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UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE SANTANDER

ESCUELA DE FISICA

LABORATORIO DE OPTICA

EXAMEN DE LABORATORIO

VISITA DE OBSERVACIÓN AL LABORATORIO DE OPTICA DE LA SEDE UIS-GUATIGUARÁ

ESTUDIANTE: JHON FREDDY TORRES GÓMEZ

PROFESORA: MARIA DEL CARMEN LASPRILLA ALVAREZ

FECHA DE LA VISITA: 12/04/12

FECHA DE ENTREGA:16/04/12

BUCARAMANGA, II SEMESTRE DE 2011

Para ello se ilumina una pequeña zona de la muestra y se toma el haz luminoso que proviene del plano focal. Analizar las posibles fortalezas y limitaciones que estos tengan. Se utiliza un láser como fuente de luz. pasa a través del espejo dicroico y es enfocada en un detector. DESCRIPCION DE LOS EQUIPOS • Funcionamiento Microscopio confocal Carl Zeiss imager Z1 Figura 1: Microscopio confocal Carl Zeiss imager Z1. Ambos pinhole deben de estar perfectamente alineados de forma que el segundo de ellos únicamente deje llegar al detector la luz procedente del plano focal. Parte de la luz procedente de la fuente de iluminación atraviesa un primer diafragma. Conocer sus aplicaciones en los diferentes campos de la ciencia. La microscopía confocal se basa en eliminar la luz reflejada o fluorescente procedente de los planos fuera de foco. El funcionamiento del Microscopio Confocal se basa en la existencia de dos diafragmas (pinhole). es reflejada mediante un espejo dicroico y se enfoca en un punto del espécimen mediante la lente de un objetivo. eliminándose los haces procedentes de los planos inferiores y superiores.OBJETIVOS • • • • Explorar las características técnicas de los microscopios observados Comprender el funcionamiento de cada uno de los microscopios. un segundo diafragma o pinhole es colocado delante del detector para eliminar las señales procedentes de la zona fuera de foco (Figura 2). que permite focalizar la iluminación en una región muy pequeña de la muestra y con una gran intensidad. . La señal emitida por el punto iluminado (fluorescencia o luz reflejada) vuelve por el mismo camino óptico. uno entre la fuente de luz y el objetivo y el otro entre el objetivo y el detector.

mientras el haz permanece inmóvil (stage scanning) . para poder visualizarla se necesita un sistema de barrido que permita muestrear todos los puntos y un sistema de formación de la imagen donde se recoja la información de cada uno de estos puntos. El sistema de barrido puede ser de dos tipos: que el haz del láser se desplace por la muestra (beam scanning) o que sea ésta la que se desplace. La luz reflejada por la muestra es recogida en un foto-multiplicador donde se transforma en una señal de vídeo que se digitaliza y almacena en un ordenador.Dado que sólo se ilumina una pequeña zona de la muestra (punto). visualizándose a través de un monitor. Microscopio de fuerza atómica AFM CPII VEECO Figura 3: Microscopio de fuerza atómica AFM CPII VEECO . Figura 2: Esquema del principio de microscopia confocal. El primer tipo tiene la ventaja de una mayor velocidad de barrido y por tanto de formación de la imagen. el segundo permite la observación de una zona tan grande como se desee.

