Universitatea Tehnic a Moldovei

OPTICA ONDULATORIE FIZICA ATOMULUI FIZICA CORPULUI SOLID

Îndrumar de laborator la fizic

Fig. 1.1

Chi in u
2001

Universitatea Tehnic a Moldovei
Catedra de Fizic

Optica ondulatorie Fizica atomului Fizica corpului solid Îndrumar de laborator la fizic

Chi in u
UTM

2001
1

Indrumarul de laborator este alc tuit în conformitate cu programa de studiu la fizic pentru Universitatea Tehnic . Fiecare lucrare se încheie cu întreb ri de control, care cuprind minimul de cuno tin e necesare pentru admiterea la efectuarea lucr rilor de laborator. Îndrumarul este destinat studen ilor tuturor specialit ilor din anul doi, sec ia de zi i sec ia f r frecven . Îndrumarul a fost rev zut i preg tit pentru editare de dr., conf. univ. P.Barde chi i lectorul superior V. Chistol Textul a fost cules la calculator de c tre L.Munteanu i V.Nicolaev.

Responsabili de edi ie: dr.conf. R. Radu, dr. conf. Barde chii Redactor responsabil: dr. conf. I. Stratan

P.

Recenzen i: dr. conf. V. Ambros, prof. E. Gheorghi

• U.T.M. 2001
2

1.1

1. INTERFEREN A LUMINII Interferen a undelor de lumin provenite de la dou surse.

Lumina reprezint o radia ie electromagnetic care se T T propag sub form de unde transversale (fig. 1.1). Vectorii E si H

Fig. 1.1

sunt intensit ile câmpului electric i respectiv magnetic. Viteza c , undelor de lumin într-un mediu este: v ! n unde c este viteza luminii în vid, n - indicele de refrac ie al mediului. Efectele fiziologice, fotochimice i alte efecte ale luminii sunt produse de varia iile vectorului electric, numit vector de lumin . De aceea, ra ionamentele ce urmeaz se vor referi numai la acest vector. Pentru undele luminoase este valabil principiul superpozi iei (suprapunerii). Deci, când într-un mediu omogen i izotrop se propag concomitent câteva unde, oscila iile oric rui punct al mediului reprezint suma vectorial a oscila iilor excitate de fiecare din undele ini iale.
3

Se nume te interferen a luminii fenomenul suprapunerii undelor coerente ce are ca efect redistribuirea în spa iu a fluxului luminos, având drept urmare formarea unor maxime i minime de intensitate a luminii. Prin coeren se în elege derularea coordonat în spa iu i timp a câtorva procese ondulatorii. Prin urmare sunt coerente undele care au aceea i frecven i o diferen de faz invariabil în decursul observa iilor. Aceast condi ie este satisf cut de undele monocromatice (unde de o singur S1 frecven ). l1,n1 S stabilim rezultatul suprapunerii într-un punct oarecare din spa iu P a dou unde monocromatice care S2 l2,n2 P se propag în aceea i Fig. 1.2 direc ie (fig1.2). Fie c undele sunt emise concomitent de dou surse punctiforme S1 i S 2 i au aceea i frecven [. Prima und excit în punctul P oscila ia: ¨ l ¸ x1 ! A1 cos © t  1 ¹ , iar a doua - oscila ia: © v1 ¹ º ª
¨ l ¸ c c , v2 ! , iar l1 i l 2 sunt x 2 ! A2 cos[ © t  2 ¹ , unde v1 ! ¹ © v2 º n1 n2 ª drumurile geometrice parcurse de unde pân la punctul P. Conform principiului superpozi iei, amplitudinea oscila iei rezultante în punctul P va fi dat de suma vectoriala a amplitudinilor oscila iilor componente: T T T (1.1) AP ! A1  A2 sau sub form scalar : 2 2 AP ! A12  A2  2 A1 A2 cos H , (1.2)

4

l1 ¸ ¨ l2 este diferen a de faz a oscila iilor © v v1 ¹ 2 ª º componente, care poate fi scris astfel: [ H ! l 2 ™ n 2  l1 ™ n1 . (1.3) c M rimea (1.4) ! l ™n este numit drumul optic al undei în mediul dat. inând seama c [ 2TY 2T ! ! P0 c c ( P 0 este lungimea de und în vid) expresia (1.3) poate fi scris sub forma: 2 H ! L2  L1 ! 2 ( , (1.5) P0 P0 unde (1.6) ( ! L2  L1 este diferen a de drum optic al undelor componente. Frecven a undelor de lumin este extrem de mare 15 ( } 10 Hz ), i de aceea ochiul omenesc înregistreaz un flux luminos mediu în timp, numit intensitatea luminii I. Într-un mediu omogen intensitatea este propor ional cu p tratul amplitudinii undei luminoase (I~A2). Conform rela iei (1.2), avem: I P ! I 1  I 2  2 I 1 I 2 cos H . (1.7) Cum se vede din (1.7), intensitatea luminii în punctul dat din spa iu este determinat de diferen a de faz H a oscila iilor care se compun, iar diferen a de faz , la rândul s u, este determinat de diferen a de drum optic (1.5) al undelor. În cazul undelor coerente cos H are o valoare constant în timp (determinat pentru fiecare punct din spa iu). În acele puncte ale mediului, pentru care diferen a de drum optic ( este un multiplu al lungimilor de und în

£

 

£

¡

unde

¢

5

vid, oscila iile excitate de ambele unde au aceea i faz i se intensific reciproc: (1.8) ( ! s m ™ P sau H ! 2 mT , unde m este ordinul maximului (m= 0,1,2«). Formula (1.8) reprezint condi ia de formare a unui maxim de interferen . Dac P ( ! s m  1 2 P0 ! s 2m  1 0 (1.9) 2 sau H ! s 2m  1 , T atunci apare un minim de interferen , m=0,1,2« fiind ordinul minimului. Dac drept surse coerente de lumin S1 i S2 (vezi fig. (1.3))
X E P

x

l1
S1 d S2
Fig.1.3

N

N (

l2
O

m=1 m=0 m=-1

1.3 servesc dou fante, atunci pe ecranul E situat la distan a l >>d de la surse se va observa o imagine de interferen . Din figur se vede c distan a x de la un punct oarecare P pân la mijlocul ecranului O este: x ! l ™ tgN , iar diferen a de drum optic ( ! nd ™ sin N , unde n este indicele de refrac ie al mediului. nx ( Unghiul N fiind mic (l>>d), avem tgN } sin N i deci ! , de l d
6

unde x !

( ™l . Introducând în aceast formul expresiile (1.8) i d ™n (1.9) vom ob ine formulele care determin pozi ia maximelor i a minimelor pe ecran:

x max ! s m
xmin

l P, d 1¸ l ¨ ! s© m  ¹ P , m=0,1,2« 2º d ª

(1.10) (1.11)

unde P este lungimea de und a luminii în mediul cu indicele de refrac ie n. Aceste maxime i minime au aspectul unor franje luminoase i respectiv întunecoase paralele între ele. Distan a pe ecran dintre dou minime (sau maxime) consecutive se nume te interfranj : l (x ! P (1.12) d Din formula (1.12) se vede c pentru ob inerea unor franje distincte de interferen este necesar îndeplinirea condi iei l>>d (P fiind o m rime extrem de mic } 0.5 ™ 10 6 m ). A adar, imaginea de interferen reprezint franje luminoase i întunecoase alternante. În punctul O se observ maximul principal (m=0), adic o franj luminoas central . Simetric fa de acest maxim sunt situate maximele (franje luminoase) i minimele (franje întunecoase) de ordinul m=1,2,3«. Aceasta este imaginea de interferen ob inut în cazul interferen ei luminii monocromatice. Pozi ia maximelor i minimelor pe ecran depinde de lungimea de und (vezi formula (1.10) i (1.11)). De aceea, în cazul interferen ei luminii albe pe ecran se vor observa franje de culorile curcubeului, iar în centrul ecranului ± aceea i franj alb (când m=0 maximele pentru toate lungimile de und coincid). A adar, imaginea de interferen este format de unde coerente. La suprapunerea undelor necoerente diferen a de faz în
7

orice punct variaz arbitrar în timp i cos H ia orice valori de la ±1 pân la +1. Valoarea medie a cos H este zero i, deci, cum rezult din formula (1.7), în orice punct din spa iu unde are loc suprapunerea undelor intensitatea luminii este una i aceea i, înregistrându-se o iluminare uniform a ecranului. 1.2 Coeren a temporal i coeren a spa ial

Experien ele ne arat c orice dou surse de lumin independente sunt necoerente i nu pot forma imaginea de interferen . Explica ia const în aceea, c emisia luminii este rezultatul unor procese atomice. În cazul a dou surse independente lumina este emis de atomi care nu sunt corela i între ei. În fiecare atom procesul de radia ie are o durat foarte scurt ( } 10 8 s ). Atomul poate s reia emisia de unde luminoase, îns faza ini ial a acestora va fi alta. Prin urmare, are loc o continu varia ie a diferen ei de faz a radia iilor emise de atomi independen i, deci undele radiate de atomi într-un interval mare de timp sunt necoerente. Dar într-un interval de timp } 10 8 s undele emise au amplitudini i faze aproximativ constante formând un grup de unde. Intervalul de timp în care varia ia aleatoare a fazei undei atinge valoarea T se nume te timp de coeren ± Xcoer, acesta caracterizând propriet ile coerente ale undelor. Undele ce apar in diferitelor grupuri de unde nu sunt coerente. Într-un mediu omogen unda parcurge în timpul de coeren distan a lcoer = cXcoer, numit distan a de coeren . Cu cât unda este mai aproape de unda monocromatic , cu atât timpul i distan a de coeren sunt mai mari. Coeren a undelor determinat de gradul de monocromaticitate al undelor se nume te coeren temporal . Coeren a undelor emise este determinat i de dimensiunile sursei. Se nume te raz de coeren sau distan a de coeren spa ial ± distan a dintre astfel de puncte ale sursei, pentru care varia ia aleatorie a diferen ei de faz atinge valoarea 180o grade,
8

adic raza de coeren determin diametrul unghiular maxim al sursei care emite unde coerente, deci caracterizeaz coeren a spa ial . A adar, posibilitatea de a observa imaginea de interferen cu ajutorul aparatului dat depinde de îndeplinirea în acest aparat a condi iilor de coeren temporal i spa ial a undelor ce se suprapun. Dac timpul de declan are a aparatului este cu mult mai mic decât timpul de coeren atunci aparatul va înregistra o imagine clar de interferen . Este necesar totodat ca diferen a de drum optic al undelor s nu dep easc distan a de coeren . 1.3 Ob inerea undelor coerente

Din cele expuse rezult c undele provenite de la dou surse independente nu pot fi coerente i nu vor da imaginea de interferen . Unde coerente se pot ob ine prin divizarea radia iei emise de o surs în dou fascicule care parcurgând drumuri optice diferite i suprapunându-se pe ecran, vor produce fenomenul de interferen . În practic acest lucru se poate realiza cu ajutorul unor paravane, fante, oglinzi i corpuri care refract lumina. Cele mai r spândite dispozitive de acest fel sunt fantele lui Young, oglinzile i biprisma lui Fresnel. La începutul anilor 60 ai veacului trecut au fost elaborate surse de lumin denumite generatoare cuantice sau laser. Radia ia laser este caracterizat de un înalt grad de coeren temporal i spa ial , de mare putere i de mic divergen unghiular . 1.4 Interferen a luminii în lame transparente

La iluminarea unei pelicule sau a unei lame transparente unda luminoas se reflect de la ambele suprafe e. Astfel se ob in dou unde luminoase, care în anumite condi ii pot interfera.
9

Fie o und plan monocromatic incident sub un unghi E pe o lam transparent cu fe ele plan-paralele de grosimea b i cu indicele de refrac ie n (în fig. 1.4 este ar tat numai raza 1). În punctul O unda par ial se reflect (raza 1d i ) par ial se refract . În punctul b B are loc reflexia razei sub un unghi F de la suprafa a F" interioar a lamei, apoi ea se refract în punctul C i iese d în aer (raza 1d În afar de ). Fig. 1.4 aceste dou raze, lama îndreapt în sus razele reflectate de trei, cinci « ori de la suprafe ele lamei. Întrucât aceste raze au o intensitate mic , ele pot fi neglijate. Diferen a de drum d optic a razelor 1d i 1d este: P ( ! OB  n  OA  0 . 2 P Ultimul termen 0 se datoreaz faptului c unda 1d reflect de se 2 la un mediu mai dens din punct de vedere optic i de aceasta faza ei se schimb cu T, ceea ce corespunde varia iei drumului optic cu o jum tate de lungime de und . Din fig. 1.4 se vede c laturile triunghiului ODB sunt: OB = b/cosF, OD = b tg F, OB=BC; din triunghiul OAC: OA =OCsinE. Deoarece OC=2OD, inând seama de aceea c avem: OA ! 2b ™ tg ™ sin E . sin E ! n , ob inem: sin F P (1.13) ( ! 2bn ™ cos F  0 2 sau

¥

¦

¤

10

P0 . (1.13') 2 A adar, la c derea unei unde luminoase pe o lam se formeaz dou unde reflectate ce se propag în aceea i direc ie. Dac se respect condi iile de coeren temporal i spa ial , aceste unde vor interfera. Calculele arat c datorit restric iilor impuse de coeren a temporal i spa ial interferen a în cazul ilumin rii lamei cu lumin solar are loc numai dac grosimea lamei b nu dep e te câteva sutimi de milimetru. Odat cu cre terea gradului de coeren a sursei utilizate cre te i grosimea admisibil a lamei (în cazul unui laser b ~ 1 z 2 cm) Maximele i minimele de interferen ale undelor reflectate d 1d i 1d corespund condi iei (1.8) i respectiv (1.9). Egalând formula (1.8) cu formula (1.13) ob inem: 1¸ ¨ 2bn ™ cos F ! © m  ¹P 0 (1.14) 2º ª sau 1¸ ¨ (1.14') 2b n 2  sin 2 E ! © m  ¹P 0 . 2º ª Egalând formula (1.9) cu formula (1.13') ob inem: 2bn ™ cos F ! mP 0 (1.15) sau ( ! 2b n 2  sin 2 E 

