CAPITULO III

ADQUISICIN DE DATOS Y PROCESAMIENTO DE SEALES

3.1 TRANSDUCTORES.
El ser humano posee la sensibilidad de percibir condiciones del entorno que lo rodea como temperatura, cantidad de luz, formas, etc., a travs de los diferentes sentidos, pero esta percepcin esta limitada por ser cualitativa, cuando se requiere una apreciacin cuantitativa los elementos llamados sensores son los garantes de esta apreciacin, pudiendo ser este un elemento elctrico, mecnico o qumico, el cual es capaz de convertir una caracterstica del entorno fsico en una medida cuantitativa, cada sensor se basa en un principio de transduccin: conversin de energa de una forma en otra. Entonces se puede llevar una seal fsica, a una representacin elctrica interpretable por un sistema elctrico electrnico, a travs de los llamados transductores. Un buen transductor no debe agregar falsos componentes a la seal, y debera producir seales uniformes en todo el rango de frecuencias que nos interesa.

Figura 3.1, Posicin de los transductores Fuente: Los autores

Para el desarrollo del proyecto la adquisicin de las seales de vibracin, velocidad y corriente, sern implementados los siguientes sensores:

 Acelermetro. Tacmetro. Sensor de corriente. Sensor del voltaje. Estas seales sern llevadas a un CAS (circuito acondicionador de seal) para su acondicionamiento de manera que puedan ser digitalizadas por la tarjeta de adquisicin de datos y subidas al computador para su anlisis.

Figura 3.2. Esquema del equipo Fuente: Los autores

3.1.1 ACELERMETRO. La medicin de aceleracin es importante en varias situaciones que involucran sistemas mecnicos. Entre ello las vibraciones. La medicin de vibraciones es til tanto para evaluar los esfuerzos que se producen en diferentes mquinas y su efecto, incluso para rastrear el origen de diversos tipos de ruidos.

Figura 3.3. Acelermetro. Fuente: Los autores.

3.1.1.1 REQUERIMIENTOS: El sensor debe aplicarse de manera no invasiva.

 La seal de salida deber conservar todas las caractersticas de la seal censada. La seal de salida del sensor deber poder ser acondicionada a un nivel de voltaje compatible con el sistema de adquisicin de datos. Deber poseer un ancho de banda de 0-5000 Hz.

3.1.1.2 MODELO MATEMTICO. La medicin de aceleracin puede realizarse midiendo la fuerza necesaria para acelerar un objeto de masa conocida, para lo cual a su vez bastar medir la deflexin de un resorte que sostiene a dicha masa. Figura 3.2
K

objeto vibrante

m F

Figura 3.4. Modelo fsico al cual se basa el funcionamiento de los acelermetros integrados. Fuente: Los autores

La disposicin muestra un objeto vibrante cuya aceleracin se desea medir. Sobre el mismo est montado el dispositivo de medicin formado por una masa m y un resorte con constante elstica k. Lo que se desea medir es la segunda derivada del desplazamiento del objeto vibrante, es decir x '' t

at

3.1

La dificultad de medir la aceleracin inercial directamente nos obliga a medir deformacin x (t) y y (t) del resorte. Ahora llamamos F a la fuerza aplicada por el resorte a la masa m y que es la relacin entre deformacin y la aceleracin mx ''

k x

3.2

De donde se obtiene una ecuacin diferencial que relaciona x e y x '' 3.3

ky

kx 3

Aplicamos la transformada de Laplace con las condiciones iniciales nulas tenemos:

Y s 1

X s m k

X s s
2

s
0

3.4

Donde

k m es la frecuencia natural o frecuencia de resonancia del sistema, si

hacemos X-Y: X s X s Y s 1 s
0

s
0 2

1
2 0 2

As

3.5

s
0

Donde A(s) es la transformada de la aceleracin, se puede ver que la deformacin del resorte es aproximadamente proporcional a la aceleracin, cuando
0

xt

yt

1
2 0

at

3.6

Una vez reducido el problema de medir aceleracin al de medir una deformacin geomtrica, existen varios enfoques posibles para resolverlo. Uno sera utilizar una celda de carga. Otro, aplicar el efecto piezoelctrico que exhiben algunos cristales, otro, transformar la deformacin en una variacin de capacitancia, que luego puede medirse elctricamente.

3.1.1.3 GENERALIDADES DEL ACELERMETRO. Los acelermetros son dispositivos para medir aceleracin y vibracin. Estos dispositivos convierten la aceleracin de gravedad o de movimiento, en una seal elctrica analgica proporcional a la fuerza aplicada al sistema, o mecanismo sometido a vibracin o aceleracin. Esta seal analgica indica en tiempo real, la aceleracin instantnea del objeto sobre el cual el acelermetro est montado. 4

Los acelermetros miden la aceleracin en unidades g. Un g se define como la fuerza gravitacional de la tierra aplicada sobre un objeto o persona. Los acelermetros son direccionales, esto quiere decir que slo miden aceleracin en un eje. Para monitorear aceleracin en tres dimensiones, se emplea acelermetros multiejes (ejes x, y, z) los cuales son ortogonales. La clasificacin principal de los acelermetros se constituye en dos grupos: Pasivos Activos. Los acelermetros pasivos envan la carga generada por el elemento sensor (puede ser un material piezoelctrico), y debido a que esta seal es muy pequea, estos acelermetros requieren de un amplificador externo para incrementar la seal. Los acelermetros activos incluyen circuitos internos para convertir la carga del acelermetro a una seal de voltaje, pero requieren de una fuente constante de corriente para alimentar el circuito.

3.1.1.4 PRINCIPIO DE FUNCIONAMIENTO DEL ACELERMETRO PIEZOELCTRICO. Mide la fuerza de inercia generada cuando una masa ssmica es afectada por un cambio de velocidad. Se puede considerar al acelermetro piezoelctrico como el transductor estndar para medicin de vibracin en mquinas. Se produce en varias configuraciones, pero la ilustracin del tipo a compresin sirve para describir el principio de funcionamiento. Este se basa en el principio de que cuando se comprime un retculo cristalino piezoelctrico, se produce una carga elctrica proporcional a la fuerza aplicada. Cuando una materia est sujeta a una fuerza, se genera una carga elctrica entre sus superficies.

q u

d 33 F d 33 d F e33 A electrdo grosor fuerza c arg a voltaje piezoelctricas

A rea del d F q u

d 33 , e33 cons tan tes

Figura 3.5. Elemento piezoelctrico en forma de disco. Fuente: Los autores.

