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Practica #1

Ejercicio 1. Un proceso produce bandas de goma en lotes de tamao variable. Los


registros de la inspeccin de 20 lotes proporcionan los datos siguientes:

Numero de
Numero de Numero de
Muestra
muestra
defectuosos
muestra
1
650
230
11
2
950
435
12
3
600
221
13
4
850
346
14
5
650
230
15
6
850
327
16
7
750
285
17
8
800
311
18
9
850
342
19
10
700
308
20

Muestr Numero de
a
defectuosos
950
456
800
394
700
285
700
331
600
198
900
414
450
131
750
269
600
221
850
407

6141
=0,4108
1 49 50
Di
P=

LSC=P+ k 2 P(1 p)
LC=P
LIC=Pk2 P(1 p)

Numero
muestra
1
2
3
4
5
6
7

LC

LSC

LIC

267,0
390,3
246,5
349,2
267,0
349,2
308,1

304,6
435,7
282,6
392,2
304,6
392,2
348,5

229,4
344,7
210,3
306,1
229,4
306,1
267,7

Numero
muestra
11
12
13
14
15
16
17

LC

LSC

LIC

390,3
328,6
287,6
287,6
246,5
369,7
184,9

435,7
370,4
326,6
326,6
282,6
414,0
216,1

344,7
286,9
248,5
248,5
210,3
325,4
153,5

8
328,6
9
349,2
10
287,6
Grafica de control:

370,4
392,2
326,6

286,9
306,1
248,5

18
19
20

308,1
246,5
349,2

348,5
282,6
392,2

267,7
210,3
306,1

Grfica NP
310

250

Numero de defectuosos
190

130
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Muestra

Interpretacin:
En base a la grfica se puede observar que el proceso no se encuentra bajo control, se
debe analizar el proceso de produccin desde la recepcin de la materia prima hasta la
elaboracin del producto final, identificando la causa para la cantidad de defectuosos, ya
que el nmero de estos en base a la cantidad muestreada es muy alto.

Ejercicio 2. A continuacin se presenta el nmero de interruptores disconformes en


muestras de tamao 100. Trace un diagrama del nmero de defectuosos, Parece estar
bajo control el proceso?, cules seran las causas atribuibles

Numero de
Numero de
muestra
defectuosos
1
8
2
1
3
3
4
0
5
2
6
4
7
0
8
1
9
9
10
6
Di
68
P=
=
=0,034
(mn) (20100)

LSC=P+ k

P ( 1P )
n

Numero de
muestra
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

= 0,034+3

Numero de
defectuosos
6
0
4
0
3
1
15
2
3
0

0,034(10,034)
100

= 0,088

LC =P=0,034

LIC=Pk

P ( 1P )
2 0,034 (10,034)
0,0343
=
100
n

Pi=

Numero de
muestra
1
2
3
4
5

Pi
0,08
0,01
0,03
0
0,02

= -0,020

Di
n
Numero de
muestra
11
12
13
14
15

Pi
0,06
0
0,04
0
0,03

6
7
8
9
10

0,04
0
0,01
0,09
0,06

16
17
18
19
20

0,01
0,15
0,02
0,03
0

Grafica de control:

Grfica P
12

10

Proporcion

0
0

9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Muestra

Interpretacin:
El proceso no se encuentra bajo control ya que se identifican 2 puntos que se hallan por
afuera de los lmites de control, se podra considerar que en el muestreo de estos dos
puntos se pudieron presentar algunas situaciones que no se hayan encontrado dentro de
las condiciones normales de trabajo ya sea en la parte de la mano de obra, los materiales o
la maquinaria. Se debera realizar un nuevo muestreo para verificar si se presenta el mismo
comportamiento de los datos obtenidos o no, en caso de repetirse deber analizarse todo
el proceso productivo para identificar las causas.

