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A Metalografia Quantitativa Automtica de Aos

Resumo
Atravs do emprego de diferentes equipamentos e aliado a modernas tcnicas, pode-se
analisar pequenas e microscpicas estruturas.
O aprimoramento das tcnicas de caracterizao microestrutural necessrio, pois o
desenvolvimento de bons produtos requer, cada vez mais, o real domnio das relaes
entre os parmetros dos seus processos de obteno e suas caractersticas
microestruturais.
A metalografia quantitativa vem sendo beneficiada pelas tcnicas de processamento
digital de imagens, no que se refere a medies como, tamanho de gro, frao
volumtrica de fases e microdureza, devido a um considervel aumento na confiabilidade
estatstica dos resultados e na velocidade de anlise.

Introduo
O conhecimento da composio microestrutural de um material de fundamental
importncia nas suas propriedades mecnicas. A quantificao dessas microestruturas
permite um melhor controle de qualidade do material.
Atualmente com a possibilidade da utilizao de uma placa de digitalizao targa
adaptada a um microcomputador e com o programa exclusivo do analizador de imagem
que se processa em ambiente Windows, obtm-se as quantificaes das microestruturas
com preciso e rapidez.
Uma imagem torna visvel para o olho humano tal como uma srie contnua de
brilho e cor. Basicamente, o procedimento para a anlise de imagens realiza
transformaes sobre trs tipos de imagem : a) imagem de vdeo, que um conjunto de
sinais eletrnicos; b) imagem digitalizada, que uma traduo padronizada e congelada da
imagem de vdeo ou analgica; c) imagem binria, a partir da qual a informao desejada
poder ser extrada.
Quando uma imagem digitalizada esta convertida em valores numricos, isto ,
transformada em um padro de elemento de imagem, ou pixel. Cada pixel tem um valor
numrico correspondente a sua posio, brilho e/ou cor. Usando esses valores, a imagem
pode ser medida e analisada matematicamente, modificada e armazenada como um arquivo
de imagem. O processo baseado em modificaes da localizao do pixel e brilho.
A passagem da imagem digitalizada para imagem binria se faz atravs de uma
discriminao : os valores dos pixels, que podem variar de 0 a 255, so reduzidos para dois
nicos valores : ( 0 e 1 ou preto e branco ). Esta resduo feita atravs de algortimos de
segmentao. Geralmente, as regies brancas correspondem aos objetos e as regies pretas
ao fundo, podendo ser tambm o inverso.
Metalografia Quantitativa
A metalografia quantitativa uma ferramenta extremamente til no estudo de
fenmenos metalrgicos, gerando informaes que eventualmente podem embasar o
correto dimensionamento de processos industriais. A seguir, alguns exemplos da aplicao
desta tcnica no estudo de fenmenos metalrgicos.

recristalizao e crescimento de gro: determinao do tamanho e da superfcie


especfica dos gros cristalizados, bem como medida da frao recristalizada, aps
laminao a quente ou tratamento trmico;
precipitao: determinao de frao volumtrica, tamanho e grau de disperso dos
precipitados;
transformao de fases: determinao de frao volumtrica e dureza de fases como
auxlio na determinao de diagramas TRC ou aps a laminao a quente de aos
bifsicos;
solidificao: determinao da morfologia da grafita e da microestrutura dos ferros
fundidos em termos gerais.
Quanto caracterizao da microestrutura e sua correlao com as propriedades
mecnicas, h mais de uma dcada esto sendo feitos estudos sistemticos, particularmente
no aso dos aos. Tais trabalhos so de fundamental importncia, pois no s a dureza e as
fraes das fases presentes na microestrutura definem a resistncia mecnica e a dutilidade
do material: a morfologia ou formato das fases, bem como a natureza e a densidade dos
contornos presentes podem atuar de maneira fundamental. Dentro desta linha de pesquisa
h estudos voltados para diversos tipos de aos:
microligados: relao entre resistncia mecnica, dutilidade e propriedades de impacto
em funo do tamanho de gro ferrtico e frao volumtrica de perlita;
bifsico dual phase: caracterizao topolgica da microestrutura dual; relaes
estatsticas entre as propriedades mecnicas e o tamanho de gro e frao volumtrica
das fases; modelamento matemtico da microestrutura e propriedades mecnicas;
relaes estatsticas entre o espaamento da segunda fase e sua frao em volume como
o coeficiente de encruamento do material;
incluses no metlicas: determinao do grau de limpeza do ao, caracterizando a
frao em volume e a morfologia das incluses no metlicas xidos, sulfetos,
nitretos que ele possas conter.
Descrio dos Programas
Os projetos sempre estipulam que as amostras devem ser analisadas em termos de:
- tamanho de gro da microestrutura
- frao volumtrica fase
- dureza Vickers ( global ou de fases discretas );
Normalmente a microestrutura varia estatisticamente de um ponto a outro da
amostra que est sendo analisada. Logo, para que o valor final do parmetro em estudo
tenha significado estatstico, necessrio que ele seja calculado a partir da mdia de um
nmero mnimo de observaes ou campos metalogrficos - , o qual funo grau de
flutuao estatstica das medidas na microestrutura e da preciso desejada. A necessidade
de clculos estatsticos motivou o desenvolvimento dos programas para microcomputador
para o clculo dos parmetros acima e de sua anlise estatstica a partir de um nmero
relativamente grande de campos metalogrficos - o qual variou normalmente entre 20 e
130.
Tais programas permitem entrada flexvel dos dados (via teclado e/ou arquivo em
disco flexvel, com recursos de supresso da dados errados e insero de novos dados via
teclado e/ou arquivo), sua listagem em monitor ou impressora e seu armazenamento em
disco flexvel. Como resultado estes programas calculam o respectivo parmetro de
metalografia quantitativa juntamente com sua anlise estatstica, que consiste no clculo de
sua mdia, desvio padro, nmero de medidas necessrio para se alcanar preciso de 1,

