You are on page 1of 3

Management Systems  

in 2014, No 4 (16), pp 184‐186 
Production Engineering
     DOI 10.12914/MSPE‐08‐04‐2014 


Slovak University of Agriculture in Nitra  

Capability  assessment  of  the  measurement  device  is  one  of  the  methods  of  process  quality  control.  Only  in  case  the 
measurement  device  is  capable,  the  capability  of  the  measurement  and  consequently  produc on  process  can  be  as‐
sessed. This paper deals with assessment of the capability of the measuring device using indices Cg and Cgk.  

Key words: measuring device, index Cg and Cgk.  

INTRODUCTION  It  is  assumed  measurement  results  have  the  normal 

Demands on measurement accuracy are increasing con‐ distribu on [4, 9, 12]. 
stantly  together  with  demands  on  evalua on  of  quan fia‐
ble  characteris cs  of  measurement  systems.  The  highest 
requirements are put on measuring systems in automo ve 
industry  in  engineering  area.  In  prac ce  life,  frequent  use 
of devices decreases of measurement accuracy, which can 
lead  to  results  distor on.  Extensive  expenditures  in  new 
measuring  devices  or  even  longer  me  devoted  to  meas‐
urement  procedure  do  not  necessarily  guarantee  the  best 
outputs.  That  is  why  there  are  methods  for  confirming  or 
rejec ng suspicions of measurement devices capability loss.  

Measuring  devices  (means)  are  in  general  understood 
as  technical  means  needed  for  measurement  realiza on.  Fig. 1 Skewness and conformity of measurement 
Any gauge, data converter, reference material and auxiliary   
equipment necessary for measuring process realiza on can  Electronically controlled thro le body is the central con‐
be regarded as measuring device [5]. Capability of measur‐ trol element in the electronic control of engine air flow. It 
ing device tells about it func onal capability and measured  consists  of  thro le  with  electric  drive  and  posi on  sensor 
data  correctness.  This  characterizes  it  convenience  for  of the thro le. This observed product is a part of the pro‐
a ribute measurement in selected range (interval).   duc on  process  of  interna onal  (global)  organisa on,  ori‐
One of the methods of capability evalua on is measure‐ ented  to  design  and  manufacturing  of  high‐tech  systems 
ment  device  capability  assessment  using  capability  indices  and components for automo ve industry.  
Cg  and  Cgk.  These  indices  asset  the  measuring  devices  for  Following  specifica ons  where  followed  in  applica on 
skewness and repeatability. Skewness expresses the differ‐ of the method: 
ence between agreed reference value and average value of   30 measurements of the measurement standard, 
the  test  results  (Fig.  1).  The  measurement  repeatability   measurement realised by one person, 
expresses  the  conformity  ghtness  between  subsequent   one measuring device used, 
measurement results achieved at the same measuring con‐  the same measuring procedure used, 
di ons [6].    the same condi ons kept when measuring,  
This procedure of capability assessment is used in case   measurements realised in the short  me frame. 
of  measuring  devices  where  the  device  operator  cannot  Repeatability index cg of the observed measuring device 
affect  the  results.  It  is  based  on  repeated  product,  meas‐ is calculated using formula 
urement  standard  measurement,  with  reference  value  be‐
0 .2  T (1) 
ing  in  the  middle  of  measured  dimension  allowance.  The  Cg 

measurement  is  done  by  one  person  (operator)  with  one  6  sg

measuring  device  using  the  same  procedure  in  rela vely  where:  n n
short  me frame; 50 repeated measurement (minimum 25) 
is recommended. Stable condi ons have to be kept.  sg =
n 1 i 1
(xi  x g )2 x  
  g n

