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INSTITUTO TECNOLOGICO

SUPERIOR DE MISANTLA

UNIDAD: 3
Metrologa ptica E
Instrumentacin
Bsica
INGENIERIA INDUSTRIAL

301 C

Docente: Carlos Rayes Mata


Alumno : Gonzalo De Jesus Hernandez Zarate
Cristian Duran Duran
Jerson Santiago Herrera

ndice

ndice----------------------------------------------------------------------------------------------------2
Introduccin---------------------------------------------------------------------------------------------4
Metrologa ptica e instrumentacin bsica.-------------------------------------------------------5
3.1 Introduccin a la ptica.------------------------------------------------------------------------5
Espectro electromagntico.---------------------------------------------------------------------5
3.2 PTICA GEOMTRICA-----------------------------------------------------------------------6
PTICA FSICA-----------------------------------------------------------------------------------9
Fotometra:---------------------------------------------------------------------------------------11
3.4 Diferencias, ventajas y desventajas de instrumentos analgicos y digitales---------11
Instrumentos Digitales.-------------------------------------------------------------------------13
INSTRUMENTOS ANALOGICOS Y DIGITALES.---------------------------------------------14
3.5.- INSTRUMENTOS PTICOS-------------------------------------------------------------------15
3.6.- INSTRUMENTOS MECNICOS------------------------------------------------------------------18
INSTRUMENTOS MECNICOS-------------------------------------------------------------19
Medicin con reglas----------------------------------------------------------------------------19
Calibres Angulares------------------------------------------------------------------------------20
3.7 MEDICIN DE PRESIN--------------------------------------------------------------------21
MANOMETRO DE TUBO DE BOURDON--------------------------------------------------21
Manmetro diferencial--------------------------------------------------------------------------22
Registrador de presin diferencial------------------------------------------------------------23
3.8 MEDIDORES DE TORSION-----------------------------------------------------------------23
EFECTOS DE LA TORSION------------------------------------------------------------------23
MOMENTO DE TORSION---------------------------------------------------------------------24
MOMENTO POLAR DE INERCIA------------------------------------------------------------24
ESFUERZO CORTANTE TORSIONAL------------------------------------------------------24
DEFORMACION AL CORTE------------------------------------------------------------------25
MODULO CORTANTE DE ELASTICIDAD--------------------------------------------------25
ANGULO DE TORSION-----------------------------------------------------------------------25
2

FRENO DE PRONY----------------------------------------------------------------------------26
MEDIDORES DE FORMACION CON RESISTENCIA ELECTRICA--------------------26
3.9 Medidores de esfuerzos mecnicos--------------------------------------------------------26
3.10 Medidores de Dureza-----------------------------------------------------------------------27
Ensayos de dureza Rockwell------------------------------------------------------------------28
Ensayo de dureza de Brinell------------------------------------------------------------------30
Ensayo de micro dureza vickers y knoop---------------------------------------------------30
Conversin de la dureza-----------------------------------------------------------------------32
Correlacin entre dureza y la resistencia ala traccin-------------------------------------32
3.11 MQUINAS DE MEDICIN POR COORDENADAS--------------------------------32
Cantilever con mesa fija------------------------------------------------------------------------35
Conclusin------------------------------------------------------------------------------------------36
BIBLIOGRAFIA-------------------------------------------------------------------------------------37

Introduccin
Desde tiempoes remotos 500ac comienza el hombre a actualizar las unidades de
medicin elijiendo su propio cuerpo para la primera unidad de medida. Para ello con el
tiepo se ah ido desarrollando de manera llevando a cabo un proceso el cual esta basado
en la opcervacion fsica y estadstica asi determinando que la medicin se vuelven mas
complejas a tal grado de la existencia de minimas erronias al medir algn tipo de pieza u
objeto al cual el tema de metrodologia ptica y instrumentacin bsica debe terner una
explicacin a fondo para fortalecer nuestros estudios devidio a que tiene una gran
importancia en ls actividades de todo ingeniero, relacionando con los temas que abordan
de la mano dicha investigacin. Laimportancia de la motrodologia optoica e
instrumentacin bsica a llegado a la ayuda de la humanidad facilitando la vida a las
personas esperando el tener un gran aporte constante para los avances de metrodologia
y normalizacin llegando al fin, abordaremos el tema, para una mejor nocion y
conocimiento

Metrologa ptica e instrumentacin bsica.


3.1 Introduccin a la ptica.
La parte de la fsica que estudia la luz recibe el nombre de ptica. La luz estaba
considerada, hasta la mitad del siglo XVII como una corriente de corpsculos.
Huygens fue el primero en afirmar que la luz era una onda: supona que era un
movimiento ondulatorio de tipo mecnico (como el sonido) que se propaga en un
supuesto medio elstico que llena todo y que se conoca con el nombre de ter.
El hecho real es que la luz pareca presentar caractersticas corpusculares al
tiempo que ondulatorias. Maxwel, en 1873, contribuy decisivamente a la teora
ondulatoria demostrando que la luz no era otra cosa que una onda
electromagntica.
La ptica es la ciencia de controlar la luz. La luz es parte de un tipo de energa llamada
radiacin electromagntica (EM). La luz es la parte de las ondas EM que podemos ver y
forma los colores del arcoris.
Hablando ms formal, la ptica es el campo de la ciencia y la ingeniera que comprende
los fenmenos fsicos y tecnologas asociadas con la generacin, transmisin,
manipulacin, uso y deteccin de la luz.
La luz (viaja a 300 000km/seg) es una onda electromagntica, esto significa que es una
combinacin de una onda elctrica y una onda magntica (y una onda electromagntica
viaja a la velocidad de la luz).
Las ondas electromagnticas pueden ser muchas, como se muestra en la siguiente figura:

Espectro electromagntico.
El estudio de la ptica se puede dividir en tres partes:
OPTICA GEOMTRICA. Utiliza el mtodo de los rayos luminosos.
OPTICA FSICA. Trata la luz considerada como un movimiento ondulatorio.
OPTICA CUANTICA. Se refiere a las interacciones entre luz y las partculas atmicas.
Aqu nos limitaremos a las dos primeras partes y apenas esbozaremos algunos aspectos
de la tercera.

3.2 PTICA GEOMTRICA


Rayos luminosos: El concepto bsico con que opera la ptica geomtrica es el
rayo luminoso, que, como veremos, da solo una descripcin aproximada del camino
que la luz sigue en el espacio, pero para muchos fines prcticos esa aproximacin
es suficiente.
Siendo un rayo luminoso un concepto geomtrico. No se puede reproducir en un
laboratorio, pero hacemos uso de una fuente de rayo paralelo y, limitado de esta
porcin, de tal manera que se deje pasar un haz cilndrico de luz, se pueden
reproducir casi todos los resultados tericos con una aproximacin.
Las Leyes de reflexin.

Se llama reflexin al rechazo que experimenta la luz cuando incide sobre una
determinada superficie. Toda superficie que tenga la propiedad de rechazar la luz que
incide en ella se llama superficie reflectora; lo contrario de una superficie reflectora es una
superficie absorbente; estas superficies capturan la luz que incide sobre ellas
transformndola en otras formas de energa, generalmente energa calorfica.
La reflexin se produce de acuerdo con ciertas leyes que llamamos leyes de la reflexin.
Para enunciarlas, haremos uso de los conceptos de rayo incidente, normal, rayo reflejado,
ngulo de incidencia y ngulo de reflexin.
El rayo incidente es un rayo luminoso que se dirige hacia la superficie reflectora.
La normal es una lnea perpendicular a la superficie reflectora trazada en el punto en que
sta es intersectada por el rayo incidente (punto de incidencia).
El rayo reflejado es el rayo que emerge de la superficie reflectora.

