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Contenido

El método de Rietveld

Introducción al programa TOPAS 3.0

1. Conceptos generales
2. Análisis del perfil de difracción
3. Índices de acuerdo
4. Criterios de ajuste
5. Análisis cuantitativo
6. Modos de ajustar el perfil de difracción

Servizos de Apoio á Investigación
Universidade da Coruña
mayo 2009

El método de Rietveld
1. Conceptos generales

TOPAS 3.0
1. Contenido
2. Ajuste reflexiones individuales
3. Ajuste de todo el perfil de difracción
4. Ajuste de Rietveld
5. LAUNCH mode

El método de Rietveld
1. Conceptos generales
OBJETIVO:

El Método de Rietveld fue desarrollado entre 1964 y 1966 en el Reactor Centre
Netherlands en Petten para “obtener una separación efectiva de los picos
superpuestos, permitiendo una precisa determinación de la estructura”.

El difractograma observado es un conjunto de puntos equidistantes en 2θ e intensidades
variables

Fue presentado por primera vez en el Congreso de la IUCr en Moscú (1966).

Se trata de ajustar el perfil de difracción (difractograma) observado a una función
matemática. Esta función matemática viene descrita básicamente por tres parámetros:
- Posición del pico o reflexión
- Intensidad integrada del pico (= área debajo del pico)
- Anchura del pico de difracción

Valores discretos medidos

Perfil de difracción resultante

anchura

La Royal Swedish Academy of Sciences premió al autor, Dr. Hugo M. Rietveld
con el premio Aminoff en 1995 en reconocimiento al “Método de Rietveld”.

posición
56

56.2

56.4

56.6

56.8

57

56

56.2

56.4

56.6

56.8

57

El método de Rietveld
1. Conceptos generales

El método de Rietveld
2. Análisis del perfil de difracción

OBJETIVO:

Posición del pico:

Se tratará de ajustar los tres parámetros anteriores a una función matemática de modo que
la diferencia entre el perfil observado y calculado sea mínima.

La posición del pico de difracción viene determinada por los parámetros de la celda
cristalina:

Perfil observado
Perfil calculado
Perfil diferencia

d hkl

Tetragonal
Hexagonal
Romboédrico

Cu
(FCC) Fm3m
a= 3.6152 Å
56

56.2

56.4

56.6

56.8

2

=

h2 + k 2 + l 2
a2

2

=

h2 + k 2 l 2
+ 2
a2
c

2

=

4  h 2 + hk + k 2  l 2

 + c 2
3 
a2

2

=

(h 2 + k 2 + l 2 ) sin2 α + 2(hk + kl + hl)( cos2 α − cos α)
a 2( 1 − 3 cos 2 α + 2 cos3 α)

2

=

h2 k 2 l 2
+
+
a2 b2 c 2

1

Cúbico

Rómbico

1
d hkl
1
d hkl
1
d hkl
1
d hkl

Monoclínico, Triclínico ...

57

El método de Rietveld
2. Análisis del perfil de difracción

El método de Rietveld
2. Análisis del perfil de difracción

Posición del pico:

Intensidad del pico:

Si se desconocen los parámetros de la celda cristalina, se puede realizar un ajuste perfil
indicándole al programa la posición de los picos de difracción.

La intensidad del pico de difracción en una fase pura viene dada por la estructura cristalina
de la fase difractante, la posición y naturaleza de los átomos dentro de la estructura y la
vibración térmica de los átomos.

58.63623
55.76482
56.61036
57.51095

55.78544
58.62485
56.64339
57.48091

La Iic calculada en cada punto del difractograma viene dada por la expresión:

I ci = S

∑L

hkl

F hkl

2

φ(2 θ i - 2 θ hkl ) P hkl A + I bi

hkl

S es el factor de escala
Lhkl contiene los factores de Lorentz-Polarización
φ es la función del perfil de difracción
Phkl función de orientación preferencial
A es el factor de absorción de los rayos-X
Ibi es la intensidad del fondo en el punto i
Fhkl es el factor de estructura.
55

2Th Degrees

56

57

58

59

55

2Th Degrees

56

57

58

59

Se deduce que:

Ihkl α |Fhkl|2

El método de Rietveld
2. Análisis del perfil de difracción

El método de Rietveld
2. Análisis del perfil de difracción

Intensidad del pico:

Intensidad del pico:

El factor de estructura para una reflexión hkl viene dado por:
N

F hkl =

∑f

j

e

2πi ( hx j + ky j + lz j )

e

−B j

sin 2 θ

λ2

El factor de difusión (fj) de los átomos a los
rayos-X está producido por los electrones.
Este factor dependerá del número atómico y
del ángulo de difracción.

j =1

donde N es el número de átomos de la celda unidad, fj es el factor de difusión para el
átomo j y (x,y,z)i son las coordenadas del átomo j en la estructura, Bj es el factor de
temperatura isotrópico del átomo j.
θ

Los iones tienen factores de difusión
ligeramente distintos de los átomos neutros,
especialmente a ángulos bajos de difracción.

El método de Rietveld
2. Análisis del perfil de difracción

El método de Rietveld
2. Análisis del perfil de difracción

Intensidad del pico:
Intensidad del pico:
Los átomos se mueven alrededor de su posición ideal. El desplazamiento viene dado por el
parámetro U (en Å) que es dependiente de la temperatura. El parámetro isotrópico de
vibración, Biso (en Å2), representa el cuadrado promedio del desplazamiento de un átomo.
Los parámetros U y Biso estan relacionados por:
Biso = 8π2 U2

Compuestos inorgánicos Biso≈ 0.2-3.16 Å2
Compuestos orgánicos Biso≈ 20 Å2

Los picos de difracción pierden intensidad debido a la deslocalización de los centros
difusores, la densidad electrónica se diluye y, por tanto, se reduce la capacidad difusora de
los átomos a medida que se aumenta el ángulo de difracción. Además, se produce un
aumento del ruido de fondo a angulos elevados en función de la temperatura.

En función de la simetría de la
estructura cristalina hay algunas
reflexiones (hkl) que estan
sistemáticamente ausentes
(intensidad nula). Además, los
átomos situados en ciertas
posiciones de una estructura
pueden dar lugar a que algunas
reflexiones tengan intensidad casi
nula.
Todos estas extinciones o
condiciones de difracción estan
tabuladas en las Tablas
Internacionales de Cristalografía.

Lp(2θi).El método de Rietveld 2.2 θ hkl ) P hkl A + I bi Corrección de la orientación preferencial: 1500 difractograma de una lámina de Cu 1300 1200 1100 1000 900 Lin (Counts) Cualquier perfil de difracción está compuesto por la difusión coherente de la parte cristalina.1  I b i = ∑ B j  j =0  2θ ori  n I b = ∑ B j 2θ i c Vector de orientación preferencial [001] j n j =1 11  2θ  I bi = ∑ B j cos j i  j =0  C  polinomio grado n b polinomio de Chebyschev Cosine Fourier Series a 100 110 120 130 . 0 35 40 50 60 70 80 90 2-Theta . la intensidad del haz primario y la influencia de las ventanas del difractómetro. Inc(Q): I obs (Q) = [ I cx (Q) + I b (Q) ] + I nc (Q) (200) (111) 1400 hkl 800 700 600 El término Q equivale a la magnitud del vector de difusión (Q=4πsinθ/λ).2 θ hkl ) P hkl A + I bi hkl I ci = S ∑L hkl F hkl 2 φ(2 θ i .Scale • Ajuste de los términos independientes de un polinomio: 11   2θ i .2 θ hkl ) P hkl A + I bi hkl La intensidades medidas estan afectadas por los llamados factores de Lorentz y Polarización (Lhkl) que es necesario corregir. Análisis del perfil de difracción El método de Rietveld 2. Análisis del perfil de difracción Intensidad del pico: I ci = S ∑L F hkl hkl 2 φ(2 θ i . Análisis del perfil de difracción I ci = S ∑L hkl El método de Rietveld 2. mas la difusión incoherente del fondo (difusión del aire. El factor de (S) escala combina diferentes parámetros experimentales como son el tamaño de la muestra. Estos factores geométricos hacen disminuir la intensidad de las reflexiones ´de ángulos intermedios. Normalmente los dos factores se agrupan en uno solo. El factor polarización está causado por la polarización de los rayos difractados por el monocromador. Ib(Q). El método de Rietveld 2. etc). mas la difusión producida por posibles partes no cristalinas de la muestra. El factor de Lorentz está producido por la dispersión de los rayos-X y la geometría del difractómetro. Estos factores tienen una dependencia con el ángulo 2θ de la forma: Lp(2 θ i ) = Lp(2 θ i ) = 1 + cos 2 θ sin 2 θ cos 2 θ (sin monocromad or) 1 + cos 2 2α cos 2 θ sin2 θ cos 2 θ (con monocromad or) donde 2α es el ángulo del monocromador. (220) 500 400 (311) 300 Existen dos modos principales de modelizar el fondo: (222) 200 100 • Interpolación lineal de n puntos definidos por el usuario (no inplementada en TOPAS). La absorción (A) hace disminuir la intensidad de las reflexiones de ángulos bajos especialmente si se trabaja con capilares o la superficie de la muestra es rugosa. térmica. Icx(Q). Análisis del perfil de difracción F hkl 2 φ(2 θ i .