(1.15') 2b n 2  sin 2 E ! mP 0 , unde m=0,1,2« este ordinul maximului sau minimului de interferen . La inciden a normal a undelor luminoase (E =0) condi iile de apari ie a maximelor i minimilor de intensitate a luminii sunt: condi ia de maxim 1¸ ¨ (1.16) 2bn ! © m  ¹P 0 2º ª i respectiv de minim 2bn ! mP 0 . (1.17)
11

Dup cum rezult din expresiile (1.13) i (1.14) imaginea de interferen este determinat de m rimile : P 0 , b, n, E . A adar, în urma suprapunerii undelor coerente apare o serie de franje de interferen . Se disting franje de egal înclinare i franje de egal grosime. În cazul când de la suprafe ele unei lame cu fe ele planparalele (b=const) se reflect lumin monocromatic difuz (con inând raze de orice direc ie) se ob ine o imagine de interferen alc tuit din franje de egal înclinare. Fiec rui unghi de inciden E îi corespunde o anumit franj . Deoarece lama are fe e d plan-paralele, razele 1di 1dreflectate de la ambele suprafe e (fig. 1.4) sunt paralele adic se intersecteaz la infinit i imaginea de interferen se ob ine la infinit. Pentru observarea acesteia se utilizeaz o lentil convergent i un ecran situat în planul ei focal. În cazul când axa optic a lentilei este perpendicular pe suprafa a lamei, franjele de egal înclinare se prezint sub forma unor inele concentrice având centrul în focarul lentilei. În cazul reflexiei unei unde plane monocromatice (P=const) de la suprafe ele unei lame de grosime variabil (b{const) apare o imagine de interferen format din franje de egal grosime. Un exemplu clasic de franje de egal grosime îl constituie inelele lui Newton. Ele se observ între o plac cu fe e plan-paralele i o suprafa sferic cu raza de curbur mare R (fig. 1.5). Stratul de aer dintre plac i lentil are o grosime variabil . La inciden a normal a luminii monocromatice razele reflectate de la suprafe ele superioar i Fig.1.5 cea inferioar ale stratului de aer vor interfera. Imaginea de interferen se prezint sub forma unor inele concentrice luminoase i întunecoase, având centrul în
12

punctul P. Fiecare inel se formeaz la interferen a razelor reflectate în locurile de aceea i grosime a stratului de aer. 2 2 Din fig. 1.5 se vede c : R 2 ! R  bm  rm ,unde R este raza de curbur a lentilei, rm - raza inelului de ordinul m, bm - grosimea stratului de aer. inând seama de aceea c bm este o m rime mic , putem scrie: r2 (1.18) bm ! m . 2R Grosimea stratului de aer bm ce corespunde formarii inelului luminos de ordinul m este dat de condi ia (1.16): 1¸ ¨ 2bml ! © m  ¹P 0 (pentru aer n=1). (1.19) 2º ª Introducând aceast expresie pentru bml în formula (1.18), vom ob ine expresia pentru raza inelului luminos de ordinul m:

rm lum !

1¸ ¨ © m  ¹P0 2º ª

.

(1.20)

Luând în considera ie condi ia de minim (1.17) din formula (1.18) vom ob ine expresia pentru raza inelului întunecos de ordinul m :

rm înt ! mP0 R .

(1.21)

În mijlocul imaginii se ob ine o pat întunecoas . Franjele de egal grosime i de egal înclinare pot fi observate nu numai în lumin reflectat , ci i în lumin trec toare. În acest caz interfereaz razele 2' i 2" (fig. 1.6). În punctele B i C raza se reflect de la un mediu mai pu in dens din punct de vedere optic i de aceea nu are loc pierderea unei jum t i de lungime Fig.1.6 de und . Prin urmare,
13

diferen a de drum optic pentru undele transmise i cele reflectate difer cu P 0 , adic maximele de interferen în lumina reflectat 2 corespund minimelor în lumina trec toare i invers. Lucrarea de laborator Nr.22 STUDIUL INTERFEREN EI LUMINII REFLECTATE DE LA O LAM CU FE E PLAN-PARALELE Scopul lucr rii: studiul fenomenului de interferen la reflexia luminii de la o lam cu fe e planparalele i determinarea indicelui de refrac ie al sticlei prin metoda interferen ei. Aparate i accesorii: laser, lam de sticl cu fe e planparalele, lentil , ecran. Teoria: vezi paragrafele 1.1-1.4. Montajul experimental i metoda de efectuare a m sur rilor Schema de principiu a montajului experimental este ar tat în fig. 1.7: Lg ± laser, E ± ecran, L± lentil , P ± lam de sticl . Fasciculul de lumin emis de laser, trecând prin lentila divergent L se transform într-un fascicul divergent, incident pe suprafa a lamei de sticl P. Undele de lumin reflectate de suprafe ele anterioar i posterioar ale lamei interfereaz i dau pe ecran o imagine de interferen care reprezint o serie de inele concentrice luminoase i întunecate. În cazul dat interfereaz raza refractat 1 incident pe lam sub un unghi E i raza 2 incident sub unghiul E  dE , reflectat de suprafa a anterioar a lamei. Aceste raze interfereaz datorit gradului înalt de coeren al radia iei laser. Imaginea de interferen se observ nu în focarul lentilei ci pe un ecran mai îndep rtat E (deoarece razele 1 i 2 se intersecteaz ).
14

S analizam cazul unii fascicul de lumin pu in divergent

E

Fig. 1.7

(unghiul de inciden E mic). Pentru lumina reflectat condi ia de minim de interferen este dat de formula (1.15): 2bn cos F m ! mP 0 , (1.22) unde F m este unghiul de refrac ie, P 0 -lungimea de und a luminii, b-grosimea pl cii, n±indicele de refrac ie, m±ordinul minimului. Considerând c unghiul de refrac ie F m este mic ob inem:
¨ F2 ¸ 2bn©1  m ¹ ! mP 0 . (1.23) © 2 ¹ ª º Cu ajutorul formulei (1.15) se poate calcula ordinul maxim al minimelor de interferen : 2bn mmax ! . (1.24) P0 inând cont de expresiile (1.23) i (1.24) putem scrie: ¨ F2 ¸ m max ©1  m ¹ ! m . (1.25) © 2 ¹ ª º

15

Din legea refrac iei avem: F m !

sin E m ! n , pentru unghiuri E m mici sin F m

Em . n În acest caz din formula (1.25) ob inem: 2n 2 2 E m ! m max  m . m max

(1.26)

2 rm rm 2 Din fig. 1.6 se vede c : tgE m ! , de unde E m ! 2 . 2l 4l 2 Introducând expresia pentru E m în formula (1.26), inând seama de

formula (1.24) i notând m max  m ! k , ob inem: rk2 4P 0 nk , (1.27) ! b l2 unde k este num rul de ordine al inelului întunecat, începând cu inelul de raz minim . Din formula (1.27) se observ c rk2 este o func ie de k. Prin urmare, graficul acestei func ii reprezint o dreapt , având tangenta unghiului de înclinare fa de axa absciselor, adic coeficientul unghiular egal cu: ( rk2 tgN ! , (k r unde (k este varia ia abscisei, ( k2 - varia ia corespunz toare a ordonatei. inând seama de formula (1.27), avem: 4P nl 2 tgN ! 0 . b Determinând din graficul experimental valoarea tgN, se poate calcula indicele de refrac ie: b tgN . (1.28) n! 4P 0 l 2

16

1. 2. 3. 4. 5. 6.

Modul de lucru Se ob ine pe ecranul E imaginea de interferen . Se m soar razele primelor 5-7 inele întunecoase, începând cu inelul de raz minim (k =1). Se traseaz graficul lui rk2 în func ie de k. Se m soar distan a l de la lama P pân la ecranul E. Se determin tangenta unghiului de înclinare (coeficientul unghiular) a dreptei rk2 =f(k) fa de axa absciselor. Folosind formula (1.28), se calculeaz indicele de refrac ie al pl cii de sticl . Lungimea de und a radia iei laser este P 0 ! 0.63 Qm . Întreb ri de control Defini i fenomenul interferen ei luminii? Care sunt condi iile de coeren a a undelor? Defini i drumul optic? Care este condi ia de formare a unui maxim de interferen , dar a unui minim? Explica i fenomenul de interferen la reflexia luminii de la o plac cu fe e plan-paralele. Deduce i formula (1.28). De ce nu poate fi observat interferen a luminii reflectate de o pelicul groas dac se folose te o surs obi nuit de radia ie, nu un laser?

1. 2. 3. 4. 5. 6. 7.

17

Lucrarea de laborator Nr.23 DETERMINAREA RAZEI DE CURBUR A UNEI LENTILE I A LUNGIMII DE UND A LUMINII, FOLOSIND INELELE LUI NEWTON ÎN LUMIN REFLECTAT Scopul lucr rii: studiul fenomenului de interferen a luminii în pelicule sub iri (inelele lui Newton); determinarea razei de curbur a unei lentile prin metoda interferen ei. Teoria: vezi paragrafele 1.1, 1.3, 1.4. Montajul experimental i metoda de efectuare a m sur rilor Instala ia pentru studiul inelelor lui Newton Microscop în lumin reflectat se compune dintr-o surs de lumin S, un filtru de lumin F, un microscop, o F oglind semitransparent S M, un sistem format dintr-o plac cu fe e plan-paralele i lentila studiat (fig. 1.8). Contactul între lentil i M placa cu fe e plan-paralele este asigurat de trei uruburi i un inel cu arc. P Suportul, pe care este fixat acest sistem, se g se te pe Fig. 1.8 m su a microscopului i se poate deplasa în dou direc ii reciproc perpendiculare cu ajutorul a dou uruburi micrometrice. Pozi ia suportului se determin pe scara uruburilor micrometrice cu precizia de 0,1 mm.
18

Determinarea razei de curbur R i a lungimii de und a 2 undei luminoase este bazat pe rela ia (1.21), din care rezult c rm este func ie liniar de m (rm este raza inelului întunecos): 2 rm ! mR ™ P 0 , m=0,1,2,
2 Graficul func iei rm ! f m reprezint o linie dreapt , al c rei coeficient unghiular, adic tangenta unghiului de înclinare E fa de axa absciselor se calculeaz din grafic astfel: 2 ( rm tgE ! , (m r2 unde (m este varia ia abscisei, iar ( m - varia ia corespunz toare a ordonatei. Pe de alt pate tgE ! P 0 ™ R . (1.29) Determinând aceast tangent i folosind formula (1.29) se poate calcula R, dac este cunoscut valoarea lungimii de und P 0 . În mod analog se poate calcula P 0 , dac se tie valoarea lui R.

Modul de lucru 1. Se ob ine o imagine clar de interferen , observat în ocularul microscopului, folosind filtrul de lumin ro u ( P 0 ! 0.65 Qm ). 2. Se m soar razele rm a cinci inele întunecate (m=1,2,3,4,5). 2 3. Se traseaz graficul func iei rm ! f m . 4. Se calculeaz din grafic tangenta unghiului de înclinare a dreptei fa de axa absciselor. 5. Folosind formula (1.29), se calculeaz valoarea razei R. 6. Se schimb filtrul de lumin i, efectuând m sur ri analoge se determin lungimea de und , corespunz toare filtrului folosit. Pentru R se va utiliza valoarea ob inut în experien a precedent . Întreb ri de control 1. În ce const fenomenul de interferen a luminii?
19

2. Care sunt condi iile de ob inere a unui maxim de interferen ? Dar a unui minim? 3. Explica i apari ia inelelor lui Newton. De ce inelele sunt numite franje de egal grosime? 4. Deduce i formula pentru calculul razelor inelelor întunecate (luminoase) ale lui Newton, ob inute în lumin reflectat . 5. Cum arat inelele lui Newton, ob inute în lumina transmis ? 2. DIFRAC IA LUMINII Principiul Huygens ± Fresnel

2.1

Difrac ia cuprinde fenomenele legate de devierea razelor de lumin la propagarea lor într-un mediu cu neomogenit i pronun ate (orificii, paravane .a.). Datorit difrac iei undele luminoase ocolesc obstacolele i p trund în regiunea umbrei geometrice. Abaterea luminii de la propagarea rectilinie poate fi explicat cu ajutorul principiului Huygens - Fresnel. Conform acestui principiu, orice punct pân la care ajunge unda luminoas devine centrul unei noi unde sferice secundare elementare, astfel încât înf ur toarea tuturor acestor unde elementare va fi un front de und într-un moment ulterior. Suprafa a ce separ spa iul antrenat în procesul ondulatoriu de restul spa iului, în care oscila iile înc nu au luat na tere, se nume te front de und . Suprafa a de und este locul geometric al punctelor mediului ce oscileaz în aceea i faz Sursele de unde secundare sunt coerente (toate punctele frontului de und oscileaz în aceea i faz i cu aceea i frecven ) i, deci, sunt coerente i undele secundare, care la suprapunere vor interfera. Fiecare din undele secundare excit într-un punct dat o oscila ie, amplitudinea oscila iei rezultante fiind egal cu suma vectorial a amplitudinilor oscila iilor componente. Rezultatul compunerii oscila iilor depinde de diferen a de faz H a undelor ce ajung pân la punctul dat de pe un ecran. Pe de alt parte, exist o
20

rela ie (1.7) între diferen a de faz H , diferen a de drum optic ( al undelor i lungimea de und : ( (2.1) H ! 2T ™ . P Dac diferen a de drum optic este egal cu un num r întreg de lungimi de und ( ! s m ™ P , m=0,1,2«, undele ajung în punctul de observa ie în aceea i faz : (2.2) H ! s2Tm În acest caz undele se intensific reciproc i ob inem un maxim de intensitate. În cazul când diferen a de drum optic 1¸ ¨ ( ! s© m  ¹P , undele sunt în opozi ie de faz : 2º ª 1¸ ¨ H ! s© m  ¹2T (2.3) 2º ª i ele se atenueaz reciproc, având ca rezultat un minim de intensitate. A adar, sunt luminoase numai acele locuri ale spa iului, în care are loc intensificarea prin interferen a undelor secundare. 2.2
Mm M2 M1 S M0 b+P/2 b P