Los ngulos de incidencia y de reflexin son los formados por el rayo incidente y el
reflejado con la normal.
En la figura 2.1.1 se consigna un diagrama que aclara estas ideas.
Ahora resulta sencillo enunciar las leyes de la reflexin.
1. El rayo incidente, la normal y el rayo reflejado estn en el mismo plano.
2. El ngulo que forma el rayo incidente con la normal (ngulo de incidencia) es igual al
ngulo que forma el rayo reflejado con la normal (ngulo de reflexin).
En la fig. 2.1.1 aparecen estos dos ngulos designados con las letras i y r,
respectivamente.
Figura 2.1.1 Esquema de la reflexin de un rayo luminoso.
Espejos planos: se denomina espejo plano a una superficie
reflectora que forma imgenes y est contenida en un plano. Determinaremos la posicin
de la imagen de un punto en un espejo plano.
Supongamos que una fuente puntual esta emitiendo rayos luminosos en todas direcciones
y que parte de stos se reflejan en un espejo plano. Usando las leyes de la reflexin se
podra seguir la trayectoria de gran cantidad de rayos luminosos; en rigor, podramos
seguir la trayectoria de todos los rayos luminosos, pero, siendo infinitos en nmero, esto
resulta imposible. Interesa saber si nuestro espejo forma una imagen, es decir. Si los
rayos que salen de un punto luminoso convergen despus de reflejados a un solo punto,
para ello basta con seguir la trayectoria de dos rayos como los dibujados en la figura.
2.1.2.
Figura 2.1.2 Imagen de un punto formada en un espejo
plano.
para

encontrar la imagen de un objeto en un espejo plano


podemos seguir el mismo camino y encontrar la
imagen de cada uno de los puntos del objeto
considerndolos como fuentes puntuales. Siguiendo las
ideas del prrafo anterior, consideremos un objeto como una flecha y determinaremos la
posicin del mismo calculando la posicin de sus puntos extremos P y Q. El esquema de
la fig. 2.1.3 nos muestra la marcha de dos rayos luminosos provenientes de los puntos P y
Q, respectivamente. En rigor, deberamos dibujar por lo menos dos rayos luminosos
provenientes de cada punto; pero, como el problema ya ha sido resuelto, localizamos el
punto simtrico de P. que es P', el simtrico de Q, que es Q', y estamos en condiciones de
trazar la imagen.

Figura 2.1.3 Imagen de un objeto en un espejo plano.

Espejos curvos: Cuando una superficie especular no puede estar contenida en un plano
se denomina espejo curvo. El estudio de la formacin de imgenes en espejos curvos es
ms laborioso. Sin embargo, debe tenerse presente que el fenmeno que interviene en
este caso sigue siendo el de la reflexin y sus leyes se cumplen en todo momento.
Por razones de produccin y de costos, la mayora de las superficies especulares curvas
con que se trabajan son esfricas. Por este motivo, la teora que vamos a exponer se
refiere a este tipo de superficies. Estos espejos se llaman espejos esfricos. Un espejo
esfrico puede ser cncavo o convexo, segn cual sea la cara reflectante.
.
Las leyes de la refraccin.
La velocidad v, que lleva la luz al atravesar un medio material (aire, agua) es caracterstica
de dicho medio y es siempre inferior a la velocidad en el vaco c. Cuando la luz pasa de
un medio de propagacin a otro sufre una desviacin, a esa desviacin se le llama
refraccin.
Cuando en un medio la velocidad de propagacin de la luz es menor, se dice que es ms
refrigente; as, la refringencia est ligada a la velocidad de propagacin de la luz. En
ciertos casos se habla de densidad ptica del medio; naturalmente, en un medio ms
refringente la densidad ptica es mayor.
Reflexin total.
Como se ha dicho, la luz, al pasar de un medio de menor refringencia a otro ms
refringente, sufre una desviacin acercndose a la normal. Usando el principio de
reversibilidad de los caminos pticos, es fcil darse cuenta de que si la luz pasa de un
medio ms refringente a otro menos refringente se desva alejndose de la normal. En la
figura 2.1.6 (A) se han dibujado tres rayos luminosos provenientes de una fuente puntual y
que pasan de un medio ms refringente a uno menos refringente. Existe un ngulo de
incidencia para el cual el ngulo de refraccin es de 90 0; a ese ngulo se le llama ngulo
lmite.

Figura 2.1.6 (A) Rayos luminosos pasando de un medio ms denso a otro menos denso;
(B) Prisma de reflexin total.
Dispersin.
Como se ha dicho, la luz blanca es una mezcla de radiacin electromagntica de varias
longitudes de onda. En el vaco la velocidad de propagacin de la luz no depende de su
longitud de onda. Un medio de estas caractersticas se llama no dispersivo. Cuando la
longitud de onda afecta muy poco la velocidad de propagacin de la luz el medio se llama
dbilmente dispersivo. El aire es un medio dbilmente dispersivo.
Haciendo uso de un medio altamente dispersivo se puede construir un dispositivo que al
ser atravesado por luz blanca separe los componentes de sta. En la fig. 2.1.7 aparece la
seccin transversal de un prisma equiltero. Un rayo de luz blanca incide en la superficie
del prisma y, debido a que el ngulo de refraccin es distinto para cada color, stos se
separan dentro del prisma, luego inciden en la otra cara sufriendo una nueva desviacin,
alejndose ahora de la normal, lo que hace aumentar an ms la separacin de los rayos
luminosos. Puesto que, como es fcil de demostrar, la desviacin producida por el prisma
aumenta al aumentar el ndice de refraccin, la luz violeta es la ms desviada, siendo la
roja la menos desviada; todos los dems colores quedan en posiciones intermedias.

PTICA FSICA

Si no considersemos la luz como una onda electromagntica, nos sera imposible


explicar los fenmenos de interferencia, dispersin, difraccin y la polarizacin de la luz.
La parte de la ptica que estudia estos fenmenos se denomina ptica Fsica.

Hemos dicho que la luz es una onda electromagntica. Cmo es que no observamos, un
fenmeno caracterstico de las ondas, como es la interferencia.
Si recordamos las ondas mecnicas, advertiremos que una de las condiciones
fundamentales para que se produzca un diagrama de interferencias es que las fuentes de
donde proceden las ondas sean coherentes, esto es, que emitan en fase o que su
diferencia de fase sea constante; de no ocurrir esto, las lneas nodales del diagrama se
desplazaran continuamente y no llegara a observarse el diagrama, ya que el ojo humano
es incapaz de seguir estas fluctuaciones.
La solucin al problema de la coherencia la consigui Young, utilizando dos haces de un
mismo foco luminoso. En efecto, consideremos un frente de onda, al que hacemos pasar
por dos ranuras sumamente estrechas (del orden de una longitud de onda) y prximas. Es
sabido que, en este caso, cada ranura se comporta como una fuente puntual de acuerdo
con el principio de Huygens y, como el frente de onda que llega a ambas ranuras es el

mismo, es evidente que las dos fuentes asi obtenidas estn en fase. En la fig. 2.1.8
hacemos un estudio de la interferencia de las ondas luminosas que pasan a travs de dos
rendijas. En la fig. 2.1.8 A aparece primero una fuente puntual. Estn representados, en
dicha figura, los distintos frentes de onda propagndose hasta encontrar a las dos rendijas
que se comportan, de acuerdo con las propiedades de las ondas, como dos fuentes
puntuales emitiendo en fase.
En la fig. 2.1.8 B hemos trazado un eje por el punto medio entre las dos fuentes F2 y F3,
que corta a la pantalla en el punto 0. La distancia que las ondas luminosas tienen que
recorrer desde F2 a 0 y desde F3 a 0 son las mismas; por lo tanto, en la pantalla siempre
habr un mximo de luz asociado a ese punto, ya que las ondas llegan en concordancia
de fase.

Fig. 2.1.8 Interferencia de ondas luminosas que pasan a travs de dos rendijas

Difraccin.
Los hechos principales observados en los fenmenos de difraccin pueden predecirse
con ayuda del principio de Huyggens. De acuerdo con l, cada punto del frente de onda
puede considerarse como el origen de una onda secundaria que se propaga en todas
direcciones y, para encontrar el nuevo frente de onda, debemos sumar la contribucin de
cada uno de los frentes de onda secundarios en cada punto.
Para facilitar las cosas, consideremos una antena emitiendo ondas electromagnticas. En
la fig. 2.1.9 A se puede apreciar que el campo elctrico oscila perpendicularmente a la
direccin de propagacin (hemos omitido el campo magntico para simplificar).
Observamos, adems, que en todos los puntos de cualquier plano Fijo en el espacio y
perpendicular a la direccin de propagacin de la luz el campo elctrico oscila a lo largo
de una lnea vertical. Se dice, en este caso, que las ondas estn linealmente polarizadas
o simplemente que estn polarizadas. En la figura 2.1.9 B se representa
esquemticamente la luz polarizada linealmente.
En la luz natural el campo elctrico (y, por Io tanto, el campo magntico que acta en
direccin perpendicular) puede vibrar en todas las direcciones. Se dice que la luz natural
no est polarizada. Figura 2.1.9 C.