2 θ hkl ) P hkl A + I bi hkl 2000 CaCO3.Scale El método de Rietveld 2. trata de aproximarse a los efectos producidos por el instrumento y a los propios de la muestra. Φ. 1400 Lin (Counts) − 1 sin 2α ) 3 G 1300 1200 1100 1000 Con orientación preferencial 900 El efecto de la orientación preferencial también puede ser modelizado mediante la expansión de la distribución de orientación mediante harmónicos esféricos. Las funciones simétricas más utilizadas son: I i.hkl = I i.hkl = 2 ln(2) FWHM hkl 4 π FWHM hkl   . G<1 → morfología de placa 600 500 400 300 200 100 0 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 2-Theta . Análisis del perfil de difracción Corrección de la orientación preferencial: I ci = S ∑L hkl F hkl 2 φ(2 θ i .η ) G pseudo − Voigt   4 2 -1 (2 θ i .El método de Rietveld 2. Análisis del perfil de difracción El método de Rietveld 2. La función lorentziana presenta unas “colas” mas largas que la función gausiana.2 θ hkl )2  2   FWHM hkl Gausiana(G) -1 Lorentziana(L) I i.1)  PearsonVII(PVII)  4( 21/M . Análisis del perfil de difracción El método de Rietveld 2. Análisis del perfil de difracción Influencia del parámetro de mezcla m: La función.2 θ hkl )2  1 + 2 FWHM hkl  π Γ (M .4 ln(2) exp  (2 θ i . calcita 1900 1800 La función de March-Dollase toma la forma: 2 1700 Phkl = (G 2 cos 2 α + 1600 1500 Siendo α el ángulo entre d*hkl y la dirección del eje de la fibra y G el parámetro a ajustar.0.5) FWHM hkl  Representación de medio pico para la función Pearson VII y distintos valores de m. Sin orientación preferencial 800 700 La corrección de March-Dollase es la mas utilizada por su simplicidad y fácil compensión: G>1 → morfología de fibra. . que define el perfil de una reflexión.2 θ hkl )2  exp 1 + 2   FWHM hkl 2 M Γ ( 21/M .hkl = η L + (1 .1) (2 θ i .hkl = I i.

Análisis del perfil de difracción Variación de los parámetros de forma del perfil en función del ángulo 2θ para la geometría Bragg-Brentano.El método de Rietveld 2. Análisis del perfil de difracción Representación de la variación de la anchura (FWHM) en función de 2θ observada para distintos difractómetros y ajustada a la función de Cagliotti. η: índice para pseudo-Voigt. G: Gausiana. Análisis del perfil de difracción HRDP D2B SEPD CHESS Neutrones Neutrones Neutrones Sincrotón Variación de FWHM en función del ángulo 2θ para distintos difractómetros El método de Rietveld 2. L: Lorentziana. m: índice para Pearson VII.Φ: índice para la función Voigt. Cuando se trabaja con más de una reflexión en el intervalo de 2θ. la anchura de las reflexiones (FWHM) varía con el ángulo 2θ según la función experimental de Caglioti (1958): 2 2 FWHM hkl = U tan θ hkl + V tanθ hkl + W A su vez. Análisis del perfil de difracción El método de Rietveld 2. . los dos parámetros de mezcla (η y M) de las funciones pseudo-Voigt y Pearson-VII. presentan una variación en función del ángulo de Bragg: η(2θ ) = η 0 + x 2θ M (2θ ) = M 0 + 100 x 10000 y + 2 2θ 2θ El método de Rietveld 2.

El método de Rietveld 2. Esta asimetria varía. Análisis del perfil de difracción El pefil de difracción h(x) observado experimentalmente es el producto de convolución de tres contribuciones más el fondo: h(x) = {w(x) * g(x)} * s(x) + fondo w(x) perfil debido a la dispersión espectral de energía g(x) = gI(x) * gII(x) * gIII(x) * gIV(x) * gV(x) Ensanchamiento Anchura de Kα1Cu: 0. Análisis del perfil de difracción El método de Rietveld 2. Reflexiones individuales: Las funciones split pseudo-Voigt y split Pearson-VII permiten modelizar la asimetria de reflexiones individuales. Consiste en ajustar cada reflexión en dos partes: una a ángulos bajos y una a ángulos elevados separadas por el máximo de la reflexión. g(x). Análisis del perfil de difracción Corrección de asimetría: Función split Pearson-VII La geometria de Bargg-Brentano produce una asimetría de los picos de difracción. con el ángulo de 2θ. En cada parte se ajusta una función individual. Análisis del perfil de difracción El método de Rietveld 2. es el resultado de la convolución múltiple de cinco funciones Asimetría Ensanchamiento Desplazamiento gII(x) debido a la parafocalidad de la muestra Ensanchamiento gI(x) debido a la imagen de la fuente de rayos-X Asimetria gIII(x) debido a la divergencia axial Asimetria gIV(x) debido a la transparencia de la muestra Asimetria gV(x) debido a la ventana de recepción Ensanchamiento .518 10-3Å Función tipo Lorentziana Efecto mayor a ángulos elevados s(x) perfil debido a las caracteristicas de la muestra Asimetría Ensanchamiento Microdeformación: función Gaussiana asimetrica Distribución de tamaños de partícula: función Lorentziana simétrica g(x) perfil debido al difractómetro El perfil instrumental total. también. Perfil completo de difracción: Se modeliza definiendo uno de los tres modos de convolución axial. El método de Rietveld 2. Hay dos modos en el programa TOPAS para modelizar la asimetría.

celda. Análisis del perfil de difracción El método de Rietveld 3. El sumatorio se efectúa para todos los puntos del difractograma (i). aberraciones debidas a la muestra (desplazamiento y transparencia). El método trata de minimizar la diferencia entre la intensidad calculada (Ici) y la medida experimentalmre (Ii) en cada punto (i) del difractograma. Análisis del perfil de difracción El método de Rietveld 2. Índices de acuerdo Índices de acuerdo: • El método no está diseñado para localizar intensidades observadas por lo cual es necesario partir de un modelo estructural próximo al real. La cantidad a minimizar (Sy) durante el afinamiento será : S y = ∑ ω i (I i . parametros de tamaño de cristal y microstrain. Análisis del perfil de difracción Baja resolución Alta resolución El método de Rietveld 2.I cal (2 θ i ) ) ] R wp = i 2 ∑ [ ω (2θ )i ( I obs (2 θ i ) ] i 2 ∑ [( I obs (2 θ i ) . • Los parámetros que definen el modelo pueden ser no sólo las posiciones atómicas.I cal (2 θ i ) ) ] Rp = i 2 ∑ [( I obs (2 θ i ) ] i . el ajuste por mínimos cuadrados no llegará a un mínimo global. • La solución óptima se calcula mediante un proceso iterativo de mínimos cuadrados. Son varios los coeficientes o índices de acuerdo que se utilizan: 2 ∑ [ ω (2θ )i ( I obs (2 θ i ) .I ci ) 2 i • El modelo inicial debe ser próximo al modelo correcto. Los incrementos calculados para cada parámetro inicial se utilizan para mejorar el modelo inicial y el proceso iterativo se inicia otra vez. parámetros térmicos y de ocupación sino también parámetros del fondo. De no ser así. de la geometría del instrumento. El ajuste también puede divergir o llegar a un falso mínimo.El método de Rietveld 2. donde ωi=1/Ii. Todos los algoritmos que se utilizan en el método de Rietveld se basan en minimizar la diferencia entre el perfil de difracción observado y el calculado.

P +C ∑ I obs (2θ i ) i Donde N es el número de puntos observados. hkl El método de Rietveld 3. Índices de acuerdo Variación de Rb y RF con el tiempo por paso ∑| I obs.P +C R  =  wp   R exp  2 R exp = N .El método de Rietveld 3. hkl | ∑ I obs. Índices de acuerdo Variación de χ2 con el tiempo por paso . Índices de acuerdo (2 θ i ) . hkl | ∑I obs. variables que se ajustan y C es el número de restricciones en el ajuste. hkl - I cal. Hay otros índices que hacen referencia a sólo aquellas zonas del difractograma que tiene reflexiones de una fase determinada: RB = ∑| I obs.I cal. hkl . Los índices anteriores hacen referencia a todo el difractograma. Índices de acuerdo ∑ω(2 θ ) ( I i 2 χ = El método de Rietveld 3. P es el número de parámetros.I cal (2 θ i ) ) Variación de Rwp con el tiempo por paso 2 obs i N . hkl RF = El método de Rietveld 3. El valor NP+C equivale a los grados de libertad del ajuste.

Índices de acuerdo Variación en el ajuste de la desviación estandard (e. en función del tamaño de paso par tiempos de contaje de 0. Índices de acuerdo Variación de la coordenada atómica con el tiempo por paso Variación de Delta (Å) con el tiempo por paso (ax)ref-(ax)true (by)ref-(by)true (cz)ref-(cz)true low intermediate high El método de Rietveld 3.d. .s.El método de Rietveld 3.05 y 5s (ajuste de la estructura del corindón). El método de Rietveld 3. Índices de acuerdo El método de Rietveld 3. Índices de acuerdo Variación del coeficiente de ajuste de Rietveld (RB) en función del tamaño del paso para tiempos de contaje de 0.) de la coordenada x del O en el corindón.05 y 5 s.

Criterios de ajuste Posición 2θ incorrecta FWHM demasiado ancha Intensidad calculada demasiado baja FWHM demasiado estrecha Perfil calculado simétrico FWHM y asimetría pequeñas FWHM e intensidad pequeñas . Criterios de ajuste Ajuste bueno de un pico Intensidad calculada demasiado elevada El método de Rietveld 4. Criterios de ajuste El método de Rietveld 4. Índices de acuerdo El método de Rietveld 4.El método de Rietveld 3.