Se puede apreciar en la figura 3.5 el elemento piezoelctrico tiene forma circular, este elemento puede ser de cristales de cuarzo o materiales sintticos como cermicos. El elemento sensor de un acelermetro piezoelctrico consiste en dos partes principales: Material piezoelctrico Masa ssmica El material piezoelctrico esta conectado en forma rgida a la base del sensor. La llamada masa ssmica se adjunta a la otra parte. Cuando el acelermetro es sometido a vibracin, se genera una fuerza que acta sobre el elemento piezoelctrico. De acuerdo con la ley de Newton (F=m.a) esta fuerza es igual al producto de la masa ssmica y la aceleracin. Por efecto piezoelctrico una seal de carga elctrica aparece en la salida, proporcional a la fuerza aplicada dado que la masa ssmica es constante la carga de la salida tambin es proporcional a al aceleracin de la masa.

m.a de c arg a q de voltaje

sencibilidad Bqa a sencibilidad Bua u a

Figura 3.6. Posicin de la masa ssmica. Fuente: Los autores

Como se menciono anteriormente el material piezoelctrico puede variar, siendo el cuarzo uno de los ms utilizados. Algunos materiales son capaces de funcionar a temperaturas ms altas que el Cuarzo. Si se incrementa la temperatura de un material piezoelctrico, se debe cuidar de no llegar al llamado "punto Curie" o " temperatura Curie" ya que se pierde la propiedad piezoelctrica. Una vez que esto pasa, el transductor est defectuoso y no se puede reparar. Los niveles ms bajos de aceleracin que puede detectar son determinados nicamente por el ruido del sistema electrnico y el lmite de los niveles ms altos es la destruccin del mismo elemento piezoelctrico. Este rango de niveles de aceleracin puede abarcar un rango de amplitudes de alrededor de 10, lo que es igual a 160 dB. Ningn otro transductor puede igualar esto. El acelermetro piezoelctrico es muy estable sobre largos periodos. Mantendr su calibracin si no se le maltrata. Las dos maneras de que se puede daar un acelermetro son la exposicin a un calor excesivo y la cada en una superficie dura. Si se cae de una altura de ms de 60cm, en un piso de concreto, o en una cubierta de acero, se debe volver a calibrar el acelermetro para asegurarse que el cristal no se cuarte. Una pequea cuarteadura causar una reduccin en la sensibilidad y tambin afectar de manera importante a la resonancia y a la respuesta de frecuencia. El rango de frecuencias del acelermetro es amplio y se extiende desde frecuencias muy bajas en algunas unidades hasta varias decenas de Kilo hertzios. La respuesta de alta frecuencia est limitada por la resonancia de la masa ssmica, junto con la elasticidad del piezoelemento. Esa resonancia produce un pico importante en la respuesta de la frecuencia natural del transductor y eso se sita normalmente alrededor de 30 Khz. para los acelermetros que se usan normalmente. Una regla general es que un acelermetro se puede usar alrededor de 1/3 de su frecuencia natural, figura 3.5b. Valores por encima de esta frecuencia se acentuarn debido a la respuesta resonante, pero se pueden usar si se toma en cuenta este efecto.

Fb F0 Fr

lim ite de baja frecuencia frecuencia de calibracin frecuencia de resonancia

(a)

(b)

Figura 3.7(a), 3.7(b). Rgimen de trabajo del acelermetro Fuente: Metra Mess, Teora del Piezoelctrico, www.MMF.de.

Comparados con otros tipos de transductores de aceleracin (resistivos, capacitivos, piezoresistivos, reluctancia, elemento vibrante, servo, etc.), los acelermetros piezoelctricos tienen las siguientes ventajas: Un rango de medicin bastante elevado, bajo ruido de salida Excelente linealidad en todo su rango dinmico Amplio rango de frecuencias Tamao Compacto No lleva partes movibles

3.1.1.5 CONSTRUCCIN DE LOS ACELERMETROS. Existen diversos materiales de cristales piezoelctricos, que son tiles en la construccin de acelermetros. Entre los materiales ms comunes se tiene Metaniobato cermico, Zirconato, Titanato y cristales naturales de cuarzo. La figura 3.6 muestra esquemticamente el acelermetro. Dichos elementos se encuentran comprimidos por una masa, sujeta por una tuerca y perno axial asegurada en la base y todo el conjunto dentro de una caja metlica. Este dispositivo junto con los circuitos elctricos asociados se puede usar para la medida de velocidad y desplazamiento adems de la determinacin de formas de onda y frecuencia. Una de las ventajas principales de este tipo de transductor es que se puede hacer tan pequeo que su influencia sea despreciable sobre el dispositivo vibrador. 8

Figura 3.8. Componentes internos de un acelermetro activo, cuyo efecto fsico de funcionamiento es la comprensin Fuente: Metra Mess, Teora del Piezoelctrico, www.MMF.de.

Cristales Cermicos Cristales piezoelctricos hechos por el hombre Alta sensibilidad de Salida Mas barato Baja temperatura de operacin

Cristales de Cuarzo Cristales piezoelctricos naturales Baja sensibilidad de Salida Costo Elevado Alta temperatura de operacin

Tabla 3.1 Comparacin entre cristales de cuarzo y cristales cermicos. Fuente: Los autores.

3.1.1.6 TIPOS DE ACELERMETROS PIEZOELCTRICOS. Existen tres tipos de acelermetros piezoelctricos: Por Compresin (Compresin) Por Cortante (Shear) Por Doblamiento (Bending) Lar razn para la utilizacin de diferentes sistemas piezoelctricos esta en funcin de su actitud individual para diversas tareas de medicin y sensibilidad a las diferentes influencias ambientales. ANEXO 3.1

3.1.1.7

ACONDICIONADORES DE SEAL IEPE (Integrated Electonics

Piezo Electric) ICP (Integrated Circuit Piezolectric). Como se menciono en la seccin 3.1.1.5, existen actualmente dos tipos acelermetros piezoelctricos Solo piezoelctrico el cual genera cargas elctricas en funcin de la carga fsica aplicada, este puede trabajar a una temperatura superior al ICP El ICP es el que incorpora en su encapsulado un seguidor de tensin de ganancia unidad, a ms de elementos de amplificacin. Los cuales incorporan bondades como: salida ICP (mV/g), adecuado para conexin directa a instrumentacin universal, versiones con ganancia 0.1, 1 y 10 mV/pC, Conector BNC de salida, La salida de voltaje de mximo esta determinado por el circuito electrnico interno regularmente oscila entre 4-8 voltios, con sensibilidad de 1V/g.

La mayora de los acelermetros que hoy en da se usan en la industria son del tipo ICP, lo que quiere decir que tienen un preamplificador interno de circuito integrado. Este preamplificador recibe su energa de la polarizacin de la corriente directa por el alambre de la misma seal, as que no se necesita alambrado suplementario. El acelermetro ICP tendr un lmite de baja frecuencia, debido al mismo amplificador y este se sita generalmente a 1 Hz para la mayora de las unidades disponibles comercialmente. Algunas unidades fueron diseadas especialmente para ir hasta [0, 1] Hz si se necesita datos de muy baja frecuencia. Cuando se usa un acelermetro ICP se debe tener cuidado de no exponerlo a niveles de aceleracin donde el voltaje de salida rebasara varios voltios. Si no, se sobrecargar el preamplificador interno y el resultado ser una distorsin. Cuando se conecta un acelermetro ICP a la fuente de energa, el amplificador necesita unos segundos para estabilizarse. Durante este tiempo cualquier dato que la unidad recoger ser contaminado por las lentas variaciones del voltaje. Por esa razn, los recopiladores de datos deben de tener un retraso integrado, para asegurar que la unidad est en condicin estable. Si el retraso es demasiado breve, la forma de onda de tiempo tendr una rampa de voltaje en forma exponencial superpuesta sobre los datos y en el espectro se ver una caracterstica creciente de muy baja frecuencia 10

a veces llamada bajada de esqu. Este se debe evitar, ya que compromete el rango dinmico de la medicin.

