You are on page 1of 20

ÓPTICA NO LINEAL FOTORREFRACTIVA EN EL

RECONOCIMIENTO DE PATRONES
Jorge Enrique Rueda Parada
Grupo de Investigación Óptica Moderna
Universidad de Pamplona, Pamplona, Colombia, A.A.1046 Vicerrectoría de Investigaciones
jruedap2003@unipamplona.edu.co
Resumen. La óptica no lineal estudia la interacción de la luz y la materia, cuando el material responde no
linealmente a la amplitud de un campo eléctrico. La propagación de los haces de luz en un medio se determina
por el índice de refracción. Si el índice de refracción del medio se puede controlar con la iluminación de un haz
de luz, entonces la propagación de un haz de luz se puede manipular con otro haz de luz. Esto lleva a una gran
variedad de innovación tecnológica basada en control de luz por la misma luz. De otro lado, en óptica lineal el
índice de refracción n es una constante dependiendo de la frecuencia de la luz; luego sólo en este caso, la
reflexión y refracción son independientes de la intensidad del haz de luz. El efecto fotorrefractivo es un
fenómeno óptico no lineal, pero los fenómenos no lineales por efecto fotorrefractivo no son causados
directamente por el campo electromagnético de la luz que perturba el material, como si sucede en los materiales
no lineales puros, esta especial característica de los materiales fotorrefractivos permite generar efectos de orden
superior con intensidades de la radiación electromagnética relativamente bajas, p.e. 1mW/cm
2
.
A la par con el descubrimiento del fenómeno fotorrefractivo, año 1966 por Ashkin et al, quienes estudiaban las
propiedades electro-ópticas de cristales ferroeléctricos, también se han venido estudiando sus potenciales
aplicaciones, entre ellas, registro de hologramas dinámicos; en esta aplicación ocurre acoplamiento de energía
entre los haces de registro, como también entre el haz de lectura y el haz difractado; ello se conoce como mezcla
de ondas. El efecto de acoplamiento entre haces, ha permitido el desarrollo de aplicaciones en óptica
computacional, almacenamiento de información, procesado de imágenes, interconexión óptica, redes neuronales,
generación de armónicos, dispersión Raman y Brillouin, auto-enfoque, amplificación óptica, conjugación de
fase, síntesis óptica de circuitos lógicos, acopladores, multiplexado de información, modulares óptico-
electrónicos, metrología óptica de alta resolución y correladores para reconocimiento de patrones, tema central
de la discusión, entre otras aplicaciones. Algunas de las ventajas de los medios fotorrefractivos, respecto a los
medios convencionales, que amerita resaltar son la alta capacidad de almacenamiento, en teoría, un cristal de
LiNbO
3
de 1 cm
3
puede almacenar 1.55x10
15
hologramas, permiten el borrado o fijado de la información, y
presentan alta sensibilidad, haciéndolos apropiados para aplicaciones en tiempo real.
Palabras Claves. Optica no lineal Fotorrefractiva; Correlacion Optica; Efecto Talbot; Transformada de Fourier
Fraccionaria.
1. INTRODUCCION
La linealidad o no linealidad es una propiedad del
medio a través del cual viaja la luz. La no linealidad
es un comportamiento no exhibido cuando la luz
viaja en el espacio libre, así que, la Luz interactúa
con luz debido a un medio material. La presencia
de un campo óptico modifica las propiedades del
medio, el cual a su vez, modifica otro campo óptico
o el mismo campo original. La relación entre el
vector densidad de polarización P(r, t) y el vector
campo eléctrico E(r, t) define físicamente el
sistema y se gobierna por las características del
medio; el medio se dice ser no-lineal si esta
relación es no lineal.
En la teoría electromagnética, la respuesta del
material a la iluminación de luz es descrita por la
ecuación siguiente:
, ) , ) , )
...
3
0
2
0
1
0
+ χ ε + χ ε + χ ε · EEE EE E P
(1)
donde P es la polarización inducida del medio, ε
0
es
la constante dieléctrica del vacío. E es el campo
eléctrico de la luz y χ
(1)
, χ
(2)
y χ
(3)
son constantes.
La óptica lineal esta descrita por χ
(1)
la cual está
relacionada con el índice de refracción:
, ) 1 2
1 χ + · n (2)
La respuesta óptica no lineal del medio
caracterizado por los parámetros χ
(2)
y χ
(3)
da lugar
a numerosos fenómenos y aplicaciones interesantes.
El término de segundo orden χ
(2)
EE es responsable
del doblado de frecuencia de una onda
monocromática (generación del segundo
armónico), el mezclado de dos ondas
monocromáticas genera una tercera onda cuya
frecuencia es la suma o diferencia de frecuencias de
las ondas originales (conversión de frecuencia), el
uso de dos ondas para amplificar una tercera onda
(amplificación), y la adición de retroalimentación
de un amplificador paramétrico para crear un
oscilador. El término de tercer orden χ
(3)
EEE es
responsable de fenómenos diversos como
generación de tercer armónico, mezclado de cuatro
ondas, dispersión Raman y Brillouin, auto-enfoque,
amplificación óptica y conjugación de fase.
Para intensidades bajas de luz, los términos de
orden superior son muy pequeños, así la óptica se
describe adecuadamente solo por el primer término
ε
0
χ
(1)
E. El segundo término se puede considerar
como una modificación del primer término por:
, ) , )
E
2 1
χ · χ ∆ (3)
Para un medio óptico típico, χ
(1)
es del orden de 1.
Para luz de intensidad ordinaria similar a la luz
solar a nivel del mar, el campo eléctrico de la luz es
del orden de 10V/cm y ∆χ
(1)
es del orden de 10
-8
-
10
-10
. Para haces láser con potencia moderada, el
campo eléctrico asociado es comparable a un
campo eléctrico interatómico de cerca de 10x10
6
V/cm. La iluminación de materiales apropiados por
tal haz láser induce un cambio significante del
índice de refracción lo que puede afectar la
propagación del haz de luz.
Antes de 1961, muchas propiedades ópticas no
lineales en la materia no fueron descubiertos. Las
investigaciones mostraban que la transmisión,
reflexión, y refracción de luz en materiales
transparentes no eran afectadas por la intensidad de
la luz ni por la presencia de otro haz. Este es el
régimen de la óptica lineal y se aplica el principio
de superposición. Así en el régimen de la óptica
lineal, la intensidad de salida de la luz es siempre
proporcional a la intensidad de entrada y la
frecuencia de salida es siempre igual a la luz de
entrada en al base de la estructura del material. El
fenómeno de óptica no lineal refuta las anteriores
conclusiones, dando las herramientas para
manipular u controlar la frecuencia e intensidad de
un haz láser, y por lo tanto abre un nuevo y amplio
dominio de aplicaciones ópticas.
La razón para las interpretaciones lineales de la luz
fue que antes de crear un haz de luz coherente no
podía obtenerse un efecto no lineal razonable: sólo
con el primer láser fue posible detectar evidencia
significativa del fenómeno no lineal. En 1961, un
experimento de generación del segundo armónico
da la primera confirmación experimental de la
teoría no lineal. Un láser de rubí con una longitud
de onda de 0.6943 µm fue enfocado frente a una
superficie de una lámina cristalina de cuarzo. La
radiación emergente fue examinada con el
espectrómetro y se encontró que contenía radiación
de dos veces la frecuencia de entrada (es decir,
longitud de onda igual a 0.34715 µm).
Por otro lado, en 1966 se descubre el efecto
fotorrefractivo, y con él la óptica no lineal con
bajas intensidades de luz, este es un fenómeno en el
cual el índice local de refracción se cambia por la
variación espacial de la intensidad de luz. Cuando
el cristal se ilumina con radiación electromagnética
espacialmente no homogénea, existe la
probabilidad de que algunos electrones sufran
transiciones a la banda de conducción. Así, se crea
una distribución de carga espacial y por ende un
campo de carga espacial. Tal campo induce un
cambio de índice de refracción por efecto Pockels.
Entonces es posible registrar un holograma por la
interferencia de dos haces en el medio
fotorrefractivo; el holograma o red de índices se
puede borrar iluminando el holograma con luz. Los
materiales tales como LiNbO
3
, BaTiO
3
, SBN, BSO,
son medios muy eficientes para la generación de
conjugación de fase y holografía en tiempo real
usando niveles de intensidad relativamente bajos
(1W/cm
2
). Los siguientes cinco grupos de
materiales tienen tales características
fotorrefractivas: Ferroeléctricos (LiNbO
3
, LiTa O
3
,
BaTiO
3
, KNbO
3
, SBN), Silenitas (Bi
12
SiO
20
(BSO),
Bi
12
GeO
20
(BGO), Bi
12
TiO
20
(BTO)),
Semiconductores (GaAs:Cr, InP:Fe, CdTe), y
Cerámicas piezoeléctricas (tipo PLZT), Orgánicos
(poly(N-vinylcarbazole) o PVK, poly(silane)).
El acoplamiento de haces, conocido como mezcla
de ondas, ocurre naturalmente en un medio
fotorrefractivo, haciendo de estos materiales
potencialmente importantes para holografía en
tiempo real. Cuando se superponen dos haces de
radiación coherente en un medio fotorrefractivo, se
forma una red de índices estacionaria. Esta red de
índices está corrida espacialmente π/2 respecto al
patrón de intensidad resultado de la superposición
de los haces. Tal corrimiento espacial de fase, que
también se puede manipular, permite una
transferencia de energía no reciproca cuando se
propagan estos dos haces a través del medio. La
propiedad única de transferencia de energía no
reciproca se puede utilizar en aplicaciones tales
como resonadores fotorrefractivos, ventana de
transmisión no recíproca, elementos influyentes
para giroscopio láser, conjugadores de fase,
interconexión óptica, redes neuronales,
interferometría de fase conjugada, etc. La respuesta
de un material fotorrefractivo, del grupo silenitas,
tiene la siguiente forma(Mills, 1998):
∑ ∑
χ + χ ·
jk
k j ijk
j
j ij i
E E E P
~
! 2
1 ~ ) 2 ( ) 1 ( ; (4)
donde, P
j
es la polarización eléctrica del material,
E
k
es una componente de campo de carga eléctrica
aplicado o interno (E
sc
: campo de carga espacial,
generado por la radiación electromagnética que
perturba el material) y E
j
la componente eléctrica
del campo óptico;
) 1 (
χ
y
) 2 (
χ
son la susceptibilidad
eléctrica lineal y no lineal, respectivamente. Así, el
fenómeno responsable de la no-linealidad del
material es el efecto electro-óptico Pockels; en cuyo
caso, la contribución a la no-linealidad se debe a la
presencia de componentes de campo de carga
eléctrica E
k
. Por otro lado, el efecto electro-óptico,
asociado al fenómeno fotorrefractivo, es causado
por el campo eléctrico de carga espacial, el cual se
genera por interacción de la radiación
electromagnética con el material.
De otro lado, la respuesta local de un material
fotorrefractivo está relacionada con el
comportamiento del campo de carga espacial y
índice de modulación m(x,y) de la distribución de
intensidad sobre el material fotorrefractivo. El
método más usado para el estudio del efecto
fotorrefractivo es la técnica holográfica, aunque
experimentalmente puede ser el más complicado.
Consiste en iluminar el material activo con un
sistema de franjas de interferencia producido por
dos haces coherentes.
La técnica holográfica considera dos posibles
configuraciones: la geometría de transmisión y la
de reflexión. En la primera ambos haces inciden por
la misma cara del cristal fotorrefractivo, mientras
que en el segundo caso, cada haz incide por una de
las caras opuestas entre sí. En algunos resultados
que se muestran en este artículo, se aplica la
configuración por transmisión.
A continuación, se describen las condiciones
geométricas para el registro y la lectura de una red
elemental, y las expresiones para la eficiencia de
difracción.
En este sentido, existen dos modelos teóricos sobre
el efecto fotorrefractivo, un primer modelo fue
presentado por Kukhtarev et al.; este modelo
predice que la respuesta del campo de carga
espacial a la modulación de la distribución de
intensidad es lineal. El otro modelo fotorrefractivo
es el modelo de Moharam et al., este modelo
permite demostrar que el modelo lineal de Kuktarev
solo es válido para modulaciones dentro del
intervalo 4 . 0 ≤ m . El modelo de Moharam
muestra también, que para valores del índice de
modulación dentro del intervalo 1 4 . 0 ≤ < m la
respuesta del campo de carga espacial es no lineal.
1.1 Formulación del efecto fotorrefractivo
El modelo consiste, básicamente, de cuatro
ecuaciones, las cuales representan:
, ) j [ x K m z I z x I
w
w
o
⋅ ⋅ + ⋅

