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UNIVERSIDADE FEDERAL DE SANTA CATARINA

Programa de Ps-Graduao em Metrologia Cientfica e Industrial



INCERTEZAS NA MEDIO POR
COORDENADAS COM NFASE NA
CONTRIBUIO DA FORMA DA PEA E DA
ESTRATGIA DE MEDIO
Dissertao submetida Universidade Federal de Santa Catarina
para obteno do grau de Mestre em Metrologia

Francisco Pizzetti May
Florianpolis, 12 de Dezembro de 2007


INCERTEZAS NA MEDIO POR
COORDENADAS COM NFASE NA
CONTRIBUIO DA FORMA DA PEA E DA
ESTRATGIA DE MEDIO
Francisco Pizzetti May
Esta dissertao foi julgada adequada para a obteno do ttulo de
MESTRE EM METROLOGIA
e aprovada na sua forma final pelo
Programa de Ps-Graduao em Metrologia Cientfica e Industrial

______________________________________
Prof. Gustavo Daniel Donatelli, Dr. Eng.
ORIENTADOR

______________________________________
Prof. Armando Albertazzi Gonalves Jnior, Dr. Eng.
COORDENADOR DO PROGRAMA DE PS-GRADUAO
BANCA EXAMINADORA:





_______________________________
Prof. Armando Albertazzi Gonalves
Jnior, Dr. Eng.



____________________________
Prof. Carlos Alberto Schneider,
Dr. Ing.



____________________________
Prof. Celso Luiz Nickel Veiga,
Dr. Eng.



_____________________________
Eng. Ademir Linhares de Oliveira,
M.Sc.

























Dedicatria.

Dedico esta dissertao aos meus pais e minha irm, pelas
palavras sbias nos momentos incertos.

A DEUS


Agradecimentos


Ao Programa de Ps-Graduao em Metrologia Cientfica e
Industrial, a todos os professores, alunos e colaboradores que sempre
proporcionaram um excelente ambiente de trabalho.
A Fundao CERTI pelas excelentes dependncias oferecidas.
Ao orientador Prof. Dr.Gustavo Daniel Donatelli, por acreditar no
xito deste projeto e pela grande amizade criada.
A Daniel Samuel Hamburg-Piekar, pela exposio de seus
conhecimentos de programao.
A Francisco Augusto Arenhart pelo auxlio no decorrer do
trabalho como tambm na realizao das medies em ambiente
laboratorial.
Aos Engenheiros, Alexandre Lucas e Matheus Dieckmann de
Oliveira da Fundao CERTI pelas orientaes durante o andamento
deste trabalho.
A minha av, Maria Eloy Donner Neves, pelo magnfico
acolhimento durante toda minha caminhada acadmica.
A Maria Elosa Neves May e Raul Rogrio Rabello, pelo eterno
incentivo nos estudos e momentos de descontrao.



SUMRIO
LISTA DE ILUSTRAES ..................................................................................... I
LISTA DE TABELAS............................................................................................. V
LISTA DE ABREVIATURAS................................................................................. VI
RESUMO.............................................................................................................. VII
ABSTRACT......................................................................................................... VIII
1 INTRODUO.....................................................................................................1
1.1 OBJETIVO DA PRESENTE DISSERTAO....................................................5
1.2 ESTRUTURA DA DISSERTAO....................................................................5
2 FATORES QUE CONTRIBUEM INCERTEZA DAS MEDIES
REALIZADAS EM MQUINAS DE MEDIR POR COORDENADAS......................7
2.1 INFLUNCIAS DA MMC E DO APALPADOR...................................................8
2.2 INFLUNCIAS DO AMBIENTE.......................................................................13
2.3 INFLUNCIAS DA PEA A MEDIR................................................................15
2.4 INFLUNCIA DO OPERADOR.......................................................................19
2.5 SNTESE DO CAPTULO................................................................................20
3 MTODOS DE AVALIAO DE INCERTEZAS EM MEDIES POR
COORDENADAS..................................................................................................21
3.1 REALIDADE X IDEALIDADE ..........................................................................21
3.2 MTODO EXPERIMENTAL PARA AVALIAO DA INCERTEZA DE
MEDIO ISO 15530-3 .....................................................................................24
3.3 MTODOS COMPUTACIONAIS.....................................................................28
3.3.1 Mquina de medir por coordenadas virtual ..................................................28
3.3.2 MetroSage LLC PUNDIT...........................................................................31
3.4 SNTESE DO CAPTULO................................................................................34
4 PROPOSTA DE UMA SISTEMTICA PARA AVALIAO DE INCERTEZAS
EM MEDIES POR COORDENADAS...............................................................36
4.1 EXPOSIO DA METODOLOGIA DE PESQUISA ........................................37
4.2 A PEA DE TESTE E SUA CALIBRAO.....................................................38
4.3 DESENVOLVIMENTO E APLICAO DO PROGRAMA DE SIMULAO....42
4.3.1 Importao de dados....................................................................................44
4.3.2 Interpolao entre pontos e metodologia de simulao das medies ........44
4.3.3 Interao com o programa para avaliar uw para diferentes estratgias.......48
4.4 ESTIMATIVA DAS CONTRIBUIES DA MQUINA E DO AMBIENTE .......48
4.5 SNTESE DO CAPTULO................................................................................49


5 VALIDAO E APLICAO DA SISTEMTICA PROPOSTA........................50
5.1 VALIDAO DO PROGRAMA........................................................................50
5.1.1 Validao do processamento matemtico....................................................50
5.1.2 Validao do clculo do dimetro.................................................................54
5.1.3 Validao do clculo da cilindricidade..........................................................58
5.1.4 Validao do clculo da perpendicularidade ................................................59
5.2 APLICAO DA SISTEMTICA.....................................................................62
5.2.1 Clculo da incerteza devido calibrao da pea (ucal)..............................62
5.2.2 Clculo da incerteza devido interao entre a estratgia de medio e os
erros de forma da pea .........................................................................................65
5.2.3 Clculo da incerteza devida ao processo de medio (up) ..........................69
5.2.4 Erro sistemtico (b) ......................................................................................75
5.2.5 Incerteza expandida (U) ...............................................................................76
5.3 SNTESE DO CAPTULO................................................................................78
6 CONSIDERAES FINAIS...............................................................................79
6.1 CONCLUSO..................................................................................................79
6.2 TRABALHOS FUTUROS ................................................................................80
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS.....................................................................82
i

LISTA DE ILUSTRAES
Figura 1 Um dos padres de comprimento usado desde 1879 at 1960
(adaptada de
[1]
). .....................................................................................................1
Figura 2 A evoluo da incerteza da realizao do metro e da exatido dos
processos de fabricao (adaptado de
[2]
)...............................................................2
Figura 3 - Subsistemas de uma mquina de medir por coordenadas
[13]
. ...............7
Figura 4 Principais fontes de incertezas em MMC (adaptado de
[2]
).....................8
Figura 5 - Seis erros paramtricos do carro com movimento de translao na
direo Y
[14]
. ...........................................................................................................9
Figura 6 - Erros de perpendicularidade entre os eixos de uma MMC
[14]
. ...............9
Figura 7 Influncia relativa dos erros geomtricos em MMC
[19]
.........................10
Figura 8 - Lbulos gerados por um apalpador comutador, devido variao da
fora necessria em virtude da disposio dos contatos (adaptado de
[10]
). ..........11
Figura 9 - Influncia do comprimento da haste do apalpador (adaptado de
[11]
). ..12
Figura 10 - Desgaste localizado de um apalpador devido ao seu uso em medio
por scanning
[21]
.....................................................................................................13
Figura 11 - Fontes de erros no ambiente de trabalho da MMC
[4]
. ........................13
Figura 12 Diferenas de temperatura (em C) devido inrcia trmica distinta
entre a pea, ambiente e MMC (adaptado de
[12]
). .................................................14
Figura 13 - Inspeo de uma carroceria em MMC
[27]
. ..........................................16
Figura 14 - Sistema de fixao para peas flexveis
[4]
..........................................17
Figura 15 - Pontos de contato do elemento apalpador na superfcie rugosa da
pea (adaptado de
[28]
). .........................................................................................18
Figura 16 - Desprendimento de material da superfcie da pea e depsito na
superfcie do sensor
[21]
. ........................................................................................18
Figura 17 - Influncia relativa da MMC, do ambiente e do operador sobre a
incerteza de medio
[13]
. ......................................................................................19
Figura 18 - Variao dos desvios de forma para crculos e cilindros
[3]
.................22
ii

Figura 19 - Diferentes critrios de ajuste para crcculos: (a) - crculo por mnimos
quadrados, (b) - crculo por mnima zona, (c) mximo crculo inscrito, (d)
mnimo crculo circunscrito
[30]
. ..............................................................................23
Figura 20 - Etapas bsicas da medio em MMC (adaptado de
[22]
).....................29
Figura 21 - Etapas da medio em MMC com apoio da MMCV (adaptado de
[22]
).
..............................................................................................................................29
Figura 22 - Obteno dos dados de entrada para a MMCV. Adaptado de
[42]
.......30
Figura 23 - Entrada de dados sobre a pea a ser medida propriamente dita
[43]
...32
Figura 24 - Entrada dos parmetros do erro de forma
[43]
. ....................................33
Figura 25 Informaes requeridas e ganho na incerteza (adaptado de
[46]
) .......34
Figura 26 - Proposta de uma sistemtica para avaliao de incertezas em
medio por coordenadas. ....................................................................................37
Figura 27 Metodologia de desenvolvimento e validao da soluo proposta na
figura 26. ...............................................................................................................38
Figura 28 Apresentao de uma das peas produzidas. ...................................39
Figura 29 - Desenho tcnico da pea....................................................................39
Figura 30 Foto do sensor instalado na MMC de referncia................................40
Figura 31 Especificaes tcnicas do sensor importado para a pesquisa. ........40
Figura 32 - Posicionamento dos pontos extrados para calibrao e recriao da
pea em ambiente virtual. .....................................................................................42
Figura 33 - Ilustrao do conceito de planeza
[24]
..................................................43
Figura 34 - Ilustrao do conceito de cilindricidade
[24]
..........................................43
Figura 35 Superfcie obtida por interpolao dos 423 pontos medidos no plano
A............................................................................................................................45
Figura 36 - Visualizao do mtodo de interpolao por triangulao. .................46
Figura 37 - Relao entre os dimetros medidos pela MMC e pelo programa para
o furo A, para cada uma das 3 peas....................................................................52
Figura 38 - Relao entre os dimetros medidos pela MMC e pelo programa para
o furo B, para cada uma das 3 peas....................................................................52
iii

Figura 39 - Relao entre a cilindricidade medida pela MMC e pelo programa para
o furo A, para cada uma das 3 peas....................................................................53
Figura 40 - Relao entre a cilindricidade medida pela MMC e peloo programa
para o furo B, para cada uma das 3 peas. ..........................................................53
Figura 41 - Resultados de medio para validao da simulao de dimetro. ...55
Figura 42 - Relatrio da medio do anel por scanning da MMC Zeiss com 360
pontos. ..................................................................................................................56
Figura 43 - Relatrio da medio do anel ponto a ponto da MMC Zeiss com 360
pontos. ..................................................................................................................56
Figura 44 - Resultados corrigidos devidos diferena dos resultados na MMC,
para a validao da simulao para o clculo de dimetro. ..................................57
Figura 45 - Resultados de medio para validao da simulao de cilindricidade.
..............................................................................................................................58
Figura 46 - Perpendicularidade do plano A em relao ao eixo do furo B. ..........60
Figura 47 - Clculo da perpendicularidade com novas alturas obtidas por
scanning. ...............................................................................................................61
Figura 48 - Scanning em hlice
[52]
. .......................................................................61
Figura 49 - Resultado do dimetro obtido via simulao para os cilindros A. .......65
Figura 50 - Resultado do dimetro obtido via simulao para os cilindros B. .......66
Figura 51 - Resultado do desvio de cilindricidade obtido via simulao para os
cilindros A..............................................................................................................66
Figura 52 - Resultado do desvio de cilindricidade obtido via simulao para os
cilindros B..............................................................................................................66
Figura 53 - Resultado do dimetro com a nova estratgia. ...................................67
Figura 54 - Resultado do desvio de cilindricidade com a nova estratgia. ............67
Figura 55 - Medies da forma do anel ao longo de duas semanas. ....................70
Figura 56 - Medies da forma do cilindro B ao longo de duas semanas. ............71
Figura 57 - Grficos para a anlise da forma do anel e do cilindro B....................71
Figura 58 - Medies do dimetro do anel ao longo de duas semanas. ...............72
Figura 59 - Medies do dimetro do cilindro B ao longo de duas semanas. .......72
iv

Figura 60 - Grficos para a anlise do dimetro do anel e do cilindro B. ..............72
Figura 61 - Grficos de indivduos e amplitude mvel para o dimetro do anel e do
cilindro B................................................................................................................73
Figura 62 - Mdia do dimetro contra o valor de referncia e disperso dos
valores medidos para o clculo de (up).................................................................74
Figura 63 - Mdia da cilindricidade contra o valor de referncia e disperso dos
valores medidos para o clculo de (up).................................................................74
Figura 64 - Contribuio de cada fonte de incerteza para a incerteza expandida.77

v

LISTA DE TABELAS
Tabela 1 - Vantagens entre a metrologia dimensional convencional e a metrologia
por coordenadas
[4],[5]
. .............................................................................................3
Tabela 2 - Resultado da calibrao da pea e sua incerteza. ...............................26
Tabela 3 - Resultados de medio com a MMC de apoio produo e a
estratgia de medio apropriada para tal ambiente. ...........................................27
Tabela 4 - Contribuio de todas as incertezas e clculo da incerteza expandida.
..............................................................................................................................27
Tabela 5 - Quadro comparativo dos resultados obtidos com a MMC e com o
programa de simulao desenvolvido. Resultados obtidos com os 4680 pontos..51
Tabela 6 - Estratgias utilizadas para validao da simulao de dimetro. ........54
Tabela 7 - Estratgias para a validao do clculo da perpendicularidade...........59
Tabela 8 Balano de incerteza referente ao erro da MMC em medies por
scanning para o desvio de forma de um anel de 27 mm.......................................63
Tabela 9 - Balano de incerteza referente calibrao da forma do cilindro. .......63
Tabela 10 - Balano de incerteza referente correo.........................................64
Tabela 11 - Balano de incerteza do dimetro do cilindro.....................................65
Tabela 12 - Valores de uw para cada uma das caractersticas. ............................69
Tabela 13 - Valores dos erros sistemticos para cada cilindro e suas
caractersticas (valor absoluto)..............................................................................76
Tabela 14 Clculo da incerteza expandida conforme a norma ISO 15530-3
[34]
.76
Tabela 15 - Valor medido e incerteza associada...................................................77

vi

LISTA DE ABREVIATURAS
CAA Computer Aided Accuracy (Preciso Assistida por Computador)
CAD Computer Aided Design (Desenho Assistido por Computador)
CAM Computer Aided Manufacturing (Fabricao assistida por
Computador)
GPS Geometrical Product Specifications (Especificao Geomtrica de
Produtos)
GUM Guide for the Expression of Uncertainty in Measurement (Guia para
a Expresso da Incerteza de Medio)
MMCV Mquina de Medir por Coordenadas Virtual
MMC Mquina de Medir por Coordenadas
NIST National Institute of Standards and Technology (Instituto Nacional de
Padres e Tecnologia dos Estados Unidos)
PTB Physikalisch-Technische Bundesanstalt (Instituto Nacional de
Metrologia da Alemanha)

vii

RESUMO
O complexo sistema de causas de incertezas atuante na medio por
coordenadas dificulta sobre maneira a comprovao da rastreabilidade das
medies especficas. A interao entre a geometria real da pea e a estratgia
de medio, reconhecida como uma das mais influentes fontes de incertezas em
medio por coordenadas, permanece como um dos problemas de difcil soluo
no mbito das medies industriais.
O trabalho aqui apresentado prope um mtodo baseado em dados reais
com apoio da simulao computacional. O objetivo desse mtodo fornecer uma
ferramenta que possibilite ao metrologista obter uma estimativa confivel para a
parcela de incerteza de interao entre estratgia/pea. Diversas estratgias de
medio podem ser desenvolvidas e testadas virtualmente sobre superfcies
adquiridas por engenharia reversa. Desta forma pretende-se possibilitar uma
tomada de deciso respeito da estratgia mais adequada do ponto de vista
metrolgico e econmico, sem ter que lanar mo de uma quantidade proibitiva
de medies experimentais.
Como estudo de caso, utilizando-se das recomendaes da norma ISO
15530-3, so apresentados os resultados obtidos para estimao de incerteza de
medio de dimetros e cilindricidade.
viii

ABSTRACT
The complex system of uncertainty contributions affecting coordinate
measurements makes difficult proving the traceability of specific measurements.
The interaction between the actual workpiece geometry and the measurement
strategy is recognized as one of the most influential sources of uncertainty in
coordinate measurements. The evaluation of this effect is a problem that has no
satisfactory solution until now.
This MSc dissertation proposes a method based on real geometrical data,
supported by computer simulation. The goal of this method is to provide a
metrological tool which enables the metrologist to obtain a reliable estimate of the
uncertainty contribution associated to the interaction between the probing strategy
and the workpiece form deviations. Several measuring strategies can be proposed
by the metrologist and virtually tested on surfaces acquired by reverse
engineering. Thus, it is possible to adopt a decision regarding the most
appropriate strategy from the metrological and economic aspects, without
performing a vast amount of measurements in calibrated parts.
A case study has been done combining the uncertainty contribution due to
workpiece and strategy with other contributions, using the recommendation of ISO
15530-3. As conclusion, the results obtained for estimation of uncertainty in the
measurement of diameters and cylindricity are presented.







1

1 INTRODUO
O primeiro prottipo do metro, denominado Mtre des Archives, foi
construdo na Frana no ano de 1799. Representava, entre suas faces extremas, um
comprimento igual dcima milionsima parte de um quadrante terrestre. Em 1875,
dezessete pases assinaram em Paris a Conveno do Metro, estabelecendo o
Sistema Internacional de Unidades (SI) e fundando o Bureau Internacional de Pesos
e Medidas (BIPM). Entre 1878 e 1889 foram fabricados e comparados com o Mtre
des Archives 30 novos prottipos do metro em platina-irdio (figura 1), que
representavam a unidade de comprimento como a distncia entre dois traos
realizados numa superfcie prxima ao plano neutro de flexo.

Figura 1 Um dos padres de comprimento usado desde 1879 at 1960 (adaptada de
[1]
).
Essa realizao do metro ficou vigente at 1960, quando foi substituda por
uma mais moderna e reproduzvel, baseada no comprimento de onda no vcuo da
radiao correspondente transio entre dois nveis de energia especficos do
tomo de kriptnio 86. Em 1983 o metro foi redefinido mais uma vez, como o


2

comprimento do trajeto percorrido pela luz no vcuo durante um intervalo de tempo
de 1/299 792 458 de segundo.
As mudanas da definio da unidade de comprimento, associadas ao
permanente desenvolvimento da metrologia, resultaram em uma contnua diminuio
da incerteza da realizao do metro
[2]
. Na indstria, a variabilidade dos processos
de fabricao evoluiu de forma similar (figura 2), permitindo a fabricao de produtos
sob tolerncias cada vez menores.

