You are on page 1of 5

Tugas Nanoteknologi

Candra Lutfi /13015023

1. Photon Correlation Spectroscopy
Photon Correlation Spectroscopy (PCS) adalah metode pengukuran
partikel pada daerah dimensi 1 nm – 10 μm. Prinsip kerja PCS berdasarkan
Dynamic Light Scattering yaitu mengukur intensitas foton yang tersebar
setelah mengenai parikel yang bergerak mengikuti gerak brown. Prinsip ini
digunakan untuk mengkarakterisasi ukuran protein, polimer, misel,
karbohidrat, dan nanopartikel. Pada suhu konstan, metode ini hanya
memerlukan data viskositas cairan suspensi untuk memperkirakan ukuran

partikel rata-rata dan fungsi distribusinya (dan untuk fraksi volume
diperlukan data indeks bias ).

Teori PCS hanya berlaku untuk cahaya yang hanya terdispersi satu kali.
Jika menggunakan cahaya yang sudah terdispersi beberapa kali akan
menyebabkan hasil yang keliru dan salah interpretasi. Oleh karena itu PCS
membutuhkan suspensi yang sangat encer untuk menghindari disperse yang
berulang (multiple scattering). Konsentrasi partikel yang rendah membuat
metode ini peka terhadap zat pengotor dalam cairan. Jadi biasanya cairan
sangat murni dan lingkungan ruang bersih harus digunakan untuk persiapan
dan operasi.

Sumber :
Braun, Adelina, et al. "A new certified reference material for size analysis of
nanoparticles." Journal of Nanoparticle Research 14.9 (2012): 1021.
http://www.sympatec.com/EN/PCCS/PCS.html diunduh 27/04/2017

2. Atomic Force Microscopy
Atomic force microscope ini merupakan salah satu alat untuk
penggambaran, pengukuran, dan manipulasi materi pada skala nano. Cara
untuk mendapatkan informasi pada Atomic force microscope dengan meraba
permukaan dengan menggunakan sebuah alat pemeriksa mekanik yang
disebut dengan piezoelektrik. Elemen piezoelektrik ini yang memfasilitasi
perintah elektronik gerak dengan sangat akurat dan tepat sehingga

gaya casimir.1 – 10 nm . Cara Kerja AFM Gambar dari plasmid DNA hasil AFM ukuran helix 2 nm dengan lebar 15 nm. Penopang tersebut biasanya terbuat dari silikon dengan radius kelengkungan ujung mencapai bilangan nanometer. Intermittent contact/tapping mode AFM untuk probe-surface separation 0. gaya yang diukur AFM meliputi gaya kontak mekanik. gaya van der waals.5 – 2 nm 3. Atomic force microscope terdiri dari sebuah penopang (cantilever) dengan ujung yang tajam sebagai alat pemeriksa (probe) yang digunakan untuk memindai permukaan sampel. gaya magnet. Non-contact AFM untuk probe-surface separation 0. gaya antara ujung tajam pemindai dengan permukaan sampel menyebabkan pelengkungan penopang sesuai dengan hukum Hooke. gaya pelarutan. Resolusi lateralnya mencapai 1. gaya elektrostatik. Contact AFM untuk probe-surface separation kurang dari 0. Ketika ujungnya dibawa mendekati permukaan sampel. Tugas Nanoteknologi Candra Lutfi /13015023 membuatnya dapat memindai dengan presisi tinggi. Atomic force microscope juga memungkinkan menampilkan gambar dari kristal yang lunak dan permukaan polimer. gaya kapiler. dan lain-lain.5 nm sedangkan resolusi vertikalnya mencapai 0. Artinya ketelitian AFM dalam mengukur ketinggian suatu pemukaan lebih besar daripada ketelitiannya dalam mengukur panjang atau lebar.05 nm. ikatan kimia. Mode operasi AFM ada 3 yang bersesuaian dengan gaya partikel yaitu 1. Tergantung pada situasinya.5 nm 2.

