletofueposiblegraciasalaintroduccindeundispositivo
acopladoporcarga(cmara)enladcadade1970.Enelaode1979,Mueller,Saackely
Seguchi, de manera independiente, integraron una cmara y una computadora en el
polariscopioeimplementaronlatcnicadeladelgazamientodefranjasparaencontrarlos
esqueletosdestas.

El verdadero potencial de la fotoelasticidad digital fue explotado nicamente cuando


el concepto de identificacin de campos en la franja como mapas de la fase, es decir,
cuando Voloshin y Burger introdujeron la tcnica fotoelstica. Esta tcnica puede
detectar el retraso continuo de la fase de campo completo, ms que los esqueletos
discretos de las franjas. Sin embargo, la orden de la franja en el campo fue limitada a la
mitad de una franja o menos, y los isoclnicos no fueron obtenidos. Investigaciones
recientes en fotoelasticidad digital se han enfocado en tres mtodos: el escalonamiento
delafase,elanlisisdelcontenidoespectralylatransformadadeFourier.

El concepto del escalonamiento de la fase para la fotoelasticidad primero fue


introducido por Hecker y Morche en 1986, quienes utilizaron los polariscopios planos y
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Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
circulares para extraer isocromticos e isoclnicos respectivamente. Esta tcnica registra
mltiplesimgenesnormalmentedetresaseis,correspondiendoalosdiferentesarreglos
yaplicacionespticos, utilizandolaintensidaddelaimagenpararesolverlosparmetros
fotoelasticos para cada pxel. La intensidad de luz del fondo es tambin considerada
como variable para compensar la falta de uniformidad de la transparencia. Patterson y
Wang simplificaron el acercamiento de Hecher y de Morche usando un polariscopio
circularparaextraerambosparmetrosfotoelsticos.Sinembargo,ambastcnicastienen
la desventaja principal de que requieren al operador para definir el orden isocromtico
absolutodelafranjaenunpuntoenelcampovisual,puestoqueproporcionasolamente
elretrasorelativodentrodelrangode[0,9].Elescalonamientomltipledelalongitudde
ondaydelacargafuerondesarrolladosparadeterminarlaordenadaabsolutadelafranja
ylafranjacerodelaordenada.

Redner, en 1984, fue el primero en introducir el mtodo espectral del anlisis del
contenido,elcualidentificalosparmetrosisocromticosenunpuntoenunamuestrapor
su firma espectral nica. Esto es una medicin punto por punto y necesita la calibracin
especialdelafirmaespectraldeunafuentedeluzparticular.HaakeyPattersonampliaron
estatcnicaparamedirpatronescomplicadosdeunafranjaconrdenesbajosyaltosde
sta.Carazolvarezcombinlafasequeavanzabaconelanlisisdelcontenidoespectral
con el fin de desempaquetar la fase para automatizar completamente el polariscopio. La
medicindelacampocompletofuehechaposiblegraciasalatcnicadelafotoelasticidad
detresfranjas(threefringephotoelasticity,TFP),quepuedeextraersolamenteelementos
cromticosdentrodelordendetresfranjas.

Quan y Morimoto introdujeron en 1993 el FFT (Fast Fourier Transform, transformada


rpida deFourier) para analizarlas franjas fotoelsticas. En esta tcnica, una cuaptica
se utiliza para introducir una franja del portador en el patrn de esfuerzo inducido en la
franja. La perturbacin del esfuerzo en la franja portadora se puede detectar por medio
de la transformada de Fourier del patrn modulado de la franja. No obstante, el
INTRODUCCIN 3
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
aislamiento del espectro fotoelstico del espectro del fondo requiere frecuencias
portadoras ms altas, que pueden causar una mal interpretacin en el FFT cuando se
utilizanlasmedicionesbajasdeunamuestra.Estatcnicarequierededesarrolloadicional
paraqueseaconvenienteparalosusosprcticos.

En esta investigacin, un polariscopio con infrarrojo combinado con un multiplicador


de la franja y el identificador de fases paso por paso (phasestepping) fue utilizado para
medirlosesfuerzosresidualesenplacasfinasdesilicnconunaexactitudde1MPa.Esta
tcnicapuedeproporcionarunamedicinenvariossegundosytieneelpotencialparala
supervisin"insitu".

1.2. JUSTIFICACIN

Lavastacomprensindetodoelcontenidodelasasignaturasdecualquierinstitucin
educativa es imprescindible, ya que en sus manos se encuentra el futuro del mundo y el
bienestar de la sociedad. Esta formacin comprende ser integral, la cual depende de un
desarrollo terico y otro experimental, en el cual los estudiantes puedan apreciar
grficamenteloquesucedeenelmundotericoqueleshasidoexplicadoenlasaulas.

Recordemos que para comprobar o refutar cada fenmeno, es necesaria la


experimentacinencadaprocesocientfico.

La fotoelasticidad es una potente herramienta que nos ayuda a tener un mejor


entendimiento de los fenmenos, ya que con el simple uso de luz blanca podemos
describirlaspropiedadesdelosmaterialessometidosaesfuerzosdetensin.

Se pueden obtener resultados importantes con un polariscopio a travs de


actividadesexperimentales,sinnecesidadenalgunasocasionesdeacudirallaboratorio.

INTRODUCCIN 4
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
La demostracin experimental tiene como finalidad ayudarle al alumno a una mejor
comprensin de los conocimientos adquiridos en las clases de las asignaturas que
conformanlostemasrelacionadosconesfuerzosdetensin.Cuandoelprofesorseauxilia
parasuclaseconalgnexperimento,suexplicacinesmasprecisa,captalaatencindel
alumno y es mucho ms fcil que ste comprenda los conceptos tericos revisados o
analizados.

En la mayora de las escuelas de ingeniera, las asignaturas que integran el campo


relacionadoconlafotoelasticidadseenseandemaneraexpositiva;estoocasionaenlos
alumnos apata, desinters, no se atreven a cuestionar, ni tampoco se sienten la
motivacinparaencontrarrespuestasoconclusionesdeltemaexpuestoporelprofesor.

Existenpocosprofesoresquesepreocupanpordemostrarlesasusalumnoslautilidad
y aplicacin de los conocimientos, y con esto lograr la comprensin de ellos. Cuando las
exposicionessonrutinarias,elalumnonoseatreveapreguntaralprofesorsusdudasoa
vecesnoseprestalaatencinqueserequiere,algunasvecesexisteeltemordepreguntar
porquesepiensaqueelnocontestarsusdudas.

Eshastaahoraenelnivelqueestarnoscursando,queaparecelaincgnitadedarnos
cuentadelaimportanciadeaclararlasdudasyencontrarlessentidooalsignificadoalos
conocimientosanalizados.

La experimentacin es sencilla y atractiva cuando se lleva acabo con entusiasmo, en


contraste,laexposicintericapuederesultarindiferente,ademsseexigelamotivacin
yelentusiasmoparaconquistarlaatencindelalumno.

Cabe sealar que es fundamental el papel del profesor, pues l es la persona que
ayudaalalumnoadesarrollartodassuscapacidadesydentrodeestasseencuentralade
investigacin.
INTRODUCCIN 5
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

Laexperimentacinenelaulacreaenelalumnoelinters,elgustoporlaasignatura,
le facilita adems soluciones a sus cuestiones sobre el tema desarrollado, la habilidad de
descubrir,predeciryelaboraralgnmodelooprototipo.

En este sencillo trabajo retomamos experimentos que aparecen en varios libros y


prcticasdelibrosconeltemadefotoelasticidad;paramuchos,puedenserconsiderados
como insignificantes, pero para nosotros son relevantes, ya que al cursar la carrera de
IngenieraCivil,sedebeefectuarenclaseoenellaboratorioalgnexperimentosencillo.

Nuestra propuesta, es que el maestro involucre al alumno a la investigacin de


fenmenosfotoelsticos,loencaminealmundodelaspreguntas,delaindagacinylogre
despertarlacreatividadquecadaunodenosotrosposee.Yparalograresto,esnecesario
que busque otras formas o cambio en su manera de dar sus explicaciones, y adems se
apoye en actividades de tipo "experimental" para atraer la atencin del alumno y
encaminarloaobtenerconclusionespropiasysatisfactorias.

1.3. HIPTESIS

Losresultadosdelamagnituddelesfuerzoobtenidosapartirdelmtodofotoelstico
y la manipulacin del polariscopio son similares a los obtenidos por un software de
elementosfinitos.

1.4. RELEVANCIADELPROYECTO

Efectuar con un carcter confiable, un instrumento del manejo del polariscopio para
elestudiodeesfuerzosdetensinpormediodelafotoelasticidad.

Induciralarealizacindeprcticasexperimentalesdefotoelasticidad,ejecutadaspor
losestudiantesenformaparticipativayconjuntaconlosprofesores,paralacomprensin
del objeto en estudio, lo cual ayuda, a que bajo circunstancias de quealgn fundamento
INTRODUCCIN 6
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
tericonohayasidoesclarecido,secuenteconunaherramientaadicionalqueresuelvalas
dudasquelosalumnosamenudoseplanteansobreeltema.

Acortar los caminos para crear los especimenes o muestras experimentales, para su
futura utilizacin en el polariscopio, lo anterior con el objetivo de incrementar la
intervencin del alumnado en el proceso completo de experimentacin en materia de
fotoelasticidad.

Debido a su fcil manejo y aplicabilidad, los estudiantes y personas interesadas


podrn hacer uso de este instrumento didctico, con el fin de desarrollar proyectos de
experimentacinenmateriadefotoelasticidad.

Fcil interpretacin en la obtencin y recoleccin de datos, de modo que al alumno


noselepresentengrandesconflictosysusincertidumbresseanexplicadas.

1.5. OBJETIVOGENERAL

Demostrar en una forma clara y precisa que la magnitud de esfuerzos en muestras


materialespolicristalinasobtenidademaneraexperimental,aplicandolafotoelasticidade
implementando el uso del polariscopio, es similar a la obtenida para el mismo modelo
diseadoenunsoftwaredeelementosfinitos.

1.6. OBJETIVOSPARTICULARES

Consultar diversas fuentes de informacin relacionadas a la importancia del


polariscopio.
Conocer las diferentes aplicaciones del polariscopio en el campo de la
fotoelasticidad.
Elaboracindemodelosfotoelsticoscomomuestrasparasuutilizacinenel
polariscopio.
INTRODUCCIN 7
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
Explicacin y comparacin de resultados obtenidos recurriendo al mtodo de
loselementosfinitos.

1.7. METAS

Entenderlosconceptosprimordialesdelfenmenodelafotoelasticidad.
Observaralgunasmaterializacionesdeestefenmeno.
Explicacindelfundamentodefuncionamientodeunpolariscopio.
Entendercomosepuedeutilizarstosparacaracterizarsubstancias
birrefringentes,principalmentelosmaterialesfotoelsticos.

1.8. METODOLOGA

Primeramente, se llevar a cabo la revisin bibliogrfica acerca de conceptos


referentesaltemadelafotoelasticidadtalescomolaptica,luz,refraccin,mecnicade
mediocontinuo,entreotros;estosconceptossonnecesariosparacomprenderelmtodo
de la fotoelasticidad y el anlisis que se realizara en cada uno de los modelos que sern
propuestos.

Para la elaboracin de los modelos se requiere que estos estn hechos de material
fotoelstico,delcualyasedisponeenlasinstalacionesdelafacultaddeingenieracivil.El
material fotoelstico es muy costoso y cualquier aplicacin de esfuerzo accidental
durante tu geometrizacin podra generar esfuerzos residuales irreversibles y el modelo
seriainutilizableparaelanlisis.Porestosmotivosprimerosedeberealizarelmodelocon
otro material que sea manejable para despus hacer una copia geomtrica con material
fotoelstico.Elmaterialconelqueprimerosetrabajara,debeserdematerialacrlicocon
mediapulgadadeespesor(destematerialnodisponelasinstalacionesdelafacultad).

Para la geometrizacin del modelo se cuenta con equipos como Fresa, Router; y
herramientas como pinzas, serrucho, cinta de doble capa, tornilloprensa, vernier,
flexmetro,llavesHalen,tijeras;seusarandependiendodelageometradelmodelo.
INTRODUCCIN 8
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
INTRODUCCIN 9
Despus del proceso de la fabricacin de los modelos y su anlisis, se dispondr a
realizarelclculoqueexpliquedemaneradetalladayclara,comoanalizarydeducir,con
el mtodo fotoelstico, los esfuerzos en los modelos fabricados que servirn como
prototipo en nuestra actividad. Posteriormente se redactara el procedimiento para
analizarunmodeloenelpolariscopio.

1.9. INFRAESTRUCTURAYAPOYOREQUERIDO

LaFacultaddeIngenieraCivildelaUniversidaddeColimacuentacon:

Polariscopio,queseubicaenellaboratoriodematerialesdedichainstitucin.

Material policristalino, pudindonos referir nicamente a acrlico para la


elaboracindelasmuestrasoespecimenes.