3.1.1.8 MTODOS DE MONTAJE. El mtodo de montaje del acelermetro, varia el valor de que mantiene el rango de frecuencia para el acelermetro. la frecuencia de resonancia, siendo ms til montarlo en la superficie a monitorear con tornillo, ya

Figura 3.9.Curvas modulo de vibracin Vs. Frecuencia de trabajo, a diferentes tipos de montaje. Fuente: WILCOXON,Vibration monitoring solutions at your fingertipswww.honeywell.com/sensotec

Figura 3.10. Mtodos de montaje del acelermetro Fuente: Metra Mess, Teora del Piezoelctrico, www.MMF.de

Como se trata de un acelermetro uniaxial, la toma de datos triaxiales se puede hacer mediante tres acelermetros como se muestra en la figura 3.10 (f), existen 11

acelermetros triaxiales pero por cuestiones de costo se puede efectuar el montaje mencionado siempre que se disponga de espacio (costo del acelermetro triaxial 1250 dlares, costo de un acelermetro uniaxial 185)27. El acelermetro uniaxial tambin detecta la vibracin en otro eje pero es una seal baja, es preferible colocar el acelermetro e ir tomando las seales por cada uno de los ejes X Y y Z La sensibilidad de la aceleracin del eje transversal es baja en un 5% de sensibilidad sobre el eje de trabajo.

Figura 3.11.Sensibilidad de cruce entre ejes. Fuente: Metra Mess, Teora del Piezoelctrico, www.MMF.de

3.1.1.9 MONTAJE DEL CABLE AL ACELERMETRO. Es importante el manejo de cables y conectores. En el acelermetro es comn el uso del cable coaxial y si este se expone a condiciones de doblado o tensionado pudiera ser que existieran cambios de capacitancia, en consecuencia adicionando cargas en la seal (efecto llamado triboelectric), afectando las mediciones de baja frecuencia, para ello se aconseja sujetar el cable con rines, amarras en cadena o sujetadores clips. Como se ve en la figura, 3.12, a mas de considerar que el cable de sensores con carga de salida no debe exceder los 10 m, Los conectores deben estar absolutamente limpios y libres de impurezas para reducir el ruido, Los acelermetros IEPE no necesitan cables especiales de bajo ruido, etc.

27

Costo consultado en www.omega.com

12

Figura 3.12.Mtodos de tratamientos del cable.

Fuente: Metra Mess, Teora del Piezoelctrico, www.MMF.de

3.1.1.10 CONEXIN A TIERRA DEL ACELERMETRO. Cuando se enlaza dos partes elctricamente activas, que tienen conexiones a tierra diferentes, cada una de estas partes puede diferir en el nivel de tensin (milivoltios), suficiente para afectar la lectura tomada por el acelermetro ya que se trata de una seal baja (1V/g) adicionando o sustraendo valor a la seal, figura 3.13. Se puede corregir esta anomala a partir de tres mtodos: Conectando las dos partes activas a la misma tierra (siempre y cuando la distancia no exceda 10m), figura 3.14 Aislarse elctricamente el acelermetro de la estructura a monitorear, este mtodo compromete al valor de la frecuencia natural como se vio en la seccin 3.1.1.7, considerando la figura 3.15 Utilizar acelermetros que ya estn provistos de aislamiento interno, mostrado en la figura 3.16

QUINA ATERRADA 0

Figura 3.13 La diferencia de potencial entre las masas del la maquina y el monitor distorsiona la seal

Figura 3.14 El interconectar elctricamente masas a tierra elimina la distorsin de la seal

13

Figura 3.15 El aislamiento en el montaje del acelermetro, tambin suprime la distorsin en la seal.

Figura 3.16 Existen acelermetros provistos de aislamiento interno.

Fuente: Las figuras 3.13, 3.14, 3.15 y 3.16, los autores

3.1.2 SENSOR DE VOLTAJE.

3.1.2.1 REQUERIMIENTOS: El sensor debe aplicarse de manera no invasiva La seal de salida deber conservar todas las caractersticas de la seal censada La seal de salida del sensor deber poder ser acondicionada a un nivel de voltaje compatible con el sistema de adquisicin de datos Deber poseer un ancho de banda de 0-500Hz

Tabla 3.2 Consideraciones para el sensor de voltaje: Fuente: Los Autores.

14

3.1.2.2 PARMETROS DE SELECCIN: Para la medicin del voltaje de alimentacin del motor se empleara divisores de tensin por cada una de las lneas, de esta manera podemos obtener un nivel de tensin pico menor a 10 voltios, magnitud que puede ser admitida por la tarjeta de adquisicin de datos, siendo el voltaje en la resistencia de menor valor, la que proporcionara la seal de voltaje, ya que dentro de sus caractersticas se encuentra la linealidad el voltaje y la fase ser el reflejo de la fuente de alimentacin de cada lnea. ANEXO 3.3

3.1.3 SENSOR DE CORRIENTE.

3.1.3.1 REQUERIMIENTOS: Un mtodo no invasivo Deber poder medir un rango de corriente de al menos la nominal o a plena carga del motor evaluado La seal de salida deber contener todas las caractersticas de la seal de corriente censada Deber tener un ancho de banda de 0-500 Hz.

3.1.3.2 PARMETROS DE SELECCIN:

Tabla 3.3. Consideraciones para la eleccin del sensor de voltaje. Fuente los Autores.

Para la adquisicin del la magnitud de corriente que circula en cada una de las lneas que alimenta al motor, se empleara el uso de sensores de corriente que basan su 15

funcionamiento en el principio fsico del efecto Hall, cuya propiedad fsica propicia la medicin tanto en corriente alterna as como en corriente continua. ANEXO 3.4

Figura 3.17. Sensores de corriente, Efecto Hall Fuente: Los autores.

3.1.3.3 EFECTO HALL. Cuando una placa metlica transmite una corriente elctrica y se halla situada en un campo magntico perpendicular a la direccin de la corriente, se desarrolla por encima de la placa un campo elctrico transversal, es decir, perpendicular al sentido de la corriente. Este campo, denominado campo de Hall, es la resultante de fuerzas ejercidas por el campo magntico sobre las partculas de la corriente elctrica, sean positivas o negativas, o positivas en un sentido y negativas en el otro. Este fenmeno tiene dos consecuencias principales. La primera es que la acumulacin de cargas en un lado de la placa, en el campo as creado, implica que el otro lado tiene una carga opuesta, crendose entonces una diferencia de potencial. La segunda es que la carga positiva posee un potencial superior al de la carga negativa. La medida del potencial permite, por tanto, determinar si se trata de un campo positivo o negativo.