Figura 2.1.9 (A) Las ondas electromagnticas radiadas por una antena estn
polarizadas linealmente. (B) Diagrama esquemtico de luz polarizada linealmente. (C) Luz
ordinarias.
Hay varios mtodos para separar total o parcialmente de un haz de luz natural las
vibraciones que tienen una direccin particular. Uno de ellos consiste en usar el conocido
fenmeno de la reflexin. Cuando la luz natural incide sobre una superficie reflectante, se
observa que existe reflexin preferente para aquellas ondas en las cuales el vector
elctrico vibra perpendicularmente al plano de incidencia (constituye una excepcin el
caso de incidencia normal, en el cual todas las direcciones de polarizacin se reflejan
igualmente). Para un ngulo de incidencia particular, llamado ngulo de polarizacin, no
se refleja ms luz que aquella para 1a cual el vector elctrico es perpendicular al plano de
incidencia (fig. 2.1.10). Si el elemento reflector de la luz es vidrio, se refleja
aproximadamente un 15 por 100 de la radiacin perpendicular al plano de incidencia; el
otro 85 por 100 se transmite y constituye luz parcialmente polarizada.
Existen cristales que presentan un fenmeno llamado birrefringencia. Cuando la luz
atraviesa uno de estos cristales, el rayo luminoso incidente se divide en dos rayos que se
llaman rayo ordinario y extraordinario, respectivamente.

Figura 2.1.10 Cuando la luz incide bajo el ngulo de polarizacin, la luz reflejada est
polarizada linealmente.
Fotometra:
La energa radiante tiene tres caractersticas matiz o tono, saturacin y brillo. Las dos
primeras son de las que nos hemos ocupado antes y hacen referencia al aspecto
cualitativo de la radiacin. En esta unidad nos referiremos al aspecto cuantitativo de la
energa radiante, es decir al brillo, a la cantidad de luz.
La fotometra es pues la parte de la fsica que trata de la medida de la luz en su aspecto
cuantitativo considerando dos factores, uno objetivo (el espectro visible) y otro subjetivo
(el ojo).

10

Figura 2.1.11

3.4 Diferencias, ventajas y desventajas de instrumentos analgicos y


digitales
Tipos de Instrumentos de medicin
En general los parmetros que caracterizan un fenmeno pueden clasificarse en
Analgicos y Digitales, se dice que un parmetro es analgico cuando puede tomar todos
los valores posibles en forma contnua, por ejemplo: el voltaje de una batera, la
intensidad de luz, la velocidad de un vehculo, la inclinacin de un plano, etc.
Por otra parte se dice que un parmetro es digital cuando solo puede tomar
valores discretos, por ejemplo: el nmero de partculas emitidas por un material
radioactivo en un segundo, el nmero de molculas, en un volumen dado de cierto
material, el nmero de revoluciones de un motor en un minuto, etc.
Ahora bien con que objeto se trata de convertir la informacin a la forma digital,
para contestar esta pregunta es necesario visualizar las ventajas y desventajas de los
instrumentos tanto analgicas como digitales.

Iinstrumentos Analgicos
Iinstrumentos Digitales

Instrumentos Analgicos.
Ventajas
a)

rpidamente si el valor aumenta o


disminuye.

Bajo Costo.

e)
Es sencillo adaptarlos a
diferentes tipos de escalas no lineales.

b)
En algunos casos no
requieren de energa de alimentacin.
c)
No
sofisticacin.

requieren

gran
Desventajas

d)
Presentan con facilidad las
variaciones cualitativas de los
parmetros
para
visualizar

a)
Tienen poca resolucin,
tpicamente no proporcionan ms
de 3 cifras.

11

b)
El error de paralaje limita la
exactitud a 0.5% a plena escala
en el mejor de los casos.

d)
La rapidez de lectura es
baja, tpicamente 1 lectura/ segundo.
e)
No
pueden
emplearse
como parte de un sistema de
procesamiento de datos de tipo
digital.

c)
Las lecturas se presentan a
errores
graves
cuando
el
instrumento tiene varias escalas.

Hay muchos mtodos e instrumentos diferentes que se emplean para medir la


corriente y el voltaje. Las mediciones de voltaje se efectan con dispositivos tan variados
como voltmetros electromecnicos, voltmetros digitales, osciloscopios y potencimetros.
En los mtodos para medir corrientes emplean los instrumentos llamados ampermetros.
Algunos ampermetros funcionan sensando realmente la corriente, mientras que otros la
determinan indirectamente a partir de una variable asociada, como lo es el voltaje, el
campo magntico o el calor.
Los medidores que determinan el voltaje y/o la corriente se pueden agrupar en dos
clases generales: medidores analgicos y medidores digitales. Aquellos que emplean
mecanismos electromecnicos para mostrar la cantidad que se est midiendo en una
escala contnua (es decir analgica) pertenecen a la clase analgica. En este tema
se analizarn esos medidores analgicos, junto con la informacin bsica, conceptual,
asociada con el funcionamiento de los medidores.

Un ampermetro siempre se conecta en serie con una rama del circuito e indica la
corriente que pasa a travs de l. Un ampermetro ideal sera capaz de efectuar la
medicin sin cambiar o perturbar la corriente en la rama. (Esta medicin sin
perturbaciones sera posible si el medidor pareciera como un cortocircuito con respecto al
flujo de corriente.) Sin embargo, los ampermetros reales poseen siempre algo de
resistencia interna y hacen que la corriente en la rama cambie debido a la insercin del
medidor.
En forma inversa, un voltmetro se conecta en paralelo con los elementos que se miden.
Mide la diferencia de potencial (voltaje) entre los puntos en los cuales se conecta. Al igual
que el ampermetro ideal, el voltmetro ideal no debera hacer cambiar la corriente y el
voltaje en el circuito que se est midiendo. Esta medicin ideal del voltaje slo se puede
alcanzar si el voltmetro no toma corriente alguna del circuito de prueba.
Ampermetro analgico de cd
Los ampermetros electromecnicos industriales y de laboratorio se emplean para
medir corriente desde 1 A (10-6A) hasta varios cientos de amperes. La figura

Instrumentos Digitales.
Ventajas
a). Tienen alta resolucin alcanzando en algunos casos ms de 9 cifras en lecturas
de frecuencia y una exactitud de + 0.002% en mediciones de voltajes.
b). No estn sujetos al error de paralelaje.

12

C. Pueden eliminar la posibilidad de errores por confusin de escalas.


d). Tienen una rapidez de lectura que puede superar las 1000 lecturas por
segundo.
e). Puede entregar
computadora.

informacin

digital

para

procesamiento

inmediato

en

Desventajas
a). El costo es elevado.
b). Son complejos en su construccin.
C. Las escalas no lineales son difciles de introducir.
d). En todos los casos requieren de fuente de alimentacin.

De las ventajas y desventajas anteriores puede observarse que para cada aplicacin hay
que evaluar en funcin de las necesidades especficas, cual tipo de instrumentos es el
ms adecuado, con esto se enfatiza que no siempre el instrumento digital es el ms
adecuado siendo en algunos casos contraproducente el uso del mismo.
Los instrumentos digitales tienden a dar la impresin de ser muy exactos por su
indicacin concreta y sin ambigedades, pero no hay que olvidar que si su calibracin es
deficiente, su exactitud puede ser tanto o ms mala que la de un instrumento analgico.

INSTRUMENTOS ANALOGICOS Y DIGITALES.


COMPARADOR DE SOBRETENSION: Es un equipo robusto porttil y de bajo costo,
diseado para hacer pruebas de sobre tensin en corriente alterna de equipos elctricos,
componentes, tarjetas de circuitos impresos y maquinaria elctrica en general.
COMPROBADOR DE RIGIDEZ DIELECTRICA, FUGAS DE IONIZACION: El
comprobador est diseado para ser utilizado en pruebas de sobre tensin y de
aislamiento no destructivo en materiales, componentes elctricos y equipo.
MEDIDORES DE AISLAMIENTO: Es un instrumento porttil con indicadores de agujas
que permite efectuar medidas de resistencia hasta de 100 ohmios.
VOLTIMETRO: Este es bsicamente un aparato sensible a las corrientes, pero se usa
para medir voltajes manteniendo constante la resistencia del circuito por medio de
tcnicas compensadoras.
VOLTIMETRO DIGITAL: Este instrumento acepta entradas analgicas de voltaje que
produce una imagen visual de la lectura del voltaje en dgitos decimales.
VOLTIMETRO DE PLATA: Permite la medicin de la intensidad, basada en la definicin
internacional del amperio.
VOLTIMETRO DE GAS RETONANTE: Electrodos sumergidos en agua acidulada, una
mas fcil determinacin de la cantidad de gas formada y una mas rpida disponibilidad del
aparato para una nueva medida.2
13

El instrumento ms utilizado para medir la diferencia de potencial (el voltaje) es un


galvanmetro que cuenta con una gran resistencia unida a la bobina. Cuando se conecta
un medidor de este tipo a una batera o a dos puntos de un circuito elctrico con
diferentes potenciales pasa una cantidad reducida de corriente (limitada por la resistencia
en serie) a travs del medidor. La corriente es proporcional al voltaje, que puede medirse
si el galvanmetro se calibra para ello.

