CURS 7 CONTROL Rodica ROHAN

7 Inspecia preciziei dimensionale i a macrogeometriei suprafeelor plane

7.1 Noiuni generale

Din aceast categorie de dimensiuni fac parte lungimi, limi, nlimi, grosimi. Pentru toate
acestea, atunci cnd se analizeaz calitatea de conformitate, se iau n considerare dou aspecte:

precizia dimensional, care se refer la dimensiuni i abateri efective.
Stabilirea dimensiunilor efective se face prin metoda absolut, cu instrumente cu vernier (ubler,
micrometru), cu aparate optico-mecanice, microscoape, aparatul ABBE etc.
Msurarea abaterilor efective, prin metoda relativ, se face cu aparate comparatoare cu cadran,
traductoare fotoelectrice, traductoare cu radiaii etc.

precizia de form
L
- abaterile de la rectilinitate, caracterizeaz suprafee de lungime mare, dar nguste ( >>).
l
Abaterea de la rectilinitate (AFr) se definete ca distana maxim dintre profilul efectiv i
dreapta adiacent n limitele lungimii de referin, fig. 7.1.

Fig.7.1 Abaterea de la rectilinitate

- profil geometric sau nominal rectiliniu - profilul fr abateri, prescris n desen;

- dreapta adiacent- dreapta fr abateri, tangent spre exterior la profilul rectiliniu real;
- lungime de referin- lungime n limitele creia se determin abaterea efectiv de la rectilinitate i
se prescrie tolerana la rectilinitate;
- abaterile de la planeitate (AFp), caracterizeaz suprafee la care lungimea i limea au valori
L
relativ comparabile, ( <).
l
Abaterea de la planeitate (AFp), reprezint distana maxim dintre suprafaa efectiv i
planul adiacent, n limitele suprafeei de referin.

- suprafa efectiv- suprafa realizat i pus n eviden prin msurare

Profilele adiacente sunt materializate pe rigla de verificare, abloane, placide control, placi de
verificare din sticla.
Considernd suprafaa efectiv Sc (fig. 7. 2) situat ntre dou plane, unul de referin ABCD,
adiacent la suprafaa efectiv i altul paralel cu acesta, tangent la suprafaa efectiv n cel mai
deprtat punct M de planul adiacent, se consider c suprafaa piesei este plan dac abaterea de la
planeitate nu depete o anumit valoare admis.

1
 CURS 7 CONTROL Rodica ROHAN

Fig.7.2 Abaterea de la planeitate

7.2 Metode i mijloace de msurare i control ale abaterilor de la rectilinitate

Totdeauna msurarea abaterii la rectilinitate se face n direcie perpendicular pe dreapta

adiacent, deci pe dreapta de referin AB.
Metodele cele mai utilizate pentru msurarea abaterilor la rectilinitate sunt:
- metode de msurare cu rigla sau cu nivela, pentru lungimi de referin pn la 1600 mm;
- metode de msurare cu nivela, sau metode optice (autocolimaie, microscop, fir ntins)
pentru lungimi de referin mai mari de 1600 mm;

7.2.1 Riglele pentru verificarea rectilinitii i planeitii fac parte din categoria msurilor,
avnd forma unei bare rigide i din punct de vedere constructiv pot fi cu muchii active, cu
suprafee active sau cu unghi activ, fig. 7.3.

Fig.7.3 Rigle de verificare

Verificarea rectilinitii cu ajutorul riglelor cu muchii active, executate n clasele de precizie

0;1i 2, are la baz metoda fantei de lumin, pentru control fiind necesar expunerea muchiei active
a riglei peste muchia piesei i poziionarea acestora n dreptul unei surse de lumin, fig. 7.4.
Existena abaterii de la rectilinitate este indicat de apariia
unei fante de lumin, de grosime variabil ntre cele dou
muchii. Pentru o apreciere cantitativ a abaterii, pot fi
utilizate fante etalon, care rezult prin folosirea unor fante
de lumin folosind cale plan paralele de dimensiuni
cunoscute, se mai pot folosi, de asemenea, calibre de
interstiii (lere de grosime) cu dimensiuni de 0,02...0,5mm,
care se introduc ntre suprafeele active ale riglei i pies.
Fig.7.4 Metoda fantei de lumin