16

3.1.4 TACMETRO.

3.1.4.1 REQUERIMIENTOS: Un mtodo no invasivo. Deber poder medir un rango de velocidad nominal. La seal de salida deber poder mostrar en forma proporcional la velocidad de giro a la frecuencia de la seal. Deber tener un ancho de banda de 0-720 Hz. A ms de las variables elctricas consideradas en el desarrollo del proyecto es importante tener en cuenta el dato de velocidad de giro del motor, ya que anlisis de orden hace referencia a los eventos sucedidos por revolucin. Medir la velocidad en la flecha del rotor, implica convertir la una seal de movimiento en una seal elctrica de la cual se presenta como un tren de pulsos a una frecuencia igual a la del giro del motor multiplicado por el numero de tomas de seal, con lo cual se pueden conocer los efectos que suceden con cada uno de los parmetros del motor desde que arranca hasta alcanzar su velocidad nominal a mas de que se puede saber a que velocidad puede presentarse el fenmeno de resonancia con la estructura que sostiene el motor. El tacmetro empleado censa la velocidad a partir del corte de seal de luz infrarroja en el receptor a travs de una rueda con una serie de muescas (24), esto producida un tren de pulsos fcilmente interpretable como frecuencia. ANEXO 3.5.

Figura 3.18. Adquisicin de la seal de velocidad Fuente: Los autores.

17

3.2 ADQUISICIN DE SEALES. La adquisicin de seales tiene por objeto digitalizar la seal analgica del transductor y llevarla al computador La mayor parte de adquisicin hoy en da son basados en la PC, o en algn tipo de microprocesador que se adapte a un conversor Analgico Digital y transfiere sus lecturas a una memoria externa Para la elaboracin de nuestro sistema hemos considerado varias opciones de comunicacin como se muestran en la tabla 3.4

TIPO
DISPOSITIVOS INTERNOS

MEDIO
TARJETAS PLUG-IN

CARACTERISTICAS
VELOCIDAD LO MS RPIDA POSIBLE, NO J J J J COMPLICADA VELOCIDAD RPIDA, PORTTIL, FCIL EXPANSIN DE CANALES Y CONEXIN DE SEAL VELOCIDAD LENTA, PORTTIL, FCIL CONEXIN DE SEAL VELOCIDAD MEDIA A RPIDA, MUY PORTTIL, CANALES Y CONEXIN DE SEAL LIMITADOS VELOCIDAD VARIABLE DE ACUERDO A LA VERSIN, AUTOINSTALBLE EN EL MOMENTO DE CONEXIN, MUY PORTTIL, FCIL CONEXIN DE SEAL BAJA VELOCIDAD, PORTTIL, CONEXIN DE SEAL FACIL, NO NECESITA PC A EN EL SITO DE PRUEBAS VELOCIDAD DE TRANSFERENCIA BAJA, CAPACIDADES DEPENDEN DEL INSTRUMENTO ESPECFICO

PUERTO PARALELO PUERTO SERIAL DISPOSITIVOS EXTERNOS TARGETAS PC

PUERTO USB

DISPOSITIVOS INDEPENDIENTES INTERFACES

REGISTRADOR DE DATOS PC A IEEE 488

Tabla 3.4 Opciones de comunicacin para la adquisicin de seales. Fuente: Los autores

El sistema USB se ha vuelto bastante popular en la versin 2.0 siendo esta la ms actual y rpida a 12Mbits/s que es til para aplicaciones sencillas en tiempo real

3.2.1 CARACTERSTICAS DEL SISTEMA DE ADQUISICIN Amplitud de la seal de entrada. Frecuencia mxima de seal. Ancho de Banda. Tipo de conversor Analgico Digital. Rango de resolucin ADC. Relacin seal a ruido de cuantizacin. (SQNR). 18

 Muestreo. Filtro Antialiasing. Configuracin de la seal de entrada al ADC. Fuentes de ruido.

3.2.1.1 AMPLITUD DE ENTRADA. En los diferentes canales de entrada los valores de voltaje de ingreso estn en el rango de 6V . Mientras que la tarjeta admite valores 10V RSE (referidos a

tierra comn) y respectivamente.

20V en configuracin diferencial, con 8 y 4 canales de entrada

3.2.1.2 FRECUENCIA MXIMA DE LA SEAL. Cuando se realice las pruebas de medicin de la corriente, la mxima frecuencia que alcanza la seal ser f mx 60 1 2s
s 1

180Hz 28. Mientras que cuando se

realice las pruebas de vibracin la mxima frecuencia que puede alcanzar el acelermetro es de 6000 Hz, por lo que para la adquisicin de las seales se adjuntaran filtros antialiasing. Para considerar el ancho de banda elevamos la frecuencia de la seal de corriente a 500 Hz, para no tener una atenuacin de 3 dB. a 180Hz, mientras que para la medicin de aceleracin el filtrado se tendr un ancho de banda de 5000Hz.

3.2.1.3 CONVERSIN ANALGICO DIGITAL. El ADC puede ser Flash, que tiene un buen rendimiento en cuanto a velocidad pero tiene alto costo, y puede ser tambin de aproximaciones sucesivas que toma un mayor tiempo en la digitalizacin. En la implementacin del sistema, puede utilizarse cualquiera de los dos tipos de ADC, ya que la velocidad de transformacin no ser imprescindible y la frecuencia de trabajo no se acercara a la frecuencia de corte del dispositivo ya que la banda es en banda base.

28

Frecuencia de bandas laterales mxima, cuando el deslizamiento es igual 1, seccin 2.3

19

3.2.1.4 RANGO DE RESOLUCIN DEL ADC El rango del dispositivo debe concordar con los requerimientos del sistema de adquisicin. Como se menciona 3.2.1.1 el rango de voltaje mximo a cubrirse es de e -6V a 6 V, en cuanto a las medidas de voltaje corriente y velocidad, mientras que para el parmetro de aceleracin, el acelermetro entrega una tensin de 30mV/g, al ser de tipo pasivo, de acuerdo a las normas mostradas en el ANEXO 3 el mnimo valor a considerar seria 0,3 g para evaluar el nivel de vibracin. Con lo que tendramos que adquirir la seal de voltaje en aceleracin a un mnimo valor de 10mV (sin considerar la etapa de amplificacin)

La resolucin del dispositivo es determinada por el nmero de bits de salida ADC

R R Resolucin en voltios

D 2N

3.7

D Rango dinmico de la seal en voltios N Nmero de bits del conversor ADC 6V 10mV log 2

n log 2 log D R

log n

10bits de resolucin

Entonces con 10 bits de resolucin se puede leer un mnimo de 10mV de lectura sin distorsin y SQRN tendra un equivalente de: SQRN
SQNR SQNR SQNR SQNR

20Log
20 log

Dseal Druido
20 log

3.8
Dseal Dseal 2N

Dseal Druido

N 20 log( 2) 6,02 N 60dB

20

3.2.1.5 MUESTREO. La frecuencia de muestreo depende de la frecuencia mxima que se quiera analizar. Para esta consideracin se debe tomar en cuenta el teorema de Shannon Nyquist de muestreo para evitar el Aliasing, por ello ser necesario que las seales de voltaje y corriente se muestreen a un rate de 1500 S/s, para el muestreo de la velocidad a 1800 S/s y para la seal de vibracin a 15KS/s. Para el anlisis digital se adquirirn 6400 muestras por canal, la arquitectura del sistema expone que un mximo 3 canales trabajen a la vez mediante la mltiplexacin o muestreo simultaneo.