Figura 2 A evoluo da incerteza da realizao do metro e da exatido dos processos de fabricao
(adaptado de
[2]
).
O conjunto das solues existentes para medio geomtrica amplo e sua
descrio completa e exaustiva est alm dos objetivos desta dissertao.
Instrumentos manuais, sistemas de medio com transdutores indutivos ou
pneumticos, mquinas de medir por coordenadas, sistemas pticos
fotogramtricos, tomografia computadorizada, entre outros, podem ser usados para
medio geomtrica na produo e nos laboratrios.
Na metrologia dimensional convencional, para resolver os complexos
problemas da medio tridimensional, necessrio usar de forma integrada diversos
instrumentos, acessrios e padres, tais como paqumetros, paqumetros de altura,
relgios comparadores, micrmetros, blocos padro, desempenos, esquadros, etc.
As medies so demoradas, precisam de um grande conhecimento e sua incerteza
relativamente elevada, quando comparada com os requisitos da indstria atual.


3

A medio por coordenadas vem se tornado cada vez mais importante na
inspeo de peas fabricadas na indstria. Mquinas de medir por coordenadas
(MMC) so sistemas de medio flexveis, que fornecem representaes de
sistemas coordenados cartesianos, retilneos e tridimensionais
[3],[4]
. Na Tabela 1
apresentada uma breve comparao entre a metrologia dimensional convencional e
a metrologia por coordenadas.
Tabela 1 - Vantagens entre a metrologia dimensional convencional e a metrologia por coordenadas
[4],[5]
.
Metrologia Convencional Metrologia por Coordenadas
Alinhamento manual. Alinhamento automtico.
Instrumentos de propsito nico, difceis
de adaptar quando so requeridas
mltiplas tarefas.
Mltiplas tarefas de medio podem ser
executadas atravs da capacidade de
adaptao do software de medio.
Comparao das medies com
medidas materializadas (e.g. blocos
padro).
Comparao com modelos matemticos
ideais.
Maior tempo de inspeo de peas
complexas.
Menor tempo de inspeo de peas
complexas.
Avaliao separada para forma,
tamanho, localizao e orientao,
utilizando instrumentos diferentes.
Avaliao de forma, tamanho,
localizao e orientao, utilizando uma
nica configurao no sistema
coordenado.

De um modo geral pode-se dizer que as medies em MMC consistem em
duas etapas bsicas: a primeira a medio dos pontos coordenados na superfcie
da pea em questo, e a segunda etapa a estimao do elemento geomtrico
substituto utilizando-se o modelo analtico
[6]
. Essas etapas podem-se decompor
ainda nas atividades a seguir
[3]
:
Primeira Etapa
Avaliao do desenho tcnico da pea.


4

Planejamento da estratgia de medio.
Qualificao dos sistemas de apalpao.
Identificao da posio da pea no sistema coordenado da mquina.
Medio dos pontos na pea.
Segunda Etapa
Transformao das medies para o sistema coordenado da pea.
Utilizao do modelo analtico de acordo com as atribuies funcionais
da pea.
Apresentao dos resultados obtidos.
Devido a sua flexibilidade, as MMC se fazem presente nos mais variados
campos da garantia da qualidade industrial. Algumas das suas aplicaes so
[4], [7]
:
Inspeo de peas (aps fabricao e no processo).
Qualificao do processo de manufatura.
Desenvolvimento de produtos.
Medies de modelos e prottipos.
Verificao de ferramentas.
Calibrao de padres e peas padro.
Engenharia reversa
Aprovao de fornecedores.
Monitoramento de processo fabril.
A fim de proporcionar flexibilidade, um complexo sistema de subsistemas
demandado, e desta forma a avaliao das incertezas atreladas as suas medies
no trivial
[2],[8]
.
Muitos trabalhos so desenvolvidos no que diz respeito ao levantamento da
incerteza acerca dos subsistemas presentes em MMC
[9],[10],[11],[12]
. Infelizmente,
devido necessidade de uma estratgia de medio condizente com o mensurando,
os resultados ficam fortemente vulnerveis mesma. Esta vulnerabilidade
impulsionada com os erros de forma presentes no mensurando. Tais erros esto


5

associados ao processo de fabricao. Embora essa influncia seja conhecida pelos
pesquisadores, sua quantificao de grande complexidade
[8]
.
1.1 OBJETIVO DA PRESENTE DISSERTAO
Esta dissertao tem como objetivo elaborar e validar uma sistemtica para
avaliar a incerteza de medies realizadas em mquinas de medir por coordenadas,
baseada na norma ISO 15530-3, mas dando resposta objetiva ao problema de
avaliar a contribuio da interao entre os desvios de forma da pea e a estratgia
de medio selecionada.
Os objetivos especficos so:
Utilizar-se de medio por scanning para fins de calibrao de peas
de produo;
Criar um programa de simulao que permita avaliar o efeito da
estratgia de medio na incerteza de medio, fornecendo um
ambiente para testar diferentes estratgias a baixo custo;
Estudar a variabilidade dos erros sistemticos devidos ao efeito da
estratgia de medio e os desvios de forma, em peas fabricadas
pelo mesmo processo fabril;
Aplicar a sistemtica em, no mnimo, duas caractersticas GPS.
1.2 ESTRUTURA DA DISSERTAO
Para uma melhor compreenso do objetivo visado por este trabalho, fez-se a
diviso do mesmo em alguns captulos, que esto dispostos da seguinte forma:
Captulo 2 Fatores que contribuem incerteza das medies realizadas em
mquinas de medir por coordenadas, Captulo 3 Mtodos de avaliao de
incertezas em medies por coordenadas, Captulo 4 Proposta de uma sistemtica
para avaliao de incerteza em medies por coordenadas, Captulo 5 Validao e
aplicao da sistemtica proposta, e por fim no captulo 6 - Consideraes finais.


6

No captulo 2 ser feito um levantamento bibliogrfico do material existente
referente a incertezas de medio em mquinas de medir por coordenadas,
problemas relacionados ao ambiente, pea, operador, entre outros.
No captulo 3 sero abordados os mtodos existentes para a avaliao da
incerteza experimental e via simulao computacional.
J no captulo 4, uma proposta para reduo de incertezas devido ao erro de
forma em MMC ser apresentada. A exposio da metodologia elaborada, aparatos
importados e as peas fabricadas especialmente para a avaliao da proposta em
questo, sero expostos ao longo do mesmo.
No captulo 5, a validao da metodologia proposta ser evidenciada, bem
como a comparao dos resultados gerados contra o ambiente real.
Por fim no captulo 6, prope-se um levantamento do trabalho como um todo,
expondo consideraes finais baseadas nos resultados obtidos com a realizao do
presente trabalho e oportunidades futuras.


7

2 FATORES QUE CONTRIBUEM INCERTEZA
DAS MEDIES REALIZADAS EM MQUINAS
DE MEDIR POR COORDENADAS
Uma MMC moderna se caracteriza por ser um sistema complexo, com vrios
subsistemas que interagem entre si, contribuindo para que a MMC desempenhe
eficientemente sua funo de medir geometrias diversas, mas tambm contribuindo
incerteza de medio (figura 3).

Figura 3 - Subsistemas de uma mquina de medir por coordenadas
[13]
.
H diversas abordagens para classificar as causas de incerteza de medio
em MMC. A mais representativa delas, que divide as causas de incerteza segundo
sua origem, pode ser encontrada na figura 4. Esta classificao identifica quatro
grandes grupos de fatores: mquina, ambiente, pea e operador.


8


Figura 4 Principais fontes de incertezas em MMC (adaptado de
[2]
).
Nas sees a seguir esta classificao ser usada como guia para descrever
e discutir os fatores que influenciam e incerteza das medies em MMC.
2.1 INFLUNCIAS DA MMC E DO APALPADOR
Dentro da categoria dos erros associados ao hardware da mquina, trata-se
primeiro dos quais so funo das imperfeies da geometria da mquina. Estes
erros so resultantes basicamente de quatro fontes: processos de fabricao dos
componentes da MMC, desgaste pelo tempo de uso, montagem do conjunto e do
sistema de apalpao e peso dos componentes da MMC
[14]
. Estes erros geram
graus de liberdade indesejados no comportamento cinemtico da MMC
[15],[16]
.
Os erros paramtricos so provocados pelos desvios geomtricos das guias,
associados ao movimento das mesmas (posio, translao, e rotao) e pela
orientao entre elas. Estes erros, quando somados, fazem um total de 21 erros
geomtricos clssicos
[3],[4],[17]
. A natureza da parcela sistemtica aliada a tais erros
pode ser compensada via software, dando origem ao conceito de CAA (Computer
Aided Accuracy )
[14],[17],[18]
.


9

Cada guia linear apresenta os seis erros geomtricos. Como exemplo, a
figura 5 apresenta os erros de uma guia que desloca na direo Y
[14]
: um (01) erro
associado ao posicionamento no eixo Y da MMC; dois (02) erros associados
retitude do deslocamento em Y da MMC, medidos nas direes dos eixos X e Z; e
trs (03) erros associados rotao em cada um dos eixos (neste caso em X
rolamento, em Y tombamento e em Z guinamento)

Figura 5 - Seis erros paramtricos do carro com movimento de translao na direo Y
[14]
.
Como para cada um dos eixos tm-se seis erros, multiplicando-se pelos trs
eixos da MMC tem-se um total de 18 erros. Os outros trs erros remanescentes
esto relacionados no ortogonalidade dos eixos da mquina entre si
[9],[8]
, ou seja,
o ngulo entre os eixos no de exatamente 90. A descrio destes erros
encontra-se na figura 6.

Figura 6 - Erros de perpendicularidade entre os eixos de uma MMC
[14]
.


10

A figura 7 fornece ainda uma representao qualitativa da influncia relativa
de cada um dos erros acima abordados.

Figura 7 Influncia relativa dos erros geomtricos em MMC
[19]
.
Embora seja possvel compensar a influncia dos 21 erros mencionados via
software CAA, a compensao nunca completa. Como conseqncia, os erros
sistemticos no corrigidos possuem influncia nos resultados e por sua vez, no
clculo de incerteza. Estes erros devem ser levados em considerao quando se
avalia a incerteza de medies especficas realizadas com a MMC.
Os erros anteriores caracterizam o comportamento da MMC quando acionada
baixas velocidades tpicas das calibraes e verificaes de desempenho.
Contudo, na medio de produo as velocidades so em geral bem mais altas que
durante os testes, devido necessidade de aumentar a produtividade. As altas
velocidades de medio, fazem com que as partes mveis da mquina apresentem
ainda deslocamentos de origem inercial e vibraes durante a acelerao e
desacelerao, acarretando em erros durante a apalpao
[9], [10]
ou mesmo quando
se mede usando a modalidade de scanning
[20]
.
Com relao ao sistema de apalpao, basicamente pode-se dividir em dois
tipos bsicos: por contato e sem contato
[8]
. Para fins desta dissertao ser dada
ateno aos apalpadores por contato, por no ser utilizado o segundo tipo neste
trabalho. Os sistemas de apalpao por contato podem ser divididos ainda em
apalpadores comutadores e apalpadores analgicos ou medidores
[17]
.
Os apalpadores comutadores (touch trigger) enviam um sinal binrio quando
o mesmo faz contato com a superfcie da pea em questo. Este sinal gerado pela


11

abertura de um dos contatos eltricos no interior do mesmo, devido fora que a
pea faz no apalpador quando o mesmo toca a pea
[16]
. Este tipo de apalpador foi
bastante usado ao longo deste trabalho, no mbito das medies de menor exatido
que simularam a medio de produo (foi usado um apalpador Renishaw TP 200).
J os apalpadores analgicos viabilizam a medio em modo scanning. O
deslocamento do mesmo desde o momento que realiza o toque na pea, at o
momento da obteno do ponto levado em considerao no clculo da posio do
ponto apalpado no espao de medio da MMC (cabe destacar que o apalpador TP
200 usado neste trabalho tambm apresenta essa capacidade
[17]
). Neste trabalho foi
usada uma MMC Zeiss ZMC 550 com apalpador analgico para obteno das
medies de referncia.
Os principais fatores relativos ao sistema de apalpao que influenciam a
incerteza de medio em MMC so: o processo de qualificao do apalpador, a
presso das molas internas, o comprimento da haste, a direo de apalpao, a
velocidade de aproximao, ngulo de apalpao com referncia superfcie da
pea, erros de forma do prprio sensor, a distncia percorrida, entre outros
[11]
.
Alguns destes fatores sero brevemente apresentados nos pargrafos a seguir.
Os apalpadores comutadores, devido geometria do sistema de
chaveamento e presso das molas, requerem esforos diferentes para abrir o
contato dependendo da direo do toque
[10]
. Isso gera um padro de erro tri-lobular,
como ilustrado na figura 8.

Figura 8 - Lbulos gerados por um apalpador comutador, devido variao da fora necessria em
virtude da disposio dos contatos (adaptado de
[10]
).


12

Estes lbulos dependem tambm do tamanho da haste do apalpador
[11]
. Na
figura 9, tem-se na abscissa o ngulo de aproximao em graus e na ordenada tem-
se o desvio em micrometros do valor de referncia de esfera padro utilizada. O
comprimento da haste maior para o grfico da direita e menor para o grfico da
esquerda.

Figura 9 - Influncia do comprimento da haste do apalpador (adaptado de
[11]
).
O modo de medio por scanning, usado neste trabalho para obteno de
medies de referncia em cilindros, consiste no deslizamento do sensor ao longo
de uma trajetria definida, sem descolamento da superfcie da pea. Durante todo o
percurso, as coordenadas de um grande nmero de pontos so obtidas
continuamente.
A medio por scanning est influenciada pelo comportamento dinmico do
sistema de apalpao e tambm pelo comportamento tribolgico do conjunto sensor-
pea. Quando se realiza medio por scanning conveniente evitar as hastes
longas, para minimizar a vibrao e a flexo. O uso de baixas velocidades de
deslocamento sempre que possvel, recomendado para minimizar os efeitos
dinmicos. No mbito do comportamento tribolgico, deve-se dar especial
importncia ao desgaste do sensor devido ao atrito com a superfcie da pea sob a
fora de medio (figura 10). Uma inspeo da forma do sensor com lupa, como
feita neste trabalho, tambm conveniente.


13


Figura 10 - Desgaste localizado de um apalpador devido ao seu uso em medio por scanning
[21]
.
2.2 INFLUNCIAS DO AMBIENTE
Quando refere-se ao ambiente de trabalho de uma MMC, devem ser levados
em considerao alguns fatores, como: variao temporal e espacial da temperatura
de operao, umidade do ar, vibraes externas transmitidas MMC, presena de
impurezas na pea e/ou na MMC, entre outros (figura 11). Quanto mais
desfavorveis sejam as condies ambientais, maiores sero os erros e, por
conseqncia, suas contribuies para a incerteza das medies
[22],[23]
.


Figura 11 - Fontes de erros no ambiente de trabalho da MMC
[4]
.


14

Um ponto de muita relevncia, e assunto de vrios artigos
[8],[12],[14],[23]
, a
influncia da temperatura ambiente no desempenho da MMC. O ambiente de
medio ideal pode ser analisado em trs dimenses. A primeira se relaciona com a
temperatura de referncia especificada pela ISO 1
[24],
que de 20C; a segunda a
condio de estabilidade da temperatura com o tempo; e a terceira a ausncia de
gradientes espaciais de temperatura (C/m)
[17],[25]
.
Mesmo quando se possui um regime de temperatura estvel, no entanto
diferente da temperatura de referncia, existe o problema relacionado incerteza do
valor do coeficiente de expanso trmica da pea. Caso tenha-se uma liga, tem-se
ainda mais dificuldade de obter-se tal valor, no desmerecendo tambm a influncia
sobre a mquina, que sofre dilataes/contraes
[12],[23]
.
Pode-se ter ainda um regime de flutuao da temperatura, assim como
tambm gradientes espaciais de temperatura. Estes acabam por distorcer tanto a
pea quanto mquina de modo no uniforme. Um outro ponto de relevncia que
nem todas as partes da MMC e pea em questo, tm a mesma dinmica trmica.
Uma evidncia deste fenmeno pode ser vista na figura 12. Pode-se observar que
em presena de mudanas abruptas da temperatura ambiente h um transitrio
diferente dependendo da inrcia trmica da mquina e da pea. Deve-se considerar
que a figura representa somente a variao das temperaturas; a variao dos erros
dimensionais induzidos pela mesma consideravelmente mais complexa.

Figura 12 Diferenas de temperatura (em C) devido inrcia trmica distinta entre a pea,
ambiente e MMC (adaptado de
[12]
).

Ambiente
Pea
Escala


15


Alguns fabricantes projetam a mquina, tentando reduzir tais distores
[12]
.
Existe uma tendncia de se utilizar materiais de reduzida massa e com alta
condutividade trmica de forma a evitar gradientes de temperatura na estrutura da
mesma
[12]
. O auxlio via software da MMC utilizado para reduo de tais efeitos
em alguns casos
[17],[18]
.
As piores vibraes so, de um modo geral, aquelas geradas por
equipamentos no cho de fbrica que se transmitem estrutura da mquina,
influenciando os resultados. Uma prtica bastante comum a construo de uma
base inercial, possuidora de uma massa consideravelmente elevada, quando
comparada com a massa da MMC. Assim, a freqncia natural, que inversamente
proporcional raiz quadrada da massa do conjunto
[26]
, dever cair
significativamente, reduzindo os nveis de vibrao. Para projetar uma soluo de
controle de vibraes, as seguintes atividades deveriam ser realizadas
[17]
:
fazer o levantamento dos nveis de vibraes onde se pretende instalar
tal mquina;
considerar a necessidade preparao do terreno;
prover isolamento da base da MMC das fontes de vibraes.

A presena de poeira no ar, resduos de leo e cavacos nas peas tambm
pode produzir erros de grande relevncia, embora fceis de detectar pela sua
caracterstica de erros grosseiros. Assim, necessrio cuidar da limpeza das
peas, mas tambm verificar que a superfcie do sensor esteja livre de sujeira de
qualquer tipo.
2.3 INFLUNCIAS DA PEA A MEDIR
As peas medidas em MMC podem possuir os mais variados formatos,
tamanhos e massas. Deformaes da pea podem acontecer pelo prprio peso e
pelas foras de fixao quando esta no apoiada de forma adequada. Peas de
chapa, tais como a carroceria de automvel ilustrada na figura 13, apresentam
desafios ao projeto do sistema de fixao.


16


Figura 13 - Inspeo de uma carroceria em MMC
[27]
.
Somente devido ao prprio peso da pea, uma deformao na estrutura da
carroceria pode acontecer, criando-se assim uma oportunidade para gerao de
erros de medio. Os desvios dimensionais e de forma existentes na pea a ser
medida podem ser amplificados ou reduzidos devido a este acomodamento da pea
em seu sistema de fixao
[27]
. Assim sendo, apoios bem distribudos devem ser
colocados de modo que estas deformaes sejam minimizadas.
Um outro exemplo desta situao a medio de peas plsticas, que
embora sejam mais leves, tambm apresentam, em geral, menor rigidez que as
peas metlicas. Estas peas deformam com aplicao de pequenas foras,
inclusive com a fora de contato do sensor de medio
[4]
. Desta forma, torna-se
necessrio utilizar sistemas de fixao que no venham a interferir nos elementos
funcionais da pea, assim como tambm realizar as medies em locais da pea
que sejam menos flexveis, como observado na figura 14.