7.2.2 Msurarea abaterii de la rectilinitate cu un instrument comparator

Piesa 1 din fig.7.5, se aeaz pe placa de verificare 2 prin intermediul calelor plan-paralele egale
3. Suportul comparatorului 4 se aeaz pe rigla 5 aflat n contact cu rigla 6, cu rol de ghidare a
suportului n timpul deplasrii sale. Palpatorul comparatorului se poziioneaz perpendicular pe
muchia piesei. n punctele A i B, care delimiteaz lungimea de referin, comparatorul trebuie s
indice aceeai valoare. Prin deplasarea suportului comparatorului pe rigla 5 ntre punctele A i B, se

2
 CURS 7 CONTROL Rodica ROHAN

fac diferite msurri, diferena dintre valoarea maxim i cea minim reprezentnd abaterea de la
rectilinitate.

Fig.7.5 Msurarea abaterii de la rectilinitate cu un

instrument comparator

Avantajele metodei sunt:

- profilul efectiv se determin direct, fr calcule, deci metoda este rapid;
- msurarea se face continuu, profilul efectiv nu este poligonal i n consecin, este mai
apropiat de cel real.
Dezavantajele metodei:
- riglele de verificare pot avea abateri, deci periodic trebuie verificate;
- cnd piesa sau riglele sunt aezate pe cale apare ncovoierea, iar sgeile care apar sunt
incluse n valorile abaterilor msurate;
- precizia metodei este influenat de precizia aparatului.

7.2.3 Msurarea abaterii de la rectilinitate prin metoda colimaiei

Colimatorul i luneta permit determinarea abaterii de la rectilinitate prin compararea muchiei

efective, controlate, cu o dreapt de referin, materializat de axa optic a celor dou aparate, fig.
7.6 .
Colimatorul (fig.7.6a) este un aparat optic care proiecteaz la infinit scara gradat. Lumina
provenit de la sursa 1, trece prin condensatorul 2 i luminnd apoi placua cu reperul R1 n form de
cruce, situat n planul focal al lentilei-obiectiv 3.
Luneta (fig.7.6b) se compune din lentila-obiectiv 4, scara gradat R2 i ocularul 5, al crui
plan focal coincide cu cel n care se afl scara R2. Dreapta de referin este materializat prin
reglarea celor dou aparate, astfel nct cnd colimatorul se afl n punctele A i B (care delimiteaz
lungimea de referin), reperul R1 s se suprapun perfect peste scara gradat R2.

Fig. 7.6 Metoda colimaiei (schema de principiu)

Prin deplasarea colimatorului ntre A i B, orice denivelare a suprafeei controlate determin

nclinarea axei acestuia n raport cu dreapta de referin, imaginea lui R1 deplasndu-se fa de R2.
Pentru determinarea profilului echivalent, suportul care susine colimatorul i care este
prevzut cu suprafee de rezemare, se deplaseaz identic ca nivela, pe toat lungimea de referin, la

3
 CURS 7 CONTROL Rodica ROHAN

intervale egale, efectundu-se citiri la tamburul ocularului micrometric. Pe baza valorilor obinute se
calculeaz abaterea de la rectilinitate.

7.3 Metode i mijloace de msurare i control ale abaterilor de la planeitate

Planeitatea suprafeelor prezint o mare importan n construcia de maini, n special a

meselor, ghidajelor sau a altor elemente constructive ale mainilor-unelte.
Abaterea de la planeitate este distana maxim dintre suprafaa efectiv i planul adiacent n
limitele suprafeei de referin.