Metoda zonelor lui Fresnel Calculul interferen ei undelor secundare reprezint în caz general o complicat problem matematic . Problema se simplific considerabil când se folose te

a

b+m P/2

F

Fig. 2.1 21

metoda zonelor lui Fresnel. Fie o und sferic ce se va propaga într-un mediu omogen i izotrop de la o surs punctiform S (fig. 2.1). Vom calcula amplitudinea oscila iei luminoase excitate în punctul P. În conformitate cu principiul Huygens ± Fresnel, toate punctele frontului de und F ce reprezint o suprafa sferic de raz a sunt centre de unde sferice secundare. Vom diviza suprafa a de und F în zone inelare (zonele lui Fresnel) astfel ca distan ele de la marginile zonelor învecinate pân la punctul P s difere cu P0 / 2 : P M 1P  M 0 P ! M 2 P  M 1P ! 0 . (2.4) 2 În acest caz undele provenite din dou surse simetrice apar inând unor zone vecine (adic din surse situate lâng marginile exterioare ale zonelor respective sau în mijlocul zonelor, .a.m.d.) excit în P oscila ii, ale c ror faze difer cu T . A adar, oscila iile provenite de la dou zone Fresnel învecinate sunt în opozi ie de faz i se atenueaz reciproc. Amplitudinea oscila iei rezultante în P va fi A ! A1  A2  A3  ... s Am OAm 1 ... (2.5) unde A1, A2,«, Am sunt amplitudinile oscila iilor excitate de zonele 1-a, 2-a, «, m-a ale lui Fresnel. Amplitudinea Am a oscila iilor produse de zona a m-a depinde de suprafa a zonei, num rul ei m, i de unghiul N m (fig. 2.2). Dup cum rezult din calcul, ariile zonelor lui Fresnel sunt aproximativ egale între ele, îns efectul fiec rei din ele în P scade odat cu cre terea lui m, deoarece se m re te distan a dintre zona respectiv i P. Concomitent cre te i unghiul N m , fapt care, de asemenea, reduce efectul zonei (radia ia zonei este maxim în direc ia normalei). Toate acestea duc la descre terea monoton a amplitudinii Am cu cre terea num rului m al zonei. A adar, amplitudinile oscila iilor, excitate în P de zonele Fresnel, formeaz o serie monoton descresc toare A1 >A2 « >Am-1 > Am > Am+1 > «
22

Amplitudinea rezultant poate fi reprezentat sub forma: A ¨A A ¸ ¨A A ¸ A ! 1  © 1  A2  3 ¹  © 3  A4  5 ¹  ... 2 ª 2 2 º ª 2 2 º (2.6) Am ¸ ¨ Am ©  Am 1  ¹ 2 º ª 2 Deoarece Am descre te monoton, se poate considera A  Am1 aproximativ c : Am ! m 1 2 În acest caz, în formula (2.6) expresiile din paranteze se vor T n Nm a rm S hm b P b+mP/2

Fig. 2.2

anula. Luând în considerare faptul c pentru valori mari ale lui m A m rimea m poate fi neglijat , atunci formula (2.6) este : 2 A (2.7) A! 1 2 S determin m raza zonei lui Fresnel cu num rul m. Din fig. 2.2 se observ c :
r ! a  a  hm
2 m 2 2

P¸ ¨ 2 ! © b  m ¹  b  hm 2º ª
23

2

inând seama c P <<a, P <<b, h<<a, ob inem : ab b mP ; rm ! 2ah m ; rm ! hm ! mP . (2.8) ab 2 a  b Lungimea undei luminoase este foarte mic ; de exemplu pentru lumina verde P ! 0.5Qm . Dac a=b =1 m atunci pentru raza primei zone Fresnel ob inem r1 ! 0.5 ™ 10 3 m . Deci, lumina de la sursa S se propag pân în P ca printr-un canal îngust, adic rectiliniu. Metoda descris ne permite s explic m i difrac ia Fraunhofer. Difrac ia Fresnel (difrac ia undelor sferice) se observ în cazul distan elor finite între sursa de lumin i obstacol, i între obstacol i ecran. Difrac ia Fraunhofer (difrac ia în raze paralele) are loc în cazul când sursa de lumin i punctul de observa ie sunt situate foarte departe de obstacolul care a produs difrac ia. 2.3 Difrac ia Fraunhofer pe o fant îngust

Fie o und monocromatic plan , ce cade normal pe o fant de l imea a. De la fant se propag unde secundare coerente în toate direc iile. Rezultatul interferen ei lor se poate observa pe ecranul E, situat în planul focal al unei lentile L (fig. 2.3). Diferen a de drum optic a undelor ce pleac de la marginile fantei sub un unghi arbitrar N este: ( ! a sin N . (2.9) Lentila L concentreaz undele pe ecran în punctul P, unde ele interfereaz . Pentru a stabili aspectul figurii de interferen ce se ob ine pe ecran, vom diviza frontul de und AB în zone Fresnel paralele cu marginile fantei. Pe l imea fantei ob inem în total n zone: ( a sin N n! ! . (2.10) P P 2 2
24

B
P/2 P/2

N

P Fig. 2.3

Deoarece unda incident pe fant este plan , ariile tuturor zonelor sunt egale i deci sunt egale amplitudinile oscila iilor, excitate în P de fiecare zon Fresnel, iar fazele oscila iilor provenite de la zonele învecinate sunt opuse. Prin urmare oscila iile excitate de fiecare pereche de zone învecinate se suprim reciproc. De aceasta, dac l imea fantei cuprinde un num r par de zone Fresnel (vezi în fig. 2.3± dou zone), amplitudinea oscila iei rezultante în P este nul i se ob ine un minim de intensitate. Din (2.10) rezult condi ia de apari ie a unui minim de

difrac ie:

P ! s mP , m ! 1, 2,... (2.11) 2 Dac l imea fantei cuprinde un num r impar de zone Fresnel, se ob ine un maxim de difrac ie: P a sin N ! s 2 m  1 !, m ! 1,2,... (2.12) 2 unde m este ordinul minimului. În acest caz efectul fantei este echivalent cu efectul unei singure zone Fresnel, deoarece efectele celorlalte perechi de zone se compenseaz reciproc. Undele ce se propag de la fant normal pe suprafa a ei (N=0) excit în punctul O al ecranului oscila ii ce se amplific reciproc, deoarece ele au aceea i faz ((=0). a sin N ! s2m
25

În acest caz se ob ine maximul central de difrac ie (m=0) de cea mai mare intensitate. A adar, undele difractate de fant sub unghiuri, ce corespund unui num r impar de zone Fresnel, formeaz pe ecran un maxim de intensitate luminoas , iar undele difractate sub unghiuri ce corespund unui num r par de zone Fresnel ± minime de intensitate. Figura de difrac ie ob inut la trecerea luminii monocromatice printr-o fant îngust , reprezint o succesiune de franje (benzi) luminoase alternative cu franje întunecoase, dispuse simetric fa de franja luminoas central , de o parte i de alta a acesteia. Folosind expresia (2.11) se poate determina pozi ia unghiular a marginilor maximului central (vezi fig. 2.4): P sin N 1 ! s , (2.13) a iar num rul maxim de franje este determinat de condi ia a sin N e 1, m e . (2.14) P Din expresiile (2.13) i (2.14) rezult c îngustarea fantei duce la mic orarea intensit ii maximului central. Aceasta se refer i la alte maxime, adic imaginea de difrac ie devine mai slab conturat . Dac a<P atunci minime nici nu apar, intensitatea luminii descre te monoton de la mijlocul imaginii spre margini. Din contra cu cât fanta e mai larg (a>P), cu atât imaginea devine mai pronun at , franjele sunt mai înguste, iar num rul lor e mai mare. Pentru a>>P în centrul figurii se ob ine imaginea luminoas a fantei, adic lumina se propag rectiliniu. 2.4 Re eaua de difrac ie

În cazul difrac iei pe o singur fant intensitatea luminii în maxime e mic i figura de difrac ie nu este suficient de pronun at . O imagine cu maxime de intensitate clar conturate se poate ob ine cu re eaua de difrac ie.
26

Re eaua de difrac ie unidimensional reprezint un sistem de fante paralele, egale, de l imea a situate în acela i plan i separate prin intervale opace egale de l ime b. Distan a d=a+b, (2.15) se nume te constanta sau perioada re elei de difrac ie. Când o und plan monocromatic cade pe re ea, în a A B b planul focal al a lentilei L (fig. ( 2.4) se ob ine o N figur de difrac ie, care L este rezultatul a dou fenomene: difrac ia luminii pe fiecare fant i interferen a P E fascicolelor luminoase Fig. 2.4 difractate de toate fantele. Vom studia figura de difrac ie de pe ecran, considerând difrac ia pe dou fante (fig. 2.5). Evident c în direc iile, în care nu se propag lumina difractat de la nici una din fante nu va fi lumin nici în cazul a dou fante, adic minimele de intensitate (principale) se vor observa în direc iile date de condi ia (2.11) P a sin N ! s2m ! s mP . m ! 1, 2,... 2 Pe lâng aceasta în unele direc ii undele secundare ce pleac de la ambele fante se vor suprima reciproc datorit interferen ei, adic se vor observa minime suplimentare. Aceste minime apar în direc iile ce satisfac condi ia:
27

P d ™ sin N ! s 2 m  1 , m ! 0,1,2,... (2.16) 2 unde dsinN=( este diferen a de drum optic între razele ce vin de la marginile A i B ale fantelor.

I

Efectul unei fante va fi amplificat de efectul celeilalte fante, adic :

- P a

0

Fig. 2.5

+ P a

sinN

P ! s mP , m ! 0,1, 2,... (2.17) 2 Rela ia (2.17) este condi ia de formare a maximelor principale. Toate undele difractate ce se propag în direc ia ini ial , normal pe fante (N=0), formeaz maximul central (m=0). A adar, figura de difrac ie pe dou fante este determinat de condi iile de formare: a minimelor principale a sin N ! P , 2P ,3P ,... P 3P 5P a minimelor suplimentare d sin N ! , , ,... 2 2 2 d sin N ! P , 2P ,3P ,... a maximelor principale Deci între dou maxime principale e situat un minim suplimentar. Ca urmare, maximele devin mai înguste, decât în cazul difrac iei pe o singur fant . Dac re eaua con ine N fante, atunci între dou maxime principale se vor situa (N-1) minime suplimentare separate prin maxime secundare slabe, condi iile de formare a minimelor d ™ sin N ! s2 m
28

principale (2.11) i maximelor principale (2.17) r mânând acelea i. Cu cât mai multe fante N con ine re eaua, cu atât mai mult energie luminoas va trece prin ea, cu atât mai multe minime se vor forma între maximele principale învecinate i cu atât mai intense i mai înguste vor fi maximele. În consecin , imaginea de difrac ie pe o re ea cu un num r mare de fante reprezint o succesiune de franje înguste luminoase, separate prin intervale relativ întunecate. Cum rezult din (2.17) pozi ia maximelor principale depinde de lungimea de und P. Din acest motiv la inciden a pe re ea a luminii albe toate maximele, în afar de cel central (m=0), se vor prezenta sub forma de spectre având cap tul violet îndreptat spre centrul figurii de difrac ie, iar cel ro u spre exterior (m fiind ordinul spectrului). În centru va fi o franj alb , deoarece maximul central este format de unde ce nu au suferit difrac ie, pentru care diferen a de drum este zero i condi ia de apari ie a unui maxim este aceea i pentru orice lungime de und . Din (2.17) mai rezult c cu cât ordinul spectrului este mai mare, cu atât e mai mare unghiul de difrac ie ce corespunde form rii unui maxim i cu atât e mai lat spectrul. Din aceast cauz spectrele se suprapun par ial, începând cu spectrele de ordinul al 2-lea sau al 3-lea. Lucrarea de laborator Nr.24 STUDIUL DIFRAC IEI LUMINII PE OBSTACOLE SIMPLE Scopul lucr rii: studiul fenomenului de difrac ie; m surarea l imii unei fante i a grosimii unui fir prin metoda difrac iei. Aparate i materiale: laser, banc optic, suport de fant i fir, ecran, fant , fir. Teoria: vezi paragrafele 2.1 ± 2.4

29

Instala ia experimental i modul de efectuare a m surilor Drept surs de lumin în instala ia experimental serve te un laser. Radia ia laser se deosebe te prin anumite particularit i: grad înalt de monocromaticitate, coeren în timp i spa iu, intensitate mare i divergen unghiular foarte mic . Schema de principiu a instala iei e reprezentat în fig. 2.6: LG- laser, 1 ±suport cu fant sau fir, 2-ecran. Pozi ia suportului cu fant sau fir i pozi ia ecranului se poate stabili cu ajutorul unor indicatoare i a riglei gradate de pe bancul optic. Aten ie: Radia ia laser direct este periculoas pentru vedere!
LG 1 2

Fig. 2.6

Dac în calea fasciculului emis de laser se instaleaz o fant , atunci pe ecran se va observa imaginea de difrac ie, format dintrun maxim central i o serie de maxime de diferite ordine, simetrice fa de maximul central i separate prin minime (fig. 2.7). Pozi ia unghiular a minimilor este dat de rela ia (2.11): sin N ! m P . inând seama c în acest caz unghiurile de difrac ie a sunt mici, putem scrie: x sin N } tgN ! m l i atunci pentru distan a de la centrul figurii de difrac ie pân la minimul de ordinul m ob inem:

30

Fig.2.7

m Pl . a Distan a pân la minimul de ordinul (m+1) este: m  1 Pl . x m 1 ! a Diferen a Pl (x ! x m 1  x m ! , (2.18) a se nume te interfranj de difrac ie. Din formula (2.18) ob inem formula pentru dimensiunea unui obstacol (sârm , fir, etc.) Pl a! . (2.19) (x Exerci iul 1 xm !