Sα = Xα K ραVα µ 2 * µ* es el coeficiente de absorción másico de la muestra Xα es la fracción en peso de la fase α ρα es la densidad de la fase α Vα es el volumen de la celda de la fase α K contiene todos los factores de tipo físico. Sβ = XβK ρ β Vβ2 µ * X α Z β M β Vβ X α Kρ β Vβ2 µ * X α ρ β Vβ2 Sα = = = 2 * 2 Sβ X β KραVα µ X β ραVα X β Zα MαVα Xα S Z M V = α α α α Xβ S β Z β M β Vβ Dónde Z es el número de fórmulas en la celda unidad y M es el peso molecular de la fórmula. X α + X β + . El método consiste en ajustar todo el perfil de difracción observado con un perfil calculado y fondo. experimental y estructurales de la fase α Sα = Xα K ραVα µ 2 * . Análisis cuantitativo Establecemos la relación entre los factores de escala de dos fases presentes en la muestra: Se obtiene información cuantitativa de la fase a partir del ajuste de los factores de escala (Sα) de cada fase en la muestra. X n = 1 n ∑ S (ZMV ) j j =1 j . Para n fases presentes existiran n-1 relaciones... Análisis cuantitativo M Fiα Vα2    2  1 + cos  2  2θ  sin θ cosθ 2     hkl Término que depende de la estructura y de la reflexión hkl en cuestión     hkl Sα = Término que depende de la estructura y de la reflexión hkl en cuestión Término que depende de las condiciones experimentales  1 + cos 2 2θ  2  sin θ cosθ Rhkl = Término que depende de las condiciones experimentales Rhkl = 2 Xα K ραVα2 µ * El método de Rietveld 5. El sistema tiene una única solución si consideramos que la suma de fracciones en peso de cada fase es la unidad: Xn = Sn (ZMV )n .El método de Rietveld 5. Análisis cuantitativo El método de Rietveld 5. Io λ3e 4M K iα = Fiα 32πrme2c 4 2Vα2  I λ3 e 4  k= o   32πr 2me2 c 4  2  1 + cos 2 2θ  2  sin θ cosθ    Io λ3e 4M Fiα K iα = 32πrme2c 4 2Vα2  I λ3 e 4  k= o   32πr 2me2 c 4  2 2  1 + cos 2θ  F iα  2 Vα2  sin θ cosθ M El método de Rietveld 5. Análisis cuantitativo Método Rietveld La metodología aplicada es la misma que en el ajuste estructural por el mismo método.

synthetic bauxite. En este caso. amorfo α-Al2O3. Cryst. Análisis cuantitativo 28 Full Pattern Match Iterative Least Squares 3 6 Internal Standard 1 El método de Rietveld 5. µα > µβ disminuye Iiα/Ijβ µα < µβ aumenta Iiα/Ijβ Muestra de grano medio-fino (0.µβ). ZnO.01< (µα . Análisis cuantitativo Outcomes of the International Union of Crystallography Commision on Powder Diffraction Si queremos cuantificar una fase amorfa es necesario introducir un estándard (Xs).El método de Rietveld 5. Appl. la fracción en peso de cada fase y la del amorfo se calculan a partir de: Round Robin on Quantitative Phase Analysis: samples 2.1) Muestra de grano grueso ((µα . CaF2. Round Robin α-Al2O3. Análisis cuantitativo Análisis cuantitativo. CaF2. 35 (2002) 383-400 Rietveld X S (ZMV )α Xα = s α Ss (ZMV )s X amorfo = 1 − X s − ∑X 160 i i RIR IUCr-CPD. natural granodiorite and pharmaceuticals J. Fe2O3. Análisis comparativo Método de Rietveld Método de intensidades integradas • Es necesario conocer la estructura cristalina • No es necesario • No son necesarios patrones previos • Requiere preparar patrones (internos o externos) • Conocimientos avanzados de cristalografia • Conocimientos básicos de difracción • Corrige problemas de superposición de picos y orientación preferencial • Problemas con la superposición de picos y la orientación preferencial • Actualmente ilimitado en el número de fases • Ideal para mezclas sencillas de fases simples • Se obtiene mucha mas información a parte del % de cada fase • Cálculo limitado al % de cada fase Análisis cuantitativo con la corrección de Brindley En un sistema bifásico. la relación de intensidad entre dos fases Iiα/Ijβ depende de del tamaño de las partículas de cada fase y de la diferencia entre sus coeficientes de absorción (µα . Análisis cuantitativo El método de Rietveld 5.µβ)R<0.µβ)R >1) Dos soluciones: • disminuir al máximo el tamaño de partícula • reducir la absorción de la muestra (cambiar la λ) . ZrSiO4 Bauxita sintética Granodiorita Producto farmacéutico El método de Rietveld 5. 4. Mg(OH)2 α-Al2O3. 3. ZnO.

1 1.4 t(2Theta=0) t(2Theta=90) 1.15 -0. -0. of the powdered sample u R: particle radius 1. Análisis cuantitativo Fase A.10 -0. La corrección de Brindley se utiliza para corregir el efecto de la microabsorción en cada fase. Análisis cuantitativo El método de Rietveld 5. 0. 1. Los resultados con la corrección eran ligeramente mejores a los otros.05 0. Análisis cuantitativo con la corrección de Brindley Fase B.15 . La mayoria de estos utilizaron la corrección de Brindley. No se observaron diferencias apreciables entre los resultados que aplicaron la corrección y los que no. Sn (ZMV )n Volumen difractado por la fase B.El método de Rietveld 5. coef.2 µ : mean linear abs.00 (µ -µ )R j u 0.9 0.20 • En el Round Robin (2002) el 40% de los resultados aplicaron la corrección de Brindley para la muestra con problemas de microabsorción.10 0.8 -0. • Antes de aplicar cualquier corrección por microabsorción es recomendable reducir el tamaño de partícula de la muestra al máximo (siempre y cuando no afecte a la cristalinidad).3 t(2Theta=180) µ : particle linear absorption coefficient t (Brindley coefficient) j 1. Xn = τn n ∑ j =1 S j (ZMV ) j τj Resultado “final” del análisi cuantitativo: XB >> XA El método de Rietveld 5.05 0. µA >> µB Se incorpora el coeficiente de Brindley (τi) para cada fase en cada mezcla a la expresión de la fracción en peso: Volumen difractado por la fase A. Análisis cuantitativo El método de Rietveld 5.0 • Para este tipo de corrección es preciso asumir el tamaño de partícula y el coeficiente de absorción de cada fase. Análisis cuantitativo • En el Round Robin (2001) 1/3 de los resultados enviados aplicaron una corrección por microabsorción.

Divergence slit Sample Anti-Scatter slit Receiving Slit Es el método utilizado por el programa TOPAS Es necesario conocer la configuración del difractómetro y cómo puede afectar al perfil observado Source Primary Soller slit Secondary Soller slit Descripción geométrica del difractómetro . Silver Behenate (CH3(CH2)20 COO·Ag. Existen tres estrategias a seguir para ajustar el perfil: • Ajustar directamente h(x) • Determinar experimentalmente {w(x) * g(x)} y luego ajustar h(x) • Calcular {w(x) * g(x)} y luego ajustar h(x) LaB6 (SRM ). BaF2. d001= 58. Modos de ajustar el perfil de difracción Calcular {w(x) * g(x)} y luego ajustar h(x) La contribución instrumental w(x)*g(x) es calculada por el mismo programa a partir de la descripción geométrica del difractómetro.01Å) Se ajusta el perfil de difracción del patrón y se obtienen los parámetros U.38 ±0. Modos de ajustar el perfil de difracción Determinar experimentalmente {w(x) * g(x)} y luego ajustar h(x) El producto {w(x) * g(x)} también se conoce como Instrumental Resolution Function (IRF). Modos de ajustar el perfil de difracción Análisis del perfil de difracción: h(x) = {w(x) * g(x)} * s(x) + fondo Sólo el perfil s(x) nos proporciona información sobre el tamaño y microdeformaciones en los cristales de la muestra El método de Rietveld 6. Sólo es necesario ajustar los efectos producidos por la muestra. V y W de la función de Caglioti. Características del patrón: tamaño de cristal uniforme de al menos 5µm. Na2Ca3Al2F14. ZnO.El método de Rietveld 6. sin microdeformaciones y de alta simetria. Modos de ajustar el perfil de difracción El método de Rietveld 6. Es el método tradicional El método de Rietveld 6. Esta función se determina analizando en todo el intervalo de 2θ una muestra patrón cuya contribución en s(x) sea prácticamente nula.

28 21.36 21.000 Lab6_a1.16 21.6 1.22 21.44 21.44 21.14 21.16 21.000 19.000 4.48 21.46 21.000 0 21.42 21.000 Receiving Slit length Axial plane 400 18.000 2.000 Convolución del perfil de la fuente de radiación y la divergencia ecuatorial.54 21.42 21.56 21.000 16.34 21.000 Calculado 15.24 21.58 21.38 21.000 11.4 21.38 21.000 4.48 21.58 21.000 5.000 7.12 21.56 21.000 14.000 12.000 6.000 6.000 10.32 21.raw:1 20.000 8.raw:1 900 17.34 21.12 21. 20.46 21.26 21.54 21.3 21.000 Lab6_a1.raw:1 Lab6_a1.000 10.000 Observado 13.2 21.000 2.5 21.El método de Rietveld 6.5 21.000 3.32 21.000 Observado 16.000 0 21.000 9.000 18.52 21.000 12.4 21.000 8.18 21.14 21.52 21.28 21.000 Calculado 14.18 21.22 21. Modos de ajustar el perfil de difracción LaB6 (100) LaB6 (100) Convolución del perfil de la fuente de radiación 22.36 21.2 21.6 .26 21. Modos de ajustar el perfil de difracción El método de Rietveld 6.3 21. Modos de ajustar el perfil de difracción El método de Rietveld 6.24 21. Modos de ajustar el perfil de difracción Divergencia axial Divergencia horizontal / ecuatorial Soller angle Divergence Slit angle Sample length Equatorial plane Length Divergence Slit angle Receiving Slit width Source length Primary Radius Source width Soller angle Width Receiving Slit width Sample length Source length Secondary Radius Source width Receiving Slit length Descripción geométrica del difractómetro Descripción geométrica del difractómetro El método de Rietveld 6.