17


Figura 14 - Sistema de fixao para peas flexveis
[4]
.
Uma outra fonte de incertezas associada massa da pea e do sistema de
fixao diz respeito s deformaes na estrutura da MMC. Essas deformaes
alteram a forma das guias que materializam o sistema coordenado, mudando os
erros paramtricos. A importncia dessa influncia depende da forma em que o
dispositivo se apia na MMC, assim como tambm do tipo e do tamanho da prpria
MMC
[15],[16]
.
As irregularidades da superfcie da pea a ser medida tambm afetam os
resultados das medies
[28]
. Esta influncia aparece na medio ponto a ponto, mas
afeta em maior grau a medio por scanning. A influncia da rugosidade da
superfcie das peas pode ser diminuda pelo uso de um dimetro adequado do
sensor. Anbari e Trumpold
[28]
realizaram um estudo que mostra a influncia do
dimetro do sensor, com diferentes acabamentos superficiais pea. O apalpador
acaba tornando-se um filtro mecnico que atenua a rugosidade da superfcie e induz
erros sistemticos e aleatrios (figura 15). Outras falhas na superfcie da pea, tais
como rebarbas, rechupes, bolhas, pingos de solda, oxidao, partculas
impregnadas, tambm contribuem para gerar erros de medio
[17]
. Assim, o
conhecimento do processo de fabricao de grande valia, para que erros devido a
tais caractersticas possam ser evitadas
[27],[28]
.


18


Figura 15 - Pontos de contato do elemento apalpador na superfcie rugosa da pea (adaptado de
[28]
).
O material da pea tambm pode apresentar afinidade qumica com o
material do sensor, por exemplo, quando se usa um sensor de rubi para medir uma
pea de alumnio. Na medio por scanning, pode ocorrer desprendimento do
material da pea, e este por sua vez ficar aderido no sensor, gerando erros
significativos (figura 16).

Figura 16 - Desprendimento de material da superfcie da pea e depsito na superfcie do sensor
[21]
.
O erro de forma da pea, um dos focos principais desta dissertao, um
outro fator gerador de incertezas. Estratgias de amostragem inadequadas podem
resultar em erros de medio significativos, dependendo do padro de erros de
forma, do nmero de pontos amostrados e de sua posio na superfcie da pea
[29],[30],[31],[32]
. A falta de informaes sobre o processo fabril e os erros de forma da
pea favorecem a gerao de estratgias de medio inadequadas
[31]
.


19

2.4 INFLUNCIA DO OPERADOR
Por operar uma mquina de elevado nvel de automatizao, a primeira
impresso que o operador da MMC pouco pode influenciar nos resultados. Porm,
a experincia mostra que o operador uma das mais preponderantes de todas as
fontes de erros
[3],[13],[17]
. Uma comparao qualitativa entre o operador, juntamente
com a estratgia de medio adotada, a prpria MMC, e o seu ambiente de trabalho,
pode ser visualizada na figura 17.

Figura 17 - Influncia relativa da MMC, do ambiente e do operador sobre a incerteza de medio
[13]
.
Antes de se realizar medies em MMC, para que sejam alcanados
resultados confiveis, de grande importncia a elaborao de um planejamento da
medio adequado e consistente com a tarefa de medio. Assim sendo, uma vasta
gama de conhecimentos necessria para realizar tal planejamento
[3]
:
tecnologia de fabricao;
estatstica aplicada;
geometria;
normas tcnicas;
interpretao de desenho tcnico;
computao;
metrologia (geral);
tecnologia de medio por coordenadas.


20


A estratgia de medio sempre uma soluo de compromisso. Por um
lado, o metrologista deve criar as condies para obter resultados com a menor
incerteza possvel. Para isso, estratgias com grande nmero de pontos apalpados
so de praxe. O segundo ponto realizar as medies de maneira econmica.
Desta forma, o operador da MMC deve ter, alm de conhecimento tcnico, bom
senso com a relao custo-benefcio. Como conseqncia natural, a capacitao do
profissional que ir operar a MMC deve ser condizente com a complexidade de suas
tarefas, de modo a garantir a qualidade das operaes
[7], [17],[22]
.
2.5 SNTESE DO CAPTULO
Pretende-se com a apresentao deste captulo, realizar uma descrio geral
da vasta gama de fontes de incertezas atuantes nas medies realizadas em MMC.
Enfatizaram-se algumas categorias de fatores presentes no cotidiano das
medies como: MMC, ambiente, pea e operador. No se tratou a problemtica
para com os softwares na gerao dos elementos geomtricos substitutos, pois a
mesma ser abordada nos prximos captulos. Salientou-se tambm a presena do
operador como um responsvel prioritrio das decises que determinam a incerteza
das medies. Este operador deve possuir tanto conhecimentos tcnicos de diversas
temticas, quanto conhecimento sobre retorno de investimento e bom senso, para
resolver o compromisso entre produtividade e qualidade das medies.
Evidenciou-se tambm, que as fontes de incertezas no so de
caracterizao trivial, devido a vrios motivos. A interao entre as mesmas implica
que alteraes em uma fonte de incerteza, em boa parte dos casos, suficiente para
influenciar as demais. No Captulo 3, evidenciar-se- algumas alternativas para
caracterizar e mensurar as incertezas em medio por coordenadas.


21

3 MTODOS DE AVALIAO DE INCERTEZAS
EM MEDIES POR COORDENADAS
Um grande nmero de trabalhos tcnicos e cientficos tem abordado a
problemtica de se avaliar as incertezas das medies realizadas em MMC (por
exemplo
[10],[23],[27],[28],[30]
). Contudo, o tpico est ainda longe de se esgotar,
principalmente devido grande complexidade do sistema de causas do erro de
medio. Neste captulo pretende-se expor ao leitor alguns mtodos para avaliao
de incerteza em MMC. Tais mtodos contemplaro tanto ambientes de carter
experimental quanto aspectos de simulao computacional.
3.1 REALIDADE X IDEALIDADE
Um dos maiores problemas enfrentados pelos metrologistas esta relacionado
s diferenas entre a pea idealizada pelo projetista e as peas produzidas por
processos de fabricao reais. Tais diferenas no esto apenas relacionadas s
suas dimenses, mas tambm no que tange aos erros de forma, acumulados
durante o processo fabril. Como exemplo, a figura 18 mostra uma srie de desvios
de forma que podem acontecer em crculos ( esquerda) e cilindros ( direita). Cabe
destacar que, apesar da aparente complexidade, as formas mostradas nessa figura
no so mais do que idealizaes simplificadas: as geometrias reais so muito mais
complexas, apresentando padres que esto longe de ser regulares. Por exemplo,
relativamente comum que furos usinados apresentem erros de circularidade que
variam ao longo do eixo: os desvios so maiores na entrada da ferramenta,
diminuindo progressivamente at serem quase circulares na sada da mesma.
De modo inevitvel geram-se perguntas tais como: Com quantos pontos devo
medir? Onde devo apalpar? Qual ser o incremento do erro associado a uma


22

reduo na quantidade de pontos amostrados? Qual a viabilidade econmica destas
medies?

Figura 18 - Variao dos desvios de forma para crculos e cilindros
[3]
.
As dimenses de um elemento, a princpio, podem ser mensuradas com um
nmero mnimo de pontos. No exemplo de um cilindro, com cinco pontos j se pode
definir seu dimetro. A incerteza de tal medio alta na presena de desvios de
forma, devido s limitaes prprias de uma amostra to reduzida: quanto maiores
forem os erros de forma, maior ser a quantidade de informaes no contabilizadas
devido a uma singela quantidade de pontos mensurados
[31]
.


Em geral, os pontos medidos sobre um crculo devem ser processados
utilizando um algoritmo matemtico de ajuste (Mnimos Quadrados, Mnima Zona,
Mnimo Crculo Circunscrito, Mximo Crculo Inscrito) para assim obter os
parmetros de uma forma circular perfeita associada aos dados (localizao do
centro, dimetro e desvio de forma). A norma ISO 1101:2004 (E)
[24]
define esses
ajustes da seguintes forma:
Crculo de referncia por mnimos quadrados (LSCI - least squares
reference circle): crculo tal que a soma dos quadrados dos desvios
locais de circularidade seja mnima.
Crculo de referncia por mnima zona (MZCI - minimum zone
reference circle): dois crculos concntricos envolvendo o perfil de
circularidade com o menor afastamento radial.
Mximo crculo de referncia inscrito (MICI - maximum inscribed
reference circle): o maior crculo possvel que pode ser ajustado dentro
do perfil de circularidade.


23

Mnimo crculo de referncia circunscrito (MCCI - minimum
circunscribed reference circle): o menor crculo possvel que pode ser
ajustado em torno do perfil de circularidade.

Figura 19 - Diferentes critrios de ajuste para crcculos: (a) - crculo por mnimos quadrados, (b) -
crculo por mnima zona, (c) mximo crculo inscrito, (d) mnimo crculo circunscrito
[30]
.
A maioria das medies ponto-a-ponto so realizadas atualmente utilizando
uma quantidade de pontos relativamente pequena para determinar a geometria da
pea
[31]
. Assim, as presses de produtividade e custo prevalecem sobre o interesse
metrolgico de aumentar a qualidade do conhecimento gerado pelas medies.
Ento, cabe ao metrologista decidir pela estratgia mais adequada, mesmo muitas
vezes ignorando quanto e como a geometria da pea se desvia da forma
teoricamente perfeita.
Diversas abordagens foram propostas para avaliar a incerteza de medies
realizadas em MMC, algumas de cunho puramente experimental, outras baseadas
em modelos matemticos e simulao computacional. Essas abordagens propem
solues para o problema da interao entre a geometria real e a estratgia de
amostragem. Nas sees a seguir sero brevemente descritas e discutidas, para
sustentar a proposta expressada no Captulo 4.


24

3.2 MTODO EXPERIMENTAL PARA AVALIAO DA
INCERTEZA DE MEDIO ISO 15530-3
A norma ISO 15530
[33]
pertence ao conjunto de normas GPS (Geometric
Product Specification). A norma citada, por sua vez, estabelece princpios e
recomenda prticas para avaliar a incerteza das medies realizadas em MMC.
Est dividida em cinco partes, conforme a lista a seguir:
1. Descrio de conceitos gerais.
2. Uso de mltiplas estratgias de medio.
3. Uso de peas e padres calibrados.
4. Uso de simulao computacional.
5. Avaliao por especialistas
Este trabalho se atm somente parte 3 ISO 15530-3
[34]
, pois a mesma
ser usada como referncia para a combinao de incertezas provenientes de
diferentes conjuntos de quantidades de influncia. A norma descreve um
procedimento experimental, no qual so obtidas medies de uma pea ou padro
calibrado em um equipamento de referncia, processando-as estatisticamente para
estimar uma incerteza de tipo A
[53]
. A norma considera que as quantidades de
influncia so oriundas de trs fontes: a primeira referente prpria incerteza da
pea calibrada (ucal), a segunda relaciona-se ao processo de medio (up), e por
fim tem-se a incerteza atrelada s variaes do processo produtivo (uw).
Com relao primeira fonte de incerteza (ucal), exposta na norma, a mesma
encontra-se no certificado de calibrao da pea, emitido pelo laboratrio que
realizou a calibrao demandada. As calibraes devem ser feitas usando um
procedimento condizente com a realidade da pea e sua funo. Em geral, pode-se
afirmar que a calibrao das peas utilizadas para avaliar as incertezas deveria ser
realizada com uma amostragem com alta densidade de pontos, estimando os
parmetros das geometrias envolvidas por meio de algoritmos de ajuste que
representem a funo da pea. Alm disso deve ser associado a um grande esforo
por diminuir as incertezas, resultando s vezes em custos elevados. Especial
ateno deve ser dada tcnica de amostragem das peas, para que efetivamente
representem as variaes do processo de fabricao. Para isso, deve se verificar


25

que a amostragem no inclua peas atpicas, mas que tambm no deixe de
representar a variabilidade natural no que diz respeito dimenso e forma.
A incerteza do processo de medio (up) estimada por medies repetidas
das peas na MMC sob anlise e usando a estratgia de medio que ser utilizada
na medio rotineira. A anlise estatstica dessas medies repetidas estar afetada
pelas fontes de incerteza da prpria MMC, incluindo o apalpador, o ambiente de
medio, e tambm a interao entre a estratgia de medio e o desvio de forma
das peas. Caso as peas sejam medidas repetidamente de forma tal que os pontos
amostrados sejam praticamente os mesmos em todas as repeties, esta ltima
componente de incerteza aparecer como um desvio sistemtico.
A ltima, e no menos importante, a incerteza devida s variaes do
processo de fabricao (uw), contempla a influncia da rugosidade da pea, da
elasticidade, dureza e peso prprio da mesma e tambm o efeito combinado da
estratgia de medio e os erros de forma.
Assim, a incerteza expandida de uma determinada medio ser avaliada
pela equao abaixo, com as respectivas incertezas padro.
b uw up ucal k U + + + =
2 2 2

onde:
k
Ucal
ucal = a incerteza expandida, importada do certificado de calibrao
( )

=
n
i
i
y y
n
up
1
2
1
1
o desvio-padro das medies repetidas

=
=
n
i
i
y
n
y
1
1
a mdia das medies repetidas
cal
x y b = o desvio sistemtico estimado (x
cal
o valor da pea calibrada)
Para melhor compreenso do mtodo, utilizar-se- um exemplo simulado da
medio do dimetro de um furo cilndrico. A primeira etapa a ser realizada, a
calibrao de uma pea com uma MMC de alta exatido, deve ser realizada em
ambiente laboratorial especializado, a priori. Para este fim, uma pea da produo
calibrada com uma MMC de alta exatido em um laboratrio especializado. Isto pode
ser feito por um laboratrio de calibrao acreditado, capaz de avaliar


26

adequadamente cada caracterstica requerida na pea. muito importante que a
estratgia de medio seja estabelecida de acordo com a definio GPS
especificada no desenho tcnico e a funo da pea. O resultado da calibrao
encontra-se na Tabela 2
Tabela 2 - Resultado da calibrao da pea e sua incerteza.
Parmetro Dimetro (mm)
x
i
150,0015
Ucal(x
i
) 0,0020

Em uma segunda etapa, a pea calibrada medida na MMC utilizada para
avaliar as peas de produo em questo, utilizando-se a estratgia adequada para
esse ambiente. De um modo geral, poucos pontos so medidos neste momento
[31]
,
devido ao custo das medies. As medies devem ser repetidas no mnimo 20
vezes
[34]
, sobre diferentes situaes. Idealmente, estas medies seriam feitas ao
longo do tempo de modo a estarem sujeitas a todas as variaes consistentes com a
operao normal da sala de medidas. Na tabela 3 encontra-se um exemplo de
medies realizadas e o processamento das mesmas para estimar a incerteza de
medio tipo A correspondente ao processo de medio, up.
A seguir, procede-se avaliao de (uw). A norma recomenda que, caso a
calibrao da pea j contemple todas as variaes do processo fabril, essa
componente ser negligenciada. Assim uw poder ser estimada somente pelo efeito
da expanso trmica da pea, conforme a equao:
l u C T uw =

) 20 ( .
sendo que, T o valor da temperatura da pea no momento da medio, l o
comprimento da pea e u

a incerteza padro do coeficiente de expanso trmica


do material da pea. Realizando o clculo para o caso simulado, tem-se uw=
0,0002 mm.
Finalmente, o valor do desvio sistemtico b estimado aplicando a equao
cal
x y b = . O valor resultante b=0,0012 mm.
A tabela 4 resume as quatro contribuies incerteza e expressa o valor final
da incerteza expandida (intervalo de abrangncia de aproximadamente 95%)
U=0,0038 mm. Deve-se observar que a relao entre a incerteza da calibrao e a


27

incerteza da medio no adequada, conforme requisito da regra de ouro da
metrologia. Contudo, o exemplo vlido assim mesmo para os fins desta
dissertao.
Tabela 3 - Resultados de medio com a MMC de apoio produo e a estratgia de medio
apropriada para tal ambiente.
N Operador Data / Hora Dimetro
1 A 3/2/7 7:33 150,0043
2 A 3/2/7 8:23 150,0037
3 A 3/2/7 10:02 150, 0030
4 B 3/2/7 13:55 150,0021
5 B 3/2/7 14:13 150,0033
6 B 27/2/7 6:09 150,0039
7 B 27/2/7 7:11 150,0032
8 A 27/2/7 14:13 150,0027
9 A 27/2/7 17:14 150,0025
10 A 28/2/7 7:13 150,0032
11 C 28/2/7 9:02 150,0021
12 C 28/2/7 9:12 150,0024
13 C 28/2/7 10:02 150,0024
14 C 28/2/7 11:32 150,0030
15 B 28/2/7 14:14 150,0031
16 B 28/2/7 15:13 150,0034
17 B 28/2/7 15:42 150,0022
18 B 28/2/7 16:14 150,0020
19 B 28/2/7 17:13 150,0018
20 A 28/2/7 18:22 150,0030
up 0,0008
y

150,0027
Tabela 4 - Contribuio de todas as incertezas e clculo da incerteza expandida.
Contribuio / Incerteza expandida Incerteza (mm)
ucal=Ucal/2 0,001
up 0,0008
uw 0,0002
|b| 0,0012
U(k=2) 0,0038

O mtodo utilizado, assume que o comportamento do processo de medio
quando se mede a pea calibrada similar ao comportamento esperado na medio
das peas de produo. Assim, as incertezas calculadas com aquela podero ser
usadas para informar a incerteza das medies de produo.


28

3.3 MTODOS COMPUTACIONAIS
A fim de resolver o problema de avaliar a incerteza das medies realizadas
em MMC, alguns especialistas
[22],[32],[35]
propuseram solues baseadas na
simulao computacional, pois em um ambiente virtual tm-se resultados rpidos e
de baixo custo agregado. Nas subsees a seguir sero descritas brevemente as
duas solues mais relevantes na temtica disponveis comercialmente.
3.3.1 Mquina de medir por coordenadas virtual
Quando se utiliza um modelo matemtico para descrever um sistema, pode
acontecer que o modelo seja complexo demais, ou ento, no permita uma soluo
analtica. Neste caso, a simulao computacional pode ser considerada uma
ferramenta de grande valia na obteno de uma resposta para um problema
particular. A simulao Monte Carlo, um modelo que envolve amostragem aleatria
de uma distribuio probabilstica
[36]
. Embora a simulao de Monte Carlo seja
usada h vrios anos para anlise de incertezas, s recentemente foi publicado em
status de Draft o Suplemento 1 do Guia para Expresso da Incerteza de Medio
[37]
.
A mquina de medir por coordenadas virtual (MMCV) um software
desenvolvido pelo Instituto Nacional de Metrologia da Alemanha, PTB (Physikalisch-
Technische Bundesanstalt). Este software capaz de estimar a incerteza para uma
dada tarefa de medio realizada em certa MMC. A MMCV utiliza nos seus clculos,
o auxlio da simulao computacional baseada no mtodo de Monte Carlo
[22]
.
A princpio pode-se dizer que a MMCV desenvolve uma simulao ponto a
ponto, levando em considerao a estratgia de medio e o comportamento fsico
de uma MMC
[22]
. A mesma leva as contribuies de incertezas dominantes, que
afetam de modo significativo os resultados de medio e as combina atravs de um
modelo matemtico complexo, que propaga os erros sistemticos e as distribuies
de incerteza. Os pesquisadores que desenvolveram a MMCV consideraram trs
tipos de contribuies incerteza de medio, classificadas pelo seu comportamento
estocstico: as influncias sistemticas conhecidas, as influncias sistemticas no
conhecidas, e as influncias aleatrias
[22]
.
Em uma MMC real, o processo comea pela coleta dos pontos coordenados
da pea no espao. Posteriormente, utilizando-se o algoritmo de ajuste que melhor


29

convm para a situao abordada, calculam-se os parmetros da geometria
substituta, que so apresentados ao operador
[30],[38]
.
Relatrio
RM IM
CMM
Software

Figura 20 - Etapas bsicas da medio em MMC (adaptado de
[22]
).
A figura 21 mostra como o processo anterior modificado quando a MMCV
usada para assistir no clculo da incerteza de medio.
Relatrio
RM IM
MMCV - Simulao
Apalpador Geometria Ambiente
CMM
Software
Estatstica
N vezes
N vezes

Figura 21 - Etapas da medio em MMC com apoio da MMCV (adaptado de
[22]
).


