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CAPITOLO V

Spettrometri ottici
1) MONOCROMATORE A RETICOLO
Separa le componenti spettrali della radiazione elettromagnetica deviandole a diversi angoli come
nel caso del prisma, ma sfruttando il principio della diffrazione da un sistema di fenditure (reticolo).

Reticolo
rotante

Fenditura di ingresso (FI)

Specchi sferici: hanno


i fuochi (collimatori)
nelle fenditure

Fenditura di uscita (FU)

Schema di un monocromatore Czerny-Turner

1.1) RETICOLO IN TRASMISSIONE

vr
r
Unonda piana  e i (q r t ) attraverso una fenditura di larghezza a e lunghezza b, crea in    un
campo sferico
a
e iq
 i t
E 0 ( , t ) = A
b e  e iq ( x ) x dx ,

0
dove:
2
2
q   = x =
x sin  
x .


0 a < x < 0
Introducendo G (x ) = 
, il campo si pu riscrivere come
1 0  x  a
+

E 0 ( , t ) = E e iq e it  G (x ) e ix dx ,




50

 sin( a 2 )
.
dove lintegrale altro non che la trasformata di Fourier di una funzione a gradino  
(a 2) 

Si ha quindi:
 a 
sin 2 

8
2
  
(V.7).
I 0 ( ) =
E0 = I 0
2
c


a




  

Se quella in figura la n-esima di N fenditure di un reticolo con passo (distanza tra i centri di due
fenditure consecutive) d, il campo diventa:
E ( , t ) = E e iq e it

N 1 +

N 1

i (nd + x )
dx =E 0 ( , t ) e ind
 G(x ) e

n =0 

n =0

Di conseguenza:
N 1
8
2
I() =
E(, t ) = I 0 ()  e ind
c
n =0

= I0

Ricordando che  =

1  e iNd
= I 0 ()
1  e i d

() (1  e )(1  e )= I () 2  2 cos Nd


2  2 cos  d
(1  e ) (1  e )
iNd

 iNd

i d

 i d

2
x
 e che 1  cos x = 2 sin 2 , si ha:

2

 Nd 
sin 2

   = I () P()
I() = I 0 ()
0
 d 
sin 2

  

(V.8)

P() un pettine con massimi principali nei poli


k = k


d

(k = 0,1,2,...)

(V.9)

sin Nx



= N  , e z e r i per  z = z
di intensit di picco N 2 I 0 ( k )  lim
x  0 , ,... sin x
Nd


escluso kN ).

( z = 1,2 ,... ,

Gli zeri (N 1 per ogni picco) separano i massimi secondari, P() poi modulata da I 0 () che ha

zeri per  n = n .
d

51

P(_) (curva nera) e I0(_) (curva rossa).


Valori numerici: A = 20, N = 5, ( a)/_ = 0.6, ( d)/_ =1.2

I(_) = I0(_) P(_)

1.2) RETICOLO IN RIFLESSIONE (Esempio: CZERNY-TURNER)

Per un reticolo che lavora in riflessione si pu scrivere la


condizione sul cammino ottico (vedi figura):

x = AH  BK = d sin  + d sin  = k 
sin  + sin  = k


d

(V.10)

Il Czerny-Turner lavora ad    = costante.

52

Confrontando la (V.9) e la (V.10) si pu riscrivere la (V.8) per un reticolo in riflessione:

 Nd
 a

(sin  + sin ) 
sin 2  (sin  + sin  ) sin 2 
 




I( , ) = I 00 ()
2
 d

a
2
sin 2  (sin  + sin  )
  (sin  + sin  )


 

(V.11)

La larghezza della superficie riflettente prende il posto di quella della superficie trasmittente (a).