Instrumentacin elctrica

Medidores
aislamiento

de

Compradores
diferenciales

de

Medidores de tierra

Equipos
de comprobadores
seguridad elctrica instalaciones

Analizadores
de
Analizadores
calidad de energa
potencia
(red elctrica)

de Comprobadores
Indicador
de Medidores
longitud
de
cables
rotacin de fases
elctricos

de

de

Micro-hmetros

Localizadores de cables 4

3.5.- INSTRUMENTOS PTICOS


INSTRUMENTOS PTICOS
Para nosotros los seres humanos es muy importante controlar la luz, ya que los usos que
le hemos dado son tan variados, como:
Lentes de contacto
Fotocopiadoras
Microscopios y lupas
Proyectores

Reproductores de cd
Rayos X
Laser (Luz Amplificada por Efecto
de Radiacin Estimulada)

Otros instrumentos pticos son:


Lentes de aumento
Telescopio
Cmara fotogrfica

14

La flexibilidad es el tema clave en la tecnologa de multisensores. La flexibilidad en


el mundo de la metrologa significa tener la libertad de elegir entre medicin por
contacto y medicin ptica, con slo un sistema de medicin. Por lo tanto, un nico
sistema es suficiente para la medicin por contacto y la medicin ptica de todas
las caractersticas de inspeccin en una pieza de trabajo.

Para la medicin de materiales sensibles al tacto, la solucin ideal son los


sistemas de medicin ptica. Estos sistemas miden de forma no destructiva y con
precisin. Gracias al verstil rango de sistemas de medicin pticos disponemos
de la solucin correcta para cada tarea de medicin.

Equipos de medicin a travs de ptica fsica.

Espejo: Dispositivo ptico, generalmente de vidrio, con una superficie lisa y


pulida, que forma imgenes mediante la reflexin de los rayos de luz. Adems de
su uso habitual en el hogar, los espejos se emplean en aparatos cientficos; por
ejemplo, son componentes importantes de los microscopios y los telescopios.
Prisma (ptica): Bloque de vidrio u otro material transparente que tiene la misma
seccin transversal (generalmente un tringulo) en toda su longitud. Los dos tipos
de prisma ms frecuentes tienen secciones transversales triangulares con ngulos
de 60 o de 45. Los prismas tienen diversos efectos sobre la luz que pasa a travs
de ellos.
Cuando se dirige un rayo de luz hacia un prisma, sus componentes de distintos
colores son refractados (desviados) en diferente medida al pasar a travs de cada
superficie, con lo que se produce una banda coloreada de luz denominada
espectro. Este fenmeno se conoce como dispersin cromtica, y se debe al
hecho de que los diferentes colores de la luz tienen distintas longitudes de onda, y
son ms o menos frenados al pasar a travs del vidrio: la luz roja es la que resulta
menos frenada, y la violeta la que ms.

Fibra ptica: Fibra o varilla de vidrio u otro material transparente con un ndice de
refraccin alto que se emplea para transmitir luz. Cuando la luz entra por uno de
los extremos de la fibra, se transmite con muy pocas prdidas incluso aunque la
fibra est curvada. El principio en que se basa la transmisin de luz por la fibra es
la reflexin interna total; la luz que viaja por el centro o ncleo de la fibra incide
sobre la superficie externa con un ngulo mayor que el ngulo crtico, de forma
que toda la luz se refleja sin prdidas hacia el interior de la fibra. As, la luz puede
transmitirse a larga distancia reflejndose miles de veces. Para evitar prdidas por
dispersin de luz debida a impurezas de la superficie de la fibra, el ncleo de la
15

fibra ptica est recubierto por una capa de vidrio con un ndice de refraccin
mucho menor; las reflexiones se producen en la superficie que separa la fibra de
vidrio y el recubrimiento. La aplicacin ms sencilla de las fibras pticas es la
transmisin de luz a lugares que seran difciles de iluminar de otro modo.

Tambin pueden emplearse para transmitir imgenes, cada punto de la imagen


proyectada sobre un extremo del haz se reproduce en el otro extremo, con lo que
se reconstruye la imagen, que puede ser observada a travs de una lupa. La
transmisin de imgenes se utiliza mucho en instrumentos mdicos para examinar
el interior del cuerpo humano y para efectuar ciruga con lser, en sistemas de
reproduccin mediante facsmil y fotocomposicin, en grficos de ordenador o
computadora y en muchas otras aplicaciones. Las fibras pticas tambin se
emplean en una amplia variedad de sensores, que van desde termmetros hasta
giroscopios. Su potencial de aplicacin en este campo casi no tiene lmites, porque
la luz transmitida a travs de las fibras es sensible a numerosos cambios
ambientales, entre ellos la presin, las ondas de sonido y la deformacin, adems
del calor y el movimiento.

Las fibras pueden resultar especialmente tiles cuando los efectos elctricos
podran hacer que un cable convencional resultara intil, impreciso o incluso
peligroso. Tambin se han desarrollado fibras que transmiten rayos lser de alta
potencia para cortar y taladrar materiales. La fibra ptica se emplea cada vez ms
en la comunicacin, debido a que las ondas de luz tienen una frecuencia alta y la
capacidad de una seal para transportar informacin aumenta con la frecuencia.
En las redes de comunicaciones se emplean sistemas de lser con fibra ptica.

Microscopio: Cualquiera de los distintos tipos de instrumentos que se utilizan


para obtener una imagen aumentada de objetos minsculos o detalles muy
pequeos de los mismos. El tipo de microscopio ms utilizado es el microscopio
ptico, que se sirve de la luz visible para crear una imagen aumentada del objeto.

Esquema de un microscopio ptico

El microscopio ptico ms simple es la lente convexa doble con una distancia focal
corta. Estas lentes pueden aumentar un objeto hasta 15 veces. Por lo general, se
16

utilizan microscopios compuestos, que disponen de varias lentes con las que se
consiguen aumentos mayores. Algunos microscopios pticos pueden aumentar un
objeto por encima de las 2000 veces.

El microscopio compuesto consiste en dos sistemas de lentes, el objetivo y el


ocular, montados en extremos opuestos de un tubo cerrado. El objetivo est
compuesto de varias lentes que crean una imagen real aumentada del objeto
examinado. Las lentes de los microscopios estn dispuestas de forma que el
objetivo se encuentre en el punto focal del ocular. Cuando se mira a travs del
ocular se ve una imagen virtual aumentada de la imagen real. El aumento total del
microscopio depende de las distancias focales de los dos sistemas de lentes.

Microscopio compuesto.
Telescopio: Es un instrumento ptico empleado para observar objetos muy
grandes que se encuentran a muy lejanas distancias como por ejemplo estrellas,
cometas, planetas, entre otros.

Telescopio

Cristal: Porcin homognea de materia con una


estructura atmica ordenada y definida y con forma
externa limitada por superficies planas y uniformes
simtricamente dispuestas. Los cristales se
producen cuando un lquido forma lentamente un
slido; esta formacin puede resultar de la
congelacin de un lquido, el depsito de materia
disuelta o la condensacin directa de un gas en un
slido.
Los
ngulos
entre
las
caras
correspondientes de dos cristales de la misma sustancia son siempre idnticos,
con independencia del tamao o de la diferencia de forma superficial.

Interfermetro: Instrumento que emplea la interferencia de ondas de luz para la


medida ultra precisa de longitudes de onda de la luz misma, de distancias
pequeas y de determinados fenmenos pticos. Existen muchos tipos de
interfermetros, pero en todos ellos hay dos haces de luz que recorren dos
trayectorias pticas distintas determinadas por un sistema de espejos y placas que
finalmente se unen para formar franjas de interferencia. Para medir la longitud de
onda de una luz monocromtica se utiliza un interfermetro dispuesto de tal forma
17

que un espejo situado en la trayectoria de uno de los haces de luz puede


desplazarse una distancia pequea que puede medirse con precisin y vara as la
trayectoria ptica del haz. Cuando se desplaza el espejo una distancia igual a la
mitad de la longitud de onda de la luz, se produce un ciclo completo de cambios en
las franjas de interferencia. La longitud de onda se calcula midiendo el nmero de
ciclos que tienen lugar cuando se mueve el espejo una distancia determinada.