30

A MMCV uma etapa de processamento computacional, que de algum modo
incorporada/integrada ao software prprio de MMC faz as simulaes a fim de
avaliar a incerteza a uma dada tarefa e a uma dada MMC.
Quando operando a MMCV, inicialmente alguns pontos so escolhidos para
serem apalpados em uma particular caracterstica de uma dada pea. Estes pontos
so especificados de acordo com a geometria ideal do desenho tcnico da mesma.
Para cada amostra de pontos de uma determinada caracterstica em
particular, o simulador da MMCV gera uma perturbao dos pontos consistente com
estimativa da incerteza de medio para uma particular MMC
[39],[40]
. Esta
perturbao gerada via simulao computacional, de forma a englobar variaes
como: erros do sistema de apalpao, erros oriundos da estrutura da mquina
quando em movimento, influncia do ambiente de medio, entre outros fatores.
Assim, cada ponto gerado pela MMCV est sujeito a uma perturbao oriunda das
funes densidades de probabilidade de cada uma das fontes de incerteza
abordadas pela MMCV
[22],[39],[40]
. Com os pontos j perturbados, gera-se o
elemento geomtrico substituto. Repete-se N vezes at ter-se uma amostra
representativa. Por fim, mtodos de anlise estatstica so utilizados e o relatrio
com os parmetros associados exposto
[32],[41]
. A caracterizao dos contribuintes
demandada (figura 22) para a MMC em questo.

Figura 22 - Obteno dos dados de entrada para a MMCV. Adaptado de
[42]
.


31

O uso da MMCV requer que cada um dos contribuintes incerteza sejam
caracterizados para uma dada MMC (figura 22).
Para o caso das incertezas atreladas ao sistema de apalpao, testes para
avaliar a caracterstica direcional, deriva, erros estocsticos, etc., so realizados. Os
erros paramtricos so avaliados via experimentos com placa de esferas ou placa de
furos calibrada
[39],[41]
. Com relao s condies ambientais, faz-se a definio das
mesmas. Isto se deve ao fato de que MMCs de mesmo modelo e fabricante
possuem comportamentos distintos entre si.
Embora a MMCV seja uma referncia para avaliao da incerteza de
medio, usado principalmente quando se trata da calibrao de peas padro, a
verso atualmente disponvel ainda no possui recursos para estimar a incerteza
decorrente da interao da estratgia de medio com os desvios de forma da pea.
Isso limita fortemente seu uso no mbito das medies de peas reais de produo.
Alm disso, a caracterizao das fontes de incerteza direciona para o uso de
algumas tecnologias especficas, tais como o mapeamento dos 21 erros
paramtricos pela metodologia do PTB, usando a placa padro de esferas.
Finalmente, s dois softwares de medio suportam hoje o uso da MMCV: Calypso,
que equipa as mquinas da Zeiss, e Quindos, usado em algumas MMC da firma
Hexagon. Isso torna a MMCV uma ferramenta para alguns poucos usurios, que
pode ser usada num escopo restrito dos problemas da metrologia industrial.
3.3.2 MetroSage LLC PUNDIT
A empresa americana MetroSage LLC, situada no estado da Califrnia, em
parceria com pesquisadores do NIST (National Institude of Standards and
Technology), desenvolveram um software batizado de PUNDIT (Predicts Uncertainty
in Dimensional Inspection Techniques), ou predio de incertezas em inspeo
dimensional.
O software tem a princpio a mesma premissa da MMCV, quantificar as
incertezas de medies a partir da informao sobre as quantidades de influncia
utilizando a simulao Monte Carlo. A principal diferena com a MMCV que o
mesmo opera independentemente do software de medio, sendo possvel usa-lo
em qualquer MMC.


32

A seguir descrevem-se sucintamente as entradas de dados e as tarefas a
serem realizadas para avaliar a incerteza usando o PUNDIT
[43]
:
1. Pea a ser medida: fornecimento da informao sobre a geometria da
pea usando diretamente o modelo CAD 3D (figura 23).

Figura 23 - Entrada de dados sobre a pea a ser medida propriamente dita
[43]
.
2. MMC utilizada: informa-se o tipo de mquina, bem como algumas
caractersticas metrolgicas da mesma. O comportamento da MMC
inserido a partir da verificao de desempenho segundo norma ANSI-
ASME B89.4.1
[44]
.
3. Sistema de apalpao: informa-se o modelo do apalpador,
comprimento da haste, se o mesmo comutador ou piezeltrico, se
existe cabeote indexador (neste caso utiliza-se o ensaio da ISO
10360-5
[45]
).
4. Condies ambientais: nesta etapa, so fornecidos os coeficientes de
expanso trmica da pea e da mquina, juntamente com a incerteza
de cada um dos mesmos. Adota-se algum dos mtodos de
compensao do efeito da temperatura.
5. Processo fabril: permite que o usurio entre com parmetros como
erro de forma, magnitude e algumas caractersticas do mesmo que
tendem a expressar as variaes do processo de fabricao da pea
(figura 24).


33

6. Estratgia de medio: neste momento permite-se a escolha da
estratgia de medio, juntamente com a posio e localizao em que
a pea ir ser medida na mesa da mquina.

Figura 24 - Entrada dos parmetros do erro de forma
[43]
.
Por fim, a simulao realizada e um relatrio fornecido ao operador, de
modo a reportar as medies virtuais realizadas e suas incertezas.
O PUNDIT apresenta algumas caractersticas desejveis, quando comparado
com a MMCV. A primeira o fato de utilizar a ANSI-ASME B89.4.1
[44]
, em vez de
testes com placas de esfera. Tais testes so mais rpidos e atrativos
economicamente, embora no permitam uma caracterizao to detalhada como a
placa de esferas. A segunda que permite considerar o efeito dos erros de forma da
pea. Contudo, os modelos matemticos propostos para descrever o erro so
bastante simplificados e dificilmente iro retratar a forma real das peas de
produo. Finalmente, devido ao PUNDIT ser um software autnomo, pode ser
instalado em qualquer computador, permitindo avaliar incertezas off-line e tambm a
priori.
A figura 25 traz uma comparao dos resultados que podem ser obtidos com
PUNDIT (simulao por restries) e com a MMCV (mapeamento dos erros
paramtricos). O PUNDIT tende a gerar incertezas maiores, mas o esforo requerido
para alimentar o software com dados sobre a tarefa de medio menor. Por outra
parte, a MMCV produz incertezas menores e mais fidedignas, mas requer um grande


34

esforo para caracterizar a MMC e a tarefa de medio. Essa comparao no
contempla o efeito dos erros de forma, j que os mesmos so considerados somente
numa das duas opes.

Figura 25 Informaes requeridas e ganho na incerteza (adaptado de
[46]
)
3.4 SNTESE DO CAPTULO
A reviso dos mtodos experimentais e computacionais de avaliao da
incerteza de medio em MMC permite esboar algumas concluses de importncia
para os objetivos desta dissertao.
Em primeiro lugar, nenhum dos mtodos apresentados completamente
adequado e confivel para avaliar a incerteza de medies de apoio produo. O
mtodo experimental proposto pela norma ISO 15530-3
[34]
apresenta uma
caracterizao fraca da influncia da estratgia de medio e os erros de forma da
pea. Quando se usa uma nica pea, amostra extremamente limitada da
diversidade do processo produtivo, o efeito da estratgia aparece como um desvio
sistemtico com relao ao valor de referncia, obtido por calibrao da pea. O uso
de mltiplas peas pode ser uma resposta a esta limitao, mas o custo de calibrar
todas elas pode tornar-se elevado demais. Assim, a caracterizao de uw fica por
conta de estimativas mais ou menos subjetivas, com pouco ou nenhum subsdio por
parte da norma ou mesmo da literatura especializada.
A MMCV tambm no consegue dar resposta ao problema da incerteza
devida aos desvios de forma. J o PUNDIT oferece algum subsdio, mas utiliza
funes matemticas baseadas na composio de harmnicas que pouco tem em


35

comum com as geometrias reais, muito mais complexas e irregulares. No caso de
crculos e cilindros, a situao complexa e difcil de quantificar devido ao tempo de
medio e nmero de pontos demandados nas estratgias
[8],[29]
.
Assim, conclui-se que seria de grande valia a proposio de uma sistemtica
para avaliao da incerteza de medies em MMC. Essa sistemtica deveria ter as
caractersticas a seguir:
deve ser simples, para favorecer sua utilizao no ambiente da
metrologia industrial;
a caracterizao das quantidades de entrada deve ser simples e no
deve depender de mtodos especficos ou acessveis s a uns poucos
laboratrios ou empresas;
deve permitir a avaliao do efeito combinado dos erros de forma da
pea e da estratgia de medio;
deve fornecer um ambiente para avaliar a baixo custo o efeito de
distintas estratgias de medio alternativas, permitindo assim a
otimizao tcnica e econmica dos planos de inspeo.
No Captulo 4 ser apresentada uma sistemtica de avaliao e melhoria da
incerteza de medio que atenda os requisitos expressados na lista anterior. Essa
sistemtica usa dados reais, obtidos por medio de peas de produo, e est
complementada pela simulao computacional para avaliar a contribuio
incerteza decorrente da interao entre a estratgia de medio e os erros de forma.


36

4 PROPOSTA DE UMA SISTEMTICA PARA
AVALIAO DE INCERTEZAS EM MEDIES
POR COORDENADAS
Neste captulo apresentar-se- uma sistemtica para avaliar a incerteza em
medies industriais por coordenadas. A mesma se baseia na utilizao de dados
reais, obtidos por medio das prprias caractersticas sob avaliao numa amostra
pequena de peas retiradas do processo.
O primeiro conjunto de dados, obtidos numa MMC de referncia, usado
para determinar os valores de referncia das caractersticas geomtricas (figura 26).
Alm disso, esses dados so exportados para um algoritmo de simulao que
fornece um ambiente virtual no qual vrias estratgias de medio podem ser
comparadas a baixo custo. O resultado de tal simulao a escolha de uma
estratgia para medio das peas na produo, que atende simultaneamente
requisitos metrolgicos e de custo. Uma vez definida essa estratgia, o prprio
ambiente de simulao permite estimar a contribuio incerteza devida interao
entre o erro de forma e a estratgia selecionada, expressada pelas quantidades uw
e bw, que sero explicadas posteriormente.
As contribuies incerteza decorrentes da MMC e seu ambiente de uso so
estimadas atravs de um estudo de estabilidade, realizado medindo sob um amplo
leque de condies uma das peas amostradas, utilizando a estratgia de medio
selecionada nos passos anteriores. Uma vez calculadas essas contribuies, dadas
pelas quantidades up e bp, pode-se obter a incerteza expandida usando a equao
de combinao e expanso proposta na ISO 15530-3
[34]
.
A proposta retratada se configura como uma soluo metrolgica
desenvolvida para o setor industrial. Assim, tal soluo deve ser vista como o
prottipo conceitual de um produto disposio do mercado.


37

Amostragem de 3 a 5
peas representativas do
processo de fabricao
Calibrao das peas em
equipamento de
referncia, com alta
densidade de pontos
Proposio de uma ou
mais estratgias de
medio adequadas para
a medio de produo
Coordenadas
X,Y,Z dos pontos
amostrados
Incio
Gerao de modelos virtuais
da superfcie da pea e
execuo da simulao
computacional com as
diferentes estratgias de
medio propostas
Erros sistemticos e incertezas
devidas interao entre as
estratgias e os erros de forma
Escolha da estratgia
mais promissora
uw, bw
ucal
Escolha de uma pea e
execuo de estudo de
estabilidade usando a
estratgia mais promissora
up, bp
Combinao das contribuies
incerteza
Incerteza de
medio U(95%)
Fim
Amostragem de 3 a 5
peas representativas do
processo de fabricao
Calibrao das peas em
equipamento de
referncia, com alta
densidade de pontos
Proposio de uma ou
mais estratgias de
medio adequadas para
a medio de produo
Coordenadas
X,Y,Z dos pontos
amostrados
Incio
Gerao de modelos virtuais
da superfcie da pea e
execuo da simulao
computacional com as
diferentes estratgias de
medio propostas
Erros sistemticos e incertezas
devidas interao entre as
estratgias e os erros de forma
Escolha da estratgia
mais promissora
uw, bw
ucal
Escolha de uma pea e
execuo de estudo de
estabilidade usando a
estratgia mais promissora
up, bp
Combinao das contribuies
incerteza
Incerteza de
medio U(95%)
Fim

Figura 26 - Proposta de uma sistemtica para avaliao de incertezas em medio por coordenadas.
4.1 EXPOSIO DA METODOLOGIA DE PESQUISA
Apresenta-se na Figura 27 o roteiro da pesquisa que foi realizada para
desenvolver e validar a proposta descrita acima. A apresentao de cada etapa,
juntamente com a evoluo das mesmas, ser detalhado minuciosamente nas
sees a seguir. Os resultados obtidos na aplicao da metodologia sero expostos
no Captulo 5.


38

Inicio
Projeto e fabricao de 3
peas para teste da
metodologia proposta
Desenvolvimento de um software para
simulao de diferentes estratgias de
medio em MMC
Calibrao das 3 peas
produzidas, com a Zeiss
utilizando estratgia com
alta densidade de pontos
Medio virtual de uma
pea utilizando o
software de simulao
Definio de estratgias de
medio plausveis em cho de
fbrica
Medio de uma das pea
produzidas, com a MMC
Zeiss utilizando estratgias
simplificadas
Comparao dos resultados
virtuais com medies reais para
cada estratgia
Resultados
compatveis?
Seleo da
estratgia de
sucesso (melhor
custo/benefcio)
Medio de
estabilidade na
MMC de interesse
(Mitutoyo)
Avaliao de
incerteza segundo
a ISO 15530-3
Medio virtual das
3 peas utilizando
a estratgia de
sucesso
FIM
sim
no
apalpador
de
tungstnio
Mtodo de
calibrao da
pea padro
Ucal b Up
Uw
Coord. X,Y,Z das 3
peas (nuvem de
pontos da superfcie
das peas)
Escolhe-se uma
das peas
fabricadas
Rever processamento
e dados amostrados

Figura 27 Metodologia de desenvolvimento e validao da soluo proposta na figura 26.
4.2 A PEA DE TESTE E SUA CALIBRAO
No incio da metodologia, depara-se com a necessidade premente de
utilizarem-se peas padro.
Aps uma avaliao sobre as possibilidades de se obter peas de um
processo fabril ou de se fabricar peas de teste especiais, optou-se pela segunda
opo. O material escolhido para a fabricao da pea foi alumnio-liga ABNT 6351
T6, cedido pela empresa Alcoa.
Posteriormente ao recebimento do material, projetou-se uma pea que viesse
a atender aos requisitos metrolgicos da pesquisa. Decidiu-se fabricar trs unidades
iguais com o maquinrio disponvel na oficina da Fundao CERTI. Uma das peas
produzidas encontra-se na figura 28, e seu desenho tcnico na figura 29.


39


Figura 28 Apresentao de uma das peas produzidas.

Figura 29 - Desenho tcnico da pea.
Para todas as trs peas foram utilizadas as mesmas especificaes tcnicas
e as mesmas ferramentas e mquinas inclusive, mas obtiveram-se diferentes
desvios de forma.


40

Posteriormente fabricao, foi necessrio calibrar as peas. Devido
utilizao de scanning para tal calibrao, no poderia-se utilizar sensor de rubi,
pelos motivos j evidenciados no Captulo 2. Foi escolhido ento um sensor de
carboneto de tungstnio, importado para este trabalho. Na figura 30 pode-se
observar uma foto do mesmo, e na figura 31 um desenho detalhando suas
dimenses.

Figura 30 Foto do sensor instalado na MMC de referncia.

Figura 31 Especificaes tcnicas do sensor importado para a pesquisa.


41

A escolha de 5 mm de dimetro para a esfera do apalpador foi realizada para
evitar atenuao das componentes de ondulao de interesse. Assim, o dimetro foi
escolhido levando-se em considerao a quantidade de ondas por revoluo (OPR)
e sua amplitude, amplitude esta na ordem de centsimos de milmetro. No caso da
maior atuao do filtro mecnico, referente ao furo de dimetro de 27 mm, tem-se
como freqncia de corte deste filtro o valor de aproximadamente 1.100 OPR
[47]
. Tal
valor bastante satisfatrio para o estudo desenvolvido.
De posse do apalpador e da pea j finalizada, fez-se calibrao da peas,
juntamente com a obteno das coordenadas (x,y,z) de cada ponto. Estes pontos
sero utilizados para recriar a pea no ambiente virtual, que ser abordado adiante.
A estratgia utilizada dever ter alta densidade a fim de levantar a maior quantidade
de informaes possvel sobre a pea, para recriar e calibrar a mesma.
No que tange medio dos planos de referncia, planos A, B e C, a
estratgia utilizada foi a de realizar uma malha de pontos de 5 mm x 5 mm. Nesta
grade criada ao longo de cada plano de interesse, uma margem de 5 mm de
distncia foi dada para cada borda do plano medido. Os planos C e B totalizaram
299 pontos apalpados; j para o plano A, devido as suas maiores dimenses, foram
adquiridos com 423 pontos. Todos os pontos dos planos foram adquiridos utilizando-
se o mtodo ponto-a-ponto.
Para a medio dos cilindros, foi utilizada a estratgia de medio por
scanning, para reduzir o tempo de medio, devido grande quantidade de pontos a
serem adquiridos. Em cada cilindro, realizou-se primeiramente uma diviso do
mesmo em alturas, optando-se assim por 13 alturas distintas e distantes entre si de
5 mm. Desta forma a 1 altura e a 13 altura situam-se a 5 mm das bordas
correspondentes. Para cada uma destas alturas, 360 pontos foram adquiridos ao
longo das trajetrias circulares. A velocidade utilizada nestas medies foi de 1
mm/s, de modo a minimizar problemas de ordem dinmica durante a obteno dos
pontos medidos.
Uma visualizao espacial dos pontos obtidos pela estratgia para recriar a
pea virtualmente, bem como realizar a sua calibrao, encontra-se na figura 32.
Tanto o processo de calibrao como de obteno dos pontos para o
ambiente computacional foram efetuados em uma MMC de referncia, de marca
Zeiss, pertencente fundao CERTI.


42


Figura 32 - Posicionamento dos pontos extrados para calibrao e recriao da pea em ambiente
virtual.
4.3 DESENVOLVIMENTO E APLICAO DO PROGRAMA DE
SIMULAO
O software escolhido para a elaborao do programa que far as simulaes
foi o MATLAB

6.5
[48]
devido a sua metodologia de trabalho, facilidade de entrada
de dados e robustez no processamento das simulaes. No escopo desta
dissertao, as caractersticas da pea que sero avaliadas por simulao so:
dimetro dos furos, cilindricidade dos furos, e perpendicularidade do plano A com
relao ao furo de 40mm de dimetro.
Como os elementos envolvidos so planos e cilindros, torna-se necessrio
explicar as diferenas entre os conceitos de planeza e cilindricidade conforme as
normas e o modo como a planeza e a cilindricidade so avaliadas pela MMC e pela
simulao.
A ISO 1101
[24]
define o conceito de planeza como: a planeza de um
elemento tolerado considerada dentro da tolerncia quando a caracterstica
avaliada est confinada entre dois planos paralelos e a distncia entre os dois
planos menor ou inferior ao valor da tolerncia. A orientao dos planos deve ser
tal, de modo que a distncia entre os planos seja a mnima possvel (figura 33). Para
fins desta dissertao, o conceito de planeza referido a um plano ajustado por
mnimos quadrados. O desvio de planeza calculado pelo programa como a


43

diferena entre o ponto mais elevado e o ponto mais baixo da superfcie da pea,
medida numa direo normal ao plano de mnimos quadrados.