Computadora.

Softwareconaplicacinparaelmtododeelementosfinitos.

Bibliografareferentealtemadefotoelasticidad.

Apoyo del personal docente, primordialmente de los asesores, Dr. Agustn


OrduaBustamanteyM.enI.CarlosE.SilvaEchartea.

Anlisis experimental de esfuerzos


por medio de la fotoelasticidad
2.MARCOTERICO
(CaptulobasadoenextractostraducidosyadaptadosdellibroHandbookof
ExperimentalStressAnalysisdeM.Hetenyidelao1966)

2.1.CONCEPTOSELEMENTALESDELUZ
De acuerdo con la teora electromagntica de ondas, la luz se considera un disturbio
electromagntico que consiste en las ondas transversales que se propagan a lo largo de
lneasrectasllamadasrayos.Sepuedenencontrarefectosacompaados,unomagnticoy
otros elctricos, que existen simultneamente en planos perpendiculares entre s, tales
quelalneadeinterseccindelosplanosesparalelaaladireccindelrayodeluz.Puesto
quelosefectoselctricosymagnticoscorrespondenalasondastransversales,cualquiera
se puede representar por un vector en un lugar y un instante dados, aunque el vector
elctricoseconsideraenelvectordeluz.

2.1.1.Polarizacin
Eltrminopolarizacin"seutilizaparaimplicarqueexisteunaciertaclasedelcontrol
sobreelvectordeluzoquetalvectorobedeceunaciertaleydefinida,segnloindicado
enlafig.11.

MARCO TERICO 10
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

En la polarizacin plana, se dice que la luz ha sido polarizada en un plano cuando el


vectordeluzseconfinaaunsoloplano.Elplanoquecontieneelvectordeluzseconoce
comoelplanodelavibracin,yelplanoperpendicularcomoelplanodepolarizacin.La
luz ordinaria o comn, se puede considerar compuesta de un nmero infinito de
componentes planopolarizados, en cuyos planos de polarizacin cadaorientacin puede
serconcebida.

2.1.2.Colorylongituddeonda.
Laluzdeda(oluzblanca)secomponedeunnmerodevibracionesconstitutivasque
poseen diversas frecuencias que puedan ser distinguidas a partir de otra a travs del
sentido del color. En el caso de luz visible, el rango completo de colores que pueden ser
vistosenelespectrocomienzadeunafrecuenciadeaproximadamente390x10
12
cps(de
color rojo oscuro) a aproximadamente 770 x 10
12
cps (de color violeta oscuro). La
referencia se puede hacer para cada color por su frecuencia de vibracin, pero es
generalmenteusualparaemplearlalongituddeondacorrespondienteenunvacopuesto
que todos los disturbios electromagnticos tienen la misma velocidad en espacio
evacuado.Porconsiguiente,larelacinsiguienteexiste:
*f=c
donde:
c=velocidaddelaluzenelvaco(aproximadamente3x10
10
cm/seg)
=longituddeonda
f=frecuencia
Porlotanto:

c
f
:=
(1)
3
10
10
f
:=

MARCO TERICO 11
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
lo que significa que las longitudes de onda de la luz visible van aproximadamente desde
3.9x10
5
cm a aproximadamente 7.7x10
5
cm. Expresados en angstroms (unidad de
angstrom 10
8
cm), esto proporciona un rango que va desde 3900 para violeta extremo
hasta7700pararojoextremo,deloanteriorsevequetodalaluzvisibletienesulongitud
deondaennmerosdecuatrocifrasenangstroms.

La luz monocromtica u homognea consiste solamente en una longitud de onda.


Esto probablemente nunca se observa en la prctica totalmente, pero las buenas
aproximaciones pueden ser hechas. La luz monocromtica puede ser plana, circular, o
elpticamente polarizada. La luz blanca o policromtica consiste en una mezcla de luz de
diversaslongitudesdeonda.

La intensidad de la luz es proporcional al cuadrado de la amplitud de la vibracin.


Cuando la luz pasa a partir de un medio a otro de diversa densidad, hay un cambio en
velocidad.Elcocientedeestasvelocidadessellamandicederefraccin.Porlotanto,

ndicederefraccin=(velocidaddel1ermedio)/(velocidaddel2domedio) (2)

Puesto que la luz est considerada compuesta de ondas, sus componentes


individualespuedenserrepresentadosmatemticamentebajolaformadelaecuacin(3),
endondeSseilustraenlafigura1.2

S a cos
2t

\
|
|
.
z v t e + ( ) :=
(3)

MARCO TERICO 12
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

Una complicada condicin puede ser expresada por la combinacin de un nmero


infinitodeelementostalycomosemuestraenlaecuacin(4):
S
1

i
ai cos
2t

\
|
|
.
z vi t ei + ( )

=
:=
(4)
Donde:
S=magnituddeldesplazamientodadoporelvector
z=distanciaalolargodelrayodeluzapartirdeunpuntodereferencia
v=velocidaddepropagacin
a=amplituddevibracin
t=tiempo
e=constante
Enelcasodelaluzmonocromticabajolacircunstanciaespecialenlacualzyeson
cero,laecuacin(3)sereducealaformasimplificada:
S a cos
2 t v

\
|
|
.
t :=

MARCO TERICO 13
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
S a cos 2 t f ( ) t :=

S a cos p t ( ) :=
(5)

Lo cual demuestra que la magnitud del desplazamiento indicado por el vector de luz
vara armnicamente con el tiempo, y la luz tiene un dependiente del color en la
frecuencia,segnloindicadoporelfactordeproporcionalidadp.

2.2.MATERIALESFOTOELSTICOS
2.2.1.Caractersticasdeseablesdematerialesfotoelsticos.
Elmaterialfotoelsticoseleccionadoparaunmodelodadoessiempreelresultadode
uncompromisoparaasegurarelnmeromsgrandedecaractersticasdeseables:

1. El modelo debe transmitir la luz; los materiales claros que transmiten la cantidad
mximadeluzsonpreferiblesalosmaterialescoloreadosoparcialmenteopacos.
2. Debe poseer el efecto birrefringente necesario, esto es, que bajo esfuerzo debe
polarizarlaluzytransmitirlaenlosplanosprincipalesconlasvelocidadesdependientesde
lasmagnitudesdelosesfuerzosprincipales.
3. El material debe ser fcil de fabricar en la forma deseada para el modelo, si ste se
encuentratrabajandoamquina,modelando,oensamblandoenvariaspiezas.
4. El material debe tener una caracterstica de esfuerzodeformacin lineal de modo que
se ajuste a la teora elstica, del cual este mtodo de anlisis es dependiente, para la
semejanzaenpatrndelesfuerzoentremodeloyprototipo.
5. Un alto lmite de proporcionalidad es muy deseable para poder obtener esfuerzos
aplicadosrazonablementegrandes.
6. Un alto mdulo de Young es particularmente deseable para mantener
aproximadamentelamismaformageomtricabajounacargaaplicada.
MARCO TERICO 14
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
7. El material debe poseer una relacin lineal entre el esfuerzo y el efecto ptico para
poder aplicarse el mismo valor de la constante de franja a todas las rdenes de
interferencia.

Cuandouncortefotoelsticodelmodelodeunmaterialsintticosehaalmacenadoen
ste por algn tiempo (sin carga externa), se encuentra generalmente que, aunque el
modelo estaba originalmente libre de esfuerzo, habr desarrollado una cierta
birrefringencia residual a lo largo de los lmites. Observado previamente, ste se conoce
comoelefectodeltiempobordeyescausadoalparecerporlatransferenciadeaguaode
otroscomponentesvoltilesaodesdelosalrededores.

MARCO TERICO 15
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
TABLA2.1
2.2.1.Caractersticasfsicasaproximadasdealgunosmaterialesfotoelsticos

Estatabladevaloresaproximadossehapreparadocomounaguasomeraparaeluso
en la seleccin de un material. Porque la considerable variacin en caractersticas puede
existir entre diversas porciones del mismo material, y porque las variaciones en
temperatura, humedad, y la manera del recocido y la prueba en el laboratorio, todos
influencian los resultados, se recomienda que cada investigador haga las observaciones
independientesdelascaractersticasdelmaterialseleccionado.

Material
Resistencia
atensin
lb/pulg
Mdulode
elasticidad
lb/pulg
Relacinde
Poisson
Franja
Constante,f,
lb/pulg./orden
para=5461A
Baquelita:
BT61893@70F 15,000 620,000 0.36 86
BT46001 16,000 620,000 0.36 83
BT41001@70F 14,000 620,000 0.36 65
BT48005@70F 300,000 55
BT61893230F 400 1,100 0.5 3.33

Catalin 4,000 200,000 45
Nitratodecelulosa 7,000 280,000 224
ResinadeColombia39 350,000 85
Gelatinaagua65%
glicerina14%
15 0.5 0.19
Vidrio 10,000 10,000,000 0.4 1150
Lucita 8,000 300,000 Alto
Marbletterecocido 500,000 0.4 70
Marblettesinrecocer 4,500 160,000 0.4 42

MARCO TERICO 16
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
2.2.2.Comentariossobrealgunosmaterialesfotoelsticos.

(a) El vidrio es el material fotoelstico original. Aunque est disponible en un


enorme nmero de variedades, ahora se utiliza solamente a un grado muy
limitado debido a la dificultad en trabajar a mquina las formas intrincadas y
porque es relativamente insensible pticamente (franja constante alta) en
comparacin con algunas de las resinas sintticas ahora disponibles. El vidrio,
sin embargo, tiene la ventaja de demostrar muy claramente lneas isclinas
definidas, adems es uno de los pocos materiales que no presenta el efecto
bordetiempo.Sufuerzaycaractersticaselsticassonsuperioresaaquellasde
lamayoradeotrosmateriales.

(b) BaquelitaBT61893.Actualmente,esteparticulartipodeBaquelitapareceser
el preferido sobre el resto de los materiales por el funcionamiento general de
los problemas fotoelsticos. Posee buenas propiedades de fuerza, unmdulo
de Young relativamente alto, y, pticamente, es moderadamente sensible al
esfuerzo. Para esfuerzos por debajo de los 4000 lb/pulg el efecto de
arrastramiento es despreciable en un periodo de unas cuantas horas, aunque
duranteperiodosdetiempomslargosllegueaserabsolutamentenotable.Las
caractersticasparasertrabajadoamquinasonrazonablementebuenas,ysu
susceptibilidadalefectobordetiemponoesexcesivo.

(c) El plstico de Catalin tiene caractersticas mecnicas y de fuerza un poco ms


bajas que la baquelita (BT61893), solamente es algo ms sensible
pticamentealainfluenciadelesfuerzo.Puedeserencontradoenhojasmucho
msgrandesquelabaquelitaconlassuperficiesaltamentepulidas(demanera
operacional). Si no es cargado excesivamente, o la carga no se mantiene
demasiado tiempo, se obtendrn buenos resultados a pesar de una tendencia
haciaelarrastramiento.

MARCO TERICO 17
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
(d) Celuloide.Estenombrecomercialincluyevariosplsticosdeltipodelnitratode
celulosa. Aunque no sea tan sensible pticamente como la baquelita, los
celuloides son mucho ms fciles de trabajar a mquina y se pueden obtener
en grandes hojas pulidas (20 pulg. x 50 pulg. o ms grande) con grosores a
partirde1/8pulg.

2.3.ELEFECTOFOTOELSTICO

2.3.1.Placadecuartodeonda

Placas hechas de ciertos materiales cristalinos, por ejemplo la mica, tiene la


caracterstica de descomponer la luz en dos componentes y de transmitirla en los planos
perpendicularmente. A este fenmeno se le conoce como " doble refraccin"; o "
birrefringencia". Adems, las caractersticas pticas en los dos planos de transmisin,
serngeneralmentediferente,demodoquelosdoscomponentesserntransmitidoscon
diversas velocidades. Por lo tanto, cuando emergen de la placa hay una diferencia en la
faseentrelasdosondasqueesproporcionalalgruesodelaplacaatravesadaporlaluz.A
lasplacasqueposeenestacaractersticaselesllamalasplacasdeondaoderetardacin,
y se pueden sealar ms a fondo de acuerdo con la cantidad de retardo relativo que
producenentrelasdosvibracionescomponentes.

Porejemplo,siparaunalongituddeondadeluzdadahayunadislocacinrelativade
uncuartodeunalongituddeonda,segnlasindicacionesdeFigura31,despuslaplaca
es definida como "placa de cuarto de onda (placa l/4), o, para un retardo relativo de la
longituddelamitaddeonda,seradescritocomoplacademitaddeonda(placal/2),yas
sucesivamente. Debe ser observado que una placa de onda puede tener un retardo
especfico relativo solamente para una longitud de onda conocida; para el resto de las
longitudesdeondaelretrasoserunafraccinlevementediversadelalongitud.