Interfermetro

Red De Difraccin: Dispositivo ptico empleado para separar las distintas


longitudes de onda (colores) que contiene un haz de luz. El dispositivo suele estar
formado por una superficie reflectante sobre la que se han trazado miles de surcos
paralelos muy finos.

Un CD-ROM es una red de difraccin

Un CD-ROM crea un patrn de difraccin por reflexin. Por su construccin tiene


similitudes con las redes de difraccin. En la foto se pueden apreciar los dos
primeros rdenes de difraccin.

Espectroheligrafo: Elemento importante del equipo utilizado en astronoma para


fotografiar las protuberancias del Sol, como la fotosfera (la capa interior de gases
calientes ms cercana a la superficie del Sol) y la cromosfera (la capa exterior ms
fra). El espectroheligrafo, junto con un telescopio, fotografa el Sol en luz
monocromtica (con una nica longitud de onda).
3.6.- INSTRUMENTOS MECNICOS

INSTRUMENTOS MECNICOS
Son los instrumentos de medicin que deben ser manipulados fsicamente por el
inspector. Los dispositivos mecnicos pueden ser de pasa-no pasa o variables.

Los instrumentos mecnicos cada da son remplazados por electrnica que nos
permite tener una mejor resolucin y evitan errores de paralaje. Sin embargo hoy
por hoy constituyen una alternativa econmica en algunos casos.

18

Dicho tipo de instrumentos estn constituidos por todos aquellos que se valer de
una medicin directa a travs de un mecanismo, que nos permita tomar la lectura
del valor directamente de dicho instrumento, tales como:

a) Micrmetros

b) Vernier

c) Durmetros

d) Indicadores de cartula

e) Palpadores

f) Tensimetros

Medicin con reglas


Las herramientas de medicin ms comunes en el trabajo del taller mecnico es
regla de acero. Se emplea cuando hay que tomar medidas rpidas y cuando no es
necesario un alto grado de exactitud. Las reglas de acero, en pulgadas, estn
graduadas en fracciones o decimales; las reglas mtricas suelen estar graduadas
en milmetros o en medios milmetros. La exactitud de medida que se toman
depende de las condiciones y el uso correcto de la regla.

Regla de acero
Se fabrican en una gran variedad de tipos y tamaos, adecuados a la forma o
tamao de una seccin o longitud de una pieza. Para satisfacer los requisitos de
pieza que se produce y se va a medir, hay disponibles reglas graduadas en
fracciones o decimales de pulgadas o en milmetros. Los tipos de reglas ms
utilizados en el trabajo del taller mecnico se describen a continuacin.

A) Regla rgida de acero templado. Generalmente tiene 4 escalas, 2 en cada lado;


se fabrican en diferentes longitudes, la ms comn es de 6 pulgadas o 150 mm.
B) Regla flexible, similar a la anterior pero ms estrecha y delgada, lo que permite
flexionar, dentro de ciertos lmites, para realizar lecturas donde la rigidez de la
regla de acero templado no permite medicin adecuada.
Lainas (Medidores de espesores)
Estos medidores consisten en lminas delgadas que tienen marcado su espesor y
que son utilizadas para medir pequeas aberturas o ranuras. El mtodo de
medicin consiste en introducir una laina dentro de la abertura, si entra fcilmente
19

se prueba con la mayor siguiente disponible, si no entra vuelve a utilizarse la


anterior.

Patrones de radio
Estos patrones consisten en una serie de lminas marcadas en mm con los
correspondientes radios cncavos y convexos, formados en diversas partes de la
lmina.
La Inspeccin se realiza determinando que patrn se ajusta mejor al borde
redondeado de una pieza; generalmente los radios van de 1 a 25 mm en pasos de
0.5 mm.

Calibres Angulares
Estos calibres cuentan con lminas que tienen diferentes ngulos para cubrir las
necesidades de medicin de chaflanes externos o internos, inspeccin de ngulos
de ruedas de esmeril o cortadores.
Cuentahlos
Los cuentahlos consisten en una serie de lminas que se mantienen juntas
mediante un tornillo en un extremo, mientras que el otro tiene salientes que
corresponden a la forma de la rosca de varios pasos (hilos por pulgada); los
valores estn indicados sobre cada lmina.

Patrones para alambres, brocas y minas


Los patrones para brocas sirven para determinar el tamao de estas al
introducirlas en un agujero cuyo tamao esta marcado a un lado o para mantener
en posicin vertical un juego de brocas.

El cuerpo del patrn tiene grabadas indicaciones sobre el tamao de brocas


recomendable para un tamao de rosca determinado. Esta caracterstica permite
elegir rpidamente broca adecuada.

Compases
Antes de que los instrumentos como el calibrador vernier fueran introducidos, las
partes eran medidas con compases (interiores, exteriores, divisores,
hermafroditas) y reglas. Para medir un dimetro exterior la parte es puesta entre
las puntas de los compas y luego las puntas de los compas son colocadas sobre
una regla para transferir la lectura. En otra aplicacin las puntas de los compas de
exteriores se separan una distancia especfica utilizando una regla, entonces las
partes son maquinadas hasta que la punta de los compas se deslizan justamente
sobre la superficie maquinada.

20

3.7 MEDICIN DE PRESIN

MANOMETRO DE TUBO DE BOURDON

Este medidor de presin tiene una amplia variedad de aplicaciones para realizar
mediciones de presin esttica; es barato, consistente y se fabrica en dimetros
de 2 pulgadas (50 mm) en caratula y tienen una exactitud de hasta 0.1% de la
lectura a escala plena; con frecuencia se emplea en el laboratorio como un patrn
secundario de presin.
Un nanmetro con tubo bourbon en los que la seccin transversal del tubo es
elptica o rectangular y en forma de C. Cuando se aplica presin interna al tubo,
este se reflexiona elstica y proporcionalmente a la presin y esa deformacin se
transmite a la cremallera y de esta al pin que hace girar a la aguja indicadora a
travs de su eje. Las escalas, exactitudes y modelos difieren de acuerdo con el
diseo y aplicacin, con lo que se busca un ajuste que de linealidad optima e
histresis mnima
Ancho de las lneas de graduacin.
Tabla de referencia.

21

Escalas para medidores de presin


Unidad kgf/cm3 (Mpa)
Manmetro diferencial
El movimiento del ncleo debido a la diferencia de presiones P1 Y P2 hace que las
espiras del transformador y el campo magntico entre primarios secundarios* se
fortifique o se debilite, lo que permite realizar mediciones con
Manmetros comerciales de presiones hasta de 0.000035 psi (0.24). El principio
elctrico en el autotransformador est basado en las leyes de Faraday-Lenz del
electromagnetismo.

22

Un campo magntico entre un primario y un secundario: Enrollamientos de alambre de transformador elctrico que produce un
campo magntico entre dichos enrollamientos al paso de la corriente elctrica alterna.

Registrador de presin diferencial


El registrador de presin diferencial PCE-MS cuenta con rangos de medicin a
elegir por el usuario (p.e. el modelo PCE-MS 3: 25, 50, 100 o 250 Pa), con salidas
analgicas a elegir y con una pantalla LCD. Este registrador de presin diferencial
se alimentan a travs de la red (13... 30 VDC / VAC). Ha sido especialmente
concebido para usuarios que se mueven en rangos de presin de precisin. Podr
volver a configurarlo in situ siempre que lo desee. La estabilidad obtenida para
periodos prolongados es superior al 0,5 % (con respecto a todo el rango de
medicin).

3.8 MEDIDORES DE TORSION


Se dice que una barra esta en torsin cuando esta rgidamente sujeta en uno de
sus extremos y torcida en el otro extremos y torcida en el otro extremo por un par
mecnico o torque (t(=fd)) aplicar en un plano perpendicular al eje de la barra.

EFECTOS DE LA TORSION
Los efectos de la carga torsional aplicados a una barra son:

1. Impartir un desplazamiento angular en la seccin transversal de un extremo con


respecto al otro.
2. Registrar un esfuerzo cortante sobre cualquier seccin transversal de la barra
perpendicular a su eje.