Figura 33 - Ilustrao do conceito de planeza
[24]
.
Com relao ao clculo da cilindricidade, a norma ISO 1101
[24]
define: a
cilindricidade de um elemento tolerado considerada dentro da tolerncia quando a
caracterstica avaliada est confinada entre dois cilindros coaxiais, de tal forma que
a diferena entre os raios de ambos os cilindros pelo menos igual ou menor do que
a tolerncia especificada. A localizao dos eixos destes cilindros e o valor dos
seus raios, devem ser escolhidos de forma tal que a diferena entre o raio dos
cilindros seja a menor possvel. A figura 34 mostra a interpretao deste conceito.
Para que a pea venha a estar dentro da tolerncia, o r
1
(tolerncia) deve ser maior
do que r
2
(erro).

Figura 34 - Ilustrao do conceito de cilindricidade
[24]
.


44

No entanto, para fins desta dissertao o clculo feito baseando-se na
maior e menor distncia de um ponto, em relao ao eixo do cilindro, que por sua
vez calculado mnimos quadrados.
Nas subsees a seguir sero descritas as principais capacidades do
programa desenvolvido. So elas: a importao dos dados para gerar a
representao virtual da pea, a interpolao e a simulao de medies com
estratgias definidas pelo usurio.
4.3.1 Importao de dados
Uma vez finalizada a medio, faz-se a importao dos dados gerados pela
MMC. Neste caso utilizou-se o software de medio UMESS. Ento, os dados
gerados em formato VDA so posteriormente transformados em formato ASCII.
Estes dados so gerados em uma lista de sete colunas, no entanto somente as trs
primeiras so importantes, pois estas se referem s coordenadas cartesianas de
cada um dos pontos. A primeira coluna refere-se ao eixo X, a segunda ao eixo Y
e a terceira ao eixo Z. Os pontos obtidos por scanning requereram um
processamento adicional, para eliminar os dados associados acelerao e
desacelerao do apalpador, ou seja, no incio e no trmino do scanning.
necessrio levar em considerao que os dados devem descrever uma
circunferncia completa de 360 para cada altura avaliada no cilindro sob estudo.
Desta forma, tm-se exatamente os 360 pontos de interesse para este trabalho,
como uma circunferncia completa por altura.
4.3.2 Interpolao entre pontos e metodologia de simulao das
medies
Aps feita a importao dos dados medidos na superfcie da pea, tem-se
quase todas as informaes necessrias para realizar as simulaes. A partir deste
momento, fica a cargo do metrologista escolher a estratgia de medio e avaliar os
resultados.
Embora exista uma alta densidade de pontos medidos, o mapeamento da
superfcie da pea no total. Assim, quando for realizada a medio virtual em
um ponto qualquer da superfcie, a probabilidade de acertar um dos pontos medidos


45

na pea muito baixa. Como conseqncia, tem-se a necessidade de se fazer uma
interpolao da superfcie para que seja possvel a simulao.
Uma apresentao de um dos elementos, mais precisamente do plano A da
pea 1, pode ser vista na figura 35. As escalas esto representadas em milmetros.
A superfcie virtual est interpolada tendo-se como base os pontos medidos na MMC
Zeiss. Assim, fica livre a escolha de qualquer ponto contido nos limites do plano, no
momento das simulaes.

Figura 35 Superfcie obtida por interpolao dos 423 pontos medidos no plano A.
A interpolao feita por triangulao. Escolhe-se a localizao dos pontos a
serem medidos virtualmente, seja no plano ou nos cilindros da pea. Em seguida
faz-se a localizao da grade na malha em que o ponto se encontra. Posteriormente
a esta localizao, identificam-se os quatro pontos pertencentes grade. Os trs
pontos mais prximos nesta grade ao ponto de interesse, geram um tringulo. Aps
o armazenamento destes trs pontos escolhidos, gera-se o plano que ir conter o
ponto de interesse. Por intermdio de equaes de lgebra linear
[49]
, a altura do
mesmo no caso de planos ou, a distncia do raio do mesmo, quando se trata de
cilindros, calculada. Esta representao pode ser vista na figura 36 para o caso
dos cilindros.
Para calcular o local de interseco do ponto escolhido, no caso dos cilindros,
gera-se uma reta com altura fixa definida pelo operador e com a direo arbitrada


46

devido ao nmero de simulaes. Esta reta possui sua origem centro do cilindro,
obtido por mnimos quadrados. A reta gerada simula a trajetria que realizaria o
sensor de uma MMC para medir um ponto na superfcie de um furo, isto , desde o
centro do furo at fazer contato com a superfcie interna do cilindro.
Para o caso dos planos, uma reta normal ao mesmo criada com as
coordenadas informadas pelo operador.

Figura 36 - Visualizao do mtodo de interpolao por triangulao.
Tendo-se os trs pontos que geram o plano e dois pontos pertencentes reta,
encontra-se a interseco do ponto calculando-se um parmetro t, que comum a
reta e ao plano.
4 5 3 2 1
4 5 3 2 1
4 5 3 2 1
4 3 2 1
4 3 2 1
4 3 2 1
0 1 1 1
1 1 1 1
z z z z z
y y y y y
x x x x x
z z z z
y y y y
x x x x
t

=


47

Os subndices entre 1, 2 e 3, so os coeficientes dos pontos que definem o
plano, j os sub-ndices 4 e 5 so dos pontos que definem a reta. A equao que
define a altura do ponto de interesse no plano interpolado :
( ) t z z z z + =
4 5 4

Quando utilizada a estratgia para o clculo dos parmetros relacionados ao
cilindro, algumas peculiaridades devem ser respeitadas. Primeiramente no existem
restries para a quantidade de alturas a se utilizar, no entanto a localizao destas
alturas deve ser informada. Escolhida a quantidade de alturas, informa-se a
quantidade de pontos por altura a ser utilizada. Estes pontos so separados de
forma eqidistante, para uma escolha com quatro pontos por altura, por exemplo,
estes pontos ficaro defasados 90. J para uma escolha com cinco pontos, tem-se
uma defasagem de 72, e assim sucessivamente.
As simulaes so realizadas somente para as operaes envolvendo
cilindros. O nmero de simulaes informado pelo metrologista. As simulaes
ocorrem num sistema de varredura de forma que, de acordo com o nmero de
vezes que solicitado, uma rotao no eixo das medies executada, de modo a
gerar as n simulaes. O ngulo de rotao escolhido de forma a evitar conjuntos
de pontos j extrados em simulaes anteriores. Caso sejam solicitados 4 pontos
por altura e 3 simulaes, na primeira simulao os pontos tero os ngulos de 0,
90,180e 270, j para a segunda simulao os ngulos sero de 30, 120, 210e
300e na ltima simulao os pontos tero a sua direo de apalpao nos ngulos,
60, 150, 240 e 330. O eixo deste giro feito com base no eixo do cilindro
calculado por mnimos quadrados, utilizando-se o total de pontos extrados para
cada um dos cilindros durante a calibrao.
Quando se escolhe a estratgia para o clculo da perpendicularidade do
cilindro, com relao ao plano, algumas informaes com relao medio do
plano so demandas. Primeiramente, a nica restrio diz respeito aos pontos
escolhidos, que devem estar dentro dos limites da superfcie recriada virtualmente.
Inexiste restrio no que diz respeito distncia entre os pontos, e sua quantidade.
Assim, deixa-se em aberto variadas possibilidades ao metrologista. O mesmo deve
informar as coordenadas X e Y de um ponto, por exemplo, no plano normal ao
eixo Z.


48

Os algoritmos de ajuste, que so utilizados para o clculo dos parmetros dos
elementos, so por mnimos quadrados. A principal razo para esta escolha devido
presena do mesmo, como algoritmo escolhido para o clculo do elemento
geomtrico substituto, em boa parte das MMC no que se refere ao setor industrial
[50]
. Devido ao enfoque industrial deste trabalho, nada mais justo do que a utilizao
do mesmo. Em que pese ter-se tal algoritmo se distinguir quanto as recomendaes
da norma ISO 1101
[24]
.
4.3.3 Interao com o programa para avaliar uw para diferentes
estratgias
Com a pea em mos, prope-se uma pequena gama de estratgias para
medir os cilindros e tambm a perpendicularidade de um plano com relao a um
cilindro. Tais estratgias devem ser tpicas da medio de produo. Dentre elas
ser escolhida a estratgia mais promissora para medir na produo ou,
eventualmente, poder-se- propor uma nova estratgia com base nos
comportamentos detectados nas anteriores.
Escolhida a gama de estratgias faz-se a simulao das medies em todas
as peas, estimando para cada caso as contribuies incerteza de medio. Para
cada pea e cada caracterstica calculam-se a mdia e desvio-padro das medies
virtuais sucessivas. A mdia usada para estimar o erro sistemtico bw, pela
subtrao do valor de referncia obtido na calibrao para essa caracterstica nessa
pea. O desvio padro estima a incerteza de medio uw. com base nestes dois
indicadores que o usurio poder selecionar a estratgia mais conveniente, aquela
que possui a melhor relao custo-benefcio e que retorna resultados satisfatrios
quando aplicada a todas as peas fabricadas.
4.4 ESTIMATIVA DAS CONTRIBUIES DA MQUINA E DO
AMBIENTE
Aps feita a apresentao da pea fabricada, conhecimento da ISO 15530-3
[34]
e por fim o funcionamento da programao desenvolvida, tm-se agora todos os
fundamentos necessrios para completar a avaliao da incerteza.
A par da estratgia de sucesso, fazem-se as medies com tal estratgia na
MMC sob avaliao, na forma de um estudo de estabilidade. A variabilidade


49

detectada nesse estudo representar a influncia dos erros aleatrios do processo
de medio, originados pela MMC, ambiente, etc. O desvio sistemtico estimado a
partir da mdia das medies ser o reflexo dos efeitos do ambiente e da MMC, mas
tambm da estratgia selecionada na pea usada para a etapa experimental.
De posse dessas informaes pode-se estimar a incerteza conforme
recomendao da norma ISO 15530-3
[34]
j descrita no Captulo 3. A abordagem de
como feita contabilizao destes erros ser exposta no Captulo 5.
4.5 SNTESE DO CAPTULO
Com o trmino deste captulo, reportou-se a soluo proposta juntamente
com a metodologia de aplicao da mesma em detalhes.
Enfatizou-se a necessidade da obteno de peas para os testes. Em uma
segunda parte apresentou-se a necessidade de obteno de uma programao
vlida e capaz de avaliar a incerteza associada ao processo de fabricao. Tambm
foi exposta a metodologia de funcionamento de tal programao desenvolvida para
suprir a tarefa. Por fim, apresentou-se a importncia de cada etapa para o
levantamento de cada um dos parmetros que compem o balano de incertezas
segundo a norma ISO 15530-3
[34]
.
Desta forma, criou-se uma soluo que abrange simulao computacional
baseada em dados reais, visando resolver uma problemtica de mbito industrial. Os
resultados obtidos durante o transcorrer de cada uma das etapas no foram aqui
expostos, pois o carter deste captulo apresentar ao leitor uma viso ampla da
soluo e sua implementao. Os desafios encontrados, os resultados obtidos e o
processamento dos mesmos, para cada uma das etapas, o foco do Captulo 5.




50

5 VALIDAO E APLICAO DA
SISTEMTICA PROPOSTA
Neste captulo sero apresentados em detalhes todos os resultados obtidos
em cada uma das etapas expostas no Captulo 4. Primeiramente ser exposta ao
leitor, a validao da programao desenvolvida. Em seguida, ser apresentado o
mtodo utilizado para a calibrao das peas padro, bem como seus balanos de
incerteza. Posteriormente, ser retratado todo o processo e os resultados para o
levantamento da incerteza referente interao entre a estratgia e os desvios de
forma. Por fim, apresentar-se- o resultado da avaliao da incerteza devida ao
processo de medio. Exposies de forma grfica sero utilizadas ao longo deste
captulo, a fim de facilitar ao leitor a compreenso dos resultados obtidos.
No fechamento do captulo, tem-se o clculo da incerteza expandida, como
exposto no Captulo 3, pela norma ISO 15530-3
[34]
.
5.1 VALIDAO DO PROGRAMA
Em uma primeira abordagem, ser feita a validao do programa. Desta
forma, uma srie de testes foi realizada de modo a validar a programao
desenvolvida para as caractersticas em anlise.
5.1.1 Validao do processamento matemtico
Devido utilizao do algoritmo de ajuste por mnimos quadrados, estas
operaes devem ser exaustivamente testadas de forma a assegurar sua
confiabilidade. Assim, o resultado obtido com o algoritmo utilizado pelo programa,
dever fornecer os mesmo resultados para os mesmos dados de entrada, quando
comparados com os resultados dos algoritmos implementado no software de
medio da MMC de referncia.


51

Na programao desenvolvida, utilizou-se o algoritmo de ajuste por mnimos
quadrados que est disposio na pgina web do NPL (National Physical
Laboratory)
[51]
. Aps feita a implementao do algoritmo no programa, poder-se-ia
realizar um teste para validao desta etapa, utilizando-se dados de entradas
disponveis na prpria pgina do NPL. No entanto optou-se utilizar outros meios,
pois um tanto quanto razovel que o algoritmo de referncia disponvel na pgina
web, tenha sido utilizado para gerar tais os resultados. Assim estar-se-ia
confrontados os resultados do algoritmo de ajuste com ele mesmo.
Esquivou-se desta opo e comparou-se os resultados obtidos pelo
programao desenvolvida com os obtidos pelo software da mquina Zeiss usada
para calibrar as peas e gerar as coordenadas dos pontos. Utilizaram-se todas as
trs peas fabricadas para este trabalho, de forma que todas as possveis
desconfianas a cerca dos resultados fossem colocadas prova. Assim, foram feitas
estratgias de medio com uma grande quantidade de pontos de modo a expurgar
qualquer possibilidade de coincidncias indesejveis nos resultados apresentados,
tanto pela MMC quanto pelo programa.
A estratgia escolhida para este teste em particular foi a realizao do
procedimento de scanning em todos os dois cilindros de cada uma das peas, a fim
de se gerar seis resultados distintos. Desta forma foram obtidos 360 pontos para
cada uma das alturas, sendo que para cada furo foram feitas medies em 13
alturas distintas, totalizando-se 4680 pontos. As caractersticas de interesse neste
caso foram a referentes circularidade, e o dimetro dos furos medidos. A
exposio dos resultados obtidos com a MMC e o programa podem ser visualizados
na Tabela 5.
Tabela 5 - Quadro comparativo dos resultados obtidos com a MMC e com o programa de simulao
desenvolvido. Resultados obtidos com os 4680 pontos.
Zeiss Simulao Zeiss Simulao
Zeiss X
Simulao
Dimetro Forma (Cilindricidade)
Cil A - Pea 1 39,8967 39,8967 0,0979 0,0979
Cil A - Pea 2 39,8295 39,8295 0,0324 0,0323
Cil A - Pea 3 39,9331 39,9331 0,0480 0,0480
Cil B - Pea 1 27,1900 27,1900 0,0166 0,0165
Cil B - Pea 2 27,1157 27,1157 0,0242 0,0242
Cil B - Pea 3 27,1113 27,1113 0,0207 0,0208


52

O cilindro A (Cil A) o cilindro de 40 mm de dimetro, j o cilindro B (Cil B),
exposto no quadro acima, o cilindro de 27 mm de dimetro, como apresentado
anteriormente no desenho tcnico da pea.
Tanto os resultados obtidos pelo programa, quanto os resultados expostos
pela MMC so os mesmos at a ordem de dcimo de micrometro. Assim, conclu-se
que o processamento matemtico realizado pelo programa desenvolvido
suficientemente confivel.
A relao obtida para cada um dos cilindros, seja para o clculo do dimetro e
para a cilindricidade para os cilindros A e B encontram-se nas figuras 37 a 40.
Dimetro - Cilindro A [mm]
39,8200
39,8400
39,8600
39,8800
39,9000
39,9200
39,9400
39,8200 39,8400 39,8600 39,8800 39,9000 39,9200 39,9400
Zeiss
S
i
m
u
l
a

o
Dimetro Linear (Dimetro)

Figura 37 - Relao entre os dimetros medidos pela MMC e pelo programa para o furo A, para cada
uma das 3 peas.
Dimetro - Cilindro B [mm]
27,1000
27,1200
27,1400
27,1600
27,1800
27,2000
27,1000 27,1200 27,1400 27,1600 27,1800 27,2000
Zeiss
S
i
m
u
l
a

o
Dimetro Linear (Dimetro)

Figura 38 - Relao entre os dimetros medidos pela MMC e pelo programa para o furo B, para cada
uma das 3 peas.


53

Forma (Cilindricidade) - Cilindro A [mm]
0,0300
0,0500
0,0700
0,0900
0,0300 0,0400 0,0500 0,0600 0,0700 0,0800 0,0900 0,1000
Zeiss
S
i
m
u
l
a

o
Forma Linear (Forma)

Figura 39 - Relao entre a cilindricidade medida pela MMC e pelo programa para o furo A, para cada
uma das 3 peas.
Forma (Cilindricidade) - Cilindro B [mm]
0,0150
0,0170
0,0190
0,0210
0,0230
0,0250
0,0150 0,0170 0,0190 0,0210 0,0230 0,0250
Zeiss
S
i
m
u
l
a

o
Forma Linear (Forma)

Figura 40 - Relao entre a cilindricidade medida pela MMC e peloo programa para o furo B, para
cada uma das 3 peas.
Realizada esta etapa, deve-se ainda avaliar a repetitividade do programa
desenvolvido. Utilizou-se como referncia os dados da medio por scanning do
cilindro B da pea 1, totalizando os mesmos 4680 pontos utilizados no confronto
exposto anteriormente. Isto feito, repetiu-se dez vezes o mesmo clculo partindo-se
sempre da mesma base de dados de entrada. Por fim, para todos os resultados
apresentados, obteve-se a mesma resposta final, suprimindo toda dvida a respeito
da repetitividade do programa. Caso o mesmo no venha a repetir bem, estas
influncias deveriam ser levadas em considerao, pois iro fazer parte da incerteza
nos resultados apresentados.


54

5.1.2 Validao do clculo do dimetro
Como apresentado no Captulo 4, para o clculo do dimetro utilizam-se de
interpolaes. Deve-se confirmar que a interpolao no esteja sendo a causa de
alguma relevante fonte de erro nas simulaes.
Com quatro estratgias distintas, realizaram-se algumas simulaes a fim de
avaliar o comportamento da interpolao. As alturas e ngulos entre pontos foram
selecionados de forma tal de evitar a coincidncia com os dados importados da
medio por scanning. As estratgias utilizadas encontram-se na tabela 6.
Tabela 6 - Estratgias utilizadas para validao da simulao de dimetro.
Estratgias
Quantidade de
pontos
Quantidade de
alturas
Nmero de
simulaes
Densidade de
amostragem
Estratgia 1 4 2 900 0,1
Estratgia 2 10 2 360 0,1
Estratgia 3 4 5 900 0,1
Estratgia 4 10 5 360 0,1

Na tabela acima a densidade de amostragem significa o ngulo de rotao
por ponto amostrado.
Todavia, para que seja possvel validar tais simulaes, necessrio que se
tenha uma referncia de modo a comparar estes resultados. Para solucionar este
problema, foi decidido fazer com que a prpria MMC Zeiss viesse a fazer as mesmas
medies que foram realizadas no ambiente virtual.
Contudo, realizar uma quantidade de 360 ou 900 medies no vivel, no
que tange os aspectos econmicos contra o benefcio gerado por estes esforos.
Assim para se gerar uma quantidade razovel de dados para validao das
simulaes, fizeram-se vinte medies para cada uma das estratgias. Devido s
vinte repeties, criou-se uma rotao de 1,8 por ponto, e 4,5 por ponto, para
estratgias com dez e quatro pontos por altura, respectivamente.
Aps a simulao realizada e as medies efetuadas na MMC, obtiveram-se
os resultados apresentados na figura 41, com intervalo de confiana de
aproximadamente 95%.