MARCO TERICO 18
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

Al producir un desplazamiento de fase de l/4 (para una longitud de onda dada) una
placa de cuarto de onda convertir la luz planopolarizada en luz circular polarizada si el
plano original de la vibracin est inclinado en 45 a los planos de la transmisin de la
placadelaonda.Lafigura31ilustraestasrelacionesgrficamente.

La luz monocromtica polarizada en el plano que entra en el cristal con el plano de


vibracin de 45 a los planos de la transmisin (Fig. 31b) es separada en componentes
igualessegnlasindicacionesdelafig.31c,queviajanatravsdelespesorhcondiversas
velocidades. Si la placa es de un grueso conveniente, las ondas emergentes tendrn una
diferencia de fase (retraso relativo) de 1/4 y de amplitudes iguales en planos
perpendicularmente segn lo indicado en la fig. 31a. Estas ondas pueden ser
representadasporvectorescomoeldelafig.31dypuedesercombinadoparaformarun
vectorresultante:
MARCO TERICO 19
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
Resultante
a
2
sin p t ( )
|

\
|
|
.
2
a
2
cos p t ( )
|

\
|
|
.
2
+ :=

Resultante
a
2
:=
(6)
y
tan u ( )
a
2
sin p t ( )
|

\
|
|
.
a
2
cos p t ( )
|

\
|
|
.
:=

tan u ( ) tan p t ( ) :=
(7)

As, es proporcional al tiempo t, que indica que el vector de luz sigue siendo
constanteenamplitudygirauniformementecontiempo.Estocorrespondealadefinicin
delapolarizacincircular,y,porlotanto,altransmitirlaluzsepolarizacircularmente.

Elefectodeunaplacademitaddeondaessimilaraldeunaplacadecuartodeonda,
peroenestecasoelretardorelativoeslamitaddelongituddeonda.Siluzpolarizadaen
elplanosetransmiteatravsdeunaplacademediaonda,lanicoquelopodraafectar
esungiroelplanodevibracin,cuyaorientacinserdescompuestaenunamagnitudde
dosveceselnguloentreelplanooriginaldelavibracinyunodelosejesdelaplacade
laonda

2.3.2.Leyespticasfundamentalesdelafotoelasticidad
Casi todos los materiales transparentes tales como vidrio, celuloide, baquelita, y
muchasotrasresinassintticaspresentantemporalmenteunciertogradoelmismoefecto
pticosobreunhazdeluzcomocristalcuandoestosmaterialessesometenaesfuerzo.El
efectodedoblerefraccin,aunqueseatemporal,essimilaralqueocurreenunaplacade
laonda,amenosqueelretrasodependadelanaturalezaydelaintensidaddelesfuerzo;
MARCO TERICO 20
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
enlaliberacindelacargaladoblerefraccindesaparece.Paralaincidencianormalenlas
placas planas sujetas al esfuerzo plano dentro del lmite elstico, la transmisin de la luz
obedece las dos leyes siguientes, las cuales forman la base de la determinacin
fotoelsticadelesfuerzo:

1. La luz se polariza en las direcciones de los ejes de los esfuerzos principales y se


transmitesolamenteenlosplanosdelesfuerzoprincipal.
2. La velocidad de transmisin en cada plano principal depende de las intensidades
delosesfuerzosprincipalesenambosplanosyobedecelassiguientesecuaciones,
lascualeshansidosimplificadasapartirdelcasogeneral:

1
=N
1
N
0
=As
1
+Bs
2

(8)

2
=N
2
N
0
=Bs
1
+As
2
(9)

donde
1
=cambiodelndicederefraccinenelplanoprincipalno.1

2
=cambiodelndicederefraccinenelplanoprincipalno.2
N
0
=ndicederefraccindelmaterialsinesfuerzo
N
1
=ndicederefraccinenelplanono.1
N
2
=ndicederefraccinenelplanono.2
s
1
ys
2
=esfuerzosprincipales
AyB=constantesfotoelsticasdelmaterial

Sustrayendo la ecuacin (9) de la ecuacin (8), se encuentra que la diferencia entre


losndicesderefraccinenlosdosplanosprincipalesesdadaporlaecuacin:

2
=N1N2=(A+B)(
1

2
)
=C(
1

2
) (10)
DondeC=constantepticadelesfuerzodiferencial
A partir de la definicin en la ecuacin 2, esta relacin puede ser expresada en
trminosdelavelocidaddetransmisindelaluz,como
(
2

1
)/(
1

2
)=C(
1

2
) (10)

MARCO TERICO 21
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
donde
1
y

2
=velocidadesdetransmisinenlosplanosprincipalesdelesfuerzo
y =velocidaddetransmisinenelmediocircundante

As,ladiferenciadelasvelocidadesdetransmisin(
1

2
)(yladiferenciadefase
resultante) se ve relacionada directamente con la diferencia de los dos esfuerzos
principales(
1

2
).

2.3.3.Esfuerzosenunplano
Puesto que los efectos fotoelsticos se relacionan solamente con los esfuerzos
principales,unabreverevisindelarelacinentrelosesfuerzosenlosvariosplanosque
se pueden pasar a travs de cualquier punto dado en un cuerpo es recomendable. Esta
discusin se limita a sistemas de esfuerzos en dos dimensiones como aquellos
cercanamenteaproximadosaunmodeloplanofinocargadoenelplanodelmodelo.

FIGURA3.0 Esfuerzosenunpuntoenunsistemadedosdimensiones

En un punto dado en un miembro, los esfuerzos existentes en dos planos de
coordenadasrectangulares,xyy,sepuedenrepresentar,generalmenteencomponentes
normal y cortante, segn las indicaciones de la fig. 3.0. En cualquier otro plano en este
punto, existen un esfuerzo normal y un esfuerzo cortante de diferente intensidad.
Partiendo de las consideraciones del equilibrio, las relaciones entre estos esfuerzos se
describendelamanerasiguiente:
=(1/2)(
x
+
y
)+(1/2)(
x
+
y
)cos2+
xy
sin2 (12)
=(1/2)(
y

x
)sin2+
xy
cos2 (13)

MARCO TERICO 22
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
Enlaltimarelacinseconvierteencero,ysolamenteunesfuerzonormalsexiste
enelplanocuando:

tan2=2
xy
/(
x

y
) (14)

Diferenciar la ecuacin (12) con respecto a e igualando el resultado a cero,


constituye una forma de determinar los valores de para los cuales se convierte un
valor algebraico mximo (o un mnimo). Los resultados son idnticos con los de la
ecuacin(14).Deestamanera,losvaloresalgebraicosdelosesfuerzosnormalesmximo
(ymnimo)enelpuntoconsideradoseencuentranenplanosparaloscualeslosesfuerzos
cortantes desaparecen; stos esfuerzos normales son llamados esfuerzos principales.
Puestoquehaydosvaloresposibles(menoresque360)paraelngulo2obtenidodela
ecuacin (14), que difieren en 180, entonces se tienen dos esfuerzos principales que
recaensobrelosplanosprincipales,a90elunodelotro.

Uno de stos es el esfuerzo principal mximo


1
(los esfuerzos son vistos como
esfuerzosdetensin),ylaotraeselesfuerzoprincipalmnimo
2
(si
2
esnegativo,esel
esfuerzodecompresinmsgrandequeexisteenelpunto).Losvaloresdelosesfuerzos
principalessonobtenidosalsustituirlaecuacin(14),enlasecuaciones(12)y(13);stas
seconviertenen:

1
=(1/2)(
x
+
y
)+(1/2)[(
x

y
)
2
+4
xy
2
]
1/2
(15)

2
=(1/2)(
x
+
y
)+(1/2)[(
x

y
)
2
+4
xy
2
]
1/2
(16)

Puede demostrarse en la ecuacin (17) que los esfuerzos cortantes mximos


puedenocurrirenplanosquebisecanlosplanosdelesfuerzoprincipal:

m
=(1/2)[(
x

y
)
2
+4
xy
2
]
1/2
=(1/2)(
1

2
)

(17)

MARCO TERICO 23
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
Encualquierfronteralmite(descargada)deunmiembronoexistealgunatangente
de actuacin de los esfuerzos cortantes. Por lo tanto, los esfuerzos normales que actan
tangentes a las direcciones y son perpendiculares a la frontera son esfuerzos principales.
Adems, puesto que la normal del esfuerzo principal en el lmite es cero, la diferencia
entre los esfuerzos principales es numricamente igual a los esfuerzos principales
tangentesalborde.

2.3.4. Elpolariscopioplanoyelefectofotoelstico

El dispositivo o el sistema ptico ms frecuentemente empleado para producir los haces de


luzpolarizadanecesariosyparainterpretarelefectofotoelsticoentrminosdeesfuerzosellama
polariscopio. Puede tomar una variedad de formas, dependiendo del uso deseado; sin embargo,
consiste en generalmente una fuente de luz, un dispositivo polarizante llamado polarizador, el
modelofotoelstico,yunsegundodispositivopolarizanteconocidocomoelanalizador.Adems,
puede haber un sistema de lentes, una pantalla de visin, y otros adjuntos para la observacin
visualconvenienteolagrabacinfotogrfica.

Larelacin entrelos efectospticosylosesfuerzosque prevalecenenelmodelopuedeser


ilustrada analizando el paso de la luz a travs de un polariscopio plano. Aunque ste sea el caso
mssimple,losanlisiscorrespondientesparaotrosarreglosmscomplicadosdelpolariscopiose
puedenhacerdeunamanerasimilar.

Lafigura3.2demuestraesquemticamentecmolaluzdirigidadesdelafuenteespolarizada
enelplanoporelpolarizador(generalmenteunaprismadeNicoloundiscopolaroid),despusde
descomponerelmodeloendoscomponentesenlasdireccionesdelosejesdelesfuerzoprincipal,
y transmitido en los planos principales. Si las intensidades del esfuerzo principal no son iguales,
entonceslaspropiedadespticasenlosdosplanosprincipalesserndiferentes,ylavelocidadde
transmisinenunplanoprincipalsermayorqueenelotro.Estodalugaraunadiferenciadefase
entrelasdosvibracionescomponentesmientrasstasemergendelmodelo.
MARCO TERICO 24
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

FIGURA3.0 Esfuerzosenunpuntoenunsistemadedosdimensiones

Estadiferenciadefaseesproporcionalaladiferenciaentrelosesfuerzosprincipalesy
esmedidaintroduciendoelanalizadorquetraelapartedecadavibracincomponenteen
interferenciaenunsoloplano.Puestoquelaluzblancaconsisteenmuchaslongitudesde
onda,queserninfluenciadasdeunamanerasimilar,elanlisisserhechoenbasedeluz
monocromticausandolaformamssimplederepresentacinmatemtica.

Si seasume una fuentede luzmonocromticaen Q(fig. 3.2a) y se investiga el efecto


producidoalpasodelaluz,paraunaincidencianormal,atravsdeunpuntoenelmodelo
fotoelstico, cuando se ha atravesado el polarizador P, la vibracin se ha confinado a un
solo plano en la direccin y con la amplitud proporcional a OA (fig. 3.2b). Lo anterior se
representaporlaecuacin:
MARCO TERICO 25
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

S=acospt (18)

Cuandolaluzllegaalmodelo,generalmente,suplanodevibracinnocoincidirconel
planodealgnesfuerzoprincipal.Porlotanto,puestoqueelmodelosometidoaesfuerzo
transmite solamente la luz en los planos principales, la vibracin original es
inmediatamente descompuesta en dos componentes mientras entra en el modelo. stos
sern
coscospt(paraleloalplanoprincipalno.1) (19)
ysincospt(paraleloalplanoprincipalno.1) (20)

dondeeselnguloentreelplanooriginaldevibracinyelplanoprincipalno.1.enfig3
2C.

Ahora, si t
1
y t
2
representan el tiempo requerido para la transmisin en los planos
principalesno.1yno.2,respectivamente,entonceslasdosvibracionescomponentesque
dejanelmodelosernrepresentadasporlasecuaciones

acoscosp(tt
1
)(paraleloalplanoprincipalno.1) (21)
acoscosp(tt
2
)(paraleloalplanoprincipalno.2) (22)

stos sern observados por tener una diferencia de fase, p(t


1
t
2
), que se puede
demostrarparaserproporcionalaladiferenciaentrelosesfuerzosprincipales
1
y
2
.

Si h representa el espesor de modelo fotoelstico a lo largo de la ruta de la luz,


entonces,

t
1
=h/
1
yt
2
=h/
2
(23)
dedondet
1
t
2
=h(1/
1
1/
2
)
=h(
1

2
)/
1

2
(24)
MARCO TERICO 26
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

ysustituyendoporlasvelocidadeselvalordelaecuacin11,tenemos
t
1
t
2
=hC(
1

2
)/ (25)

Porlotanto,ladiferenciadefase,p(t
1
t
2
),delasondasqueemergendelmodelose
considerandirectamenteproporcionalesaladiferenciaentrelosesfuerzosprincipales(
1

2
); la diferencia de fase es tambin proporcional al espesor del modelo h (y a la
constante ptica C/v para el material y el medio circundante). De estamanera, cualquier
mtodo que se pueda emplear para determinar esta diferencia de fase se puede utilizar
comomedidadeladiferenciaentrelosesfuerzosprincipales.