3 e 5%, a preciso percentual efetivamente obtida, preciso da mdia e sua faixa de


variao. O relatrio de resultados pode ser visto no monitor ou impresso.
Tamanho de gro da microestrutura A determinao do tamanho feita atravs da
sobreposio de uma linha-teste sobre a imagem da microestrutura em estudo e contandose o nmero de intersees dos contornos de gro da microestrutura com ela. Essa linhateste pode ser um segmento de reta ou um crculo, com comprimento conhecido.
Recomenda-se o uso de crculos quando se quer evitar o efeito da orientao preferencial
dos gros, minimizando-se desta forma o erro estatstico produzido.
Frao Volumtrica A determinao da frao volumtrica de uma fase particular
presente na microestrutura feita atravs da aplicao de uma rede sobre a imagem da
microestrutura, e contando-se o nmero de pontos coincidentes entre a rede e a fase em
estudo. Essa contagem pode ser feita em fotos ou diretamente no microscpio. A frao
volumtrica da fase calculada a partir da mdia do quociente do nmero de pontos total
da rede a partir das diversas medidas efetuadas.
Dureza Vickers Como se sabe, o ensaio de dureza Vickers consiste em se aplicar, sob
uma carga preestabelecida, um penetrador piramidal sobre a superfcie polida do material
em estudo. A impresso, assim, tem o aspecto de uma pirmide, e o valor de dureza
calculado a partir da mdia das duas diagonais de sua base, que forma um losango regular.
Essas diagonais so medidas atravs de uma ocular presente na mquina de dureza.
A magnitude da carga a ser aplicada no ensaio funo da dureza do material em
estudo, gerando uma impresso regular, sem deformao e com tamanho adequado para
medio atravs da ocular da mquina. Obviamente, para um mesmo material, quanto
maior o valor da carga maior ser a impresso produzida. A seleo do valor de carga
permite ainda a medio da dureza de fases discretas da microestrutura, que devem ser
reveladas previamente atravs de polimento e ataque metalogrfico. Neste caso, o valor da
carga tem de ser pequeno 25 a 50g, ou at menos. A dureza assim medida representa um
grande auxlio na identificao de fases ou dos mecanismos metalrgicos que a geraram. O
programa requer os seguintes dados: carga utilizada, e para cada ensaio, o tamanho das
duas diagonais da impresso.
Clculo e Levantamento dos Parmetros de Metalografia Quantitativa
a) Tamanho de Gro e Frao Volumtrica de Fases Para a determinao de parmetros e
implementao destes ao sistema, utiliza-se basicamente os conceitos de anlise pontual e
anlise do nmero de configuraes com respectivas equaes.
! Anlise Pontual : Onde o elemento geomtrico usado para quantificar o ponto e seu
principal parmetro PP (frao pontual, ou seja nmero de pontos que caem no
interior da configurao de interesse, em relao ao nmero total de pontos de ensaio).
comum utilizar-se grelhas ou reticulados para a contagem de pontos quando se deseja
determinar a frao volumtrica de determinadas fases em materiais. Esta (VV), guarda
estreita relao com a frao pontual, pois VV = PP .
! Anlise do Nmero de Configuraes : Onde determina-se o nmero de configuraes
interseccionadas por uma linha ou rea de ensaio determinadas, podendo-se extrapolar
para o clculo de configuraes por unidade de volume, atravs dos parmetros de NL e