55

Zeiss x Simulao - Cilindro B Pea 1 - Dimetro [mm]
27,1870
27,1880
27,1890
27,1900
27,1910
27,1920
27,1930
27,1940
27,1950
4p 2a 4p 2a 4p 2a 4p 5a 4p 5a 4p 5a 10p 2a 10p 2a 10p 2a 10p 5a 10p 5a 10p 5a
Zeiss Zeiss Simulao Zeiss Zeiss Simulao Zeiss Zeiss Simulao Zeiss Zeiss Simulao

Figura 41 - Resultados de medio para validao da simulao de dimetro.
Em uma primeira anlise, pode-se notar que para todas as estratgias
utilizadas obtiveram-se resultados mdios com valores inferiores quando
comparados com os resultados mdios obtidos pela MMC, embora a disperso seja
muito similar. A fim de expor as causas desta diferena, repetiram-se as mesmas
medies realizadas pela MMC anteriormente. No existe razo de repetir as
simulaes, pois como exposto anteriormente, o programa repete perfeitamente os
resultados. No entanto, pode-se notar que ao fazer a repetio da mesma medio,
segundo valor de cada estratgia, a MMC expe que repete suas respostas na
ordem de dcimos de micrometros. Descartou-se assim qualquer culpa devido
diferena nos resultados oriundos da repetitividade da MMC Zeiss.
Entretanto, os pontos importados para simulao so oriundos da operao
de scanning. Por outro lado, quando so feitas as medies a fim de confrontar os
resultados da MMC com os resultados da simulao, obtm-se os pontos utilizando-
se aquisio ponto-a-ponto. Devido a alguns fatores evidenciados no Captulo 2,
suspeitou-se que a MMC apresenta diferenas entre os modos scanning e ponto-a-
ponto. Caso esta possibilidade venha a se confirmar, uma diferena similar a que se
apresentou nos resultados deveria ser encontrada, aproximadamente 1,5 m.
No intuito de encontrar o motivo desta diferena, fez-se a medio de um anel
calibrado. Este anel possui um dimetro de 27 mm, semelhante ao furo da pea.
Foram realizadas no anel duas medies. Na primeira, utilizou-se o modo scanning
com 360 pontos, em uma nica altura (figura 42). A segunda medio foi ponto-a-


56

ponto, porm nas mesmas posies adquiridas por scanning (figura 43). Realizaram-
se cinco repeties para cada uma das medies.

Figura 42 - Relatrio da medio do anel por scanning da MMC Zeiss com 360 pontos.

Figura 43 - Relatrio da medio do anel ponto a ponto da MMC Zeiss com 360 pontos.


57

Para todas as medies, ponto-a-ponto e scanning realizadas na MMC Zeiss,
a qualificao do apalpador foi feita utilizando-se uma esfera padro, com erro de
forma desprezvel.
O valor mdio do dimetro encontrado quando medido por scanning foi de
27,0003 mm. Quando medido por ponto-a-ponto, o valor mdio do dimetro foi de
27,0017mm. Assim uma diferena de (1,4 0,3) m foi encontrada, expondo o
motivo que levou a gerar a diferena detectada nos resultados da figura 41. Podem-
se realizar agora as devidas correes.
Uma forte hiptese de se ter dimetros medidos menores para a medio por
scanning, quando comparados com a medio ponto-a-ponto, deve-se a questes
tribolgicas. O fato de ter-se flexo atreladas ponta do apalpador, oriundas da
rugosidade da pea, e velocidade de apalpao, e tamanho da haste venham a
deslocar o apalpador no sentido interno do anel. Uma vez que quando o mesmo vem
a vibrar no sentido externo ao anel, acaba por encontrar o prprio anel medido como
conteno, retornando estas flexes para o sentido interno do mesmo.
Realizando-se as correes pertinentes, obtiveram-se os resultados
mostrados na figura 44, com intervalo de confiana de aproximadamente 95%.
Zeiss X Simulao - Cilindro B Pea - 1 Dimetro [mm]
Ajustado (1,4 m)
27,1880
27,1890
27,1900
27,1910
27,1920
27,1930
27,1940
27,1950
27,1960
4p 2a 4p 2a 4p 2a 4p 5a 4p 5a 4p 5a 10p 2a 10p 2a 10p 2a 10p 5a 10p 5a 10p 5a
Zeiss Zeiss Simulao Zeiss Zeiss Simulao Zeiss Zeiss Simulao Zeiss Zeiss Simulao

Figura 44 - Resultados corrigidos devidos diferena dos resultados na MMC, para a validao da
simulao para o clculo de dimetro.
Realizado o ajuste, a maior diferena das mdias de 0,45 m, para a pior
das hipteses, chegando a diferenas mnimas nas mdias de 0,06 m.


58

Os limites de confiana das medies, mostrados por meios de barras nas
figuras 41 e 44, correspondem a duas vezes o desvio padro da amostra das
medies na MMC, assim como tambm das simulaes, tendo-se assim um
intervalo de confiana de aproximadamente 95%.
Pode-se assim constatar a validao dos resultados obtidos para com a
avaliao do clculo de dimetro por simulao computacional.
5.1.3 Validao do clculo da cilindricidade
Para esta validao, mais uma vez o cilindro B da pea 1 foi escolhido, devido
ao fato de que, quando feita a simulao do dimetro, os valores de cilindricidade
eram computados simultaneamente. Assim foi reduzido no somente o tempo de
simulao computacional, como tambm o tempo nas medies na MMC Zeiss. As
estratgias de medio, tanto na MMC, quanto nas simulaes foram mantidas. Os
resultados so apresentados na figura 45.
Zeiss X Simulao - Cilindro B Pea 01 - Cilindricidade [mm]
0,0000
0,0020
0,0040
0,0060
0,0080
0,0100
0,0120
0,0140
0,0160
4p 2a 4p 2a 4p 5a 4p 5a 10p 2a 10p 2a 10p 5a 10p 5a
Zeiss Simulao Zeiss Simulao Zeiss Simulao Zeiss Simulao

Figura 45 - Resultados de medio para validao da simulao de cilindricidade.
Os resultados encontrados mostraram, na pior das hipteses, uma diferena
nas mdias de 0,75 m, sendo que na melhor delas encontra-se uma diferena nas
mdias de 0,35 m.
Assim, conclui-se que todas as simulaes para clculo da cilindricidade
podem ser consideradas vlidas.


59

5.1.4 Validao do clculo da perpendicularidade
Por fim, para validar a ltima caracterstica calculada pela programao,
perpendicularidade de um plano com relao ao eixo de um cilindro, utilizaram-se os
mesmos dados de entrada, ou seja, os pontos no espao (x,y,z) anteriormente
mensurados pela MMC para a validao do clculo do dimetro e da cilindricidade.
O estudo foi realizado com o cilindro B e o plano A da pea 1. Para a caracterizao
virtual do plano A, utilizaram-se os 423 pontos j mencionados no Captulo 4.
Geraram-se quatro estratgias distintas de modo a afastar qualquer
possibilidade de obter-se uma coincidncia inconveniente (tabela 7).
Tabela 7 - Estratgias para a validao do clculo da perpendicularidade.
Estratgia
NAlturas
(Cil B)
NPontos
(Cil B)
NPontos
(Plano A)
Estratgia N1
2 4 4
Estratgia - N2
5 4 5
Estratgia - N3
2 10 11
Estratgia - N4
5 10 19

O tratamento matemtico para o clculo desta caracterstica se d da
seguinte forma. Os pontos apalpados no plano so mensurados uma nica vez, e
armazenados para o clculo da perpendicularidade. A simulao, como j dito
anteriormente, se aplica somente aos cilindros. A cada cilindro medido de cada
rodada da simulao, feito o clculo da perpendicularidade do plano em relao ao
eixo do mesmo, por mnimos quadrados. A variao dos resultados se produz devido
forma do cilindro e a estratgia usada para definir seu eixo. Os resultados obtidos
podem ser visto na figura 46. O valor de referncia, que possui 4680 pontos no
cilindro e 423 pontos no plano de 0,1685mm. As barras de disperso apresentadas
na figura 46 representam intervalos de confiana de 95%.
Em uma primeira anlise pode-se perceber que para a estratgia com duas e
cinco alturas, a diferena entre os resultados da ordem de 12,3 m e 5,2 m
respectivamente, embora a disperso dos resultados seja muito similar.


60

Perpendicularidade Plano A com relao ao Cilindro B [mm]
Zeiss x Simulao
0,1500
0,1550
0,1600
0,1650
0,1700
0,1750
0,1800
Z
e
i
s
s
S
i
m
u
l
a

o
Z
e
i
s
s
S
i
m
u
l
a

o
Z
e
i
s
s
S
i
m
u
l
a

o
Z
e
i
s
s
S
i
m
u
l
a

o
4p 2a 4p 4p 2a 4p 4p 5a 5p 4p 5a 5p 10p 2a
11 p
10p 2a
11 p
10p 5a
19p
10p 5a
19p

Figura 46 - Perpendicularidade do plano A em relao ao eixo do furo B.
Posteriormente observou-se que uma alterao da ordem de uma unidade na
sexta casa aps a vrgula no valor de um dos cosenos diretores do eixo do cilindro.
Isso gera uma diferena entre os resultados obtidos com as simulaes e a MMC na
ordem de alguns micrometros.
Entretanto, como as medies so realizadas em alturas em que a
interpolao entra em ao, uma diferena entre a estimativa por interpolao e o
valor medido pela mquina poderia ser suficiente para causar tal variao nos
cosenos diretores, que quando utilizados para o clculo da perpendicularidade se faz
relevante. A fim de se avaliar essa hiptese, foram feitas novas medies por
scanning, de tal forma que as simulaes pudessem ser realizadas em alturas nas
quais existiam dados importados da medio na MMC Zeiss. Assim neutralizou-se a
influncia da interpolao na direo axial. Os resultados obtidos encontram-se na
figura 47.
Em uma primeira abordagem, fica notria a melhoria obtida com tais
informaes adicionais, quando comparado com a figura 46. Para as estratgias
com cinco alturas tem-se uma diferena nos resultados na ordem de 0,6 m e para
as estratgias com duas alturas, essa diferena recua para ordem de 0,2 m.
Assim, pode-se concluir que a simulao de perpendicularidade fortemente
afetada pela interpolao e que mudanas deveriam ser feitas nos dados (maior


61

densidade) ou no algoritmo (por exemplo, uma melhor interpolao) para que a
simulao se torne vivel.
Perpendicularidade Plano A com relao ao Cilindro B [mm]
Zeiss x Simulao
0,1500
0,1520
0,1540
0,1560
0,1580
0,1600
0,1620
0,1640
0,1660
0,1680
4p 2a 4p 4p 2a 4p 4p 5a 5p 4p 5a 5p 10p 2a
11 p
10p 2a
11 p
10p 5a
19p
10p 5a
19p
Simulao Zeiss Simulao Zeiss Simulao Zeiss Simulao Zeiss

Figura 47 - Clculo da perpendicularidade com novas alturas obtidas por scanning.
Modernas mquinas de medir por coordenadas possuem sistemas de
comando numrico que permitem definir um caminho de medio por scanning em
hlice (figura 48), sendo essa uma provvel soluo para minimizar os custos de
aquisio de grandes quantidades de pontos.

Figura 48 - Scanning em hlice
[52]
.
par das particularidades do clculo desta caracterstica, no se prosseguir
com a avaliao da incerteza da medio de perpendicularidade aplicando a norma


62

ISO 15530-3
[34]
. Mesmo assim, pode-se afirmar que o clculo da perpendicularidade
foi validado, embora se tenha a necessidade de uma elevada quantidade de dados
descrevendo as superfcies envolvidas.
5.2 APLICAO DA SISTEMTICA
Uma vez atingida a validao da programao, a mesma ser aplicada
determinao das estratgias de medio mais convenientes e ao clculo da
incerteza de medio. Para isso, usou-se as mesmas peas e caractersticas
envolvidas no processo de validao, exceo da perpendicularidade.
5.2.1 Clculo da incerteza devido calibrao da pea (ucal)
A calibrao da pea, de fundamental importncia, devido ao fato que sua
fonte de incerteza (ucal) possui a mesma ordem de grandeza que s outras fontes
de incerteza, (uw) e (up). Contudo, essa incerteza deve ser baixa ao ponto de no
ser preponderante, e sim apenas uma fonte de incerteza de magnitude secundria
perante as outras fontes. Tanto para gerar os dados da base computacional quanto
para a calibrao, escolheu-se cuidadosamente um perodo da madrugada de um
fim de semana. O intuito de ter-se assim uma condio a mais estvel possvel.
Baseados nas pequenas dimenses da pea perante a mesa da MMC, a
pouca distino entre a magnitude dos dimetros dos cilindros e pela possibilidade
de medir-se cada uma da peas em uma mesma regio da mesa da MMC, arbitrou-
se que a incerteza da medio de um cilindro a mesma para os demais. Assim,
para o clculo da incerteza devida calibrao da pea (ucal), fizeram-se cinco
medies pelo mtodo de scanning no cilindro B1. Primeiramente calculou-se a
incerteza de forma, e posteriormente a do dimetro.
A medio do mesmo anel padro de 27 mm j citado anteriormente, foi feita
por scanning e ponto-a-ponto neste mesmo perodo. Ambas as medies foram
repetidas cinco vezes, contendo cada uma delas 360 pontos apalpados.
Para o levantamento da incerteza atrelada calibrao da pea, utilizou-se o
mtodo dos coeficientes de sensibilidade sugerido por Salsbury
[53],[54]
.
Aps as cinco medies por scanning de erro de forma do anel, encontrou-se
como mdia destas medies o valor de 1,3 m. Entretanto seu certificado de


63

calibrao, informa um valor de 0,3 m. Assim o valor absoluto de 1,0 m ser
acrescentado no valor da incerteza da forma do cilindro, devido ao rduo trabalho
para compensar a mesma em sua plenitude. O balano de incerteza para a medio
da forma no anel apresentado na tabela 8.
Tabela 8 Balano de incerteza referente ao erro da MMC em medies por scanning para o desvio
de forma de um anel de 27 mm.
Smbolo Componente Valor Unid. Tipo Dist. Prob. Divisor Valor Unid.
Uscan Repetitividade do Scanning 0,00006 mm A normal 1,00000 1,00000 mm 0,00006 4
Uesfe Esfericidade do apalpador 0,00013 mm B retangular 1,73205 1,00000 mm 0,00008 inf
Ucalanfor Certificado do anel (Mahr) 0,00008 mm B normal 2,00000 1,00000 mm 0,00004 inf
UresZeiss Incerteza da Resoluo da Zeiss 0,00005 mm B retangular 1,73205 1,00000 mm 0,00003 inf
uc incerteza combinada 0,00011 45
K Student 2,06
U Incerteza expandida 0,0003
Fontes de Incerteza Efeitos Aleatrios Coef. Sensib.
Incerteza
Padro
Graus
Liberd.

Uscan = incerteza referente repetitividade do scanning da forma do anel.
Uesfe = incerteza referente ao erro de forma da esfera do apalpador.
Ucalanfor = incerteza da calibrao do anel com a mquina de medir forma.
UresZeiss = incerteza referente a resoluo da MMC Zeiss.
Posteriormente fez-se o levantamento para o clculo da incerteza associada
forma do cilindro. Realizaram-se cinco medies por scanning utilizando-se 13
alturas e 360 pontos por altura, totalizando-se 4680 pontos. Foi encontrado um valor
mdio de 0,0167 mm, para a forma do cilindro avaliado. O balano de incerteza
correspondente apresentado na tabela 9.
Tabela 9 - Balano de incerteza referente calibrao da forma do cilindro.
Smbolo Componente Valor Unid. Tipo Dist. Prob. Divisor Valor Unid.
Uscan Repetitividade do Scanning 0,00009 mm A normal 1,00000 1,00000 mm 0,00009 4
Uesfe Esfericidade do apalpador 0,00013 mm B retangular 1,73205 1,00000 mm 0,00008 inf
UresZeiss Incerteza da Resoluo da Zeiss 0,00005 mm B retangular 1,73205 1,00000 mm 0,00003 inf
UerrZeiss
Erro da MMC para medio por
scanning referente a forma
0,00030 mm B normal 2,06211 1,00000 mm 0,00015 45
u
c incerteza combinada 0,00019 52
K Student 2,05
U incerteza expandida 0,0004
Fontes de Incerteza Efeitos Aleatrios Coef. Sensib.
Incerteza
Padro
Graus
Liberd.

Uscan = incerteza referente repetitividade do scanning da forma do cilindro.
UerrZeiss = incerteza ao erro da MMC Zeiss em medies por scanning para o desvio de forma.
Assim tem-se um incerteza expandida, contemplando as parcelas aleatria e
sistemtica no valor de 1,4 m, para a forma do cilindro.


64

Finalizada a etapa de levantamento de incertezas associadas medio de
forma, direciona-se para as relativas medio de dimetro. Como se utiliza o
mtodo da substituio, o clculo do dimetro do cilindro se d pela equao abaixo:
( )
medidoanel o certificad medido cil
medido cil
d d d D
Correo d D
+ =
+ =

D
cil
= valor nominal da calibrao do dimetro do cilindro.
d
medido
= mdia das cinco medies no cilindro realizadas por scanning na MMC Zeiss.
d
medidoanel
= mdia das cinco medies no anel realizadas por scanning na MMC Zeiss.
d
certificado
= valor do dimetro do anel em seu certificado de calibrao.
Desta forma prosseguiu-se primeiramente para o clculo da incerteza
referente correo, apresentada na tabela 10.
Tabela 10 - Balano de incerteza referente correo.
Smbolo Componente Valor Unid. Tipo Dist. Prob. Divisor Valor Unid.
Uscan Repetitividade do Scanning 0,00007 mm A normal 1,00000 1,00000 mm 0,00007 4
Ucalandia Certificado do anel (dimetro) 0,00050 mm B normal 2,00000 1,00000 mm 0,00025 176
UerrZeiss
Erro da MMC para medio por
scanning referente a forma
0,00030 mm B normal 2,00000 1,00000 mm 0,00015 2,06
UresZeiss Incerteza da Resoluo da Zeiss 0,00005 mm B retangular 1,73205 1,00000 mm 0,00003 inf
Utemp Incerteza Dil. Trmica 0,10000 C B retangular 1,73205 0,00031 mm/C 0,00002 inf
Ualfa Incerteza Coef Dil. Trmica 0,00000 mm/mmC B retangular 1,73205 2,70000 mmC 0,00000 inf
u
c incerteza combinada 0,00030 30
K Student 2,09
U incerteza expandida 0,0007
Fontes de Incerteza Efeitos Aleatrios Coef. Sensib.
Incerteza
Padro
Graus
Liberd.

