Universidad Nueva Esparta 31/10/2016

Ingeniera Electrnica
Nombre: Daniel Herrera

Investigacin Libre: Sistema para test de semiconductores

Tektronix introduce el Keithley S540 Power Semiconductor Test System, un sistema

para la prueba de semiconductores de 48 pines totalmente automatizado que permite
la comprobacin a nivel de la oblea de semiconductores de potencia y estructuras de
hasta 3 kV.
Optimizado para uso con los ltimos materiales semiconductores de potencia, como
carburo de silicio y nitruro de galio, este sistema completamente integrado puede
realizar todas las pruebas de alta y baja tensin y capacitancia tras un solo toque.
Como la demanda de dispositivos semiconductores de potencia contina creciendo y
los componentes con carburo de silicio y nitruro de galio estn siendo cada vez ms
comercializados, los fabricantes adoptan el test a nivel oblea en sus procesos de
produccin para mejorar la rentabilidad.
En estos entornos, el sistema aporta un menor coste de propiedad al reducir el tiempo
de las pruebas y el espacio necesario, al mismo tiempo, alcanzar un rendimiento de
medicin de elevada tensin de grado de un laboratorio.
Para conseguir unas prestaciones a nivel produccin, el S540 puede efectuar
mediciones paramtricas hasta 48 pines sin cambiar cables ni la infraestructura de
tarjeta. Tambin puede llevar a cabo pruebas de capacitancia de transistor.
El Keithley S540 Power Semiconductor Test System, que supera los estndares de
seguridad y diagnstico de la industria, se suministra con matrices de conmutacin
para baja y alta tensin, cableado, adaptadores de tarjeta, drivers y software de test.

Bibliografa
Oate, I. (2016). Sistema para test de semiconductores. diarioelectronicohoy.
Consultado 30 October 2016, URL http://www.diarioelectronicohoy.com/sistema-test-
semiconductores/