Professional Documents
Culture Documents
Los rayos X, descubiertos en 1895 por el fsico Alemn Wilhelm Rntgen (1845-1923), son
ondas electromagnticas de una longitud de onda muy pequea (del orden de 0.1 nm).
Con la tcnica de la rejilla de difraccin es posible determinar la longitud de onda de cualquier
onda electromagntica, si se dispone de una rejilla con un espaciamiento entre rendijas
adecuado (del orden de ). Pero sera poco probable utilizando este proceso construir una rejilla
con un espaciamiento tan pequeo. Sin embargo, el espaciamiento atmico en un slido es de
aproximadamente 0.1 nm. En 1913, el fsico Alemn Max von Laue (1879-1960) sugiri que
la organizacin normal de los tomos en un cristal pudiera funcionar como una rejilla de
difraccin tridimensional para los rayos X. Experimentos consecutivos confirmaron esta
prediccin. (Serway, 2009)
Figura 1: Proceso de determinacin de la estructura de una molcula por cristalografa
Los rayos X son difractados por los electrones que rodean los tomos por ser su longitud de
onda del mismo orden de magnitud que el radio atmico. El haz de rayos X emergente tras esta
interaccin contiene informacin sobre la posicin y tipo de tomos encontrados en su camino.
Los cristales, gracias a su estructura peridica, dispersan elsticamente los haces de rayos X en
ciertas direcciones y los amplifican por interferencia constructiva, originando un patrn de
difraccin. Existen varios tipos de detectores especiales para observar y medir la intensidad y
posicin de los rayos X difractados, y su anlisis posterior por medios matemticos permite
obtener una representacin a escala atmica de los tomos y molculas del material estudiado.
Figura 2: Patrn Laue en cristal de Berilio Figura 3: Patrn Laue de la enzima de Rubisco
Aplicaciones
Un estudio cientfico dirigido por la NASA en noviembre del 2011, en el cual se envi un
vehculo de exploracin espacial denominado Curiosity, que aterriz en Marte en 2012 para
estudiar la superficie del planeta, fue equipado con instrumentos cientficos como un
espectrmetro de rayos X y un Instrumento de anlisis qumico y mineralgico denominado
CheMin (Chemistry and Mineralogy), el cual cuantifica y analiza la estructura de los minerales
contenidos en una muestra mediante Cristalografa de rayos X .
http://danielmarin.naukas.com/2011/11/19/curiosity-el-robot-marciano-mas-complejo-de-la-
historia/
Diseo de Frmacos
Referencias
Cristalografa de rayos X. (10 de Mayo de 2017). Wikipedia - Rayos X. Obtenido de
https://es.wikipedia.org/wiki/Cristalograf%C3%ADa_de_rayos_X
Serway, R. A. (2009). Fsica para ciencias e ingeniera con Fsica Moderna. Mexico D.F.: Cengage
Learning.