7.3.1 Controlul planeitii prin metoda urmelor de vopsea

Pentru controlul planeitii suprafeelor prin aceast metod, se utilizeaz rigle de verificare,
cu suprafee active late, sau plci de verificare, executate n cinci clase de precizie: 0, 1, 2, 3, 4.
Suprafaa riglei sau plcii de verificare se unge cu un strat subire de vopsea special (de
exemplu crom diluat n ulei fin) i i se imprim o micare longitudinal nainte i napoi, dup care
se ndeprteaz i se examineaz repartizarea petelor de contact rmase pe proeminenele suprafeei
piesei. Suprafaa plan se acoper cu un strat foarte subire de colorant (indigo, vopsea) i se aeaz
peste suprafaa de verificat astfel nct colorantul se imprim pe aceste pe poriunile cu care vine n
contact. Petele de contact dau informaii asupra punctelor tangente la planul adiacent.
Metoda este foarte des utilizat, mai ales la prelucrarea suprafeelor plane atunci cnd acestea
trebuie s aib o portana sporit. In acest caz aprecierea abaterilor de form se face prin
numrul de pete de vopsea pe suprafaa de referina de 25 x 25 mm
La o planeitate corespunztoare, petele se repartizeaz uniform pe toat suprafaa piesei, iar cu
ct numrul de pete obinute este mai mare pe un ptrat cu latura de 25 mm, cu att abaterea de la
planitate este mai mic.
Avantajele metodei sunt:
- procedeu simplu i rapid;
- la controlul pieselor grele sau de dimensiuni mari, verificarea se face n poziia de lucru a
piesei, care include i deformaiile elastice datorit greutii proprii;
- se indentific imediat locurile n care suprafaa de verificat prezint abateri sub form de
proeminene care ulterior se vor nltura prin prelucrare.
Dezavantaje:
- urmele de vopsea rmase pe pies indic precis locul unde se afl proeminene, dar nu indic
grosimea stratului de material ce trebuie ndeprtat;
- precizia verificrii este influenat n mare msur de precizia riglei (uzur, deformaii
datorate tensiunilor interne etc.);
- grosimea stratului de vopsea poate altera rezultatul verificrii: se recomand ca acesta s fie
ntre 2...10 m.

7.3.2 Verificarea planeitii cu ajutorul unui suport prevzut cu aparate de msurat

Pentru verificarea suprafeei de controlat P, fig.7.7, se utilizeaz un suport S cu dimensiuni

corespunztoare suprafeei. Suportul se sprijin pe trei puncte de reazem R1, R2, R3, iar pe suport se
aeaz aparatul de msurat M. Poziia aparatului de msurat (care poate fi de tip comparator cu
cadran, aparate pneumatice sau electrice) pe suport se poate face n oricare din variantele a,b,c
prezentate n fig. 7.7 Pentru verificarea planeitii, suportul se deplaseaz pe toat suprafaa piesei,
iar abaterile de la planitate fa de planul de referin determinat de cale trei puncte de reazem, sunt

4
 CURS 7 CONTROL Rodica ROHAN

indicate de aparatele de msurat. Dac punctele R1, R2, R3 sunt mai ndeprtate ntre ele, valorile
abaterilor indicate de aparate sunt mai apropiate de valorile n raport cu planul adiacent.

Fig.7.7 Msurarea planeitii cu ajutorul unui suport prevzut cu aparate de msurat

7.3.2 Msurarea cu ajutorul linealului cu laser

Prin utilizarea laserului n calitate de surs luminoas, domeniul de msurare al

interferometrului poate fi lrgit, iar precizia mrit.
Linealul cu laser se folosete la verificarea planeitii suprafeelor n domeniul 0,25..1000 mm,
cu valoarea diviziunii de 0,2...1 m.
Laserul L, fig.7.8 , alimentat de sursa S, emite un fascicul monocromatic foarte ngust (raza R)
paralel cu dreapta de referin ce trece prin punctele A i B ale suprafeei de verificat. De-a lungul
acestei suprafee se deplaseaz un traductor fotoelectric P, prevzut cu o diafragm de palpare D.
Abaterile de centrare X i Y ale fascicolului n diafragma D, datorate denivelrilor suprafeei M, se
citesc la aparatul indicator I.

Fig. 7.8 Schema de principiu a linealului cu laser