3.2.1.6 FILTRO ANTIALISING. Este efecto es eliminado considerando limitar el rango de frecuencias de la seal admitida, interponiendo un filtro pasabajo entre la salida del instrumento analgico y la entrada de la etapa de muestreo.

3.2.1.6.1 FORMACIN DE ALIASIS. Si tenemos una seal en el tiempo encerrada en un intervalo de 0 a T, Cul es el nmero de muestras necesarias para que la seal pueda ser procesada?, la transformada de Fourier de la seal es:

Y f
0

y t .e

2 j ft

dt

3.9

Si el segmento esta limitado entre 0 y T la transformada de Fourier tambin esta limitado entre F y F ( en la practica el segmento es de longitud finita y el espectro se limita con un filtro pasa bajo ), entonces para definir a la seal habr que muestrear ya sea la seal en el tiempo y(t) o el especto Y(f) a frecuencias iguales al llamado intervalo de NIQUIST 1/T dentro del intervalo F a F por lo que el nmero requerido de muestras ser: 2F 1 T

2FT

3.10

21

En cambio si muestreamos el segmento f(t) con el intervalo de NIQUIST 1/(2F) entonces el nmero de muestras requeridas ser: N T 1 2F 2FT 3.11

Esto indica que se necesita igual nmero de muestras, si se muestrea la seal y(t) en el tiempo o el espectro Y(f) con el intervalo de NYQUIST. En la ecuacin anterior 3.11 podemos deducir que el mximo intervalo de muestreo es 1/(2F) por lo que, si para maestrear se emplea un intervalo menor que 1/(2F), se tomara mayor cantidad de muestras con consiguiente desperdicio de tiempo en el clculo y de memoria. Por lo contrario, se muestrea a un intervalo mayor que 1/(2F), se tomaran menos muestras que las necesarias, siendo imposible reconstruir la seal, confundindose las frecuencias en el espectro, este efecto se identifica como ALIASING o en espaol ALIASIS.

Figura 4.19. Muestreo menor a la frecuencia de Nyquist se torna como una seal de menor frecuencia Fuente: SCHEFFER,Cornelius, PRACTICAL MACHINERY VIBRATION ANALYSIS AND PREDICTIVE MAINTENANCE, 2004, p 57.

Entonces para muestrear una seal se necesita dos muestras por periodo para poder definir una componente de frecuencia en la seal original. Por lo tanto la mayor frecuencia que puede se copiada fielmente ser:

f NIQUIST

fN 2

3.12

22

A esta frecuencia se le conoce como la frecuencia de NYQUIST, las componentes de la seal original y(t) cuyas frecuencias superen la frecuencia de NYQUIST, aparecern en el espectro por debajo de componentes de la seal original. En la mayora de los analizadores modernos, la frecuencia de muestreo esta puesta a 2. 56 veces la frecuencia lmite del filtro. f NIQUIST confundindose con las

3.2.1.7 EFECTO DE LEAKAGE Si una forma de onda senoidal esta pasando a travs del nivel cero, al principio y al final de la grabacin de tiempo, eso es si la grabacin de tiempo abarca exactamente un nmero entero de ciclos de la forma de onda, el espectro FFT resultante consistir de una sola lnea con la amplitud y la frecuencia correcta. Si por otra parte, el nivel de la seal no est en cero, en ambas partes de la grabacin de tiempo, la forma de onda ser truncada y eso provocar una discontinuidad en la seal de la que se tom muestras. Esta discontinuidad no est bien manejada por el proceso FFT y el resultado es que el espectro est ungido desde una sola lnea en las lneas vecinas. A este se le dio el nombre de fugas.

Figura 4.20 Transformada de Fourier ideal-real Fuente: Los autores

Inevitablemente la seal registrada tiene que ser truncada en el tiempo, lo que equivale a encerrara dentro de una ventana en el tiempo, realizando este procedimiento de la seal antes de calcular la FFT. Ya que sino se lo hace aparecen fugas tal como se menciona anteriormente, lo que hace la ponderacin es reducir el efecto de las fugas, vigilando que el nivel de la seal este en cero al principio y al final de la grabacin de tiempo. Esto se hace multiplicando los datos recopilados por 23

una funcin llamada "ventana" o "ponderada" Las ventanas son funciones matemticas usadas con frecuencia en el anlisis y el procesamiento de seales para evitar las discontinuidades al principio y al final de los bloques analizados. Una seal de longitud voluntariamente limitada, los diferentes tipos de ventanas existentes son: 1. Rectangular (bsica, sin ventana) 2. Flat top 3. Hanning 4. Hamming 5. Kaiser Bessel 6. Blackman 7. Barlett. La funcin que mejor se adapta al tipo de seales manejadas en el proyecto es la ventana de Hanning, que es diferente la ventana de Hamming que hoy es obsoleta. 3.2.1.7.1 LA VENTANA HANNING

Figura 4.21. Atropamiento de la seal en los niveles de cero al inicio y final Fuente: Los autores

La ventana Hanning llamada por su inventor Von Hann, tiene la forma de un ciclo de una onda cosenoidal, a que se agrega 1 para que as siempre sea positivo. Los valores de la seal muestreada se multiplican por la funcin Hanning y el resultado se ve en la grfica. Noten que las extremidades de la grabacin de tiempo fueron forzadas hacia cero sin tomar en cuenta que est haciendo la seal de entrada. La ventana Hanning realiza un buen trabajo, forzando las extremidades hacia cero, pero tambin agrega distorsin a la forma de onda que se est analizando, bajo la 73

forma de modulacin de amplitud, eso es la variacin en amplitud de la seal sobre la grabacin de tiempo

Figura 4.22. La ponderacin de Hanning no es adecuada para transitorios Fuente: Los autores

La ventana Hanning siempre se debe usar con seales continuas y no para seales transientes. La razn es que la forma del transiente ser distorsionada por la forma de la ventana. y la frecuencia y el contenido de un transiente estn ntimamente conectados con su forma. El nivel medido tambin ser fuertemente distorsionado. Aunque el transiente estuviera en el centro de la ventana de Hanning, el nivel medido sera dos veces el nivel actual, debido a la correccin de la amplitud, aplicada por el analizador cuando esta usando el efecto de ponderado Hanning. Una seal ponderada Hanning esta solamente presente por la mitad. La otra mitad fue removida por el proceso de la ventana. Esta no presenta problemas con una seal perfectamente suave, y continua como una onda senoidal, pero la mayora de las seales que queremos analizar, como firmas de vibraciones de mquinas no son perfectamente suaves. Si ocurre un pequeo cambio en la seal cerca del inicio o del final de la grabacin en tiempo, o bien se analizar a un nivel mucho ms bajo que su nivel verdadero, o se puede pasar totalmente desapercibido.