,
_

¸
¸
θ
α −
· cos 1
cos
exp ) , (
, (5)
la intensidad del patrón de luz, donde son
parámetros del material el coeficiente de absorción
α
w
, el espesor z atravesado por la luz y el ancho del
cristal x; m es la modulación espacial, K es el
módulo del vector de onda del patrón de
interferencia en el interior del material, e I
o
es la
intensidad máxima del patrón I(x,y); 2θ
w
es el
ángulo que forman entre sí los haces que generan
tal patrón de interferencia. La acción del patrón de
intensidad sobre las propiedades físicas del medio
fotorrefractivo, está representada en las
denominadas ecuaciones del material o modelo de
Kukhtarev:
1
]
1

¸

+ ⋅ ⋅ µ +


·
Lx
V
t x E t x n e
x
t x n
D e t x J
sc
) , ( ) , (
) , (
) , (
; (6)
Esta primera representa la densidad de corriente,
donde D es la constante de difusión; V el voltaje
aplicado; L
x
el ancho del cristal; n(x,t)= n
D
+ n
L
(x,t),
siendo n
D
la concentración de portadores libres en
la oscuridad y n
L
la concentración portadores libres
por foto-excitación. El primer término de la Ec.(6),
es la densidad de corriente por difusión y el
segundo es la contribución por drift. La generación
de portadores,
x
t x J
e
n t x n
x g
t
t x n
e
D


+
τ

− ·

∂ ) , ( 1
) , (
) (
) , (
; (7)
donde
o
o
I
x I
g x g
) (
) ( ·
es la rata de generación de
portadores libres, siendo
e
o
o
I
g η ⋅
ω
α
·
h
, α el
coeficiente de absorción, ω h la energía de un
fotón y η
e
la eficiencia cuántica de generación de
un electrón por foto-excitación. Finalmente, el
campo eléctrico de carga espacial es,
) ( ) , (
1
) , (
0
t G dt t x J t x E
t
s
sc
+
ε
− ·

; (8)
donde G(x) se determina usando la condición de
frontera
V dx t x E
Lx
V
Lx
sc
·
,
_

¸
¸


0
) , (
; la solución de las
Ec.(6)-Ec.(8) se puede obtener, aplicando dicha
condición de frontera y la condición inicial
E
sc
(x,0)=0. En la práctica, es de interés conocer la
solución del modelo para el estado saturado del
campo eléctrico de carga total; esta solución se
obtiene teniendo en cuenta que en el estado
saturado la densidad de corriente es constante, es
decir que
0 ·


t
n , entonces, sí se aplica esta
condición en la Ec.(7), se obtiene que la densidad
de portadores generados es
) ( ) ( x g n x n
e
D
τ + ·
; se
reemplaza la densidad de portadores en la ecuación
Ec.(6) para obtener la densidad de corriente, y con
ella, mediante la Ec.(8) y la condición de frontera
dada para el E
sc
, finalmente el resultado es la
expresión para el campo de carga espacial en el
estado estacionario, cuyo valor efectivo viene dado
por la siguiente expresión:
m
m
M E E M E
D o
e
sc
1 1
;
2
2 2
− −
· + ⋅ ·
; (9)
donde M se conoce como la modulación reducida.
Siempre la solución del modelo debe conducir a la
determinación del campo de carga espacial, pues
mediante este el la respuesta del material
fotorrefractivo queda definido.
Desde el punto de vista físico, reducir las
ecuaciones del material a su forma lineal, implica
despreciar los armónicos de orden superior de la
red fotoinducida; experimentalmente, la respuesta
lineal se logra manipulando la modulación del
patrón de intensidad, tal que m<0.4; en estas
condiciones la red fotorrefractiva será de perfil
sinusoidal puro y por lo tanto no existirán
componentes armónicas de la red. Por otro lado,
cuando la modulación es tal que m>0.4, las
ecuaciones del material son no-lineales; entonces
las componentes armónicas no son despreciables.
En la práctica, la red de índice generada en un
medio fotorrefractivo por el patrón sinusoidal que
representa la Ec.(5), no es sinusoidal pura, como
consecuencia, en parte, de las dimensiones finitas
del medio; físicamente esto implica que las
variables físicas involucradas en el modelo, p.e. el
campo E, no siguen la variación del patrón de luz;
entonces la respuesta del material es no-lineal;
dicho de otra forma, en el proceso de lectura de la
red se observará componentes armónicas de
difracción de orden superior, donde cada
componente se produce en un ángulo de incidencia
regido por la ley de conservación del momentum-
Bragg. En la correlación óptica basada en medios
fotorrefractivos, esta no linealidad es de interés
técnico, pues con la manipulación de la misma se
puede controlar el desempeño del correlador.
1.2 Técnica holográfica fotorrefractiva
Antes de entrar en detalle en la implementación de
correladores, es necesario abordar la técnica
holográfica fotorrefractiva. En este sentido, a
continuación se presenta un estudio sobre la
holografía por transmisión, en la aproximación
“estado estable” del registro; además, se asume un
acople débil entre los haces que interactúan durante
el proceso de registro y lectura del holograma, en
otras palabras se desprecia la transferencia de
energía entre los haces ópticos externos, es decir se
considera que la respuesta del medio fotorrefractivo
es lineal.
En la Fig.1 se muestra el arreglo clásico de la
técnica holográfica por transmisión, y el cual se usa
para registrar una red de volumen:
Figura 1. Arreglo holográfico por transmisión. CD:
cubo divisor; M
1,2,3
: espejos; L
w
: fuente láser de
escritura; L
R
: fuente láser de lectura.
En el estado estable y con efectos de acople débil,
las amplitudes de las ondas planas
r
Ψ y
o
Ψ
, que
provienen del láser de registro L
w
de longitud de
onda
w
λ , interfieren en el material fotorrefractivo
para producir una red de fase, cuyo índice de
modulación complejo viene dado por la siguiente
expresión
[9]
,
, )
j [ , ) , ) j [
Rw z R R w o r
w o r
z L I z I I
z
z y x m
Φ ⋅ − ⋅ α − ⋅ + ⋅ α − ⋅ +
⋅ α − ⋅ Ψ ⋅ Ψ ⋅
·
exp exp
exp 2
) , , (
*
;
(9)
donde I
r
e I
o
son las intensidades de las ondas
r
Ψ y
o
Ψ
, respectivamente. El parámetro I
R
representa
la intensidad de la onda plana
R
Ψ
, la cual proviene
del láser de lectura L
R
de longitud de onda
R
λ ;
w
α
y
R
α
son los coeficientes de absorción del
material de registro para
w
λ
y
R
λ ,
respectivamente. El parámetro L
z
es el espesor del
material y Φ
Rw
es la eficiencia cuántica relativa de
foto-generación de portadores de carga del haz de
lectura, con respecto a la eficiencia cuántica de la
radicación de registro; para el caso particular de un
cristal de BSO, Φ
Rw
=0.0625, para
w
λ
=514 nm y
R
λ =633 nm. La red de fase o red de índices foto-
inducida en el material, se puede representar de la
siguiente forma:
. . ) exp( ) exp(
2
c c x iK i
n
n
g
+ ⋅ φ
δ
· ∆
, (10)
donde
w
w o
g
n
K
λ
θ ⋅ π
·
sin 4
, siendo n
o
el índice de
refracción correspondiente a la radiación que
induce la red; δn es la birrefringencia inducida por
efecto electro-óptico lineal, la cual depende de la
configuración del corte cristalográfico de medio
fotorrefractivo; p.e. para la configuración
transversal, caras del cristal paralelas a los planos
cristalográficos
, ) 10 1
,
, ) 110
y
, ) 100
; y con la luz
propagándose en la dirección
j [ 10 1
, entonces la
birrefringencia inducida viene dada por:
e
sc e o
E n n γ · δ
3
2
1
; (11)
donde γ
e
es el coeficiente electro-óptico efectivo;
E
sc
es el campo de carga espacial efectivo y tiene la
forma dada a partir de los modelos de Kukhtarev y
Moharam, analizados anteriormente. El parámetro
φ es el corrimiento de fase entre el patrón de
interferencia y la red foto-inducida; este término de
fase, para el caso de materiales fotorrefractivos
para-eléctricos viene dado por:
1
]
1

¸

· φ

o
D
E
E
1
tan
; (12)
de esta expresión podemos inferir, por un lado, que
el corrimiento se puede manipular con el campo
aplicado al cristal y por el otro lado, que cuando la
red se genera, exclusivamente, bajo el mecanismo
de difusión, entonces el corrimiento es de π/2. Este
comportamiento del fenómeno fotorrefractivo cobra
real importancia en el amplificador de señales
ópticas, específicamente en el problema de
optimización de la eficiencia de dicho proceso.
1.3 Reconstrucción de los haces de registro
De acuerdo con la Fig.1, la lectura del holograma se
realiza mediante la onda
R
Ψ , la cual puede, o no,
tener la misma longitud de onda que la radiación
del láser de escritura. Por otro lado, debido a que la
red es de volumen, la reconstrucción de alguno de
los haces de registro está sujeta a la condición de
Bragg ( ver Fig.2.a) ), la cual exige la conservación
del momentum; una forma de representar esta ley es
la siguiente:
g
i
R
i
d
K k k
r r r
+ ·
*
; (13)
donde
i
R
i
R
i
d
k k λ π · · / 2 , siendo i
d
k
r
el vector de
onda del haz difractado o haz reconstruido y
i
R
k
r
es
el vector de onda del haz de lectura. Esta ley
establece, que el haz difractado se observará,
únicamente, si el ángulo de incidencia del haz de
lectura es igual al ángulo de Bragg,