1.3) GAMMA SPETTRALE


Riscriviamo la formula del monocromatore (V.10) sin  + sin  = k

kn
1
= 
sin  + sin  


:
d

(V.12),

1
il numero di incisioni al cm (se N il
d
N
numero totale di incisioni e W la larghezza del reticolo, si ha n =
).
W
Notiamo anzitutto che per  =  (reticolo al centro) si ha  =  , mentre per n = 600

dove  la frequenza in cm-1 (numero donde) e n =

incisioni/mm e sin  + sin  = 0.25 si ha  = k  24000 cm 1 . Al primo ordine (k=1) si


osserva quindi un massimo nel visibile con un reticolo standard e angoli accettabili
kn
Inoltre, se la (V.12) soddisfatta da 1 =
, lo anche per lo stesso  da
sin  + sin 
(k + 1)n . Quindi nello stesso fascio risulteranno non separabili due frequenze tali
2 =
sin  + sin 

k +1
che 2 =
. La gamma spettrale del monocromatore (in cui non c ambiguit)
k
1
perci:
n
 =  2  1 =
sin  + sin 
e cresce con n.

1.4) RISOLUZIONE TEORICA DEL RETICOLO


Per il criterio di Rayleigh due righe sono risolte quando il massimo della
prima sovrapposto almeno al minimo dellaltra.

La distanza angolare tra un massimo a  k = k
e lo zero pi vicino a
d

 z = (Nk + 1)
:
Nd

 =
(V.13)
Nd
Se due righe distano angolarmente di  , saranno risolte per il criterio di Rayleigh.
53

Daltronde, la distanza tra i massimi principali delle due righe sar anche, per la (V.9):
 =

k
d

(V.14).

Uguagliando la (V.13) e la (V.14):


k

=
, da cui
d
Nd

= kN


(V.15).

Il potere risolutivo (resolving power) del reticolo cresce con lordine di diffrazione e con il
numero totale delle fenditure. La (V.15) vale per ogni tipo di reticolo.

Attenzione! Per aumentare
non basta accrescere N aumentando n, perch cos per la (V.12) si

rischia di vedere solo le  pi alte, se si vuole lavorare ad alti k. Quindi bisogna accrescere N
aumentando W e mantenendo n costante. Daltronde allaumentare di k diminuisce il contrasto
(vedi figura di I 0 (k )).

Valori tipici di
: 105


1.5) GHOSTS (RIGHE FANTASMA)



se un errore sinusoidale di periodo p (ed ampiezza  0 ) stato commesso
p
nellincidere il reticolo. Impostata uguale a 1 lintensit della riga principale, quella dei ghosts
2
 k  0 

 .
 d 

Ghosts appaiono a

54

1.6) RISOLUZIONE PRATICA DEL MONOCROMATORE


Si visto che la risoluzione massima di un reticolo


W
(sin  + sin ) per la (V.12) e
=kN=



N
. Questo limite pu non essere raggiunto a causa dellottica del monocromatore.
W
Definiamo la dispersione angolare come la separazione angolare d per una distanza tra due righe

d . Differenziando la (V.10) sin  + sin  = k (  costante) si ottiene:
d
k
cos   d = d ,
d
da cui:
d
k
kn
=
=
(V.16).
d d cos  cos 

che n =

Per la (V.15), la dispersione angolare proporzionale allordine di diffrazione, alla densit di


incisioni e aumenta allaumentare dellangolo  .
La dispersione lineare di un monocromatore misura il numero di nanometri d cha cadono in
1mm di spettro sulla fenditura di uscita FU:
cos 
d
= 10 6
nm mm
dx
knf

(V.17),

dove f lunghezza focale del monocromatore.