3.2.1.8 CONFIGURACIN DE LA SEAL DE ENTRADA AL DISPOSITIVO Principalmente existen dos formas de adquirir seales: referidas a tierra y diferenciales o flotantes este ultimo hace presencia al tomar la seal de voltaje ya que 74

se conectan directamente en la red pblica y el punto comn de empalme no puede ser enlazada a la tierra de referencia por un alto grado de ingerencia de ruido es por ello que se implemento un hardware como se ve en el ANEXO 3.2 en la etapa diferencial, de esta forma refiriendo la seal a la tierra comn del sistema.

3.2.1.9 FUENTES DE RUIDO EN EL SISTEMA DE ADQUISICIN.

RUIDO CONDUCTIVO RUIDO CAPACITIVO
CAMPO ELCTRICO LMPARAS FLUORECENTES IONIZACION DEL AMBIENTE, CLIMA LLUVIOSO

CARACTERISTICA

RUIDO INDUCTIVO
CAMPO MAGNTICO CABLES CERCANOS, MAQUINAS ELECTRICAS, AMBIENTE INDUSTRIAL

RUIDO RADIANTE

RUIDO DE CUANTIZACIN

NATURALEZA DEL LEY DE OHM RUIDO

IMPEDANCIA DE LOS CABLES FUENTES DE RUIDO DIFERENTE DE CERO USAR CABLES PEQUEOS Y RELATIVAMENTE GRUESOS DE ACUERDO A LA CORRRIENTE QUE MANEJEN

ONDAS EFECTO DE ELECTROMAGN CUANTIZACIN DE LA TICAS CONVERSIN A/D SEALES DE TELEVISIN RADIO Y TELEFONA

CONVERSOR A/D

FORMA DE ATENUARLOS

FORRAR LOS CABLES Y ATERRAR LOS FORROS

USAR PARES TRENZADOS

FILTROS AUMENTAR EL NMERO PASABAJOS Y DE BITS DEL CABLES CORTOS CONVERSOR A/D

FRECUENCIA A LA TODAS QUE SE PRESENTAN

FRECUENCIA INDUSTRIAL, ALTAS FRECUENCIAS

60Hz, PRINCIPALMENT ALTA E FRECUENCIAS FRECUENCIA QUE CIRCULEN EN LOS CABLES

TODAS LA FRECUENCIAS

Tabla 3.5 Tipos de ruido que pueden distorsionar la seal Fuente: Los autores.

3.2.2 ESPECIFICACIONES DEL SISTEMA DE ADQUISICIN. En resumen, las caractersticas mnimas del sistema para la implementacin sern: Sistema que utilice una interfaz USB El sistema debe tener un rango de 6V y una resolucin mnima de 10 bits El sistema debe tener la capacidad de muestreo de alrededor de 15KS/s Debe tener por lo menos 3 canales de muestreo simultneo o por mltiplexacin Las conexiones deben tener aislamiento capacitivo conectado a tierra, ser en par trenzado, a ms de implementar sistema de CAS para el tratamiento de las seales.

75

3.3 ACONDICIONAMIENTO DE SEALES.

Mejora las seales para mejor calidad en medicin Alimenta o excita sensores Lee informacin del sensor Protege al usuario y al sistema

3.3.1 INTRODUCCIN.

Figura 3.23, Conjunto de dispositivos Fuente: Anlisis Espectral, www.sonotest.com

Los sistemas de adquisicin de datos (DAQ) basados en PC y dispositivos insertables o dispositivos externos (DAQ 6009) son usados en un amplio rango de aplicaciones en los laboratorios, en el campo y en el piso de una planta de manufactura. Tpicamente, los dispositivos DAQ insertables son instrumentos de propsito general diseados para medir seales de voltaje. El problema es que la mayora de los sensores y transductores generan seales que debe acondicionar antes de que un dispositivo DAQ pueda adquirir con precisin la seal. Este procesamiento es conocido como acondicionamiento de seal, incluye funciones como amplificacin, filtrado y aislamiento elctrico en el caso del proyecto desarrollado.

3.3.2 AMPLIFICADORES DE INSTRUMENTACIN. Por lo general las seales que recibimos de un transductor deben ser amplificadas propiciando una impedancia de entrada alta y una impedancia de salida baja, para este fin se utilizan los amplificadores operacionales, ya que tienen las siguientes caractersticas: 76

 Resistencia de entrada alta (orden de cientos de M) Resistencia de salida baja (debajo de 1) Gran ganancia de lazo abierto (orden de 1E4 a 1E6) Gran CMRR (common mode rejection ratio) Buen rango de frecuencias de operacin Baja sensibilidad a las variaciones de la fuente de alimentacin Gran estabilidad al cambio de temperatura en el ambiente

3.3.3 AMPLIFICACIN. Cuando los niveles de voltaje que va a medir son muy pequeos, la amplificacin se usa para maximizar la efectividad de su digitalizador. Al amplificar la seal de entrada, la seal acondicionada usa ms efectivamente el rango del convertidor analgico-digital (ADC) y mejora la precisin y resolucin de la medicin. El proceso de amplificacin esta aplicado a los sensores de corriente y al acelermetro, debido a que el voltaje es estos es de 287 mV a 3A y 30mV/g respectivamente, el grado de amplificacin para la seal de corriente y voltaje es de 10. En el caso de las seales de velocidad y voltaje no amplifican ya que medida esta en el orden de voltios. 3.3.4 FILTRADO. Un filtro elctrico o filtro electrnico es un elemento que discrimina una determinada frecuencia o gama de frecuencias de una seal elctrica que pasa a travs de l, pudiendo modificar tanto su amplitud como su fase. Si clasificamos de acuerdo a su ganancia pueden ser: Filtros pasivos: los que atenuarn la seal en mayor o menor grado. Se implementan con componentes pasivos como condensadores, bobinas y resistencias. Filtros activos: son los que pueden presentar ganancia en toda o parte de la seal de salida respecto a la de entrada. En su implementacin suelen aparecer amplificadores operacionales. Si clasificamos de acuerdo al comportamiento con la frecuencia pueden ser: 77

 Filtro paso bajo: Es aquel que permite el paso de frecuencias bajas, desde frecuencia 0 o continua hasta una determinada. Presentan ceros a alta frecuencia y polos a bajas frecuencia. Filtro paso alto: Es el que permite el paso de frecuencias desde una frecuencia de corte determinada hacia arriba, sin que exista un lmite superior especificado. Presentan ceros a bajas frecuencias y polos a altas frecuencias. Filtro pasa banda: Son aquellos que permiten el paso de componentes frecuenciales contenidos en un determinado rango de frecuencias, comprendido entre una frecuencia de corte superior y otra inferior. Filtro elimina banda: Es el que dificulta el paso de componentes frecuenciales contenidos en un determinado rango de frecuencias, comprendido entre una frecuencia de corte superior y otra inferior. Filtro multibanda: Es el que presenta varios rangos de frecuencias en los cuales hay un comportamiento diferente. Filtro variable: Es aquel que puede cambiar sus mrgenes de frecuencia Tambin pueden clasificarse de acuerdo al mtodo de diseo: Filtro de Butterworth, con una banda de paso suave y un corte agudo El filtro de Butterworth es uno de los filtros electrnicos ms bsicos, diseado para producir la respuesta ms plana que sea posible hasta la frecuencia de corte. En otras palabras, la salida se mantiene constante casi hasta la frecuencia de corte, luego disminuye a razn de 20, 40, 60, etc. dB por dcada segn sea la configuracin. El filtro de Butterworth ms bsico es el tpico filtro paso bajo de primer orden, el cual puede ser modificado a un filtro pasa alto o aadir en serie otros formando un filtro pasa banda o elimina banda y filtros de mayores rdenes Visto en un diagrama de Bode con escala logartmica, la respuesta decae linealmente desde la frecuencia de corte hacia menos infinito. Para un filtro de primer orden son 20 dB por dcada (aprox. -6dB por octava). Filtro de Chevyshev, con un corte agudo pero con una banda de paso con ondulaciones

78

 Filtros elpticos o filtro de Cauer, que consiguen una zona de transicin ms abrupta que los anteriores a costa de oscilaciones en todas sus bandas Filtro de Bessel, que, en el caso de ser analgico, aseguran una variacin de fase constante, lineal

Figura 3.24, Efecto de atenuacin de los principales filtros Fuente: Los autores.