,
_

¸
¸

λ
· θ

g
i
R
B
K
2
sin
1
; (14)
*
i : interior del material.
a). Reconstrucción on-
Bragg.
b). Reconstrucción off-
Bragg.
Figura 2. Condición de Bragg en la esfera de
Edwald, para la geometría de transmisión.
Cabe recordar, que esta ley se formuló para una red
de longitud infinita. Sin embargo, en la situación
real esta ley se viola, pues la red es de longitud
finita; entonces la difracción se produce dentro de
un intervalo angular ∆θ
B
, denominado off-Bragg.
Este caso, tiene la particularidad de que la
eficiencia de difracción se hace máxima en θ
R

B
y
se apantalla en la medida que el ángulo del haz de
lectura se desvíe de θ
B
. La condición de Bragg se
esquematiza en la Fig.2.a) usando el diagrama de la
esfera de Edwald. Tal comportamiento de las redes
de volumen, de extensión finita, fue establecido por
Kogelnik en 1969, mediante el modelo de ondas
acopladas.
Cuando la longitud de onda del haz de lectura es
diferente a la de los haces de registro, entonces el
ángulo de lectura también se puede calcular
mediante la siguiente relación:
w
R
w
R
λ
λ
·
θ
θ
sin
sin
(15)
Puestas las condiciones, propias del registro de
volumen para la reconstrucción de uno de los haces
de escritura, entonces la amplitud total que emerge
del cristal, debida a la onda de lectura
R
Ψ , se
puede representar mediante la siguiente ecuación:
¹
;
¹
¹
'
¹

,
_

¸
¸
θ ⋅ λ
⋅ ∆ ⋅ π
⋅ Ψ ⋅ −

,
_

¸
¸
θ ⋅ λ
⋅ ∆ ⋅ π
⋅ Ψ

,
_

¸
¸
θ ⋅
⋅ α −
· Ψ
R R
z
R
R R
z
R
R
z R
Cos
L n
i
Cos
L n
Cos
L
sin cos
2
exp
;
(16)
donde el término real representa la onda de lectura
después de atravesar la red y el término imaginario
es el haz generado fuera del cristal por efecto de la
difracción del haz de lectura, el cual es la
reconstrucción de uno de los haces de escritura;
según la Fig.1, el haz difractado corresponde a la
reconstrucción de
o
Ψ
.
1.4 Eficiencia de difracción on-Bragg
Del término imaginario de la anterior ecuación se
puede definir la eficiencia de difracción
considerando que θ
R

B
, una interacción débil del
haz de lectura sobre el medio fotorrefractivo y una
eficiencia de difracción muy baja, entonces:
2 2
2
exp

,
_

¸
¸
θ ⋅ λ
⋅ ∆ ⋅ π

,
_

¸
¸
θ ⋅
⋅ α −
· · η
R R
z
R
z R
R
d
Cos
L n
Cos
L
I
I
;
(17)
donde I
d
es la intensidad del haz difractado
d
Ψ
.
1.5 Eficiencia de difracción off-Bragg
La teoría de ondas acopladas proporciona la
siguiente expresión para la eficiencia de difracción
de una red finita:

,
_

¸
¸

+ κ ⋅

+ κ
κ
· η
4
sin
4
2
2 2
2
2
2
B
z
B
k
L
k
;
n
n
n
B R R
R
∆ ⋅
θ − λ
π
· κ
2 2
sin
(18)- (19)
donde κ es la constante de acoplamiento; siendo n
R
y θ
B
el índice de refracción y el ángulo de Bragg,
respectivamente, para la longitud de onda λ
R
. La
magnitud del parámetro off-Bragg viene dado por la
siguiente ecuación:
, )
B
B R R
B
B
n
k θ ∆ ⋅
θ − λ
θ π
· ∆
2 2
sin
2 sin 2 ; (20)
2. CORRELADORES OPTICOS
FOTORREFRACTIVOS
El procesamiento de señales mediante la
correlación óptica y/o digital, aun hoy ocupa un
nivel importante como propuesta solución al
problema de reconocimiento de formas, de
verificación de identidad, localización o como
herramienta de control de posición. El problema se
idealiza bajo los parámetros: fidelidad del 100% en
la identificación, respuesta en tiempo real, cero
requerimientos de estabilidad del sistema,
inmunidad del 100% a los cambios de contraste de
la escena donde se encuentra el objetivo, varianza
controlable (invariante-variante) a los cambios de
escala, los cambios de posición angular y/o
traslaciones del objetivo; factores que son
inherentes a los objetos reales.
La implementación óptica del correlador está ligada
a las propiedades de la transformada de Fourier; el
principio del proceso es un filtrado óptico a nivel
del plano espectral, seguido de una transformación
de Fourier. La industria, la medicina, la seguridad
y el campo militar, son algunas áreas de acción del
procesamiento de señales mediante el uso del
correlador. En tales áreas, algunas aplicaciones
exigen tratar grandes volúmenes de información en
tiempo real; es aquí, donde el paralelismo del
procesado de señales cobra real importancia y
donde los materiales fotorrefractivos son una
alternativa interesante.
Hoy por hoy, el fenómeno fotorrefractivo continúa
en vigencia, deducible de los continuos aportes
registrados en los diferentes medios de
comunicaciones científicas. Entre los tantos
trabajos, que involucran materiales fotorrefractivos,
se encuentra la implementación de correladores
ópticos. En este sentido, se muestran los resultados
de investigación correspondientes a la
implementación de arreglos de correlación y la
caracterización de los mismos. El contexto
conceptual, base de la investigación, utilizado para
la implementación e interpretación de la correlación
óptica es el efecto fotorrefractivo y la transformada
de Fourier fraccionaria.
Un vistazo minucioso y retrospectivo, sobre los
registros relacionados con la correlación óptica
basada en materiales fotorrefractivos, nos conduce
al primer informe publicado en la revista “Applied
Optics/1975 ” por Peter Nisenson y Robert A.
Sprague. Este es un trabajo experimental en el cual
se diserta sobre las características entre un Joint
Transform Correlator (JTC) y un Vander Lugt
Correlator (VLC), en las dos configuraciones se
utiliza un cristal fotorrefractivo de BSO como
medio de registro ubicado sobre el plano espectral.
Sin quitarle mérito alguno, a ninguno de los
trabajos que aquí se omita mencionar, los
referenciados contienen los aspectos revelantes que
sirven de ilustración y de base para abordar la
correlación óptica en el ambiente de la óptica no
lineal fotorrefractiva.
M. Pepper, J. Au Yeung, D. Fakete y Yariv (1978)
proponen un correlador óptico basado en un
mezclado de cuatro ondas degenerado. Mas tarde
Jeffrey O. White y Amnon Yariv (1980) son los
primeros en reportar la construcción de un
procesador óptico no lineal basado en el mezclado
de cuatro ondas usando un cristal de BSO,
demuestran que éste puede operar como correlador
óptico.
Un correlador JTC basado en un BSO y trabajando
en régimen no degenerado fue presentado por
L. Pichon y J. P. Huignard (1981). La novedad del
arreglo es el bajo nivel energético de trabajo
(potencia de la radiación de escritura 200mW).
Consideran que la varianza a la traslación del
objetivo, observada en sus resultados
experimentales, es un efecto secundario debido a la
violación de la ley Bragg, también investigaron los
efectos del volumen versus el enfoque del plano de
Fourier.
M. G. Nicholson et al. (1987) proponen un
correlador óptico basado en el mezclado de cuatro
ondas no degenerado y muestran que la salida del
correlador se puede ajustar mediante control sobre
el índice de modulación del plano espectral. La
manipulación conveniente de la intensidad de los
haces de entrada al cristal se traduce en un
mecanismo para mejorar la relación señal ruido
sobre el plano de correlación. Un complemento a
este trabajo fue publicado por O. Daniel et al.
(1995), los resultados son teóricos, la configuración
del correlador es un JTC y el medio de registro es
un cristal de BSO ubicado en el plano de Fourier.
Los resultados muestran una correlación no lineal
como consecuencia de la variación del índice de
modulación del plano espectral. J. Khoury, G.
Asimellis y C. Woods (1995) presentaron
resultados numéricos sobre la respuesta no lineal de
un JTC basado en una configuración incoherente-
coherente con mezclado de cuatro ondas.
La síntesis del filtro espacial en un medio
fotorrefractivo, ha dado pie a dirigir esfuerzos hacia
el estudio de los efectos secundarios sobre las
propiedades de la correlación (traslación, rotación y
cambio de escala); al respecto, a continuación se
citan algunos trabajos.
C. Chang et al. (1992) proponen el correlador
híbrido, invariante a la rotación, basado en el filtro
armónico circular generado por computador; la
función de transferencia óptica de este filtro se
registra en un cristal fotorrefractivo de BaTiO
3
.
Un correlador compacto (dimensiones
60cmx30cmx30cm) fue propuesto por Rajbenbach
et al. (1992), el dispositivo utiliza un BSO y opera
a una rata de 100ms por cuadro. Un sistema para el
reconocimiento de rostros lo propuso Li et al.
(1993); en un cristal de LiNbO
3
almacenaron
cuarenta hologramas de rostros de referencia, donde
cada holograma es una combinación de varias
imágenes y cada combinación corresponde a la
historia de una misma persona con diferentes
condiciones de iluminación, escalas, posiciones
angulares y expresiones faciales.
Los materiales fotorrefractivos han permitido la
construcción de correladores que operan en el
visible o en el infrarrojo. Con respuesta en el
visible están el BSO, el BTO, el BGO, el BaTiO
3
,
el LiNbO
3
, entre otros. El GaAs trabaja en el
infrarrojo, este cristal es potencialmente importante
debido a su alta rata de operación; Duncan et al.
(1992) reportaron un correlador basado en un
GaAs, trabajando a 1000 cuadros/segundo.
Neifeld y Psaltis (1993) presentaron la construcción
de un correlador invariante a la traslación, usando
un disco compacto óptico y un cristal
fotorrefractivo. Sobre el disco se almacena un gran
número de imágenes de referencia y con la imagen
objetivo se construye el filtro espacial en un
material fotorrefractivo. Sin embargo, la varianza
a la traslación deja de ser un problema no deseado,
si la aplicación de interés es controlar la posición
del objetivo.
En la década de los noventa, la correlación tomó
una forma más amplia gracias a la generalización
de la transformada de Fourier, hoy conocida como
la Transformada Fourier Fraccional (Fractional
Fourier Transform (FRFT) ). La FRFT de una
imagen contiene información espacio-espectral;
esta característica de la FRFT redefine las
propiedades de la operación de correlación. La
correlación clásica y la correlación fraccional
difieren principalmente en sus propiedades; una de
esas diferencias es la varianza a la traslación, propia
de la correlación fraccional. Con respecto a este
tópico, Grannieri et al (1996) proponen un
correlador fotorrefractivo sensible a la traslación de
los objetos en la escena de entrada.
Otras contribuciones apuntan hacia la síntesis de
filtros invariantes a la escala y a la rotación. Los
métodos propuestos consisten en usar múltiples
imágenes de referencia del mismo objeto, con
diferentes tamaños y posiciones angulares; las
memorias fotorrefractivas son apropiadas para la
construcción de este tipo de filtros, gracias a que
permiten el multiplexado de imágenes.
Entre algunos de los aportes más recientes, está la
implementación de un JTC binario (Cook N. J. et
al. 1998) usando un BSO en el plano de Fourier; se
estudia la resistencia al ruido aditivo Gaussiano.
En el año 2000 Wenyi Feng et al y A. Zhang et al
introdujeron el concepto de filtros basados en la
transformada “Wavelet”. El grupo de Wenyi enfocó
su aplicación al reconocimiento de rostros.
Estudiaron la distorsión al corrimiento, rotación,
escala y presencia de ruido en la escena. A. Zhang
et al implementaron un JTC, estudiaron el
desempeño del correlador en cuanto a
discriminación y tolerancia al ruido. J. Rueda et al
presentan en el 2001 los resultados experimentales
de la implementación de un correlador
fotorrefractivo de transformación conjunta
fraccionario, en el 2002 la implementacion de
correlador fotorrefractivo basado en un fake zoom
lens y la transformada de Fourier fraccional, y en el
2004 los resultados sobre la implementación de un
correlador basado en el efecto Talbot, correlador
que tiene como novedad la detección del sentido de
rotación del objetivo.
En términos prácticos, el teorema de correlación es
un mecanismo "simple" para calcular una operación
de correlación; en la Fig.3 se ilustra el diagrama de
flujo de un correlador de imágenes. Un dispositivo
óptico basado en el esquema de esta figura es
conocido con el nombre de “correlador óptico” por
transformada de Fourier, donde las funciones a
comparar son ) , ( y x f , la cual representa la escena
que contiene la letra “J” y ) , ( y x g la cual
representa la escena que contiene la letra “E”.
Figura 3. Principio de un correlador de imágenes
por transformada de Fourier; G y H: módulos de los
espectros de g y f, respectivamente; OP: operador
de superposición ó multiplicación; C: plano de
correlación.
El procedimiento inicia con el cálculo de los
espectros de Fourier G(u,v)=F
q
{g(x,y)} y
H(u,v)=F
r
{f(x,y)}. Luego, sobre el plano espectral
se multiplica la transformada G(u,v) por el
conjugado de la transformada H(u,v). Finalmente,
se calcula la transformada de Fourier
F
p
{H
*
(u,v).G(u,v)} y de esta forma se genera la
correlación entre las dos funciones, sobre el plano
de salida. En el lenguaje técnico de procesamiento
de imágenes, f(x,y) representa la imagen objetivo,
h(x,y) = F
-r
{H (u,v)} la respuesta impulso del filtro
y H(u,v) el filtro ó función de transferencia óptica
del filtro. La siguiente figura muestra los resultados
numéricos del modelado de un correlador clásico.
Figura 4. Resultado numérico.
El desempeño de un correlador se evalúa en
función de los parámetros energía de entrada y
salida, ancho y alto del pico de correlación,
presencia de ruido en la escena de entrada,
aparición de picos de correlación indeseables;
además del grado de tolerancia a la rotación,
traslación y cambios de escala del objetivo. Se
aceptan como criterios de desempeño, la relación
entre la Energía máxima del Pico y la Energía total
en la salida del Correlador (PCE, Peak-to-
Correlation Energy), esto es el cociente debido a la
intensidad máxima del pico de correlación dividido
entre la energía total del plano de correlación; se
asume que la escena de entrada corresponde al
objetivo y que está ubicado en el origen. El
parámetro PCE permite establecer un criterio sobre
el ancho del pico de correlación y a su vez es una
medida del nivel de similitud entre dos imágenes.
Un filtro ideal se caracteriza por un PCE=1, esto
significa que toda la energía del plano de
correlación está concentrada en un punto, es decir,
que el pico de correlación se aproxima a un Delta
Dirac.
Otro criterio es la Eficiencia Optica (OE, Optical
Efficiency); la OE se interpreta como la medida de
atenuación energética ejercida por el filtro, sobre la
energía óptica utilizada para iluminar la escena de
entrada. Un filtro ideal se caracteriza por un valor
OE=1, esto indica que la atenuación es nula, es
decir, que la energía total en el plano de correlación
es idéntica a la energía que entra al filtro. Para el
caso de filtros pasivos, la OE toma valores entre 0 y
1. Los filtros construidos sobre materiales
fotorrefractivos son un ejemplo de filtros activos,
esto implica que puede ocurrir algún efecto de
amplificación; sin embargo, este fenómeno se
puede controlar.
La Relación Señal a Ruido (SNR, Signal to Noise
Ratio), define el cociente entre el valor esperado
para la intensidad del pico de correlación en el
origen y la varianza del mismo, suponiendo objetos
centrados. Este parámetro de calidad se puede
utilizar para controlar falsas detecciones, las cuales
son factibles cuando la correlación presenta
fluctuaciones por efecto de la presencia de ruido en
la escena de entrada; en otras palabras, este criterio
es una medida de la tolerancia del correlador al
ruido. Un filtro ideal se caracteriza por una SNR→
∞.
2.1 Teorema de correlación generalizado
La correlación, entre las funciones f y g, en su
forma general se define de la siguiente manera:
{ ] { ] ] {
*
) , ( ) , (
o o
r
o o
q p r q, p,
y x f F y x g F F y) (x, C ⋅ ·
(21) .
donde p, q y r son los órdenes de la transformación
de Fourier. Cuando C
-1,1,1
(x,y), este es el caso que
corresponde a la correlación clásica. La Ec.(21) es
una función de correlación si y solo si la operación
satisface el criterio de Sharpness:
0
2
tan
1
2
tan
1
2
tan
1
·