23

MOMENTO DE TORSION
Ocasionalmente un nmero de pares actan a lo largo de un eje. En este caso es
conveniente introducir una nueva cantidad. El momento de torsin para cualquier
seccin a lo largo de la barra se define como la suma algebraica de los momentos
de los pares aplicados que yacen a un lado de la seccin en cuestin.
La eleccin del lado siempre es arbitraria.
MOMENTO POLAR DE INERCIA
Para un eje circular hueco de un dimetro exterior Do, y con el orificio circular
concntrico de dimetro Di, el momento polar de inercia del rea de seccin
transversal.
Que desplegando algebraicamente son:
J = (D2 D2) (D2 D2) = J = (D2 +D2) (Do +Di) =(Do -Di)
Esta frmula es especialmente til para tubos donde (Do-Di) es pequea.

ESFUERZO CORTANTE TORSIONAL

24

Ya sea solido o hueco el eje circular sujeto a un momento de torsin T, el esfuerzo


cortante torsional Ss. a una distancia p del centro del eje esta dado por:
Ss = Tp

DEFORMACION AL CORTE

Una lnea generadora a-b marcada en la superficie de una barra sin carga se
mover a una posicin como la mostrada a-b despus de aplicar un momento de
torsin T. El ngulo _, medido en radiantes, entre las posiciones final e inicial de la
lnea generadora se define como la deformacin al corte en la superficie de la
barra; la misma definicin podra mantenerse en cualquier punto interior de la
barra.

MODULO CORTANTE DE ELASTICIDAD


La razn del esfuerzo cortante Ss entre el ngulo de deformacin al corte y es
llamado el modulo cortante de la elasticidad G.
G=Ss

ANGULO DE TORSION
Si un eje de longitud L Est sujeto a un momento de torsin constante T a lo
largo de su longitud.
Entonces el ngulo en que un extremo de la barra se tuerse en forma relativa y
respecto al otro es:

25

= TL = 32 T L
GJ _ G D4 D4

FRENO DE PRONY
Para medir el momento de torsin y la disipacin de potencial se ha usado el
freno de prony (GCFM Riche, barn de prony [1755-1839]) . Este se muestra en la
figura 15.6 . El par o momento de torsin ejercida en el freno del prony lo da la
formula T= LL y la potencial era P=2_TN.

MEDIDORES DE FORMACION CON RESISTENCIA ELECTRICA


Estos medidores, tambin llamados banda extenso mtrica o calibradores, se
ocupan a una de las resistencia de un circuito puente de germinacin de
resistencia y se adhieren con pegamento al material que se quiere verifica y con el
cambio de tamao o deformacin cambia su resistencia, la cual se verifica en el
puente.

3.9 Medidores de esfuerzos mecnicos


Hay distintas clases de fuerzas o esfuerzo que se representa al tratar las
propiedades mecnicas de los materiales .En general, se define el esfuerzo como
una fuerza que acta sobre el rea unitaria en la que se aplica .en la figura 6-3(a)
se ilustra los esfuerzos de tensin ,comprensin ,corte, flexin .La deformacin
unitaria se define como el cambio de dimensin por unidad de longitud .El
esfuerzo se suele expresar en Pa (pascales)o en psi(libras por pulgadas
cuadradas ,por su siglas en ingles ).
La deformacion unitaria no tiene dimensiones y con frecuencia se expresa en
Pulg/pulg o en cm/cm.
Al describir el esfuerzo y al deformacin unitaria, es til imaginar que el esfuerzo
es la causa y la deformacin unitaria es el efecto .normalmente, los esfuerzos de
tensin y de corte se presenta con los smbolos y, respectivamente .Las
deformaciones de tensin y de corte se representa con los smbolos y, y
respectivamente .En muchas aplicaciones sujetas a cargas Dinmicas, intervienen
26

esfuerzos de tensin o de compresin .Los esfuerzos cortantes o decizallamiento,


suelen encontrar en el procesamiento de materiales en tcnicas como la extrusin
de polmeros .Tambin se encuentran en aplicaciones estructurales .0bservese
que aun esfuerzo tensil simple, aplicado en una direccin ,causa un esfuerzo
cortante en componentes con otras direcciones (parecidos al caso descrito en la
ley se schmid.)

La deformacin (unitaria) elstica se define como una deformacin restaurable


debido a un esfuerzo aplicado .La deformacin es la elsticas se desarrolla en
forma instantnea; es decir, s presenta tan pronto como se aplica la fuerza,
permanece mientras se aplica el esfuerzo y desaparece tan pronto como se retira
la fuerza .Un material sujeto a una deformacin elstica no muestra deformacin
permanente; es decir ,regresa a su forma original cuando se retira la fuerza o el
esfuerzo .imagnate que resorte metlico rgido se estira una cantidad pequea y
entonces se suelta. S regresa con rapidez a sus dimensiones originales, la
deformacin que se produjo en el resorte era elstica.
En muchos materiales, el esfuerzo y la deformacin elstico siguen una ley lineal.
La pendiente en la porcin lineal de la curva esfuerzo y la contra deformacin
unitaria a tensin define al modulo de Young o modulo de elasticidad (E)de un
material [fig.6-3(b).Las unidades de E se mide en pascales (pa) o en libras por
pulgadas cuadrada (psi),las mismas que las del esfuerzo .En los elastmeros se
observa deformaciones elsticas grandes,como como en el hule natural o las
siliconas, donde la relacin entre esfuerzo y deformacin elsticos no es lineal .
En ellos, los enormes deformacin elsticas se explica por el enredado y
desenredado de molculas semejante a resortes (captulos 15).Al manejar esos
materiales, se usa la pendiente de la tangente en cualquier valor determinado del
esfuerzo o de la deformacin ,y se le considera como una cantidad variable que
reemplaza al modulo de Young.[6-3(b)].el inverso del modulo de Young se llama
flexibilidad (o capacidad elstica de deformacin) del material. De forma
parecida, se define al modulo de elasticidad cortante (G) como la pendiente de
la parte lineal de la curva de esfuerzo cortante contra deformacin cortante La
deformacin permanente en un material se llama deformacin plstica .En este
caso, cuando s e quita el esfuerzo, el material no regresa a su forma original La
abolladura en un auto es deformacin plsticas. Observa que aqu la palabra
plstica no indica deformacin
En un material plstico o polmero, sino mas bien una clase deformacin en
cualquier material La rapidez con que se desarrolla la deformacin en un material
se define como velocidad de deformacin ( o y, respectivamente, para la
velocidad deformacin por tensin y por cortantes).
Un material viscosos es un en cual se desarrolla la deformacin durante ciertos
tiempo, y el material no regresa a su forma original al quitar el esfuerzo. El
desarrollo de la deformacin toma tiempo, y no esta en fase con el esfuerzo
aplicado (es decir, la deformacin es plstica) Un material visco elstico(o
anelastico) puede concebirse como uno cuya respuesta es intermedia entre la de
un material elstico.

27

En un material visco elstico, el desarrollo de una deformacin permanente se


parece a un material viscoso .sin embargo, a diferencia de un material viscoso,
cuando se quita el esfuerzo aplicado, parte de la deformacin desaparece despus
de cierto tiempo
Una descripcin cualitativa del desarrollo de la deformacin en funcin de el
tiempo, e relacin con una fuerza aplicada en los materiales elsticos, viscosos y
viscoelastico.En los materiales visco elstico mantenidos bajo deformacin
constante, al pasar el tiempo, la magnitud del esfuerzo disminuye
Al tratar materiales fundidos, liquidos y dispersiones, como pinturas o geles, se
requieren una descripcin de la resitencia al flujo o corrimiento bajo la accin de
un esfuerzo aplicado y la velocidad de deformacion cortante es lineal el material
newtoniado.