000 10.32 21.5 21.36 21.24 21.24 21.44 21.000 2.36 21. la divergencia ecuatorial.22 21.58 21.6 TOPAS 3.32 21.000 18.raw:1 1270.18 21.54 21.000 8.El método de Rietveld 6.12 21.34 21.16 21.000 14.28 21.000 Lab6_a1.000 8.000 12.58 21.049 17.000 7.3 21.44 21.000 1.000 2.52 21.000 5. Modos de ajustar el perfil de difracción LaB6 (100) LaB6 (100) Convolución del perfil de la fuente de radiación.000 16.000 13.000 Convolución del perfil de la fuente de radiación.26 21.000 Lab6_a1.raw:1 Lab6_a1.56 21.4 21.4 21. Contenido 21.26 21.52 21.000 19.46 21.6 TOPAS 3.18 21.000 6.000 0 0 21.000 15.56 21.28 21.raw:1 Lab6_a1.34 21.177 20. la divergencia axial y los efectos de tamaño de partícula.2 21.000 18.000 10.42 21.14 21.2 21.000 11.raw:1 1382.000 4. Modos de ajustar el perfil de difracción El método de Rietveld 6.42 21.3 21.5 21. la divergencia ecuatorial y la divergencia axial.000 16.0 1.0 1.14 21. 20.0 Menubar Toolbars SPF Single peak fitting WPPF Whole powder prattern fitting WPPD Whole powder pattern decomposition Rietveld Rietveld structure refinement Structure solution TOPAS R Indexing and space group determination TOPAS I LSI-Index LP-Search TOPAS P Working area Status bar .000 14.16 21.48 21.38 21. Contenido Contenido del programa TOPAS 3.000 9. 22.48 21.000 4.000 3.38 21.000 6.46 21.12 21.000 12.22 21.54 21.

log Visualiza la ventana para los picos Búsqueda automática de picos Quick zoom window Seleccionar los difractogramas a visualizar Scan window Importar un difractograma TOPAS 3.0 1. Visualiza la background y ventana de diferencia opciones F4 TOPAS 3.TOPAS 3.0 1. Contenido Opciones del proceso de ajuste Peaks details dialog Options dialog Refinement options dialog Inicia el ajuste Interrumpe el ajuste Mejora la convergencia en casos de correlaciones . Contenido TOPAS 3. sqr.0 1. Contenido Mover la zona ampliada con los botones del ratón Visualiza la ventana de los parámetros Visualiza la ventana del Visualiza la curva ajuste calculada.0 1. Contenido Importar un fichero INP al proyecto Parameters window Parameter tree Details window Fit window Modificar el tamaño de la zona ampliada con los botones del ratón Cambia la representación de los ejes X e Y: linear.

CAL *.INP C.0159 0.0 2.5128764 0.RAW *.RAW *.3395 Cuka2 0.437 0.020 °.PRO Add peak phase F3 (añadir manualmente) F9 (eliminarmanualmente) A.0 2.INP B.5691 0.Start: 23.Type: 2Th/Th locked .52 0.RAW 2.6854 0.5 1.000 °.54441 1. SPV.0871 Cuka4-Holzer 0.643214 0.540596 1. Ajuste de reflexiones asimétricas (ángulos bajos) 50000 Lin (Counts) 40000 30000 20000 10000 0 23 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 2-Theta .544493 0.XY SI Fundamental Parameters? Instrument No usar Crystallite Size Run (F6) Run (F6) Permite reabrir todo tipo de ficheros Position / Area / Crystallite Size Position / Area / FWHM TOPAS 3.626579 .540598 1. PVII.62 1.End: 140.RAW Automatically insert peaks NO Seleccionar Function Type (PV. Ajuste de reflexiones individuales Ajuste de picos/reflexiones individuales: Import data files Emission profile Background *.000 ° .541058 1.INP 1.579 0.544426 0.RAW Ajuste de reflexiones individuales y del perfil completo.XDD / *.0 2. s .TOPAS 3.INP *.0762 0.653817 0.08 0.6605 0. Ajuste de reflexiones individuales Descripción de la radiación: Muestra: CeO2 Fichero: CEO2.236 0.544399 1.Time Started: 0 s .0 2.2517 0.540596 1.534753 1. SPVII) Ficheros de datos: *. Ajuste de reflexiones individuales TOPAS 3.Step: 0.5 0.: 25 °C (Room) .501844 0. HW (mÅ) 1.6872322 1.RAW 4.Temp.6 0.540591 1.4374157 0.346183 WL (Å) Lortz.Scale File: CEO2.2-T heta: 23.105 Cuka2-Analyt 0.544721 4. Ajuste de reflexiones individuales TOPAS 3.541064 1.DAT *.Step time: 1 .RAW .000 Operations: Import 140 Area Cuka5-Berger 0.544685 0.

5 130 130. Carga una estructura en formato *. 1/d) y del eje Y (I. Ajuste de reflexiones individuales TOPAS 3.5 127 127. Ajuste de reflexiones individuales Descripción del fondo: Descripción de la radiación: CeO2 0.0 2.5 128 128.CIF Añadir una estructura nueva Añadir una fase nueva descrita por los picos Carga un listado de picos en el formado *. Ajuste de reflexiones individuales Añadir una fase nueva descrita por la celda Tres opciones para fijar la intensidad mínima y máxima a efectos de visualizar el difractograma.5 131 2θ TOPAS 3.DIF o *.00 % 110 kα1 100 90 Sqrt (I) 80 70 kα2 60 50 40 30 Otras kα 20 10 0 126.UXD .. Ajuste de reflexiones individuales Mejora el ajuste a ángulos bajos Por incidencia directa del haz primario TOPAS 3.0 2.STR o *.0 2. d.0 2. Modifica las escalas del eje X (2θ. Sqrt(I). Ln(I)).5 129 129.TOPAS 3.

Ajuste de reflexiones individuales Valores iniciales: Asigna la acción a realizar con cada parámetro Perfil individual para la reflexión 1 . Ajuste de reflexiones individuales TOPAS 3.0 2. Ajuste de reflexiones individuales TOPAS 3.0 2.0 2.TOPAS 3. Ajuste de reflexiones individuales Señalización de la posición de los picos: FP: Fundamental Parameteres PV: pseudo-Voigt PVII: Pearson VII SPV: split pseudo-Voigt SPVII: split Pearson VII Búsqueda automática de picos TOPAS 3.0 2.

0 2.End: 120.raw .Step time: 1. Ajuste de reflexiones individuales TOPAS 3.Type: 2Th/Th locked .Step: 0.2-T Operations: Import 120 .0 2.: 25 °C (Room) .6º 80000 70000 60000 50000 40000 30000 20000 10000 0 Cambiar de 2θ a d 16 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 2-Theta .Temp.RAW Ajuste de reflexiones individuales y del perfil completo.0 2.000 ° .000 °.2 mm 1º 5. Ajuste de reflexiones individuales Perfil individual para la reflexión 2 TOPAS 3.Time Star ted: 0 s .1º y 8.Scale Y + 4. Ajuste de reflexiones individuales Perfil individual para la reflexión 3 TOPAS 3.File: Y2o3a.020 ° .0 2.Start: 15. s .0 mm . Uso de Fundamental Parameters: 170000 160000 150000 140000 130000 Radios Goniómetro: RS-Width: FDS-Angle: Soller Slits Lin (Counts) 120000 110000 100000 90000 173 mm 0.TOPAS 3. Ajuste de reflexiones individuales Valores finales: 180000 Muestra: Y2O3 Fichero: Y2O3A.

Temp.1 68 2-Theta .1 mm 1º 4º 11000 11000 10000 10000 9000 8000 9000 8000 7000 7000 6000 6000 5000 5000 4000 4000 3000 3000 2000 2000 1000 1000 0 0 67.Time Started : 0 s .Start: 67.End: 68.980 ° .2-The Operations: Import 68 69 2-Theta .Start: 67.Scale QUARTZ .End: 68.File: Quartz.Step: 0.0 2.: 25 °C (Room) .040 ° .0 2.020 ° .St ep time: 10.raw . Ajuste de reflexiones individuales TOPAS 3.Step: 0.Type: 2Th/Th locked .RAW Uso de restricciones (constraints) Seleccionar SPVII.: 25 °C (Room) .Scale QUARTZ . 17000 16000 15000 14000 18000 17000 16000 15000 Radios Goniómetro: RS-Width: FDS-Angle: Soller Slits 14000 Lin (Counts) 18000 Lin (Counts) Muestra: Cuarzo Fichero: QUARTZ.1 67. Ajuste de reflexiones individuales Descripción del difractómetro: Valores iniciales: Receiving slit width Fixed divergence slit angle Variable divergence slit Receiving slit length Modelos simple y completo de describir la asimetría Primary and secondary Soller slit Posibilidad de combinar distintos tipos de picos Descripción de una fase mediante picos Valor por defecto en FP  Se contabiliza la contribución de este elemento en el perfil de difracción debido al instrumento TOPAS 3.0 2.raw .980 °.Type: 2Th/Th locked . s .Time Started : 0 s . s .TOPAS 3.St ep time: 10.040 ° .File: Quartz.0 2.020 ° .RAW Uso de Fundamental Parameters sin restricciones 19000 19000 13000 13000 12000 12000 217.5 mm 0.Temp. Ajuste de reflexiones individuales TOPAS 3. Ajuste de reflexiones individuales 21000 21000 20000 20000 Muestra: Cuarzo Fichero: QUARTZ.2-The Operations: Import 69 .