,
_

¸
¸ π

,
_

¸
¸ π
+

,
_

¸
¸ π
r q p
. (22)
Cuando el criterio de Sharpness no se cumple, la
consecuencia es la distorsión del pico de
correlación; en este caso, un factor de fase
cuadrático aparece, siendo este el responsable de tal
distorsión.
Por otro lado, se debe anotar, que a diferencia de la
correlación clásica, la correlación fraccional es
variante a la traslación del objetivo, esto ocurre
para C
p,q,r
(x,y) ≠ C
-1,1,1
(x,y). Esta propiedad de la
correlación fraccional, resulta atractiva para su
aplicación dentro de un sistema de control de
posicionamiento de una pieza o herramienta. Un
correlador fraccional es un instrumento que
permite, en paralelo, discriminar objetos en una
escena y detectar la posición de los mismos con
diferente grado de sensibilidad.
El primer correlador óptico fue construido por
VanderLugt (VLC), también conocido como
correlador 4f; los resultados se publicaron en el año
Objetivo Escena Correlación
1964. Dos años después, Tejedor y Goodman
propusieron otra arquitectura óptica para calcular
operaciones de correlación, el arreglo se conoce
como JTC. Estas dos arquitecturas son la base de
las diferentes configuraciones de correladores
ópticos. Por otro lado, un correlador requiere del
uso de soportes para almacenar imágenes; en sus
inicios la emulsión fotográfica era el medio de
almacenamiento disponible, así la operatividad del
correlador óptico estaba limitada a funcionar en
tiempo diferido.
La óptica y la electrónica se acoplan a través de
moduladores espaciales de luz (moduladores de
cristal líquido, moduladores acusto-ópticos,
moduladores magneto-ópticos, espejos
deformables, moduladores electro-ópticos
fotorrefractivos, entre otros) y cámaras de video
CCD; esto representó un paso importante para el
desarrollo de correladores ópticos flexibles a las
condiciones impuestas por la aplicación. Así, las
ventajas de las técnicas ópticas (rapidez y
capacidad de procesamiento en paralelo) y la
versatilidad de los métodos digitales permiten
realizar procesos de correlación en tiempo real.
La discusión presentada en los anteriores
parágrafos permite afirmar, que la información
óptica codificada en un medio fotorrefractivo se
puede almacenar de forma temporal ó permanente;
que mediante la técnica holográfica basada en la
mezcla de cuatro ondas, se puede registrar la
amplitud compleja de una onda en un medio
fotorrefractivo y que la lectura o borrado de la
información almacenada en tal medio es posible.
En este sentido, los materiales fotorrefractivos se
pueden usar para sintetizar filtros espaciales para el
reconocimiento de patrones mediante un arreglo
óptico. Antes de abordar la discusión relativa a la
correlación óptica, usando materiales
fotorrefractivos, es importante dar un vistazo a los
arreglos clásicos VLC y JTC; la diferencia
fundamental de estos arreglos y los correladores
basados en medios fotorrefractivos, es el medio de
soporte del filtro espacial; en tales casos, el filtro se
sintetiza en medios no activos, por ejemplo, en
emulsión fotográfica ó en moduladores espaciales
de cristal líquido previa composición digital del
mismo.
2.2 Arquitectura clásica no fotorrefractiva VLC
Consiste en la síntesis de un filtro complejo -filtro
adaptado-, ubicado sobre el plano espectral de un
procesador 4f, constituye lo que hoy se conoce
como correlador de Vander Lugt. La Fig.5 es el
arreglo de un procesador 4f; una onda plana
monocromática ilumina el plano (x
o
,y
o
), el cual
contiene la escena a filtrar, compuesta por las letras
“Q, R, R”. Sobre el plano espectral (u,v) se ubica
el filtro y en el plano (x,y) se observa la
correlación. Las lentes L1 y L2 son lentes positivas
de longitud focal f; la primera lente permite
obtener la transformada de Fourier de la escena de
entrada sobre el plano espectral y la segunda lente
genera la transformación de Fourier, sobre el plano
(x,y), de la distribución de amplitud que emerge del
filtro, así el resultado de este filtrado es la
correlación entre la escena de referencia y la escena
de entrada.
El filtro adaptado es un registro holográfico de la
distribución espectral del objetivo, el soporte físico
de este holograma es un medio de alta resolución,
el cual puede ser emulsión fotográfica o un
modulador espacial. Una desventaja del arreglo 4f
es el posicionamiento del filtro, acción que está
sujeta a una fina precisión en la ubicación del
mismo; este es un problema particular del filtro
registrado en emulsión de haluros de plata, en cuyo
caso el medio de registro se debe remover una vez
que ha sido expuesto, para efectuar el proceso de
revelado del mismo; aun si el revelado se hace “in-
situ”, estos medios no pueden competir con los
materiales fotorrefractivos si tenemos en cuenta que
los medios fotorrefractivos permiten la
actualización del filtro y no requieren del
procedimiento de revelado utilizado sobre las
placas de haluros de plata.
Figura 5. Arreglo VLC. L1 y L2 son lentes de
longitud focal +f. La iluminación es una onda plana
monocromática. (x
o
,y
o
) es el plano de entrada, (u,v)
es el plano de Fourier y (x,y) es el plano de
correlación.
2.3 Arquitectura no fotorrefractiva J TC
Para un mejor entendimiento del funcionamiento
del correlador, es conveniente describirlo en dos
pasos, tal como se muestra en la Fig.6.. Obsérvese
en la Fig.6.a), que el objetivo y la referencia están
sobre el mismo plano de entrada, de tal forma que
sus respectivas transformadas de Fourier se
superponen sobre el medio de registro.
2.3.1 Registro del filtro
Sobre el plano focal de la lente L positiva, se
obtiene la interferencia entre el espectro de Fourier
del objetivo y el espectro de Fourier de la
referencia; según la Fig.6.a), tanto el objetivo
como la referencia es la letra “R”. Un detector
cuadrático, ubicado a nivel del plano espectral
(u,v), almacena la distribución de intensidad de
este plano, así el filtro es sintetizado físicamente en
dicho dispositivo.
a). Registro del filtro.
b). Lectura del filtro.
Figura 6. JTC. L lente de focal +f; DEC densidad
espectral conjunta; PC es el plano de correlación.
2.3.2 Lectura del filtro
Esta es la etapa de filtrado en la cual se obtiene la
correlación. Observando la Fig.6.b), el filtro es
iluminado por una onda plana monocromática, esta
radiación se difracta en el filtro y a través de la
lente L se genera su transformada de Fourier sobre
el plano (x,y); el resultado sobre este plano es la
generación de un pico de energía DC centrado con
respecto a dos picos de menor energía, los cuales
corresponden a los términos de correlación cruzada
R R⊗ y R R ⊗ − .
2.4 Correladores clásicos fotorrefractivos
En este caso, la función de transferencia de un filtro
espacial registrado en un medio fotorrefractivo, es
un holograma de volumen; entonces la función de
transferencia del filtro se puede expresar de la
siguiente forma:

,
_

¸
¸
θ ⋅ λ
⋅ ∆ ⋅ π
⋅ − ≈
R R
d n
i H
cos
exp
, (23)
2.4.1 Arquitectura PVLC
Por simplicidad, el funcionamiento de este arreglo
de correlación se discute en dos etapas; la primera
corresponde a la fase de registro del filtro, la cual
esquematiza la Fig.7.a), y la segunda es la etapa de
filtrado u obtención de la correlación según la
Fig.7.b). Este correlador está constituido por un
cristal fotorrefractivo ubicado a nivel del plano
espectral (X,Y), dos lentes convergentes L1 y L2
de longitud focal f, el objeto de referencia
) , ( y x r ′ ′ y el objeto a filtrar o reconocer
) , ( y x o ′ ′ ′ ′ . En la Fig.7.a) la distancia cristal-objeto
de referencia es 2f y el arreglo de la Fig.7.b) es un
4f.
2.4.1.1 Construcción del filtro
Según la Fig.7.a)., un holograma de Fourier del
objeto de referencia se almacena en el cristal
fotorrefractivo. En este proceso, por una parte, una
onda plana monocromática ilumina el objeto
referencia, de transmitancia ) , ( y x r ′ ′ ; luego sobre
el plano focal de la lente L1, el cual coincide con el
plano del cristal, se produce la distribución
espectral de Fourier de dicho objeto, campo que se
puede simbolizar de la siguiente forma:
{ ] , ) j [
z x r
k Z k X i y x r F ⋅ + ⋅ − ⋅ ⋅ ′ ′ ≅ Ψ exp ) , (
1
, (24)
donde
x
k y
z
k
son las componentes del vector de
onda
) , 0 , (
z x r
k k k − ·
r
en el interior del material.
Por otro lado, el campo
r
Ψ interfiere con la onda
plana
p
Ψ
, cuyo vector de onda es
) , 0 , (
z x p
k k k ·
r
;
por simplicidad, se considera una onda plana de
amplitud unidad, es decir:
, ) j [
z x p
k Z k X i ⋅ + ⋅ ⋅ · Ψ exp
. (25)
a). Construcción del filtro.
b). Etapa de filtrado
Figura 7. Arreglo PVLC. DH es un divisor de haz;
CD es un cubo divisor de haz; CCD es una cámara
de video; M1 y M2 son espejos; L1 y L2 son lentes
positivas de igual longitud focal. El filtro es un
cristal fotorrefractivo sobre el cual, en paso a),
quedó registrado el holograma del objeto de
referencia (r); o es el objeto de prueba.
El cristal es sensible a la intensidad del patrón de
interferencia generado por las ondas
r
Ψ y
p
Ψ
, esta
distribución de intensidad foto-induce una red de
índices proporcional a dicho patrón, vía efecto
electro-óptico de primer orden. De esta forma, la
función de transferencia óptica del filtro de
correlación H(X,Y) queda sintetizado como un
holograma de volumen de solo fase. Si se asume
una baja eficiencia de difracción del filtro,
entonces, de la Ec.(23), se puede considerar la
siguiente expresión:
*
cos
r p r p
R R
d n
H Ψ + Ψ ⋅ Ψ + Ψ ∝
θ ⋅ λ
⋅ ∆ ⋅ π

. (26)
2.4.1.2 Etapa de filtrado
De acuerdo con la Fig.7.b), el campo difractado del
objeto ) , ( y x o ′ ′ ′ ′ y generado sobre el plano focal
de la lente L2,
{ ] , ) j [
z x o
k Z k X i y x o F ⋅ − ⋅ − ⋅ ⋅ ′ ′ ′ ′ ≅ Ψ exp ) , (
1
, (27)
se difracta en el volumen del filtro H(X,Y)
(difracción que satisface la condición de Bragg);
la amplitud compleja de esta difracción se
materializa en la siguiente expresión:
{ ] , ) j [
z x d
k Z k X i y x o F Y X H ⋅ − ⋅ − ⋅ ⋅ ′ ′ ′ ′ ⋅ · Ψ exp ) , ( ) , (
1
. (28)
Si se tiene en cuenta la Ec.(26), entonces el campo
de la Ec.(28) toma la siguiente forma:
j [ { ] , ) j [
, )
{ ] { ] , ) j [
, )
{ ] { ] , ) j [
¹
¹
¹
¹
¹
;
¹
¹
¹
¹
¹
¹
'
¹
⋅ − ⋅ − ⋅ ⋅ ′ ′ ′ ′ ⋅ ′ ′ +
+ ⋅ − ⋅ ⋅ ⋅ ′ ′ ′ ′ ⋅ ′ ′ +
+ ⋅ − ⋅ − ⋅ ⋅ ′ ′ ′ ′ ⋅ Ψ + Ψ
∝ Ψ
z x
z x
z x r p
d
k Z k X i y x o F y x r F
k Z k X i y x o F y x r F
k Z k X i y x o F
3 exp ) , ( ) , (
exp ) , ( ) , (
exp ) , (
1 1
1 * 1
1
2 2
; (29)
entonces el resultado es la generación de tres haces,
claramente determinados por los tres términos de la
Ec.(29); la interpretación física de estos términos
es la siguiente:
a) Primer término = Haz transmitido, con vector
de onda
p o
k k
r r
− ·
.
b) Segundo término = Armónico de difracción,
con vector de onda
r
k k
r r
− ·
+
.
c) Tercer término = Armónico de difracción,
con vector de onda
) , 0 , 3 (
z x
k k k − − ·

r
.
Si cada haz se observa en el plano focal de una
lente convergente, en su orden, el resultado será: la
imagen del objeto de transmitancia ) , ( y x o ′ ′ ′ ′ , la
correlación ) , ( ) , ( y x r y x o ⊗ y la convolución
) , ( ) , ( y x r y x o ∗ , respectivamente. De acuerdo
con la discusión previa sobre la difracción de
hologramas de volumen, el armónico

k
r
no se
observará, para la dirección de lectura mostrada en
la Fig.7.b) ; esto implica que para observar la
convolución, es necesario orientar el haz de lectura
de tal forma que
r o
k k
r r
− ·
, en tal situación el
armónico
+
k
r
no se genera. Finalmente, eligiendo
el segundo término de la Ec.(29) y aplicado el
operador transformador de Fourier de orden p = –1,
que de acuerdo con el esquema de lectura se
obtiene a través de la lente L1, se obtiene entonces
la función de correlación:
j [ ) , ( ) , ( ) , ( ) , ( y x y x r y x o y x C δ ∗ ⊗ ≈ . (30)
2.4.2 Arquitectura PJ TC
La formulación matemática de las configuraciones
PVLC y PJTC tienen bases similares, ellas difieren
en la velocidad de respuesta. En el PVLC, la
escena en el haz de lectura puede renovarse
rápidamente debido a que este haz no “interviene”
en la formación del filtro. La Fig.8 muestra un
arreglo PJTC; en este caso, la síntesis del filtro
depende tanto del objeto de referencia como del
objeto a identificar. Lo anterior implica, que el
tiempo de respuesta del correlador estará
condicionado por el tiempo de respuesta del
material; el tiempo de respuesta de los materiales
fotorrefractivos del grupo silenitas es del orden de
10ms.
2.4.2.1 Construcción del filtro
Las escenas ) , ( y x o ′ ′ ′ ′ y ) , ( y x r ′ ′ son iluminadas
por dos ondas planas monocromáticas. En la
Fig.8.a), a través de las lentes L1 y L2, las
transformadas de Fourier
{ ] ) , (
1
y x r F ′ ′ y
{ ] ) , (
1
y x o F ′ ′ ′ ′ interfieren en el volumen del cristal, de
tal forma que la distribución de amplitud compleja
sobre el material fotorrefractivo es,
{ ] , ) j [ { ] , ) j [
z x z x o r
k Z k X i r F k Z k X i o F ⋅ + ⋅ − ⋅ ⋅ + ⋅ + ⋅ ⋅ ⋅ ≅ Ψ exp exp
1 1
,
;
(31)
la intensidad de esta distribución de amplitud,
genera un holograma de volumen; en otras
palabras, la función de transferencia óptica del
filtro se materializó en el cristal. Este holograma
también se ajusta a la Ec.(26), entonces H(X,Y)
toma la siguiente forma,
{ ] { ] { ] { ] , ) j [
{ ] { ] , ) j [
¹
¹
¹
;
¹
¹
¹
¹
'
¹
⋅ − ⋅ ⋅ ⋅ +
+ ⋅ ⋅ ⋅ ⋅ +
1
]
1

¸

+


x
x
k X i o F r F
k X i o F r F r F o F
Y X H
2 exp
2 exp
) , (
1 1
1 * 1
2
1
2
1
.
(32)
2.4.2.2 Etapa de lectura
Siguiendo la Fig.8.b), la onda plana -
p
Ψ
- de
amplitud unidad y con vector de propagación
o p
k k
r r
− ·
se difracta del filtro; entonces la
distribución de amplitud emergente tiene la
siguiente forma,
, ) j [
{ ] { ] , ) j [
{ ] { ] , ) j [
¹
¹
¹
¹
¹
¹
¹
;
¹
¹
¹
¹
¹
¹
¹
¹
'
¹
⋅ − ⋅ − ⋅ ⋅ ⋅ +
+ ⋅ − ⋅ ⋅ ⋅ ⋅ +
+ ⋅ − ⋅ − ⋅ ⋅
1
]
1