3.10 Medidores de Dureza


Otra propiedad mecnica que puede ser sumamente importante considerar es la
dureza ,la cual es una medida de la resistencia de un material ala de formacin
plstica localizada (por ejemplo, una pequea abolladura o ralladura ).los primeros
ensayos de dureza se basaban en el comportamiento de los minerales junto con
una escala construida segn la capacidad de un material para rayar a otro ms
blando .Un mtodo cualitativo de ordenar de forma arbitraria la dureza es
ampliamente conocido y se denomina escala de Mohs la cual va desde 1 en el
extremo blando para el talco hasta 10 para el diamante .A lo largo de los aos se
han ido desarrollando tcnicas cuantitativas de dureza que se basaban en un
pequeo penetrador que es forzado sobre una superficie del material a ensayar en
condiciones controladas de carga y velocidad de aplicacin de la carga .En estos
ensayos se miden la profundidad o tamao de la huella resultante ,lo cual se
relaciona con un numero de dureza ;cuanto ms blando es el material ,mayor y
ms profunda es la huella ,y menor es el numero de dureza.las dureza. Las dureza
medidas tienen solamente un significado relativo (y no absoluto), y es necesario
tener precaucin al comparar dureza
obtenidas por tcnicas distintas

Ensayos de dureza Rockwell


El ensayo de dureza de Rockwell constituye el mtodo ms usado para medir la
dureza debido a que es muy simple de llevar acabo y no requiere conocimientos
especiales. Se puede utilizar diferentes escalas que provienen de la utilizacin de
distintas combinaciones de penetradores y cargar, lo cual permite ensayar
virtualmente cualquier metal desde el ms duro al ms blando. Los penetradores
son bolas esfricas de acero endurecido que tienen dimetros de
1/16,1/6,1/4y1/pulg.(1,588,3,175,6,350y12,70mm)y un penetrador cnico de
diamante (Brale),el cual se utiliza para los materiales ms duros . Con este
sistema ,se determina un numero de dureza a partir de la diferencia de

28

profundidad de penetracin que resulta al aplicar primero una carga inicial


pequea y despus una carga mayor ;la utilizacin de la carga pequea aumenta
una exactitud de la medida .Basndose en la magnitud de las cargas mayores y
menores ,existen dos tipos de ensayo :Rockwell y Rockwell superficial .En el
ensayo de Rockwell ,la carga de menor es de 10kg, mientras las cargas mayores
son 60,100y150kg.cada escala est representada por una letra del alfabeto ;en las
tablas 6.4y 6.5 se indican varias de

Tabla 6.5 Escala de dureza Rockwell

Esta escala junto con los penetradores y cargas correspondiente .para ensayos
Superficiales, la carga menor es de 3kg, mientras que el valor de la carga mayor
puede ser 15,30 o 45kg.esta escala se identifica mediante un numero (15.30 o 45
segn la carga) y una letra (N, T, W, o Y, segn el penetrador).Los ensayos

29

superficiales se realizan frecuentemente en probetas delgadas .La tabla 6.5b


presenta varias escalas de dureza superficiales

Cuando se especifican dureza Rockwell y superficiales ,debe indicarse, adems


del numero de dureza , el smbolo de la escala utilizada .la escala se designa por
el smbolo HR seguido por una identificacin de la escala ,por ejemplo,80HRB
representa una dureza Rockwell de 80 en la escala B,y60 HR30W indica una
dureza superficial de 60 en las escalas 30W.
Para cada escala las durezas pueden llegar a valores de 130; sin embargo a
medida que la dureza alcanza valores superiores a 100 o inferiores a 20 en
cualquier escala, estos son pocos exactos; debido a que las escalas se solapan en
esta situacin es mejor utilizar la escala vecina ms dura o vecina ms blanda
respectivamente
Tambin se producen inexactitudes si la muestra es demasiado delgada, si la
huella se realiza demasiado cerca de un borde, o bien si dos huellas estn
demasiado prximas .El espesor de la probeta debe ser por lo menos alrededor
de 10 veces la profundidad de la huella, tambin debe haber un espacio de tres
dimetros de huella entre el centro de una huella y el borde de la probeta, o bien
con el centro de la otra indentacion. Adems los ensayos de probeta apiladas una
sobre otra no es recomendable. La exactitud tambin depende de si la dureza se
toma sobre una superficie perfectamente lisa.
Los equipos modernos para la medida de la dureza Rockwell, esta automatizados
y son de muy fcil utilizacin; la dureza es medida directamente, y cada medida
requiere nicamente unos pocos segundos
Los equipos modernos de ensayo tambin permiten la variacin del tiempo de
aplicacin de la carga .Esta variable debe ser considerada al interpretar los
resultados de los ensayos de dureza.

Ensayo de dureza de Brinell

En los ensayo de dureza de brinell .as como en las dureza de Rockwell, se fuerza
un penetrador duro esfrico en la superficie del metal a ensayar .El dimetro del
penetrador de acero endurecido (o bien de carburo de tungsteno) es de
10,00mm(0,394pulg).Las cargas normalizadas estn comprendidas entre 500y
3000kg en incremento de500kg:durante un ensayo ,la carga se mantiene
constante durante un tiempo especificado (entre 10 y 30s).Los materiales ms
duros requieren cargas mayores .El numero de dureza brinell.HB, es una funcin
de tanto la magnitud de la carga como del dimetro de la huella resultante (vase
la tabla 6.4).Este dimetro se mide con una lupa de pocos aumentos ,que tienen
una escala graduada en el ocular.

30

El dimetro medido entonces convertido a un nmero HB aproximado usando una


tabla; en esta tcnica solamente se utiliza una escala.
Los requerimientos de espesor de la muestra, de posicin de la huella (relativa a
los bordes de la muestra) y de separacin mnima entre huellas son los mismos
que en los ensayos Rockwell .Adems, se necesita una huella bien definida, lo
cual exige que la superficie sobre la cual se realiza la huella sea perfecta lisa.

Ensayo de micro dureza vickers y knoop


Otra dos tcnicas de ensayo son la dureza knoop y la dureza vickers (tambin a
veces denominas pirmide).En estos ensayos, un penetrador de diamante muy
pequeo y de geometra piramidal es forzado en la superficie de la muestra .Las
cargas aplicadas, mucho menores que en las tcnicas Brinell y Rockwell ,estn
comprendidas entre 1y 1000g.La marca resultante se observa al microscopio y se
mide; esta medida entonces convertidas en nmeros de dureza (tabla 6.4)es
necesario que la superficie de la muestra haya sido preparada cuidadosamente
(mediante desbaste y pulido) para poder asegurarse una huella que pueda ser
medida con exactitud.
Las durezas knoop y vickers se designan por Hk y HV, respectivamente, y las
escalas de dureza para ambas tcnicas son aproximadamente equivalente. Las
tcnicas knoop y vickers se consideran ensayos de micro dureza debido A la
magnitud de la carga y al tamao del indentador .Ambas son muy convenientes
para la medida de dureza de pequeas regiones seleccionadas en la superficie de
la muestra; adems ambas tcnicas knoop y vickers son utilizadas para el ensayo
de materiales frgiles ,tales como las cermicas.

31

Conversin de la dureza

Es muy conveniente disponer de mtodos para convertir la dureza de unas


escalas a otra .Sin embargo, puesto que la dureza no es una propiedad del
material muy bien definida ,y debido a las diferencias experimentales de cada
tcnicas , no se ha establecido un mtodo general para convertir las durezas de
una escala a otra .Los datos de conversin han sido determinados
experimentalmente y se han encontrado que son dependientes del tipo de material
y de las caractersticas .La escala de conversin ms fiable que existe es la que
corresponde a aceros .Estos dato se presentan en la figura 6.17para las durezas
de knoop y brinell y de las dos escalas de Rockwell;tambin se incluye la escala
de Mohs, como resultado de lo que se ha dicho anteriormente debe tenerse mucho
cuidado al extrapolar estos datos a otras sistemas de aleaciones
32

Correlacin entre dureza y la resistencia ala traccin

Tanto la resistencia a la traccin como la dureza son indicadores de la resistencia


de un metal a la deformacin plstica. Por consiguiente, estas propiedades son, a
grandes rasgos, proporcionales, tal como se muestra en la figura .18 para la
resistencia ala traccin en funcin de la HB en el caso de la fundicin, aceros y
latones. Tal como se indica en la figura 6.18, la relacin de proporcionalidad no es
la misma para todos los metales .Como regla general, para la mayora de los
aceros, el nmero HB y la resistencia ala traccin estn relacionados de acuerdo
con:
Ts (psi)=500Xhb

Ts (MPa) =3,45Xhb

(6.19a)

(6.19b)

Los ensayos de dureza se realizan con mucha mayor frecuencia que cualquier otro
ensayo por varias razones:

Son sencillo y baratos, y ordinariamente no es necesario preparar una muestra


especial

3.11 MQUINAS DE MEDICIN POR COORDENADAS


Las primeras maquinas de coordenadas en realidad fueron las maquinas de
trazos, que son instrumentos con tres ejes mutuamente perpendiculares a fin de
alcanzar coordenadas volumtricas en un sistema cartesiano para localizar un
punto en el espacio sobre una pieza con tres dimensiones. Se conoce que a
finales del ano 1962, la firma italiana DEA construyo la primera maquina de
medicion cerca de Turin, Italia.
Posteriormente en 1973 la compania Carl Zeiss creo una maquina, equipada con
un palpador, un ordenador y un control numerico.
Desde entonces han surgido muchas marcas y modelos de maquinas de
coordenadas, que se distinguen entre si por sus materiales de fabricacion
utilizados, software utilizado, versatilidad, alcances de medicion, etc.
La Maquina de Medicion por Coordenadas (CMM) puede ser definida como "una
maquina que emplea tres componentes moviles que se trasladan a lo largo de
guias con recorridos ortogonales, para medir una pieza por determinacion de las
coordenadas X, Y y Z de los puntos de la misma con un palpador de contacto o sin
el y sistema de medicion del desplazamiento (escala), que se encuentran en cada
uno de los ejes", figura 8.17.Como las mediciones estan representadas en el
33

sistema tridimensional, la CMM puede efectuar diferentes tipos de medicion como:


dimensional, posicional, desviaciones geometricas y mediciones de contorno.
Los procedimientos de medicin y procesamiento de datos de las CMM, poseen
una serie de caractersticas que se describen a continuacin: Primeramente se
tiene un sistema de posicionamiento que provoca que el palpador, figura 8.18,
alcance cualquier posicin en X, Y o Z; este sistema de posicionamiento puede ser
accionado a travs de unos motores, que a su vez, poseen unos codificadores
pticos rotatorios, los que producirn una seal adecuada para activar un contador
que incrementar su nmero en relacin a la posicin del eje con respecto de su
origen.