Uscan = incerteza referente repetitividade do scanning do dimetro do anel.
Ucalandia = incerteza referente calibrao do dimetro do anel.
Utemp = incerteza referente variao da temperatura.
Ualfa = incerteza referente ao coeficiente de expanso trmica do material.
Os valores correspondentes a d
medido
, d
medidoanel
, e d
certificado
so 27,1905 mm,
27,0003 mm e 27,0011 mm respectivamente.
Como conseqncia, o valor do dimetro do cilindro ser:
( )
( ) [ ]
mm D
mm D
d d d D
cil
cil
medidoanel o certificad medido cil
=
+ =
+ =
1913 , 27
0003 , 27 0011 , 27 1905 , 27
Por fim apresenta-se o balano de incerteza da calibrao do dimetro do
cilindro na tabela 11.


65

Tabela 11 - Balano de incerteza do dimetro do cilindro.
Smbolo Componente Valor Unid. Tipo Dist. Prob. Divisor Valor Unid.
Uscan Repetitividade do Scanning 0,00007 mm A normal 1,00000 1,00000 mm 0,00007 4
UresZeiss Incerteza da Resoluo da Zeiss 0,00005 mm B retangular 1,73205 1,00000 mm 0,00003 inf
Utemp Incerteza Dil. Trmica 0,10000 C B retangular 1,73205 0,00067 mm/C 0,00004 inf
Ucoranel Inc. da Correo do Dim. do Anel 0,00070 mm A normal 2,09204 1,00000 mm 0,00033 30
Ualfa Incerteza Coef Dil. Trmica 0,00000 mm/mmC B retangular 1,73205 2,71900 mmC 0,00001 inf
uc incerteza combinada 0,00034 33
K Student 2,08
U incerteza expandida 0,0007
Fontes de Incerteza Efeitos Aleatrios Coef. Sensib.
Incerteza
Padro
Graus
Liberd.

Uscan = incerteza referente repetitividade do scanning do dimetro do cilindro.
Utemp = incerteza referente variao da temperatura.
Ucoranel = incerteza da correo do dimetro do anel.

Assim, o resultado de medio para o dimetro calibrado do cilindro B1
expresso como (27,1913 0,0007) mm.
5.2.2 Clculo da incerteza devido interao entre a estratgia de
medio e os erros de forma da pea
Neste momento do trabalho, se faz aplicao da programao desenvolvida.
As quatro estratgias utilizadas so as mesmas utilizadas na seo 5.1, para fins de
validao. As simulaes forneceram o valor do dimetro e o erro de forma para
cada um dos cilindros abordados. Os resultados das simulaes podem ser
encontrados nos grficos das figuras 49 a 52, informados como desvio com
referncia ao valor calibrado. A barra representa o intervalo de confiana 95%.
Dimetro Cilindro A (Estratgia - Ref 4680pts) [mm]
-0,0060
-0,0040
-0,0020
0,0000
0,0020
0,0040
0,0060
4p / 2a 4p / 5a 10p/ 2a 10p/ 5a 4p / 2a 4p / 5a 10p/ 2a 10p/ 5a 4p / 2a 4p / 5a 10p/ 2a 10p/ 5a
A1 A2 A3

Figura 49 - Resultado do dimetro obtido via simulao para os cilindros A.


66

Dimetro Cilindro B (Estratgia - Ref 4680pts) [mm]
-0,0060
-0,0040
-0,0020
0,0000
0,0020
0,0040
0,0060
4p / 2a 4p / 5a 10p/ 2a 10p/ 5a 4p / 2a 4p / 5a 10p/ 2a 10p/ 5a 4p / 2a 4p / 5a 10p/ 2a 10p/ 5a
B1 B2 B3

Figura 50 - Resultado do dimetro obtido via simulao para os cilindros B.
Cilindricidade Cilindro A (Estratgia - Ref 4680pts) [mm]
-0,1000
-0,0800
-0,0600
-0,0400
-0,0200
0,0000
0,0200
4p / 2a 4p / 5a 10p/ 2a 10p/ 5a 4p / 2a 4p / 5a 10p/ 2a 10p/ 5a 4p / 2a 4p / 5a 10p/ 2a 10p/ 5a
A1 A2 A3

Figura 51 - Resultado do desvio de cilindricidade obtido via simulao para os cilindros A.
Cilindricidade Cilindro B (Estratgia - Ref 4680pts) [mm]
-0,1000
-0,0800
-0,0600
-0,0400
-0,0200
0,0000
0,0200
4p / 2a 4p / 5a 10p/ 2a 10p/ 5a 4p / 2a 4p / 5a 10p/ 2a 10p/ 5a 4p / 2a 4p / 5a 10p/ 2a 10p/ 5a
B1 B2 B3

Figura 52 - Resultado do desvio de cilindricidade obtido via simulao para os cilindros B.



67

Aps a obteno de tais resultados, fez-se uma anlise qualitativa do ganho
com o aumento da densidade de pontos, entre as distintas estratgias propostas.
Em funo dessa anlise foi proposta uma nova estratgia de medio no qual cada
cilindro medido em cinco alturas, coletando seis pontos por altura. Foram feitas
720 simulaes para cada cilindro com tal estratgia. Os resultados podem ser
visualizados nas figuras 53 e 54.
Dimetro - 6 Pontos 5 Alturas [mm]
-0,0080
-0,0060
-0,0040
-0,0020
0,0000
0,0020
0,0040
0,0060
Cilindro
A1
Cilindro
A2
Cilindro
A3
Cilindro
B1
Cilindro
B2
Cilindro
B3

Figura 53 - Resultado do dimetro com a nova estratgia.
Cilindricidade - 6 Pontos 5 Alturas [mm]
-0,1000
-0,0800
-0,0600
-0,0400
-0,0200
0,0000
0,0200
Cilindro
A1
Cilindro
A2
Cilindro
A3
Cilindro
B1
Cilindro
B2
Cilindro
B3

Figura 54 - Resultado do desvio de cilindricidade com a nova estratgia.
Em uma primeira anlise, nota-se uma disperso mais elevada para os
valores do dimetro do cilindro A2 (figura 53), quando comparado com os outros
dimetros da srie A. Ento, refizeram-se as medies que geram os dados de


68

entrada na programao, a fim de eliminar possveis pontos esprios que venham a
distorcer as simulaes. De posse dos resultados, foram elaborados os grficos dos
cilindros que no apresentaram mudanas. O valor do dimetro e a forma antes e
depois na MMC repetiu-se na ordem de dcimos de micrometro. Conclui-se que
realmente a diferena percebida est relacionada com particularidades da forma da
pea.
J em uma segunda anlise, nota-se um erro sistemtico acentuado para a
forma do cilindro A1 (figura 54). Novamente repetiram-se as medies, verificando
que no se tratava de pontos atpicos. Notou-se posteriormente que esta diferena
se d justamente pelo fato de que as estratgias de medio em cinco alturas
utilizaram sees mais bem comportadas. Os erros de forma do cilindro A1 so
mais marcantes perto de um dos extremos, onde as estratgias simplificadas no
adquiriam pontos. Deste modo o erro de forma medido nesta estratgia fica
atenuado quando comparado com a referncia, que possui 13 alturas e 360 pontos
por altura.
Assim, se considerarmos que os cilindros A1 e A2 so plausveis dentro da
natural diversidade do processo de fabricao, tem-se que a estratgia selecionada
pode gerar resultados da medio de dimetro com incertezas bastante diferentes,
mas com erros sistemticos desprezveis. No entanto, os desvios de forma sero
subestimados, com erros sistemticos que dependem fortemente de cada pea, mas
com pequenas incertezas. A fim de contemplar todas estas caractersticas no clculo
de (uw) utilizaram-se os princpios e equaes que seguem.
Para cada cilindro, o erro sistemtico est dado pela mdia dos erros
sistemticos obtidos na simulao (vlido tanto para o dimetro como para a forma):

=
3
1
1
i w
b
n
b
A variao dos erros sistemticos contemplada pelo seu desvio-padro:
( )

=
3
1
2
1 3
1
w i b
b b S
Por fim a incerteza devida interao entre a estratgia e a forma pode ser
calculada somando quadraticamente a mdia dos desvios-padres com o desvio-
padro dos erros sistemticos, calculado acima:


69

2
3
1
2
3
1

+ =

= i
i b
s S uw
Onde
i
s o desvio-padro das repetidas simulaes feitas para cada pea.
Assim, os valores de uw para os cilindros A e B e cada uma das suas
caractersticas podem ser vistos na tabela 12.
Tabela 12 - Valores de uw para cada uma das caractersticas.
Incertezas Valores (mm)
uw - DA 0,0030
uw - DB 0,0013
uw - FA 0,0649
uw - FB
0,0121

uw-XX = incerteza do processo de fabricao para determinado cilindro e sua caracterstica avaliada.
X-DX = referente ao dimetro do cilindro.
X-FX =referente cilindricidade do cilindro.
X-XA = relativo ao cilindro A.
X-XB = relativo ao cilindro B.
5.2.3 Clculo da incerteza devida ao processo de medio (up)
Para o levantamento da incerteza presente no processo de medio utilizou-
se a estratgia selecionada para a medio de todas as peas do processo
produtivo, exposta no item 5.2.2. Utilizou-se uma mquina marca Mitutoyo modelo
Beyond A916, pertencente Fundao CERTI, de menor exatido que a MMC
usada em atividades anteriores. Esta escolha tem o intuito de representar a MMC
utilizada no cho de fbrica para avaliar se as peas esto em conformidade ou no.
A fim de mapear as variaes do processo de medio provenientes da
mquina e do ambiente, realizaram-se medies ao longo de quase duas semanas
(aproximadamente 3 medies por dia). Estas medies foram realizadas na pea 1,
nos cilindros A e B, no que tange a medio de seus dimetros e erros de formas.
Juntamente foi medido um anel calibrado de 27 mm. As medies foram realizadas
com o procedimento a seguir:
1. qualificao do apalpador
2. medio do cilindro A
3. medio do cilindro B


70

4. medio do anel utilizando-se 6 pontos, igualmente espaados.
As atividades 2 a 4 da rotina foram repetidas trs vezes em rpida seqncia,
medindo-se sempre nos mesmos pontos, formando subgrupos racionais de trs
dados. Originalmente pensou-se em medir somente o cilindro B, mas depois de
coletados 6 subgrupos decidiu-se medir tambm o cilindro A, para mensurar
qualquer diferena acerca da influncia da MMC para ambos os furos. Assim,
realizaram-se 20 ciclos para o cilindro B e 14 ciclos o cilindro A.
Em uma segunda etapa, processaram-se as medies utilizando grficos de
controle de mdia e amplitude e a carta de indivduos e amplitude mvel. O grfico
de mdia e amplitude foi construdo com os subgrupos de tamanho 3. O grfico de
indivduos e amplitude mvel foi graficado com as mdias dos subgrupos e sua
variao, calculada como a diferena do valor da mdia de cada subgrupo menos a
mdia do subgrupo anterior, em valor absoluto. Assim, os limites de controle deste
grfico incluem parcialmente as variaes de longo prazo.
A primeira anlise corresponde medio dos erros de forma. Os grficos
detalhando as medies feitas no anel e no cilindro B1 so mostrados nas figuras 55
e 56 (medies individuais em azul, mdia de cada subgrupo em vermelho).
Forma do anel de 27mm de dimetro [mm]
0,0000
0,0010
0,0020
0,0030
0,0040
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Ciclos de medio
Valores Individuais Mdias dos Indivduos

Figura 55 - Medies da forma do anel ao longo de duas semanas.
Em ambos os grficos, pode-se observar uma variao dentro do subgrupo
de aproximadamente 2m, superposta a uma pequena variao de longo prazo de
tipo harmnico.


71

Forma Cilindro B1 [mm]
0,0080
0,0085
0,0090
0,0095
0,0100
0,0105
0,0110
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Ciclos de medio
Valores Individuais Mdia dos Indivduos

Figura 56 - Medies da forma do cilindro B ao longo de duas semanas.
A figura 57 mostra os grficos de mdia e amplitude construdos com os
dados acima. Todos os grficos esto razoavelmente sob controle, demonstrando
que a variao de longo prazo no significativa. Os grficos de controle referentes
ao cilindro A no foram aqui expostos, pois se assemelham com os grficos do
cilindro B.
Forma Anel - Mdias
0,0000
0,0005
0,0010
0,0015
0,0020
0,0025
Forma Anel - Amplitudes
0,0000
0,0005
0,0010
0,0015
0,0020
0,0025
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

Forma Cil B - Mdias
0,0080
0,0085
0,0090
0,0095
0,0100
0,0105
Forma Cil B - Amplitudes
0,0000
0,0005
0,0010
0,0015
0,0020
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

Figura 57 - Grficos para a anlise da forma do anel e do cilindro B.
Os dados da medio de dimetro mostram outro comportamento (figuras 58
e 59). Fica claro que a variao dentro do subgrupo bem menor que a variao
entre subgrupos. Observa-se tambm que o padro de variao de longo prazo
similar para o anel e para a pea.


72

Dimetro do anel de 27mm de dimetro [mm]
26,9990
26,9995
27,0000
27,0005
27,0010
27,0015
27,0020
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Ciclos de medico
Valores Individuais Mdia dos Indivduos

Figura 58 - Medies do dimetro do anel ao longo de duas semanas.
Dimetro Cilindro B1 [mm]
27,1885
27,1890
27,1895
27,1900
27,1905
27,1910
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Cilclos de medio
Valores do Individuais Mdia dos Indivduos

Figura 59 - Medies do dimetro do cilindro B ao longo de duas semanas.
Dimetro Anel - Mdias
26,9992
26,9994
26,9996
26,9998
27,0000
27,0002
27,0004
27,0006
27,0008
27,0010
27,0012
Dimetro Anel - Amplitudes
0,0000
0,0002
0,0004
0,0006
0,0008
0,0010
0,0012
0,0014
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

Dimetro Cil B- Mdias
27,1885
27,1890
27,1895
27,1900
27,1905
27,1910
Dimetro Cil B - Amplitudes
0,0000
0,0001
0,0002
0,0003
0,0004
0,0005
0,0006
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

Figura 60 - Grficos para a anlise do dimetro do anel e do cilindro B.


73

Essa afirmao fica comprovada pelos grficos da mdia do anel e do cilindro
B: os dois esto fora de controle (figura 60). Assumiu-se que esse comportamento
se deve s sucessivas qualificaes do apalpador e as variaes de temperatura,
que afetam diretamente a medio dos dimetros, mas no a medio de forma.
No entanto, a qualificao do apalpador faz parte do processo de medio,
assim como tambm as variaes decorrentes do ambiente em que a MMC se
encontra. Assim, devem ser consideradas no clculo de up.
Na figura 61 podem-se observar os grficos de indivduos e amplitude mvel
para o anel e o cilindro B. Observa-se que ambos esto sob controle.
Dimetro Anel - Indivduos
26,9985
26,9990
26,9995
27,0000
27,0005
27,0010
27,0015
Dimetro Anel - Amplitude Mvel
0,0000
0,0002
0,0004
0,0006
0,0008
0,0010
0,0012
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

Dimetro Cil B - Indivduos
27,1880
27,1885
27,1890
27,1895
27,1900
27,1905
27,1910
Dimetro Cil B- Amplitude Mvel
0,0000
0,0002
0,0004
0,0006
0,0008
0,0010
0,0012
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

Figura 61 - Grficos de indivduos e amplitude mvel para o dimetro do anel e do cilindro B.
Novamente os grficos referentes ao cilindro A, possuem um comportamento
extremamente similar com os do cilindro B, e por este motivo foram omitidos neste
documento.
O desvio-padro do processo pode ser estimado a partir da mdia das
amplitudes dos subgrupos usando-se
2
d R =
[55]
, onde d
2
uma constante que
depende do tamanho do subgrupo (d
2
=1,69 para n=3). Este clculo do desvio-
padro estaria representando as variaes de curto prazo. Contudo, como a
variabilidade mais relevante a de longo prazo, no estar-se-ia refletindo as
variaes do processo de medio de maneira razovel. Assim, optou-se por
calcular o desvio-padro envolvendo todos os dados numa nica amostra:


74

( )

=
n
i
x x
n
1
2
1
1

Assim tem-se:
m
Dimetro Anel
= 42 , 0
_
m
Dimetro A CIL
= 35 , 0
_ _
m
Dimetro B CIL
= 33 , 0
_ _

m
Forma Anel
= 50 , 0
_
m
Forma A CIL
= 49 , 0
_ _
m
Forma B CIL
= 40 , 0
_ _

As figuras 62 e 63 mostram, para o dimetro e o erro de forma
respectivamente, o desvio da mdia das medies contra o valor de referncia,
acompanhado do intervalo de confiana 95 %.
Mdia dos valores medidos contra suas
referncias - Dimetro [mm]
-0,0015
-0,0010
-0,0005
0,0000
0,0005
0,0010
0,0015
Dimetro A1 Dimetro B1 Dimetro Anel

Figura 62 - Mdia do dimetro contra o valor de referncia e disperso dos valores medidos para o
clculo de (up).
Mdia dos valores medidos contra suas
referncias - Cilindricidade [mm]
-0,1000
-0,0800
-0,0600
-0,0400
-0,0200
0,0000
0,0200
Cilindricidade A1 Cilindricidade B1 Cilindricidade Anel

Figura 63 - Mdia da cilindricidade contra o valor de referncia e disperso dos valores medidos para
o clculo de (up).


75

O clculo da disperso atravs do desvio padro, para cada uma das
caractersticas, representam o valor da incerteza padro do processo de medio de
cada caracterstica. Assim:
m up
Dimetro Anel
= 42 , 0
_
m up
Dimetro A CIL
= 35 , 0
_ _

m up
Dimetro B CIL
33 , 0
_ _
=
m up
Forma Anel
= 50 , 0
_
m up
Forma A CIL
= 49 , 0
_ _
m up
Forma B CIL
= 40 , 0
_ _


5.2.4 Erro sistemtico (b)
O erro sistemtico ser contabilizado como a soma de duas parcelas. A
primeira delas refere-se ao erro sistemtico da MMC sob anlise, quando se faz as
medies para o clculo de (up), denominado de (bp). Este erro sistemtico
calculado como sendo a diferena da mdia dos valores obtidos com esta MMC,
contra o valor de referncia obtido com a MMC Zeiss, com a estratgia de alta
densidade de pontos.
A segunda parcela do erro sistemtico se deve interao da estratgia de
medio com os erros de forma das peas avaliadas, denominado de (bw). Este erro
sistemtico calculado como sendo a diferena da mdia dos valores obtidos pela
simulao, contra o valor de referncia obtido com a MMC Zeiss, com a estratgia
de alta densidade de pontos.
Observando atentamente o grfico da figura 62, nota-se a ausncia de erro
sistemtico quando a MMC Mitutoyo mede o dimetro dos cilindros A1 e B1
Entretanto, quando a mesma mede o anel que possui erro de forma muito menor
que as peas, apresenta um sistemtico de 0,6 m. Assim os erros de forma
juntamente com a estratgia de medio acabam por camuflar tal erro sistemtico.
Focando-se no grfico da figura 63 e comparando, nota-se uma grande
similaridade com os erros sistemticos detectados por simulao (figura 54).
Particularmente, o desvio sistemtico da medio repetida do cilindro A1 um
evento possvel do conjunto simulado. Assim, seria incoerente computar duas vezes
um sistemtico de 0,0845 mm, devido (bp) e (bw) para o caso do cilindro A1.
Assim sendo, ser desconsiderado o (bp). Contudo ser computado no valor
de b o valor da maior mdia encontrada para (bw) de cada conjunto de trs cilindros


76

A e B. Desta forma o valor de b para cada uma das caractersticas encontra-se na
tabela a seguir:
Tabela 13 - Valores dos erros sistemticos para cada cilindro e suas caractersticas (valor absoluto)
Smbolo Componente
b -DA Erro Sistemtico 0,0008
b -DB Erro Sistemtico 0,0009
b -FA Erro Sistemtico 0,0835
b -FB Erro Sistemtico 0,0112
Fontes de Incerteza
Efeitos Sistemticos (mm)

b-XX = erro sistemtico para cada cilindro e sua caracterstica avaliada
X-DX = referente ao dimetro do cilindro.
X-FX = referente cilindricidade do cilindro.
X-XA =relativo ao cilindro A.
X-XB = relativo ao cilindro B.
Utilizar-se- a parcela sistemtica da MMC Mitutoyo como a diferena entre a
mdia dos valores encontrados pela mesma e a referncia do anel. Todavia a norma
no contempla o uso de algum artefato para tal tarefa. Assim sendo, estaramos
perdendo o foco da norma, fato este que no vem ao encontro do objetivo deste
trabalho.
5.2.5 Incerteza expandida (U)
Possuindo-se todas as fontes de incerteza, desde (ucal) at o erro sistemtico
|b|, pode-se fazer o levantamento da incerteza final obtida, para cada parmetro
(tabela 14).
Tabela 14 Clculo da incerteza expandida conforme a norma ISO 15530-3
[34]
.
Caracterstica Incerteza Exp.
Avaliada ucal uw up |b| U95% (mm)
D-A 0,0003 0,0030 0,0004 0,0008 0,0069
D-B 0,0003 0,0013 0,0003 0,0009 0,0037
F-A 0,0007 0,0649 0,0005 0,0835 0,2133
F-B 0,0007 0,0121 0,0004 0,0112 0,0355
Fontes de Incertezas (mm)

D-X =refere-se caracterstica de dimetro.
F-X =refere-se caracterstica da cilindricidade.
X-A =relativo ao cilindro A.
X-B = relativo ao cilindro B.
Uma avaliao grfica das contribuies de cada fonte de incerteza encontra-
se na figura 64.