¸

Ψ + Ψ
∝ Ψ

z x
z x
z x r p
d
k Z k X i o F r F
k Z k X i o F r F
k Z k X i
3 exp
exp
exp
1 1
1 * 1
2
2
; (33)
este resultado muestra la generación de tres haces,
un haz transmitido DC y dos órdenes de difracción,
+
k
r
y

k
r
. De la discusión sobre el PVLC podemos
inferir, que para la configuración mostrada en la
Fig.8.b), el segundo término de la Ec.(33) en la
práctica no se genera.
a). Construcción del filtro.
b). Etapa de filtrado
Figura 8. Arreglo PJTC. DH es un divisor de haz;
CD es un cubo divisor de haz; CCD es una cámara
de video; M1 y M2 son espejos; L1 y L2 son lentes
positivas de igual longitud focal.
Por otro lado, la onda
, )
z x
k k k − ·
+
, 0 ,
r
se transforma
a través de la lente L1 y sobre su plano focal se
observará el término de correlación
) , ( ) , ( y x r y x o ⊗ . Un resultado similar se obtendrá
si el haz de lectura
p
Ψ se propaga en la dirección
r p
k k
r r
− ·
. Es importante resaltar, que en un PJTC
la detección de la señal de correlación está
favorecida por una alta relación Señal/Ruido; ello
es la consecuencia de la ausencia del orden DC
sobre el plano de salida (x,y). En un JTC son
necesarios procedimientos adicionales para filtrar
del plano de salida el término de fondo continuo.
2.5 Resultados de la implementación óptica de
correladores fotorrefractivos
La siguiente discusión es sobre los resultados de la
implementación óptica de correladores
fotorrefractivos está basada en la transformada de
Fourier Fraccionaria ( FRFT) óptica. Se presentan
los resultados de la implementación de dos PVLC
fraccionarios; en uno de ellos la FRFT se obtiene
mediante el arreglo óptico denominado de
Lohmann Tipo II modificado ó Fake Zoom Lens
(FZL), mediante este arreglo se estudió la
influencia del espesor del cristal fotorrefractivo
sobre la varianza espacial del correlador; en el
segundo arreglo PVLC fraccionario, la FRFT se
obtiene por propagación libre.
Finalmente se presentan los resultados de la
implementación de un PJTC fraccional; este
correlador está basado en el arreglo Tipo I de
Lohmann para obtener la FRFT, y se estudia el
comportamiento de la varianza del correlador a la
rotación del objeto de prueba, versus el orden
fraccional del filtro. Se concluye la discusión con la
presentación de los resultados de la implementación
de un correlador basado en el efecto Talbot.
2.5.1 Correlador basado en la FRFT obtenida
mediante un FZL
A continuación, se muestran los resultados de la
implementación de un correlador fotorrefractivo,
cuya sensibilidad a las traslaciones del objeto de
prueba se debe a la propiedad de varianza espacial
de la correlación fraccionaria y/o al espesor del
cristal utilizado en la síntesis del filtro. En esta
aplicación, se tiene en cuenta el arreglo óptico FZL,
propuestos por Lohmann, para obtener la FRFT; a
diferencia del tipo I y II, el arreglo FZL permite
obtener una serie fraccionaria de la función de
entrada, sin necesidad de cambiar las lentes para
cada orden fraccionario, a razón de conservar
constante el parámetro de escala Q sobre toda la
serie. En la Fig.9 se muestra el arreglo FZL, donde
la amplitud de la iluminación sobre la transparencia
u(x
o
) es uniforme. La focal efectiva del arreglo se
modifica ajustando, convenientemente, las
distancias d y D; es decir, que a cada focal efectiva
del arreglo, corresponde una FRFT dentro del
intervalo fraccionario [-1,1], y donde las FRFT
tienen en común el mismo factor de escala Q. Las
distancias de propagación d, D y la focal efectiva f
e
del arreglo óptico vienen definidas por la siguiente
expresión
[36]
:
¹
;
¹
¹
'
¹

,
_

¸
¸ π
+ ·
4
tan 1 p f d
o
;
¹
;
¹
¹
'
¹

,
_

¸
¸ π
+ ·
2
sin 2 p f D
o
;

,
_

¸
¸ π
·
2
sin p
o
f
e
f
(34)
Figura 9. Arreglo FRFT Fake Zoom Lens. fo es la
longitud focal de la lente; u(x
o
) es la transparencia;
u
p
(x) es la FRFT de orden p de u(x
o
).
La Fig.10 esquematiza el funcionamiento del
correlador implementado, cada lente identificada
con f
e
representa un FZL; el correlador
representado por el diagrama de flujo, corresponde
a un PVLC fraccionario. Las funciones de entrada
h(x
q
) y g(x
q
) representan el objeto de referencia y el
objeto de prueba, respectivamente; igualmente,
, ) { ]
r
r
x h F
y
, ) { ]
q
q
x g F
sus correspondientes FRFT de
orden r y q. Para conservar la escala relativa entre
las transformadas de h y g es necesario establecer
q=r, consecuentemente, se debe establecer p=-1
para que la condición de correlación, dada por la
Ec.(22), se cumpla.
Figura 10. Diagrama de flujo de funcionamiento del
PVLC fraccional.
La Fig.11 muestra el esquema del arreglo del
correlador óptico implementado. En un cristal
fotorrefractivo de BSO se almacena el patrón de
interferencia debido a la superposición del haz de
referencia y la FRFT de orden r, de la transparencia
ubicada sobre el plano objeto; la FRFT de esta
transparencia sobre el plano del cristal, se produce a
través del arreglo óptico FZL; arreglo constituido
por las lentes L1 y L2 de distancias focales +10cm;
de esta forma se sintetiza el filtro en el BSO. Se
estableció un tiempo de registro de 2min y tiempos
de exposición en la lectura de 700ms. Por sencillez
técnica operacional del correlador, el objeto de
prueba es la transparencia utilizada para la síntesis
del filtro; la transparencia es binaria y contiene la
letra E (tipo “arial”) de tamaño 2mmx1mm, y se
dispuso sobre un sistema de desplazamiento
micrométrico. Posterior al registro del filtro se
cierra la ventana de bloqueo VB y a través de la
lente L3 (f=+20cm), se produce sobre el plano de la
cámara CCD la distribución de intensidad de la
correlación fraccionaria, entre el objeto de prueba y
el objeto de referencia; el objeto de prueba se
desplazó en la dirección del eje y
o
.
Figura 11. Vista superior del arreglo experimental.
E: espejo; VB: ventana de bloqueo del haz de
referencia; BS: cubo divisor de haz. L1 y L2:
lentes de longitud focal +10cm; L3: lente de
longitud focal f=+20cm.
La Tab.1 contiene los valores de los parámetros d y
D, utilizados para la obtención de los resultados de
las Figs.12-13, la incertidumbre indicada en estos
valores se refiere al error en la ubicación de los
elementos por corte de la componente decimal, de
cada valor calculado.
Tabla 1. Valores utilizados en la valoración
experimental del correlador
La fuente de iluminación es un láser de Ar
+
,
sintonizado en la longitud de onda de 514 nm y
potencia nominal de 55 mW; la distribución de
amplitud del haz de referencia y del haz objeto
sobre la transparencia es uniforme y el ángulo entre
estos haces es de 16º, aproximadamente. Por otro
lado, en este estudio se utilizaron tres cristales de
BSO, cuyos espesores L
z
son 1mm, 3mm y 6mm, y
la cara del cristal paralela al plano (X,Y) es
cuadrada (dimensiones: 10mmx10mm); la
configuración cristalográfica es , ) 110 ,
, ) 0 1 1
y
, ) 001
; la cara , ) 110 se orientó paralelamente al
plano (X,Y), y para mejorar la eficiencia de
difracción se aplicó un voltaje de 7kV,
perpendicular a la cara
, ) 0 1 1
.
Los resultados muestran, por un lado que la
sensibilidad del correlador a la traslación aumenta
.q=r d[cm] D[cm]
1.0 20.0t0.00 30.0t0.00
0.9 18.5t0.04 29.8t0.07
0.8 17.2t0.06 29.5t0.01
0.7 16.1t0.02 28.9t0.01
0.6 15.0t0.09 28.0t0.09
en la medida que se disminuye el orden fraccional,
y por el otro, que existe una dependencia
importante a tal sensibilidad, debido al espesor del
cristal utilizado. Obsérvese en cada resultado de las
Figs.12-13, exhiben sensibilidad diferente bajo el
mismo orden fraccional, resultado que no es el
esperado según las propiedades de la correlación
fraccional, y es en este sentido que la conclusión
apunta a tener en cuenta una sensibilidad adicional
debida al espesor del filtro.
a). b).
c).
Figura 12. Intensidad normalizada del pico de
correlación versus el desplazamiento vertical del
objeto de prueba para tres cristales BSO de
espesores: a) 1mm, b) 3mm y c) 6mm.
a). b).
Figura 13. Comparación de la sensibilidad del
correlador a la traslación del objetivo, entre los
cristales de menor y mayor espesor, y los ordenes
fraccionales: En a) q=1.0, se observa un
apantallamiento relativo al espesor del cristal,
aproximado, del 20% y en b) q=0.6, se produce un
apantallamiento relativo al espesor del cristal,
aproximado, del 5% .
2.5.2 Correlador basado en la FRFT por
propagación libre
Esta implementación es una aplicación del modelo
de propagación libre para la obtención óptica de la
FRFT. Igual que en el caso anterior, está
implementación es un PVLC fraccional, pero la
FRFT se obtiene mediante el uso del arreglo de la
Fig.14. Se utilizó las Ecs.(35) para calcular el radio
de curvatura R
q
de la onda esférica que ilumina el
plano objeto y el parámetro Z
q
, respectivamente, en
la Tab.2 se muestran los valores utilizados en el
experimento.
Figura 14. Arreglo para obtener la FRFT sin lentes
2 / tan ϕ
·
Q
R
q
; ϕ ⋅ · Q z
q
sin ; 2 / π · ϕ q (35)
La Fig.15 es el esquema del correlador
implementado; la lente L1, de longitud focal
+100cm, tiene la función de emisor esférico para el
plano objeto; se eligió un parámetro Q=40cm para
los tres ordenes fraccionales de prueba. La forma de
ejecutar una secuencia de correlaciones versus
traslación por cada orden fraccional, es similar al
procedimiento descrito para funcionar el correlador
anterior. Se utilizó un cristal de BSO, de espesor
Lz=4.73 mm y corte cristalográfico , ) 110 ,
, ) 10 1
y
, ) 100 . Adicionalmente, el cristal se perturbó
mediante un campo eléctrico externo Eo=0.743
kV/mm; el campo se aplicó perpendicular al plano
, ) 110 y la luz incide sobre la cara
, ) 10 1
.
Figura 15. Vista superior del arreglo experimental.
E:espejo; VB: ventana de bloqueo del haz de
referencia; BS: cubo divisor de haz. L1: lente de
longitud focal +100cm; L2: lente de longitud focal
f=+30cm.
Tabla 2. Valores utilizados en la valoración
experimental del correlador de la Fig.15
.
q=r Z
q
[cm] R
q
[cm]
1.0 40.0t0.00 40.0t0.00
0.9 39.5t0.01 46.8t0.03
0.8 38.0t0.04 55.0t0.05
La fuente óptica del correlador es un láser de He-
Ne de emisión en la longitud de onda 543 nm, y
una potencia de salida de 4 mW. El haz que incide
sobre el divisor de haz BS, fue convenientemente
expandido y colimado; el haz objeto y el haz de
referencia forman un ángulo de 16º entre sí. La
transparencia, ubicada sobre el plano (x
o
,y
o
),
contiene la letra E (“arial”), de tamaño 2mmx1mm.
La lente L2, de distancia focal +30 cm, permite
obtener una FRFT de orden –1, sobre el plano de la
CCD. Los resultados de esta implementación se
muestran en la Fig.16; se representa en forma
gráfica el valor del pico de correlación versus el
desplazamiento del objeto de prueba, para tres
ordenes fraccionales. En general, tanto éste
correlador como el basado en el FZL para obtener
la FRFT, exhiben varianza espacial. Mas que dar un
juicio comparativo, sobre las diferencias relativas a
la sensibilidad a la traslación exhibida por cada uno
de estos dos arreglos (se recuerda que en cada caso
los cristales utilizados son de diferente espesor) es
importante resaltar, que desde el punto de vista de
construcción y funcionamiento, el caso de
propagación libre ofrece mayor flexibilidad tanto
en el alineamiento del sistema holográfico como en
el funcionamiento del correlador mismo. En este
caso, cambiar de orden fraccional, con lo que se
modifica la sensibilidad a la traslación, tan solo
requiere mover el plano objeto y el cristal ó el
plano objeto y la lente; por razones obvias mover el
cristal no es un procedimiento recomendable.
Figura 16. Intensidad del pico de correlación versus
desplazamiento vertical del objeto de prueba.
Desviación estándar: ¢ 0.06; o 0.04; l 0.03.
2.5.3 Correlador PJ TC fraccional
La implementación de este correlador es una
aplicación del arreglo Tipo I propuesto por
Lohmann; la valoración del correlador se centró en
el estudio de la varianza a la rotación versus el
orden fraccional de las dos transformadas de
Fourier que componen el filtro conjunto. Este es un
correlador basado en el mezclado de cuatro ondas
degenerado, disposición que permite el procesado
de la señal de entrada en tiempo casi real; el tiempo
de respuesta del correlador, por cada correlación,
depende del tiempo de formación del filtro
conjunto, tiempo que se puede manipular mediante
el campo aplicado y mediante la intensidad de los
haces de registro.
La Fig.17 muestra el esquema del arreglo
experimental; el láser y el cristal fotorrefractivo,
utilizados en esta implementación, son los que se
utilizaron en la implementación del PVLC de la
Fig.15. Los objetos R y O utilizados son aviones
binarios, el tamaño de cada avión es de
0.8x0.8mm
2
; la transparencia O se dispuso sobre
un sistema de rotación controlado, de precisión
0.001º. Sobre el plano del cristal BSO, se forma y
registra el patrón de interferencia debido a la
superposición de las FRFT de las transparencias R
y O; paralelamente al proceso de registro de este
patrón de interferencia, sobre la cámara CCD, se
produce la distribución de intensidad de la
correlación entre los objetos R y O, a través de la
lente L3 (distancia focal +30cm); la lente está
dispuesta para obtener, sobre el plano de la CCD,
una FRFT de orden uno del haz difractado del
BSO; el haz de lectura es el reflejado del espejo E2,
el cual está orientado en contra propagación del haz
R.
Figura 17. Arreglo experimental. LD: lámina
divisora de haz; E1-E3: espejos; R: Objeto de
referencia; O: objeto de prueba. L1 y L2 son lentes
de longitud focal +38cm; L3: lente de longitud focal
+30cm.
El ángulo entre los haces R y O fue
aproximadamente de 8º; para mantener igual
condición de desenfoque de la FRFT de R y O, el
cristal se orientó de tal forma que estos dos haces
tengan igual ángulo de incidencia sobre el plano del
BSO. Las distancias Z
q
=Z
r
se calcularon mediante
las Ecs.(36); las distancias entre L1y BSO, y L2 y
BSO son iguales a Z
q
=Z
r
. La longitud focal de las
lentes L1 y L2 son +38cm. Por otro parte, se aplicó
al BSO un voltaje de 7kV perpendicular al plano
, ) 110 .