1. Se ob ine pe ecran imaginea clar de difrac ie pe o fant . 2. Se m soar (x i l i se calculeaz folosind formula (2.19), l imea unei fante a ( P ! 0.63 Qm). 3. Se repet punctele 1, 2 pentru diferite valori ale lungimii l.
31

4. Se apreciaz erorile absolut

i relativ în determinarea m rimii a.

Exerci iul 2 1. Se execut exerci iul 1 cu un fir. Întreb ri de control 1. 2. 3. 4. 5. În ce const fenomenul de difrac ie a luminii? Enun a i principiul Huygens - Fresnel. Care este esen a metodei zonelor lui Fresnel? Explica i difrac ia Fraunhofer pe o fant îngust . Care sunt condi iile de formare a maximelor i minimelor de difrac ie? 6. Cum se modific figura de difrac ie odat cu mic orarea l imii fantei? m rirea ei? 7. Care sunt particularit ile radia iei laser?

Lucrarea de laborator Nr.25 STUDIUL FENOMENULUI DE DIFRAC IE A LUMINII PE RE EAUA DE DIFRAC IE Scopul lucr rii: studiul fenomenului de difrac ie a luminii; determinarea constantei re elei de difrac ie i a lungimii de und luminoas . Aparate i accesorii: goniometru, re ea de difrac ie, surs de lumin , filtre de lumin . Teoria: vezi paragrafele 2.1 ± 2.4

32

Instala ia experimental i metoda de efectuare a m sur rilor M surarea unghiurilor de difrac ie i observa iile asupra imaginilor de difrac ie se efectueaz cu ajutorul goniometrului. Goniometrul e format dintr-un limb (disc gradat) L orizontal (fig. 2.8) montat pe un suport metalic, un vernier, fixat rigid de colimatorul K. Fanta colimatorului iluminat de o surs de lumin (un bec) se afl în focarul principal al lentilei L1.
N K L R N T N Fig. 2.8 L2

L1

Fasciculul de raze paralele, dat de aceast lentil , cade pe re eaua de difrac ie R fixat pe partea interioar a limbului i se divizeaz într-o serie de fascicule paralele, îndreptate în direc ia maximelor de difrac ie. Aceste fascicule intr în lentila L2 a obiectivului unei lunete T i converg dup refrac ie în planul focal al lentilei. Colimatorul K este prev zut cu o ni pentru filtrele de lumin . Atunci când m sur rile se efectueaz în lumin monocromatic (în colimator se pune un filtru de culoare), figura de difrac ie observat în ocularul lunetei T reprezint un sistem de maxime principale dispuse simetric fa de maximul central, care nu este altceva decât imaginea fantei de iluminare. Pozi ia de iluminare a maximelor principale este dat de formula (2.17). Când este observat în lumina alb (f r filtre de lumin ), imaginea de
33

difrac ie reprezint un ansamblu de spectre, dispuse simetric fa de maximul central (vezi paragraful 2.4). În aceast lucrare întâi se determin constanta re elei de difrac ie d, folosind formula (2.17), dup ce s-au m surat unghiurile de difrac ie N în lumina monocromatic cu lungimea de und P cunoscut . Apoi m surând unghiurile de difrac ie în lumina alb pentru diferite lungimi de und , se determin aceste lungimi de und , folosind aceea i formul i constanta re elei calculat mai înainte. La m surarea unghiurilor de difrac ie cu ajutorul goniometrului se va ine cont de faptul c valoarea unei diviziuni pe scara limbului este un grad iar pe vernier este de 5 minute de arc. Pozi ia tubului lunetei se determin în modul urm tor. Dac diviziunea zero a vernierului se afl în partea stâng de diviziunea zero a limbului, când se m soar spectrele din partea dreapt , atunci num rul de grade nr este egal cu num rul de diviziuni de pe limb pân la diviziunea zero a vernierului, iar num rul de minute corespunde acelei diviziuni m' a vernierului, care coincide cel mai precis cu una din diviziunile de pe limb, adic unghiul de difrac ie N d n 0  m d De exemplu, în fig. 2.9a ! . N'=3r20', iar în fig. 2.9b N'=2r50'. Când diviziunea zero a vernierului se afl la dreapta de diviziunea zero a limbului, citirea unghiului se face în mod analog. Se va lua în vedere totu i c în acest caz unghiul de difrac ie este egal cu diferen a dintre 360r i valoarea citit pe scara aparatului. De Fig.2.9 exemplu în fig.2.9c pe aparat se cite te 356r40', iar unghiul de difrac ie este 3r20' (acest unghi e indicat în figur ). inând seama c spectrele sunt
34

dispuse simetric, unghiul de difrac ie se calculeaz ca media aritmetic :  d NdNd . N! 2 Medierea unghiurilor N' i N" este necesar i din cauza c zero pe limb poate s nu coincid cu zero pe vernier. 1. 2. 3. Modul de lucru Se ob ine figura de difrac ie în lumina monocromatic (folosind filtrul ro u). Se m soar unghiurile de difrac ie Nd i Nt, se afl media N i din rela ia (2.17) se calculeaz constanta re elei de difrac ie d (pentru m=1,2,3) Se m soar unghiurile de difrac ie (în lumin alb ) pentru diferite lungimi de und i spectre. Din aceea i rela ie (2.17) se determin lungimile de und corespunz toare. M sur rile se vor efectua cu filtre de lumin verde i violet. Se evalueaz erorile relativ i absolut ale valorilor ob inute pentru d i P Întreb ri de control În ce const fenomenul de difrac ie a luminii? Enun a i principiul Huygens - Fresnel. Care este esen a metodei zonelor Fresnel? Ce reprezint re eaua de difrac ie? Explica i difrac ia luminii pe o re ea? Deduce i condi iile în cazul difrac iei pe o re ea. Ce este constanta (perioada) re elei de difrac ie? Ce reprezint imaginea de difrac ie în cazul ilumin rii re elei cu lumin alb . Explica i fenomenul de suprapunere a spectrelor de ordin superior.

4.

1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8.

35

3. POLARIZAREA LUMINII 3.1 No iuni teoretice Propagarea luminii în substan este înso it de diferite fenomene fizice. Unele din ele (interferen a, difrac ia, polarizarea, dispersia) pot fi explicate pe baza propriet ilor ondulatorii ale luminii. În acest caz se consider c lumina reprezint unde electromagnetice transversale cu lungimile de und cuprinse între 10-9 z 10-4m. O und electromagnetic reprezint oscila ii armonice cu aceea i frecven ale câmpului electric i câmpului magnetic, T care se propag în spa iu. Vectorii intensit ii câmpului electric E T i câmpului magnetic H sunt reciproc perpendiculari i oscileaz perpendicular pe vectorul de und , a c rui direc ie coincide cu direc ia vectorului vitez de propagare a undei. O und electromagnetic plan ce se propag în direc ia axei x e descris de ecua iile T T E ! E m cos t  k x x  E , [ T T (3.1) H ! H m cos [t  k x x  E i e reprezentat schematic în fig. 3.1. Lumina stimuE leaz desf urarea proceselor fiziologice i fok tochimice i determin o serie de X fenomene fizice, ca luminescen a, efectul fotoH Fig. 3.1 electric etc. În unele din ele ac iunea luminii se datoreaz oscila iilor vectorului T intensitate a câmpului electric E . Studiind polarizarea luminii, vom considera anume acest vector. Trebuie de men ionat, de asemenea, c lumina reprezint unde electromagnetice emise de o
36

mul ime de atomi, fiecare din ei radiind o und electromagnetic de T o anumit amplitudine i orientare a vectorului E . Într-un mediu izotrop toate direc iile de oscila ie au aceea i probabilitate de realizare i de aceea, în orice direc ie perpendicular pe direc ia de propagare a luminii amplitudinea este una i aceea i. Astfel de lumin se nume te lumin natural . Lumina se nume te polarizat , dac direc ia i amplitudinea T vectorului E variaz dup o anumit lege. În func ie de traiectoria, pe care o descrie extremRaz tatea vectorului T E , deosebim lumin plan polarizat (vecT torul E oscileaz în acela i Plan de polarizare plan (fig.3.2), i lumin polaFig. 3.2 rizat circular (extremitatea vectorului descrie în spa iu o linie elicoidal ). Se nume te plan de polarizare planul, în care oscileaz T vectorul E . Dispozitivul, cu ajutorul c ruia poate fi ob inut lumin plan polarizat , este numit polarizator. Proprietatea principal a polarizatorului const în aceea, c el las s treac liber unda electromagnetic , al c rui plan de polarizare este paralel cu planul polarizatorului, îns re ine complet oscila iile perpendiculare pe acest plan. Intensitatea luminii polarizate, trecute prin polarizator, variaz în func ie de unghiul E dintre planul de polarizare a luminii i planul polarizatorului. Conform legii lui Malus I ! I 0 cos 2 E , (3.2)
37

unde I este intensitatea luminii O trecute prin polarizator, iar I0 intensitatea luminii incidente pe T T E polarizator. E0 S explic m legea lui Malus. Fie c direc ia OO coincide cu planul polarizatorului. O und E plan luminoas este caracterizat T O de vectorul E 0 , orientat sub un Fig. 3.3 unghi E fa de acest plan (fig.3.3). Prin polarizator va trece numai acea parte a fluxului luminos, al T c rui vector E este orientat paralel cu planul polarizatorului. inând seama c I b E2, iar E= E0cosE, ob inem formula (3.2). Dac lumina posed câteva direc ii privilegiate de vibra ie, ea se nume te lumin par ial polarizat . Se nume te grad de polarizare a luminii m rimea : I  I min P ! max , (3.3) I max  I min unde Imax i Imin, sunt intensit ile maxime i respectiv minime ale luminii ce corespund la dou direc ii de vibra ie reciproc T perpendiculare ale vectorului E . Pentru determinarea gradului de polarizare a luminii, în calea ei se instaleaz un polarizor, numit în acest caz analizor. Rotind analizorul, se determin valorile maxime i minime ale intensit ii luminii transmise. Apoi, folosind formula (3.3) se calculeaz P. Aceea i experien ne permite s stabilim tipul polariz rii luminii. Dac lumina este plan polarizat , atunci pentru unghiul E=Tm+T/2 (m este un num r natural), intensitatea luminii transmise prin analizor este nul . Acest lucru este evident din graficul func iei I=f(E) trasat în coordonate polare (fig. 3.4a). Eo este unghiul ini ial dintre planul de polarizare a luminii i planul polarizorului. Dac lumina este polarizat circular, atunci intensitatea luminii transmise prin analizor nu depinde de unghiul
38

de rota ie al acestuia (fig. 3.4b). Cazul intermediar, când lumina este polarizat eliptic este reprezentat în fig. 3.4c.

E a) b) Fig.3.4

E c)

3.2

Polarizarea prin birefringen

Dac un fascicul îngust de lumin este incident pe un cristal de spat de Islanda (CaCO3), atunci refractându-se, el se împarte în dou fascicule (fig. 3.5). Fenomenul acesta este numit birefringen . Unul din fascicule se e supune legii refrac iei obi nuite. Pentru acest fascicul viteza de o propagare, deci i indicele de refrac ie, au acelea i valori în toate direc iile. Aceast raz a fost numit raz Fig.3.5 ordinar (raza o). Razele incident i ordinar se afl în acela i plan. Pentru raza a doua, numit raza extraordinar (raza e), indicele de refrac ie depinde de unghiul de inciden . Raza extraordinar , de regul , nu este în acela i plan cu raza incident . Intensitatea razelor o i e este una i aceea i, îns ele sunt polarizate în plane reciproc perpendiculare. Vitezele de propagare a razelor cu polarizare diferit sunt i ele diferite pentru cristalul dat. Viteza de propagare a razei extraordinare depinde de direc ia razei fa de axele cristalografice ale cristalului. Fenomenul de birefringen este utilizat la fabricarea polarizoarelor, în particular a prismei Nicol reprezentat schematic în fig. 3.6. Aceast prism este alc tuit din dou jum t i din cristal de spat de Islanda, lipite cu o substan , a c rei indice de
39

refrac ie este mai mare decât indicele de refrac ie al razei extraordinare, dar mai mic decât al celei ordinare. Drept rezultat, dac îndrept m asupra prismei o raz sub un unghi anumit, raza ordinar sufer o reflexie interioar total i este absorbit de pere ii înnegri i ai polarizorului. În construc ia polarizoarelor poate e e fi utilizat fenomenul de dicroo ism, adic proprietatea cristalului de a absorbi în mod Fig. 3.6 diferit lumina în func ie de direc ia vectorului intensit ii câmpului electric fa de axele cristalografice ale cristalului. Aceast proprietate o posed multe substan e, printre care sunt i substan ele organice. Dicroismul se observ deseori la cristale, inclu-siv la cele bire-fringente. Ca exemplu poate servi turmalina ce absoarbe puternic raza ordinar . Sub-stan ele cu un dicroism pro-nun at se folosesc la fabricarea polarizoarelor numite polaroizi. Drept exemplu de polaroid poate servi o pelicul de celuloid cu incluziuni de cristale de herapatit, o combina ie complex alc tuit din chinin , acid sulfuric, acid iodhidric i iod. Polaroizii prezint unele avantaje: ei sunt ieftini i se fabric u or, îns au i unele neajunsuri: gradul de polarizare depinde de lungimea de und ; transparen a este mai mic în compara ie cu cea a prismelor; î i pierd calit ile la temperaturi ridicate.