El diseño del escáner tiene forma de tubo y es de un material cerámico piezoeléctrico que cambia de dimensiones como respuesta a un voltaje aplicado. Microscopía Electroquímica: Mide la estructura de la superficie y las propiedades de los materiales conductores inmersos en soluciones electrolíticas. Figura 4: Esquema del principio de microscopia de fuerza atómica . Microscopía de Tunelamiento: Mide la topografía de superficie de la muestra utilizando la corriente de tunelamiento. el detector. el escáner. El mayor intervalo de operación de un escáner es de ≈100 micras en movimiento lateral y ≈10 micras en movimiento vertical. Contacto: Mide la topografía de la muestra deslizando la punta sobre su superficie. Fuerza Magnética: Mide el gradiente de fuerza magnética sobre la superficie de la muestra. Modulación de Fuerza: Mide la elasticidad/suavidad relativa de la superficie de las muestras. Potencial de Superficie: Mide el gradiente de campo eléctrico sobre la superficie de muestra. el sistema de control electrónico y el sistema de aislamiento de vibración . ésta puede ser de diferentes materiales. Fuerza Lateral: Mide la fuerza de fricción entre la punta y la superficie de las muestras. Modo Lift: Técnica que utiliza dos modos de operación usando la información topográfica para mantener la punta a una altura constante sobre la superficie. Las fuerzas entre la punta y la muestra provocan la deflexión del cantilever. El Microscopio de Fuerza Atómica utiliza múltiples modos de operación de acuerdo a las características físicas de la muestra y de las propiedades a medir. Tapping: También llamado contacto intermitente. La punta se selecciona de acuerdo al tipo de muestra y a las propiedades que se desean obtener.Todos los SPM tienen 5 elementos fundamentales: la punta. Litografía: Se emplea una punta especial para grabar información sobre la superficie de muestra. Fuerza Eléctrica: Mide el gradiente de fuerza eléctrica sobre la superficie de la muestra. Imagen de Fase: Proporciona una imagen contrastada generada por las diferencias de adhesión en la superficie de la muestra. El Microscopio de Fuerza Atómica monitorea la superficie de la muestra con una punta de radio de curvatura de 20 a 60 nm que se localiza al final de un cantilever. No Contacto: Mide la topografía de acuerdo a las fuerzas de Van der Waals que existen entre la superficie de la muestra y la punta. las más comunes son de Nitruro de Silicio o de Silicio. La fuerza interatómica que contribuye a la deflexión del cantilever es la fuerza de Van der Waals. mide la topografía de la muestra tocando intermitentemente su superficie. simultáneamente un detector mide esta deflexión a medida que la punta se desplaza sobre la superficie de la muestra generando una micrografía de la superficie.

Figura 6: Esquema del principio de microscopia electrónica .Microscopio electrónico Quanta 650 FEI Figura 5: Microscopio electrónico Quanta 650 FEI Un microscopio electrónico es aquél que utiliza electrones en vez de fotones o luz visible para formar imágenes de objetos diminutos. acelerados por un alto voltaje y focalizados por medio de lentes magnéticas (todo ello al alto vacío ya que los electrones son absorbidos por el aire). Un microscopio electrónico funciona con un haz de electrones generados por un cañón electrónico. Los microscopios electrónicos permiten alcanzar una capacidad de aumento muy superior a los microscopios convencionales (hasta 500. Los microscopios electrónicos sólo se pueden ver en blanco y negro puesto que no utilizan la luz. Los electrones atraviesan la muestra (debidamente deshidratada) y la amplificación se produce por un conjunto de lentes magnéticas que forman una imagen sobre una placa fotográfica o sobre una pantalla sensible al impacto de los electrones que transfiere la imagen formada a la pantalla de un ordenador.000 aumentos comparados con los 1000 de los mejores microscopios ópticos) debido a que la longitud de onda de los electrones es mucho menor que la de los fotones.

