INSTITUTO FEDERAL DO ESPRITO SANTO Campus de Nova Vencia Curso Tcnico em Minerao

Ensaios de caracterizao tecnolgicos

Sidinez Junior, ngelo, Benisom, Raphael e Joo Paulo Prof. Juliano Tessinari Zagoto

Trabalho de Integrao da Disciplina de CABM (caracterizao e aplicao de bens minerais), elaborado junto ao Curso Tcnico em Minerao do IFES Instituto Federal do Esprito Santo como requisito de avaliao.

Nova Vencia (ES)

2011

Desgaste Amsler
Permite mensurar o comportamento de uma determinada rocha para ser utilizada em revestimento de pisos. O valor obtido tem significado apenas relativo. O ensaio indica a reduo em milmetros que placas de rochas apresentam aps um percurso abrasivo de 2m. 2 corpos de prova na forma de placa de 7x7x2 cm, so pressionados sobre um disco metlico de alta dureza sobre o qual e lanada areia quartzosa. O desgaste do corpo de prova ocorre medida que o disco gira e promove o contato com os corpos de prova. Os resultados so calculados, aps 500 voltas por meio da medio da reduo de altura de corpo de prova, em mm, conforme a equao: D= H1 H2 (mm), onde H1 altura inicial e H2 altura final. A medida do desgaste particularmente importante para materiais que se destinam a revestimento de interiores, pisos e degraus de escadas, uma vez que procura simular em laboratrio a solicitao por abraso, devido ao trfego de pessoas ou veculos. O valor obtido tem significado relativo, permitindo apenas comparar os diversos materiais ensaiados. A resistncia ao desgaste ou abraso um reflexo da granulometria, dureza e estado de agregao dos minerais das rochas. Os materiais de baixo ndice de desgaste so, geralmente, empregados em pisos, locais de alto trfego, como estaes ferrovirias, de Metr, shoppings e aeroportos.

Lupa eletrnica
A microscopia eletrnica de varredura consiste em uma tcnica de inspeo bastante flexvel, que utiliza um feixe de eltrons incidindo sobre a amostra ao invs de luz, como ocorre nos microscpios pticos. Tal caracterstica permite a visualizao da amostra em imagens com aspecto tridimensional, devido ampla profundidade de foco. Alm disso, com microscopia eletrnica h possibilidade de alcance de ampliaes bem mais elevadas do que as tcnicas pticas. O princpio de funcionamento do MEV consiste na emisso de feixes de eltrons por um filamento capilar de tungstnio, mediante a aplicao de uma diferena de potencial que pode variar de 0,5 a 30 KV. Essa variao de voltagem permite a variao da acelerao dos eltrons, e tambm provoca o aquecimento do filamento. A parte positiva em relao ao filamento do microscpio atrai fortemente os eltrons gerados, resultando numa acelerao em direo ao eletrodo positivo. A correo do percurso dos feixes realizada pelas lentes condensadoras que alinham os feixes em direo abertura da objetiva. A objetiva ajusta o foco dos feixes de eltrons antes dos eltrons atingirem a amostra analisada. A microscopia eletrnica de varredura (Scanning Electron Microscopy-SEM) tem sido amplamente empregada na caracterizao de minrios. Sua grande vantagem consiste na observao direta de bordas ou contornos de gros e, tambm, em sees polidas, e na caracterizao de porosidade inter e intragranular. Bordas de gros so locais onde se concentram um grande nmero de defeitos cristalinos. Nessas regies esto presentes grandes nmeros de poros e estruturas resultantes da atuao de diversos processos no agregado policristalino, incluindo diagnese e processos resultantes da exposio do minrio aos agentes atmosfricos. Determinar as feies, atribuindo-as a cada processo especfico, ou seja, caracterizar as microestruturas e identificar seus mecanismos formadores um passo fundamental para se conhecer um determinado minrio, bem como prever seu comportamento nas diversas etapas do seu beneficiamento e processamento industrial.