Dal reticolo (onde piane)

d

d

d

FF ' = f  d
Ognuno dei due raggi in realt un fascio parallelo che viene poi focalizzato su FU

Infatti dx = d e poich lo specchio un collimatore, il rivelatore riceve simultaneamente tutta la


luce che esce da FU. Se la sua apertura x , la risoluzione massima sar:
d
 =
x
dx
Esempio
Un monocromatore da 1m con un reticolo da 1200 righe/mm ha una dispersione lineare a k=1 di 0.8

500
=
= 1250 .
nm/mm. Con x su FU di 0.5mm, il potere risolutivo a 500 nm
 0.8  0.5

55

Per aumentare il potere risolutivo pratico, oltre ad accrescere f costruendo monocromatori pi


grandi (ma allora aumentano le aberrazioni e le dimensioni dei reticoli) si pu diminuire la x
della fenditura di uscita FU. Tuttavia
1) Non si pu scendere sotto il limite di diffrazione, altrimenti si perde intensit
2) Di solito si lavora con un x della fenditura di ingresso FI pari a quello della fenditura di uscita
FU. Infatti:
con (x )FI < (x )FU si perderebbe luce senza variare la dispersione e la risoluzione;
con (x )FI > (x )FU si crea unimmagine troppo grande che aumenta solo la stray light
(luce diffusa bianca che pu uscire da FU creando fondo spurio);

poich quindi (x )FI = (x )FU , diminuire (x )FU per aumentare
equivale a diminuire la

luce in FI e quindi il segnale;
necessario trovare un compromesso tra risoluzione e Rapporto segnale/fondo. Questo
influenzato dalla stray light e dallefficienza del reticolo:
energia diffratta a 
s/f=
energia riflessa da uno specchio a 
(nelle stesse condizioni).
Valori tipici: 50%-90%

1.7) RETICOLI BLAZED


I reticoli blazed (blaze = tacca prodotta dallascia su un tronco) concentrano lenergia diffratta su un
dato k, anzich distribuirla sui vari k. Il profilo :


Nella (V.11) cambia il contributo di singola fenditura, mentre il fattore derivante dallinterferenza
delle N fenditure non cambia:

 Nd
 a

(sin  + sin )

sin 2  (sin(  )+ sin(  )) sin 2 




I( , )= I 0 ()
2
 d

a 
2
sin 2  (sin  + sin  )
  (sin(  )+ sin(  ))


  

56

(V.18)

Nella configurazione ottica di Littrow:

=
per una data  =  B
Inoltre d = a cos  .
Allora nellintorno di  B si ha che    = 0 e che sin(   )  (   ), cos la (V.18) diventa:
 Nd

 a

sin 2  (  ) sin 2 2
sin 





I( , ) = I 0 ()
2

d


a 
2
sin 2 2
sin 
  (  )


  
La condizione di interferenza 2

(V.19)

d
sin  = k d la relazione tra  B e  :


2d sin  = k  B

(V.20),

dove  B la lunghezza donda di blaze di ordine k. Si parla di reticolo blazed a  B .


Dalla (V.20) segue che un reticolo blazed al primo ordine a  B lo anche al secondo a  B 2 , al
terzo ordine a  B 3 , ecc.
Naturalmente il raggio incidente deve giungere sotto  =  e quello di uscita sotto    . Leffetto
della (V.19) di annullare tutti gli ordini eccetto il primo, concentrandovi lenergia disponibile a
ordine zero.

57

58

2) UN USO DEL MONOCROMATORE: LA FOTOLUMINESCENZA


(CENNI)
Processo in cui il sistema eccitato da luce o altra perturbazione torna allequilibrio emettendo
fotoni.
In un semiconduttore avviene in tre fasi:
1. assorbimento di un fotone di energia h 0 > E gap con creazione di una coppia elettrone-buca;
2. ricombinazione radiativa della coppia;
3. fuoriuscita dal campione di fotoni h < h 0 .
Tipicamente:
1. h = E gap
2. h = E gap  E a
3. h = E gap  E a  E d
4. h = E gap  E fononi
(vedi figure al 3.1), Ea il livello di accettore, Ed quello di donore)

La luce incidente penetra nel campione per


d   1 ; i portatori diffondono e si
ricombinano; i fotoni emessi vengono tutti
autoassorbiti salvo quelli emessi verso la
superficie. Quindi lemissione frontale e
bisogna sottrarle dalla luce riflessa alla
frequenza di eccitazione (  filtri ). La
fotoluminescenza informa sulla struttura
elettronica dei materiali (in particolare film
sottili). Pu misurare concentrazioni di
impurezze e difetti fino a  1014 cm 3 .
Inoltre si possono identificare i processi di
ricombinazione e le quasi-particelle
coinvolte (eccitoni, fotoni, ...).
Campioni ideali: freddi (T < 20 K), privi di
stress, lappati (lucidati meccanicamente),
attaccati chimicamente (etching).