L 3 . Estes parmetros so ento relacionados pelas seguintes equaes :


Nmero de Configuraes por Unidade de Comprimento da Linha de Ensaio, NL

determinada pela contagem do nmero de configuraes cortadas (NC) por uma


linha de ensaio (L), sobreposta ao campo mais o nmero de configuraes que caem nos
extremos (Ni).
NL = (NC + Ni) / L (mm-1)
Este tipo de anlise bastante utilizado quando se deseja determinar reas mdias
de uma segunda fase, podendo-se obter tambm o tamanho mdio de gros de materiais
monofsicos. Para tal, conta-se o nmero de pontos de intersees das configuraes da
fase em questo com a linha de ensaio, alm das interfaces destas com a outra fase, que
tambm sejam cortadas pela linha. Estes valores so quantificados pela equao :
NL = {(2PL) + (PL)} / 2 (mm-1)
Onde NL corresponde ao nmero de configuraes por unidade de comprimento da
fase de interesse, PL o nmero de pontos de interseo da linha com a fase de interesse e
PL o nmero de pontos de interseo da linha de ensaio com as interfaces das duas fases.
Se as partculas estiverem todas separadas, teremos PL = 0. Da mesma forma,
para materiais monofsicos, PL = 0 e PL = NL , ou seja, o espao todo ocupado por gros
ou clulas.
Para obter-se ento, medidas referentes a tamanho mdios de partculas/gros,
utiliza-se, em conjunto com a equao acima, a equao descrita a seguir :

L 3 = d = VV / NL (cm)

onde L 3 se caracteriza como o tamanho mdio dos gros ou partculas da fase a qual se
deseja estudar, em centmetros, que tambm corresponde ao dimetro mdio destes, d ,
obtidos a partir da frao volumtrica da fase em questo sobre o nmero de configuraes
por unidade de comprimento da linha de ensaio. Para materiais monofsicos, em que VV
assume o valor de 1, a equao se resume a :

L 3 = d = 1 / NL (cm)
O valor de d, pode tambm ser obtido por :
d = LT / P . M (cm)
onde LT o comprimento total da linha teste, P o nmero de intersees com contornos e
M o aumento.
Tamanho de Gro A implementao do tamanho mdio de gro tambm se realiza de
forma anloga metalografia quantitativa, seguindo a norma ASTM E 112 . Utiliza-se a
anlise do nmero de configuraes, com a sobreposio imagem de certa quantidade de
linhas. Sendo assim, efetuada uma verificao ao longo da linha a qual a reta ocupa para
determinar-se as transies entre branco e preto e vice-versa, ou seja, as intersees da reta
de medida com os aspectos a serem quantificados. Desta forma, obtm-se NL e a partir da

efetua-se facilmente a determinao de L 3 . Com isto o tamanho de gro quantificado


para materiais bifsicos e monofsicos.
A medida do tamanho de gro (G) padro ASTM utiliza-se da expresso :
TG = - 10,00 6,64 log (Ltotal / P)
Onde Ltotal o comprimento total da reta de medida em centmetros e P o nmero de
interceptos da reta com os contornos de gro. A reta de medida pode ser composta de um
nmero grande de retas menores. Estas retas podem ser geradas sob a forma de um
conjunto de retas paralelas de mesmo comprimento, horizontais ou verticais, retas
concntricas ou retas de comprimento aleatrio com distribuio tambm aleatria.