0 2. Mismo valor para los tres picos Lin (Counts) 900 800 700 600 500 400 300 200 100 0 6 10 20 2-Theta .DQLD5MEAS . Ajuste de reflexiones individuales TOPAS 3.Program:GENSC30.DQLD5MEAS .RAW .TOPAS 3.59933 26 28 30 32 34 36 38 40 . Ajuste de reflexiones individuales Grado de cristalinidad: Grado de cristalinidad: 800 750 700 650 600 550 500 450 400 350 300 250 200 150 100 50 0 -50 -100 -150 9.DQL .8764 12 14 16 18 20.Program:GENSC30.66313 22.0 2.File: MRI54017.000008 6 8 10 15.File: MRI54002.0 2.: 25 °C (Room) D5MEAS .Scale MRI54017 MIX MRI54002 2 D5MEAS .Program:GENSC30.39867 20 22 24 34.Temp.DQL . Ajuste de reflexiones individuales TOPAS 3.Program:GENSC30.RAW . Ajuste de reflexiones individuales Grado de cristalinidad: Valores finales: 1200 1100 1000 Celulosa parcialmente cristalina Celulosa amorfa Contribución Lorentziana a la pseudo-Voigt.Temp.: 25 °C (Room) TOPAS 3.0 2.

x Zero error. c.0 3. Ajuste de todo el perfil de difracción 80 2-Theta .0 3. Uso de Fundamental Parameters: 170000 160000 150000 140000 Add hkl phase 130000 Lin (Counts) 120000 G. c.File: Y2o3a.raw . Strain 20 30 40 50 60 70 TOPAS 3. Ajuste de todo el perfil de difracción Función Pearson VII: Función pseudo-Voigt modificada: FWHMPearson VII = ha + hb / Cos(θ) + hc Tan(θ) FWHMpV_MOD = ha + hb / Cos(θ) + hc Tan(θ) m = 0.: 25 °C (Room) . Ajuste de todo el perfil de difracción Ajuste del perfil de difracción: Import data files Emission profile 180000 Corrections: zero error LP factor Background Muestra: Y2O3 a: 10. β. W. Ihkl Cry Size. β.0 mm . α. γ.TOPAS 3.Temp. Ajuste de todo el perfil de difracción TOPAS 3. PV_TCHZ. β. PVII) NO Fundamental Parameters? 70000 SI Instrument 60000 50000 40000 No usar Crystallite Size 30000 20000 Run (F6) Run (F6) 10000 0 16 Zero error. α.2 mm 1º 5. Ihkl. V.Scale 120 .RAW Ajuste de reflexiones individuales y del perfil completo.E.Ia3 (206) Fichero: Y2O3A.S. b.6º 80000 Seleccionar Peak Type (PV_MOD.000 ° . α. s . γ Radios Goniómetro: RS-Width: FDS-Angle: Soller Slits 110000 100000 90000 173 mm 0.Step: 0.Start: 15. a. U.020 ° .000 °.0 3. γ.2-T Operations: Import TOPAS 3. a. a.1º y 8.Time Star ted: 0 s . b. b.Step time: 1.6 + ma + mb / Cos(θ) + mc / Tan(θ) 90 100 110 Y + 4.End: 120. c.Type: 2Th/Th locked .6041 Å.0 3.

Time Started: 0 s .Type: 2Th/Th locked .Scale File: Alvo4.Start: 5.000 °. b: 7. c: 9.760 Å. de absorción lineal y grueso de la muestra usados para calcular la forma de los picos. γ: 101. FWHMpV-TCH = U Tan2(θ) + V Tan(θ) + W Corrección de la intensidad de las reflexiones debido a efectos de absorción. Ajuste de la convolución axial de Finger_et_al Monocromador primario de Ge (27.4º 3000 2000 Opcionalmente utilizar Line Minimization y Extrapolation 1000 Añadimos una fase tipo hkl Las intensidades de las reflexiones se Calculan de nuevo en cada ajuste.End: 80.3º Grafito 26.000 ° . β: 107.3º) 4000 P-1 a: 6. α: 96.0 3. Ajuste de todo el perfil de difracción Sin monocromador 0º Ge 27.5 mm Modo transmisión con capilar.Step time: 1.4º Cuarzo 26.2º. Ajuste de todo el perfil de difracción TOPAS 3.0 3.020 ° .0 3. Útil si hay cambio de grupo espacial durante el ajuste.0 3.Step: 0.541 Å.2º.: 25 °C (Room) . Ajuste de todo el perfil de difracción Descripción de las correcciones a aplicar: Función Thompson-Cox-Hastings pseudo-Voigt: Ángulo del monocromador: Coef.raw .000 °.2-Th eta: 5.RAW Ajuste completo de perfil con función PV-TCHZ Lin (Counts) 6000 5000 Radios Goniómetro: 217.TOPAS 3.6º Radiación 100% polarizada 90º TOPAS 3.Temp.136 Å.Th Operations: Import . Ajuste de todo el perfil de difracción Descripción de la celda: 7000 Muestra: AlVO4 Fichero: ALVO4. η = η0 + x 2 θ TOPAS 3. s . Método de calcular las Ihkl:  Le Bail  Pawley 0 5 10 20 30 40 50 60 70 2-Theta .

2 mm 1º 5. Ajuste de todo el perfil de difracción TOPAS 3.0 3.End: 160. Lvol. El cristal superior está “roto” en dos dominios como consecuencia de una macla.000 °.4º) Tamaño de partícula o grano Tamaño de cristal Tamaño de cristalito 7000 ICDD: 36-1461 6000 5000 Ajuste opcional de Crys-Size-L. Por tanto.000 ° . El tamaño del cristalito es una cantidad que no puede ser medida directamente.File: Pbso4.025 ° . .1º Monocromador secundario de grafito (26. se utiliza el término el peso del volumen de la columna (volume weighted mean column heights). Ajuste de todo el perfil de difracción TOPAS 3. Las cantidades que se pueden medir son las llamadas “altura de la columna difractante”. En cambio para una reflexión hkl representada por el vector b hay dos dominios y dos cristalitos. Ajuste de todo el perfil de difracción Análisis de tamaño-deformación de partículas: 16000 Muestra: PbSO4 Fichero: PBSO4.TOPAS 3.Step: 0.0 3.RAW Ajuste completo de perfil con Fundamental Parameters 15000 14000 13000 12000 Radios Goniómetro: RS-Width: FDS-Angle: Soller Slits Lin (Counts) 11000 10000 9000 8000 173mm 0. Strasin-L Opcionalmente utilizar Line Minimization y Extrapolation 4000 3000 2000 1000 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 150 2-Theta .0 3.0 3.Step time: 1.Start: 10.Scale Converted from Diffrac/AT Ve . El poder difusor de una columna es depenciente de su volumen.Type: 2Th/Th locked . Para una reflexión hkl representada por el vector a hay dos dominios pero un solo cristalito.raw . Ajuste de todo el perfil de difracción Análisis de tamaño-deformación de partículas: b Análisis de tamaño-deformación de partículas: a A B C B A Cada cristal puede estar formado por uno o más dominios coherentes de difracción.: 2 Operations: Import TOPAS 3.Temp. s .

Cry Size L: Ajuste de la contribución Lorentziana a la anchura a media altura debida al tamaño de cristalito. En muestras reales. e0: Cálculo de la microdeformación basada en la FWHM. sólo observariamos el fenómeno de la difracción en el ángulo de Bragg Microdeformación microstress El tamaño del “cristal” y la deformación afectan al difractograma observado TOPAS 3. Cry Size G: Ajuste de la contribución Gaussiana a la anchura a media altura debida al tamaño de cristalito.0 3. . Ajuste de todo el perfil de difracción TOPAS 3. Strain G: Ajuste de la contribución Gaussiana a la anchura a media altura debida a la microdeformación del cristalito.0 3.TOPAS 3. Ajuste de todo el perfil de difracción Análisis de tamaño-deformación de partículas: Análisis de tamaño-deformación de partículas: El programa TOPAS utiliza el método de doble función Voigt (Double-Voigt Approach). y por otro lado el valor promedio de la deformación (e0).0 3. (Microdeformación: función Gaussiana asimetrica). (Distribución de tamaños de partícula: función Lorentziana simétrica).0 3. la contribución nunca es puramente Gaussiana ni Lorentziana. LVol-FWHM: Cálculo de la longitud de la columna difractante (en nm) a partir de la FWHM y dependiente de la forma de los cristales (indicada por el parámetro de Scherrer k). 12000 11000 10000 Lin (Counts) 9000 8000 7000 6000 5000 4000 Macrodeformación macrostress 3000 2000 1000 0 7. El método permite por un lado el cálculo del tamaño del cristalito promedio a partir de la anchura integral (LVol-IB) o de la anchura a media altura (LVol-FWHM). Ajuste de todo el perfil de difracción TOPAS 3. Ajuste de todo el perfil de difracción Hasta ahora hemos supuesto el fenòmeno de la difracción producido por cristales infinitamente grandes y libres de deformaciones.8 8 9 10 11 2-Theta . El método se basa en las contribuciones individuales de tamaño de cristalito y deformación al perfil de difracción en términos de ensanchamiento Lorentziano y Gausiano de picos. Strain L: Ajuste de la contribución Lorentziana a la anchura a media altura debida a la microdeformación del cristalito.Scale Si los cristales fuesen infinitamente grandes. Lvol-IB: Cálculo de la longitud de la columna difractante (en nm) a partir de la anchura integral independiente de la forma de los cristales.

y. γ.TOPAS 3. |Fhkl|2 Cry Size. b. B Seleccionar Peak Type (PV_MOD. PV_TCHZ. α. Ajuste de todo el perfil de difracción Análisis de tamaño-deformación de partículas: Cálculo del volumen de la columna difractante a partir de la anhcura integral (IB) y de la a FWHM con el parámetro de forma de Scherrer (k) TOPAS 3. β. α. Ajuste de todo el perfil de difracción Ajuste Lorentziano y Gaussiano de los efectos producidos por el tamaño de cristalito. γ. Ajuste Lorentziano y Gaussiano de los efectos producidos por la microdeformación del cristalito.z.z. Análisis de tamaño-deformación de partículas: Cálculo de la deformación basada en la FWHM. b. TOPAS 3. γ. x.S. Describe la distorsión de la celda (∆d/d) con un 50% de probabilidad respecto a la celda no distorsionada. x x. Ajuste de todo el perfil de difracción TOPAS 3.0 3.y. B % en peso .z. β. a.0 3.y. c. a. B % en peso Zero error. α. |Fhkl|2 U. Strain x.0 4.0 3.E. W. Análisis de Rietveld Ajuste de Rietveld (análisis cuantitativo y ajuste estructural): Ihkl calculadas para una fase: Import data files Emission profile Corrections: zero error LP factor Background Add Structure Load STR(s) Load CIF(s) G. c. c. a. β. PVII) B NO Fundamental Parameters? SI Instrument No usar Crystallite Size Run (F6) Run (F6) Zero error. V. b.