40

3.3

Polarizarea luminii prin reflexie i refrac ie la suprafa a de separare a doi dielectrici

Esen a fizic a fenomenelor care determin polarizarea luminii prin reflexie i refrac ie la suprafa a de separa ie a doi dielectrici const T în urm toarele. E inc Unda primar incident p trunde în dieT i ii1 lectricul II i 1 i11 Erefl excit oscila ii for ate ale sarcinilor electrice legate, care emit, r1 la rândul lor, în dielectricul I unT E refrac de electromagnetice secundare (fig. 3.7). Suprapunân Fig. 3.7 du-se, undele secundare formeaz unda reflectat . În interiorul dielectricului al II-lea undele secundare se compun cu unda incident , creând unda refractat . Oscila iile for ate ale sarcinilor se produc în direc ia T vectorului E refl al acestei unde. A a cum se tie din teoria electromagnetic , sarcinile ce oscileaz sunt asem n toare cu ni te dipoli. Undele secundare sunt emise în direc ie perpendicular pe direc ia oscila iilor. De aceea, în unda reflectat oscila iile sunt cu prec dere perpendiculare pe planul de inciden , în care se afl i T vectorul E refl . Prin urmare, în unda reflectat oscila iile vectorului T E refl sunt preponderent perpendiculare pe planul de inciden i, deci, unda reflectat este par ial polarizat . Gradul de polarizare va
41

T atinge valoarea maxim atunci, când E refl va coincide cu direc ia undei reflectate. În acest caz razele reflectat i refractat sunt reciproc perpendiculare. Anume aceast situa ie e ar tat în fig. 3.7  i1  r1 ! 90 Q sin i1 sin i1 n ! ; tg i1 ! 2 ! n 21 , (3.4) sin r1 sin 90  i n1 unde n21 este indicele de refrac ie relativ al mediului. Unghiul de inciden al razei luminoase, pentru care lumina reflectat este total polarizat , poart numele de unghiul lui Brewster. Rela ia (3.4) exprim legea lui Brewster, dup care poate fi calculat valoarea acestui unghi. Un grad de polarizare a luminii refractate practic egal cu unitatea se poate ob ine cu ajutorul a mai multor pl ci puse una peste alta. Un astfel de polarizor i-a g sit aplica ie în domeniul infraro u al spectrului.

Lucrarea de laborator Nr.26 STUDIUL POLARIZ RII RADIA IEI LASER. VERIFICAREA LEGII LUI MALUS Scopul lucr rii determinarea tipului de polarizare a radia iei laser cu ajutorul legii lui Malus. Aparate i accesorii laserul 0+, - 109, un analizor (de tip polaroid), receptor de radia ie (fotodiod ), microampermetru. Teoria vezi paragraful 3.1 Descrierea instala iei experimentale. În lucrare drept surs de lumin plan polarizat este utilizat laserul cu heliu i neon 0+,-109.
42

Schema instala iei pentru cercetarea tipului de polarizare a razei laser e ar tat în fig. 3.9.
1 O S 2 3 O¶ 4

Fig. 3.9

Raza emis de laserul 1 este îndreptat de-a lungul axei optice a instala iei. În calea razei este instalat un analizor 2. Prin rotirea analizorului în raport cu indicatorul S se poate ob ine orice pozi ie unghiular a planului analizorului. Lumina polarizat ie it din analizor cade pe receptorul 3 (o fotodiod ), în care apare un curent electric propor ional cu intensitatea luminii polarizate incidente. Aparatul de m surat 4 ne indic valoarea intensit ii luminii în unit i relative.

Modul de lucru 1. Se transfer în coordonate polare graficul intensit ii (în unit i relative) radia iei laser transmise prin analizor în func ie de pozi ia unghiular a acestuia. 2. Se calculeaz gradul de polarizare a radia iei laser, introducând în formula (3.3) datele experimentale. Se determin tipul de polarizare al radia iei laser. 3. Se verific concordan a dintre graficul experimental i curba teoretic trasat pe baza legii lui Malus. Întreb ri de control 1. Ce reprezint lumina polarizat ? Care sunt tipurile de polarizare ale luminii?
43

2. Defini i no iunea fizic de grad de polarizare. 3. Reprezenta i grafic (în coordonate polare) intensitatea luminii plan polarizate transmise prin analizor. 4. Reprezenta i grafic (în coordonate polare) intensitatea luminii eliptic polarizate transmise prin analizor intensitatea luminii circular polarizate. 5. Enun a i i argumenta i legea lui Malus. 6. Cum poate fi verificat în aceast lucrare legea lui Malus? 7. În ce domenii poate fi utilizat lumina polarizat ? 8. Care sunt procedeele de ob inere a luminii polarizate? Lucrarea de laborator Nr.27 STUDIUL POLARIZ RII LUMINII PRIN REFLEXIE DE LA UN DIELECTRIC Scopul lucr rii studiul gradului de polarizare a luminii reflectate verificarea legilor lui Brewster i Malus. Aparate i accesorii un dielectric, surs de lumin , polaroid, celul fotoelectric , microampermetru. Teoria vezi paragrafele 3.1, 3.3 Descrierea instala iei experimentale În fig. 3.10 este reprezentat instala ia pentru studiul luminii reflectate de la un dielectric. Instala ia este montat pe un suport masiv 12. Sursa de lumin 1 - pe o pârghie mobil 10. Pozi ia sursei pe vertical se poate regla cu ajutorul urubului 11.Unghiul de inciden al fasciculului luminos se stabile te cu urubul 6 i se cite te la indicatorul 9. Pe bra ul al doilea 9, al pârghiei este fixat receptorul de lumin format din analizorul 2 i celula fotoelectric cu seleniu 3 montate în aceea i carcas . Analizorul se poate roti în jurul direc iei razei cu 290r. În calitate de dielectric este folosit o plac
44

de sticl 5, fixat în pozi ie vertical în mijlocul m su ei 4. Indicatorul 7 serve te pentru determinarea unghiului de reflexie. Intensitatea I a curentului ap rut în celula fotoelectric se m soar cu ajutorul unui microampermetru. Modul de lucru 1. Folosind formula (3.3), se calculeaz gradul de polarizare al luminii reflectate de la dielectric pentru diferite unghiuri de inciden i.

Fig. 3.10

2. Se traseaz graficul dependen ei gradului de polarizare de unghiul de inciden P=F(i). Din grafic se determin unghiul lui Brewster, ce corespunde gradului maxim de polarizare. 3. Folosind legea lui Brewster (3.4), se determin indicele de refrac ie al sticlei. 4. Se traseaz în coordonate polare graficul func iei I ! f , E I max unde I este intensitatea luminii trimise prin analizor, Imax ± intensitatea maxim a luminii ce corespunde E=0, E este
45

unghiul dintre planul de oscila ie al luminii incidente i planul analizatorului . 5. Pentru acelea i unghiuri E se calculeaz intensitatea luminii transmise, folosind formula lui Malus (3.2). Se compar rezultatele ob inute. Întreb ri de control 1. Ce se nume te lumin natural , lumin total polarizat , lumin polarizat par ial? 2. Care sunt procedeele de ob inere a luminii polarizate? 3. Ce se nume te plan de polarizare? 4. De ce lumina reflectat de la un dielectric este polarizat ? 5. Enun a i legea lui Brewster. 6. Cum se determin unghiul lui Brewster în aceast lucrare? 7. Explica i legea lui Malus. 4.RADIA IA TERMIC Lucrarea de laborator Nr.28 STUDIUL LEGILOR RADIA IEI TERMICE. DETERMINAREA EMISIVIT II RADIANTE A CORPURILOR Scopul lucr rii: stabilirea dependen ei emitan ei corpului de temperatur absolut i calcularea emisivit ii radiante; determinarea temperaturii cu ajutorul pirometrului optic. Aparate i materiale: sursa de radia ie termic , termocuplu, termobaterie, dou milivoltmetre, wattmetru, pirometru optic ,lamp incandescent . No iuni teoretice Radia ia electromagnetic emis de un corp datorit energiei sale interne se nume te radia ie termic . O particularitate a radia iei termice este aceea, c ea se compune din unde cu lungimi de la 0 la g, care formeaz un spectru continuu. Distribu ia radia iei în
46

func ie de lungimea de und depinde de temperatura corpului radiant. La temperaturi joase corpul emite mai ales raze infraro ii. Cu cre terea temperaturii cre te intensitatea radia iei, m rindu-se totodat i partea energiei radiante care revine undelor mai scurte. Problema distribu iei spectrale a radia iei corpurilor înc lzite a avut un rol important în dezvoltarea fizicii moderne. Rezolvarea acestei probleme a condus la elaborarea teoriei moderne a luminii. Pe cale experimental s±a stabilit c dac un corp la o temperatur oarecare emite mai intens radia ie de anumite lungimi de und , atunci în acelea i condi ii corpul absoarbe mai intens acelea i radia ii. S-a constatat, de asemenea, c singurul tip de radia ie, care se poate afla în echilibru cu corpurile radiante, este radia ia termic . Aceasta înseamn c pentru fiecare lungime de und distribu ia energiei între corp i radia ie r mâne invariabil . Toate celelalte tipuri de radia ie (reunite sub denumirea general de luminescen ) nu sunt radia ii de echilibru. Pentru aprecierea cantitativ a radia iei termice vom introduce o serie de m rimi caracteristice. Emitan a total care reprezint fluxul de energie emis de unitatea de suprafa a corpului radiant în toate direc iile R= /S, (4.1) unde este fluxul radiant, adic energia radiant de corp în unitatea de timp în toata direc iile, S-aria suprafe ei radiante a corpului. Aceast m rime este numit emitan total (sau integral ), deoarece radia ia termic cuprinde toate lungimile de und . Emitan a total se exprim în Watt pe metru p trat (W/m2). O alt caracteristic a radia iei termice este emitan a spectral r ,T, care este determinat de raportul dR/d , unde dR este emitan a în intervalul de lungime de und i +d . Deci r ,T=dR/d reprezint emitan a ce revine la un interval unitar de lungime de
g

und . A adar

R !

´r
0

P ,T

dP ,unde indicii
,T

i T subliniaz

dependen a emitan ei spectrale r

de

i T. Puterea de absorb ie

47

a ,T este definit prin rela ia a ,T=d ¶/d , unde d este fluxul de energie în intervalul , +dP incident pe suprafa a corpului, d ¶ este fluxul absorbit de suprafa a corpului în acela i interval spectral. Cum rezult din defini ie, a ,T arat ce parte din fluxul incident d este absorbit de suprafa a corpului. Corpul ce absoarbe toat energia incident pe el în întregul domeniu al lungimilor de und se nume te corp absolut negru sau corp negru ideal. Puterea de absorb ie a corpului absolut negru este egal cu unitatea a ,T=1. În natur nu exist corpuri negre ideale. Îns cu o bun aproxima ie se poate considera corp Fig. 4.1 absolut negru cavitatea reprezentat în fig. 4.1 prev zut cu un orificiu. În urma mai multor acte de reflexie , practic toat energia radia iei ce a p truns în interiorul cavit ii va fi absorbit . În 1859 savantul german Kirchhoff pe baza principiului ai doilea al termodinamicii a stabilit una din legile radia iei termice, care ulterior a fost confirmat pe cale experimental . Conform legii lui Kirchhoff, raportul dintre puterea de emisie i puterea de absorb ie ale unui corp nu depinde de natura corpului i este o func ie universal de frecven (lungime de und ) a radia iei i temperatura corpului ¨ rP ,t ¸ ¨ r ¸ ¨ r ¸ © ¹ ! © P , ¹ ! © P , ¹ ! .... ! f (P , ) (4.2) © a ¹ © a ¹ © a ¹ P, P, P, ª º1 ª º2 ª º3 Legea lui Kirchhoff poate fi scris i sub form general rP ,T (4.3) ! f (P , T ) , a P ,T unde f ± func ia Kirchhoff.

48

§

¨ ¨

¨ ¨

¨

Pentru corpul absolut negru expresia (4.3) devine: r0 ( P , T ) ! f (P , T ) , unde r0 ( ,T) este puterea de emisie. A adar , din legea lui Kirchhoff rezult c emitan a spectral a corpului absolut negru r0( ,T) depinde de lungimea de und i de temperatur . Încerc rile de a stabili aceast dependen au i dus la apari ia concep iilor cuantice despre natura radia iei. În 1884 Boltzmann a demonstrat pe cale teoretic legea (4.4) R ! WT 4 . Emitan a total R a corpului absolut negru este propor ional cu temperatura absolut la puterea a patra. Aceasta este legea StefanBoltzmann, iar coeficientul de propor ionalitate W ! 5.67 * 10 8 ( w /( m 2 k 4 )) , este constanta lui Stefan-Bolztmann. Pe cale experimental aceast lege a fost stabilit în 1879 de c tre Stefan. Distribu ia spectral a energiei radiante a corpului absolut negru a fost r0 P,T studiat în detalii T3"T2"T pe cale experimental . Rezultatul T3 acestor experimenT2 te este prezentat în fig.4.2. Curbele T1 corespund diferitelor valori ale temperaturii T a corpului absolut P negru. Analiza Fig. 4.2 acestor curbe arat c pentru fiecare temperatur exist o lungime de und m, c reia îi corespunde o valoare maxim a fluxului radiant emis de unitatea de suprafa a corpului absolut negru. La cre terea temperaturii lungimea de und m se mic oreaz . În baza acestor fapte experimentale Wien a stabilit c lungimea de und , c reia îi corespunde emitan a
49

spectral maxim a corpului absolut negru , este invers propor ional cu temperatura absolut (4.5) m=b/T , unde b=2,898 10-3 este constanta lui Wien. Încerc rile de a stabili teoretic o astfel de form a func iei ro( ,T)=f( ,T) care s fie în corespundere cu rezultatele experimentale (fig. 4.2), e uau una dup alta. Solu ia a fost g sit de M. Planck (1900) care a pornit de la ipoteza potrivit c reia energia este radiat în por iuni discrete numite cuante. Formula lui Planck se scrie sub forma 2Thc I (4.6) r0 P , T ! 5 ¨ e kT  1¸ . © ¹ º P ª În formula (51.6) h=6.62*10-34 J·s este constanta lui Planck; k=1.38*10-23 J/k este constant lui Botzmann. c=3*108 m/s ± viteza luminii în vid. Energia cuantei I se exprim fie prin lungimea de und I=hc/P, fie prin frecven I=hR. Formula lui Planck este în deplin coordonan cu datele experimentale în tot intervalul lungimilor de und de la 0 la infinit. Din formula lui Planck rezult toate legile radia iei corpului absolut negru ca fiind cazuri particulare, iar constanta StefanBolzmann i constanta lui Wien se exprim prin constante fizice fundamentale. În aceast lucrare se verific pe cale experimental legea Stefan-Bolzmann (4.4). Drept corp absolut negru serve te un re ou electric având o deschidere îngust , prin care este emis radia ia. Temperatura re oului se determin cu ajutorul unui termocuplu. Drept receptor de radia ie serve te un termoelement (TE) (fig. 4.3) care genereaz o tensiune termoelectromotoare i ca urmare rezisten a de sarcin este parcurs de un curent de putere rs , unde U este c derea de tensiune pe rs

©

P !