77

Contribuio de cada fonte de incerteza para a incerteza
expandida
0,0%
10,0%
20,0%
30,0%
40,0%
50,0%
60,0%
70,0%
80,0%
90,0%
100,0%
ucal uw up b
D-A
D-B
F-A
F-B

Figura 64 - Contribuio de cada fonte de incerteza para a incerteza expandida.
Por fim, temos os valores de cada uma das caractersticas, juntamente com
suas respectivas incertezas (tabela 15).
Tabela 15 - Valor medido e incerteza associada.
Caracterstica Incerteza
Avaliada U95% (mm)
D-A 0,007
D-B 0,004
F-A 0,213
F-B 0,035

D-X =refere-se caracterstica de dimetro.
F-X =refere-se caracterstica de erro de forma.
X-A =relativo ao cilindro A.
X-B = relativo ao cilindro B.
Os valores apresentados (tabela 15), referem-se incerteza associada a cada
medio realizada na MMC Mitutoyo, para cada uma das caractersticas, abordadas
pela mesma. Em situaes em que a incerteza associada a uma determinada
medio, venha a adentrar o campo negativo, ento a parcela referente ao campo
negativo deve ser ignorada. Um exemplo de tal situao ocorre em medies com
resultados menores do que 0,2133 mm, para o desvio de forma do cilindro A.


78

5.3 SNTESE DO CAPTULO
Apresentou-se em uma primeira etapa neste captulo, a validao do
processamento matemtico do software/programao como tambm a validao das
caractersticas avaliadas pelo mesmo.
Com relao ao processamento matemtico, evidenciaram-se as
peculiaridades para a validao do mtodo de mnimos quadrados utilizado, bem
como os parmetros de referncia para concretizar tal etapa.
Ao fim desta primeira etapa, apresentou-se a avaliao das caractersticas
que foram validadas, como tambm os motivos que contriburam para a no
utilizao do clculo da caracterstica de perpendicularidade, mesmo tendo-se feita a
validao da mesma.
Em uma segunda etapa no decorrer do captulo, apresentou-se
detalhadamente a avaliao de cada uma das incertezas abordadas pela ISO
15530-3
[34]
. Exps-se todo o processamento para o levantamento das mesmas,
desde balanos de incertezas, comparao entre simulaes e medies reais,
cartas de CEP, consideraes abordadas, entre outros.
Por fim, apresentou-se o fechamento da metodologia abordada pelo trabalho
como um todo, bem como o balano de todas as incertezas expostas na norma,
juntamente com os valores das mesmas. Um grfico foi elaborado no trmino deste
captulo, de modo a expor a magnitude de (uw), perante as outras fontes para as
peas fabricadas.






79

6 CONSIDERAES FINAIS
6.1 CONCLUSO
Neste captulo pretende-se relembrar ao leitor todos os objetivos no incio
deste trabalho abordados. Ser feita uma exposio de cada um dos resultados
alcanados para cada um dos objetivos anteriormente citados. Por fim, pretende-se
proporcionar algumas oportunidades para trabalhos futuros.
No que tange aos objetivos deste trabalho, primeiramente ir se ater ao
objetivo maior desta dissertao. O foco deste trabalho elaborar e validar uma
sistemtica de medies em MMC baseada na norma ISO 15530-3, fornecendo
resposta objetiva a problemtica da avaliao da incerteza associada interao
entre a estratgia de medio e os desvios de forma.
Com a concluso deste trabalho, no apenas gerou-se uma sistemtica para
tal, a fim de quantificar tais erros j relatados, bem como realizou-se a validao da
mesma utilizando-se as exposies da norma, fornecendo resposta de modo
objetivo a problemtica exposta.
No que se refere aos objetivos especficos, tem-se com o primeiro deste,
utilizar-se de medio por scanning para fins de calibrao de peas de produo. O
uso de medies por scanning foi efetuado ao longo das calibraes dos cilindros
das peas fabricadas. A problemtica devido ao uso deste recurso, no somente foi
evidenciada ao longo do trabalho, como tambm apresentou-se como suprir as
dificuldades associadas a este mtodo de forma prtica.
Um segundo objetivo especfico, criar um programa de simulao que permita
avaliar o efeito da estratgia de medio na incerteza de medio, fornecendo um
ambiente para testar diferentes estratgias a baixo custo foi atingido. Infelizmente
no foi desenvolvida uma interface amigvel. Entretanto questes associadas a
baixo custo de simulao, flexibilidade da programao em utilizar variadas


80

estratgias e avaliao da incerteza associada aos desvios de forma e estratgia de
medio, faz com que este objetivo especfico tenha sido alcanado.
O penltimo objetivo especfico, estudar a variabilidade dos erros sistemticos
devidos ao efeito da estratgia de medio e os desvios de forma, em peas
fabricadas pelo mesmo processo fabril, foi realizado. Evidenciaram-se no Captulo 5,
os distintos erros sistemticos presentes nas medies, devido s estratgias
abordadas e os desvios de forma das peas. Apresentou-se ao leitor uma
metodologia para com a quantificao destes erros, a partir da magnitude e
disperso dos mesmos.
Por fim, como ltimo objetivo especfico, aplicar a metodologia no mnimo
duas caractersticas GPS, foi alcanado. Embora se tenha feito a validao para trs
caractersticas, questes de ordem computacional e praticidade laboratorial, fizeram
com que a terceira caracterstica, perpendicularidade na fosse aplicada juntamente
com a norma. Entretanto o clculo de dimetro e cilindricidade foram realizados com
sucesso.
6.2 TRABALHOS FUTUROS
O objetivo deste item abordar as possibilidades de melhorias, no sentido de
propor sugestes para trabalhos a serem realizados nesta mesma perspectiva.
Assim alguns pontos j abordados por este trabalho, que possibilitam posteriormente
seus desenvolvimentos, so:
Elaborar uma interface amigvel a fim de tornar a programao
desenvolvida de fcil manuseio para metrologistas e/ou colaboradores
que atuam no cotidiano com medies por coordenadas. Desta forma
tornar o mesmo um produto a ser apresentado para o mercado.
Permitir dentro desse mesmo software a avaliao de incerteza
segundo a ISO 15530-3 como um todo, considerando alm de (uw), as
demais fontes de incerteza.
Criar uma estratgia de obteno de pontos a fim de fazer com que os
resultados obtidos para perpendicularidade, sejam condizentes com os
resultados obtidos pela MMC, ou ainda gerar outra programao a fim
de suprir a sensibilidade gerada quando utiliza-se cosenos diretores.


81

Aplicar a metodologia aqui apresentada em um ambiente fabril com
peas seriadas de larga escala.
Desenvolver uma programao a fim de avaliar outras caractersticas
GPS.






82

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
[1] Disponvel em: http://www.bipm.org/en/si/history-si/evolution_metre.html.
Acessado em: Novembro 2007.
[2] WECKENMANN, A., GEWANDE, B., Koordinatenmetechnik Flexible
Mestrategien fr Ma, Form und Lage. Carl Hanser Verlag, 1999.
[3] HAMBURG-PIEKAR, DANIEL. Calibrao de peas padro em mquinas de
medir por coordenadas. Florianpolis, 2006. Dissertao de Mestrado em
Metrologia Cientfica e Industrial, Universidade Federal de Santa Catarina.
[4] LINHARES, ADEMIR. Validao de processos de medio por
coordenadas em operaes de controle de qualidade. Florianpolis, 2003.
Dissertao de Mestrado em Metrologia Cientfica e Industrial, Universidade
Federal de Santa Catarina.
[5] BOSCH, J.A. Coordinate Measuring Machines and Systems. Marcel Dekker,
Inc., 1995.
[6] QING, LUI; ZHANG, C. CHUCK; WANG, H. P. BEN. On the effects of CMM
measurement error on form tolerance estimation, Department of Industrial
Engineering, Florida A & M University.
[7] HANSEN, HANS NORGAARD; CHIFFRE, LEONARDO DE. An industrial
comparison of coordinate measuring machines in Scandinavia with focus
on uncertainty statements, Departament of Manunfactuing Engeneering,
Technical University of Denmark.
[8] HOCKEN, R.J.; RAJA, J.; UPPLIAPPAN, B. Sampling Issues in Coordinate
Metrology. Manufacturing Review 6(4), pp.282-294, 1993.
[9] WEEKERS W.G.; SCHELLEKENS P.H. J. Compensation for dynamic erros
of coordinate measuring machines. Measurement Vol 20, N3, p 197, 1997.
[10] CAUCHICK, P.A., MIGHUEL; T.G., KING. Factor which influence CMM tough
trigger probe performance. Tools Manufact. Vol 38, N4, p 363, 1998.


83

[11] PHILIPS, S.D., BORCHARDT, B., CASKEY, G. Measurement uncertainty
consideration for coordinate measuring machines. NISTIR National
Institute of Standarts ant Technology, Gaithersburg, MD, 1993.
[12] KURTH, JEAN-PIERRE; VANHERCK, PAUL; VAN DE BERGH, CHRISTOPHE;
SCHACHT, BENNY. Interaction between workpiece and CMM during
geometrical quality control in non-standard thermal conditions. Journal of
the International Societies for Precision Engenieering and Nanotechnology, Vol
26, p 93, 2002.
[13] DONATELLI, G.D.; ALBERTAZZI, A.; SCHNEIDER, C.A.; PFEIFFER, G.
Metrologia Geomtrica na Indstria - Tendncias e Desafios. Curso
Fundao CERTI, Florianpolis, SC, Agosto, 1997.
[14] ORREGO, ROXANA M. MARTINEZ; GIACOMO, BENEDITO DI; ABACKERLI,
ALVARO J. Error sources in coordinate metrology: general
considerations. Revista de Cincia & Tecnologia, pag 43, Volume 8 n 16
2000.
[15] HOCKEN, R. Machine Tool Accuracy. Lawrence Livermore Laboratory/Univ.
of California, 1980.
[16] HARVIE, A. Factors affecting component measurement on coordinate
measuring machine. Precision Engineering, vol 18 13-18, 1986.
[17] OLIVEIRA, ADEMIR. L. Introduo e tecnologia a medio por
coordenadas. Fundao CERTI, Universidade Federal de Santa Catarina,
2006.
[18] PHILIPS, S.D.; BORCHARDT, A.J. The validation of CMM task specific
measurement uncertainty software. ASPE summer tropical meeting
Coordinate Measurement Machines, Charlotte, North Caroline, 2003.
[19] TRAPET, E. Importncia relativa dos erros geomtricos nas MMC.
Comunicao Pessoal, 24 de Novembro de 2003.
[20] SCHMIDT, A. Aspectos da filtragem na medio de circularidade em
mquinas de medir por coordenadas utilizando scanning. Florianpolis,


84

2005. Dissertao de Mestrado em Metrologia Cientfica e Industrial,
Universidade Federal de Santa Catarina.
[21] Disponvel em: http://www.renishaw.com/client/product/UKEnglish/PGP-
147.shtml Acesso em: Outubro 2006.
[22] WILHELM, R.G.; HOCKEN, R.; SCHWENKE, H. Task Specific Uncertainty in
Coordinate Measurement, Annals of CIRP, p.553, Keynote Papers Volume 2,
2001.
[23] RATAJCZYK, EUGENIUSZ. The influence of temperature changes and
effectiveness of their compensation in the investigation of CMM accuracy.
Institute of Metrology and Measurement System, Warsaw University of
Technology.
[24] INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION. ISO 1101:
Geometrical Product Specifications (GPS) Geometrical tolerancing
Tolerances of form, orientation, location and run-out, 2004.
[25] SARTORI, S.; ZHANG, G. Geometric error measurement and compensation
of machines, Annals of CIRP, p. 599, Keynote Papers Vol 2, p44 , 1995.
[26] HEIDRICH, R. M., Controle de Vibraes, Universidade Federal de Santa
Catarina, 2002.
[27] WECKENMANN, A.; KNAUER, M.; KILLMAIER, T. Uncertainty of coordinate
measurements on sheet-metal parts in the automotive industry. Journal of
Materials Processing Technology 115, p. 9-13, 2001.
[28] N.ANBARI, SYRIA; CH. BECK, H TRUMPOLD. The influence of surface
roughness in dependence of the probe ball radius with measuring the
actual size. Annals of CIRP, pag 577, Keynote Papers Volume 2, 1990.
[29] WECKENMANN, M; M. KAUNER. The influence of measurement strategy
on the uncertainty of CMM-measurement. Annals of the CIRP Vol 1, p 47,
1998.
[30] DHANISH, P.B., MATHEW, J. Effect of CMM point coordinate uncertainty
on uncertainties in determination of circular features. Department of


85

Mechanical Engineering, National Institute of Technology, Kerala State, India,
2005.
[31] CHAN, T.G.; KING K.J, The influence of sampling strategy on a circular
feature in coordinate measurements. Measurement vol 19, n22, 73-81,
1996.
[32] OSAWA, S.; BUSCH, K.; FRANKE, M. Multiple orientation technique for the
calibration of cylindrical workpieces on CMMs, Precision Engineering vol 29
, Agosto 2004.
[33] INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION. ISO/TS 15530:
Geometrical Product Specifications (GPS) Coordinate measuring
machines (CMM): Technique for determining the uncertainty of measurement,
2004.
[34] INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION. ISO/TS 15530-
3: Geometrical Product Specifications (GPS) Coordinate measuring
machines (CMM): Technique for determining the uncertainty of measurement
Part 3: Use of calibrated workpieces or standards, 2004.
[35] CHANG, H. LIN, T.W. Evaluation of circularity tolerance using Monte Carlo
simulation for coordinate measuring machine. International Jornal of
Production Reserch, vol 31, 2079-2086, 1991.
[36] CHOWDHURY, A.A.; BERTLING ,L.GLOVER B.P. A Monte Carlo simulation
model for a multi-area generation reability evaluation. International
conference on probabilistic methods applied to electrical power systems, 1991.
[37] FINAL DRAFT SUPPLEMENT 1. Guide to the expression of uncertainty in
measurement supplement. Propagation of distributions using a Monte Carlo
method. 2005.
[38] PHILIPS, S. D.; BORCHARDT, W. T.; ESTLER, W. T.; BUTTRESS, J. The
estimation of measurement uncertainty of small circular features
measured by coordinate measuring machines, Precision Engineering, Vol.
22, 87-97, 1998.


86

[39] TRAPET, E. Measuring with vision systems: Industrial standarts for
acceptance and verification tests. Unimetrik S.A. San Blas, Polnia, 2002.
[40] SCHWENKE, H.; WLDELE, F.; R&D Activities of PTB in the field of
coordinate metrology. Simpsio de metrologia, outubro, 2006.
[41] CALONEGO JR, N.; ABACKERLI, A.J.; CONSULARO. L.A. User interface
design for VCMMs: an approach to increase fidelity and usability.
Internationnal conference on virtual environments, human-computer interfaces,
and measurement system. La Corun, Espanha, Julho 2006.
[42] TRAPET, E. Measuring using a vision systems: Industry standards for
acceptance and verifications test. Unimetrik S.A.
[43] Disponvel em: http://www.metrosage.com/pundit.htm acessado em Agosto de
2007.
[44] AMERICAN SOCIETY OF MECHANICAL ENGINEERS. ASME B89.4.1
Methods for performance evaluation of coordinate measuring machines. 1997.
[45] INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION. ISO 10360-5,
Geometrical Product Specifications (GPS) Acceptance and reverification
Tests for Coordinate Measuring Machines (CMM) Part 5: CMMs using
multiple-stylus probing system, 2000.
[46] SUMMERHAYS, K.D.; BALDWIN, J.M.; CAMPBELL, D.A. Estimating task-
specific measurement uncertainty in three dimensional metrology,
Disponvel em:
http://www.metrosage.com/ASPE2002_Summerhays_with_notes.ppt#305,
acessado em: outubro de 2007.
[47] VEREIN DEUSTCHER INGENIEURE/ VERBAND DER ELEKTROTECHNICK,
ELETRONICK, INFORMATIONSTECHNIK. VDI/VDE 2617 blatt 2.2:
Genauigkeit von Koordinatenmessgerten Kenngrssen und deren Prfung-
Formmessung. Dsseldorf, 1999.
[48] MATSUMOTO, .Y.; MATLAB 6.5 - Fundamentos de programao. Editora
rica Ltda, Edio 1, 2002.


87

[49] "Line-Plane Intersection." From MathWorld-A Wolfram Web Resource.
Disponvel em: http://mathworld.wolfram.com/Line-PlaneIntersection.html,
acessado em junho de 2006.
[50] SWORNOWSKI, P.; RUCKI, M. The erros occurring in the CMM fitting
method, Measurement Science Review, vol 3 , seco 3, 2003.
[51] Disponvel em: www.eurometros.org/ fitting_routines /circle_fit/ fr_xx_cf_ls_npl/
matlab/ fr_xx_cf_ls_npl_matlab.html, acessado em abril de 2006.
[52] Disponvel em: http://www.zeiss.com/4125682000247242/Contents-
Frame/29f363d5c54b6ed086256db00064517c acessado em Setembro de
2007.
[53] INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAO E QUALIDADE
INDUSTRIAL. Guia para expresso da incerteza de medio. Terceira
Edio Brasileira, Rio de Janeiro, Agosto de 2003.
[54] SALSBURY, J.G. A Simplified Methodology for the Uncertainty Analysis of
CMM Measurements, Precision Metrology/Applying Imaging & Sensoring, SME
Technical Paper, 1995.
[55] TEN CATEN, C. S. Controle Estatstico de Processo CEP. Universidade do
Extremo Sul Catarinense (UNESC), 2004.

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