59

2.1) PROCESSI DI RICOMBINAZIONE

Esempio
Spettro di luminescenza di un sistema con donori e accettori (GaAs/C).
Si ricavano i livelli Ea, Ed e si verifica il modello idrogenoide per le impurezze, in cui il cristallo
un continuo di costante dielettrica  .

60

3) F-NUMBER
E il rapporto tra la lunghezza focale e il diametro di una lente (o del diaframma davanti ad essa).

f  number = f # =

f


(VII.4)

Esempio
Obiettivo 50mm f/2   = 25 mm; 1000 f 8  125 mm
Consente di determinare le  ottimali dei componenti del sistema ottico.

4) APERTURA NUMERICA (N.A.)


Lapertura numerica N.A. il seno dellangolo che un raggio marginale forma con lasse ottico.


2f
(esatta se si considera sferica la superficie principale, valida in generale)
N.A. = sin  =

Quindi anche:

N.A. =

1
2f #

(VII.5)

Lapertura numerica pu essere definita per un raggio qualunque.


Se P e P sono punti coniugati (vedi figura):
 
2s'  sin ' ' s' '
=
=m

  sin '
s'
sin ' ' =
2s' ' 
sin ' =

da cui:
m=

N.A.'
N.A.' '

(VII.6)

61

Esempio
Adattare una sorgente a filamento di tungsteno spesso 1mm ad un monocromatore con ottica f/4 e
fenditura di ingresso di 100 , distante x=200 mm dalla sorgente.

(filamento e fenditura si estendono in lunghezza ortogonalmente al piano della figura)

Se il sistema ottico una lente sottile, allora x  s + s' .


Con la (VII.3) si calcola la focale:

f=

(s + s' )m = 0.1  200 = 16.5 mm


(1 + m )2
(1.1)2

Inoltre s = 182 mm, s = 18 mm.


Quindi dalla (VII.6) e dalla (VII.5):

m
m  s 182  0.1
sin  =
= m sin ' =
=
=
= 4.5 mm
2s
2f #
f #
4
Esempio
Determinare lottica di accoppiamento tra una sorgente a filamento (con h=1 mm) ed una fibra
ottica avente un core di diametro d = 0.1 mm e n1 = 2.5 ed un rivestimento di n2 = 1.5.
Sia s+s = 110 mm.
Si risolve come il caso precedente, ma
bisogna trovare la N.A. della fibra
ottica (o il suo f-numero). La fibra
trasmette tutti i raggi compresi nel
cono  0 che consente la riflessione
totale tra core e rivestimento.
Solitamente, la luce giunge sulla fibra
da una lente a menisco di indice  n 1 .
Quindi  0  1 . Dalla legge di Snell per riflessione totale:
n
N.A. = sin  0  sin 1 = 1  cos 1 = 1   2
 n1
2

Quindi

62

n 12  n 22

=
n1


N.A. =
f =m

(2.5)2  (1.5)2
2.5

(s + s' )
(1 + m )2

= 0.8

= 9.1 mm

s = 100 mm; s' = 10 mm


 = N.A.  2f = 12 mm

Si sceglier un diottro di n  2.5 , f = 9.1 mm e  = 12 mm .

