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O maior problema em migrar para uma tecnologia de fabricação menor – isto é, usando
transistores menores – é a corrente de fuga. Enquanto que em processadores antigos
utilizando tecnologias de fabricação maiores o problema de corrente de fuga não era tão
relevante, quando falamos de processadores com transistores muito pequenos a corrente
de fuga pode representar não apenas um grande desperdício de energia mas também
superaquecimento. Por outro lado, transistores menores significam uma maior
velocidade de chaveamento dos transistores – ou seja, maior desempenho.
Durante anos o Santo Graal na indústria dos processadores tem sido o desenvolvimento
de material dielétrico de alta constante dielétrica (“high-K”) para ser usado no gate do
transistor. Este material apresenta uma corrente de fuga muito menor se comparado a
materiais dielétricos com baixa constante dielétrica (“low-K”) como o óxido de silício.
O que a Intel anunciou na semana passada foi que eles desenvolveram tal material
(usando Háfnio, um elemento químico na mesma coluna do Zircônio e Titânio na tabela
periódica) e está usando este material em seu processo de fabricação de 45 nm. Além
disso, o eletrodo do gate foi modificado para usar metal (a Intel não disse que metal é
usado) em vez de polisilício. A combinação de um eletrodo metálico e um material
dielétrico de alta constante dielétrica (“high-K”) no gate produz uma alta corrente
quando o transistor está “ligado” e uma baixa corrente quando o transistor está
“desligado” – o que resulta em baixa corrente de fuga.
O que é interessante é que esta tecnologia já vem sendo usada há um ano – os chips de
memória RAM estática de 45 nm da Intel usam esta tecnologia, mas a Intel não
divulgou isto quando lançaram chips de memória SRAM de 45 nm.
Figura 1: Comparação entre um transistor usado nos atuais processadores da Intel e um
novo transistor de alta constante dielétrica (“high-K”).
A Intel também anunciou que continuará com seu cronograma e anunciará seu processo
de fabricação de 32 nm em 2009 e seu processo de fabricação de 22 nm em 2011.