3.3.5 AISLAMIENTO. Las seales de voltaje fuera del rango del digitalizador pueden daar el sistema de medicin y ser peligrosas para el operador. Por esta razn, normalmente es preciso tener el aislamiento y la atenuacin para proteger al sistema y al usuario de voltajes relativamente altos o picos de voltaje. Tambin se puede necesitar aislamiento si el sensor est en un plano de tierra diferente al del sensor de medicin (como un termopar montado en una mquina).

3.6 ENTORNO DE LABVIEW.

3.6.1 QU ES LABVIEW? LabVIEW (Laboratory Virtual Instrument Engineering Workbench) es un lenguaje de programacin grfico (lenguaje G), para el diseo de sistemas de adquisicin de datos, instrumentacin y control.

79

LabVIEW es a la vez compatible con otras herramientas de programacin de distintitos lenguajes por ello puede trabajar con programas de otra rea de aplicacin, como por ejemplo Matlab o C. Tiene la ventaja de que permite una fcil integracin con hardware, especficamente con tarjetas de medicin, adquisicin y procesamiento de datos (incluyendo adquisicin de imgenes). 3.6.2 APLICACIONES DE LABVIEW. LabVIEW tiene su mayor aplicacin en sistemas de medicin, como monitoreo de procesos y aplicaciones de control, un ejemplo de esto pueden ser sistemas de monitoreo en transportacin, Laboratorios para clases en universidades, procesos de control industrial. LabVIEW es muy utilizado en procesamiento digital de seales (wavelets, FFT, Total Distorsion Harmonic TDH), procesamiento en tiempo real de aplicaciones biomdicas, manipulacin de imgenes y audio, automatizacin, diseo de filtros digitales, generacin de seales, entre otras, etc.

Figura 3.25 Sistema de adquisicin de seales. Fuente: NATIONAL INSTRUMENTS, Introduction LABVIEW for Control Desing and simulation, www.ni.com

3.6.3 FUNCIONES DE LABVIEW. La programacin G (grfica) de LabVIEW consta de un panel frontal y un panel de cdigo. En el panel frontal es donde se disea la interfase de usuario y se ubican los 80

controles e indicadores. En el panel de cdigo se encuentran las funciones. Cada control que se utiliza en la interfaz tiene una representacin en el panel de cdigo, igualmente los indicadores necesarios para entregar la informacin procesada al usuario tienen un icono que los identifica en el panel de cdigo o de programacin. Los controles pueden ser bolanos, numricos, strings, un arreglo matricial de estos o una combinacin de los anteriores; y los indicadores pueden ser como para el caso de controles pero pudindolos visualizar como tablas, grficos en 2D o 3D, browser, entre otros.

Figura 3.26.Panel frontal y panel de programacin en LABVIEW Fuente: Los autores.

Las funciones pueden ser VIs prediseados y que pueden ser reutilizados en cualquier aplicacin, estos bloques funcionales constan de entradas y salidas, igual que en un lenguaje de programacin estndar las funciones procesan las entradas y entregan una o varias salidas, estos VI pueden tambin estar conformados de otros SubVIs y as sucesivamente, de esta forma se pueden representar como un rbol genealgico donde un VI se relaciona o depende de varios SubVIs. LabVIEW tiene VIs de adquisicin de datos e imgenes, de comunicaciones, de procesamiento digital de seales, de funciones matemticas simples, hasta funciones que utilizan otros programas como Matlab o HiQ para resolver problemas, otras ms complejas como "nodos de formula" que se utilizan para la resolucin de ecuaciones editando directamente estas como en lenguajes de programacin tradicionales y definiendo las entradas y las salidas. LabVIEW tambin se puede utilizar para graficar en tres dimensiones, en coordenadas polares y cartesianas, tiene disponibles herramientas para anlisis de circuitos RF como la Carta de Smith, tiene aplicaciones en manejo de audio y se puede comunicar con la tarjeta de sonido del computador para trabajar conjuntamente. Entre sus muchas funciones especiales se encuentran las 81

de procesamiento de imgenes, como capturar una imagen a travs de una tarjeta de adquisicin como la PCI-1408 (monocromtica), analizarla y entregar respuestas que difcilmente otros sistemas realizaran. Otra caracterstica se encuentra en el flujo de datos, que muestra la ejecucin secuencial del programa, es decir, una tarea no se inicia hasta no tener en todos sus variables de entrada informacin o que las tareas predecesoras hayan terminado de ejecutarse. Debido al lenguaje grfico el compilador con que cuenta LabVIEW es ms verstil ya que sobre el mismo cdigo de programacin se puede ver fcilmente el flujo de datos, as como su contenido. 3.6.4 LABVIEW PARA REGISTRO DE DATOS. LabVIEW proporciona utilidades para registro de datos y manejo de alarmas, as como tendencias histricas y en tiempo real. Ya sea que est coleccionando datos de los productos de adquisicin de datos de National Instruments, objetivos de LabVIEW Real-Time, mdulos Compact FieldPoint o CompactRIO, o controladores de lgica programable, puede rpidamente configurar las E/S que desee y usar el Mdulo Datalogging and Supervisory Control (DSC) de LabVIEW para adquirir datos de manera automtica. Los datos histricos son almacenados en una base de datos compatible con SQL 92 y ODBC 2.5, para que pueda utilizar herramientas estndar de extraccin de datos para extraer la informacin y usarla en otras partes de la empresa. Debido a que puede utilizar el Mdulo de LabVIEW DSC para registrar los datos en cualquier mquina de su red de trabajo, puede seleccionar una sola mquina para funcionar como servidor de su base de datos para todas sus aplicaciones o elegir distribuir los datos en numerosas mquinas en red. Adicionalmente, las ayudas intuitivas en LabVIEW le ayudan a desarrollar aplicaciones de registro de datos con muy poca o nula programacin. Usando LabVIEW, puede fcilmente almacenar informacin por medio de un archive CSV, Excel, o XML para anlisis fuera de lnea. El anlisis de orden fuera de lnea le ayuda a predecir mantenimientos como lo es el cambio de valores antes de que fallen. LabVIEW tambin puede escribir en bases de datos si lo requiere. El men de la ventana correspondiente a al panel frontal de controles contiene las opciones como: 82

NUMERIC.numricas.

