Similar a ARPEFS (ngulo resuelto), pero con un rango de energa algo ms baja. Estructura de la superficie ARPEFS (ngulo resuelto), los electrones se detectan en ngulos dados despus. FUNDAMENTO: La intensidad de fotoelectrones seleccionados energa de un nivel bsico seleccionado emite normal a la superficie se registra como la energa del fotn es barrido a travs de una amplia gama. Un sincrotrn fuente de radiacin tanto, es esencial para este experimento. El otro requisito es que el ncleo nivel seleccionado tiene una seccin transversal de fotoionizacin suavemente variable en el rango de fotones energas. Los datos registrados son muy similares a las curvas IV del experimento LEED (en hecho de que son una superposicin coherente de varios haces LEED). Low Energy Electron Diffraction) Incidente: fotones de energa variable (200 a 1500 eV) . Flux: media a baja. ngulo de incidencia: 44-85 . Detectado: fotoelectrones de nivel bsico seleccionado (0 eV a varios cientos eV). ngulo de salida: normal a la superficie. Espectro: Tasa de recuento de fotoelectrones vs. Energa del fotn incidente
Como incide en la superficie:
Los fotones que constituyen la radiacin sincrotrn extraen electrones de una parte de los tomos superficiales. Y el trnsito de esos electrones, monitorizado a travs del fenmeno de interferencia, permite determinar las caractersticas de la superficie
DIFRACCIN DE FOTOELECTRONES. DETERMINACIN ESTRUCTURAL.
El fenmeno mismo y su posible uso como herramienta estructural fue descrito en 1974 en un estudio terico por Liebsch. Los primeros estudios experimentales, fueron realizados independientemente por tres grupos en 1978. Esta tcnica, al igual que la fotoemisin resuelta en ngulo, est basada en el efecto fotoelctrico. Cuando el fotn de energa h interacciona con el slido, este puede transferir su energa a un electrn con energa inicial E i , el cual puede salir y ser analizado con una energa final Ef , E f = Ei h , con respecto al nivel de vaco. En un experimento de difraccin de fotoelectrones, los electrones son colectados entorno a un ngulo slido pequeo, alrededor de la posicin del detector (analizador de electrones). Los electrones excitados pueden propagarse directamente hacia el analizador, o bien pueden sufrir otros procesos de dispersin con los tomos del slido antes de ser colectados. El espectro total no slo contiene los electrones elsticos de energa E f, sino tambin el de aquellos fotoelectrones que han perdido algo de energa en el camino hacia la superficie por interacciones electrn-electrn o electrn-fonn. Estos electrones inelsticos son llamados electrones secundarios e introducen un fondo continuo que debe ser sustrado del espectro antes de ser analizado. La diferencia de camino ptico entre la onda emitida directamente 0 y cualquier onda dispersada j , siendo el ngulo de dispersin y la distancia emisor-dispersor j , viene expresada como rj 1 -cos j , esta distancia es muy importante ya que contiene informacin de la longitud de enlace.
La corriente elstica foto emitida resulta de la interferencia de las funciones de
onda de electrones elsticos, y consecuentemente estas modulaciones en funcin de E , y , contienen informacin de la estructura atmica de la muestra, ya que la funcin de onda inicial est localizada en la posicin atmica que se pretende determinar. La tcnica de difraccin de fotoelectrones, como se apunt en el apartado anterior, es la interferencia coherente de la onda de fotoelectrones emitida directamente por un tomo, con las componentes de las ondas dispersadas elsticamente por sus tomos vecinos. Como consecuencia de estas interferencias se producen variaciones en la intensidad de los fotoelectrones cuando dicha corriente es medida en funcin del ngulo de emisin y/o la energa.