Introduciendo el analizador en el sistema (fig. 32) en la orientacin apropiada, la


diferencia de fase de las dos ondas puede hacerse evidente por efectos de interferencia
de sus componentes en el plano del analizador; la amplitud de la vibracin resultante es
unafuncindep(t
1
t
2
).Sielplanodetransmisindelanalizadoresperpendicularaldel
polarizador, los componentes de las dos vibraciones que emergen del modelo que sern
transmitidosporelanalizadorsepuedenrepresentarpor

acossincosp(tt
1
) (26)
acossincosp(tt
2
) (27)

que tienen la misma amplitud. Puesto que las dos vibraciones reinciden en el mismo
plano,puedensersumadasalgebraicamente(oserrestadasaritmticamentepuestoque
losvectoresseoponenendireccin)paradarlaexpresinparalavibracinresultante:

acossin[cosp(tt
1
)cosp(tt
2
)],
o
Resultante a sin 2o ( ) sin p
t1 t2
2
|

\
|
|
.

(
(

sin p t
t1 t2 +
2

\
|
|
.

(
(

:=

MARCO TERICO 27
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
As, la amplitud de la vibracin resultante que sale del analizador es una funcin del
nguloyladiferenciadefasep(tt
1
),y,porlotanto,seencuentrainfluenciadoporlas
direccionesdelosesfuerzosprincipalesyporladiferenciaentrelosesfuerzosprincipales
enunpuntodadoenelmodelo.

La intensidad de la luz transmitida a travs de cualquier punto dado en el modelo es


proporcional al cuadrado de la amplitud de la vibracin, y un punto oscuro se observar
enlaimagendelmodeloparacadapuntoenelcual

a sin 2 o ( ) sin p
t1 t2
2
|

\
|
|
.

(
(

0 :=
(29)

Talespuntososcurosseencuentranligadosgeneralmenteentresparaformandolos
lugares geomtricos que representan alguna de las dos condiciones siguientes, llamadas:
(1) los lugares geomtricos de direccin constante del esfuerzo llamadas " isoclnas"
(cuando=0,90);(2)lugaresgeomtricosdediferenciaconstante(
1

2
)entrelos
esfuerzosprincipalesydesignados"isocromticas",paraaquelloscasosenlosque

p
t1 t2
2
|

\
|
|
.

(
(

0 180 , etc
.
, :=

MARCO TERICO 28
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
2.3.5.Arreglosdelpolariscopio

MARCO TERICO 29
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

Hasta el momento se han considerado solamente efectos fotoelsticos en un punto


dado en un modelo. Sin embargo, para fines de la ingeniera es deseable tener una viga
paraleladegrandimetrodeluzpolarizadaenlacuallamayorporcindelmodelopueda
serobservada,y,porlotanto,laslentessuplementariasseinsertanenlossistemasdela
fig.33.

El polariscopio circular. La adicin de placas de cuarto de onda al polariscopio plano


convierteelinstrumentoqueseconocecomoelpolariscopiocircular.Conesteequipose
puededeterminar:
2.4 Ladiferenciaentrelosesfuerzosprincipalesentodoslospuntos(isoclnas)
2.4 Los valores individuales de los esfuerzos principales a lo largo de fronteras
libres.

El patrn fotoelstico del esfuerzo producido por este instrumento es independiente


del efecto direccional de los esfuerzos y, por consiguiente, no incluye las lneas isoclinas.
La imagen, por lo tanto, consistiendo solamente en lneas isocromticas, representa
solamente las magnitudes del esfuerzo. Las isocromticas tpicas (patrones de
interferenciadelafranja)semuestranenlasfigs.3.4y3.5.
MARCO TERICO 30
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

FIGURA3.4 Imagendeunafranjaisocromticadeunavigacortaencantilverutilizandounpolariscopio
circular


FIGURA3.4 Imagendeunafranjaisocromticadeunavigaconmltiplesorificiosutilizandoun
polariscopiocircular.

MARCO TERICO 31
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
El polariscopio circular es usado generalmente para encontrar las magnitudes de los
esfuerzosenelmodelo.Tienelacaractersticaque,cuandoesutilizadoconlalongitudde
onda de la luz para la cual las placas de cuarto de onda fueron diseadas, la orientacin
angular del analizador circular (combinacin del plano de cuarto de onda y de la unidad
analizadora)esindependientedelaorientacindelpolarizadorcircular(combinacindela
placa de cuarto de onda y del polarizador). Para otras longitudes de onda (incluida la luz
blanca) la polarizacin ser levemente elptica, y no ser posible producir un campo
totalmenteoscuro.

En este caso, la rotacin del analizador circular concerniente al polarizador circular


producirunavariacinleveenlailuminacindelcampo,peroparaunaciertaposicinun
mnimo puede ser alcanzado. Afortunadamente, desde el punto de vista de la ingeniera,
los requisitos para la polarizacin circular no son muy exigentes, e incluso la polarizacin
elpticaproducidaconlaluzblancanosepuededespreciarpuestoquelaslneasisoclinas
sern eliminadas sin la alteracin excesiva de franjas isocromticas (particularmente
aqullasdeordenmsaltoenregionesdemayoresfuerzo).

Enlaseleccindelasplacasdecuartodeondaparaunusoespecfico,esmuchoms
importante que las dos placas de onda encajen o se emparejen entre s a que
correspondan exactamente a un cuarto de la longitud de onda de la luz utilizada. Si las
placasdecuartodeondanoseemparejan,elpolariscopiosedesequilibrapticamentey
elpatrndelesfuerzodesignificadoesincierto.

MARCO TERICO 32
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
2.4 .INTERPRETACINDELPATRNFOTOELSTICODELESFUERZO
2.4.1.Lneasisoclinas
Reconsiderando la amplitud resultante de la vibracin de la intensidad de la luz
transmitidaatravsdeunpolariscopiodelmodeloydelplanosegnlorepresentadopor
lasecuaciones(28)y(29),puedeserobservadoquestosseconviertenencerocuando
a=0;
sen2=0;

sin p
t1 t2
2
|

\
|
|
.

(
(

0 :=

Si a fuera cero, entonces no se transmitira ninguna luz del polarizador al modelo; por lo
tanto, para aplicaciones prcticas necesitamos solamente examinar las otras dos
condiciones.
Para la primera ecuacin asumamos que
sin p
t1 t2
2
|

\
|
|
.

(
(

no es cero. Entonces si
sen2=0,debeser090.Estosignificaque,silosplanosdetransmisindelpolarizador
ydelanalizadorsonparalelosalasdireccionesdelosplanosdelosesfuerzosprincipales,
en la imagen del modelo habr puntos oscuros que corresponden a todos los puntos en
los cuales las direcciones de los esfuerzos principales coincidan con los planos de
transmisin del polarizador y del analizador. Tales puntos se unen y forman un lugar
geomtrico de todos los puntos que tienen las mismas direcciones para los esfuerzos
principales,stoes(conunarreglodecampooscuro),unalneaisoclinaserrepresentada
porlneasnegrasbastanteampliasenlaimagendelmodelo,comosemuestraenlafigura
41.

MARCO TERICO 33
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

FIGURA4.1: Isoclinasenunmaterialconformadeanillocomprimidoensudimetro:Resinade
metacrilatodemetilo(lucita)sinplastificador

La luz blanca se utilizageneralmente al remontar las lneas isoclinas de modo que las
bandas negras puedan ser fcilmente distinguibles de las isocromticas coloreadas que
siguen siendo inmviles mientras que se giran el polarizador y el analizador. Para la
conveniencia de la observacin, es mucho mejor utilizar el arreglo del campo oscuro del
polariscopio (que produce isoclinas negras) preferentemente al campo del luz que los
hacebrillantes.Enellaboratoriolasisoclinassepuedenvermsclaramentesiseobserva
la pantalla a partir de una posicin levemente a un lado de la lnea de centro del
polariscopio.

Algunasdelascaractersticasdelneasisoclinasson:
1. Laslneasisoclinasnointersecanunaaotra(exceptoenunpuntoisotrpico).
2. Las lneas isoclinas intersecan solamente una frontera libre donde tiene la
inclinacinindicadaparalaisoclina(exceptoenunpuntodelesfuerzocerodonde
todaslasisoclinaspuedencruzarlafrontera).
3. Unafronteralibrerectaestambinunalneaisoclina.
MARCO TERICO 34
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
4. Todas las lneas isoclinas se intersecan en un punto isotrpico (en un punto
isotrpico los dos esfuerzos principales son iguales y estn inclinados en cada
direccin concebible que representa una condicin similar a una presin
hidrostticadedosdimensiones.)
5. Un eje que es simtrico con respecto a las cargas y a la geometra del modelo
coincideconunaisoclina.

2.4.2. Lneasisocromticas
Seconsiderarnlasecuaciones(28)y(29)paralaluztransmitidaresultanteperoesta
vezseasumirqueaysen2sondiferentesdecero.Bajoestascondiciones,enunpunto
enelmodelofotoelstico,nosetransmitirluzatravsdeunpolariscopioplanocuando
sin p
t1 t2
2
|

\
|
|
.

(
(

0 :=
(30)
casoparaelcualunpuntooscuro apareceenlaimagen.Estacondicinprevalecerpara
todoslospuntosenloscuales
sin p
t1 t2
2
|

\
|
|
.

(
(

0 :=
n;dondenescualquierentero (31)

Inversamente, la intensidad mxima de la luz transmitida ocurrir en todos los


puntosparaloscuales

sin p
t1 t2
2
|

\
|
|
.

(
(

t
2
:=

n
1
2
+
|

\
|
|
.
t
(32)

Generalmente, todos los puntos de un modelo que tienen un retardo p (t


1
t
2
)
constante forman una banda o una lnea continua. As, una lnea oscura o un lugar
geomtricoaparecenenlaimagendelmodeloparacadavalordenenlaecuacin(31),y,
similarmente,unabandaounlugargeomtricobrillanteaparecenparacadavalordenen
la ecuacin (32). Cuando se examinan con luz blanca, los diversos rdenes fraccionarios
causados por el retardo son hechos evidentes, por medio de una banda brillante de un
MARCO TERICO 35
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
colorotonalidadparticularparacadaorden;porlotanto,stashansidosealadasconel
nombre isocromticas. Las lneas brillantes y oscuras alternas formadas en luz
monocromtica son tambin isocromticas (sin embargo a veces llamadas franjas de
interferencia)ysondistinguidaslaunadelaotrasegnelvalorden,consecuentemente,
son referidas a menudo como la isocromtica de cero, primer, segundo orden de
interferencia,yassucesivamente.


FIGURA4.2: Fotografadeunafranjaisocromticatpicadediscontinuidadcircularenuncampode
cortantepuro

Comparandolaecuacin(25),con(31)(32),sepuedeobservarquedebidoaque

p
t1 t2
2
|

\
|
|
.

esproporcionala(
1

2
) (33)

elordendeinterferenciaesdirectamenteproporcionalaladiferenciaentrelosesfuerzos
principales;por lo tanto, la lnea isocromtica se puede definir como el lugar geomtrico
MARCO TERICO 36
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
de todos los puntos que tienen un valor constante para la diferencia entre los dos
esfuerzosprincipales.Partiendodelaecuacin(25),estosepuedeescribirenlaforma:

(
1

2
)=(u/Ch)(t
1
t
2
)=(f/h)*n (34)
endondef=unafranjasconstanteparaelmaterial,
lb
pulg orden
|

\
|
|
.

h=espesordelmodelofotoelstico,pulgadas
n=ordendeinterferencia

Para los materiales que poseen una relacin lineal entre los efectos esfuerzo
magnitudylosderetardoptico,elcambioenladiferenciaentrelosesfuerzosprincipales
alavanzardecualquierlneaisocromticaaotramscercana,esunaconstante.Sepuede,
por lo tanto, observar el diagrama isocromtico como un mapa del contorno del modelo
fotoelstico en el cual las lneas isocromticas representan lneas de contorno de
diferencia constante entre los esfuerzos principales. Puesto que el esfuerzo cortante
mximo que ocurre en cualquier punto en un cuerpo de dos dimensiones es igual a la
mitad de la diferencia de los esfuerzos principales en el punto (como se muestra en la
ecuacin (17)), las lneas isocromticas se pueden tambin interpretar como lugares
geomtricosdeintensidadconstantedelosesfuerzoscortantesmximos.

Los diagramas isocromticos obtenidos con la luz monocromtica circular polarizada


(figs.1711,1717,1718)notienenningunaindicacindelareferenciaodeldato.Estose
debeestablecerconlaobservacinenellaboratoriooporotrosmedioscomosediscute
en el siguiente. Sin embargo, puesto que hay el mismo cambio en el esfuerzo cortante
entre las isocromticas, es evidente que dondequiera que los esfuerzos se junten
cercanamente,habrunaltogradientedelesfuerzoyunesfuerzocorrespondientemente
altoenlaregin.