Mquina de medicin por coordenadas.

En este sistema
como en otros es de
primordial
importancia la existencia
de un origen para poder determinar la posicin.
El sistema dispondr adems de un palpador que al ser accionado, har que los
datos del contador del sistema de posicionamiento sean trabajados por la unidad
principal de la CMM y sean transformados en coordenadas X, Y y Z y adems se
apliquen las frmulas programadas para despus desplegar los datos en una
pantalla de cristal lquido.
Los softwares comerciales bsicos de CMM cuando menos, manejan los
elementos geomtricos regulares como son el punto, la lnea, el plano, el crculo,
la esfera, el cilindro y el cono.
Aplicaciones de las mquinas de medir por coordenadas
Las mquinas de medir por coordenadas (CMM) se utilizan para las siguientes
aplicaciones:
Control de la correspondencia entre un objeto fsico con sus especificaciones
tericas (expresadas en un dibujo o en un modelo matemtico) en trminos de
dimensiones, forma, posicin y actitud.
Definicin de caractersticas geomtricas dimensionales (dimensiones, forma,
posicin y actitud) de un objeto, por ejemplo un molde cuyas caractersticas
tericas son desconocidas.
Instalacin de una CMM:
Atencin al entorno

34

Los costes asociados a una mquina de medir por coordenadas van generalmente
ms all de la propia mquina. En efecto, la ubicacin de la misma y las
condiciones de su entorno deben cumplir diversos requisitos para que los
resultados de la medicin sean fiables.
Una CMM puede ser instalada en distintos ambientes de trabajo, que en mayor o
menor medida estarn bajo la influencia de los siguientes factores externos:
1. Suciedad
a. Ambientes limpios
b. Ambientes contaminados: partculas en suspensin (humedad, aceite, polvo,
otras partculas)
2. Temperatura / humedad
a. Gradientes trmicos temporales
b. Gradientes trmicos espaciales
c. Humedad relativa
3. Vibraciones
a. Frecuencia
b. Amplitud
En funcin de estas tres variables puede actuarse de distintas maneras. Una de
ellas es utilizar una mquina adecuada, pensada para que su comportamiento sea
inerte frente a alguno de estos parmetros. La otra, acondicionar el ambiente para
dejar la mquina a salvo de estos factores perturbadores.

Las arquitecturas de las CMM

La arquitectura de una CMM cambia segn una serie de parmetros, el ms


importante es el volumen de medicin. Algunos tipos de arquitectura se disearon
en un principio para controlar las mquinas manualmente. Por tanto, intentar crear
CMMs grandes con esos tipos de estructura sera imposible o ilgico, debido a
consideraciones ergonmicas y de prestaciones.
Otro aspecto muy importante es la accesibilidad a la pieza que se tiene que medir.
No seria conveniente utilizar una CMM de puente vertical para una pieza en la que
la mayor parte de caractersticas se tienen que medir en direcciones
perpendiculares al eje de Z .
Adems, la tendencia es maximizar la rigidez de la estructura reduciendo a la vez
la masa, para conseguir la mayor aceleracin (y deceleracin) posible.

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Los parmetros dinmicos de la CMM se pueden malinterpretar fcilmente; por


tanto es muy importante mirar las cifras que expresan estos valores y saberlas
entender.
Las arquitecturas mas utilizadas
son las siguientes:
Cantilever con mesa fija
Puente mvil
Gantry
Puente en forma de L

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Puente fijo
Cantilever con mesa mvil
Columna
Brazo mvil, brazo horizontal
Mesa fija brazo horizontal
Brazo articulado

Todos estos tipos de arquitecturas no tienen la misma difusin, por varias razones,
por ejemplo, algunas son adecuadas para CMMs de grandes dimensiones y por
tanto, que no se usan con tanta frecuencia. Otras, simplemente no aportan
ninguna ventaja comparado con arquitecturas que son ms fciles y baratas de
producir. Por tanto, slo se describen las que tienen una mayor difusin en la
industria.
A continuacin se describen las arquitecturas de CMM ms utilizadas, el lector que
desee tener una visin general sobre ese tema puede consultar la publicacin ISO
10360-1.

Cantilever con mesa fija


Es un tipo de arquitectura que actualmente no se usa mucho y que en un principio
se aplic a CMMs manuales. Ese tipo de arquitectura se describe en la ISO
10360-1 del siguiente modo: Es una CMM que utiliza tres componentes que se
mueven por guas de forma perpendicular entre ellos, el sensor se encuentra en el
primer componente, que se mueve de forma vertical en relacin con el segundo.
La combinacin del primer componente con el segundo se mueve horizontalmente
al tercero. El tercer componente est agarrado slo por un extremo. Cantilever se
mueve horizontalmente respecto a la base de la mquina donde se encuentra la
pieza.
Se ha de tener en cuenta (y eso servir para todo el artculo) que ISO incluye la
siguiente nota a todos los tipos de arquitectura: Las direcciones que se indican
son a modo de informacin. Existen otros modos.
El movimiento de los ejes de una CMM cantilever manual se consigue cogiendo la
punta y a traves de ella mover los ejes de la maquina a la posicion que se desee.
Como todas las maquinas de medicion por coordenadas manuales, incluso las que
se basan en el tipo de arquitectura en cuestion, dependen en gran medida de la
habilidad del operario, sin embargo, un operario que haya recibido la formacion
necesaria puede alcanzar un nivel de medicion muy bueno y repetible.
Sin embargo, trabajar con la punta para acelerar y decelerar la masa de las partes
moviles de la maquina puede llevar a la deflexion de la propia maquina. Eso puede
cambiar las caractersticas metrologicas del sistema.
Puente mvil
Se trata sin lugar a dudas del tipo de CMMs mas utilizadas. Se ha perfeccionado
con el paso de los aos. Esta arquitectura ha permitido alcanzar un equilibrio
perfecto entre la perfeccion estructural y la eficiencia funcional.

Conclusin
La metrologa es una rama de las ciencias muy importante ya que no solo
nos ayuda a saber entender si no a saber utilizar sus distintos aparatos por
lo que comprender, aplicar y demostrarlo es muy importante para
desarrollar las competencias instrumentales que requerimos para nuestro
futuro de profesionistas y en esta unidad hemos aprendido acerca de la
metrologa ptica e instrumental bsica, lo que desde el inicio nos aborda
en temas importantes y que van de la mano con los siguientes, de tal modo
que en una totalidad podamos alcanzar toda la unidad y sus competencias
a seguir .

Dentro de esta unidad se mencionan aparatos de medicin con los que ya


habamos trabajado anteriormente al igual que con mtodos nuevos y sus
desventajas y ventajas.

Para concluir, de esta unidad me llevo como experiencia que la mayora de


los objetos utilizados caben en el rango de metrologa ptica o instrumentos
bsicos, un espejo, una computadora y el celular son algunos de los que
rescato trabajando con los mtodos anteriores, lo que nos apega aun ms a
esta importante ciencia

BIBLIOGRAFIA
Groover Mikell P., FUNDAMENTOS DE MANUFACTURA MODERNA, Edit.
Pearson/ Prentice Hall, 1ra Ed. 1997, 1062 Pg. Libro: 1024,1025.
Metrologa. Autor: Carlos Gonzlez Gonzlez, Ramn Zeleny Vzquez,
Editorial Mc Graw Hill