2

(4.7)

50

Una din caracteristicile termoelementului este randamentul , care arat gradul de transformare a fluxului incident în tensiune TE d electromotoare. Randamentul * reprezint raportul dintre puterea P degajat pe rezisten a de sarcin i QV rS fluxul ¶ incident pe termoelement P L! . (4.8) * Fig. 4.3 Presupunem c fluxul reprezint o frac iune m din fluxul radiant emis de corp, adic : * ' ! m* . (4.9) Folosind formulele (51.1), (51.4), expresia (51.9) se poate transcrie sub forma *d mWT 4 S . ! inând cont de (4.7) pentru randament avem: U2 ! . (4.10) rs mWT 4 S Transcriind expresia (4.10) pentru dou temperaturi diferite, se poate ob ine (considerându-se c la diferite temperaturi randamentul este acela i) U 1 T12 U 12 T14 ! ! 4 sau, în definitiv . (4.11) 2 U 2 T22 U 2 T2 Evident, c verificând pe cale experimental expresia (4.11), ne putem convinge de valabilitatea legii lui Stefan-Boltzmann, deoarece aceasta a fost utilizat la deducerea rela iei (4.11). Când am dedus rela ia (4.11), am folosit legea lui StefanBoltzmann pentru corpul absolut negru, în timp ce pentru corpurile reale (numite corpuri cenu ii) dependen a R de T se scrie astfel R ! EWT 4 , (4.12)
51   

unde E este un coeficient de propor ionalitate numit emisivitatea radiant i definit ca raportul dintre emitan total a unui corp oarecare i emitan a total a corpului absolut negru la aceea i temperatur . Emisivitatea E depinde de natura corpului, de starea suprafe ei corpului i de temperatur . Dependen a lui de temperatur este destul de puternic . Pentru wolfram , de exemplu, la T=1500 K emisivitatea =0.15, iar la T=3500 K =0.34. Deoarece depinde de temperatur , rela ia (4.11) va avea loc numai pentru temperaturi apropiate una de alta. Cu cât mai mult difer temperaturile, cu atât mai r u este satisf cut rela ia (4.11). Valoarea emisivit ii pentru corpul radiant (filamentul l mpii incandescente) se poate calcula astfel. Presupunem c filamentul cu aria suprafe ei S consum puterea electric P. Atunci raportul R/S este egal numeric cu puterea ce se transmite unit ii de suprafa a filamentului i care este emis de aceasta. Astfel se poate considera c Rd=P/S, (4.13) unde Rd este emitan a filamentului. Din rela iile (51.12) i (51.13) ob inem P . (4.14) E ! WT 4 S Valorile pentru S i P se determin relativ u or. Temperatura absolut T a filamentului l mpii nu poate fi m surat prin metode termometrice obi nuite, filamentul aflându-se într-un balon de sticl . Temperatura corpurilor incandescente se determin cu ajutorul pirometrului optic ,în care este înregistrat radia ia emis de aceasta. În func ie de legea radia iei ±(4.4),(4.5) sau (4.6), pe care este bazat m surarea, se disting trei temperaturi ale corpurilor: de radia ie, de culoare i de str lucire. În laboratorul nostru este utilizat pirometrul optic destinat pentru determinarea temperaturii de str lucire. M surarea este bazat pe compararea energiei radiate de corpul cercetat i a celei
52

radiate de corpul absolut negru într-un anumit interval spectral . Aceast comparare se poate face prin mai multe procedee, îns cel mai simplu compararea este realizat cu ajutorul pirometrului cu dispari ie de filament (fig. 4.4). În focarul obiectivului este instalat lampa electric L în form de semicerc. Corpul radiant S, a c rui temperatur se m soar , se instaleaz fa de obiectiv astfel, încât marginea lui s se suprapun pe filamentul l mpii L. În acest caz ocularul O1 ne permite s vedem concomitent filamentul becului L i corpul S. Filtrele de lumin K1 i K2 ( =0.6 m), montate între ocular i ochi las s treac numai lumina monocromatic din cea emis de L i S. În felul acesta se separ un interval spectral îngust . Incandescen a filamentului L este reglat variind intensitatea curentului prin el. Se poate ob ine o intensitate a curentului, la care emitan ele spec-trale ale filamen-tului L i corpul S s fie egale în intervalul dat de lungimi de und . În acest caz filamentul l mpii dispare pe fondul imaginii K1 K2 corpului radiant. S Ampermetrul A O1 L O poate fi gradat în grade celsius, utilizând un corp absolut negru. Dac corpul cercetat S nu este un corp negru, A atunci temperatura m surat cu pirometrul difer Fig. 4.4 de cea real . Aceast temperatur este totdeauna mai mic decât cea real i se nume te temperatur de str lucire Ts. Pentru a afla temperatura real a corpului este necesar s se tie m rimea
53

Z !

r P ,T

corp studiat , r0 P ,T corp negru

numit emitan spectral relativ a corpului radiant. Pentru unele substan e valorile lui E i z sunt tabelate. În aceast lucrare pe lâng verificarea rela iei (4.11), se recomand determinarea emisivit ii E pentru filamentul l mpii incandescente instalate în fa a obiectivului pirometrului. Pentru determinarea lui E se poate folosi formula (4.14), în care se introduce în locul temperaturii de radia ie T temperatura de str lucire Ts m surat cu ajutorul pirometrului. Eroarea adus prin aceast înlocuire este neînsemnat , deoarece T i TS au aproximativ acelea i valori în domeniul de temperaturi i lungimi de und considerat în aceast lucrare. Modul de lucru 1. Se m soar câteva valori ale c derii de tensiune pe rezisten a de sarcin RS (fig. 4.3) la diferite temperaturi T ale re oului electric. 2. Se verific rela ia (4.11) pentru fiecare pereche de valori ale lui U i T i se explic rezultatele ob inute. 3. Se m soar cu ajutorul pirometrului temperatura filamentului pentru diferite valori ale puterii consumate de bec i, folosind formula (4.4), se determin valorile corespunz toare ale emisivit ii radiante E. 4. Se construie te graficul func iei E=f(T) i se explic curba ob inut . 1. 2. 3. 4. 5. 6. Întreb ri de control Ce este radia ia termic ? Defini i caracteristicile principale ale radia iei termice. Enun a i legile lui Kirchhoff, Stefan±Boltzmann i Wien. Ce se nume te corp absolut negru? S se deduc formula (4.11). Care este sensul fizic al emisivit ii radiante E?
54

7. S se deduc formula(4.14). 8. Care este principiul de func ionare al pirometrului? 5. CONDUCTIBILITATEA ELECTRIC A SEMICONDUCTORILOR Lucrarea de laborator Nr.29 STUDIEREA EXPERIMENTAL A DEPENDEN EI CONDUCTIBILIT II ELECTRICE A SEMICONDUCTORILOR DE TEMPERATUR Scopul lucr rii: determinarea l rgimii benzii interzise a semiconductorilor. Aparate i accesorii: 1)montajul pentru studiul experimental al dependen ei conduc-tivit ii semiconductorilor de tempe-ratur ; 2)e antionul semiconductor studiat.

Considera ii generale
Proprietatea corpurilor solide de a conduce curentul electric este caracterizat de o m rime fizic denumit conductibilitate electric specific sau conductivitate ( ). Este utilizat , de asemenea, m rimea invers 1/ , denumit rezisten a specific sau rezistivitate, = 1/ . În func ie de valoarea lui solidele se împart în conductori ( >106 S), izolatori sau dielectrici ( < 10-8 S) i semiconductori (valori intermediare ale lui ). În mare m sur aceasta este o clasificare conven ional , dat fiind faptul c conductivitatea substan elor variaz cu temperatura, starea de agregare i depinde de factorii exteriori, cum ar fi iradia ia, ac iunea câmpurilor magnetice, electrice etc. Experien ele ne demonstreaz caracterul diferit al dependen ei conductivit ii diferitelor materiale de temperatur . De
55

exemplu, conductivitatea metalelor scade cu cre terea temperaturii, iar a semiconductoarelor, dimpotriv , cre te. La temperaturi foarte joase semiconductorii se comport la fel ca dielectricii. Propriet ile electrice ale conductorilor, dielectricilor i semiconductorilor se pot explica din acela i punct de vedere al teoriei zonelor energetice a corpului solid. Potrivit teoriei zonale, electronii din corpul solid sunt distribui i pe nivele energetice care formeaz spectrul energetic. Acest spectru este alc tuit din zone sau benzi permise i benzi interzise de energie. În atomul izolat electronii se pot afla pe anumite nivele energetice. Electronii din solide, de asemenea, nu se pot afla decât în anumite st ri energetice. Îns distribu ia nivelelor energetice în corpurile solide difer considerabil de aceea a nivelelor energetice ale electronilor din atomii izola i. În atomi diferen a dintre valorile de energie ale electronilor de pe dou nivele energetice învecinate este mult mai mare decât în substan ele cristaline. Corpul solid poate fi considerat ca o molecul uria format din N atomi (N este un num r foarte mare). Ace ti atomi se influen eaz reciproc i aceasta se r sfrânge asupra structurii nivelelor energetice ale corpului solid. Ca urmare a acestei interac iuni, se produce o scindare a nivelelor energetice ale electronilor: în locul unui singur nivel energetic comun pentru to i atomii izola i apar nivele energetice care, de i sunt foarte apropiate unul de altul, ele nu se suprapun. Aceste nivele aranjate foarte aproape unul de altul formeaz o band sau zon de valori permise de energie. În corpul solid exist nu una, ci mai multe benzi permise, separate prin intervale de valori interzise de energie, denumite benzi sau zone interzise. A adar, în orice solid cristalin nivelele energetice ale electronilor se grupeaz într-o structur de benzi care constituie spectrul energetic al solidului. Diagrama st rilor energetice ale electronilor din cristale este reprezentat schematic în fig. 5.1. Distribu ia electroni-lor pe nivelele energetice ale benzilor permise este guvernat de principiul lui Pauli, conform c ruia în
56

orice stare energetic nu se pot afla mai mult de doi electroni cu spinii antiparaleli. La zero absolut electronii ocup doi câte doi toate nivelele energetice permise, începând cu nivelul inferior c ruia îi corespunde valoarea minim de energie. Propriet ile fizice ale cristalelor sunt determinate de distribu ia electronilor în banda de valen . Banda de valen rezult din scindarea nivelului energetic al atomului izolat, ce corespunde electronilor de valen ai atomului în Fig. 5.1 starea fundamental . În urma scind rii nivelelor excitate, electronii atomului izolat formeaz banda de conduc ie. În func ie de gradul de populare a benzii de valen cu electroni corpurile solide se împart în conductori i izolatori (dielectrici). În conductori banda de valen nu este ocupat decât par ial de electroni i de aceea ea este i o band de conduc ie. Metalele sunt buni conductori datorit electronilor prezen i în banda de conduc ie. În izolatori banda de valen este complet ocupat , fiind separat de aceea de conduc ie printr-o zon interzis Fig. 5.2 relativ larg (fig. 5.2) Experien ele au ar tat c conductivitatea electric a semiconductorilor cre te rapid cu cre terea temperaturii conform rela iei
57