Temp.Step time: 3 .30084 b @ 7. 200) r_bragg 0 scale @ 1e-005 phase_name WO3_monoclinic MVW( 0.90(9) 0.892 site W1 num_posns 0 x 0. 424.53889 c @ 7. -z' 3 'x-1/2.08(7) 1. A.2107 site O5 num_posns 0 x 0.2164(5) O3 O2.0008 site O2 num_posns 0 x 0.000 °.0366 z 0. Brucita Fichero: CPD-2.0008(6) 0.2481 site O1 num_posns 0 x 0.' 'Vogt.88 1. loop_ _citation_id _citation_journal_abbrev _citation_year _citation_journal_volume _citation_journal_issue _citation_page_first _citation_page_last _citation_journal_id_ASTM primary 'Journal of Physics and Chemistry of Solids' 1995 56 56 1305 1315 JPCSAW loop_ _publ_author_name 'Woodward.2602(7) 0.0342(6) 0.0065 occ O-2 0.0 4.4 e 0.2164 occ O-2 0. 1. s . z' loop_ _atom_type_symbol _atom_type_oxidation_number O2-2 W6+ 6 loop_ _atom_site_label _atom_site_type_symbol _atom_site_symmetry_multiplicity _atom_site_Wyckoff_symbol _atom_site_fract_x _atom_site_fract_y _atom_site_fract_z _atom_site_occupancy _atom_site_attached_hydrogens _atom_site_B_iso_or_equiv W1 W6+ 4 e 0.2481(6) 0. Structure refinement of triclinic tungsten trioxide . T.2821(4) 0.Scale File: Cpd-2.08 1.2849 Radios Goniómetro: RS-Width: FDS-Angle: Soller Slits 8000 7000 173mm 0.4 e 0.9922(4) 1.30084(7) _cell_length_b 7. All rights reserved.Step: 0.000 °. Análisis de Rietveld Formato STR 12000 Muestra: Corindón.2849(6) 0. y-1/2.S.0 4.9 0.87(8) #End of data_80056-ICSD TOPAS 3.4 e 0. _database_code_ICSD 80056 _audit_creation_date 1996/10/14 _chemical_name_systematic 'Tungsten Oxide' _chemical_formula_structural 'W O3' _chemical_formula_sum 'O3 W1' _publ_section_title .4 e 0.2116(5) O2 O2.53889(7) _cell_length_c 7.4 e 0.W.RAW Análisis cuantitativo de fases 11000 10000 str 9000 y y y y y y y y 0. 1.Start: 5.287 occ O-2 0.End: 145.4632 z 0. Secretary of #Commerce on behalf of the United States.0342 z 0.039 z 0.Time Started: 0 s .2865 occ W+6 0.2602 z 0.2870(4) O4 O2. Análisis de Rietveld TOPAS 3.2865(5) W2 W6+ 4 e 0.0277(7) 0. -z-1/2' 2 '-x.6 0.4850(5) 0.90(9) 0.7310(4) O5 O2.4 e 0. 0) space_group P121/n1 Phase_LAC_1_on_cm( 0) Phase_Density_g_on_cm3( 0) a @ 7.079 loop_ Cargar un fichero *.' 'Sleight.0 4.892(1) _cell_angle_gamma 90.2-T heta: 5.87 Lin (Counts) CS_L(@. 1.7815 occ W+6 0.' _cell_length_a 7.0065(5) O6 O2. _cell_angle_beta 90.2859 site O6 num_posns 0 x 0.000 °Operations: Import .485 z 0.9 0.2513(6) 0. 0 0 0 0 0 0 0 0 0.731 occ O-2 0.88(6) 1.Type: 2Th/Th locked .raw .2513 site W2 num_posns 0 x 0.68962(8) _cell_angle_alpha 90.17(9) 0.3 mm 1º 4.67(8) 0. Análisis de Rietveld Formato CIF data_80056-ICSD #©2004 by Fachinformationszentrum Karlsruhe. z-1/2' 4 'x.0366(8) 0. 1.4º) 5000 Ajuste opcional de Absorption Refinement 4000 3000 2000 1000 0 5 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 2-Theta .7815(5) O1 O2.0 4.4632(8) 0.9922 occ O-2 1 beq 1 beq 1 beq 1 beq 1 beq 1 beq 1 beq 1 beq 0.60(8) 0. 1.68962 be @ 90.9973 site O3 num_posns 0 x 0. and the U.0277 z 0. 1. -y.2859(6) 0.2602(8) 0. Análisis de Rietveld TOPAS 3.2116 occ O-2 0.0390(6) 0. P.020 ° .19.TOPAS 3.: 25 °C (Room) . -y-1/2.9973(6) 0.2821 site O4 num_posns 0 x 0.6º 6000 Monocromador secundario de grafito (26.19 _cell_formula_units_Z 8 _symmetry_space_group_name_H-M 'P 1 21/n 1' _symmetry_Int_Tables_number 14 _refine_ls_R_factor_all 0. _cell_volume 424. 1.STR _symmetry_equiv_pos_site_id _symmetry_equiv_pos_as_xyz 1 '-x-1/2. Zincita. Fluorita.67 0.M. y.2107(4) 0.2602 z 0.17 0.

0 4.25 1. 3107-3121 Zeitschrift fuer Anorganische und Allgemeine Chemie (1952).000 / 0.500 / 0.462(30) 90..0 4.462(30) 5. Análisis de Rietveld Descripción de las fases: Descripción de las fases: Posiciones equivalentes por simetría TOPAS 3.Cooper. 90.95 Z 4 Space Group F m -3 m SG Number 225 Cryst Sys cubic Pearson cF12 Wyckoff c a R Value 0.500 0. Vol 162. Análisis de Rietveld Multiplicidad de la posición Title Defect structure of calcium fluoride containing excess anions: I.25 0. 90.500 0.500 Comments Compound with mineral name: Fluorite Neutron diffraction (powder) Neutron diffraction (single crystal) The structure has been assigned a PDF number: 35-816 Atom # OX SITE x y z SOF H Ca 1 +2 4 a 0 0 0 1. Bragg scattering Cheetham.Fender. Análisis de Rietveld TOPAS 3. Análisis de Rietveld Descripción de las fases: TOPAS 3.0 4.<=1 Factor de temperatura isotrópico ITF(B) 0.000 0. 271.0 4.738 Trans Red 0. 0<Occ.008 Red Cell F 4.57(4) 0. B.TOPAS 3.E. 0 *end for ICSD #60559 Author(s) Reference Factor de ocupación de la posición.K.F. A.862 4. 0 F 1 -1 8 c 0. Journal of Physics C (1971). M.000 0.81(2) .500 0.25 0. 4. 17-28 Unit Cell 5..J.862 60 60 60 40.500 0.462(30) 5.862 4.

0 4.6º Monocromador secundario de grafito (26.249 5.62 Z 2 Space Group P 63 m c SG Number 186 Cryst Sys hexagonal Pearson hP4 Wyckoff b2 R Value 0.000 1.RAW Análisis cuantitativo de fases 4000 Lin (Counts) Inorganic Crystal Structure Database (ICSD) Radios Goniómetro: RS-Width: FDS-Angle: Soller Slits 3000 173mm 0. Atom # OX SITE x y z SOF H Mg 1 +2 1 a 0 0 0 1.000 °.Bernstein.000 / 0.67 Remeasurement of the structure of hexagonal Zn O Abrahams.1968-38. 25.63 0.3825(14) 1.3333 0.42 Constitution of hydroxides and hydrates Natta.0 4. S. J.000 0.000 Comments Compound with mineral name: Brucite The structure has been assigned a PDF number: 44-1482 X-ray diffraction (powder) No R value given in the paper.000 0.E 150 . Zincita. 0 O 1 -2 2 b 0.6667 0 1. 90.Scale CPD-3.Type: 2Th/Th locked .000 0.3 mm 1º 4.File: CPD-3.68 TOPAS 3. Análisis de Rietveld ITF(B) 0.1982) (1969).6667 0.000 0.04 Z 1 Space Group P -3 m 1 SG Number 164 Cryst Sys trigonal/rhombohedral Pearson hP5 Wyckoff d a Red Cell P 4.75 90 90 119. Acta Crystallographica B (24.C. 0 *end for ICSD #56149 Chem Name Structured Sum ANX Min Name D(calc) Title Author(s) Reference TOPAS 3.RAW .3333 0. Análisis de Rietveld *data for Coll Code Rec Date Chem Name Structured Sum ANX Min Name D(calc) Title Author(s) Reference ICSD #56149 56149 2003/04/01 Magnesium Hydroxide Mg (O H)2 H2 Mg1 O2 AX2 Brucite 2. 58.3333 0.12 4.000 0.0 4.24986(1) 4.249 4. 1233-1236 Unit Cell 4.000 0. Vol 40.12 4.000 / 0.000 1..624 Trans Red 1.75 90.000 0.20662(1) 90. Análisis de Rietveld Descripción de las fases: Muestra: Corindón. G. 120. 0 O 1 -2 2 d 0.0 4. Análisis de Rietveld Zinc Oxide Zn O O1 Zn1 AX Zincite 5. Amorfo Fichero: CPD-3.DAT Operations: Import Converted from UXD format byConverted from UXD format by XCH Version 1 .000 / 0.25 1.12 4. Position of 2 Elements of H Are Undetermined. Fluorita.4º) 2000 Ajuste opcional de Absorption Refinement Patrón interno: 30.6667 0.000 0.24986(1) 5. Gazzetta Chimica Italiana (1928).000 1.0378 Red Cell P 4. At least one temperature factor missing in the paper.999 40.000 Comments Compound with mineral name: Zincite The structure has been assigned a PDF number: 36-1451 Atom # OX SITE x y z SOF H Zn 1 +2 2 b 0. 120.79% Corindón 1000 0 5 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 2-Theta .TOPAS 3.206 90 90 120 47. 90.Start: 5.000 / 0.000 1. Vol 47. 0 *end for ICSD #26170 TOPAS 3.044 Trans Red 1.L. 344-358 Unit Cell 4.12 4.

0 4. Análisis de Rietveld Modo GRID: Actualizado por el programa TOPAS 3.57 % 50 45 Tipo de pico: pseudo-Voigt 40 35 30 25 20 15 10 5 0 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 Información sobre cada reflexión Cuantificación de dolomita y talco sin orientación preferencial (Rwp= 66. Análisis de Rietveld Ajuste para tres fases: 55 MRE12015.RAW:1 Dolomite 78.0 4.0 4.TOPAS 3. Análisis de Rietveld TOPAS 3. Análisis de Rietveld TOPAS 3.49) observado calculado diferencia fase 2 .43 % Talc-M 21.0 4.