i 0
x i (2) 
Management Systems in Produc on Engineering 4(16)/2014                                                                                                            185                   
P. POLÁK, R. DRLIČKA, J. ŽITŇANSKÝ ‐ Capability assessment of measuring equipment using sta s c method 
where:  K is chosen tolerance percentage (for instance according 
xi     measured value i,   to  BOSCH  methodology  the  K  =  20,  according  to  FORD 
n    number of measurements,   methodology K = 15). 
xg mean of measured values, 
sg   corrected sample standard devia on,   RESULTS 
T    measured dimension allowance [1, 4, 7, 10].  The measurement was realised in produc on facility of 
      T = HMR – DMR        (3)  the  manufacturer  at  the  ambient  temperature  22°C.  The 
where:  aim  of  the  measurement  was  to  verify  the  measuring  de‐
HMR – upper dimension limit (USL),  vice capability. The 30 repe ons of the chosen dimension 
DMR – lower dimension limit (LSL).  were  realised.  Measured  values  and  basic  numerical  char‐
Skewness  and  repeatability  index  Cgk  of  the  measuring  acteris c  xg  and  sg are presented  in table 1.  The  tolerance 
device is calculated using formula:  value is set in organisa on as 0.05 mm (USL = 40.025 mm, 
LSL = 39.975 mm). 
0 .1  T  x g  x r Repeatability  index  Cg  of  the  measuring  device  can  be 
C gk  (4)  computed as: 
3  sg
  0.2  T 0.2  0.05
Cg    2.53
xr being the reference value chosen in the middle of meas‐   6  sg 6  0.00066
ured dimension range [1, 4, 7, 10].    
These  indices  indicate  whether  the  result  of  measure‐ The  accuracy  and  repeatability  index  of  the  measuring 
ment  of  the  measurement  standard  falls  with  probability  device is expressed according to formula: 
99.73%  into  selected  tolerance  range  of  the  device  set  as 
20% of tolerance width of measured dimension. The Cg in‐ 0.1  T  x g  xr 0.1  0.05  40.003  40.000
dex value takes into account the measurement conformity,  C gk    2.37
3  sg 3  0.00066
cgk  value  the conformity  as well  as  systema c  error  of  the 
measuring  process  from  the  reference  value  set  by  the  Repeatability  %R  and  accuracy  and  repeatability  %A&R 
standard. It results from the defini on that Cg ≥ Cgk.  indices are used in internal documents of the organisa on 
When Cg ≥ 1.33 and at the same  me Cgk ≥ 1.33 is valid  [11], according to following formulas and condi ons: 
(for T ≥ 50 µm), the measuring device is suitable and can be          
used in manufacturing process. Sa sfying condi ons Cg ≥ 1       % R      requiring the fulfilment 
and at the same  me Cgk ≥ 1 is sufficient in case of T < 50    Cg
µm.         of the condi on %R ≤ 15,        (6)  
If the condi ons are not fulfilled measuring device can‐  
not  be  used  in  manufacturing  process  and  correc ve  ac‐     % A  & R    requiring the fulfilment 
ons  are  necessary  (device  repair,  design  change  of  the        C gk
measuring device, training of the operators and other).        of the condi on 0 ≤ %A&R ≤ 15      (7)  
The indices Cg and Cgk can be calculated using formulas  Rela on  between  repeatability  %R  and  accuracy  and 
(1, 2, 3, 4, 5):  repeatability %A&R calcula on is %R %A&R (Fig. 2). 
In our case: 
T  T  xg  xr  
Cg  100 Cgk  200 (5)    20 20
6  sg 3  sg %R   7 . 905  15 % A & R   8.439  15
  Cg C gk
Table 1 
Measured values  

Measured values (mm); 
Measur nr. 
reference value 40000 mm 
1 – 8  40.0005  40.0004  40.0001  40.0011  39.9999  40.0003  39.9998  40.0009 
9 – 16  39.9988  40.0009  39.9999  40.0001  40.0002  39.9999  40.0013  40.0011 
17 – 24  39.9996  40.0012  40.0001  40.0004  40.0006  40.0012  39.9988  40.0009 
25 – 30  40.0001  39.9998  40.0011  39.9999  40.0009  39.9999       
   n = 30  T = 0.05  x      = 40.0003 
g Sg = 0.00066 

Fig. 2 Behaviour of the measured values devia on  

186                                                                                                             Management Systems in Produc on Engineering 4(16)/2014                              
P. POLÁK, R. DRLIČKA, J. ŽITŇANSKÝ ‐ Capability assessment of measuring equipment using sta s c method 