,
_

¸
¸ π
·
2
sin p
Q
f
,

,
_

¸
¸ π
⋅ ·
4
tan p Q z
p
(36)
La Fig.18 muestra los resultados obtenidos en la
valoración del correlador; esta implementación ha
permitido demostrar que la varianza a la rotación de
la correlación no tiene un comportamiento único,
por el contrario, bajo el dominio de la FRFT la
correlación posee diferentes niveles de tolerancia a
la rotación; el nivel de tolerancia a la rotación se
reduce a medida que los ordenes fraccionales r=q
disminuyen. En este sentido, el correlador se puede
acondicionar con diferentes niveles de sensibilidad.
Figura 18. Intensidad normalizada del pico de
correlación versus rotación del objeto de prueba.
2.5.4 Correlador basado en el efecto Talbot
La formación de auto-imágenes o réplicas de un
objeto iluminado con luz coherente se conoce como
efecto Talbot. Todo objeto con frecuencias
espaciales discretas y localizadas sobre los
llamados anillos de Montgomery, permite la
generación del efecto Talbot. Las redes de Ronchi
son un ejemplo de este tipo de estructuras
periódicas. Lord Rayleigh demostró la periodicidad
longitudinal del campo difractado por la red y
obtuvo la expresión analítica para la separación
entre las auto-imágenes sucesivas de una red 1-D;
la distancia a la cual se produce una auto-imagen
depende de la longitud de onda de la radiación y de
la forma del frente de onda que ilumina el objeto de
Montgomery. Por ejemplo, la distancia a la cual se
producen auto imágenes de una red de Ronchi, de
periodo espacial d, iluminada con una onda plana
monocromática de longitud de onda λ es:
T
Z
d
Z ⋅ α ·
λ
⋅ α ·
α
2
2
α=1, 2, 3, ...; (37)
siendo Z
α
la distancia de separación entre la red y
un plano de auto-imagen positiva; la auto-imagen
positiva se refiere a que la réplica está en contraste
directo con respecto a la red. Z
T
se conoce con el
nombre de distancia Talbot; esta distancia, es
aquella a la cual se presenta la primera auto-imagen
positiva o la distancia entre dos auto-imágenes
semejantes consecutivas. Auto-imágenes negativas
se generan a distancias determinadas por la
siguiente expresión:
2
T
Z
Z ⋅ α ·
α
α= impar; (38)
de las anteriores expresiones se deduce que entre
dos auto-imágenes positivas existe una negativa o
viceversa. Cuando la red se ilumina con una onda
esférica monocromática de radio R, entonces las
auto-imágenes son réplicas escaladas de la
transparencia. Las distancias a las cuales se
producen tales auto-imágenes vienen definidas por
la siguiente expresión:
T
Z R Z α
+ ·
α
1 1 1
α=1, 2, 3, ...; (39)
la primera auto-imagen positiva o negativa se
producen a
T
T
Z R
Z R
Z
+

·
+
y
T
T
Z R
Z R
Z
+

·

2
,
respectivamente. El cristal fotorefractivo Bi
12
SiO
20
(BSO) exhibe buena sensibilidad de registro de
auto-imágenes. En la Fig.19 se muestra el arreglo
de tal correlador; obsérvese, que ahora las auto-
imágenes son almacenadas en el cristal
fotorrefractivo como un holograma de volumen.
Las auto-imágenes son un caso particular de la
difracción de Fresnel; por lo tanto, el estudio
conceptual y fenomenológico del efecto Talbot se
puede abordar a partir de la FRFT. Si partimos del
caso particular, para obtener la FRFT, referido en la
Fig.14, entonces, el comportamiento longitudinal
del campo difractado de un objeto de Montgomery,
de periodo espacial d y transmitancia t(x
o
,y
o
),
iluminado con una onda esférica de curvatura R, se
concluye que, a la distancia Z
p
, la FRFT de orden p
de t(x
o
,y
o
) es:
, ) { ]
,
_

¸
¸
·
M
y
M
x
t y x t F
o o
o o
p
, ,
; (40)
en palabras, la FRFT de orden p de la transparencia
coincide con la auto-imagen escalada de la
transparencia; el escalamiento implica que el
periodo espacial de la auto-imagen, correspondiente
al orden p, sigue el comportamiento representado
por la siguiente expresión
[41]
:

,
_

¸
¸ π
·
2
cos p d dp
; (41)
donde el plano de la auto-imagen de orden p, dista
de la transparencia una distancia
λ
α
· ·
α
2
2
p
p
d
Z Z
.
El arreglo de la Fig.19 se utilizó para correlacionar
estructuras periódicas bidimensionales binarias, de
celda unidad cuadrada (0.12x0.12 mm
2
) y
separación entre celdas de ≈0.26 mm
2
; las
transparencias involucradas en el proceso de
correlación se iluminaron con un frente de onda
plano; la característica de la iluminación utilizada
en esta aplicación, implica que las auto-imágenes
son réplicas exactas de la transparencia de entrada,
en estas condiciones de iluminación, según la
Ec.(41), cada auto-imagen coincide con la FRFT de
orden q=0.
Constituyen el arreglo de la Fig.19, un láser de He-
Ne de longitud de onda 543nm; expandido y
colimado antes del divisor de haz (BS); el ángulo
entre el haz objeto y haz de referencia es θ
w
≈25º.
Sobre el plano objeto, se ubican la transparencia de
prueba en un sistema de tres grados de libertad
(traslaciones X
o
y X
o;
rotación sobre el eje Z), las
traslaciones y rotación son controladas con una
precisión de 20µm y 0.1º, respectivamente. El
cristal BSO y el plano objeto se separan una
distancia Z
α
=Z
T
. El cristal registra la distribución
de intensidad que produce la superposición del haz
de referencia y la auto-imagen de la transparencia
ubicada en el plano objeto. El cristal BSO, de
espesor Lz=4.73 mm y corte cristalográfico , ) 110 ,
, ) 10 1
y , ) 100 , se perturbó mediante un campo
eléctrico externo Eo=0.743 kV/mm; el campo se
aplicó perpendicular al plano , ) 110 y la luz incide
sobre la cara , ) 10 1
. La ejecución del correlador
sigue el mismo procedimiento descrito para los
casos anteriores, donde se inicia con la síntesis del
filtro; luego se cierra VB y se procede al registro de
la intensidad del plano de salida mediante la cámara
CCD.
Figura 19. Arreglo experimental del correlador
Talbot. L: lente de longitud focal +20 cm; E:
espejo; VB: ventana de bloqueo del haz de
referencia; BS: cubo divisor de haz. Láser He-Ne de
longitud de onda 543 nm.
Se ejecutaron pruebas de auto-correlación con el
objetivo en rotación sobre el eje Z; se presentan los
resultados en la Fig.20. Los armónicos generados
sobre el plano de salida, se dan como resultado del
registro holográfico de auto-imágenes en el
material fotorrefractivo. Una consecuencia de este
tipo de registro, es la transferencia de energía entre
los armónicos generados; ello solo se observó
cuando la transparencia utilizada para la lectura se
somete a ligeros desplazamientos o rotaciones, con
respecto a la posición del objeto utilizado en la
síntesis del filtro; las imágenes de la Fig.20
sustentan lo anterior. Por otro lado, se puede
observar que la dirección de transferencia de
energía se puede asociar al sentido del movimiento;
hecho que resulta de especial interés en el caso de
la rotación del objeto, de esta forma, este correlador
permite determinar el sentido de rotación del
objetivo.
El comportamiento energético de los armónicos,
resulta de especial interés en el control de
microposicionamiento; además, la sensibilidad del
correlador a los cambios de estado cinético de los
objetos sometidos a comparación, se puede ajustar
al requerimiento mediante el periodo espacial de la
estructura de los objetos que se correlacionan.
(0,0,-0.1º) (0,0,0) (0,0,0.1º)
a). Rotación sobre Z. (-): sentido antihorario.
b). Objeto de Montgomery utilizado.
Figura 20. Resultado experimental de la auto-
correlación del objeto d), usando el arreglo Talbot.
(X
o
,Y
o