Ejercicio 3. A Los datos a continuacin corresponden a los resultados de una inspeccin


de todos los defectos de una computadora personal, producidas en los ltimos 10 das
Parece estar bajo control el proceso?
Numero
muestra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10

Numero de
defectos
4
7
5
8
6
6
4
5
8
7

Muestra
80
110
90
75
130
120
70
125
105
95

60
=0,06
1000
Ci
U=

LSC=U +k

LC =U=0,06

LIC=Uk
Numero
muestra
1
2
3
4

U
0

(Valores negativos)

Ui

LCS

LCI

0,05
0,06
0,06
0,11

0,142
0,130
0,137
0,145

-0,307
-0,218
-0,269
-0,200

5
6
7
8
9
10

0,05
0,05
0,06
0,04
0,08
0,07

0,124
0,127
0,148
0,126
0,132
0,135

-0,240
-0,240
-0,307
-0,269
-0,200
-0,218

Grafica de control:

Grfica U
0.18
0.16
0.14
0.12
0.10
Conteo por unidad

0.08
0.06
0.04
0.02
0.00
0

10

Muestra

Interpretacin:
El proceso se encuentra bajo control, todo los datos se encuentran dentro los lmites de
verificacin.

Ejercicio 4. La tabla muestra el nmero de disconformidades observadas en 20 muestras


sucesivas, cada una con 100 tarjetas de circuitos impresos. Con todas estas
disconformidades est el proceso bajo control. Si fuera el caso tome las medidas
correctivas pertinentes:

Numero
muestra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10

Numero de
defectos
21
24
16
12
15
5
28
20
31
25

C=

Numero
muestra
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

Numero de
defectos
20
24
16
19
10
17
13
22
18
39

Ci 395
=
=19,75
m
20

LSC =C+ k C=19,5+3 19,75=33,08


LC=C=19,75

LIC=Ck C=19,53 19,75=6,42

Grafica de control:

Grafica C
12

10

Conteo de muestras

0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Muestra

Interpretacin:
El proceso no se encuentra bajo control ya que se pueden observar dos puntos por afuera
de los lmites, se debe realizar un anlisis de causa efecto, en cada una de las etapas del
proceso productivo, o volver a realizar el muestreo para ver si se repite el comportamiento
de los datos en el caso de repetirse pasar al anlisis de causas.

Ejercicio 5. Una empresa que produce Cemento, quiere demostrar que la cantidad del
endurecedor que utiliza en la mezcla es igual a 5 onzas de lquido. Un exceso (segn la
norma no ms de 5,1) o una insuficiencia (segn la norma no menos de 4,9) dan como
resultado una mezcla con poca resistencia mecnica y afecta su calidad. El proceso est
bajo control estadstico de calidad.

Muestra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10

X=

4,95
4,9
5,04
4,89
5,04
5
4,99
4,95
5,01
4,96

5,01
4,96
5,01
4,96
4,9
5,03
5,01
5,02
5,05
5,01

Mediciones
5
4,89
5,05
5
5,02
4,97
5,1
4,92
5,07
5,03

4,95
5
5,04
5,03
5,04
5,04
5,06
5,01
5,06
4,94

Xi
n

R= XmaxXmin

Numero de muestra
1
2
3
4
5
6
7

Media
4,956
4,95
5,044
4,982
5,008
4,982
5,032

Rango
0,14
0,11
0,07
0,14
0,14
0,17
0,11

4,87
5
5,08
5,03
5,04
4,87
5
4,99
4,95
4,98

8
9
10

X=

4,978
5,028
4,984

0,1
0,12
0,09

X 49,99
=
=4,99
m
10
R=

Ri 1,19
=
=0,11
m
10

LSC=X + A 2R=4,99+ ( 0,5770,11 )=5,06


LC=X=4,99

LIC=X A 2R=4,99( 0,5770,11 )=4,92


Grafica de control:

Grafica X
12

10

Media

0
0

5
Muestra

LSC =RD 4=0,25


LC=R=0,119

LIC=RD3=0

10

Grafica R
12.00
10.00
8.00
Rango

6.00
4.00
2.00
0.00
0

10

Muestra

Interpretacin:
El proceso se encuentra bajo control ya que todos los datos se hallan dentro de los lmites
permitidos tanto para el proceso, como para los valores exigidos por la norma, para las
grficas de control X y R.