5) LINTERFEROMETRO DI MICHELSON
ZPD


Lmax
Detector
or sample

Source

A: Jacquinot stop, diaframma che limita la dimensione della sorgente vista dallinterferometro.
C: Beamsplitter, formato da una lamina separatrice di fascio (D) e da due supporti trasparenti allIR (E, F)
G: Specchio fisso
H: Specchio mobile (scanner), montanto un cuscinetto che permette lo spostamento lungo lasse ottico. Il meccanismo
di guida il punto nevralgico dellinterferometro. Solo lassenza di attrito permette alte prestazioni
dellinterferometro.
I: Laser HeNe utilizzato per il campionamento dellinterferogramma.

In un interferometro il fascio policromatico proveniente dalla sorgente IR, dopo essere stato
collimato in un fascio parallelo, viene diviso in due fasci dal beamsplitter. I fasci separati compiono
un cammino ottico di differente lunghezza, poi vengono ricombinati sul beamsplitter e
successivamente focalizzati sul rivelatore. La differenza di cammino ottico tra i due raggi causata
dallo specchio mobile, che si sposta a velocit costante v di una quantit x dalla posizione L, a cui
corrisponde una differenza di cammino ottico nulla.
I due fasci, emessi dalla stessa sorgente e quindi spazialmente coerenti, ricombinandosi
interferiscono. Le variazioni di intensit del fascio risultante vengono misurate dal rivelatore, posto
nel fuoco della radiazione, in funzione della differenza di cammino ottico. L'insieme delle intensit
raccolte per tutte le possibili differenze di cammino ottico prodotte dall'interferometro viene
chiamato interferogramma (IGM). L'interferogramma contiene implicitamente tutte le
informazioni, risolte in frequenza, della radiazione che giunge al rivelatore. Essendo in presenza di
un fenomeno di interferenza l'intensit misurata dal rivelatore per un certo spostamento x non sar
pari alla somma delle intensit dei due fasci, ma dipender da x attraverso la funzione I(x)
(interferogramma), la cui trasformata di Fourier , come vedremo, lo spettro S della radiazione
emessa.
L'interferometro di Michelson consiste in due specchi ortogonali, di cui uno fisso e l'altro mobile
(chiamato spesso scanner), posti, inizialmente, alla stessa distanza L dal beamsplitter (posizione di
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differenza di cammino ottico nullo, ZPD). Il beamsplitter, posto tra i due specchi, riflette parte della
radiazione verso lo specchio fisso e trasmette la parte restante (nel caso ideale) verso lo specchio
mobile.
Lo spettrometro fornisce prestazioni ottimali quando il beamsplitter ha una riflettanza e una
trasmittanza pari al 50%, nella regione spettrale di interesse. Il fascio uscente dall'interferometro
focalizzato nel compartimento campioni dello strumento mediante unapposita ottica di
trasferimento (specchi piani, parabolici ed ellittici). Il fascio viene infine focalizzato nel fuoco di un
rivelatore di radiazione.
I fasci che si ricombinano possono interferire costruttivamente, fornendo il massimo del segnale, e
distruttivamente dando il minimo del segnale.
Quello che ne risulta una modulazione dellintensit della radiazione, dipendente dalla frequenza
della radiazione stessa e dalla velocit con cui si sposta lo specchio mobile dellinterferometro.

Sopra: Interferogramma della luce di un laser a He-Ne (632nm) che fa lo stesso percorso della radiazione luminosa
allinterno dellinterferometro. Linterferogramma della sorgente viene registrato (sotto) ad ogni zero crossing
dellintreferogramma del laser.
Lo ZPD pu essere marcato in due modi:
1. attraverso lutilizzo di unottica supplementare che contiene una luce bianca messa in anticipo rispetto alla
sorgente IR (metodo utilizzato in sistemi fino ai primi anni 90)
2. attraverso lelettronica del sistema che memorizza la posizione del massimo dellinterferogramma, sfruttando
lelevata capacit di memoria dei personal computer.