(5.1) K ! Ae  ( E 2 kT , -23 unde k=1,38·10 J/k este constanta lui Boltzmann, este o constant care depinde de tipului semiconductorului. Rela ia (5.1) a fost confirmat pe cale teoretic în fizica corpului solid. Se constat , îns , c constanta A, de asemenea, depinde de temperatur . În lucrarea de fa aceast dependen afecteaz atât de pu in curba experimental (T), în intervalul dat de temperaturi, încât poate fi neglijat . În cristalele reale concentra iile electronilor i golurilor pot s nu mai fie egale din cauza impurit ilor i a defectelor re elei cristaline. Dac în re eaua cristalin de baz a semiconductorului exist atomi de impurit i, în banda interzis apar nivele energetice înguste de dou tipuri (fig. 5.3). La temperatura zero absolut, în func ie de valen a atomilor de impurit i, nivelele impurit ilor vor fi ocupate (fig. 5.3a), ori neocupate (fig. 5.3b). Sub ac iunea factorilor externi (temperatur , iradia ie, câmpuri electrice puternice) electronii ob in un "spor" de energie E, ceea ce le permite s efectueze Fig. 5.3 tranzi ii pe nivele energetice mai înalte. Întrucât în conductori banda de valen nu este ocupat în întregime, o energie relativ mic (10-23 ... 10-22 eV) transmis electronilor e suficient pentru ca ei s treac pe nivele mai înalte. În dielectrici, îns , l rgimea zonei interzise E este destul de mare (de exemplu, pentru diamant E~5eV). Electronul nu poate sa ob in o astfel de energie în câmpuri electrice obi nuite. Exist , bineîn eles, câmpuri electrice extrem de intense, îns acestea duc la
58

str pungerea izolatorului. Dac E~3eV, corpul cristalin manifest propriet i de semiconductor. În cazul când E are valori de ordinul a câteva zecimi de electron-volt, pentru trecerea electronilor în banda de conduc ie este suficient energia mi c rii termice. Nivelele superioare ale benzii de valen r mase în urma acestor tranzi ii pot fi ocupate de electronii de pe nivelele inferioare. Sub ac iunea câmpului electric extern electronii au posibilitatea de a- i m ri energia, deoarece în banda de conduc ie i în banda de valen exist st ri energetice "vacante". Apare un curent electric condi ionat de mi carea electronilor din banda de conduc ie i în banda de valen . Concomitent cu mi carea electronilor are loc deplasarea golurilor în sens opus. Gol este numit starea energetic neocupat de electron. În câmpul electric extern golul se comport ca o particul cu sarcin electric pozitiv . Conductibilitatea semiconductorilor f r impurit i se nume te conductibilitate proprie sau intrinsec , iar îns i semiconductorii se numesc semiconductori intrinseci. Din aceast clasa de semiconductori fac parte germaniul, siliciul, seleniul etc. În semiconductorii intrinseci concentra iile electronilor de conduc ie i a golurilor sunt egale. La cre terea temperaturii se m re te concentra ia electronilor în banda de valen . Ca urmare cre te conductibilitatea semiconductorului. Deoarece nivelele energetice ale impurit ilor, ocupate la zero absolut, sunt situate mai aproape de banda de conduc ie (vezi fig. (5.3a)) la temperaturi T0 în banda de conduc ie vor apare electroni, conductibilitatea unui astfel de conductor fiind numit conductibilitate electronic . Nivelele impurit ilor neocupate la T=0K sunt situate mai aproape de banda de valen (fig. 5.3c), i de aceea la T0 în banda de valen vor apare goluri, astfel realizându-se conductibilitatea prin goluri (fig. 5.3d).
59

Deci, în prezen a impurit ilor conductibilitatea semiconductorului este, cu prec dere, o conductibilitate prin impurit i, extrinsec . Conductibilitatea specific determinat de impurit i variaz cu temperatura conform rela iei K ! Be 2kT , (5.2) unde E este energia de activare a impurit ilor (vezi fig. 5.3.d). La cre terea temperaturii concentra ia purt torilor de sarcin furniza i de impurit i atinge rapid valoarea de satura ie, ceea ce înseamn c se golesc toate nivelele energetice ale impurit ilor care fuseser ocupate, sau se ocup cele neocupate înainte. În acela i timp, odat cu cre terea temperaturii cre te tot mai mult ponderea conductibilit ii proprii. A adar, conductibilitatea semiconductorilor se compune în genere din conductibilitatea proprie (intrinsec ) i conductibilitatea prin impurit i (extrinsec ) K ! Ae 2 kT  Be 2 kT . (5.3) La temperaturi joase predomin conductibilitatea extrinsec (termenul al doilea), iar la temperaturi mai înalte conductibilitatea intrinsec (termenul întâi). Dac vom logaritma expresia (5.3) i vom construi graficul ln K ! f (1 / T ) , vom ob ine curba reprezentat în fig. 5.4. Dreapta I, ob inut la temperaturi mai înalte, descrie conductibilitatea proprie, iar dreapta II ± conductibilitatea prin impurit i. Pentru e antioane cu un con inut mic de impurit i în limitele de temperaturi 0-1000C este mai pronun at dreapta I. De aceea, termenul al doilea din (5.3) poate fi neglijat în compara ie cu primul, ajungându-se astfel la expresia (5.1). Logaritmând (5.1), ob inem: (E 1 ln K !   ln A . (5.4) 2k T Astfel, dependen a lnK de 1/T este liniar , de aceea:
60 
(E  (E  (E

tgE !

(E 2k

de unde (E ! 2ktgE .

(5.5)

Fig.5.4

Deci, pentru a determina l rgimea zonei interzise E cu formula (5.5), este necesar s se calculeze conductivitatea e antionului la diferite temperaturi s se construiasc graficul dependen ei lnK de1/T i s se afle coeficientul unghiular al dreptei ob inute. Conductivitatea semiconductorilor poate fi determinat prin diferite metode. Când se opteaz pentru o metod sau alta de efectuare a m sur rilor, trebuie s se in cont de factorii care ar putea s afecteze rezultatele m sur rilor. Unul din asemenea factori îl constituie tensiunea termoelectromotoare ce apare la contractul dintre semiconductor i conductorii metalici de alimentare cu curent electric. M rimea tensiunii termoelectromotoare variaz cu temperatura, fapt care duce la perturbarea rezultatelor m sur rilor.
61

Pentru a exclude influen a tensiunii termoelectromotoare, în experimentele respective este utilizat curent alternativ. Metodele de determinare a conductivit ii în func ie de temperatur = f(T) 1. Studiul experimental al dependen ei (T) cu ajutorul pun ii de curent alternativ Schema circuitului pentru determinarea func iei (T) este reprezentat în fig. 5.5. E antionul semiconductor (R0) constituie unul din bra ele pun ii de curent alternativ de frecven reglabil . Rezistoarele R1, R2, R3 sunt conectate în celelalte bra e. Diferen a de poten ial între punctele a i b va fi nul , adic se va realiza echilibrul pun ii, când va fi satisf cut condi ia R1R0=R2R3. (5.6) Stabilirea echilibrului se poate urm ri cu ajutorul oscilografului montat între punctele a i b. Rezisten a R0 este determinat de formula l 1 l0 , (5.7) R0 ! V 0 0 ! s0 K 0 s0 unde 0 este rezistivitatea, 0 conductivitatea, l0 - este lungimea i s0 sec iunea transversal a e antionului. l R 1 Din(5.6) i (5.7) se ob ine K 0 ! 0 1 s 0 R3 R2 Deoarece m rimile l0, S0, R1, R3 sunt constante, putem scrie 1 , unde K !D R2 l R D! 0 ™ 1. Fig. 5.5 S 0 R3 Logaritmând formula pentru K, ob inem
62

(5.8) ln K 0 ! ln D  ln ¨ 1 ¸ . © R ¹ 2º ª E antionul de semiconductor se introduce într-un cuptor, temperatura fiind determinat cu ajutorul unui termocuplu conectat la un milivoltmetru. Varia ia temperaturii atrage dup sine varia ia rezisten ei e antionului. Echilibrul pun ii se men ine cu ajutorul rezisten ei reglabile R2. Fiec rei valori de temperatur îi corespunde o anumit valoare a rezisten ei R2. Calculând R2 i cunoscând valoarea constantei D, poate fi calculat lnK 0 pentru diferite valori ale temperaturii T (vezi formula (5.8)). Dup datele m sur rilor se construie te graficul ln K 0 ! f / T din care dup formula (5.5) se 1 poate calcula l rgimea zonei interzise E. 2. Studiul experimental al func iei (T) prin metoda de comparare. Schema montajului electric este reprezentat în fig.5.6. E antionul semiconductor R0 este conectat în serie cu rezisten a etalon R. Prin intermediul comutatorului C se conecteaz milivoltmetrul mV, cu care se poate m sura pe rând tensiunile pe Ro i Re (Uo i Ue). Fig. 5.6 E antionul se introduce într-un cuptor, iar Re se men ine la temperatur constant . La cre terea temperaturii rezisten a e antionului scade i ca rezultat variaz curentul prin Ro i Re. De aceea, variaz tensiunile Uo = IRo, pe e antion Ue = IRe pe rezisten a etalon. Întrucât la temperatura dat curentul prin Ro i Re este acela i, raportul tensiunilor este egal cu raportul rezisten elor respective:
63

IR0 U 0 R U ! => 0 ! 0 , (5.9) IRe U e Re U e unde Uo este c derea de tensiune pe semiconductor i Ue pe rezisten a etalon. Introducând expresia lui (5.7) în (5.9), ob inem l0 U K0 ! ™ e . S 0 ™ Re U 0 U Aceast formul se poate scrie sub forma K 0 ! C e , în care U0 l C! 0 . S 0 R0 Logaritmând aceast expresie, ob inem U (5.10) ln K ! ln C  ln e . U0 Odat cu varia ia temperaturii e antionului se schimb i valorile U e i U 0 . Dup datele m sur rilor se construie te graficul ln K 0 ! f / T din care dup formula (5.5) se poate calcula 1 l rgimea zonei interzise E. Modul de lucru 1. Se examineaz montajul experimental pentru cercetarea func iei (T). 2. Se efectueaz studiul experimental al dependen ei (T) prin metoda indicat de profesor. 3. Se determin l rgimea benzii interzise a e antionului semiconductor cercetat care se va exprima în eV. 4. Identifica i semiconductorul studiat, folosind datele din tabele pentru E. 5. Se evalueaz erorile în determinarea valorii E.

64

Întreb ri de control 1. Care este principiul de clasificare a corpurilor solide în semiconductori i dielectrici? 2. În ce const caracterul conven ional al acestei clasific ri? 3. Expune i concep iile ce stau la baza teoriei zonale a corpurilor solide? 4. Ce se pune la baza clasific rii corpurilor cristaline în conductori i dielectrici în teoria zonal ? 5. Cum explic teoria zonelor de energie conductibilitatea semiconductorilor i dependen a ei de temperatur ? 6. Ce reprezint conductibilitatea intrinsec (proprie) a semiconductorilor? 7. Când se realizeaz conductibilitatea prin impurit i? În ce condi ii se manifest cu prec dere conductibilitatea electronic sau prin goluri? 8. Care sunt metodele de studiu experimental al dependen ei (T)? 9. Prin ce procedeu se pot exclude constantele A, D i C din formulele (5.4), (5.8) i (5.10) i când este posibil acest procedeu? 6.RADIOACTIVITATEA NATURAL Unele informa ii privind influen a radia iilor asupra organismului uman i modul de lucru în laboratorul de fizica corpului solid i a nucleului atomic. Radia iile radioactive i Roentgen au o ac iune nociv asupra esuturilor biologice. Sub influen a lor în organism se formeaz radicali chimici liberi i în celule se produc muta ii ce duc la leucemie, la formarea tumorilor maligne i la alte maladii grave. Efectele produse de radia ie asupra organismului sunt determinate de cantitatea de energie absorbit , deci, în ultim instan , de energia radia iei. Energia radia iei se disipeaz în orice mediu, în principal prin ionizarea i excitarea moleculelor. În mediile lichide (corpul
65

omenesc, într-o prim aproxima ie, poate fi considerat ca un mediu lichid) energia particulelor se distribuie aproximativ egal între procesele de ionizare i excitare. Îns aceste dou moduri de disipare a energiei pot avea efecte chimice i biologice diferite. În prezent se consider c ac iunea biologic este determinat aproape în întregime de ionizare. Deoarece puterea de ionizare depinde de tipul radia iei, ac iunea biologic este i ea determinat de tipul radia iei. Radia ia E. Orice izotop E radioactiv emite particule E ce au anumite energii. Valorile maxime ale energiei particulelor E emise de c tre diferi i izotopi sunt cuprinse între 4 i 11 MeV. Parcursul liber al particulelor E în aer este de 3 ± 11 cm, în aluminiu de 0,08 ± 0,4 mm. O foaie dubl de hârtie obi nuit absoarbe complet particulele E cu energia de 5 MeV. Epiderma corpului uman, de asemenea, absoarbe complet particulele E, i de aceea, iradierea cu particule E nu este d un toare pentru organele interne ale omului. În aer la temperatura de 150 C i presiunea de 1,013·105 Pa particula E, în func ie de energia ei, formeaz de la 1,5·104 ± 2,5·104 perechi de ioni. Ionizarea specific (num rul de perechi de ioni forma i pe un parcurs de 1 cm) produs de particulele E este destul de mare, atingând aproximativ 3·103 perechi de ioni. Iat de ce p trunderea particulelor E în organism este foarte d un toare, iar expunerea corpului la o surs E puternic provoac arsuri grave. Radia ia . Puterea de penetra ie a particulelor este mult mai mare decât a particulelor E. Parcursul liber al particulelor în aer depinde de energia lor. Pentru particulele cu energia de 3 MeV el este de circa 3 m. Îmbr c mintea i pielea corpului uman absorb aproximativ 75% de particule , p trunzând doar 20-25% în organism la adâncimea de 2 mm. Cel mai mare pericol îl prezint p trunderea particulelor în ochi, deoarece partea exterioar a ochiului nu are înveli de protec ie. Particulele pe un parcurs de 1 cm formeaz în medie 60 de perechi de ioni, adic considerabil mai pu in decât particulele . Aceasta se explic prin faptul c particulele au o sarcin electric
66

mai mic i viteze mai mari, ce duc la reducerea probabilit ii de intersec ie cu atomul. Particulele cu energia de 1 MeV sufer absorb ie total într-un strat de aluminiu de 1,5 mm sau unul de plexiglas de 3,6 mm grosime. Expunerea la particulele cu energia mai mare de 4 MeV este d un toare pentru om. Radia iile . Radia iile , în compara ie cu radia iile i , au cea mai mare putere de penetra ie. În aer radia iile nu sufer practic nici o atenuare. Plumbul, o elul, betonul, apa i alte materiale cu densitate mare atenueaz sim itor radia iile . Datorit puterii de penetra ie considerabile radia iile sunt foarte periculoase pentru s n tatea omului. Razele Roentgen au o putere de penetra ie ceva mai mic decât razele . Dar la o expunere îndelungat ele prezint un pericol la fel de mare. Trebuie remarcat faptul c orice tip de radia ie de înalt energie, interac ionând cu un mediu, genereaz o nou radia ie ionizant sau produce transform ri nucleare care, la rândul lor, pot avea ac iuni nocive. Utilizarea preparatelor radioactive implic respectarea modului de lucru în laborator i a unui ir de reguli în manipularea instala iilor. Aceste reguli trebuie respectate cu stricte e mai ales în cazul surselor radioactive deschise. În laboratorul de fizica corpului solid i a nucleului atomic se utilizeaz numai surse închise de particule de mic energie (3 MeV). Preparatul radioactiv (sursa de particule ) se afl sub un înveli protector într-un container metalic cu capac deta abil. Se va avea în vedere c în laborator prezint pericol nu numai radia iile, ci i tensiunile electrice înalte care alimenteaz unele instala ii. De aceea, este obligatorie respectarea urm toarelor instruc iuni de protec ia muncii: 1. Înainte de a începe lucrul se va verifica punerea la p mânt a aparatelor i instala iilor utilizate. 2. La deschiderea containerului cu substan a radioactiv i în timpul lucrului sursa radioactiv se va afla în spatele unui paravan protector din plexiglas.
67