lo que lo hace una herramienta óptima y completa de análisis de superficies. ya que la muestra debe colocarse sobre el escáner de modo que la punta logre abarcar el área que se desea analizar. La complejidad de los equipos .• Ventajas y desventajas Microscopia confocal Ventajas: • • • • • Uso de la fluorescencia Enfoca un solo plano del espécimen. La adquisición de imágenes es lenta ya que el láser emplea un tiempo en el barrido El láser provoca cito-toxicidad debido a que genera radicales libres La técnica de preparación de las muestras cumple con protocolos establecidos. Elimina la información proveniente de otros planos no enfocados del espécimen. El análisis tridimensional tiene una precisión mas pequeña que el orden atómico. Nuevamente encontrar las condiciones óptimas requiere de un proceso tedioso y prolongado. pero son vulnerables y variados al tipo de investigación que se realice . . lo hacen susceptibles a la descalibración. en algunos casos. La definición del área de la muestra a estudiar debe ser manualmente.contando mas con la experiencia del investigador. El área de análisis del AFM es muy pequeña. Obtención de cortes ópticos seriados a partir de muestras con cierto grosor o cuyo corte fino se dificulta. Gracias a programas de computación. un tratamiento posterior mediante análisis de imágenes con un software especializado. Las imágenes obtenidas son monocromáticas y planas siendo necesario. se combinan los cortes ópticos seriados y a partir de ellos se reconstruye en tres dimensiones la estructura observada. La falla de una pieza implica solo la reposición de ella. Las condiciones de medición son bastante asequibles. ya que no necesita de vacío para poder funcionar en buenas condiciones. Los software de medición y análisis topográficos están hechos para este aparato particularmente. Desventajas: • • • La rapidez de la formación de las topografías es bastante mayor que la imagen aumentada mostrada por un microscopio óptico. y no de todo el AFM. lo que facilita su aprendizaje y su uso. Desventajas: • • • • • Microscopia de fuerza atómica Ventajas: • • • • • La resolución es mucho mayor que cualquier otro sistema de análisis óptico.

Microscopia de fuerza atómica Microelectrónica : Medida de semiconductores al vacío y ultra-vacío. Los costos de reactivos también dan un factor decisivo para la elección de esta técnica. cristalográficas. Microscopia electrónica Geología: Investigaciones geomineras. lo hacen susceptibles a la descalibración. Otras aplicaciones en el campo de la física. Polímeros: Medidas de estructura.Microscopia electrónica Ventajas: • Los elevados costos de los equipos y la debida adecuación de una infraestructura para el buen funcionamiento hacen que esta técnica . Biomedicina: Cirugía y otros métodos clínicos. pH intracelular. Nanolitografía: Utilización de la punta. proporciona resultados muy precisos de amplia resolución y magnificación. Estudio morfológico y estructural de las muestras. Caracterización de materiales orgánicos e inorgánicos: Cálculos de parámetros de celda unidad. análisis de fases cristalinas y transiciones de fases en diversos materiales tales como metales. Estudios de ADN y ARN. la química y en tecnología alimentaria. mineralógicas y petrológicas. defectos puntuales. apoptosis. Identificación. se convierta en acceso de investigadores privilegiados. absorción de moléculas . crecimientos de monocapas. Electrofisiología. comunicaciones intercelulares.contando mas con la experiencia del investigador. Estudio de materiales: Caracterización microestructural de materiales. distribución. Si embargo. que permite la visualización de células vivas. Biología: Las medidas de muestras en biología son de gran interés gracias a la posibilidad de análisis en medio líquido. cerámicos. Aplicaciones • • • Microscopia confocal Procesos celulares: Para medir actividades enzimáticas. no para analizar sino para modificar las superficies. Alcanzar una capacidad de aumento muy superior a los microscopios convencionales • • Desventajas: • La técnica de preparación de las muestras cumple con protocolos establecidos. cristalografía. La manipulación de reactivos se torna peligroso por la elevada condición toxica de los mismos. estructura. rugosidad y perfil. es común contratar estos servicios por horas o por fotografías requeridas. Capas finas : Se obtienen medidas de tamaño de grano. materiales . de elasticidad y de fricción local. orientación cristalina. fagocitosis. reacciones de oxidación. Aun cuando este proceso de investigación sea costoso . pero son vulnerables y variados al tipo de investigación que se realice . Morfología de organoides citoplasmáticos. La complejidad de los equipos . Nuevamente encontrar las condiciones óptimas requiere de un proceso tedioso y prolongado.