Vantaggi sul monocromatore:


1) Jacquinot: aperture circolari, non fenditure (  pi luminosit)
2) Fellget: tutte le frequenze arrivano simultaneamente sul detector, lacquisizione pi rapida
VARIANTI DELLINTERFEROMETRO DI MICHELSON (Facoltativo)
Linterferometro di Michelson non lunico disponibile in commercio.
Nel corso degli anni levoluzione continua dellingegnerizzazione nellambito dellFT-IR ha
permesso di passare da interferometri classici di Michelson (o interferometri di Genzel) a
interferometri che utilizzano ottiche non piane ma a corner cube (Bomem, Bruker Optics, Jasco) ,
che permettono di avere interferometri meno sensibili alle vibrazioni esterne. Lottica a corner cube
lunica che garantisce fasci paralleli in presenza di tilt casuali dellottica.

64

Variante wish-bone
I fasci in cui il beamsplitter divide il
fascio proveniente da S si
ricombinano in D, sfasati
dalloscillazione del braccio. Gli
specchi sono a corner cube.
Grazie alla simmetria, il sistema
sempre allineato e si possono usare
indifferentemente D e S.

Interferometro RockSolid

Linterferometro si sviluppa in tre


dimensioni. Gli specchi piani
davanti ai corner cube permettono
di avere unottica completamente
compensata.

Interferometro
modificato

di

Michelson

Scanner dellinterferometro ad
altissima risoluzione dellIFS
120HR. Un tale strumento pu
avere un banco ottico lungo fino a
circa 4 metri.

Interferometro di Manning
Manning Applied Technologies
Interferometro per Ultra Rapid
Scan.

65

5.1) INTERFEROGRAMMA E SPETTRO


r r
r
Sia E(r , t ) unonda piana che incide sul beamsplitter BS posto in r , avente dipendenza temporale
qualunque purch periodica. Sia
+
r r
r r
1
12
i (t  k  r )
(
)
E(r , t ) =
B


e
d
2 

(V.21)

il suo sviluppo di Fourier. Lintensit media incidente sul BS, se T il periodo e il fascio
proveniente da M2 ha un ritardo  (>, =, <0), allora:
r r
2
T 2 r r
r
c
E(r ,  ) E(r , t +  )
+
I(r ,  ) =
dt .
8T  T 2 2
2

Sostituendo la (V.21) e ponendo

I0 =

T 2
r r
r r
c
(
)
(r , t )dt ,
E
r
,
t

E
8T T 2

si ottiene:
I( )=

+
+
I0 I0
c
+ +

dt
d
d' B1 2 ()B1 2 (' ) e i (' )t e i + e i ('   )t e i'  =



3
4
4 128  T T 2  

T 2

+
+
I0
c
+

d
d' (  ' )B1 2 ()B1 2 (' ) e i + e i'  =
2 32  2 T  

(V.22)

+
I0
c
= +
2 B()cos( )d
2 32  2 T 

I( ) linterferogramma IGM. La sua anti-trasformata fornisce lo spettro incognito B():

64  2 T
c

+

+
+
I 0 i '

i '
i
i

I ( ) 2   e d = B( )d e e + e d =

+

= 2  B( )d [ (   ')+  ( +  ')]= 2B( ')+ B(  ')




(Lo spettro a  < 0 si scarta) Tuttavia a causa del cammino finito dello specchio L = x 1 + x 2 si ha
(2L perch la luce fa andata e ritorno):
0

Br ( ') =  C ( )cos( ' )d


 0

0 = 2

L
c

I 

dove C( )  I out  0 e si sfrutta la simmetria rispetto a ZPD.
2

66

Pu porsi inoltre:
+

B r (' ) =  C( ) G ( )cos('  )d

(V.23),



dove G ( ) una funzione a gradino definita da:


0  <  0 ;  >  0
.
G ( ) = 
altrove
1
Supponiamo ora che lo spettro B r (' ) sia costituito nel caso ideale (V.24) da righe infinitamente
strette centrate alle varie ' :

B r (' )  (  ' )

(V.24).