MARCO TERICO 37
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

Puestoquelaslneasisoclnicastambinaparecenenunmodeloexaminadoenluz
polarizadaenelplano,stassoneliminadasgeneralmenteusandounpolariscopiocircular
para fotografiar o de evaluar las isocromticas. Segn lo indicado por la ecuacin 29, las
isocromticas tienen intensidades de contraste mximas en un polariscopio plano
solamenteenlospuntosdondelosesfuerzosprincipalesseorientana45delosplanosde
polarizacin. Estas dificultades hacen deseable utilizar la polarizacin circular para
observarunaporcingrandedelmodelocontemporneamente.Esposible,sinembargo,
distinguir entre las isoclnicas y las isocromticas en el polariscopio plano girando los
planos de polarizacin o cambiando la carga en el modelo. Las isoclnicas cambiarn la
posicin con respecto al modelo solamente mientras los planos de la polarizacin sean
girados, mientras que la posicin del cambio de las isocromticas solamente ocurre
mientraslascargassevaran.
(a) Clculo de la magnitud del esfuerzo. La evaluacin de la diferencia entre los
esfuerzos principales (ecuacin 34) depende en determinar el orden de
interferencia n (orden de la franja) para un modelo dado de grosor h y
conociendo la franja f constante para el material particular. Los mtodos
detalladosdeevaluarnyfsepresentanenlasseccionesEyF.Paraelpresente,
asumamos que se han determinado estas cantidades, y es deseado encontrar
ladiferenciaentrelosesfuerzosprincipalesenunmodelofotoelsticoparalas
condicionessiguientes:

Ordendereferenciaenelpunton=4
MARCO TERICO 38
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
Espesordelmodelo,h=0.375in

Delaecuacin34encontramosf=84lb/(in*orden)

El diagrama isocromtico no brinda alguna informacin referente a la muestra de


un
1
o de un
2
sino que indica simplemente la diferencia en valor. El orden de
interferencia (u orden de la franja) se toma siempre como positivo. Esto conviene con la
definicin que
1
es la esfuerzo principal algebraico ms grande y que
1

2
ser
siempreunacantidadpositiva,conindependenciadesi
1
y
2
sontensiones,
1
tensiny

2
compresin,o
1
y

2
sonesfuerzosde

compresin.

Fronteralibre.Enunafrontera(sincarga)librelosesfuerzosprincipalesseencuentranalo
largo y normales al borde. La normal del esfuerzo principal a un borde libre es siempre
cero, y por lo tanto la ecuacin 34 se puede utilizar para calcular el valor de la tangente
delesfuerzoprincipalenelborde.Aunqueelordendelafranjaseapositivo,elesfuerzoa
lolargodelbordepuedesertensinocompresin.Enmuchoscasoselsignodelesfuerzo
(sea tensin o compresin) a lo largo de una frontera libre se puede determinar por la
inspeccin de la geometra del modelo y de la manera en que se carga. Sin embargo, si
estonoesobviooseguro,uncompensadordeCokerodeBabinet(vasequelaseccin5)
sepuedeutilizarparadeterminareltipodeesfuerzo.

2.4. Evaluacindelaordendelafranja
Aunque no sea siempre posible hacer un expediente fotogrfico del patrn fotoelstico
del esfuerzo, esto es el procedimiento ms deseable. En todos los casos tal expediente
debe ser complementado estudiando la formacin del patrn de la franja en el
polariscopio mientras que las cargas se aplican al modelo. El procedimiento de hacer un
anlisis del esfuerzo de un solo diagrama isocromtico est abierto a la duda seria a
menosquemuchosesepasobreladistribucindelesfuerzoconsiderada.

MARCO TERICO 39
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

Ladeterminacindelordenisocromticodelafranjaencualquierpuntoparticular
se puede lograr de numerosas maneras. Los mtodos aplicables siguientes pueden ser
empleados:

1. Localice una lnea que corresponde al isocromtico de orden cero, y cuente las
lneas isocromticas de ste. La lnea del orden cero no ser distinguible de las
isocromticas de un orden ms alto con luz monocromtica; sin embargo, con un
cambiosuficienteenlacarga,elrestodelospuntosenelmodelocambiarnenel
brilloindicandouncambioenelordendelafranjaconlacarga.Siesinconveniente
cambiar la carga, o si esta prueba no es suficientemente sensible, la lnea puede
ser comprobada usando la luz blanca en el polariscopio circular (y un arreglo del
campo oscuro). Bajo estas condiciones la lnea de orden cero es la nica
representadaennegroconlostintesnaranjasyamarillosenambosladosdesta.
2. En cualquier esquina cuadrada (de proyeccin) externa en la frontera libre habr
un punto isotrpico en el cual la orden de cada lnea isocromtica puede ser
requerida. Se debe tener cuidado al usar este mtodo puesto que los esfuerzos
residuales o los efectos del tiempofrontera pueden mover el isocromtico del
ordenceroaunalevedistanciaapartirdelaesquina.
3. Cuente las franjas como se forman en una cierta localizacin dada durante la
aplicacin gradual de la carga. Esto es un mtodo til cuando las lneas
isocromticas desaparecen de un lmite del modelo o se mueven del campo del
polariscopio. Un ejemplo de esta naturaleza se encuentra en un cilindro hueco
grueso sujeto a presin interna. En este caso las isocromticas son crculos
concntricosqueseformanenelalesajeymshaciafueraysobrepasanenltima
instanciaelbordeexternomientrasseaumentalacarga.
4. Como variacin del mtodo 4, es tambin posible cambiar la carga por un
incremento conocido suficiente para producir un cambio dado en el orden de la
franja de interferencia (el nmero de franjas para pasar el punto) en una cierta
localizacin particular. Se puede determinar as el incremento de la carga por
franja y por clculo directo de la proporcin el orden de franja prevista para
MARCO TERICO 40
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
cualquier carga dada. En ciertos casos el esfuerzo en una cierta localizacin se
puedecomputaranalticamenteyelordencorrespondientedelafranjapuedeser
calculadayutilizarsecomoreferencia.

El orden deinterferencia puede ser determinada usando un compensador de Coker o de


Babinet (vase que los instrumentos de la seccin 5). stos son particularmente tiles
para evaluar el orden isocromtico cuando la carga no se puede cambiar para alterar el
patrn del esfuerzo, y para las franjas de orden inferior. Una vez que el orden de
interferencia y el espesor del modelo se han determinado, la diferencia entre los
esfuerzos principales pueden ser calculados si la franja constante para el material se
conoce.Lasrelacionesentrelosvariostiposdedatosfotoelsticosyelanlisisresultante
seilustranenfig.1718a1720quedemuestrenlasisocromticasylasisoclnicasparaun
problema particular y la trayectoria resultante del esfuerzo y los valores originales del
esfuerzocomputadosdelasobservaciones.

2.5. Elpuntoisotrpico
Por definicin, un punto isotrpico es una localizacin en la cual los dos esfuerzos
principales son iguales (
1
=
2
). En el modelo fotoelstico esto es representado por el
ordencerodeinterferencia.Sisedeseadeterminarsilosesfuerzosprincipalesademsde
serigualesentres,sonigualesaceroenelpuntoisotrpico,lostresmtodossiguientes
puedenserempleados.
1. Siuncalibradordetensinlateralnodemuestraningncambioengruesoenelpunto
isotrpicomientrasquesecargaelmodelo,entonces
1

2
=0=
1
+
2
,y
1
=
2
=
arnuevaslneasisocromticasalrededordelagujero
0.
2. Si un pequeo agujero se perfora cuidadosamente adentro el modelo en el punto
isotrpico,yningncambioenelpatrndelesfuerzoresulta,entonces
1
=
2
=0.Si

1
=
2
=/ 0, la presencia del pequeo agujero produce lneas isocromticas
concntricas en la vecindad inmediata de la discontinuidad. Experimentalmente, es
difcil perforar un agujero suficientemente pequeo en el modelo sin descubrir
esfuerzos provenientes de la maquina o sin que se elimine el rea excesiva del
material,quetenderaadesarroll
quehacedifcillainterpretacin.
3. El mtodo oblicuo de la incidencia de Drucker. En un punto isotrpico el esfuerzo se
orienta igualmente en todas las direcciones (todas las isoclnas pasan a travs del
punto),ystellevaavecesalaconfusinenconstruirlatrayectoriadelesfuerzoenla
vecindaddelpunto.Lasredesdelatrayectoriadelesfuerzoformangeneralmentelos
lazos de horquilla que se enclavijan alrededor del punto (como se muestra cerca del
centro de una pierna de los bastidores 3 y 5 en fig. 1719) o las curvas que no se
enclavijanquedivergendeunamaneraprecipitadamientrasqueseacercanalpunto
envezdecircundaralrededordel.Unejemplodetrayectoriaquenoseenclavijadel
esfuerzo se demuestra en el punto A en las figuras 1715 y 1716. Estos dos diversos
tipos de arreglo de la red alrededor de un punto isotrpico se pueden distinguir
generalmente fcilmente durante la construccin, pero la configuracin especfica se
MARCO TERICO 41
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
puededeterminarporlamaneraenlacuallasisoclnasseagrupanatravsdelpunto
isotrpico. Reglas o procedimiento definidos para determinar si la trayectoria es que
se enclavija o no han sido formulados y son resaltados por Frocht, * por Mindlin, t y
porSadowski.

MARCO TERICO 42
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

3. MTODOSPARA FRACCIONARIOSDE
INTERFERENCIA
ntes para determinar rdenes
accionariosdeinterferenciasepuedenencontrartiles.
.1.ElcompensadordeCoker
179.
lcuadro1721demuestralosdetallesdeotraformadecompensadordelesfuerzo.
cedimiento punto por punto e
plicalospasossiguientesparacadapuntoencuestin:
sa a travs del punto y las direcciones correspondientes de las
eloaladireccindeunadelastensionesprincipalesenunpunto
n de interferencia n puede ser computada reescribiendo la ecuacin
34enlaforma:

ENCONTRARRDENES

Enciertoscasosenloscualesseinvolucranmodelosmuyfinos,omaterialespticamente
insensiblestalescomovidrio,elnmerodeintegraloisocromticasdemedioordenser
demasiadopequeoparapermitirlainterpretacinconvenienteolainterpolacinexacta.
Bajo condiciones de esta naturaleza los mtodos siguie
fr

Un compensador del esfuerzo consiste en una pequea tira de material fotoelstico


dispuestaenunmarcodecargademaneraquepuedasercolocadoenserieconlaluzque
pasaatravsdelmodelofotoelsticoenelpolariscopiosegnloilustradoenlafig.
E

Elprocedimientoempleadoesorientarycargarlatiraextensibledemaneraqueel
retardorelativoproducidoenlapenasneutraliceelefectoenelpuntoqueseinvestigar
en el modelo fotoelstico. El mtodo representa un pro
im

1. Conlasplacascuartodeondaremovidasyusandounafuentedeluzblancadetermine
qu lnea isoclnica pa
tensionesprincipales.
2. Substituyalasplacasdecuartodeondaensusorientacionescorrectasconrespectoal
polarizadoryalanalizador.Entoncesmonteelcompensadorenelhazluminosoconel
ejedetensinparal
dadoenelmodelo.
3. Aplique la carga al compensador hasta que la lnea neutral (negro con amarillo en
amboslados)seobserveenelpunto.Elordendeinterferenciaenelcompensadores
entoncesigualquestaenelmodelo.Silacargaenelcompensadoresconocida,junto
con sus dimensiones seccionadas transversalmente y la franja constante para su
material, la orde
n
o1 o2
f
|

\
|
|
.
h :=
(36)

MARCO TERICO 43
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
Paralabandadetensin,
2
=0
porlotanto
1

2
=
1
=P/(bh) (37)
donde ensador,enlibras
apororden
ord ndeinterferenciapuedeserobtenidocomo
n=P/fb (38)
y

P=cargatotalenlabandadelcomp
b=anchuradelabanda,pulgadas
h=espesordelabanda,pulgadas
f=franjaconstanteparaelmaterial,librasporpulgad
Ademsel e

Sinoseobservaunalneaneutral,entonceselcompensadorsedebegirara90en
su propio plano (alineado paralelo a la direccin del otro esfuerzo principal) y el proceso
decargamentorepetido.Enladireccindeunadelosdosesfuerzosprincipaleselefecto
eutralaparecer.

n
Se observar que la determinacin del orden de la franja (fraccionaria o integral)
conelcompensadornorequierequeelmodeloyelcompensadorposeanelmismogrosor
MARCO TERICO 44
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
nielmismomaterial.Sinembargo,sielcompensadorsehacedelmismomaterialygrosor
que el modelo, el valor (
1

2
) para el modelo es idntico con el valor del esfuerzo de
tensin en la barra compensadora en el punto donde una lnea neutral (banda negra) es
obtenida por el procedimiento precedente. Elmtodo trabaja bien hasta el cuarto orden
deinterferencia.Laprincipaldesventajaenelusodelcompensadordebarraatensin,sin
embargo, recae en los errores posibles que se pueden introducir por el arrastramiento
ptico(retardoagregado)enlabarrabajocargacontinua;esteefectoesparticularmente
molest enciertosplsticos.
viceversa,elcompensadorsedebegirara90enelpuntodetransicindel
esfuerzocero.