Medicina Forense: Análisis morfológico de pruebas. Valoración del deterioro de materiales. alteración de monumentos. cuya distancia De cristal o vidrio. Composición de superficies y tamaño de grano. . por lo que se pueden ver diferentes planos de enfoque al mover el Mayor. Paleontología y Arqueología: Caracterización de aspectos morfológicos.2nm Tabla 1: Comparación entre las características generales de los microscopios de luz y electrónicos. Odontología: En este campo son muchas las aplicaciones de las caracterizaciones morfológicas que se pueden realizar con el microscopio electrónico de barrido. identificación de pigmentos. por lo que se puede ver enfocado todo Profundidad de campo tornillo micrométrico el espesor del corte ultrafino del espécimen Haz de luz: fotones. a partir de metales magnéticos. Identificación del tipo de degradación: fatiga. rotando el revólver proyectora varía para lograr los aumentos Pequeña. Control de Calidad: En este campo. Imprescindible. el microscopio electrónico de barrido es de gran utilidad para el seguimiento morfológico de procesos y su aplicación en el control de calidad de productos de uso y consumo. por encima del espécimen. etc. semiconductores. alambre de cobre enrollado. Peritaciones Caligráficas: Estudio de trazos. fragilización. Biomedicina y Medicina: Estudio morfológico.compuestos. Estudio químico y estructural de obras de arte. Semejanzas • • Diseño y funcionalidad de sus elementos. Análisis de fractura (fractomecánica) en materiales. Peritajes: Estudios de muestras de cualquiera de las áreas antes mencionadas. características texturales. determinación del grado de cristalinidad y presencia de defectos. corrosión. Electrónica: Control y calidad de partes electrónicas. En ambos casos se cuenta con una fuente de radiación y un condensador que enfoca el rayo sobre la muestra en estudio. ANALISIS COMPARATIVO Diferencias TIPO DE MICROSCOPIO ELEMENTO OPTICO ELECTRONICO Magnéticas. incidiendo directamente sobre esta. control de calidad.2 µm 0. con focal varía en relación con la corriente que Lentes distancias focales fijas pasa por la bobina de cobre El aumento del objetivo es fijo (distancia focal) Se consigue cambiando los mientras que la distancia focal de la lente Aumento objetivos. para facilitar el desplazamiento Alto vacío No es necesario de los electrones Resolución 0. Metalurgia: Control de calidad y estudio de fatiga de materiales. polímeros y minerales. Botánica. Ubicada siempre en lo alto Fuente de radiación (aunque hay excepciones) del instrumento. Generalmente situada por debajo del espécimen Haz de electrones.

Olga Echeverria.htm http://www. solo es necesario conocer muy bien cuales son las fortalezas y debilidades de cada uno para así saber cual de los tres sera el microscopio mas idóneo para realizar el trabajo que estemos interesados en llevar a cabo.unicen.edu. CONCLUSION La conclusión de este trabajo es que cualquiera de los tres microscopios es indispensable en cualquiera de las diferentes aplicaciones que se puedan dar.edu. y quizás algunos científicos no hubieran descubierto cosas tan importantes.co/Facultades/Ciencias/neurobioquimica/libros/celular/microelectrans .R.com/products/scanning-electron-microscopes/quanta. Universidad de oviedo.M..zeiss. Los dos convierten la radiación empleada en una imagen permanente.M. Se puede concluir que el microscopio es una herramienta de gran utilidad ya que sin él no se podría observar las células. J. los tejidos. pues parece tener un campo de aplicaciones mucho mas amplio. J. Sampedro. De los Toyos. Introducción a la microscopia electrónica aplicada a las ciencias biológicas – Gerardo Vazquez Nim.• • El sistema óptico funciona mediante lentes acopladas encargadas de aumentar la imagen del espécimen en estudio. Introducción a la ciencia de materiales – J.javeriana.A. T Miranda. . BIBLIOGRAFIA • • • • • • • • http://www.M. A. Albella.vet. A. Sin embargo es claro que el microscopio electrónico brinda mas ventajas comparado con los otros dos.es/c12574750032cb61/ContentsFrame/85d7d12b352ed393c125756900578a8c http://www.galeon.pdf http://www.com/cursosonline/tiposdemicroscopios/tiposdemicroscopios..fei. etc. Serratosa.ar/html/Departamentos/Samp/Microbiologia/Microcopia%20de %20laser%20confocal%20PDF. Citas.html Técnicas de fluorescencia en microscopia y citometria .aspx http://acuanatura. Martinez-Nistal.