I0
Ae  i0 . Perci sostituendo nella (V.23) B r (' ) si
2
ottiene la trasformata di Fourier di una funzione a gradino, ovvero:

Ci si verifica se nella (V.23) C( ) = I out 

+

Ae

i0

 G ( )e



+

i

d = A  G ( )e i ( 0 ) d =


sin(   0 ) 0 / 2 2 AL sin 2 (   0 ) L
= A 0
=
c
2 (   0 ) L
(   0 ) 0 / 2

(V.24)

Lo spettro allora non pi composto di una serie di righe infinitamente strette, bens di bande di
larghezza
2
1
,
rad sec 
 
0
2L
Inoltre:
0.6
1
 

.
(V.25)
L
2L

determina il potere risolutivo teorico dellinterferometro.

1
Come si vede, esso migliora al crescere del cammino dello specchio L e di  = .

MISURA DI ASSORBIMENTO

67

68

5.2) APODIZZAZIONE

Lapodizzazione la procedura per limitare gli effetti del


cammino finito dello specchio su una riga spettrale stretta
(delta di Dirac) (vedi figura a destra): allargamento e
oscillazioni alla base.
Leffetto equivale alla convoluzione dellinterferogramma
ideale con la funzione a gradino boxcar (vedi figura sotto).
Per ricostruire la forma originaria della riga, si effettua una
convoluzione dello spettro B() con la trasformata di
Fourier di una funzione di troncamento pi dolce
(apodizzazione). Loperazione abbassa ancora la
risoluzione, ma migliora la forma della righe. Si sceglier
il migliore compromesso in base alle esigenze.
Esempio
Necessit di risolvere un doppietto  boxcar (nessuna
apodizzazione); studio accurato delle code  blackman

69

5.3) RISOLUZIONE PRATICA DELLINTERFEROMETRO


Come per il monocromatore, la risoluzione teorica (V.25) limitata in pratica dalla dimensione
della pupilla di ingresso (e dallapodizzazione).
Sia d il diametro della pupilla.
Poich la sorgente (cio la pupilla P) non puntiforme, il fascio collimato sullo specchio mobile ha
una divergenza angolare (lo schema semplificato, in realt lottica a specchi):
 

d
2f

(V.26)

70

x ()
d2

 2
x
2
8f
2

(V.27)

Si dimostra che lerrore relativo (V.27) si traduce in:

I out ( ) I out ( ) sinc x ()

che tende a zero per x 

()

(V.28),

, accorciando virtualmente il cammino L:

L  L eff 

()

4f 2
=
d 2

(V.29).

Il potere risolutivo pratico del monocromatore risulta allora:


2
8f 2
  
P.R . =
=

 2L eff 
()2 d 2
   eff

(V.30).

Anche qui, per aumentare il potere risolutivo bisogna costruire ottiche di pi lunga focale e/o
stringere la pupilla, perdendo luminosit.

71

5.4) CAMPIONAMENTO DELLINTERFEROGRAMMA E TRASFORMATA


DISCRETA DI FOURIER
Phase Correction
Nella (V.31) B complessa, mentre si vuole ottenere uno spettro reale S( ). Posto
B( ) = R ( ) + iI ( ) = S( ) e i( ) , il computer determina (metodo di Mertz)

( ) = arctan
e ricava

I ( )
R ( )

S( ) = B( ) e  i( )

(V.32)
(V.33).

Tutto ci non sarebbe necessario se lIGM fosse perfettamente simmetrico:

B( ) R ( ) se I(x )  I( x ).


Infatti lanti-trasformata di Fourier
I(x ) = Re

+

1
[R ( )+ iI ( )]e ix d =

2  

+

1
=
Re [R ( )cos x + iR ( )sin x + iI ( )cos x  I ( )sin x ]d =
2 
=

pari in x se e solo se I ( )  0 .