Elcompensadordelatensinsepuedeutilizarparaestudiarcualquierpuntoenun
modelofotoelstico.Sinembargo,parapuntosalolargodeunafronteralibrequetiene
lacaractersticatildepoderindicarladiferenciaentrelatensinylacompresin.Si,para
producir la neutralizacin, el eje de la tensin del compensador debe ser perpendicular
colocado al lmite libre, despus el borde est en la tensin. Si, por otra parte, el
compensador debe ser paralelo orientado al lmite, el borde est a compresin. Se
observar que, yendo a lo largo de una frontera libre de una regin de tensin a
compresin,o

3.4. Usodelanalizadorcomocompensador
ioorden.Conrespectoaestudiossobreelvidrioelmtodoha
sidoextremadamentetil.
entre los isocromtic6s de tercero y cuarto orden. Los
1. DeterminelasdireccionesparalosejesdelesfuerzoprincipalenA.
Otro mtodo simple punto por punto para determinar rdenes fraccionarios de
interferencia est disponible para la rotacin del analizador. Sin embargo, este mtodo
determinar solamente el orden fraccionario concerniente al integral ms cercano o a la
lneaisocromticademed

Asumamos que se desea encontrar el orden fraccionario de interferencia en un


cierto punto A (fig. 1722) situado
pasossiguientessernnecesarios:
MARCO TERICO 45
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
2. Alinese los planos de la polarizacin del polarizador y el analizador paralelo y el
perpendicular a los ejes del esfuerzo principal en A. Entonces oriente las placas de
cuartodeondacorrectamente(a45)conrespectoalpolarizadoryalanalizador.
3. Con fuente de luz monocromtica los rdenes integrales de interferencia sern
observadosennegrosilasplacasdecuartodeondasefijanparaelcampooscuro.
4. Girando el analizador solamente, (las placas de cuarto de onda deben seguir siendo
fijas en orientacin) la extincin se puede alcanzar en el punto A, y el ngulo de
rotacinserproporcionalaladiferenciaenelordendeinterferenciaentreAyunade
lasisocromticasadyacentes.
Por ejemplo, si se observa, bajo condiciones similares a las indicadas anteriormente
por las isocromticas en fig. 1722, que, girando el analizador a la derecha con 36, la
extincinestransferidadelisocromticodetercerordenalpuntoA,entonceselordende
interferenciaenAser
n=3+nguloderotacin/180
=3+36/180 (39)

Sielanalizadorhubierasidogiradoenladireccinopuestaelpuntodelaextincin
se habra movido desde la isocromtica de cuarto orden en la regin de una orden ms
baja en A. En este caso el ngulo de rotacin habra estado 144 = (180 36), y la orden
correspondienteenAhabrasidoobservadacomo

n=4+nguloderotacin/180 (39)

Cada vez que el analizador se gira 180 el diagrama isocromtico ser repetido
totalmente.Sisecomienzaconelcampooscuro,antoncesaunarotacinde90producir
un campo de luz en elcual las isocromticas en negro representarn los medios rdenes
(esdecir,n=90/180=1/2).

3.5. CompensadoresdeBabinetydeSoleilBabinet
Para medir retardos muy pequeos, estos instrumentos pticos tendrn mejor uso que
cualquiera los dos mtodos descritos previamente; consisten en un par de placas
MARCO TERICO 46
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
acuncadas de cuarzo (o algn otro cristal) con los ejes polarizantes dispuestos segn lo
indicadoenfig.1723.EnelcompensadordeBabinet,losejesrpidosylentosdelasdos
cuas se arreglan para oponerse entre s, mientras que en el instrumento de Soleil
Babinetaumentanentres,y,adems,hayunaterceraplacacristalina.

Silaluzcircularpolarizada(olaluzplanopolarizadaconsuplanodelavibracinen
aproximadamente a 45 de ejes polarizantes de las placas cristalinas) se dirige en la
incidencianormalconlosparesdecuas,serdescompuestaendoscomponentesiguales
enlasdireccionesdelosejesdetransmisinenelcompensadordeBabinet,cuandolaluz
atraviesa la primera cua, un componente se encuentra relativamente avanzado al otro.
Sin embargo, en el paso a travs de la segunda cua el componente que era avanzado
previamente se retarda de modo que el resultado final sea un retraso relativo,
dependiendodeladistanciaviajencadacua.Cuandoseutilizalaluzblanca,esteefecto
produceunaseriedebandascoloreadasatravsdelcompensador.Enlalocalizacinenla
cualelefectoenlasegundacuaapenasneutralizaenlaprimeracua,unabandanegra
aparecerconamarilloenambosladosdeella.Esconvenientelocalizarestalneaneutral
con la luz blanca, pero las observaciones exactas se deben hacer con la luz
monocromtica.

Moviendo las cuas en relacin entre s, las lneas de interferencia pueden ser
desplazadas, y los retardos relativos se pueden medir por los medio de este, segn la
ecuacin.

R=M/M
0
(41)

dondeR=retardoproducidoporelcompensadorenlongitudesdeonda
M
0
= desplazamiento de la cua a partir de la posicin neutral necesaria para
producirunretardodelongituddeonda.
M=desplazamientomedidoapartirdelaposicinneutral

ElcompensadordeSoleilBabinetestconstruidodemodoqueelretrasorelativo
sobre el campo entero sea igual para cualquier ajuste dado de las cuas y, en efecto,
produce un color uniforme (en la luz blanca) a travs del campo; sin embargo, con esta
excepcinpuedeserutilizadodemanerasemejantesegnlodescritopreviamenteparael
compensadordeBabinet.

4. DETERMINACINDELAFRANJACONSTANTE

El problema de determinar el significado cuantitativo de las lneas isocromticas en


trminos de intensidad de esfuerzo es comn para todos los problemas en los cuales los
valoresabsolutosdelesfuerzo,envezdevaloresrelativos,serequieran.Lasecuaciones34
y 36 se relacionan la diferencia entre los esfuerzos principales con el orden de
MARCO TERICO 47
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
interferencia de las lneas isocromticas. La evaluacin de la franja constante f es
realmenteunacalibracindeunconstantepticodelesfuerzoparaelmaterial.

Laconstantedelafranjasepuedeinterpretarcomoelcambioenladiferenciaentre
los esfuerzos principales que producirn un cambio de un orden de interferencia en un
punto dado en una pieza del material teniendo un espesor unitario. Sus unidades son
librasporpulgadacuadradaporespesordepulgadaporordendelafranja,osimplemente
fuerza
longitud orden
. Desde el punto de vista de la utilizacin se puede tambin considerar la
constantedelafranjacomoelfactordeproporcionalidadqueesmultiplicadoporlaorden
deinterferenciaydivididoporelespesordelmodeloparaobtenerelvalordeladiferencia
entrelosesfuerzosprincipales.

Debe ser observado que la discusin siguiente se relaciona solamente con esos
materiales que tienen una relacin lineal entre el esfuerzo y el efecto del ptico del
retraso.Mientrasprevalezcaestacondicin,unsolovalordelconstantedelafranjapuede
ser utilizado puesto que el incremento en la tensin entre todas las rdenes de
interferencia ser igual. Con una relacin no lineal, un diverso valor de la constante se
debe utilizar para cada orden y espesor. sto no es tericamente ninguna desventaja,
pero hace el cmputo aritmtico ms tedioso. Otras consideraciones que influencian
valoresdelosconstantesdelafranjaenumeradosenlaliteraturason:

1. Elvalordelaconstanteesdependienteenlalongituddeondadelaluzusadadurante
lacalibracin.Estodebeserconsideradasisevalapruebafotoelsticaseconducecon
laluzdeotralongituddeonda.
2. Algunos autores cotizan valores en trminos de esfuerzo cortante mximo que sea
apenasmitaddeladiferenciaentrelosesfuerzosprincipales.Esteprocedimientolleva
en ocasiones a la confusin cuando la comparacin se hace con ciertas clases de
plsticoscuyasconstantesestnenelcocientodecercade2a1.

Tericamente, cualquier modelo para el cual existe una solucin analtica conocida
para la distribucin del esfuerzo se puede utilizar para evaluar la constante de la franja.
Hay sin embargo, en la prctica algunas limitaciones de las tcnicasexperimentales y del
equipodisponiblequepuedengobernarlaseleccin.Lasensibilidadpticadelmaterialy
sus otras caractersticas mecnicas determinarn a veces el mtodo que debe ser
empleado.

Reorganizandolaecuacin34,larelacinsiguienteseobtieneparalaconstantedela
franja:

f
o1 o2 ( ) h
n
:=

lb
in orden
|

\
|
|
.
(42)

MARCO TERICO 48
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
(Las unidades de esta cantidad se escriben a veces lb/in/orden). Con frecuencia se
encuentra deseable en la prctica determinar los cambios del orden de la franja que
corresponden a los incrementos conocidos de (
1

2
) y substituir estos incrementos
directamenteenelladoderechodelaecuacin42.

Se pudo hacer una divisin brusca de los mtodos de calibracin en tres clases,
dependiendo de los valores relativos de la constante de la franja. Si recordamos que los
materiales relativamente insensibles requieren un cambio grande en el esfuerzo para
producir un cambio ptico de un orden de interferencia, es evidente que los materiales
muy sensibles tendrn constantes bajas de franja, mientras aquellos que no son tan
sensiblesposeernvaloresmsaltos.

6.1.Calibracinentensin

Un mtodo comn para determinar la franja constante para el material es emplear una
barra a tensin; este tipo de calibracin es el mejor para los materiales relativamente
insensibles e intermedios. Implica clculos simples y puede ser hecho absolutamente
independientedelesfuerzoresidualydelefecto"tiempoborde".

Enestaformademodeloelesfuerzodelesfuerzoprincipalalgebraicomsgrande

1
esigualalacargadivididaporelrea,(y
2
=0);porlotanto(delaecuacin42),

f=
1
h/n=P/bh*h/n=P/bh (43)

dondeP=lacarga(asumidauniformementedistribuida)
yb*h=elreadelaseccinrepresentativa

MARCO TERICO 49
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
La figura 1724 muestra un dibujo de un espcimen tpico de la calibracin de un
tamao medio. Dos tubos de cobre amarillo estn situados cerca de los extremos para
tomarlospernosdelcargamentoalrededordeinendimetro.Estostubosdebentener
un ajuste apretado y aun as poder clavarlo fcilmente con los dedos. Las superficies
planasqueseencuentranenlosinterioresdelostubosdecobreamarillotienencomofin
permitirqueeloperadorcambiedepuestooajustelalneadeaccindelforzadoaplicado
rodando los pernos de carga levemente. Esta caracterstica es la ms adecuada, puesto
quepermiteestableceruncargamentoaxial,y,enconsecuencia,uniformedistribucindel
esfuerzosobreelreaenteradelaseccinrepresentativaenlaporcinreducida(seccin
AA).

Si el espcimen est libre de esfuerzo residual, y ningn esfuerzo al borde se ha


descubierto,laimagenenteradebeapareceroscuraenelpolariscopio(conelarreglodel
campo oscuro) cuando no hay carga aplicada. Esta condicin es realmente muy difcil de
obtener,ysepuedevergeneralmenteunesquemabrillantedelmodeloenlapantalladel
polariscopio.Sinembargo,estono tendrunefectoapreciableenelvalorobtenidopara
laconstantedelafranja(larazndeestoseexplicaacontinuacin)

a) Procedimiento para los materiales de la sensibilidad intermedia. El modelo se


debe primero comprobar para saber si hay carga central aplicando una pequea
carga y observando la formacin de las isocromticas. Si stas aparecen
simtricamente de los prendederos y de cualquier lado de la lnea de centro,
entonceslalneadeaccindelafuerzaaplicadaestenlaposicincorrecta,pero,
si el aspecto es asimtrico, hay desalineamiento, y el doblez est presente. Para
eliminar el desalineamiento, los pernos del cargamento pueden ser girados
levementehastaquelasisocromticaslleguenasersimtricas.

Despusdeajustardeacuerdoasimetra,lacargasedebereducirtantocomosea
posible a cero. La calibracin entonces es realizada gradualmente aumentando la carga
mientras que al mismo tiempo se observa un punto de referencia conveniente en el
modelo.(Eselmejorelegirunpuntodelareferenciapreferiblementecercadelalongitud
MARCO TERICO 50
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
mediay,parareduciralmnimocualquierefectodeldoblez,enlalneadecentro).Como
lacargaseaplicagradualmente,elpuntodelareferenciaseconvertirenalternadamente
en luz y obscuridad. Cada vez que llega a ser totalmente oscuro hay un cambio de un
orden de interferencia con respecto al anterior como condicin, y la carga que
corresponde a cada condicin debe ser registrada. Estos valores de la carga se pueden
entoncestrazarcontralaordendeinterferenciaylapendientedelalneadeterminada.Es
recomendablehacerunaseriedeobservacionesconelaumentoyconeldecrementode
cargas y despus trazar las cargas medias para cada orden de interferencia segn lo
indicadoenfig.1725.