3. Containerul cu substan a radioactiv se va manipula astfel, ca s se evite orientarea fascicolului neecranat spre alte persoane de laborator. 4. Instala ia Roentgen se va cupla la re ea numai în timpul execut rii lucr rii cu permisiunea conduc torului de lucr ri, ea urmând a fi scoas de sub tensiune imediat dup terminarea lucr rii. 5. În caz de defectare a unui aparat în timpul lucrului se va anun a imediat conduc torului de lucr ri sau laborantului. 6. Este interzis : a) atingerea por iunilor neecranate ale circuitelor electrice; b) expunerea p r ilor corpului, în special a ochilor, la fascicolul de radia ie neecranat ; c) l sarea montajului de laborator sub tensiune f r supraveghere; d) deteriorarea înveli ului de plumb a instala iei Roentgen; atingerea instala iei cu mâna. 7. Containerul cu sursa radioactiv se va primi de la laborant imediat înainte de utilizare i se va înapoia imediat dup terminarea lucr rii. În laboratorul de fizica corpului solid i a nucleului atomic într-un ir de lucr ri sunt folosi i laseri - surse de radia ie directiv monocromatic în domeniul optic al undelor electromagnetice, adic în ultraviolet, vizibil, infraro u. Laserul cu heliu i neon utilizat în laborator are o putere de radia ie de câ iva miliwa i, aceast radia ie fiind practic nev t m toare pentru piele, îns poate produce traume la p trunderea în ochi. În timpul lucrului este interzis categoric: a) introducerea în calea razei laser a diferitor obiecte (oglinzi, pl ci din sticl etc.), deoarece raza reflectat poate nimeri în ochi. b) Privirea în orificiul de ie ire al laserului. Cuplarea la re ea sau decuplarea laserului o face numai laborantul sau profesorul.

68

Lucrarea de laborator Nr.30 DETERMINAREA LIMITEI SUPERIOARE A SPECTRULUI RADIA IEI Scopul lucr rii: determinarea limitei superioare a spectrului radia iei prin metoda absorb iei totale i atenu rii pe jum tate. Aparate i accesorii: contor de impulsuri, contor Geiger, surs de radia ie , pl ci de aluminiu. No iuni teoretice Fenomenul transform rii spontane a izotopilor instabili ai unui element chimic în izotopul altui element înso ite de emisie de particule elementare sau nuclee se nume te radioactivitate natural . Exist dou tipuri principale de dezintegrare radioactiv : dezintegrarea i dezintegrarea . În dezintegrarea are loc transformarea izotopului cu num rul de sarcin Z i num rul de mas A într-un izotop cu num rul de sarcin Z-2 i num rul de mas A-4, dezintegrarea fiind înso it de emisia unei particule, care este nucleul izotopului de 4 heliu 2 He . Dezintegrarea este descris de reac ia nuclear A 4 A 4 Z X p 2 He  Z  2Y . În dezintegrarea are loc transformarea izotopului cu num rul de sarcin Z i num rul de mas A într-un izotop cu num rul Z+1 i cu acela i num r de mas A, dezintegrarea fiind înso it de emisia unei particule , adic a unui electron, conform reac iei A A 0 2 X p Z 1Y  1 e . Exist i dezintegrarea +, în care se produce transformarea unui izotop cu num rul de sarcin Z în altul cu num rul de sarcin
69

Z-1, num rul de mas A r mânând acela i i dezintegrarea fiind 0 înso it de emisia unui pozitron ( 1 e ), conform reac iei A A 0 2 X p Z 1Y  1 e . Electronii apar în urma transform rii neutronului ( 01 n ) din
1 nucleu în proton ( 1 p ), iar pozitronul apare în urma transform rii protonului în neutron. Dezintegrarea este înso it , de asemenea, de emisia unei ~ particule elementare - antineutrinul R e sau neutrinul R e . Distribu ia particulelor dup energie, studiat prin metoda devia iei acestora în câmpul magnetic, ne demonstreaz c spectrul lor este continuu. Aceasta înseamn c energia particulelor emise poate avea orice valori cuprinse în intervalul de la zero pân la o anumit valoare maxim pentru izotopul radioactiv dat, numit limita superioar a spectrului radia iei . Distribu ia tipic a particulelor dup energie (spectrul radia iei ) este reprezentat în fig. 6.1, unde în abscis este trecut energia electronilor E, iar în ordonat num rul N de particule cu valoarea respectiv a energiei. N Studiul spectrelor radia iei arat c distribu ia reprezentat în fig. 6.1 este caracteristic nu numai pentru izotopii radioactivi naturali, ci i pentru izotopii ob inu i pe cale artificial . Limita superioar a 0 Emax E Fig. 6.1 spectrului radia iei are valori diferite pentru diferi i izotopi, i de aceea, ea este una din caracteristicile izotopilor. Valorile Emax pentru diferi i izotopi sunt cuprinse între 15keV i 15MeV. Una din metodele de determinare a energiei maxime a particulelor este metoda absorb iei totale (atenu rii exponen iale).

70

Între sursa de particule i contorul Geiger, adic în calea particulelor se pune un absorbant, observându-se atenuarea fluxului de particule odat cu cre terea grosimii absorbantului. Particula de o anumit energie nu poate str bate decât o anumit grosime dmax a absorbantului dat. De aceea, m rimea dmax ( este densitatea mediului absorbant) se ia drept m sur a energiei particulelor . În cazul radia iei curbele de absorb ie sunt aproximativ exponen iale (fig. 6.2). Panta atât de abrupt a curbei de absorb ie la valori mici ale lui d i relativ u oar la valori mari se explic prin faptul c mecanismele de interac ie ale particulelor lente i ale celor rapide cu mediul absorbant sunt diferite. Particulele cu viteze mari sunt absorbite relativ slab i, de aceea, curba de atenuare se apropie asimptotic de nivelul radia iei de fond. Orice contor Geiger înregistreaz o anumit radia ie de fond determinat de razele cosmice, de impurit ile radioactive din materialul, din care e confec ionat corpul, i de desc rc rile spontane. O astfel de apropiere asimptotic a curbei de nivelul de fond nu permite determinarea precis a valorilor dmax i, de aceea, e ra ional s se traseze curba de atenuare în scar semilogaritmic ln N ! f d (fig. 6.3). În acest caz, prelungind, por iunea rectilinie de atenuare pân la intersec ia cu nivelul de fond se poate determina valoarea lui dmax. Deoarece nu exist formule exacte, care ar exprima parcursul liber maxim al particulelor în func ie de energia lor, energia maxim se calculeaz folosind formule empirice ob inute de diferi i cercet tori. Astfel, pentru particulele având energia cuprins între limitele 0,7MeV<E<3MeV, se verific bine rela ia lui Feather Vd m  0,163 Em ! , (6.1) 0,543 unde se exprim în g/cm3, d în centimetri, E în MeV. Pentru E<2,5MeV Catz i Penfold au propus rela ia Vd m  0,106 0,530 . (6.2) Em !
71

Unele rela ii empirice mai simple pentru dependen a energiei particulelor de parcursul lor în aluminiu au forma: E m ! 1,85 ™ Vd m  0,245 , E>0,8MeV (6.3)
E m ! 1,92 V ™ d m
0 , 725

,

0,15MeV<E<0,8MeV.

(6.4)

Fig. 6.2

Fig. 6.3

În formulele prezentate mai sus dmax este grosimea maxim a materialului absorbant, care poate fi determinat , trasând graficul func iei N=f(d) sau lui ln N=f(d) (fig. 6.3). Ar fi mai simplu s se traseze graficul ln n=f(d), unde n ! N este viteza de înregistrare t a particulelor, n fiind num rul de particule înregistrate de contor în intervalul de timp t. Pe lâng metoda absorb iei totale, se mai folose te metoda atenu rii pe jum tate, în care se ine cont de faptul c la valori mici i mari ale lui d curba de absorb ie difer de cea exponen ial (fig. 6.3). În aceast metod se m soar grosimea absorbantului care este necesar pentru atenuarea unui fascicol de particule în jum tate fa de intensitatea fascicolului incident. Pentru calcularea lui Emax, se determin grosimea stratului absorbant de aluminiul, care reduce intensitatea radia iei de 21, 22, 23, ..., 2k ori. Dependen a dintre grosimea stratului d de aluminiu, care mic oreaz intensitatea radia iei de 2k ori, i energia maxim din spectrul radia iei a fost studiat experimental i este reprezentat grafic în fig. 6.4. Fiecare curb corespunde unei anumite valori a
72

lui k. Pentru k=1 viteza de înregistrare se mic oreaz de dou ori, pentru k=2 - de 4 ori etc. Determinând grosimea dk a stratului absorbant, care reduce viteza de înregistrare de 2 ori i folosind graficul din figura 6.4, se poate determina Emax în MeV.

Fig.6.4 Fig.6.4

1. 2. 3. 4.

Modul de lucru Se m soar nivelul de fond al contorului Nf pentru un interval de timp t. Se m soar viteza de înregistrare n0 ! N t în absen a absorbantului. Se m soar viteza de înregistrare n=N/t în func ie de grosimea stratului absorbant i se traseaz graficul func iei ln n=f(d). Din graficul ln n=f(d) se determin valorile lui d, pentru care vitezele de înregistrare sunt egale cu no/2, no/4, no/8,...calculând în prealabil ln no/2, ln no/4, ln no/8.
73

5. Se determin Emax prin metoda atenu rii pe jum tate pentru valorile lui a calculate în p.4, folosind graficul din fig. 6.4 (curbele 1, 2, 3). 6. Din graficul ln n=f(d) se determin dm. Se calculeaz Emax prin metoda absorb iei totale, folosind una din rela iile (6.1) - (6.4) în func ie de rezultatul ob inut în p.4. 7. Se trag concluzii, comparând valorile lui Emax ob inute prin metoda absorb iei totale i prin metoda atenu rii pe jum tate. 8. Folosind valoarea Emax ob inut , se determin viteza maxim a particulelor . Întreb ri de control 1. Ce se nume te radioactivitate natural ? Ce transform ri ale elementelor se produc în procesul radioactivit ii naturale? 2. Se tie c nucleul atomic este constituit din protoni i neutroni. Cum se poate explica emisia de particule din nucleu în dezintegrarea . 3. Ce este limita superioar a spectrului i ce st la baza metodelor de determinare a ei?

BIBLIOGRAFIE 1. Detlaf A. A., Iavorski B. M. Curs de fizic . Chi in u: Lumina, 1991. 2. . ., . : , 1985. 3. / . . . . : , 1983. 4. . ., . ., . . . : , 1965. 5. . . . : , 1970.
74

CUPRINS 1. Interferen a luminii« «««« «««««««««3 Lucrarea de laborator Nr.22 14 Studiul interferen ei luminii reflectate de la o lam cu fe e plan-paralele. Lucrarea de laborator Nr.23 18 Determinarea razei de curbur a unei lentile i a lungimii de und a luminii, folosind inelele lui Newton în lumin reflectat . 1. Difrac ia luminii«««««««««««««««««..20 Lucrarea de laborator Nr.24 29 Studiul difrac iei luminii pe obstacole simple. Lucrarea de laborator Nr.25 32 Studiul fenomenului de difrac ie a luminii pe re eaua de difrac ie. 2. Polarizarea luminii««««««««««««««««.36 Lucrarea de laborator Nr.26 42 Studiul polariz rii radia iei laser. Verificarea legii lui Malus. Lucrarea de laborator Nr.27 44 Studiul polariz rii luminii prin reflexie de la un dielectric. 3. Radia ia termic «««««««««««««««««.46 Lucrarea de laborator Nr.28 46 Studiul legilor radia iei termice. Determinarea emisivit ii radiante a corpurilor. 4. Conductibilitatea electric a semiconductorilor««««..55 Lucrarea de laborator Nr.29 55 Studierea experimental a dependen ei conductibilit ii electrice a semiconductorilor de temperatur .56 5. Radioactivitatea natural «««««««««««.««.65 Lucrarea de laborator Nr.30 69
75

Determinarea limitei superioare a spectrului radia iei. Bibliografie««««««««««««««««««..««.74

Optica ondulatorie Fizica atomului Fizica corpului solid Alc tuitori: P.Barde chi ,V. Chistol Redactor: Valentina Mustea -------------------------------------------------------------------------Bun de tipar 10.10.01. Formatul 60x84 1/16. Hârtie ofset. Tipar ofset. Coli de tipar 6,25. Tiraj 400 ex. Comanda nr. -------------------------------------------------------------------------U.T.M., 2004, Chi in u, bd. tefan cel Mare, 168. Sec ia Redactare, Editare i Multiplicare a U.T.M. 2068, Chi in u, str. Studen ilor, 11
76

77

Sign up to vote on this title
UsefulNot useful