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RELACIÓN D LOS DISPOSITIVOS V-I DE LOS DISPOSITIVOS LINEALES

I. OBJETIVO:
Analizar y verificar experimentalmente la relación de v e i en circuito L, C, R-L, R-C, R-C-L.

II. MATERIALES, EQUIPOS E INSTRUMENTOS:
Un autotransformador

Una reactancia inductiva

Una resistencia de cerámica

Un condensador de C.A.

Una pinza amperimetrica

Un Multitester digital

Un panel de prueba

III. PROCEDIMIENTO:
1. Identificar y reconocer características de la bobina al ser utilizada

2. Armar el circuito de la fig. 01.

3. Medir los valores de V e I, calcular XL.

4. Variar el valor de la fuente y medir I, (diez valores), tabla 01.

N° 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
VL 0.16 0.37 0.58 0.79 0.98 119 140 162 182 222
I 0.06 0.09 0.14 0.18 0.20 0.28 0.33 0.39 0.45 0.58

20 0.05 1.59 0.22 1. 7. Armar el circuito fig. Armar el circuito fig. (diez valores).23 I 0.38 8.60 0.79 1.28 1. Variar el valor de la fuente y medir I. N° 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 VC 0.81 1.43 1.01 1. 03 . calcular XL.96 2.63 1.50 1.5.20 0. tabla 02.85 2.36 0.75 1. 02 6.37 0. Medir los valores de V e I.

06 24. Medir los valores de I.333 3.1 41.3 99.8 133. (diez valores). Variar el valor de la fuente y medir I.8 0. V.4 0.3 0.5 127.3 21. VL .045 18.9.5 39. calcular Z.5 . VR y VL. 10. tabla 03 VT I VL VR 21.8 104.383 6.9 0.3 0.5 76.317 13 73. VR.

04 12.11.1 12.3 18.1 0.7 13.1 0.077 7.1 26.6 39.9 7.8 0. V. VR .04 3.3 8.1 9.4 35.7 0.2 14. calcular Z. (diez valores).5 0. VR y VC.9 . Armar el circuito fig. Variar el valor de la fuente y medir I. VC.8 0.147 13.3 29.065 6.6 20.197 17. 13. Medir los valores de I. tabla 04 VT I VC VR 16.

1 68.172 30. tabla 05 VT I VR VC VL 9.3 30.9 2.043 8. VL (diez valores).217 4.2 35.9 32 6. 05 15. 16.14.6 19.6 83. Armar el circuito R-L-C de la fig.07 13.7 . VR y VC.2 15.2 79.8 0.3 18. VL. V.0 52.3 17.2 0.8 11. VC.2 65.6 0.6 0.157 28.133 24.4 0.8 72.9 53.4 14.4 4.6 9. calcular Z.6 0.5 0. Variar el valor de la fuente y medir I. VR .9 63. Medir los valores de I.

8 9.87.9 0.7 .227 39.5 92.