z
)=(traslación en X
o
, traslación en Y
o
,
rotación sobre Z).
RECONOCIMIENTOS
Al Grupo de Óptica y Tratamiento de Señales de la
Universidad Industrial de Santander –
Bucaramanga – Colombia, y al Centro de
Investigaciones Ópticas – CIOp, La Plata -
Argentina, entidades en cuyos laboratorios se
obtuvieron los resultados experimentales que se
presentan en este artículo; a los Doctores Nestor
Bolognini, Myrian Tebaldi y María Del Carmen
Lasprilla, por sus invaluables aportes a esta
investigación; a COLCIENCIAS por el apoyo
financiero que permitió el desarrollo de la misma.
REFERENCIAS
Kukhtarev, N.; V. Markov, V.; Odulov, S. And Soskin, M.
Holographic storage in electrooptic crystals. I. steady state.
Ferroelectrics, Vol. 22, (1979), p. 949.
Moharam, M.; Gaylord, T.; Magnusson, R. And Young, L.
Holographic grating formation in photorefractive crystals with
arbitrary electron transport lengths. Vol. 50, (1979), p. 5642.
Mills, L. Nonlinear optics. New York: Springer-Verlag, 1998
Yeh, P. Introduction to photorefractive nonlinear optics. New
York: John Wiley & Sons, Inc., 1993.
Glass, M. The photorefractive effect. Opt. Eng., Vol. 17,
(1978), p. 470.
Nisenson, P. and SPRAGUE, R. Real-time optical correlation.
Appl. Opt., Vol. 14, (1975), p. 2602.
Weaver, C. And Goodman, J. A technique for optically
convolving two functions. Appl. Opt., Vol. 5, (1966), p. 1248.
Vander Lugt, A. Signal detection by complex spatial filtering.
IEEE transactions on Information, Vol. 10, (1964), p. 139
Pepper, D.; Auyeung, J. And Yariv, A. Spatial convolution and
correlation of optical field via degenerate four wave mixing.
Opt. Lett., Vol. 3, (1978), p. 7.
White, J., Yariv, A. Real-time image processing via four-wave
mixing in a photorefractive medium. Appl. Phys. Lett. Vol.
37, (1980), p. 5.
Pichon, L. And Huignard, J. Dynamic joint-Fourier-transform
correlator by Bragg diffraction in photorefractive Bi12SiO20
crystals. Opt. Comm., Vol. 36, (1981), p. 277.
Nicholson, M.; Cooper, I.; Mccall, M. And Petts, C. Simple
computational model of image correlation by four-wave
mixing in photorefractive media. Appl. Opt., Vol. 26, (1987),
p. 278.
Daniel, O.; et al. Photorefractive effect in the fourier plane,
opticals materials. Vol. 4, (1995), p. 294.
Khoury, J. ; Asimellis, G. Adn Woods, C. Incoherent-erasure
joint-transform correlator. Opt. Lett., Vol. 20, (1995), p.
2321.
Chang, C.; Yau, H.; Tong, Y. And Puh, N. Rotational invariant
pattern recognition with the method of circular harmonics
using a BaTiO3 crystal. Opt. Comm., Vol. 87, (1992), p. 219.
Rajbenbach, H.; et al. Compact photorefractive correlator for
robotic applications. Appl. Opt., Vol. 31, (1992), p. 5666.
Li, H.; Qiao, Y. And Psaltis, D. Optical network for real-time
pattern recognition. Appl. Opt., Vol.32, (1993), p. 5026.
Duncan, T. And Cheng, L. Real-time vander lugt optical
correlator that uses photorefractive GaAs. Appl. Opt., Vol. 31,
(1992), p. 5675.
Neifeld, M. And Psaltis, D. Programmable image associative
memory using an optical disk and a photorefractive crystal.
Appl. Opt., Vol. 32, (1993), p. 4398.
Lohmann, A. Image rotation, wigner rotation, and the fractional
Fourier transform. Opt. Soc. Am., Vol. 10, (1993), p. 2181.
Pellat-Finet, P. And Bonnet, G. Fractional order Fourier
transform and Fourier optics. Opt. Comm., Vol. 111, (1994),
p. 141.
Ozaktas, H.; Kutay, M. And Mendlovic, D. Introduction to the
fractional fourier transform and its applications. In: Series
Editor: Peter W. Hawkes, Advances in Imaging and Electron
Physics Academy Press, Vol. 106, (1999), p. 239.
Granieri, S.; Lasprilla, M.; Bolognini, N. and SICRE, E. Space-
variant optical correlator based on the fractional fourier
transform: implementation by the use of a photorefractive
Bi12GeO20 (BGO) holographic filter. Appl. Opt., Vol. 35,
(1996), p. 6951.
Rakuljic, G.; Leyva, V. And Yariv, A. Optical data storage by
using orthogonal wavelength-multiplexed volume holograms.
Opt. Lett., Vol. 17, (1992), p. 1471.
Feng, W; Yan, Y; Jin, G; Wu, M And He, Q. Invariant
performance of a volume holographic wavelet correlation
processor. Opt. Comm., Vol. 177, (2000), p. 141.
Zhang, H; Cartwrigt, C; Ding, M And Gillespie, A. Optical
implementation of a photorefractive joint correlator with
wavelet filters. Opt. Comm., Vol. 181, (2000), p. 223.
Namias, V. The fractional Fourier transform and its applications
in quantum mechanics. J. Inst. Math. Appl., Vol. 25, (1980),
p. 241.
Ozaktas, H. And Mendlovic, D. Fourier transform of fractional
order and their optical interpretation. Opt. Comm., Vol. 101,
(1993), p. 163.
Bernardo, L. And Soares, O. Fractional Fourier transforms and
optical systems. Opt. Comm. Vol. 110, (1994), p. 517.
Lohmann, A. A fake zoom lens for fractional fourier
experiments. Opt. Comm. Vol. 115, (1995), p. 437.
Goodman, J. Introduction to Fourier optics. New York:
McGraw-Hill, 1968.
Granieri, S.; Trabocchi, O. And Sicre, E. Fractional fourier
transform applied to spatial filtering in the fresnel domain.
Opt. Comm., Vol. 119, (1995), p. 275.
Zalevsky, Z.; Mendlovic, D. And Caulfield, J. Fractional
correlator with real-time control of the space-invariance
property. Appl. Opt., Vol. 36, (1997), p. 2370.
Inbar, H. And Maron, E. Matched, phase-only, or inverse
filtering with joint-transform correlators. Opt. Lett., Vol. 18, (
1993 ) , p. 19.
Kumar, B. Optical pattern recognition. In: Real-time optical
information processing, Academic Press. IEEE Control
Systems, Vol. 10, 1990.
Yeh P., And Gu C. Landmark papers on photorefractive
nonlinear optics. New Jersey: World Scientific, 1995.
Solymar, L.; Webb, D. And Grunnet-Jepsen, A. The physics
and applications of photorefractive materials. New York :
Oxford University Press Inc., 1996.
Stepanov, S. Applications of photorefractive crystals. Reports on
Progress in Physics, (1994), p. 39.
Huignard, J. And Marrakchi, A. Two-wave mixing and energy
transfer in Bi12SiO20 crystals: application to image
amplification and vibration analysis. Opt. Lett., Vol. 6,
(1981), p. 622.
Ja, Y. Real-time double-exposure holographic interferometry in
four-wave mixing with photorefractive Bi12GeO20 crystals.
Appl. Opt., Vol. 21, (1982), p. 3230.
Patorski, K., in: Wolf (Ed.), Progress in Optics XXVII, Elsevier,
Amsterdam, 1989.
Tebaldi, M.; Rueda, J. And Bolognini, N. Talbot interferometer
based on a birefringence grating. Opt. Comm., Vol. 185,
(2000), p. 65.
Rueda, J.; Salcedo, J. And Lasprilla, M. Photorefractive
cylindrical lens: application to the visible spectroscopy. 4
th
Iberoamerican Meeting on Optics and 7
th
Latin American
Meeting on Optics, Lasers, and Their Applications,
Proceedings of SPIE, Vol. 4419, (2001), p. 293.
Rueda, J.; Salazar, A. And Lasprilla, M. Optical implementation
of a photorefractive fractional joint transforms correlator. 4
th
Iberoamerican Meeting on Optics and 7
th
Latin American
Meeting on Optics, Lasers, and Their Applications,
Proceedings of SPIE, Vol. 4419, (2001), p. 5536.
Rueda, J.; Salazar, A. And Lasprilla, M. Holograms
multiplexing by using ronchi grating in photorefractive
materials. Opt. Comm. (Submitted-2004).
Pellat-Finet, P. Fresnel Difraction and The Fractional-Order
Fourier Transform. Opt. Lett., Vol. 19, (1994), p. 1388.
Salazar, A.; Rueda, J. Análisis numérico del acoplamiento
energético en materiales fotorrefractivos. Desarrollos
Recientes en Métodos Numéricos para Ingeniría y Ciencias
Aplicadas, Memorias del VI Congreso Internacional de
Métodos Numéricos en Ingeniería y Ciencias Aplicadas,
ISBN: 980-00-1851-0, (2002), p. VA-1
Tebaldi, M.; Rueda, J. And Bolognini, N. Talbot interferometer
based on a birefringence grating. Opt. Comm., Vol. 185,
(2000), p. 65.
Rueda J., Tebaldi M., Granieri S., And Bolognini N.,
“Implementation of a photorefractive correlator based on a
fake zoom lens”. Optik, International Journal for Light and
Electron Optics. Vol.113, No.7, (2002), p.p. 309-313.
Salazar A., And Rueda J., “Modification of the exchange of
energy in BSO at equal optimized coupling constant”. Opt.
Comm., Vol.212, (2002), pp.191-198
Salazar A., Rueda J., Y Lasprilla M., “La física de los órdenes
de difracción en cristales fotorrefractivos”. Rev. Col. Fís.,
Vol. 33, No.2, (2001), p.p 337-341.
Salazar A., Rueda J., Y Lasprilla M., “Efecto del campo externo
en la energía de los armónicos espaciales en materiales
fotorrefractivos”. Rev. Col. Fís., Vol. 34, No.1, (2002), p.p
183-186.
Rueda J., Salazar A., Y Lasprilla M., “Encriptación por
conjugación de fase en un BSO utilizando señales ópticas de
baja potencia”, Rev. Col. Fís., Vol. 34, No.2, (2002),
P.P.636-640.
Rueda J., Lasprilla M., Gualdron O., “Síntesis de filtros de fase
para correlación usando un medio fotorrefractivo BSO”. Rev.
Col. Fís., Vol. 34, No.2, (2002), P.P.641-644.
Rueda Parada, Jorge Enrique; R Salazar, Angel. Respuesta
Fotorrefractiva no lineal a un patrón de intensidad senoidal.
Revista Colombiana de Física, v. 36, n. 1, p. 109-112, 2004.
Rueda Parada, Jorge Enrique; R Salazar, Angel; Lasprilla
Alvarez, María Del C. Four wave mixing to speckle
interferometry in real time: Implementation. Revista
Colombiana de Física, v. 35, n. 1, p. 137-139, 2003.
Rueda, J.E.; Salazar, A., Lasprilla, M. Implementation of a
Photorefractive Talbot Correlator, “5
th
Iberoamerican Meeting
on Optics and 8
th
Latin American Meeting on Optics, Laser
and their applications”. Proceedings of SPIE, Vol.5622,
Octubre, (2004).