+

1
[R ( )cos x + I ( )sin x ]d
2 

Cause di asimmetria di I(x ) I ( )  0 :


Il campionamento pu non comprendere il punto x = 0
La misura dellIGM completa solo da una parte; dallaltra si prendono pochi punti
LIGM pu essere intrinsecamente asimmetrico
Perci   0 e deve essere misurata a parte prendendo prima dellIGM (A) un IGM a bassa
risoluzione (B) che apodizzato con una funzione triangolare (C). Da esso con la (V.32) si ricava
( ) (D) che infine inserita nella (V.33) per calcolare lo spettro finale S( ).

72

Phase computation. A) The complete One-Sided IGM


B) PIP Points of the short Double-Sided part around the centerburst are used to compute the phase specrtum
C) The Double-Sided part is Apodized, Zero Filled and Fouer Transformed
D) the phase spectrum is computed from the complex output of the FT.
This is later interpolated to full resolution

5.5) ALIASING
Nella (V.31)
N 1

B(k ) =  I n  e  2ink N ,
n =0

agli N punti dellIGM corrispondono N punti nello spettro. Tuttavia solo N 2 sono significativi.

( )

Infatti e 2in(k + mN ) N = e 2i e 2in k N  S(k + m  N ) = S(k ) (m intero).


Analogamente S (N  k ) = S ( k ) = e 2i (  n ) k / N = S (k ) (S reale) e lo spettro simmetrico per
riflessione attorno al numero donde di Nyquist  f = (N 2 ) (vedi figura in B) (f = folding =
ripiegamento).
Dalla:
S(k + m  N ) = S(k )
mn

si ottiene una infinita periodicit (C) dello spettro (aliasing). Per evitare che contributi provenienti
da alias si riflettano sullo spettro buono (A) bisogna filtrare le componenti spettrali della luce
oltre una  max <  f (D). Per un laser He-Ne,  f = (N 2 ) =  0 = 15800cm 1 . Se la frequenza
massima  max da studiare  max <<  0 , si pu ridurre N (e  0 ) di un fattore m moltiplicando per m
il campionamento x .
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Effects of sampling. A) Expected shape of the spectrum B) The DFT yields the spectrum and its mirror image.
Only the first N/2 points contain useful information. The second N/2 points are redundant and discarded.
C) Aliasing: FigB) is endlessly replicated on the wavenumber axis. Aliasing cause errors, if the spectrum is nonzero up
to a wavenimber _max and if _max is above the Nyquist wavenumber _f. This happens if the sampling condition
_x < (2 _max)-1 is violated. D) Spectrum is zero below _min and above _max. This allows for under-sampling
E) Undersampling produces spectrum aliases. The DFT calculates the alias of lowest wavenumber instead of the
original. The spectrum must be zero outside the bandpass defined by the upper and lower folding limits

Il calcolo della trasformata di Fourier in generale deve essere effettuato in modo numerico da un
computer. Perci linterferogramma I campionato in sincronia con lapparire su un fotodiodo delle
frange di interferenza di un laser che passa per il beam splitter. Poich per un laser He-Ne
 0  15800cm 1 , prendendo il buio ogni  2 , si campionano fino a N=31600 punti/cm di
cammino dello specchio.
L

La trasformata di Fourier continua B( ) =  I(x ) e  2 ix dx (dove I = 2(I out  I 0 2 )) diventa:
0

N 1

N 1

n =0

n =0

B(k ) =  I(nx ) e  2 iknx =  I(nx ) e  2 ink N

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(V.31),

dove  misurata in cm-1 e x = L N lintervallo di campionamento dellinterferogramma (L


il cammino dello specchio, N il numero di punti), e1
 =

Quindi il range spettrale sar N =

1
1
=
.
L Nx

1
.
x

Poich per il criterio di Rayleigh, per risolvere due righe sono necessari
almeno tre punti, la risoluzione massima dello spettro discreto 2:
2
2 = .
L

N 1

Poich

 e x sono costanti, riscrivendo la (V.31): B k =  I n f kn con f kn = e 2 iknx = 1 , si vede che il


n =0

calcolo della F.T. discreta si riduce al prodotto di una matrice per un vettore.
2
Cfr. F.T. continua

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