Fig. 3 Behaviour of the measured values devia on  

Bacause  both  condi ons  are  fulfilled  (Cg  ≥  1.33  and  at  [2]  J.  Fabian.  Sta s cké  metody  řízení  jakos .  Česká 
the same  me Cgk ≥ 1.33, as well as equivalent condi ons  společnosť pro jakost. Praha, p. 390. 
%R  ≤  15,  0  ≤ %A&R  ≤  15  and  %R  ≤  %A&R),  the  measuring  [3]  S.  Gasparin,  G.  Tosello,  H.  N.  Hansen,  A.  Islam. 
device  can  be  qualified  as  capable  and  it  can  be  used  in  „Quality control and process capability assessment for 
manufacturing process.  injec on‐moulded  micro  mechanical  parts.“  Internet: 
So ware  product  MINITAB  was  used  for  check  of  the  h p://
calculated  results  and  the  capability  assessment  output  is  2Fs00170‐012‐4407‐6.pdf, 2013 
depicted in the Figure 3.  [4]  J.  Hrubec.  „Spôsobilosť  meradiel.“  Internet:  h p://, 2010. 
CONCLUSION  [5]  R.  Palenčár,  D.  Hofmann,    P.  Reghen,  M.  Halaj. 
Demands  on  measurement  accuracy  are  s ll  growing,  „Meracie  prostriedky.“  Internet:  h p://www.kam. 
increasing  demands  and  requirements  on  measuring 
devices.  Capablity  assesment  of  the  measuring  device  is  04s.pdf, 2010. 
process, presen ng important element of con nual quality  [6]  J. Pernikař. „Hodnocení zpúsobilos  kontrolních 
improvement, because of the decision in quality control are  prostredkú.“ Internet: h p:// 
based  usually  on  checking  and  measurement.  The  goal  of  INFO/31_Pernikar_VUTBR.pdf, 2005. 
the  assesment  wa  to  prove  the  device  is  capable  and  [7]  R.  Shojaei.  „Sta s cal  Measurement  system  analysis 
suitable  for  measurement  of  the  observed  quality  sign.  It  of  Ruston  TA1750  Gas  Turbine  1st  Stage  Nozzle.“  
provides  the  chance  to  inden fy  problems  in  the  ini al  Advances  in  Mathema cal  and  Computa onal 
phase  of  the  manufacturing  process  and  helps  to  assure  methods.  Internet:  h p://‐library/
meet  the  quality  requirements.  The  method  of  the  conferences/2010/Faro/MACMESE/MACMESE‐03.pdf, 
measuring  device  assesmsent  described  here  is  used  in  2010. 
complex  monitoring  of  capability  of  manufacuring  [8]  Technical  Support  Document.  Ra onale  and 
processes  and  in  periodical  assesment  of  capability  of  the  Methodology for the Type 1 Gage Study. 
measuring  systems  as  the  part  of  metrological  [9]  K.  Avodová.  „Posúdenie  spôsobilos   meradla.“  Acta 
management and control.  Faculta s Technicae, XVI, Zvolen, pp. 143‐151, 2011. 
[10]  L.  Wisweh,  M.  Sandau.  2011.  „Quality  evalua on  of 
ACNOWLEDGEMNETS  measurement  Instruments.“  Internet:  h p://home. 
The work described in this paper was supported by the‐procfiles‐for‐web/
KEGA project n. 035SPU‐4/2014 „Interga on of the  congresses/WC‐16th‐Wien‐2000/Papers/Topic%2025/
innova ve trends of metal cu ng, metrology and quality  Wisweh.PDF. 
management into university study“.  [11]  Interná Dokumentácia Organizácie. Smernica MSA. 
[12]  M.  Prístavka,  M.  Korenko,  M.  Bujna.  „Šta s cké 
REFERENCES  metódy  v  riadení  kvality,“  in  Kvalita  a  spoľahlivosť 
[1]  E. Dietrich, 2007. „Fähigkeitsnachweis von  technických  systémov,  Zborník  vedeckých  prác  2011. 
Messsystemen“. Internet: h p://  Nitra: SPU v Nitre, 2011. 
fileadmin/files2/qdasguidelinemsa/ Lei aden_v 

Ing. Pavel Polák, PhD., 
Ing. Róbert Drlička, PhD., 
Ing. Ján Žitňanský, PhD. 
Slovak University of Agriculture in Nitra 
Faculty of Engineering 
Department of Quality and Engineering Technologies 
Tr. A. Hlinku 2, 949 76 Nitra, SLOVAKIA 
tel.: +421 37 641 4104,