Este tipo de medida envolve uma calibrao que permita relacionar um certo
nmero de pixels com uma distncia real (1m = 1,06667 pixels para distncias na
horizontal e aumento de 50x, para um aumento de 20x, a relao pixel/m ser de 0,4228
pixel/m). Para isso utiliza-se uma micro-rgua de 1mm dividido em 100 partes cuja
imagem digitalizada em diversos aumentos. Em seguida, utiliza-se um recurso do
programa denominado corte em linha, que permite medir o nmero de pixels entre dois
pontos horizontais ou verticais quaisquer da imagem. Estas medidas fornecem os seguintes
padres : 100 m = 24 pixels na horizontal (100x) , 100 m = 30 pixels na vertical (100x)
e proporcionalmente para outros aumentos. Estes valores esto de acordo com a razo de
aspecto esperada entre distncias horizontais e verticais (0,8 0,9). Isto indica que as
distores geradas pelo sistema no so substnciais.
Frao em rea O levantamento dos parmetros para frao volumtrica realizado de
forma anloga a da metodologia utilizada em metalografia quantitativa para obteno de PP
por rede de pontos, seguindo a norma ASTM E 562 .
P / V x 100
P = mdia das fases contadas, V = nmero de ns da grade de medio
Uma grade quadrada de medida superposta imagem e as intersees entre os ns
da grade e a fase de interesse so contabilizadas. Esta rede de pontos gerada por
algortimos de imagens pode conter at 52900 pontos (230 X 230). O nmero total de
pontos da imagem (244 x 256 = 62464) no utilizado para evitar problemas adivindos de
defeitos das bordas da imagem. Esta rede colocada de forma a conhecer-se as
coordenadas dos pontos de interseo (ou ns) das retas horizontais e verticais da rede.
Com isto, realiza-se uma verificao sobre estes ns, checando-se a intensidade deste
ponto, ou seja, se este ponto possui o tom = 63 (branco), tom = 0 (preto) ou tom
intermedirio (cinza). A frao pontual ento calculada pela razo entre a quantidade de
pontos pretos, brancos ou cinza, sobre a quantidade total de pontos da rede. Como PP = VV,
obtem-se facilmente as fraes volumtricas das fases presentes. A capacidade do sistema
produzir resultados satisfatrios dentro de um intervalo de confiana, est associado ao
nvel de contraste entre as fases que se deseja medir. Aps a imagem ser digitalizada e
filtrada as fases em destaque so separadas, remapeando-se as intensidades de pixel e
ajustando-se o histograma da imagem rescalonando seus nveis de cinza, de tal forma que a
imagem fique exclusivamente em preto e branco.
b) Microdureza ASTM E 384 A microdureza a medida da dureza de formaes
microscpicas ou cristais de metais e sees extremamente delgadas. O processo consiste
em trazer a superfcie do material altamente polida e/ou atacada para baixo de uma ponta
de diamante, lapidada com preciso, em trs factas, formando entre si um ngulo slido,
reto, sendo o ponto de interseo a ponta de trabalho, sob a presso determinada de 3
gramas, para os casos comuns, e 9 gramas para materiais duros, durante um tempo de 15
segundos.
Para se obter o resultado, mede-se com preciso a largura da impresso, pelo uso de
um microscpio ptico perfeitamente calibrado. Assim se verifica que a dureza
inversamente proporcional ao quadrado da largura do corte. Matematicamente, isto
expresso pela frmula :
K = -2 . 104
na qual K representa a microdureza e a medida da largura da impresso, em microns.
A frmula multiplicada por 10 elevado quarta potncia para evitar decimais longas.
O ensaio de dureza um controle indispensvel no exame e seleo de materiais. O
mtodo de microdureza Vickers o mais usado para o estudo das fases de uma estrutura,

geralmente trabalhando com cargas que oscilam entre 0,005 a 0,2 Kg. Este mtodo est
baseado na resistncia que um material oferece penetrao de uma pirmide de diamante
de base quadrada e ngulo entre faces de 136, sob uma determinada carga. O valor da
dureza Vickers (HV) o quociente da carga aplicada F pela rea de impresso S :
HV = F / S
Para a medio da microdureza a amostra preparada colocada na platina do
microscpio, a carga de ensaio selecionada e ento aplicada sobre a rea de medio por
cerca de 10 a 30 segundos. O penetrador retirado, fazendo-se ento a medio das
diagonais da penetrao. O resultado obtido desta medio plotado na frmula seguinte
ou lido diretamente em tabelas.
HP =

2 P . sen Q
2

2 Kg / mm 2

Esta frmula pode ser ainda expressa como :


HV =

1854 x P
kg/mm 2
d2

onde :
P carga aplicada em Kg
d mdia do comprimento da diagonal em mm
Considerando o aspecto matemtico deve-se tambm computar o valor de Z , que
definido como uma diminuta aresta no maior que 1 micron localizada no vrtice da
pirmide de diamante. Quando este valor considerado, o resultado da medio da
microdureza obtida difere ligeiramente da expresso simplificada. A frmula incluindo o
valor de Z dada como :
HV =

1854 x P
Kg/mm 2
( d2 - Z2 )

onde : Z o comprimento da aresta em mcrons.

Concluso
A metalografia quantitativa automtica uma ferramenta simples e rpida que vem
se firmando cada vez mais como uma tcnica experimental de grande utilidade tanto no
estudo de fenmenos metalrgicos como na caracterizao das microestruturas e sua
correlao com as propriedades mecnicas.

Bibliografia
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Figura 1 Avaliao do Tamanho de Gro ASTM

Figura 2 Proporo de fases

Figura 3 Medio de microduraza