. Tugas Nanoteknologi Candra Lutfi /13015023 Kegunaan AFM . kita dapat memperoleh gambaran permukaan pada skala yang sangat kecil. alat ini lebih mempermudah para ilmuwan dalam mengetahui struktur atom secara langsung. dan dengan menerapkan voltase listrik ke ujung atau sampel. . Dengan membawa ujungnya sangat dekat ke permukaan. Dalam bidang biologi yaitu untuk menyelidiki struktur. Scanning Tunneling Microscopy Scanning Tunneling Microscopy bekerja dengan memindai ujung kawat logam yang sangat tajam di atas permukaan sampel. 3. sehingga lebih mudah dalam membuat suatu reaksi kimia. alat ini dapat menjelaskan bagaimana struktur dari berbagai macam molekul. . fungsi dan spesifik sel. sehingga dapat di ubah dan di manipulasi untuk kepentingan ilmu sains. Misalnya untuk meyelidiki struktur dan fungsi hubungan antara bakteri Streptococcus mutans yang merupakan dasar aetiological pada gigi mati tulang manusia (gigi).Dalam ilmu Fisika. Dalam ilmu kimia.

Prinsip lainnya adalah efek piezoelektrik. . yang memantau arus tunneling dan mengkoordinasikan arus dan posisi ujungnya. diperlukan sebuah loop umpan balik. 4. Scanning Electron Microscope (SEM) Scanning Electron Microscope (SEM) adalah alat seperti microskop elektron yang menghasilkan gambar dari suatu sampel dengan cara memindai permukaan benda dengan pancaran elektron yang terfokuskan. Efek inilah yang memungkinkan kita untuk secara tepat memindai ujungnya dengan kontrol tingkat angstrom. Hal ini ditunjukkan secara skematis di bawah dimana tunneling berasal dari ujung ke permukaan dengan tip rastering dengan posisi piezoelektrik. Terakhir. dengan loop umpan balik mempertahankan setpoint arus untuk menghasilkan gambar 3D dari topografi elektronik. Tugas Nanoteknologi Candra Lutfi /13015023 Rangkaian kompenen STM STM didasarkan pada beberapa prinsip. Efek inilah yang memungkinkan kita untuk "melihat" permukaan. Salah satunya adalah efek mekanika kuantum dari Cara kerja STM tunneling.

Cara kerjanya adalah sampel yang ingin diketahui bentuknya di letakkan di antara dua lensa. . Pancaran electron yang terfokuskan akan mengenai permukaan benda. Electron akan berinteraksi dengan atom di permukaan lalu atom akan mengemisikan pancaran elektron lainnya yang kemudian ditangkap oleh detektor dan diinterpretasikan dalam bentuk grafik. Pancaran elektron ini dipercepat dan juga difokuskan dengan melewatkannya melalui lensa. Lalu pancaran elektron yang sudah berinteraksi ini dilewatkan melalui lensa yang bertujuan untuk memfokuskan pancaran elektron. Transmission Electron Microscopy (TEM) Transmission Electron Microscopy (TEM) adalah metode mkroskopis yang menggunakan pancaran elektron yang dilewatkan melalui sampel yang sangat tipis untuk mengetahui bentuk permukaan sampel. Pancaran elektron akan berinteraksi dengan sampel saat melalui sampel. Kemudian pancaran elektron yang terfokuskan ini dilewatkan ke sebuah lensa untuk memperbesar bayangan yang dihasilkan dari interaksi antara pancaran elektron dan sampel tipis. 5. Tugas Nanoteknologi Candra Lutfi /13015023 Cara kerjanya adalah dengan memanfaatkan sifat dualisme elektron dibuat pancaran elektron. Lensa pertama digunakan untuk menjadikan pancaran elektron menjadi vertikal lalu mengenai sampel yang sangat tipis.