De este diagrama, la pendiente de la lnea representa P/n en la ecuacin 43, y el


constanteoriginaldelafranjaesobtenidadividiendoestoporlaanchuradelespcimenB.
As,delosdatosdelafig1725,lapendientees438/10,yporlotanto

f=43.8/0.499=87.7lb/in/orden (44)

b) Procedimiento para los materiales relativamente insensibles. Para los materiales


que son relativamente insensibles la determinacin del constante de la franja se
puede hacer absolutamente satisfactoriamente por una modificacin leve de los
procedimientosdescritospreviamenteyenlaseccin5.Todaslasprecaucionesen
relacin con la alineacin apropiada del espcimen debenser tomadas, y adems
losejespolarizantedelpolarizadorydelanalizadordebenseralineadosparalelay
perpendicularmenteconlosejesdelespcimendelacalibracin,esdecir,paralela
y perpendicularmente a las direcciones de los esfuerzos principales. Las placas de
cuarto de onda se deben orientar exactamente con respecto al polarizador y al
analizador (preferiblemente para el campo oscuro, pero el arreglo del campo
luminosopuedetambinserutilizado).

MARCO TERICO 51
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

Sin carga en el modelo el conjunto debe aparecer oscuro en la pantalla del


polariscopio del campo oscuro mientras no haya efecto residual de birrefringencia o de
borde. Si prevalece cualquiera de estas condiciones, las porciones de la imagen
aparecern luminosas, en este caso el analizador se gira slo levemente hasta que la
extincin se obtenga en el punto de referencia; las placas de cuarto de onda se deben
mantener fijas en la direccin. La orientacin angular del analizador debe entonces ser
observada,puesstaserlalecturadeceroodelareferencia.

Despus de calcular o de determinar cul ser la carga mxima permisible a


aplicarse al modelo a partir de la fuerza y de las caractersticas pticas, la barra se carga
gradualmente.Almismotiempoelanalizadorsolamente(sincambiarlaorientacindelas
placas de cuarto de onda) se gira en la direccin en la cual es posible mantener la
extincin mientras la carga est siendo aplicada. En los intervalos definidos de la carga
(incrementos generalmente de cerca de un dcimo de la carga mxima permisible) el
desplazamiento angular acumulativo del analizador partiendo de la posicin inicial se
registra. Las cargas y las orientaciones correspondientes del analizador se pueden
entoncestrazarsegnlasindicacionesdefig.1726.

Correspondiente a cada incremento del cambio en la orientacin angular del


analizador,,elcambioenlaordendeinterferenciaser

/180(sielnguloesmedidoengrados) (45)

MARCO TERICO 52
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
Elvalordelaconstantedelafranjaentoncesesencontradoporlasubstitucinen
laecuacin42conelresultado,

f=P/b*180/ (46)

Deestarelacinydelosdatostrazadosenfig.1726lafranjaconstanteparaesta
calibracines

f=160/0.500*180/230=250lb/in/orden (47)

4.4. Grabacinfotogrficadelosdatosparaencontrarelconstantedelafranja
Desafortunadamente,lacalibracinpormediodeunespcimensometidoatensinnose
presta convenientemente a la grabacin fotogrfica de las observaciones. Sin embargo,
los mtodos siguientes estn disponibles para la evaluacin de la franja constante por la
interpretacindelasfotografasdelafranja.

a) Vigaenflexionamientopuro.Elusodeunavigaenflexionamientopuro,segnlas
indicaciones de fig. 1727 es uno de los favoritos y ms ampliamente utilizados
medios para calibrar los materiales de la sensibilidad media y alta. Las posiciones
de las lneas isocromticas a travs de la profundidad de la viga pueden ser
trazadas, y por extrapolacin el cambio total en el orden de interferencia n de
arriba a abajo puede ser encontrada. La constante de la franja se determina,
entonces de la ecuacin 42, con el
1
tomado como el incremento total en el
esfuerzocalculadoentrelasdosfibrasextremasdelaviga(y
2
=0),comosigue:

f=2M/Z*h/n=12M/dn (48)

dondeZ=mdulodelaseccin1/6hd,in
3
d=profundidaddelaviga,in
h=espesordelaviga
M=Momentoflexionantedelaviga,librapulgada

MARCO TERICO 53
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad


Diversas variaciones en el uso de este mtodo de calibracin pueden ser
adoptadas. Si existen pequeas cantidades de birrefringencia inicial, puede ser
encontrado (trazando desde la franja de orden cero a una profundidad media) que la
orden de la franja en la cima y los bordes inferiores son levemente diferentes. Es
deseable,porlotanto,trazarapartirdelafranjadeordenceroyextrapolaralasfibrasde
la tapa y de la parte inferior. Esta diferencia en orden de la franja da una medida de las
tensionesresidualespresentes.

Si los datos demostrados en fig. 1727 se utilizan, el cambio total en orden de la


franjadearribaaabajoseencuentraquees17.9porunmomentodeflexinde167libra
pulgada. Por lo tanto, de la ecuacin 48, el constante de la franja se puede computar
como

ranja lb/pulg./f 83.9


) 17.9(1.155
167 X 12
2
= = f (49)

Debe ser observado que es deseable utilizar un valor de n tan grande (y del alto
esfuerzo correspondiente) como sea posible para que la calibracin mejore la exactitud.
Por ejemplo, un error de orden de franja de 0.1 en la determinacin de n lleva a una
diferencia del 2 por ciento en el valor computado de f si se utilizan solamente 5 franjas,
mientras que esta diferencia se convierte en el solamente 1 por ciento si n es 10. Sin
embargo,lasdificultadesdelarrastramientopticoydelcomportamientoinelsticollegan
aserpronunciadasmientrasseaumentanlosesfuerzos,comosediscutenenlaseccinI.
Porlotanto,losesfuerzosdelmximoenlavigadecalibracin(oenelmodelo)nodeben
exceder ciertos lmites que dependan de las caractersticas plsticas y viscosas del
material.

MARCO TERICO 54
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
b) Carga concentrada en una placa semiinfinita. Otro mtodo de calibracin usable
para los materiales sensibilidad media y alta moderada es proporcionado la
aplicacin de una fuerza concentrada, en direccin normal, en el borde libre de
una placa semiinfinita. La solucin analtica correspondiente para la distribucin
de la tensin demuestra que las lneas isocromticas son los crculos (fig. 1728)
con sus centros en la lnea de accin de la fuerza y completamente tangente al
lmitedelpuntodelaaplicacindelacarga.

Enelejedelasimetra,larelacinentrelacargayladiferenciaentrelosesfuerzos
principalesesdadaporlaecuacin,

r
P
t
o o
2
2 1
= (50)

dondeP=lacargaporunidaddegrosor,librasporpulgada
r=ladistanciaapartirdelpuntodondeseaplicalacarga,pulgadas

Trazandoellogaritmodelordendeinterferenciacontraellogaritmoder,segnlas
indicaciones de fig. 1728c, uno obtiene una lnea recta. De la ecuacin 50 el cambio
correspondiente en diferencia del esfuerzo, entre dos puntos dados puede ser
encontrado. El constante de la franja entonces es computado por la substitucin directa
enlaecuacin42.Porelejemploenlafig.1728,estodalosdatossiguientes:

r
1

2
n
in lb/pulg orden
0.12 4020 14.0
0.7 690 2.68
Incrementos 3330 11.32

Dedonde:
rden lb/pulg./o 85.5
11.32
.291 0 3330
=

= f (51)

Encasodequeladeterminacindelafranjaconstanteporunacargaconcentrada
sea incmoda o imprctica, una carga uniformemente distribuida (fig. 1729) se puede
aplicar al lmite de una placa semiinfinita. Una distribucin tan uniforme de la carga
puede ser realizada por medio de un cubo rectangular con una parte inferior de goma
fina.Parcialmentellenandoelcuboconaguaomercuriolapresinhidrostticaenlaparte
inferiorsertransmitidaatravsdelamembranaalmaterialfotoelstico.

MARCO TERICO 55
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

Para este tipo de carga las lneas isocromticas sern crculos que pasan con los
lmites del rea cargada. La diferencia entre las tensiones principales ser dada por la
ecuacin,

|
t
o o sin
2
2 1
q
= (52)

dondeq=lalaintensidaddelacarga,librasporpulgadacuadrada(compresin)
=elnguloindicadoenlafig.1729,radianes

Elordenmximodeinterferenciaserequivalentea0.638q,ylalneaisocromtica
correspondiente cruzar la lnea de centro en una distancia del borde cargado igual a la
mitaddelaanchuradelazonacargada.

c) Peso muerto en compresin. Para esos materiales ultrasensibles en los cuales las
fuerzas de cuerpo gravitacionales produzcan varios rdenes de interferencia, un
prisma rectangular en un extremo se puede utilizar como el espcimen de la
calibracin. En este caso el esfuerzo se distribuye uniformemente sobre cada
seccin representativa horizontal, y la intensidad es proporcional al peso por
volumendeunidadyladistanciadelatapa.Trazandolosrdenesdeinterferencia
contra distancia de la tapa del prisma la relacin entre el esfuerzo y el efecto
ptico,esdecir,laconstantedelafranja,puedeserestablecida.

MARCO TERICO 56
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

5. DETERMINACINDELASUMADELASTENSIONESPRINCIPALESPORLA
MEDIDALATERALDELATENSIN

Para los puntos interiores de un modelo el polariscopio suministra solamente la


informacin concerniente a las direcciones y las diferencias entre los esfuerzos
principales.Sisedeseaparaevaluarcadaesfuerzoprincipalindependientementeparalos
puntos dentro de los lmites de un modelo fotoelstico, es necesario utilizar datos
auxiliares.Enlamayoradeloscasoslosesfuerzosenlospuntosinterioressondeinters
acadmico solamente, puesto que los esfuerzos mximos ocurren en los lmites del
modelo.Sinembargo,unnmerodemtodosauxiliarestilesparadeterminartensiones
enlospuntosinterioressediscutenenestaseccinyenlaseccin8.

Comoelcambioenelgrosordelmodeloesproporcionalalasumadelosesfuerzos
principales, la medida de la tensin lateral proporciona un mtodo rpido y simple para
asegurarlainformacinauxiliarnecesariaparaevaluaresfuerzosprincipalesindividuales.
Este procedimiento requiere un calibrador de tensin de la alta sensibilidad y un
dispositivo para cambiar la carga en el modelo. Para algunas observaciones es
probablemente el ms rpido de los mtodos para determinar la suma de las esfuerzos
principales,ytienelaventajadeserunprocedimientopuntoporpuntoenelcualunerror
enunalocalizacinnoserllevadoalaposicinsiguiente.DependedelaleydeHooke,y,
en consecuencia, para los materiales que no poseen una relacin lineal de esfuerzo
deformacin (o para los casos en los cuales se excede el lmite proporcional) existe un
errorinherenteademsdelosquepuedanresultardelatcnicadelaboratorio.
MARCO TERICO 57
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

Considereunpequeoprismarectangularenelmodelofotoelstico,tomadodela
manera demostrada en fig. 1730, con sus dos extremos en las superficies del modelo
(perpendicular a la direccin de la trayectoria de la luz) y el otro hace frente
paralelamente a los planos de los esfuerzos principales. Si los esfuerzos principales en el
planodelmodelosonun
l
y
2
,despusladireccinde
3
coincideconladireccindela
trayectoriadelaluz.Puestoqueelmodelosesujetaalasfuerzassolamenteensupropio
plano,
3
=0,ylatensincorrespondienteesdadoporlaecuacin:
) (
2 1 3
o o

+ =
E
e (53)
La tensin en la direccin de la trayectoria de la luz se puede tambin expresar
comoelcociente:

Cambioenelgrosor/grosororiginal=
3
e
h
h
=
A
(54)

Porlotanto,
h
h
k
h
h E A
=
A
= +

o o ) (
2 1
(55)

lo cual significa que la suma de los esfuerzos principales es proporcional al cambio de


porcentaje en el grosor del modelo, y a k es el constante de la proporcionalidad que
dependedelascaractersticaselsticasdelmaterial.