RAW:1 55 Dolomite 79.32 % 50 45 40 35 30 25 20 15 10 5 Phkl = (G 2 cos 2 α + 1 G 2 − sin 2α ) 3 d* Siendo α el ángulo entre hkl y la dirección del eje de la fibra TOPAS 3.0 4. Factor de corrección de la densidad del monocristal ("packing density") .33). Análisis de Rietveld Descripción de las fases: MRE12015. función March-Dollase para G=0.0 4.68 % Talc-M 20. Análisis de Rietveld Descripción de las fases: Descripción de las fases: @ = Refine ≠ Fix Cualquier cadena = Refine Tamaño promedio de las partículas para la corrección de Brindley debida a la microabsorción.RAW:1 MRE12015. de absorción másico calculado para cada fase.32 en la dirección (001) (Rwp= 41.0 4. Análisis de Rietveld TOPAS 3. TOPAS 3. Coef. Análisis de Rietveld 0 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 Cuantificación dolomita y talco con orientación preferencialpara el talco.TOPAS 3.0 4.

500 0.500 -0. 1989. Vol 1192.1º y 8..25 0.471 596.471 109.000 °.40(5) Y 2 +3 8 b 0.TOPAS 3.Step: 0.0 mm .Duris.149 Trans Red 0.RAW Ajuste de la estructura Uso de Fundamental Parameters: 170000 160000 150000 140000 130000 Lin (Counts) 120000 Radios Goniómetro: RS-Width: FDS-Angle: Soller Slits 110000 100000 90000 173 mm 0.000 ° . s .Step time: 1.3 Z 16 Space Group I a -3 SG Number 206 Cryst Sys cubic Pearson cI80 Wyckoff e d b R Value 0. Methods X-Ray Neutron Struct.500 0.0 4. 0 0.0320(1) 0 0.End: 120. of Mater.25 0. Análisis de Rietveld TOPAS 3.0 4.60(8) *end for ICSD #66243 . P. Anal.020 ° .25 1.Type: 2Th/Th locked .0 4.471 109.500 Comments Rietveld profile refinement applied Structure type : Mn2O3 X-ray diffraction (powder) Atom # OX SITE x y z SOF H ITF(B) O 1 -2 48 e 0. 90. Análisis de Rietveld TOPAS 3.500 0.25 1.500 / -0.. Análisis de Rietveld Ajuste para tres fases: Ajuste para una sola fase: Tipo de pico: pseudo-Voigt observado calculado diferencia observado calculado diferencia fase 1 Tipo de pico: Fundamental Parameters Falta intensidad TOPAS 3.36(17) Y 1 +3 24 d -.183 109.3915(8) 0.0 4.Temp. 90.6038(8) 10.comparison of two profile functions Smrcok.Ia3 (206) Fichero: Y2O3A.2 Red Cell I 9. Análisis de Rietveld Estructura cristalina del Y2O3 180000 *data for Coll Code Rec Date Chem Name Structured Sum ANX D(calc) Title Author(s) Reference Muestra: Y2O3 a: 10. 375-378 Unit Cell 10.6041 Å. 1987 (1989). L.File: Y2o3a.3832(9) 1. Proceedings International Conference Adv.500 / 0. 0 0.1517(8) 0.6038(8) 90.183 9.Time Star ted: 0 s .6038(8) 10.2-T Operations: Import 120 ICSD #66243 66243 1992/08/20 Yttrium Oxide Y2 O3 O3 Y2 A2X3 5.500 -0.03 Rietveld refinement of Y2O3 .6º 80000 70000 60000 50000 40000 30000 20000 10000 0 16 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 2-Theta .raw .Start: 15.500 0.2 mm 1º 5. 0 0.Scale Y + 4.183 9.: 25 °C (Room) .

LAUNCH mode Modo REPORT: TOPAS 3. LAUNCH mode Modo LAUNCH: Dos modos de trabajar: GUI mode (Graphical User Interface): * usuario poco experto * funciones limitadas * facilidad de trabajo * interfaz gráfica LAUNCH mode (text mode): * usuario experto * requiere tiempo para preparar el fichero de datos * todas las funciones de TOPAS * posibilidad de programación (lenguage TOPAS) * creación de un fichero de salida de datos TOPAS 3.0 5.0 5.TOPAS 3.0 5. LAUNCH mode Modo LAUNCH: . LAUNCH mode TOPAS 3.0 5.