Para

la

introduccin

visualizacin

de

cantidades

BOOLEAN.- Para la entrada y visualizacin de valores bolanos (encendido apagado) STRING Y TABLE.- Para la entrada y visualizacin de texto

LIST Y RING.- Para visualizar y/o seleccionar una lista de opciones

ARRAY Y CLUSTER.- Para agrupar elementos

PATH Y REFNUM.- Para gestin de archivos.

GRAPH.- Para presentar grficamente datos

DECORACIONES.- Para introducir decoraciones en el panel frontal.

3.6.5 CARACTERSTICAS DE LA TARJETA DE ADQUISICIN DE DATOS. EL modulo NI de adquisicin de datos DAQ multifuncin USB 6009 de NATIONAL INSTRUMENTS (NI), es una opcin de adquisicin a bajo costo, con el sistema plug-and-play USB de conexin. A pesar de que la tarjeta no es de muestreo simultneo para los ocho canales, posee las siguientes caractersticas de adquisicin: On Demad, Finite y Continuos (Sobre la Demanda, Finito y Continua, es el caso para la elaboracin de un osciloscopio 83

donde se puede designar nicamente dos canales de trabajo obteniendo excelentes resultados a un rate de 10000Hz.
REQUERIMIENTOS DEL SISTEMA
EL ADC PUEDE SER POR APROXIMACIONES SUCESIVAS O FLAH EL ADC DEBERIA TENER UNA RESOLUCIN DE 10 BITS EL SQNR DEBE SER DE AL MENOS 60dB RATE 15KS/s

CARACTERISTICAS DE LA DAQ 6009

SISTEMA DE ADQUISICION, INTERFAZ USB COMUNICACIN USB 2.0 FULL SPEED RANGO DE VOLTAJE -6 +6 v RANGO DE VOLTAJE -10 +10 v ADC POR APROXIMACIONES SUCESIVAS RESOLUCIN 14 BITS SQNR = 82 dB RATE 48KS/s, ENVIO DE DATOS MEDIANTE BFER DIRECTO A MEMORIA RAM 8 CANALES DE ENTRADA ANALOGICOS REFERIDOS A TIERRA O 4 DIFERENCIALES, MUESTREO POR MULTIPLEXACIN, 10E/S DIGITALES

TRES CANALES CON MUESTREO SIMULTANEO O MULTIPLEXACIN

Tabla 3.7. Comparacin entre requerimientos y disponibilidades con la tarjeta DAQ 6009 NI Fuente: Los autores.

TRANSDUCTOR SENSOR DE ACELERACIN SENSOR DE VELOCIDAD SENSOR DE CORRIENTE L1 SENSOR DE CORRIENTE L2 SENSOR DE CORRIENTE L3 SENSOR DE VOLTAJE L1 SENSOR DE VOLTAJE L2 SENSOR DE VOLTAJE L3

RELACIN DE UNIDADES 30mV / g. 719,5Hz / 1800 rpm 61,667mV / A 61,667mV / A 61,667mV / A 3,76V / 127V 3,76V / 127V 3,76V / 127V

ACONDICIONAMIENTO DE SEAL TRANDUCTORES -CAS FILTRO GANANCIA CAS-DAQ 2do ORDENN, BUTTERWORTH 5000Hz SEGUIDOR DE VOLTAJE 4 FILTRO DC 2do ORDEN, BUTTERW ORTH 750Hz 1 SEGUIDOR DE VOLTAJE 2do ORDEN, BUTTERWORTH 500Hz 10 2do ORDEN, BUTTERWORTH 500Hz 10 SEGUIDOR DE VOLTAJE SEGUIDOR DE VOLTAJE 2do ORDEN, BUTTERWORTH 500Hz 10 AMPLIFICADOR DE INSTRUMENTACIN 2do ORDEN, BUTTERWORTH 500Hz 1 AMPLIFICADOR DE INSTRUMENTACIN 2do ORDEN, BUTTERWORTH 500Hz 1 AMPLIFICADOR DE INSTRUMENTACIN 2do ORDEN, BUTTERWORTH 500Hz 1 -

Tabla 3.8. Resumen del sistema de acondicionamiento de seal. Fuente: Los autores

Figura 3.27, Tarjeta de adquisicin de datos DAQ 6009 Fuente: Los Autores.

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General
Form ato Fsico So por te par a S O T ip os de M edi da F am il i a d e P ro duc tos U SB W i ndow s, Li nux , M a c OS V oltaje S erie B

Entrada Analgica
N m ero d e Can ales Ve loc i dad de M ue str eo R eso lu cin Mue streo Sim ultn eo R ang o de Vo lt aje M x im o Prec i si n del R an go R ang o de Vo lt aje M ni mo Prec i si n del R an go N m ero d e Ran gos Mem ori a I nterna 8 SE /4 DI 4 8 k S/ s 1 4 bi ts No -10 ..10 V 1 38 m V -1. .1 V 3 7.5 mV 8 5 12 B

Salida Analgica
N m ero d e Can ales R az n d e A ct ual iza cin R eso lu cin R ang o de Vo lt aje M x im o Prec i si n del R an go R ang o de Vo lt aje M ni mo Prec i si n del R an go C apa cidad de Corrie nte (Ca nal/Tot al) 2 1 50 S /s 1 2 bi ts 0 ..5 V 7 mV 0 ..5 V 7 mV 5 m A/1 0 m A

E/S Digital
N m ero d e Can ales T em pori za ci n N iveles Lgicos Mx im o Ra ngo de E ntra da Mx im o Ra ngo de S ali da En tr ada de F l uj o d e Co rr i ent e F iltro s de En tr ada Prog ra ma bles Sa li da de F l uj o de C o rri ent e C apa cidad de Corrie nte (Ca nal/Tot al ) T em pori za dor W atc hdog So por ta Es tado s de E nce ndi do Pr ogra m ab le s? So por ta Proto co lo de Sinc r oniza ci n para E/S ? So por ta E/S d e P atr one s? 1 2 DIO S oftw ar e TT L 0 ..5 V 0 ..5 V S inkin g, S ourci ng No S inkin g, S ourci ng 8 .5 m A /102 m A No No No No

Contadores/T emporizadores
N m ero d e Con tado re s/T e mp oriz ad ores R eso lu cin F r ecu enc i a M x im a de l a F uent e En trada M n im a d e A nc ho d e P ul so N iveles Lgicos R ang o M x im o Es tabil i dad de T i em po Si nc r oni z ac in G P S G ener ac i n de P ulso O perac iones a B f er Eli mi na ci n de Rebot es 1 3 2 bi ts 5 MH z 1 00 n s TT L 0 ..5 V 5 0 pp m No No S No

Temporizacin/Disparo/Sincronizacin
Bu s de S incr oniz ac i n (RT S I) Disparo No D igita l

Tabla 3.8 Caractersticas generales DAQ 6009. Fuente: NATIONAL INSTRUMENT, USB 6009, www.highlights.ec

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