SiEysesabenparaunmaterialdado,lamedidadehyhpermitirdeterminar
el valor de (
1
+
2
). Se puede evaluar afortunadamente (
1
+
2
) incluso si E y son
desconocidos, puesto que una calibracin directa para la constante k, en trminos de
lectura de tensincalibracin en una barra a tensin simple, puede ser hecha. La
constante lateral k se puede tambin mirar como factor de proporcionalidad que
relaciona la lectura del calibrador de tensin lateral con la suma de los esfuerzos
principalesydelgruesodelmodelo,segnlaecuacin55.Puedeincluirlaconstantedela
multiplicacindelcalibradordetensinlateralquehaceinnecesarioconvertirlaslecturas
alasmismasunidadesqueelh.As,larelacinpuedeserescrita
MARCO TERICO 58
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

h
calibrador del incremento
) (
2 1
= + k o o (56)

De esta forma la constante lateral representa el cambio en la suma de los
esfuerzos principales requerida para producir un cambio de una divisin en el calibrador
detensinlateralparaelmaterialconungrosorequivalentealaunidad;susunidadesson
calibrador el en unidades longitud
fuerza

Puesto que, para el funcionamiento general de modelos fotoelsticos, el cambio


enelgrosorsermenosde1in(millonsimos)parauncambiode1PSIenlasumadelos
esfuerzosprincipales,losextensmetrosoloscalibradoresdetensinlateralesdebenser
instrumentos algo sensibles. Sin embargo, en la mayora de los casos, los valores del
esfuerzo con el cual tiene que lidiarse sern de la orden de vario miles de libras por
pulgada cuadrada, de modo que el extensmetro lateral debe ser capaz de la
determinacinexactadecambiosenelgrosordealgunasdiezmilsimasdeunapulgada.
Parahaceresto,elinstrumentodebeindicaraproximadamente5in.

Un engao muy usual en la determinacin del cambio en el grosor del modelo


recae en la tcnica de aplicar el calibrador. Los puntos levemente redondeados y un
resorte de fijacin con abrazadera ligero de constante bajo del resorte deben ser
utilizados.Cualquiercambioapreciableenlapresindecontactoascomocambiosenel
grueso del modelo llevar a un error en los valores para (
l
+
2
). La suspensin del
calibrador debe ser por ejemplo el permitir completa libertad para seguir cualquier
movimientodelmodelo.

Si los puntos del calibrador se encuentran sostenidos, incluso con la presin


moderadadelresorte,laintensidaddelesfuerzolocalenlaregindecontactoestanalto
que se arrastrar el suave material fotoelstico, y los puntos se hundirn en el material
levemente, produciendo un error apreciable. Asimismo, un resorte de fijacin con
abrazaderaconunadurezademasiadograndecausarlecturasfalsas.

7.1.Elcalibradordetensindeinterfermetro

Elinstrumentoilustradoenfig.1731fuedesarrolladoporSchaidyesalgosimilar
aldeVose.Puestoquelamedicindependedelalongituddeondadelaluz,elcalibrador
del interfermetro representa un medio primario para determinar pequeos cambios en
distancia. Adems, es muy rugoso y extremadamente simple mecnicamente. El
dispositivoconsisteenunpardepequeaspalancasdeacero,conectadasenelcentropor
un fulcro de placa cruzada que d rigidez en una direccin y la libertad de movimiento
perpendicularmente.Enunextremodecadapalancaunpequeoplanopticoseatayen
el otro extremo un punto ajustable para el accesorio al modelo. El instrumento
MARCO TERICO 59
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
demostradoenfig.1731incorporaunapequealneadelindicadorydereferenciaenel
extremo enfrente de los puntos de contacto para asegurar el ajuste de los puntos de
contactoalamismapresin(deluz)paracadalectura.

Cuando los planos pticos estn iluminados con la luz monocromtica con una
incidencia normal y un observador los mira a travs de un telescopio, ste ve la imagen
deunparderetculos,soldadofuertementeenunodelosplanospticos,yunaseriede
bandasoscurassombraodefranjasdeinterferenciacomosemuestraenfig.1732.Vose
observ la luz reflejada de los planos pticos que daban franjas como se muestra en fig.
1732a,mientrasqueSchaidutilizlaluztransmitidaconlosplanospticosrevestidosque
tenanunaaltareflectividadyobtuvofranjasmsagudascomoenlafig.1732b.

MARCO TERICO 60
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
Las deformaciones son ledas con el calibrador observando el paso de las bandas
sobre la interseccin de los retculos y contndolos mientras desfilan. 32 El nmero de
bandascontadasserdirectamenteproporcionalalcambioenelgruesodelmodelo.Para
uncalibradorconunarelacindelapalancadel1:1yconlaluzverdemonocromticade
lalongituddeondade5461angstromes,cadavendaquepasalosretculoscorrespondea
un movimiento de los puntos del calibrador de ah = 0.00001075 adentro. Para otros
cocientes de la palanca y para otras longitudes de onda de la luz el factor de calibrador
serproporcionalaestasvariables.

7.2.ElextensmetrolateralBosqueAnderson.

El extensmetro consiste en un pequeo marco de aluminio en forma de


herraduraalcualelalambredeuncalibradoratensinseamarrasegnloindicadoenfig.
1733a. El puente entero de calibracin a tensin (fig. 1733b) se monta en el marco del
extensmetroparaalcanzarlaremuneracindetemperaturaylamximasensibilidad.

Las observaciones se obtienen de los resistores de equilibrio de impulsin de un


tornillode micrmetro(fig.1733c)quesemontanenunacajadecontrol.Estaslecturas
sonapenasnmeros,perosondirectamenteproporcionalesalatensinlateralypueden
ser evaluados en trminos de suma de las esfuerzos principales por medio de una
constantelateral(ecuacin56).

7.3.Determinacindelconstantelateral.

MARCO TERICO 61
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
Aunque la constante lateral se pueda evaluar en un nmero de maneras diferentes, el
mtodo ms simple es se que implica un espcimen sometido a tensin y un
procedimientosimilaresaaquelutilizadoparaencontrarlaconstantedelafranja.

Paraelcasodeunabaseextensible,
bh
P
rea
a c
= =
arg
1
o ,y
2
o =0.Porlotanto,dela
ecuacin56,

h
ador enelcalibr Incremento
k
bh
P
= =
1
o (57)

brador toenelcali bxIncremen


P
k = (58)

Trazando la carga en el espcimen a tensin contra la lectura del calibrador, el


incremento correspondiente a la carga para cualquier incremento dado del calibrador se
puededeterminarcomolapendientedelalnearecta.Laconstantelateralkesentonces
numricamente igual a esta pendiente dividida por la anchura b del espcimen, segn lo
indicadoporlaecuacin58.Estoseilustraenlafig.1734paralacuallosvaloreselegidos
eran un pasaje de 65 bandas de interferencia para un incremento de la carga de 900
libras.Elvalordelaecuacin58entonceses
banda in lb
X
k / / 4 . 18
65 755 . 0
900
= =

A. ELABORACINDEMODELOSFOTOELSTICOS
MARCO TERICO 62
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad




La facultad dispone de una
placa foto-elstica de 22.5x26.4 cm.
La placa est incompleta debido a que
se us una parte el ao pasado.

Con sta placa es con la que
fueron hechos los modelos foto-
elsticos.














Se disearon diferentes modelos a
partir de la placa que se dispone:
- Unaviga
- Uncantilver
- Tresmarcos
- Unrectngulo












MARCO TERICO 63
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad



Se dibujaron sobre el material foto-
elstico los modelos dejando un
margen de medio centmetro para
hacer el corte de las piezas sin
afectar la geometrizacin del
modelo.


















Se cort desde el margen que se
le dio a las piezas con la
ra. cortado

















MARCO TERICO 64
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

amente delicado y costoso, no se
puede dar el lujo de equivocarse y desperdiciar el corte.


con el material foto-
es son excelentes para
co tiene media

tadora segn como
requera.

El material foto-elstico, siendo un material sum

Para evitar el riesgo de daar una
pieza con material foto-elstico, se
hace primero el modelo con otro
material que sea duro pero que
pueda ser cortado, esto es, para no
tener problemas al hacer una copia
idntica
elstico.
Para ste caso se us acrlico, es el
que recomiendo ya que sus
propiedad
este uso.
La placa de acrli
pulgada de grosor.











Se dibujaron los modelos sobre
la placa de acrlico tambin
dejando un margen para
cortarlos; se cort con serrucho
y con la cor
se








MARCO TERICO 65
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

mnimas (dimensiones
e los modelos).




















contorno.









Se cuid de no cortar las
dimensiones
d










Una vez que fueron cortadas las
piezas, tenan dimensiones ms
grandes que las del modelo y
adems con muy irregulares de su
MARCO TERICO 66
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad


Se procedi a pasar las piezas de acrlico
al Router Fresadora para cortarlas con
dimensiones que deben tener los las
modelos y darle un corte fino y
preciso.













MARCO TERICO 67
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad







MARCO TERICO 68
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad



Una vez terminadas las piezas
de material acrlico, se pegaron
(con cinta doble capa) con las
aterial foto-elstico
oto-elsticas

piezas de m
que ya haban sido cortadas.












Se procedi con el router a
rebajar las piezas f
hasta que queden igual que las
piezas de acrlico.









MARCO TERICO 69
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad


A continuacin se muestran los modelos foto-elsticos:











MARCO TERICO 70
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

A los modelos en m
carga axial a compresin por los extrem
modelos se sujetaron por am
Se cortaron dos piezas de 5x5 centm
pegaron con la cinta de doble
se puli para que quedara un cuadrado, sin
perfecciones en los lados y quedaron id
sujetadores. Igualmente para el corte que se le h
centro de los sujetadores para la conexin con el
arco se les aplic una
os. Los
bos lados, que es por donde

etros y se
capa, despus con la Fresa
im ntico los
izo en el
modelo.











se le aplic la carga. La manera en que se sujetan debe
ser de tal manera que al aplicar la carga, se forme un
momento en el marco y as analizarlo.




















MARCO TERICO 71
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

B. Ensayedelosmodelosfotoelsticosenelpolariscopio.
n
a
cromtica
ina de de onda
r de carga






Los modelos se ensayaron e
el Polariscopio Plano de l
Facultad. Consta de:
-Luz blanca
-Luz negra-mono
-Polarizador
-Lm
-Analizador
-Lecto


















Se acomodaron los modelos y se procedi
aplicar carga y orientar las lminas de
de onda (de luz) segn lo requerido.






MARCO TERICO 72
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad

Para hacer el anlisis de los modelos, se
constante para el material. Esta constante se obtuvo d
requiere de una constante llamada franja
e
nstante.
agen a la izquierda de este
o es el modelo foto-elstico


y la velocidad de transmisin en
un plano principal ser mayor que
resultando una variacin de
colores para el observador. Esas
lneas de colores son llamadas
isoclnas.

La segunda imagen de esta hoja
muestra la concentracin de
arga puntual de
89 kg, la tercera imagen con una
carga puntual de 204 kg.



la siguiente manera:


Se puso el modelo foto-elstico
rectangular en el polariscopio para
obtener la franja co
La im
prraf
sin aplicarle carga.







Al emitir la luz blanca del
polariscopio a travs del modelo,
si las intensidades del esfuerzo
principal no son iguales, entonces
las propiedades pticas en los dos
planos principales sern diferentes,
en el otro. Esto da lugar a una
diferencia de fase entre las dos
vibraciones componentes,
esfuerzos con una c



MARCO TERICO 73
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
Clculo de franja constante:


El siguiente cuadro muestra la diferencia de esfuerzos (1 2) usando las dos cargas que
se aplicaron al modelo, y cada carga con su respectivo r; n indica el orden de
interferencia que causa la carga. El orden de interferencia es la cantidad de lneas
isocromticas que se muestran para cada caso de carga.

Para el clculo de la franja constante se requiere obtener (1 2).
Para eso se requiere la carga puntual ( P ) que se le aplic al modelo y
la distancia que hay desde el punto de aplicacin de la carga, hasta la
ltima lnea isocromtica ( r ).


La franja constante se obtiene del espesor del
on la franja constan fuerzos principales de cualquier
odelo (del mism erzos principales (1 2) en
ualquier punto del m erencia, que tiene ese
unto, por la franja co














modelo por el incremento de (1 2) de la
primera carga con la segunda, dividido entre el
incremento de orden de interferencia.


C te se puede calcular la diferencia de es
o espesor). Para obtener la diferencia de esfu
odelo, se tiene que multiplicar la orden de interf
nstante y dividirlo entre el espesor del modelo.

m
c
p
MARCO TERICO 74
Anlisis experimental de esfuerzos
por medio de la fotoelasticidad
MARCO TERICO 75




En esta imagen del modelo en
marco de 90, se observa que se
agrupan ms lneas
isocromticas (ordenes de
interferencia) en el centro del
modelo.









l anterior,
l de -
e superior e
ula que se
explic en la hoja anterior se
esfuerzos principales del
centro (donde tiene mayor
concentracin de lneas
isocromticas).



Con 90 kilogramos se ven 6 lneas isocromticas, lo que da un resultado de diferencia de
esfuerzos principales de (1 2) = 54.66 kg.






En esta imagen se muestra el
mismo modelo que e
con la misma carga axia
90 kg. en la part
inferior del modelo.
Usando la form
calcula la diferencia de