00724 site Ca num_posns 8 x 0.544493 lh 0.00 beq 0.0133 z 0.25 occ Al+3 0. "\t%11.0 5.700 O-2 1. "\t%11. "\t%11.216 iters 100 chi2_convergence_criteria 0.9200 occ occ occ occ CA+2 1.28839_0.2561 y 0.10390.730) r_bragg 5.355_0.2f\n") Out_String("C2S") Out(wt_C2S.864 r_exp_dash 25. MVW( str_CaO 224.5 Preferred_Orientation(@.2f") Out(lpa_C2S.2491 occ O-2 1 beq 0.1321.6540 0.00873 min 6.5f") Out(lpbe_C2S.04933_0.9600 max 7.2523 y 0.216 lam ymin_on_ymax 0.00743 b lpb_C4AF 14.75887_28.21354 min 30 max 500) a lpa_C3S 34.5) Rp 217.068 y 0.98292_0.137) r_bragg 7. wt_CaO 0.5 beq 0. vol_C3Ac 3531.16291 min 45 max 250) ' PO_Spherical_Harmonics(sh_anhydrit.0024 y 0 z 0.5 Rs 217.25 site Ca num_posns 24 x 0.840 r_wp 22.09831_0.01 /* Bloque de comentarios */ ' Línea de comentarios RAW(Filename.25 site Ca num_posns 8 x 0.98203694 CS(cs_C3S..5150 0.530 gof 1.00 beq 1.5f") Out(lpb_C3S.5 occ O-2 1 beq 1 str phase_name "Aluminate C3A cubic" space_group P_A_-3 scale scl_C3Ac 0.0273 y 0.000.0000000050 MVW( str_C3S 8219. wt_C3Ac 11.5f") Out(lpb_C2S.00000000050 max 0.540596 lh 0. vol_C3S 4314.501 weighted_Durbin_Watson 1. LAUNCH mode Modo LAUNCH: /* Correlation Matrix 0.7020 z =1/4.2f") Out(lpa_C3S.11001746_0. max =4.2536 occ O-2 1 beq 0.2777 y 0.0 5. "\t%11. 499.TOPAS 3.00146) site Ca num_posns 4 x 0 y 0 z 0 occ Ca+2 1 beq 0.25 site Al num_posns 24 x 0.6949_0.0075 y 0 z 0.01100_0.56903_0.0046 occ Al+3 1 beq 0.00730_0. LAUNCH mode Modo LAUNCH: TOPAS 3. "\t%11.425 r_p 16.0000008415 min 0.0000018803_0.8521_0.653817 lo 1.00776 min 6.5 y 0 z 0 occ Ca+2 1 beq 0.5 Creación de un fichero de salida al final del ajuste con los resultados deseados.1) Zero_Error(@.25 z 0.02.2f") Out(vol_C2S.3 bkg @ 9.0000003980_0.22878_0.2f") Out(scl_C2S. "\t%11.282557915_0.796 r_p_dash 24.0246 occ O-2 1 beq 0.501 weighted_Durbin_Watson 1.25 site Ca num_posns 8 x 0.37492_0.796 r_p_dash 24.25 TOPAS 3. z =1/4.6443491 a lpa_anh 6.0577011 CS(cs_CaO.5) axial_conv filament_length 12 sample_length 15 receiving_slit_length 12 primary_soller_angle 2.220_0.5 Slit_Width( 0.23947989_0.54190_0. MVW( str_C3Ac 6484.25 site Ca num_posns 24 x 0.99673 min 45 max 500) Cubic(lpa_C3Ac 15.0156.622_0.00216) LP_Factor( 26.2526 y 0.) site Ca num_posns 4 x 0 y 0 z 0 occ Ca+2 1 beq 1 site O num_posns 4 x 0.0000001097_0.0056 occ Ca+2 0. 79.001 la 0. "\t%11.5 beq 4 site Ca num_posns 2 x 0.2561 z 0.97389_1629.346183 lo 1. 0 1 0) str phase_name "Free lime" space_group F_M_-3_M scale scl_CaO 0.00058 c lpc_C3S 18.0000000500 max 0.00684 site Ca num_posns 2 x 0. y !y4_anhydrit CS(cs_anh.01257 c lpc_C4AF 5.5 beq 0.85412_7.492 occ Ca+2 1 beq 0.3838 z 0.161089865 -1. 0.9861 z 0.0600 site s1 x =0. "\t%11.5f") Out(lpc_C2S.12f") Out(str_C2S.1272 occ Ca+2 1 beq 0.38 y 0.1315 z 0.0600 b lpb_anh 6.98344_0.85. 140.0000000053 min 0.2561 occ Ca+2 1 beq 0.375 occ Ca+2 1 beq 0.0197 occ Al+3 1 beq 0.6342.3290 y !y3_anhydrit site s4 x =0.53476196_0.6193 occ O-2 1 beq 0.0 5.9283 y 0.840 r_wp 22.626579 str phase_name "Alite C3S monoclinic" space_group C_1_M_1 scale scl_C3S 0. z !z4_anhydrit 0.3 secondary_soller_angle 2. y !y1_anhydrit site s2 x =0.1209 occ Ca+2 1 beq 0. "\t%11.864 r_exp_dash 25. -0.000.530 gof 1.00158 be lpbe_C3S 94.00 beq 0.5 z 0.5 y 0.1550 0.00 beq 0.097) r_bragg 14.501844 la 0.2f\n") 0.161144884 r_exp 18.900 O-2 1.25 site Fe1 num_posns 4 x 0 y 0 z 0 occ Fe+3 0.000.02.375 z 0.00184 min =4. "\t%11.3000 c lpc_anh 7.5 site O3 num_posns 4 x 0. 6) ' PO(@.73740_6.7937_1. 0 1 0) a lpa_C4AF 5.5f") Out(lpbe_C3S. y !y2_anhydrit site s3 x !x3_anhydrit 0.37076514_0.5 site O2 num_posns 8 x 0. wt_C3S 62.00712 min 6.25 site O num_posns 24 x 0.0 5.100 iters 1000 do_errors out "astm.425 r_p 16.59369 min 30 max 500) Cubic(lpa_CaO 4.942 r_wp_dash 31.25 site Al num_posns 24 x 0. LAUNCH mode Modo LAUNCH: r_bragg 6.5 beq site O1 num_posns 8 x 0.9210 max 7.914_0. LAUNCH mode Modo LAUNCH: Creación de Macros macro Filename {C:\arxius\topas\astm\MRI01431} r_exp 18. "\t%11. "\t%11.0103 occ O-2 1 beq 0.95.375 y 0. "\t%11..197_0.700 S 1.txt" Out_String(Filename) Out_String("\t\n") Out_String("Phase \t wt \t scale \t c_mass \t c_vol \t a \t b \t c \t be\n") Out_String("C3S") Out(wt_C3S.308_0.3763 z 0.2) Divergence( 0.942 r_wp_dash 31. z =1/4.1087 z 0.155552 1.12f") Out(str_C3S.25 occ Al+3 0.1800 max 6.193109597 -1.2f") Out(scl_C3S.5 site O num_posns 24 x 0.8607 y 0.25 site Fe2 num_posns 4 x 0.1241 z 0.00287 b lpb_C3S 7.2f") Out(vol_C3S. "\t%11.1493 z 0. "\t%11.50164_0.4835 y 0. "\t%11.25 site Ca num_posns 4 x 0.18151_0.5 beq 4 site Ca num_posns 2 x Descripción difractómetro Tipo de radiación Descripción de cada fase TOPAS 3.196265652 0.2335 z 0.75117646 CS(cs_C3Ac.2444 y 0. vol_CaO 116. 64.1386 y 0.5f") Out(lpc_C3S. 1. m3f938612_1e0 bkg369165080 bkg369165081 bkg369165082 bkg369165083 bkg369165084 scl_C3S lpa_C3S lpb_C3S lpc_C3S lpbe_C3S m3f938612_1e1 scl_C2S lpa_C2S lpb_C2S lpc_C2S lpbe_C2S scl_C4AF lpa_C4AF lpb_C4AF lpc_C4AF m3f938612_1e3 scl_CaO lpa_CaO scl_C3Ac lpa_C3Ac scl_Gyp lpa_Gyp lpb_Gyp lpc_Gyp lpbe_Gyp m3f938612_1e5 scl_bas lpa_bas lpb_bas lpc_bas lpbe_bas m3f938612_1e7 scl_C3Ao lpa_C3Ao lpb_C3Ao 1: 2: 3: 4: 5: 6: 7: 8: 9: 10: 11: 12: 13: 14: 15: 16: 17: 18: 19: 20: 21: 22: 23: 24: 25: 26: 27: 28: 29: 30: 31: 32: 33: 34: 35: 36: 37: 38: 39: 40: 41: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 3 100 2 2 3 2 1 5 65 70 69 0 5 10 15 10 5 4 4 6 2 3 5 1 7 1 58 0 5 60 3 0 0 1 2 100 22 26 3 42 10 2 0 0 1 9 29 1 5 4 1 18 0 1 5 10 10 0 5 2 7 3 1 0 2 2 12 2 22 100 2 47 1 7 2 0 0 0 5 15 1 4 3 0 9 1 1 2 4 3 0 0 1 1 1 2 0 2 4 7 3 26 2 100 8 33 6 1 2 2 2 4 20 1 2 1 1 3 3 0 0 0 6 0 1 2 6 1 3 1 1 10 1 2 3 47 8 100 6 8 1 2 1 1 2 11 0 2 2 0 1 1 1 2 2 2 0 1 1 3 2 1 1 0 6 9 1 42 1 33 6 100 3 1 1 0 1 4 9 1 0 0 1 6 0 1 2 5 6 0 4 1 1 0 0 2 0 4 4 5 10 7 6 8 3 100 4 8 1 2 16 38 4 5 14 5 4 1 3 1 5 1 1 0 3 3 1 3 1 1 3 4 65 2 2 1 1 1 4 100 32 27 15 1 0 6 8 9 1 2 5 2 1 4 1 2 2 38 0 3 39 3 0 0 1 70 0 0 2 2 1 8 32 100 30 21 1 8 10 8 5 3 2 4 2 3 3 1 4 0 41 0 4 42 2 0 1 4 69 0 0 2 1 0 1 27 30 100 29 4 2 14 3 4 1 2 5 2 3 3 2 8 1 40 0 3 42 2 1 0 1 0 1 0 2 1 1 2 15 21 29 100 5 5 2 6 2 7 0 0 0 1 2 1 4 1 0 1 0 0 0 1 1 1 5 9 5 4 2 4 16 1 1 4 5 100 30 11 9 12 13 5 2 2 2 11 1 0 3 2 3 1 3 0 1 2 9 10 29 15 20 11 9 38 0 8 2 5 30 100 5 12 8 8 8 2 11 4 0 6 1 8 7 7 3 6 0 2 5 5 15 1 1 1 0 1 4 6 10 14 2 11 5 100 17 30 4 2 4 1 4 0 1 2 0 3 0 1 9 1 1 0 3 10 5 4 2 2 0 5 8 8 3 6 9 12 17 100 26 4 0 5 4 1 9 0 1 4 8 0 6 6 1 14 0 2 5 4 3 1 2 0 14 9 5 4 2 12 8 30 26 100 6 20 22 26 12 1 1 0 1 3 2 0 3 1 5 2 4 4 1 0 1 0 1 5 1 3 1 7 13 8 4 4 6 100 12 27 4 14 10 0 0 1 2 1 3 4 3 2 0 1 4 18 9 3 1 6 4 2 2 2 0 5 8 2 0 20 12 100 9 20 14 11 3 0 5 0 3 0 3 3 3 3 1 6 0 1 3 1 0 1 5 4 5 0 2 2 4 5 22 27 9 100 34 42 3 1 1 5 5 4 1 3 1 3 4 1 2 1 1 0 1 1 3 2 2 2 0 2 11 1 4 26 4 20 34 100 3 11 1 0 1 3 4 2 0 1 4 3 1 3 5 2 0 2 2 1 1 3 3 1 2 4 4 1 12 14 14 42 3 100 19 2 0 8 5 11 2 4 4 2 10 1 5 10 4 0 2 5 5 4 3 3 2 11 0 0 9 1 10 11 3 11 19 100 2 1 7 2 0 2 2 4 3 0 4 1 10 3 6 2 6 1 1 1 2 1 1 6 1 0 1 0 3 1 1 2 2 100 13 1 0 1 0 0 0 0 1 2 7 0 0 0 0 0 1 2 4 8 4 0 1 2 1 0 0 0 1 0 0 1 13 100 0 4 0 1 4 0 0 0 0 1 5 0 1 1 4 0 2 0 1 1 3 8 0 4 1 1 5 5 1 8 7 1 0 100 1 1 1 1 1 1 0 2 58 2 1 2 1 1 3 38 41 40 0 2 7 3 8 3 2 0 5 3 5 2 0 4 1 100 0 4 35 2 0 0 1 0 7 1 6 3 1 3 0 0 0 1 3 7 0 0 2 1 3 4 4 11 0 1 0 1 0 100 1 2 1 2 73 1 5 3 1 1 2 0 1 3 4 3 0 1 3 1 6 0 3 0 1 2 2 2 0 1 1 4 1 100 17 41 1 1 0 60 1 2 3 1 0 3 39 42 42 0 3 6 9 6 3 4 3 3 0 4 2 0 4 1 35 2 17 100 14 12 0 1 3 0 0 1 1 2 1 3 2 2 0 0 0 1 1 1 3 3 1 1 4 4 0 0 1 2 1 41 14 100 24 1 0 0 2 2 1 0 0 1 0 0 1 1 1 2 1 14 5 2 3 3 4 2 3 0 0 1 0 2 1 12 24 100 2 0 0 2 4 10 6 4 3 0 1 0 1 2 5 0 0 2 0 3 4 3 10 0 1 0 0 0 73 1 0 1 2 100 0 1 12 7 1 9 4 4 1 4 1 1 9 5 3 2 4 1 1 1 1 1 4 2 0 2 1 1 0 1 0 0 0 100 3 1 1 1 1 1 2 1 3 1 2 6 1 2 2 8 8 1 5 3 7 1 0 0 1 1 1 0 2 0 0 1 3 10 7 5 2 4 1 0 2 4 6 4 1 2 2 1 2 3 1 1 2 0 2 1 6 7 0 6 1 1 4 3 1 0 2 2 0 1 1 3 3 0 0 3 1 1 2 2 0 0 2 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 0 13 1 0 0 0 1 0 3 4 3 2 2 1 1 0 2 4 5 1 3 3 5 3 0 0 1 1 0 1 0 0 1 0 3 7 1 12 7 1 9 4 4 1 4 1 1 9 5 3 2 4 1 1 1 1 1 4 1 0 2 1 1 0 1 0 0 0 100 5 13 3 7 1 6 2 5 3 2 1 4 1 3 7 1 2 17 14 2 4 21 3 0 65 0 0 1 1 1 1 1 1 3 2 1 2 1 2 0 3 2 2 1 2 1 2 5 2 2 2 6 4 5 0 1 0 34 3 1 1 1 1 1 1 0 1 1 0 1 0 1 2 2 2 2 2 3 5 2 4 3 3 11 2 4 1 12 1 0 3 9 1 1 0 1 1 1 1 .88891_0.25 z 0.9533 occ Fe+3 0.009 occ Ca+2 0.5 beq 0.

0 5.0 Opciones de impresión: TOPAS 3.TOPAS 3.0 Opciones de impresión: . LAUNCH mode TOPAS 3.